DE1564297B1 - Thyristor - Google Patents

Thyristor

Info

Publication number
DE1564297B1
DE1564297B1 DE19661564297 DE1564297A DE1564297B1 DE 1564297 B1 DE1564297 B1 DE 1564297B1 DE 19661564297 DE19661564297 DE 19661564297 DE 1564297 A DE1564297 A DE 1564297A DE 1564297 B1 DE1564297 B1 DE 1564297B1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
layer
cathode
adjacent
control electrode
thyristor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE19661564297
Other languages
English (en)
Inventor
David Everitt Millington
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
ZF International UK Ltd
Original Assignee
Lucas Industries Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lucas Industries Ltd filed Critical Lucas Industries Ltd
Publication of DE1564297B1 publication Critical patent/DE1564297B1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/40Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/08Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/06Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions
    • H01L29/10Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by their shape; characterised by the shapes, relative sizes, or dispositions of the semiconductor regions ; characterised by the concentration or distribution of impurities within semiconductor regions with semiconductor regions connected to an electrode not carrying current to be rectified, amplified or switched and such electrode being part of a semiconductor device which comprises three or more electrodes
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/02Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/36Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the concentration or distribution of impurities in the bulk material
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L29/00Semiconductor devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching and having potential barriers; Capacitors or resistors having potential barriers, e.g. a PN-junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/66Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor
    • H01L29/68Types of semiconductor device ; Multistep manufacturing processes therefor controllable by only the electric current supplied, or only the electric potential applied, to an electrode which does not carry the current to be rectified, amplified or switched
    • H01L29/70Bipolar devices
    • H01L29/74Thyristor-type devices, e.g. having four-zone regenerative action

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Thyristors (AREA)

