DE1591033B2 - Piezoelektrischer Hochfrequenzresonator - Google Patents
Piezoelektrischer HochfrequenzresonatorInfo
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- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims description 17
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims description 17
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims description 17
- 239000010453 quartz Substances 0.000 claims description 16
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 16
- 229910052980 cadmium sulfide Inorganic materials 0.000 claims description 9
- WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 3-(oxolan-2-yl)propanoic acid Chemical compound OC(=O)CCC1CCCO1 WUPHOULIZUERAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 8
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 7
- 239000013078 crystal Substances 0.000 claims description 6
- KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M Potassium hydroxide Chemical compound [OH-].[K+] KWYUFKZDYYNOTN-UHFFFAOYSA-M 0.000 claims description 3
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 3
- INHCSSUBVCNVSK-UHFFFAOYSA-L lithium sulfate Inorganic materials [Li+].[Li+].[O-]S([O-])(=O)=O INHCSSUBVCNVSK-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 3
- 229940072033 potash Drugs 0.000 claims description 3
- 235000015320 potassium carbonate Nutrition 0.000 claims description 3
- BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L potassium carbonate Substances [K+].[K+].[O-]C([O-])=O BWHMMNNQKKPAPP-UHFFFAOYSA-L 0.000 claims description 3
- 239000010959 steel Substances 0.000 claims description 3
- RBTVSNLYYIMMKS-UHFFFAOYSA-N tert-butyl 3-aminoazetidine-1-carboxylate;hydrochloride Chemical compound Cl.CC(C)(C)OC(=O)N1CC(N)C1 RBTVSNLYYIMMKS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N Dextrotartaric acid Chemical compound OC(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C(O)=O FEWJPZIEWOKRBE-JCYAYHJZSA-N 0.000 claims description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 2
- LJCNRYVRMXRIQR-OLXYHTOASA-L potassium sodium L-tartrate Chemical compound [Na+].[K+].[O-]C(=O)[C@H](O)[C@@H](O)C([O-])=O LJCNRYVRMXRIQR-OLXYHTOASA-L 0.000 claims description 2
- 235000011006 sodium potassium tartrate Nutrition 0.000 claims description 2
- 229940095064 tartrate Drugs 0.000 claims description 2
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 claims 1
- 210000001061 forehead Anatomy 0.000 claims 1
- 230000004936 stimulating effect Effects 0.000 claims 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 6
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- 230000002349 favourable effect Effects 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 235000003197 Byrsonima crassifolia Nutrition 0.000 description 1
- 240000001546 Byrsonima crassifolia Species 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910000942 Elinvar Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001374 Invar Inorganic materials 0.000 description 1
- UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N Sulphide Chemical compound [S-2] UCKMPCXJQFINFW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 1
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- CJOBVZJTOIVNNF-UHFFFAOYSA-N cadmium sulfide Chemical compound [Cd]=S CJOBVZJTOIVNNF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 1
- 230000001427 coherent effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 150000003839 salts Chemical class 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/15—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/17—Constructional features of resonators consisting of piezoelectric or electrostrictive material having a single resonator
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02007—Details of bulk acoustic wave devices
- H03H9/02062—Details relating to the vibration mode
- H03H9/0207—Details relating to the vibration mode the vibration mode being harmonic
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/02007—Details of bulk acoustic wave devices
- H03H9/02086—Means for compensation or elimination of undesirable effects
- H03H9/02133—Means for compensation or elimination of undesirable effects of stress
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/46—Filters
- H03H9/54—Filters comprising resonators of piezoelectric or electrostrictive material
- H03H9/58—Multiple crystal filters
Landscapes
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Description
nanzfrequenz des Stahlstabes also praktisch nicht beeinflußt. Ankopplungsprobleme treten dabei nicht
auf, weil bei einem Biegeschwinger alle Schwingungsphasen zugänglich sind und selbstverständlich beim
vorbekannten Niederfrequenzfilter das treibende Piezoekment in der Mitte zwischen den drehfesten Kopplungsstellen,
den Orten der Schwingungsknoten sitzt, also im Bereich des Schwingungsbauches beim allein
vorgesehenen Betrieb auf der Grundresonanzfrequenz.
