DE1474347A1 - Einrichtung zum Betrieb von Digitalspeichern mit defekten Speicherelementen - Google Patents
Einrichtung zum Betrieb von Digitalspeichern mit defekten SpeicherelementenInfo
- Publication number
- DE1474347A1 DE1474347A1 DE19651474347 DE1474347A DE1474347A1 DE 1474347 A1 DE1474347 A1 DE 1474347A1 DE 19651474347 DE19651474347 DE 19651474347 DE 1474347 A DE1474347 A DE 1474347A DE 1474347 A1 DE1474347 A1 DE 1474347A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- memory
- characters
- auxiliary
- line
- character
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/76—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring using address translation or modifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/02—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements
- G11C11/06—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using single-aperture storage elements, e.g. ring core; using multi-aperture plates in which each individual aperture forms a storage element
- G11C11/06007—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using magnetic elements using single-aperture storage elements, e.g. ring core; using multi-aperture plates in which each individual aperture forms a storage element using a single aperture or single magnetic closed circuit
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/70—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring
- G11C29/86—Masking faults in memories by using spares or by reconfiguring in serial access memories, e.g. shift registers, CCDs, bubble memories
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Detection And Correction Of Errors (AREA)
Description
Böblingen den 18. Februar 1970 ko-sp
Anmelderin: International Business Machines
Corporation Armonk, N. Y. 10
Amtliches Aktenzeichen: P 14 74 347. 6
Aktenzeichen der Anmelderin: Docket 10 580
Einrichtung zum Betrieb von Digitalspeichern mit defekten Speicherelementen.
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung, die den störungsfreien Betrieb
von Digitalspeichern ermöglicht, obwohl einige Speicherelemente des Speichers defekt sind. Die Einrichtung ist besonders brauchbar für Speicher
sehr hoher Kapazität.
Digital-Speicher grosser Kapazität wurden bisher vorwiegend mit Magnetkernen
als Speicherelemente aufgebaut. Durch Prüfvorgänge war hundertprozentige Zuverlässigkeit jedes Speicherelements erreichbar, da
sich notfalls einzelne Speicherelemente, d.h. Speicherkerne, ersetzen Hessen. Dieses Verfahren hat hohe Kosten pro Bit zur Folge und verbietet
sich bei sehr grossen Speicherkapazitäten infolge Unwirtschaftlichkeit. Die Tendenz geht zur Herstellung von Speichern unter Verwendung
von automatischen oder halbautomatischen Arbeitsverfahren.
Bei solcher Massenfertigung ist es jedoch nahezu unmöglich, Speicher
zu erhalten, bei denen jedes Bit fehlerfrei ist. Andererseits machen es die Herstellungsverfahren untunlich, wenn nicht unmöglich, einzelne EIe-
009821 /1541
U743A7
mente zu ersetzen. Der Ersatz des ganzen Speichers wegen der Fehlerhaftigkeit
einiger weniger Speicherelemente wäre andererseits wieder unwirtschaftlich. Die vorliegende Erfindung sucht diesem Mißstand abzuhelfen
und macht die Verwendung derartiger Speicher möglich, obwohl
einige Speicherelemente bleibend defekt sind.
Es wurde schon vorgeschlagen (DAS 1 249 926), die Adresse eines aufzurufenden
Speicherwortes gleichzeitig dem Hauptspeicher und einem HilfsSpeicher einzugeben und im Falle einer fehlerhaften Speicher stelle
des Hauptspeichers im Hilfsspeicher eine Ersatzadresse für eine nicht
gestörte Hauptspei eher stelle zu erstellen. Dieses Verfahren hat jedoch
den Nachteil, dass es nicht sehr sparsam ist, da auch schon bei nur geringfügigen
Defekten die gesamte Speicher stelle des defekten Wortes in ihrer ganzen Länge nicht mehr benutzt wird.
Bei der erfindungsgemässen Einrichtung wird angenommen, dass der durch
ein Verfahren der Massenfertigung hergestellte Speicher nach defekten Speicherelementen
geprüft wird. Wenn dabei festgestellt wird, dass gewisse Bits eines Wortes fehlerhaft sind, so werden alle Bits eines Zeichens, das
dem Zeichen mit dem defekten Bit benachbart ist, auf einen vorbestimmten
gleichen Zustand eingestellt, und diese Einstellung dient zur Identifizierung des benachbarten Fehlzeihens. Unter der Annahme, dass ein Zeichen
acht Bits enthält, gehen einem Fehlzeichen dann acht "Einsen" voraus oder folgen diesem. Zwei Zeichen oder sechzehn Bits neben dem eben
genannten "Markierungs"-Zeichen enthalten dann die Adresse einer Hilfsspeicherstelle,
in der die Daten enthalten sind, welche infolge des Fehlzeichens, des'!Markierungs"-Zeichens und der Adressenzeichen nicht aufgenommenen
Daten enthalten sind. Die Adressenzeichen können ausserdem noch angeben, ob sich das "Markierungs"-Zeichen rechts oder links
von der Fehlstelle befindet. Dabei ist Rücksicht zu nehmen auf die Tatsache,
dass abhängig von der Lage der Fehlstelle , z. B. rechts von der Fehlstelle, rechts oder links von ihr kein Platz für die Markierung oder die
Adressenzeichen vorhanden ist, ,Diese Schwierigkeit kann durch entspre-
τ , r r ■, a 1A7A347 .
chcnde Codierung der Adressenzcichen umgangen werden.