Description

i '' 2 ■ ·
Die Erfindung bezieht sich auf einen Thyristor mit dämpfe wird dann aus dem Glühofen entfernt, und der einem p-n-p-n-Aufbau, bei dem die äußerste p-Schicht ".· „Ofen wird, mit Luft gefüllt; wobei die Platte in dem als Anode, die äußerste η-Schicht als Kathode wirken Glühofen für weitere vier Stunden bei 12500C erhitzt und in der Kathodenschidit und der anliegenden wird und dann auf Raumtemperatur mit einer Kühlp-Schicht eine eindiffundierte Schicht eines Strom- 5 geschwindigkeit von 5°C/min abgekühlt wird. Hierträgers vorhanden ist, dessen Rekombinationsmittel- durch wird eine p-n-p-Scheibe mit den p-Schichten 12, punkte sich kontinuierlich zwischen der anliegenden 13, die von Glas bedeckt sind, erhalten. Das Glas wird p-Schicht und der Kathodenschicht erstrecken und bei entfernt, so daß eine Platte erhalten wird, wie sie in dem diese anliegende p-Schicht mit einer Steuerelek- F i g. 2 gezeigt ist.
trode verbunden ist. io Nun wird die Platte erneut in einen Glühofen mit
Bei derartigen Thyristoren ist es bekannt, daß die offenen Enden bei 1250°C eingesetzt und es werden
Kathodenschicht Rekombinationszentren enthalt, die Phosphorpentoxiddämpfe über die Platte bei dieser
beim epitaktischen Aufwachsen der Kathodenschicht Temperatur von 1250° C geleitet. Die Platte wird
unter Bildung eines Hetero-Überganges entstehen und unmittelbar darauf in dem Ofen abgekühlt mit einer
daher eine Schicht bilden, die sich zwischen der Katho- 15 Kühlgeschwindigkeit von 5°C/min. Durch dieses Ver-
denschicht und der anliegenden p-Schicht erstreckt fahren wird ein n-p-n-p-n-Aufbau mit Glasschichten 14,
(deutsche Auslegeschrift 1189 656). . __ 15 erzeugt, die die äußeren n-Typ-Schichten 16, 17
Ferner ist ein Halbleiterbauelement mit pn-Über- bedecken, wie es in F i g. 3 gezeigt ist.
gang bekannt, bei dem sowohl die p- wie die η-Schicht Die Schichten 15, 17 werden durch Ätzen in CP6
eindiffundierte Rekombinationszentren enthalten, wo- 20 entfernt und die erforderliche Kathodenschablone
bei die Temperaturabhängigkeit des Halbleiterbauele- wird auf der Schicht 14 mittels einer aufgelegten
ments verbessert werden soll. Zur Erzeugung von Photomaske oder mittels eines anderen geeigneten g
Rekombinationszentren wird Nickel, Kobalt und Eisen Verfahrens hergestellt. Hierauf wird die Schicht 14 "
verwendet (deutsche Patentschrift 1 051 983). einem Ätzvorgang in einer CP6-Säure unterworfen,
Es ist somit bekannt, daß die Rekombinations- 25 wodurch die bloßgelegten Teile der Schichten 14, 16
mittelpunkte den Wirkungsgrad von Thyristoren be- entfernt werden, so daß eine Platte, wie sie in Fig. 4
trächtlich verbessern, insbesondere wird dessen Fähig- gezeigt ist, erhalten wird, die eine Anodenschicht 13
keit, bei Änderungen der Temperatur zufriedenstellend besitzt, eine Steuerelektrodenschicht 12 und eine Ka-
zu arbeiten, entscheidend verbessert. thodenschicht 16.
Bei dieser Maßnahme wird indessen die Einschalt- 30 Die Scheibe, wie sie in Fi g. 4 gezeigt ist, wird einer
eigenschaft des Thyristors zwangläufig ver- weiteren Verfahrensstufe der Diffusion von Bor unter-
schlechtert. ..-.■■' worfen, so daß hochdotierte p-Schichten an den bloß-
Die Aufgabe der Erfindung besteht darin, einen hegenden Teilen der gezeigten p-Schichten erzeugt
Thyristor zu schaffen, bei dem dieser Nachteil weit- werden. Diese_ hochdotierten p-Schichten, die aus
gehend beseitigt ist. 35 Gründen der Übersichtlichkeit in den Zeichnungen
Die Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die der nicht gezeigt sind, werden selbst mit Glas bedeckt. Kathodenschicht anliegende p-Schicht aus zwei ver- Die nächste Verfahrensstufe besteht darin, alle Glasschieden großen Teilen gebildet ist, daß sich die Re- schichten von der Platte zu entfernen und die Platte kombinationsmittelpunkte enthaltende Schicht nur mit Nickel mittels eines Plattierungs- oder eines Aufzwischen demflächenmäßig größeren Teil der anliegen- 40 dampf Verfahrens zu bedecken. Das Nickel wird dann den p-Schicht und der Kathodenschicht erstreckt und in die Oberfläche von Silizium durch Erhitzen auf daß der Anschluß der Steuerelektrode an dem flächen- 800 0C für einige Minuten in einer Atmosphäre von mäßig kleineren Teil vorgesehen ist. 90 °/0 Stickstoff und 10 % Wasserstoff hineindiffun-
In den Zeichnungen, die Ausführungsbeispiele der diert. Hierauf besetzt die Platte die Gestalt, wie sie in \
vorliegenden Erfindung darstellen* sind Verfahrens- 45 Fig. 5 dargestellt ist, in der zu sehen ist, daß das
schritte zur Herstellung eines Thyristors gezeigt. Es Nickel in die Platte hineindiffundiert ist, was mit den
zeigen Schichten 18, 19 bezeichnet ist.
F i g. 1 bis 7 die Herstellungsstufen eines Thyristors Da es unmöglich ist, einen Kontakt an den Schichten
und . mit dem hineindiffundierten Nickel herzustellen, be-
F i g. 8 eine Draufsicht, die eine von den bevor- 5° steht der nächste Verfahrensschritt darin, die Platte
zugten Ausgestaltungen des Bereichs, mit dem die wiederum mit Nickel zu plattieren und auf diese Weise
Steuerelektrode verbunden ist, und der Kathode dar- die Nickelschichten 21, 22 herzustellen. Die' Verbin-
stellt. dung zwischen der Steuerelektrode und der Kathode
In den Zeichnungen ist eine Platte gezeigt, die aus wird dann abgedeckt, indem eine Maske 23 verwendet
einem einzigenn-Typ-SiliziumKristall 11 geschnitten ist 55 wird, die in Fig. 6 gezeigt ist, und die Einrichtung
mit einem Widerstandswert von annähernd 40 Ohm/cm wird hierauf goldplattiert, wobei die Goldschichten
und die auf eine Stärke vonannähernd 0,28bis 0,292mm mit 24,25 angegeben sind. Zum Schluß wird die Maske 23
geläppt ist. Die Platte wird dann in einer Säure- fortgenommen, und es wird ein weiteres Ätzverfahren
mischung, die allgemein aus 5 Volumteilen Salpeter- durchgeführt, bei dem beispielsweise Chloreisenoxid
säure, 3 Volumteilen Essigsäure und 3 Volumteilen 60 verwendet wird, um die Nickelschichten zu entfernen,
Fluorwasserstoffsäure oder Flußsäure besteht, ge- so daß kein Kurzschluß zwischen der Steuerelektrode
ätzt. und der Kathodenschicht entstehen kann. Die Ein-
Mit dem Ätzverfahren wird eine Platte mit einer richtung hat nunmehr die Gestalt, die in F i g. 7
Stärke von 0,254mm erzeugt, die in Fig. 1 dargestellt gezeigt ist. Es werden nun auf den goldplattierten
ist. Die Platte wird in einen evakuierten Glühofen für 65 Oberflächen Kontakte angebracht, um die Anoden-,
die Dauer von einer Stunde bei einer Temperatur von Kathoden- und die Steuerelektrodenanschlüsse her-
1250° C eingesetzt, zusammen mit einer Quelle von zustellen. Hierbei wurde festgestellt, daß eine Ein-
Alumimumdämpfen. Die Quelle für die Aluminium- richtung, die in dieser Art hergestellt ist, einen wesent-
I 564
lieh verbesserten Wirkungsgrad bei verschiedenen Temperaturen aufweist, im Vergleich bei einem Thyristor, bei dem kein diffundiertes Nickel unter der Oberfläche vorhanden ist. Ein gleiches Verfahren kann auch für die Herstellung einer Vierschicht-Diode verwendet werden. In diesem Fall ist es jedoch nicht erforderlich, einen Anschluß zu der Steuerelektroden-Schicht herzustellen.
Wenn sich die diffundierte Nickelschicht zwischen der Kathodenschicht 16 und der gesamten Schicht der Steuerelektrode 12 erstreckt, wie es vorstehend beschrieben ist, wurde gefunden, daß die Einschalteigenschaften des Thyristors verschlechtert werden. Dieser Nachteil kann in einfacher Weise dadurch überwunden werden, indem die Steuerelektrodenschicht 12 aus zwei Teilen 12a, 12 b, wie es in Fig. 8 gezeigt ist, hergestellt wird. Der Anschluß zur Steuerelektrode wird an dem Bereich 12 c angebracht, und die Verbindung 30 zwischen dem Bereich 12α und der Kathode 16 wird auf eine Tiefe unterhalb der diffundierten Nickelschicht fortgeätzt, so daß kein diffundiertes Nickel sich zwischen der Kathode 16 und dem kleineren Bereich 12 a der Steuerelektrode befindet. Indessen erstreckt sich das diffundierte Nickel zwischen der Kathode 16 und dem größeren Bereich 126 der Steuerelektrode. Bei dieser Anordnung, infolge der Tatsache, daß kein Anschluß zu dem Bereich 12b vorhanden ist, ist eine zweite Nickelplattierung und die Goldplattierung an dem Bereich 12 b nicht erforderlich.

