DE1565173A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von elektrisch leitendem Material,insbesondere Halbleitermaterial - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von elektrisch leitendem Material,insbesondere HalbleitermaterialInfo
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Description
- Verfahren und Vorrichtung zur Behandlung von elektrisch leitendem Material, insbesondere ilialbleitermaterial Die ßrfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Behandlung von elektrisch leitendem Material, insbe -sondere Halbleitermaterial, durch die änwendung von Molekularstrahlen. Unter Behandlung Wird dabei sowohl eine solche der Oberfläche eines Körpers wie auch eine auf das ganze Volumen des Körpers sich erstreckende verstanden. Vor allem sind hierzu zu rechnen die Oberflächenreinigung (Ätzung) bzw. - bearbeitung, das aufdampfen von Substanzen sowie das Erwärmen (Tempern) des Körpers.
- Es ist bekannt, sich zu den genannten Zwecken der enwendung von Kolekularstrahlen zu bedienen. Mit dem Beschuß durch im Vakuum beschleunigte Ionen kann an der Oberfläche eines Körpers die Abtragung von Substanz vorgenommen werden, d.h. sowohl von Eigensubstanz, als auch von Fremdsubstanzen. Der zu behandelnde Körper wird als Katode in einer Glimm- oder Niederdruckentladung geschaltet. Durch Stoßiontation eines Edalgases oder eines inerten Ga- ses werden Positivs Ionen erzeugt, welche auf den auf nega- tiveng Potential liegenden Körper hin beschleunigt werden und beim Auftreffen auf dessen Oberfläche unter geeigneten Bedingungen durch hnergieaustausoh Oberflächenatome los- lösen. Die Ionenätzung läBt sich u.a. überall dort mit Briolg an- wenden, wo die zu ätzenden Substanzen von chemischen Mitteln nicht angegriffen werden oder wo eine spezifische Ätzlösung für die zu behandelnde Substanz entweder nicht bekannt ist oder :seine befriedigenden Ergebnisse liefert. Man kann sie auch als Erginzung zur chemischen Ätzung anwenden. Der besondere Vorteil der Ionendtzung gegenüber der chemischen Atzung ist darin zu sehen, daß die Abtragung im Vakuum und damit unter 3eitaus saubereren und kontrollierbareren Bedingungen stattfindet. Eine weitere bekannte nrt von :@olekularatrahlen sind L#ampfatrahlen. Lurch Verdampfen von Substanzen und Kondensieren der Dämpfe auf einem Substrat lsssen sich dünne ichichten (z.B. "pitazieschichten) auf dessen uberfl.;che erzeugen; mit _:ilfe von Blenden kann mun erreichen, daß nur bestimmte Bereiche einer zu bedampfenden Oberfi-iche den sich geradlinig ausbreitenden Lampfstrahlen ausgesetzt sind. Daher hat die nufdampfung eine besondere Bedeutung fUr die Halbleitertechnik, z.B, für ilehrachic'htanordnungen.e lassen sich auch Schichten bestimmter Materialien auf Halbleitersubstrate aufdampfen, welche zur Erzeugung vorgegebener elektrischer Eigenschaften bestimmter Bereiche des Halbleitersubstrates und zur Erzeugung von p-n-Übergingen ein-legiert werden. allerdings muß hier die grundlegende Vor- aussetzung erfüllt sein, daß die Oberfläche des Substrates frei von Verunreinigungen ist. Dieser Forderung wird aber, wenn das Substrat nach einer vorhergegangenen Ätzung, sei es auf chemischem Wege oder durch Ionenbeschu8, nur bedingt entsprochen, wenn die gereinigten Oberflächen bei der Um- lagerung in den Bedampfungsrezipienten mit der atmosphärischen Luft in Berührung kommen. Ein bekanntes Verfahren versucht, diesen Mangel dadurch zu beseitigen, daB beides, die Zonenätzung und die Bedaapfung, in demselben Vakuum durchgeführt wird, indem das Substrat aus einem Raumteil des Rezipienten, in dem die Ionenätzung stattgefunden hat, in einen anderen verlagert wird, welcher die Bedampfungseinrichtung enthält. Diese ist such mit einer ,.iderstandsheizung für das Substrat versehen, so daß im Anschluß an die oder in Verbindung mit der Bedampfung ein Einlegieren der aufgedampften Schicht stattfinden kann.