Es hallet ab von der Grosse der Zeichenzahl eines Wortes, ob es sinnvoll
ist, das ganze Wort zu ersetzen oder ob es noch wirtschaftlich ist, nur
einzelne Zeichen eines Wortes zu ersetzen und die übrigen, fehlerfreien
Zeichen eines Wortes? zu benutzen.
Gegenstand der Erfindung ist eine Einrichtung zum Betrieb von wortorientierten Digital speichern mit einem einen Lese- und einen Schreibteil
enthaltenden Speicherzyklus und mit defekten Speicherelementen in einigen Zeichen eines Wortes. Sie ist gekennzeichnet durch einen Fehlerprüfer
zur Ermittlung der Lage einer Defektstelle in einem angesteuerten Speicherwort und der Adresse in einem Hilfsspeiches an welcher die
infolge des Defektes im Speicher nicht speicherbaren Daten aufgenommen werden und durch Steuer schaltungen, die beim Vorliegen eines Defektes
den Ililfsspeicher zur Aufnahme oder Abgabe der im Speicher nicht speicherbaren
Daten anrufen.
Weitere Merkmale gehen aus den Unteransprüchen hervor. Die nachfolgende
Beschreibung eines Auführungsbeispiels wird durch Zeichnungen erläutert.
Fig. 1 ist eine Tabelle, die mögliche Lagen von Fehlzeichen und zugehörigen
Adressen innerhalb eines Wortes angibt;
Fig. 2 ist die Blockdarstellung eines üblichen drei-dimensionalen Speichers;
Fig. 3 zeigt ein Blockschaltbild zur Erläuterung der Korrektur-
Operationen;
Fig. 4 zeigt den Zusammenhang der Fig. 4a bis 4b;
Fig. 4a zeigen Einzelheiten des Speicherregisters von Fig. 2;
und 4b
009821/15U Pi474 347.6
0AD OBlGiNAL
ί - 4 -
Fig. 4 c
bis 4e zeigen Einzelheiten zur Fig. 3;
Fig. 5 gibt Einzelheiten des Blocks 80 von Fig. 4a wieder;
Fig. 6 zeigt den bei der Erfindung benutzten Vergleicher;
Fig. 7 zeigt den bei der Erfindung benutzten Hilfsspeicher;
Fig. 8
bis 15 zeigen schematisch logische Schaltungen, die bei der über
tragung von und zu Hauptspeicher und HilfsSpeicher benutzt werden.
Zur Erläuterung der Erfindung wird von einem Speicher ausgegangen,
der mit Speicherwörtern von je acht Zeichen arbeitet; jedes Speicherwort kann'ein einzelnes Fehlzeichen in einer der Stellen 1 bis 8 enthalten. Mit
dem erfindungsgemässen Verfahren, einen Speicher mit dauernd fehlerhaften
Bits zu benutzen, ist die Korrektur eines Speicherwortes möglich, das ein einzelnes Fehlzeichen oder zwei beachbarte Fehlzeichen enthält. Wenn
das Speicherwort zwei nicht benachbarte Fehlzeichen oder mehr als zwei nicht benachbarte Fehlzeichen enthält , muss eine andere Fehlerkorrektur
benutzt werden.
' Fehlzeichen-Stellen eines in Massenfertigung hergestellten Speichers werden
durch einen Prüfvorg'ang ermittelt, der vom Hersteller vor der Auslieferung
des Gerätes vorgenommen wird.
Eine Markierung, die ein Sonderzeichen ist, wird unmittelbar rechts oder
links neben die Fehlstelle gesetzt. Im Ausführungsbeispiel ist die Markierung,
die rechts neben die Fehlstelle gesetzt wird, mit L abgekürzt
und die Markierung links neben der Fehlsteile wird I abgekürzt. Die
Markierung I wird durch die Binärfolge 11111110 dargestellt und die
009821/1641
P 14 74 347.6 BAD ORIGINAL
Markierung I durch die Binärfolge 11111111. Diese Sonderzeichen können
nicht benutzt werden, um anderswo im Speicher, der weiterhin als Hauptspeicher bezeichnet wird, Daten darzustellen. Fig. 1 zeigt alle
möglichen Lagen, die ein einzelnes Fehlzeichen oder zwei benachbarte Fehlzeichen in einem einzigen Speicherwort einnehmnn können. Es gibt
15 solcher Kcrröinationen von Fehlzeichen; sie sind (am linken Rand von
Fig. 1) durch die Buchstaben B bis P bezeichnet. Unmittelbar rechts neben der Markierung I folgt eine Adresse aus zwei Zeichen; diese
stellen die Adresse einer Speicherstelle im Hilfsspeicher dar, der (im.