Vorteilhaft liegt die Gesamtdicke des erfindungsgemäßen Resonators zwischen fünf und zwanzig halben
Wellenlängen bei Betriebsfrequenz.
Die Erfindung macht es möglich, bei gegebener Betriebsfrequenz ein besonders dünnes, durch Aufdampfen
in rationeller Massenfertigung herstellbares Fiezcelement anzuwenden, weil dieses durch die
mitschwingende Grundplatte stabilisiert ist.
Zweckmäßig besteht dieses Piezoelement aus piezoelektrischem keramischem Material, wie Quarz, Rochellsalz,
weinsaurem Kali oder Lithiumsulfat.
Vorteilhaft besteht die Grundplatte aus AT-geschnittene m Quarz, dessen hoher Gütewert und
geringer Temperaturgang die exakte Einstellung und Aufrechterhaltung des Ankopplungsfaktors erleichtert.
Zur noch genaueren Aufrechterhaltung des durch die ■Erfindung ermöglichten Ankopplungsfaktors im Hochfrequenzresonator
kann das Piezoelement aus Kadmiumsulfid von negativem Temperaturgang der Frequenz und seine Grundplatte aus leicht abgestochenem
(vom AT-Schnitt geringfügigabweichendem) Schnitt sein, zur Erzielung eines kompensierenden
positiven Temperaturgangs der Frequenz.
Eine besonders günstige Massenbelastung wird dabei dadurch erhalten, daß das Piezoelement nur eine Teilfläche
α von einer kleineren Grundresonanzfrequenz fa
der Grundplatte bedeckt und eine unbedeckte Grundplattenzone b von größerer Resonanzfrequenz /& ausspart,
wobei die Dickenverhältnisse beider Zonen so gewählt sind, daß das Verhältnis der zugehörigen
Resonanzfrequenz /o//& zwischen 0,8 und 0,999 liegt. Dadurch wird auch die Ausgestaltung zu Filterschaltungen
erleichtert.
Die Erfindung möge an Hand der in den Figuren schematisch dargestellten Ausführungsbeispiele weiter
erläutert werden. Es zeigt
F i g. 1 eine schaubildliche Gesamtansicht,
F i g. 2 einen Schnitt in der Ebene 2/2 aus F i g. 1,
F i g. 3, 4 und 5 schematische Darstellungen des Spannungsverlaufes über die Dicke eines bekannten
Resonators und des Erfindungsgegenstandes,
F i g. 6 ein Diagramm der Ankopplungs-Querkraft eines aufgedampften Kadmiumsulfid-Filmes als Piezoelement,
in Abhängigkeit von seinem Polarisationswinkel,
F i g. 7 eine Schnittdarstellung, ähnlich Fig. 2, zu einem anderen Ausführungsbeispiel,
F i g. 8 in schaubildlicher Darstellung ein T-Filter, . aufgebaut aus erfindungsgemäßen Resonator-Elementen,
F i g. 9 ein Ersatz-Schaltbild zu Fig. 8.
Der Resonator nach F i g. 1 und 2 ist als ganzes mit 10 bezeichnet. Er enthält eine Grundplatte 12,
darauf eine runde Elektrode 14 mit einem radialen Anschlußstreifen 16 zum Grundplattenrand, um den
Anschluß des Resonators in einer Schaltung zu erleichtern. Ein aktives piezoelektrisches Element 18
in Form einer dünnen Kreisscheibe sitzt über der Grundplatte 12 und bedeckt die Elektrode 14, wie in
F i g. 2 dargestellt. Eine zweite Elektrode 20 von geringerem Durchmesser ist auf die obere Fläche des
Piezoelements 18 gebracht, koaxial zur Gegenelektrode 14. Die Elektroden 14, 20 und das Piezoelement
18 müssen nicht kreisrund sein.
Die Grundplatte 12 besteht vorzugsweise aus Material von hohem mechanischem Q und soll, wie später
im einzelnen beschrieben wird, einen Temperaturgang der Frequenz haben, welcher nach Betrag und Vorzeichen
demjenigen des Piezoelements 18 entgegengesetzt ist. Q bedeutet das Verhältnis des bei mechanischer
Verformung im Quarz gespeicherten Teiles der Verformungsarbeit zu dem dabei in Reibungsverlust umgesetzten Teil der Verformungsarbeit.