- Nach diesem Verfahren läßt sich zwar die Ionenätzung mit der Bedampfung sowie dem linlegieren der aufgedampften Schicht verbinden, ohne daß eine Verschmutzung durch atmosphärische Luft erfolgen kann; für die praktische Anwendung, insbesondere in der recht komplizierten Halbleitertechnik, bestehen jedoch noch erhebliche Mängel, welche wesentlich durch die Notwendigkeit der Umlagerung des Substrates bedingt sind. Es ist kaum gewährleistet, daß die in der Regel sehr kleinen Objekte In definierter Lage ab-. gelegt werden. Das muß aber sichergestellt sein, da Bedampfen, Tempern und gegebenenfalls Ätzen in der Halbleitertechnik in der Regel mehrfach nacheinander und beschränkt auf bestimmte überflächenbereiche durchgeführt werden müssen. Die iiderstandsheizung des Substrates bedingt nicht nur große '1rärmeverluste durch Strahlung; von dem z.B. aus PZolybdändrsht bestehenden Heizer und von seiner dbschirmung dampfen Verunreinigungen ab und gelangen auf das Substrat, wo sie bei der hohen Temperatur eindiffundieren. i«it der Erfindung soll die Möglichkeit geschaffen werden, verfahrensmäßig so vorzugehen, daß das Substrat während der ganzen Dauer der gegebenenfalls abwechselnd erfolgenden Behandlungsprozesse, insbesondere des i.tzens, des Bedampfens und des Temperns, in seiner Lage innerhalb des Rezipienten verbleiben kann und vor jeder Verunreinigung durch unerwünschte Fremdsubstanzen weitgehend bewahrt bleibt. Dieses wird dadurch erreicht, d aß der während eines Ionenbeschusses, insbesondere einer Ionenätzung, au-f Katodenpotential liegende zu behandelnde Körper zum Zwecke einer Wärmebehandlung in demselben Vakuum durch ein Elektronenbombardement, in Verbindung mit oder unabhängig von einer Bedampfung, mit dem positiven Pol einer Hoohspannunga-@ quelle verbunden wird. Damit entfällt, wie noch weiter ausgeführt werden wird, die Umlagerung des zu behandelnden Körpers, der während aller Behandlungsprozesse, also des Ionenätzens, des Bedempfens und des Temperns, in seiner ursprünglichen Lage verbleibt. Die Wechselfunktion von Katode und Anode schafft die Xöglichkeit der Anwendung der sehr sauberen Elektronenstrathheizung für das Substrat und die räumlichen Voraussetzungen für die Unterbringung der Bedampfungseinriahtung. Ionen-besohuß und Elektronenbombardement erfolgen unter Verwen- dung derselben Elemente, d.h. Elektronenquelle, Anode, Katode, Blenden, Gitter eto., und ohne daB diese in ihrer Lager verändert werden müssen. Die Bedampfung kann gleich- zeitig mit.dem Heizen des Körpers durch Elektronenbombardement vorgenommen Werden. Bei Anwendung an sieh bekannter, gegeneinander austauschbarer Basken zur Begrenzung der aufgedampften Schichtbereiche lassen sich Ionenätzen, Blektronenstrahlheizen und Bedampfen wiederholt und in beliebiger Reihenfolge durchführen.
Zur Durchführung des Verfahrens eignet sich eine Vorrichtung, in welcher der als Tisch ausgebildeten Katäde benachbart eine Elektronenquelle (Hilfskatode) angeordnet ist und ge- genüber der Oberfläche des Tisches die Anode, weiche mit einer Öffnung für den Durchlaß der Strahlen einer VerdaMpi`ungs- quelle versehen und im übrigen so groß gehalten ist, d aß sie der Gesamtheit der von der Hilfskatode emittierten Elektronen ausgesetzt ist, sowie da8 Maßnahmen vorgesehen sind zur Umpolung der Katode und der nach der Umpolio eia Elektronenreflektor wirkenden Anode.