Falle eines einzelnen Fehlzeichens) vier Zeichen und (im Falle zweier benachbarter Fehlzeichen) fünf Zeichen enthält, die im Hilfsspeicher
untergebracht werden müssen. Solche Adressen können ebenfalls durch den Hersteller bestimmt werden. Das Bit höchster Ordnung im Y-Adresszeichen
ist immer eine "0", wenn es sich um ein einzelnes Fehlzeichen
handelt und ist immer eine "1" bei zwei benachbarten Fehlzeichen . Das
bedeutet, dass die Hälfte des HilfsSpeichers benutzt werden kann, um
Worte aus vier Zeichen zu speichern nnd die andere Hälfte benutzt werden kann, um Worte aus fünf Zeichen aufzunehmen. Das Bit höchster Ordnung
wird jeweils die entsprechende Sp ei eher half te anrufen.
Es wird hier unterstellt, dass der hier sogenannte Hauptspeicher eine
sehr hohe Speicherkapazität hat und von solcher Bauart ist, dass Bits nicht einzeJr/entfernbar sind. Wenn Fehlbits auftreten - und es ist zu
unterstellen, dass ein gewisser Prozentsatz der gesamten Bitzahl während des Herstellungsprozesses fehlerhaft wird - müssen Mittel gefunden
werden, um die Benutzung des Hauptspeichers rrrit den anhaftenden
Fehlbits zu verwenden. Der Hilfsspeicher muss ein Speicher üblicher
Magnetkernbauart oder ein anderer Speicher Bein, dessen Speicherelemente
von höchster Zuverlässigkeit sind, Im Hilfsspeicher sind also
fehlerhafte Kerne nicht tragbar, Fig. 2 zeigt die Blockdarstellung eines
üblichen Hauptspeicher-Systems. Der Hauptspeicher ( der hier in Massenfertigung
hergestellt sei) ist mit 2, das Speicheradress-Register mit 4
009821/1641 p,474 347.6
und das Speicherregister mit 6 bezeichnet. Speicher dieser Art erfordern
einen Speicherzyklus, dessen erste Hälfte als Leseteil und dessen zweite Hälfte als Schreibteil bezeichnet werden.
Üblicher Speicher - Tabelle 1
Lese-Teil
Speicherwort zum Speicherregister übertragen Speicher register-Inhalt zur Aus gangs leitung übertragen
Speicher register-Inhalt in Speicher rückübertragen
Speicher register-Inhalt in Speicher rückübertragen
Schreib-T eil
Speicherwort zum Speicherregister übertragen Eingabe-Daten z. Speicherregister übertragen
Speicherregister-Inhalt in Speicher rückübertragen
Tabelle 1 zeigt die Operations-Folge für einen üblichen Speicher, wie in
Fig. 2 gezeigt. Das Wort im Hauptspeicher 2 wird adressiert durch den Wert im Speicheradress-Register 4. Der Y-Teil dieser Adresse steuert
die Y-Treiber 8 und der X-Teil die Treiber 10. Während des Leseteils
des Speicherzyklus werden den Leitungen 12 und 14 Steuerimpulse zugeführti
die das Wort im Hauptspeicher 2 auswählen und es über die Verstärker 16 und die Torschaltung 18 zu einem als Puffer wirkenden Speicherregister
6 leiten; dabei wird das Tor 18 durch einen Impuls auf Leitung 20 rechtzeitig geöffnet.
Wenn der Spei eher auf ruf ein Lese-Vorgang war, wird der Leitung 22 ein
das Tor 24 öffnender . Impuls zugeführt, so dass der Inhalt des Speicherregisters
6 auf die Datenausgangsleitung 26 gelangen kann; danach wird der Inhalt des Speicherregisters 6 wieder zum Hauptspeicher 2 zurückgegeben
(geschrieben) indem wiederum die X- und Y-Treiber 10 und 8 betätigt und gleichzeitig zur Erregung der Sperrtreiber 30 Steuerimpulse
auf die Leitung 28 gegeben werden. Dadurch wird der Inhalt des Speicher-
009821/1541
H74347
registers 6 wieder zur selben Stelle des Hauptspeichers 2 zurückgegeben,
aus der er entnommen^vurde.
Wenn der Spei eher auf ruf ein Schreib-Auf ruf ist, wird nach dem Lese-Teil
des Speicherzyklus der Inhalt des Speicherregisters 6 geändert, indem
durch einen Inpuls auf Leitung 32 das Tor 34 für den Durchgang der
Eingangsdaten aus Leitung 36 zum Speicherregister 6 geöffnet wird. Während des anschliessenden Schreib-Teils des Speicherzyklus werden diese
neuen Daten in den Hauptspeicher 2 an die vom Speicheradressregister.4
bestimmte Stelle geschrieben.