Geeignete Werkstoffe für die Grundplatte 12 sind AT-geschnittener Quarz und metallische Zusammensetzungen
wie Invar und Elinvar. Wegen seines hohen <2-Wertes und niedrigen Temperaturkoeffizienten ist
AT-geschnittener Quarz das bevorzugte Material, und die weitere Beschreibung geht von diesem aus.
Die Elektroden 14, 20 sind zweckmäßig aufgedampft und bestehen aus Gold, aus Chrom oder Aluminium.
Die Elektroden 14, 20 können direkt auf das Piezoelement 18 gebracht werden, wonach letzteres
dann mit Epoxyharz auf die Grundplatte geklebt wird.
Das Piezoelement 18 kann eine vorgefertigte Scheibe
sein oder durch Aufdampfen erzeugt werden, wobei das Material bezüglich der Kristallanordnung orientiert
wird. Für vorgefertigte piezoelektrische Scheiben eignet sich keramisches oder monokristallines Material wie
Quarz, Rochellesalz, DKT (doppeltweinsaures Kali), Lithiumsulfat od. dgl. Zum Aufbau von Filterschaltungen
sind monokristalline Werkstoffe günstig wegen deren hohem mechanischem Qualitätsfaktor. Dabei ist
besonders günstig der AT-geschnittene Quarz wegen seiner Temperaturbeständigkeit und günstigen mechanischen
Eigenschaften.
Bekanntlich ist die Grundresonanzfrequenz einer Kristallplatte bestimmt durch die Orientierung der
Kristallachsen zur Plattenebene. Beispielsweise können Dickenschwingungen hervorgerufen werden in einer
Platte aus DKT mit O°-Z-Schnitt oder aus Quarz mit
AT-Schnitt. Wenn das Piezoelement 18 vorgefertigt ist, wird eine Quarzplatte mit AT-Schnitt bevorzugt,
obgleich bestimmte keramische Werkstoffe auch benutzt werden können, für größere Bandbreiten.
Vorzugsweise wird jedoch das aktive (antreibende) Piezoelement 18 durch Aufdampfen auf die obere
Fläche der Grundplatte 12 erzeugt.
Die bevorzugte Werkstoffkombination zum Ausführungsbeispiel nach F i g. 1 und 2 ist das piezoelektrische
Element 18 aus aufgedampftem Kadmiumsulfid auf einer Grundplatte 12 aus AT-geschnittenem
Quarz. Das Aufdampfen des Kadmiumsulfids erfolgt dabei mit einer Orientierung der Kristallachsen im
Sinne der Ermöglichung von Dickenschwingungen. Um bestmögliche Temperaturstabilität zu erreichen,
wird die AT-geschnittene Grundplatte 12 leicht abgestochen (off-cut), so daß der Quarz einen schwach
positiven Temperatur-Frequenzgang erhält, welcher den größeren negativen Temperatur-Frequenzgang
des Kadmiumsulfids kompensiert. »Abgestochen« bedeutet eine kleine Abweichung vom AT-Schnitt, so daß
ein positiver Temperaturkoeffizient erhalten wird.
Es erfolgt dabei das Aufdampfen des Kadmiumsulfids in einem Winkel zwischen dem Molekülstrom
und der Oberflächenebene der Grundplatte, deren Querspjnnungsverhalten beeinflußt. Die Anmelderin
5 6
hat zusätzlich gefunden, daß dieses Querspannungs- hervor, daß das Piezoelement 18 mit einer Dicke
verhalten sein Optimum erreicht, wenn der erwähnte gleich einer geraden Anzahl von halben Wellenlängen
Orientierungswinkel des Kadmiumsulfids zur Senk- wegen Schwingungsauslöschung nicht betrieben werden
rechten auf der Filmoberfläche zwischen 20 und 40° könnte. Ferner ist klar, daß eine ungerade Anzahl von
liegt, Maximum bei etwa 30°. In F i g. 6 ist die 5 halben Wellenlängen keine vollständige Auslöschung
Abhängigkeit des Querspannungsverhaltens im Winkel- ergibt und das Piezoelement so betrieben werden kann,
bereich von 0 bis 180° dargestellt. wenn auch mit geringerem Ankopplungsfaktor, ver-
Nun zur Dickenbemessung von Piezoelement 18 glichen mit seiner Dickenbemessung auf eine einzige
und Grundplatte 12 für einen Hochfrequenz-Resonator: halbe Wellenlänge.