Claims (2)

Patentansprüche:
1. Thyristor mit einem p-n-p-n-Aufbau, bei dem die äußerste p-Schicht als Anode, die äußerste η-Schicht als Kathode wirken und in der Kathodenschicht und der anliegenden p-Schicht eine eindiffundierte Schicht eines Stromträgers vorhanden ist, dessen Rekombinationsmittelpunkte sich kontinuierlich zwischen der anliegenden p-Schicht und der Kathodenschicht erstrecken und bei dem diese anliegende p-Schicht mit einer Steuerelektrode verbunden ist, dadurch gekennzeichnet, daß die der Kathodenschicht (16) anliegende p-Schicht aus zwei verschieden großen Teilen (12a, 12b) gebildet ist, daß sich die Rekombinationsmittelpunkte enthaltende Schicht (18) nur zwischen dem fiächenmäßig größeren Teil (12 έ) der anliegenden p-Schicht und der Kathodenschicht (16) erstreckt und daß der Anschluß der Steuerelektrode an dem fiächenmäßig kleineren Teil (12 a) vorgesehen ist.
2. Verfahren zum Herstellen eines Thyristors nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die der Kathodenschicht (16) anliegende p-Schicht aus zwei Teilen (12 a, 12 b) gebildet wird, indem zwischen der Kathodenschicht (16) und einem Teil (12 a) dieser p-Schicht eine Verbindung (30) auf eine Tiefe unterhalb der eindiffundierten Schicht (18), die Nickel als Rekombinationsmittelpunkte enthält, fortgeätzt wird und der Anschluß der Steuerelektrode an diesem Teil (12 a) hergestellt wird.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
DE19661564297 1965-12-06 1966-12-01 Thyristor Pending DE1564297B1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB5161865A GB1162140A (en) 1965-12-06 1965-12-06 Thyristors