Bei dem Speichersystem nach der Erfindung ist der Lese-Teil des Speicherzyklus
derart vomSchreib-Teil getrennt, dass der Schreib-Teil dem Lese-Teil nur dann unmittelbar folgen .kann, wenn in dem Speicherwort
keine Fehlzeichen enthalten sind. Nahe dem Ende des Lese-Teils findet
eine Prüfung auf Vorliegen einer rechten (I) oder einer linken (I ) Mar-
Iv L
kierung statt. Fehlt eine solche Markierung , so folgt der normale Schreib-Teil
des Speicherzyklus unmittelbar. Wird eine Markierung angetroffen, so wird der normale Speicherzyklus am Ende des Lese-Teils unterbrochen
und eine Hilfsoperation eingeschoben, während welcher der (nicht gezeigte)
HilfsSpeicher ins Spiel gebracht wird. Während dieser Hilfsoperation
wird das Wort im Speicherregister 6 daraufhin untersucht, ob eine Markierung I oder I enthalten ist und ob ein oder zwei Fehlzeichen vorliegen.
Ix L
Dies geschieht durch einen Vergleichsvorgang für alle acht Zeichen des
Wortes im Speicherregister 6 und in Verbindung mit den Vergleichsschaltungen benutzte Vcrgleichsanzeiger geben die Lage der Markierung an.
Auf diese Weise werden die Zustände B bis P der Fig. 1 festgestellt.
Während der noch naher zu beschreibenden Hilfsoperation durchläuft
der Hilfsspeicher, der grundsätzlich dem in Fig. 2 gezeigten Speicher
gleich ist, einen üblichen Speicherzyklus , bestehend aus einem ersten
Lese-Teil und einem zweiten Schreib-Teil . Vorher muss jedoch das Spcicheradress-Register des HilfsSpeichers geladen werden. Das geschieht
00 9821/154 1
P 14 74 347.6 BAD ORIGINAL
durch Überführung der zwei Adressenzeichen aus dem Hauptspeicher in das
Speicheradress-Register des Hilfsspeichers und ein Blick auf Fig. 1 zeigt,
dass die Stelle dieser beiden Adresszeichen mit der Stelle der Fehl zeichen sich verändert. Der Hilfsspeicher kann dann in dem Lese-Teil seines
Speicherzyklus eintreten, während dessen durch T or schaltungen die ent sprechenden
Zeichen aus den Speicherregistern des Haupt- und des Hilfsspeichers im Falle eines Lese-Zugriffs zu den Ausgangsleitungen gelangen
oder im Falle eines Schreib-Zugriffs von den Eingangsleitungen zu den
Speicher-Registern des Haupt- und des Hilfs- Speichers überführt werden.
Mit anderen Worten beim Vorliegen einer Fehler-Markierung muss die entsprechende
Adresse des Hilfsspeichers angesteuert und T or schaltungen zur Stete rung des Datenflusses eingestellt werden, da ein Teil dieses Datenflußses
zu oder von dem Speicherregister des Hauptspeichers und ein anderer Teil zu oder von dem Datenregister 6A (Fig. 7) des Hilfsspeichers
verlaufen. Diese Vorgänge werden jedoch später noch in Einzelheiten beschrieben
werden.
Speicher nach der Erfindung - Tabelle 2
Lese- Zugriff
Wort aus Hauptspeicher in Hpt. Sp. -Speicherregister übertragen | \"*J- ·*
Auf Fehlermarkierung prüfen
Hilfsspeicherwort zu Hilfs-Speicherregister
bringen
Entspr. Zeichen aus beiden Speicherregistern zu Ausgangsltg. durchlassen
Hpt. -Speicherregister zu Ausgangsltg. übertragen
Hpt. -Speicherregister zurück zum Speicher übertragen.
Hpt. -Speicherregister zurück und Hilfsspeicherregister zum Hilfsspeicher
übertragen.
009821 /15 4
Speicher nach der Erfindung :
Hauptspeicherwort zum Hpt. -Speicherregister übertragen
Nach Fehlermarkierung prüfen.
Hilf s spei eher-Wort zum Hilfsspeicherregister
übertragen.
Entspr. Zeichen von Eingangsleitungen zu Hpt. - u. Hilf s spei eher regi stern übertragen.
Daten aus Eingangsltg. zum Hpt. -Speicherregister bringen. I
Speicherregisterinhalt zum Speicher übertragen.
Hpt-Speicherregister zum Hauptspeicher und Hilf s spei eherregister
zum Hilfsspeicher übertragen.
Die oben stehende Tabelle 2 zeigt die Operationsfolge während eines
Lese-Zugriffs, die Tabelle 3 während eines Schreib-Zugriffs bei dem
erfindungsgemässen Speichersystem- Das Blockschaltbild der Fig. 3 zeigt wie die in den Tabellen 2 und 3 bezeichneten Operationen ausgeführt
werden.