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+ -uf 10 Ein weiterer Erfindungsvorteil ist die Möglichkeit
Die Gesamtdicke betragt ein — der Betriebsfrequenz , ,, 1. * j w t ■ λ τ
B η M der Massenbelastung der aktiv schwingenden Zone
des Resonators 10, wobei η eine beliebige ganze Zahl im Resonator durch das treibende Piezoelement 18.
ist. Dabei ist die Gesamtdicke gleich einer ganzen Eine optimale Massenbelastung wird erreicht, wenn
Anzahl von halben Wellenlängen bei Betriebsfrequenz, das Verhältnis der Resonanzfrequenzen im elektro-
wobei das Piezoelement 18 eine Dicke zwischen etwa 15 belegten und umgebenden Bereich in der Größ;n-
0,3 und 0,6 Wellenlängen hat. Ordnung zwischen 0,8 und 0,999 liegt, also kleiner als 1
F i g. 4 zeigt die Spannungsverteilung über den ist.
Querschnitt eines erfindungsgemäßen Resonators, In F i g. 7 ist eine solche Massenbdastung dargewobei
der besseren Übersicht halber die Elektroden stellt. Die Bauelemente, welche der F i g. 2 entweggelassen
sind. Der Resonator hat eine Gesamtdicke 20 sprechen, tragen die dortigen Bezugszahlen mit einem
von sieben halben Wellenlängen der Betriebsfrequenz angehängten a. Die Raumfonn stimmt im allgemeinen
und schwingt also in der siebenten Harmonischen mit derjenigen des Ausführungsbeispiels nach F i g. 2
seiner Grundresonanzfrequenz. Wenn man die Elektro- überein, jedoch hat das schwingungsanregende Piezo- (j
dendicke vernachlässigt, welche weniger als 5% der element 18 α nur denselben Durchmesser wie die
Dicke des Piezoelements 18 beträgt, so hat letzteres 25 kleinere Elektrode 20 a.
eine Dicke gleich einer halben Wellenlänge. Wie aus Der Resonator nach F i g. 7 bildet eine elektroden-
F i g. 4 ersichtlich, wo der insgesamt hinsichtlich belegte Zone α mit einer Resonanzfrequenz fa, be-"
seiner Dickenschwingungen interferierende Querschnitt stimmt durch die dortige Gesamtdicke und die Dichte
seiner Dickenschwingungen interferierende Quer- von Elektroden, Piezoelement und Grundplatte. Die
schnittsteil schraffiert hervorgehoben ist, findet bezug- 30 umgebende nicht elektrodenbelegte Zone b hat eine
lieh der Grenzflächen des antreibenden Piezoelements höhere Resonanzfrequenz /& entsprechend ihrer ge-
18 keine Auslöschung der mechanischen Schwingungen ringeren Dicke. Nach der hier angewendeten Lehre aus
statt, obgleich über f des Gesamtquerschnittes im der USA.-Patentanmeldung 2 81 488 wird ein opti-
Resonator Auslöschung vorhanden ist. males Resonanzverhalten erreicht, wenn das Ver-
Erfindungsgemäß wird also durch Konzentrierung 35 hältnis falfb zwischen 0,8 und 0,999 liegt,
der antreibenden Energie auf einen aktiven Teil Die Einstellung dieses Verhältnisses erfolgt zweck-
(Piezoelement) des Gesamtquerschnittes im Resonator mäßig durch Variierung der Dicke des Piezoelements
der Ankopplungsgrad im Oberschwingungsbetrieb 18 a. Beim Betrieb dieses Resonators auf seiner
verbessert. Dies wird noch deutlicher aus einem Grundresonanzfrequenz wird die Dicke des Piezo-
Vergleich mit Fig. 3, wo die Verhältnisse bei einem 40 elements 18α und/oder seiner Elektroden eingestellt
entsprechenden vorbekannten Resonator dargestellt bis zur Erreichung des gewünschten Massenbe-
sind, der im ganzen Dickenbereich durch das Piezo- lastungsgrades. Beim Oberwellenbetrieb wird die Dicke
element ausgefüllt und ebenfalls auf der siebenten des Piezoelements 18a und/oder seiner Elektroden
Harmonischen seiner Grundresonanzfrequenz betrie- eingestellt, wie beschrieben, jedoch nur innerhalb des
ben ist. Dabei erfolgt Auslöschung der resultierenden 45 die Totalauslöschung vermeidenden Dickenbereiches.