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1564297B1 true DE1564297B1 (de) 1970-10-22

Family

ID=10460731

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19661564297 Pending DE1564297B1 (de) 1965-12-06 1966-12-01 Thyristor

Country Status (4)

Country Link
DE (1) DE1564297B1 (de)
FR (1) FR1503221A (de)
GB (1) GB1162140A (de)
NL (1) NL6616281A (de)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1196576A (en) * 1968-03-06 1970-07-01 Westinghouse Electric Corp High Current Gate Controlled Switches

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1360373A (fr) * 1961-03-30 1964-05-08 Westinghouse Electric Corp Dispositif semi-conducteur et procédé de fabrication de ce dispositif
DE1189656B (de) * 1962-08-07 1965-03-25 Siemens Ag Halbleiterbauelement mit mindestens einem pn-UEbergang zwischen Zonen aus verschiedenen Halbleiterstoffen

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR1360373A (fr) * 1961-03-30 1964-05-08 Westinghouse Electric Corp Dispositif semi-conducteur et procédé de fabrication de ce dispositif
DE1189656B (de) * 1962-08-07 1965-03-25 Siemens Ag Halbleiterbauelement mit mindestens einem pn-UEbergang zwischen Zonen aus verschiedenen Halbleiterstoffen

Also Published As

Publication number Publication date
NL6616281A (de) 1967-06-07
GB1162140A (en) 1969-08-20
FR1503221A (fr) 1967-11-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE1197548C2 (de) Verfahren zum herstellen von silizium-halbleiterbauelementen mit mehreren pn-uebergaengen
DE19704996C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines IGBT-Bauelementes
DE1439935A1 (de) Halbleitereinrichtung und Verfahren zu deren Herstellung
DE2160450C3 (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiterbauelementes
DE2103468C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
DE1087704B (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleiteranordnungen mit wenigstens einem p-n-UEbergang
DE2265257C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiterschaltung
DE2549614C3 (de) Halbleiterschalter
DE2422120B2 (de) Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung
DE3022122C2 (de)
DE2837762C2 (de) Verfahren zur Herstellung von Triacs
DE3851175T2 (de) Bipolartransistor mit Heteroübergängen.
DE2627355A1 (de) Lichtabstrahlendes festkoerperelement, insbesondere halbleiterlaser, und verfahren zu dessen herstellung
DE1564297B1 (de) Thyristor
DE2209534A1 (de) Micro-Alloy-Epitaxie-Varactor und Verfahren zu dessen Herstellung
DE2537327A1 (de) Halbleiterbauelement mit einem pn- uebergang gleichfoermiger stromdichteverteilung und verfahren zum herstellen eines solchen halbleiterbauelements
DE2527076A1 (de) Integriertes schaltungsbauteil
DE1182750B (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiterbauelementen
DE1240590B (de) Integrierte Halbleiterschaltungsanordnung
DE1769271C3 (de) Verfahren zum Herstellen einer Festkörperschaltung
DE1964546A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleitervorrichtungen
DE2811207A1 (de) Temperaturgradient-zonenschmelzverfahren durch eine oxidschicht
DE2541161A1 (de) Verfahren zur herstellung monolithischer komplementaerer transistoren
AT234844B (de) Halbleiter-Bauelement mit einem im wesentlichen einkristallinen Halbleiterkörper und vier Zonen abwechselnden Leitfähigkeitstyps
DE1564295B2 (de) Verfahren zum herstellen eines steuerbaren halbleiterbauelementes mit einem npnp-aufbau