Die Anforderung für einen Spei eher zugriff wird durch Erregung der
Leitung 38 von Fig. 3 eingeleitet. Dadurch wird der Impulsgenerator Nr. 1, in Fig. 3 mit 40 bezeichnet, angeworfen; er liefert die für den
Lese-Abschnitteines Hauptspeicher-Zyklus erforderlichen Impulse sowie
die Steuerimpulse für die Vergleichsschaltungen 43 und 45 zur Fest-
009821/1541
stellung einer Fehimarkierung. Die verschiedenen Steuersignale für den
Hauptspeicher 2 der Fig. 2 werden durch die Leitung 42 dargestellt, die
den Impulsgenerator 40 unten verlässt. Die Leitung 44 prüft auf das Vorliegen einer Fehler-Markierung. Liegt keine solche vor, so wird die
Leitung 46 erregt, die Torschaltung 48 geöffnet und die Durchgabe eines Startimpulses zum zweiten Impulsgenerator (54) über die Leitungen 50
und 52 ermöglicht. Der Impulsgenerator 54 liefert Steuersignale für den Schreib-Teil eines Haupt spei eher ζ yklus und der Hauptspeicher 2 arbeitet
in der bei Fig. 2 beschriebenen Weise , Liegt eine Markierung I oder
I vor, so entsteht ein Signal auf Leitung 56 , das über die Leitung 58
R
die Torschaltung 60 vorbereitet, so dass nun ein Impuls vom Generator
40 über Leitung 50 zum Anwerfen des Impulsgenerators 3 (62) gelangen kann. Leitung 56 aktiviert über die Leitung 64 die besonderen Steuerschaltungen
66 zur Betätigung der Eingabe- und Ausgabe-Tore . Im Block 66 sind ausserdem (wie schon früher erwähnt) die Schaltungen eathalten,
die aus dem Speicherregister 6 des Hauptspeichers die Adressen der Worte des HilfsSpeichers auswählen und diese zum Adress-Register des
Hilfsspeichers leiten, der dem Speicheradress-Register 4 des Hauptspeichers
gleicht. Der Impulsgenerator 62 liefert dann Steuerimpulse auf Leitung 68 für den Lese-Teil des Hilfsr-speicher -Zyklus ; der mit
69 bezeichnete Block liefert die zugehörigen Steuerimpulse. Über die Leitung wird der Impulsgenerator 2 (54) aktiviert, so dass während eines
solchen Lese-Zugriffs die Eingabe-Ausgabe-Torschaltungen für den Hauptspeicher 2 und für den HilfsSpeicher gleichzeitig betätigt werden.
Mit anderen Worten, die Leitung 72 führt Taktimpulse für die besondere Steuerschaltung des Blockes 71 (eingestellt durch den Block 66) und diese
Taktimpulse erscheinen in zeitlicher Abstimmung mit den Taktimpulsen auf Leitung 74 zur Steuerung der Eingabe-Ausgabe-Tore (Block 73) für den
normalen Speicherzyklus. Die Steuerimpulse auf Leitung 7 6 bewirken den Schreib-Zugang des Hilfsspeicher-Zyklus, dessen Schaltung im Block
i enthalten ist; diese Steuerimpulse treten gleichzeitig mit Steuerimpulsen
auf Leitung 78 auf, welche den Schreib-Teil des Hauptspeicher-Zyklus
steuern, die zugehörige Schaltung ist im Block 77 enthalten.
. 009821/1541 PI7M347.6
-11- U74347
Die Figuren 4a und 4b zeigen das Speicherregister des Hauptspeichers , das
in Fig. 2 mit 6 bezeichnet ist. Die mit 80 und 82 bezeichneten Blöcke der ersten und achten Zeichenstelle sind in Fig. 5 in grösserer Ausführlichkeit
gezeigt. Die Blöcke 84, 86, 88 90, 92 und 94 bezeichnen die Z eichen stell en
2 bis 7 eines Speicherwortes und sind in Fig. 6 ausführlicher dargestellt.
Da jede Zeichcnstelle 8 Bits enthält, hat jede Zeichenstelle 8 gleiche bistabile
Schaltungen 81 (s. Fig. 5); mit jeder Zeichenstelle sind also 16 Eingangsund 16 Ausgangsleitungen verbunden. Eine Sammelleitung 96 von der Torschaltung
18 kommend (FSg. 2) enthält also 128 Leiter, nämlich 16 Leiter
für jedes Register 80, 82, 84,. . . 94. Die Sammelleitung' 96 bringt das aus
dein Hauptspeicher 2 ausgelesene Wort in das Speicherregister 6. Die
Sammelleitung 98 führt von den Eingangs-Tor-Schaltungen 34 (Torschaltungen sind in den Figuren 8 9 10 und 11 gezeigt) zum Speicherregister
und überträgt während eines Schreib-Zugriffs Werte zum Speicherregister 6
Die Sammelleitung 98 ist oben in den Figuren 4a und 4b mit MDII, MDI2, --MDI8
bezeichnet; über diese Sammelleitung wird Information vor einem Schreib-Zugriff (des Hauptspeichers 2) in das Speicherregister 6 des Hauptspeichers
gebracht. Die Sammelleitungsbezeichnung MDO (1 bis 8) in den Figuren 4a und 4b unten bedeuten die Ausgangsleitungen des Speicherregisters,
die in Fig. 2 mit 118 bezeichnet sind. Die Sammelleitung 118 führt zu den Ausgangstorschaltungen 24, die in Fig. 2 als Block und in den
Figuren 12, 13, 14 und 15 in Einzelheiten gezeigt sind. Es ist noch auf zwei
Leitungen 83 und 85 hinzuweisen, die von der bistabilen Schaltung (81) in
Fig. 5 aller Zeichenstellen zwei bis acht ausgehen. Diese Leitungspaare bilden die Sammelleitung 100. Sie dienen dazu, feszustellen, ob in der
höchsten Bitstelle der Y-Adresse eine "0" oder eine "I" enthalten ist; eine
"O" zeigt das Vorliegen eines Fehlzeichens im Hauptspeicher 2 an und eine
"1" das Vorliegen von zwei benachbarten Fehlzeichen.