Querschwingung über f des Resonators. Dazu So kann der erfindungsgemäße Resonator vorteilhaft
wurde ein Ankopplungsfaktor von etwa 0,013 an auf niedrigen und auch auf hohen Frequenzen be-
einem Quarzschwinger gemessen, während der erfin- trieben werden.
dungsgemäß unterteilte Resonator nach F i g. 4, mit F i g. 8 zeigt einen Vierpol 22, nämlich ein T-Filter,
einem erfindungsgemäß orientierten Kadmiumsulfid- 50 aufgebaut aus drei erfindungsgemäßen Resonatoren.
Film als Piezoelement, einen Ankopplungsfaktor von Danach sind die Einzelresonatoren so weit vonein-
0,07 ergab, gleichfalls beim Betrieb auf der siebenten ander entfernt als zur Erreichung einer hinreichenden
Harmonischen der Grundresonanzfrequenz. Entkopplung erforderlich ist.
Ein weiterer Vorteil des Erfindungsgegenstandes ist, Dieses Ausführungsbeispiel kann eine Grundplatte
daß der Resonator auch auf geraden Harmonischen 55 24 aus AT-geschnittenem Quarz enthalten. Die drei
seiner Grundresonanzfrequenz betrieben werden kann. aktiven Piezoelemente 26 bestehen aus Kadmium-
Das ist in F i g. 5 dargestellt, für den Betrieb auf der sulfid und sind auf die Grundplatte 24 gedampft,
sechsten Harmonischen. Die Dicke des Piezoelements ähnlich wie das Piezoelement 10 nach dem Aus-
18 ist dabei zu etwa einem - der Gesamtdicke bzw. führungsbeispiel zu F i g. 1 und 2. Ähnlich wie dort
weniger als einer halben Wellenlänge bemessen. 60 sind auch die Elektroden 28, 30 aufgedampft, wobei
Dadurch findet keine vollständige Schwingungs- wiederum die unteren Elektroden 30 radiale Ver-
auslöschung zwischen den Grenzflächen des Piezo- längerungen 32 für die dargestellten Schaltverbin-
elements 18 statt, und letzteres kann auch bei dieser düngen haben.
Betriebsart die Grundplatte 12 zum Mitschwingen Daraus ergeben sich in F i g. 8 Einzelresonatoren
anregen. Wegen dieser Spannungsverteilung zeigt der 65 A, B, C, zusammengeschaltet zu einem T-Filter, dessen
Resonator nach F i g. 5 sogar einen etwas höheren Ersatzschaltung in F i g. 9 dargestellt ist. Statt dessen
Ankopplungsgrad als derjenige nach F i g. 4. könnte im Ausführungsbeispiel nach F i g. 8 auch ein
Umgekehrt geht aus dieser Gegenüberstellung zusammenhängender piezoelektrischer Film über die
ganze obere Fläche der Grundplatte aufgebracht sein, worüber obere Elektrodenstreifen liegen, welche die
individuellen Resonatoren begrenzen. Dabei wären die unteren und oberen Elektroden zweckmäßig konzentrisch
zueinander auszuführen und zu bemessen entsprechend dem vorerwähnten Massenbelastungsverhältnis
falfb- Verbindungen können je nach
Wunsch ausgeführt werden, wobei aber darauf zu achten wäre, daß die oberen und unteren Schalt-
verbindungen außerhalb des gegenseitigen Kopplungsbereiches liegen. Aus der USA.-Patentschrift 32 22 622
geht hervor, daß beliebige Gruppierungen von Piezoelementen und Elektroden zu unterschiedlichen Filtern
der jeweils gewünschten Eigenschaft zusammengeschaltet werden können.