-Eine solche Vox@rioh- tung kann in jede beliebige Vakuumeinrichtung eingebaut Werden. - die Elektronenstromdichte variieren. Der besondere Vorzug dieser Lethode, :,:a4,erial zu erhitzen, liegt - neben dem weitaus geringeren Aufwand an Üesamtenercie und Material gegenüber dem anderer Verfahren - in der Möglichkeit, höhere Temperaturen zu erzielen, Wegen der geringen därmekapazität schnell aufzuheizen und im unkritischen Uemperaturbereich zeitsparend abzukühlen. Lamit ergeten sich. auch -rakuumtƒchnische Vorteile. Soll die Oberfläche des Körpers einer EBedampfung ausgesetzt werden, so tritt - je nach Bedarf bei ein- oder iusgesohalteter Elektronenstoßbeheizung das '&örpers - die Bedampfungsquelle in T;tig;reit,welche durch die erwähnte Öffnung in der anode bzw. dem Reflektor die Oberfläche des Körpers be- dampft. Die Vorrichtung gestattet neben den erwähnten Behandlungen durch atzen, Eedampfen und Tempern auch eine definierte Dotierung der Oberfläche des Körpers durch den Beschuß mit dotierenden Ionen. Ebenso ist eine definierte Zrzeugung von Störstellen durch den 4ialprall beschleunigter Ionen und damit 'die Linderung der elektrischen Eigenschaften in den Oberflä- chenbereichen des gJrpers möglich. Infolge ihrer räumlich günstigen Verteilung lassen die hauptsächlichen `feile der Vorrichtung verschiedene Ausbildungen zu, welche geei.net sind, die Bedingungen, unter denen die einzelnen Verfährensgänge durchgeführt werden unter Kontrolle zu halten. So empfiehlt es sieh, den Tisch, auf zelchem der Körper aufliegt,.so zu gestalten, daß er über der Tischfläche übersteht, damit eine Abstäubung von t:aterial, aus dem der Tisch besteht, vermieden wird. Die Bedampfungsquelle kann mit auswechselbaren Masken versehen sein; es können auch mehrere, wahlweise zu betreibende Bedampfung:9.luellen vorgesehen @t@erden, um nacheinander verschiedene Jubstanzen aufzudampfen. Zur Messung der Temperatur des Körpers ist es zv*e--kmäßig, unmittelbar unter der Tischfläche ein gegen die :.:olekularstrah'en 3bgƒs-.hirmtes 'i:*hermoelement anzubringen:
In der Zeichnung ist ein @:usfährun@sbeispiel der Vorrichtung schematisch dargestellt, und zwar zeit:
Claims (2)
- Patentansprüche: 1. Verfahren zur Behandlung von elektrisch leitendem Material, insbesondere Halbleitermateriel, unter An- wendung von Molekularstrahlen, d a d u roh g ek e n n z e i c h n e t, daB der während eines Ionen- beschusses, insbesondere einer Ionenätzung, auf Katodenpotential liegende Zu behandelnde Körper zum Zwecke einer Wärmebehandlung in demselben Vakuum durch ein Elektronenbombardement, in Verbindung mit oder unabhängig von einer Bedampfung, mit dem posi- tiven Pol einer Hochspannungsquelle verbunden wird.
- 2. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach An-spruch 1, bestehend aus in einem evakuierbaren und mit einem verschließbaren Gasanschluß versehenen Rezipien- ten einander gegenüberstehend angeordneter Anode und Katode, d a d u r c h g e k e n n z e i o h n e t, daß der als Tisch (2) ausgebildeten Katode benachbart eine Hilfskatode (3) angeordnet ist und gegenüber der Oberfläche des Tisches (2) die Anode (6), welche mit einer Öffnung (11) für den Durchlaß der Dampfstrahlen einer Verdampfungsquelle (Lq.) versehen und im übrigen groß gehalten ist, daß sie der Gesamtheit der von der Hilfskatode (3) emittierten Elektronen (7) ausgesetzt ist, sowie da9 Maßnahmen vorgesehen sind zur Uatpolang der Katode und der nach der Umpolung als Sl4ktronenreflektor (9) wirkenden Anode (6). 3. Vorrichtung nach Anspruch 2, d a d u r c h g e k e n nz e i o h n e t, daB symmetrisch zum Tisch (2) und in gleicher Ebene mehrere Hilfskatoden (3) angeordnet sind. 4. Vorrichtung nach Anspruch 2 und 3, d a d u roh g ek e n n z e i o h n e t, daß die Hilfskatoden (3) mit insbesondere gegen den Körper (1) wirksamen Ab- schirmungen (4) versehen sind, welche mit den Hilfskatoden (3) auf gleichem Potential liegen. 5. Vorrichtung nach Anspruch 5, g e k e n n z e i o h n e t durch aber den #bachiroungen (4) der Hilfskatoden (3) angeordnete, positiv vorgespannte und als Seugelektroden wirkende Gitter (5). 6. Vorrichtung nach Anspruch 2 bis 5, d a d u roh g ek e n n z e i o h n e t, daß an der Unterseite den Tischen (2) ein gegen Kolekularstrahlen abgeschirmtes Thermoelement (10) angeordnet ist.
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