Ein Blick auf Fig. 1 zeigt, dass die Y-Adresse nur in den Zeichenstellen
2 bis 7 vorliegen kann. Die (in Fig. 4b) mit 102 bezeichneten Sammelleitungen
führen zu Torschaltungen, welche das richtige Paar von Zeichen
P1774347.6 . 009821 /1541
2 bis 8 zum Speicherregister des HiIEsSpeichers bringen. Aus Fig. 1 geht
wiederum hervor, dass HilfsSpeicheradressen nur für die Zeichenstellen
2 bis 8 existierenkönnen. Die mit 104 bezeichnete Sammelleitung führt zu den Sperrtreibern 30 der Fig. 2.
Fig. 7 gibt Einzelheiten des Speicherregisters 6A des Hilfs Speichers. Dieses
Register ähnelt dem Speicherregister 6 des Hauptspeichers (Fig. 2) Es sind (in Fig. 7) fünf Zeichenstellen 106, 108, 110, 112 und 114 gezeigt.
Jede Zeichenstelle enthält acht bistabile Schaltungen sowie die Blocks 80, 82 usw. der Fig. 4a und 4b. Es sind zwar fünf Zeichenstellen gezeigt,
es sind aber für den Fall eines einzelnen Fehlzeichens nur vier nörtig;
das fünfte wird nur bei zwei benachbarten Fehlzeichen erforderlich. Die Sammelleitung 98A ist das Pendant zur Sammelleitung 98 beim Hauptspeicher
2, jedoch wird das auf der Eingangsleitung 36 erscheinende Wort nach dem Passieren der Tor schaltungen 34 in der Weise aufgeteilt, dass
einige der Zeichen eines solchen Wortes auf der Sammelleitung 98 zum
Speicherregister 6 (des Hauptspeichers) gelangen und andere Zeichen über die Sammelleitung 98A zum Speicherregister 6A des Hilfs Speichers. Die
mit ADIl, ADI2, . . . ADI5 bezeichneten Leitungen stellen den Eingang des Speicher register s 6A dar und führen diejenigen Zeichen, die zum Ersatz
der vier oder fünf Zeichen des Hauptspeicher-Wortes dienen die als Daten-Zeichen
nicht brauchbar sind, wenn ein oder zwei Zeichen des betreffenden Hauptspeicher-Wortes fehlerhaft waren. Die Leitungen ADOl , AD02, .. .
AD05 sind die Ausgänge des Speicherregisters, die über die Sammelleitung 118A zu den Tor schaltungen 24 (Fig. 2) führen. Die Sammelleitungen 118
und 118A führen Kombinationen von Ausgangssingalen des Hauptspeichers
und des Hilfs Speichers ; diese Signale betätigen die verschiedenen Schaltungen
der Fig. 12 bis 15 und bilden auf der Aus gangs-Sammelleitung
26 der Fig. 2 das korrigierte Wort . Die Sammelleitung 96A kommt von den Abfühlverstärkern des Hilfsspeichers und erfüllt innerhalb des HilfsSpeicher-Zyklus
dieselbe Funktion wie die Sammelleitung 96 beim Hauptspeicher . Die Sammelleitung 104A verbindet den Ausgang des Speicherregisters
6A mit den Sperrtreibern des Hilfsspeichers und ist das Pendant
. 009821/1541 P1774347.6
zu der Sammelleitung 104 beim Hauptspeicher.
Die Sammelleitung 120 (Fig. 4 und 6) tritt vei Veigleichsoperationen
in Tätigkeit. Die Leitungen 122, 124, 126, 128, 130 und 132 der Fig. 4a
und 4b führen den Markierungsschaltungen 134, 136, 138, 140, 142 und 144 der Fig. 4d. Diese Schaltungen zeigen die mögliche Lage eines Fehlzeichens
an und ein Blick auf Fig. 1 ergibt, dass eine Markierung I
oder I nur in den Zeichenstellen 2 bis 7 auftreten kann. Die Markierungsschaltung
134 gehört also zur Zeichenstelle 2 und die Markierungsschaltung
144 zur Zeichenstelle 7. Beim Beginn eines Vergleichsvorganges wird zunächst der Leitung 146 (Fig. 4 d) ein Impuls zugeführt, um alle Markierungsschaltungen
in den "Eins"-Zustand zu überführen. Darauf erhält
die Leitung 148 (Fig. 4c) einen Impuls, der über die Sammelleitung 120 Einsen zu den sieben Stellen höchster Ordnung der Zeichen 2 bi s 8 durchlässt,
so dass die entsprechenden sieben höchstwertigen Bits jedes Zeichens
2 bis 8 nach Einsen befragt werden. Es wird daran erinnert, dass beide Markierungsschaltungen I und I in den sieben höchsten Bit-
R L
stellen Einsen enthalten. Dieser Vergleichsvorgang entdeckt also, ob eine
Markierung vorliegt, sagt aber noch nicht aus, ob ein I oder I ist.
ix L
Wenn keine Markierung vorliegt (also keine Zeichenfolge 111111 IX) werden
alle Markierungsschaltungen 134 bis .144 durch Signale von einer Ungleich Leitung
122 , 124, 126. .. 132 (Fig. 6) auf "Null" gestellt und die Und-Schaltung
150 (Fig. 4d) liefert ein Aus gangs signal zur Leitung 152 als Anzeige
für das Fehlen einer Markierung.