Zur Erleichterung der optimalen Massenbelastung können die Einzelresonatoren A, B, C nach Fig. 7
entsprechend F i g. 8 ausgeführt sein.
Hierzu 2 Blatt Zeichnungen
509 525/1
Claims (10)
1. Piezoelektrischer Hochfrequenz-Resonator, Dessen Resonanzfrequenz nimmt mit wachsender
dadurch gekennzeichnet, daß das 5 Dicke ab. Der Betrieb eines solchen Resonators in
schwingungsanregende, mit den Elektroden (14, 20) seiner Grundschwingung würde bei Hochfrequenz sehr
belegte Piezoelement (18) auf einer Stirnfläche dünne piezoelektrische Blättchen erfordern.
einer mitschwingenden Grundplatte (12) befestigt Weil diese schwer herstellbar sind, werden bekannte
ist, und daß diese Teile eine Gesamtdicke gleich Hochfrequenz-Resonatoren mit Zwischenfrequenz be-
einer ganzen Anzahl von halben Wellenlängen io trieben, und zwar auf ungeraden Harmonischen der
bei Betriebsfrequenz haben und die Dicke des Resonanzfrequenz. Gerade Harmonische können dabei
Piezoelements (18) zwischen 0,3 und 0,6 Wellen- nicht benutzt werden, weil dann an den Oberflächen
längen liegt. des Resonators Schwingungsknoten zu liegen kämen,
2. Resonator nach Anspruch 1, dadurch gekenn- so, daß der elektromechanische Ankopplungsfaktor
zeichnet, daß seine Gesamtdicke zwischen fünf und 15 Null würde. Beim Betrieb mit einer ungradzahligen
zwanzig halben Wellenlängen bei Betriebsfrequenz Harmonischen seiner Grundresonanzfrequenz findet
liegt. nur teilweise Interferenz statt, so daß sich für manche
3. Resonator nach einem oder mehreren der Anwendungszwecke des Filters ein hinreichender
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- elektromechanischer Ankopplungsgrad erzielen läßt,
net, daß das elektrisch leitende Elektrodenmaterial 20 Beispielsweise hat ein AT-geschnittener plattenförmiger
aufgedampft oder elektrolytisch aufgebracht ist. Schwingquarz im Betrieb mit seiner Grundresonanz-
4. Resonator nach einem oder mehreren der frequenz einen Ankopplungsfaktor von etwa 0,09.
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- Im Betrieb mit der dritten, fünften, siebenten und
net, daß sein Piezoelement (18) aus piezoelektri- neunten Harmonischen ergeben sich Ankopplungsschem
keramischem Material, Quarz, Rochellesalz, 25 faktoren von bzw. 0,03, 0,018, 0,013 und 0,010.
weinsaurem Kali bzw. Lithiumsulfat besteht. Aufgabe der Erfindung ist es, eine Resonator-
weinsaurem Kali bzw. Lithiumsulfat besteht. Aufgabe der Erfindung ist es, eine Resonator-
5. Resonator nach einem oder mehreren der anordnung zu schaffen, die sich besonders für den
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- Betrieb im Hochfrequenzbereich eignet, wobei ein
net, daß seine Grundplatte (12) aus AT-ge- möglichst großer Ankopplungsfaktor im Oberwellenschnittenem
Quarz besteht. 3° betrieb erreicht werden soll, und ein gegebener
6. Resonator nach einem oder mehreren der Piezokristall in seinem Frequenzgang beeinflußbar
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- sein soll.
net, daß sein Piezoelement aus Kadmiumsulfid von Erfindungsgemäß ist das schwingungsanregende,
negativem Temperaturgang der Frequenz und seine mit den Elektroden belegte Piezoelement auf einer
Grundplatte aus leicht ausgeschnittenem Quarz zur 35 Stirnfläche einer mitschwingenden Grundplatte be-
Erzielung eines kompensierenden positiven Tem- festigt, und diese Teile haben eine Gesamtdicke gleich
peraturganges der Frequenz besteht. einer ganzen Anzahl von halben Wellenlängen bei
7. Resonator nach einem oder mehreren der Betriebsfrequenz, wobei die Dicke des Piezoelements
vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeich- zwischen 0,3 und 0,6 Wellenlängen liegt.