Aus Fig. 6 kann entnommen werden, dass beim "Null11- Zustand einer bistabilen
Schaltung 81 bei einem Zeichen (z.B. 84) auf der zugehörigen Ungleich-Leitung,
z.B. der Leitung 122 für Zeichen 84, ein Signal auftritt. Wenn z. B. die Und-Schaltung P des Bits zweiter Ordnung von Zeichen 84
in Fig. 6 durch den 1NuIl"-Zustand seiner bistabilen Schaltung 81 angeregt
ist und wenn der "Eins"-Zustand des Abfrageimpulses auf der Leitung Q
erscheint, dann tritt auf der Leitung L ein Ungleich-Signal auf. Wenn dann
der Leitung 154 ein Impuls zugeführt wirdj gelangt er über die Und-
009821/1541 P π 74 347.6
i
■
H7A347
I* Schaltung 156 zur Leitung 158 (die im Block 43 der Fig. 3 enthalten ist),
I läuft weiter zur Leitung 46 und stösst den Impulsgenerator 54 an. Die
£ Leitung 154 ist ausserdem mit den T or schaltungen 178 verbunden und
"' veranlasst dort die Übertragung der Markierungsschaltung-Stellung
(bistabile Schaltung 134 bis 144) auf die bistabilen Schaltungen 179f 181,
K 183, 185, 187 und 189. Wenn keine Gleichheit festgestellt war, bewirkt
i der Impuls auf Leitung 154 lediglich die Übertragung von lauter Nullen
* auf die bistabilen Sdialtungen 179 bis 189. Die Schaltungen 179 bis 189
i speichern also die Zeichenstellen der Markierung für den Rest des
; Speicherzyklus. Die Übertragung ist erforderlich, weil die bistabilen
Schaltungen 134 bis 144 ein zweites Mal zur Unterscheidung zwischen I
,. R
,;, oder I benutzt werden. Wenn keine Fehleranzeige festgestellt wurde,
? L
läuft also ein normaler Speicherzyklus ab.
Wenn im Hauptspeicherregister 6 I oder I vorgefunden wurden, bleibt
» R L
eine der Markierungen 134 bis 144 nach dem Vergleichsvorgang im 5 "Eins"-Zustand, so dass die Und-Schaltung 150 nicht anspricht und auf
der Leitung 152 kein Ausgangssignal auftritt. Daraufhin liefert der Inverter
160 ein Ausgangs signal, das die Torschaltung 162 vorbereitet; sobald auf Leitung 154 dann ein Impuls erscheint der dann über Leitung
(Fig. 3) den Impulsgenerator 62 anwirft. Gleichzeitig wird die bistabile
Schaltung 166 in ihren "Eins!'-Zustand versetzt, ein Kennzeichen dafür,
dass eine Markierung vorgefunden wurde. Es ist noch erwähnenswert, dass beim Fehlen einer Markierung und beim Auftreten eines Impulses
auf Leitung 158 die bistabile Schaltung 166 in ihren "Null"-Zustand überführt
würde, was -wiederum die normale Eingabe-Ausgabe-Steuerung der
Fig. 3 in Tätigkeit setzen würde, zu der die Leitung 74 hinführt.
Das Ergebnis der bis jetzt abgelaufenen Vorgänge war Auskunft über das
j Vorliegen oder das Fehlen eines Fehlers. Liegt ein Fehler vor, so ist
I noch zu bestimmen, ob es ach um I oder I handelt. Das geschieht
Γ RL
durch einen zweiten Vergleich, nur bezüglich des Bits niederer Ordnung
jeder Stelle 2 bis 7 des Speicher registers 6 des Hauptspeichers. Dieser
009821./1541 ρ 14 74 347. 6
zweite Vergleichs vor gang läuft so ab : Ein Impuls aus der Schaltung
66 (Fig. 3) wird der Leitung 168 in Fig. 4c zugeführt, welcher eine
"Eins" iiuf die Vergleichs-Leitnngen der niedrigsten Bitsstelle jedes
Zeichens 2 bis 7 einschleust. Wenn dieser zweite Vergleich fehlschlägt, werden alle Markierungsschaltung 134 bis 144 auf "Null" gestellt, die
Und-Schaltung 150 wird durchlässig, auf Leitung 152 erscheint ein
Signal und die Und-Schaltung 170 wird vorbereitet. Wenn jetzt auf Leitung 172 ein Impuls auftritt., passiert er die Und-Schaltung 170 und .
stellt die bistabile Schaltung 174 in den "Null"-Zustand, eine Anzeige
dafür, dass die Markierung, die bei der ersten Vergleichsoperation
gefunden wurde, ein I ist-.