net, daß das Piezoelement (18a) nur eine Teilfläche 40 Der Kunstgriff besteht also darin, daß der Resonator
α von einer kleineren Grundresonanzfrequenz fa einschließlich seiner Grundplatte zu Dickenschwinder
Grundplatte (12a) bedeckt und eine unbedeckte gungen angeregt wird, was auf nahezu beliebig hohen
Grundplattenzone b von größerer Resonanzfre- Oberwellen möglich ist, weil die verhältnismäßig dicke
quenz /& ausspart, wobei die Dickenverhältnisse Grundplatte mit Leichtigkeit so stark gewählt und
beider Zonen so gewählt sind, daß das Verhältnis 45 hergestellt werden kann, daß bei Betriebsfrequenz die
der zugehörigen Resonanzfrequenz falfb zwischen Dicke des form- und kraftschlüssig verbundenen
0,8 und 0,999 liegt. Piezoelements zwischen den erwähnten Grenzen von
8. Resonator nach Anspruch 7, dadurch gekenn- 0,3 und 0,6 Wellenlängen liegt. Auch beim Betrieb mit
zeichnet, daß das Verhältnis falfb durch ent- hohen Harmonischen der Grundfrequenz erhält man
sprechende Dickenbemessung des Piezoelements 5° dadurch einen guten elektromechanischen Ankopp-
(18a) eingestellt ist. lungsfaktor, und auf die massive Grundplatte können
9. Resonator nach einem oder mehreren der das Piezoelement und seine Elektrodenbelegungen sehr
vorhergehenden Ansprüche, gekennzeichnet durch dünn und trotzdem stabil und genau mit geringem
seinen Aufbau aus mehreren Piezoelementen, die Aufwand gedampft werden.
auf einer gemeinsamen Grundplatte (24) entkoppelt 55 In Weiterbildung der Erfindung kann die Grundangeordnet
(F i g. 8) und zu einem Filter (F i g. 9) platte einen Temperaturgang der Frequenz haben,
zusammen geschaltet sind. welcher nach Betrag und Vorzeichen demjenigen des
10. Resonator nach Anspruch 9, gekennzeichnet Piezoelements entgegengesetzt ist, wodurch der Fredurch
einen einstückig zusammenhängenden Film quenzgang des Piezokristall kompensiert ist.
aus piezoelektrischem Material, dessen den Einzel- 6° Aus der USA.-Patentschrift 28 14 785 ist ein
resonatoren (A, B, C) entsprechende anregende piezoelektrisches Filter bekannt, welches mit hinterBereiche
durch die Form und Gruppierung der einandergeschalteten Stahlstäben als Biegeschwingern
zugeordneten oberen Elektroden (28) bestimmt sind. arbeitet, die drehfest in den Schwingungsknoten gekoppelt
und ausschließlich für Niederfrequenz bestimmt
65 und geeignet sind. Der eingangsseitige Stahlstab wird
angetrieben von einem Piezoelement, das nicht auf
Die Erfindung geht aus von einem piezoelektrischen seiner Stirnseite, sondern auf einer Breitseite sitzt und
Hochfrequenz-Resonator, mit einem scheibenförmig wesentlich schmaler als diese Breitseite ist, die Reso-
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US542627A US3401275A (en) | 1966-04-14 | 1966-04-14 | Composite resonator |
US54262766 | 1966-04-14 | ||
DEC0042015 | 1967-04-12 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1591033A1 DE1591033A1 (de) | 1970-01-08 |
DE1591033B2 true DE1591033B2 (de) | 1975-06-19 |
DE1591033C3 DE1591033C3 (de) | 1976-02-05 |
Family
ID=
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3031449A1 (de) * | 1980-08-20 | 1982-03-25 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Aus mehreren mikrowellenresonatoren bestehende resonatorbank |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3031449A1 (de) * | 1980-08-20 | 1982-03-25 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Aus mehreren mikrowellenresonatoren bestehende resonatorbank |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB1187441A (en) | 1970-04-08 |
US3401275A (en) | 1968-09-10 |
DE1591033A1 (de) | 1970-01-08 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) | ||
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
8330 | Complete disclaimer |