Wie früher erwähnt und schon in Fig.. 1 gezeigt, hat I ein "Null"-Bit
in der niedrigsten Stelle. Wenn die zweite Vergleichs-Operation erfolgreich
war, wird eine der Markicrungsschaltungen 134 bis 144 im "Eins"-Zustand
belassen und die Und-Schaltung 150 keinen Ausgang erzeugen.
Über den Inverter 160 würde dann die Und-Schaltung 176 vorbereitet und der Impuls auf Leitung 172 könnte zur Einstellung der bistabilen
Schaltung 174 in dem "Eins"-Zustand wirksam werden als Anzeige dafür,
dass eine Markierung I gefunden vrurde. Bisher wurde also das Vorhandenscin
einer Fehlermarkierung, die Lage derselben und ihre Identität (I oder L ) festgestellt. Im folgenden soll gezeigt werden,
wie die Zahl der Fehlzeichen bestimmt wird urejlmit dieser Kenntnis
wird es möglich sein, die besonderen Torschaltungen im Block 71 der Fig. 3 einzustellen, die dann dafür sorgen, dass ein Teil des Speicherwortes
von oder zu dein Speicherregister 6 des Hauptspeichers und der
Rest von oder zu dem Speicherregister des Hilfsspeichers verläuft.
Abhängig von der Lage der Mai'kierung , d.h. im zweiten, dritten. . .
oder siebten Zeichen eines Speicherwortes, wird ein "Eins"-Zustand
in einer der bistabilen Schaltungen 179 bis 189 eingestellt. Die Art der
Markierung, I oder I , wird in der bistabilen Schaltung 174 festge-R L . ■
halten. Die Kombination dieser Information wählt unter Benutzung der
009821 /15M P 14 74 347. 6
-I6-
ünd-Schaltungen 179, 181, 183, 187 und 189 und der Oder-Schaltungen-191,
193 und 195 das Leitungspaar aus der Gruppe von mit 100 bezeichneten Leitungspaaren aus und ermittelj; ob das gewählte Paar eine "Eins"
oder "Null" darstellt. Die Leitungen 100 kommen bekanntlich von den
Bitstellen höchster Ordnung der Zeichenstellen 2 bis 7. Eines der Tore 196 bis 206 leitet diese Information über die Bits höchster Ordnung
zu den Oder-Schaltungen 208 und 210 (Fig. 4c) deren Aus gangs signal
die bistabile Schaltung 212 einstellt. Wird diese Schaltung auf "Eins" gebracht, so bedeutet dies zwei benachbarte Fehlzeichen
in einem Hauptspeicherwort. Der "Null"-Zustand dieser Schaltung bedeutet ein einzelnes Fehlzeichen. Die Signafeaus den Und-Schaltungen
179 bis 189 und der bistabilen Schaltung 174 werden ausserdem als Eingangs signale für die Und-Schaltungen 214 bis 236 (Fig. 4c) benutzt,
die durch die bistabile Schaltung 212 zusätzlich gesteuert werden. Auf
diese Weise kann das Vorliegen einer der Bedingungen B bis P (Fig. 1) bestimmt werden. Die Bedingung A wird unmittelbar durch den "Null"-
Zustand der bistabilen Schaltung I66 bestimmt und die Leitung 213 führt
zu der Wahlschaltung für die Bedingung A (Fig. 4d, 4c, 4e).
Aus der in Fig. 4 gezeigten Zusammenstellung der Fig. 4a, 4b, 4c, 4d
und 4e ist ersichtlich, dass die von den Und-Schaltungen 179 bis 189 und
von der bistabilen Schaltung 174 erzeugten Impulse sich über die Leitungen 238 auf die T or schaltungen 240 bis 250 auswirken. Die Eingänge
zu diesen Tor schaltungen kommen auf der Sammelleitung 102 an und
bilden die Zeichen 2 bis 8 des Hauptspeicherregisters 6 der Fig. 4a und 4b. Der Zweck der Tor schaltungen 240 bis 250 ist es, das richtige Paar
von Zeichenstellen im Speicherregister 6 auszuwählen, das die Adresse enthält, die im Hilfsspeicher anzusteuern ist. Die Ausgänge der Tore
240 bis 250 v/erden also zusammengeführt und gelangen zum Speicherregister des HilfsSpeichers.
In Fig. 4e sind die Leitungen A bis P links eingezeichnet; zusätzliche
Eingänge zu den Und-Schaltungen 300 und 302 sind die Leitungen Lese-
0 0 9 8 21/15 41 ρ 14 74 347. 6
H74347
Zugriff und Schreib-Zugriff, die denen von Fig. 3 entsprechen. Die in
Fig. 4e rechts angeschriebenen Funktionen werden durch die logischen Schaltungen derselben Figur verwirklicht. Die Ausgänge der Und-Schaltungen
300 und 302 führen zu den Fig. 8 bis 15 und dienen dort zur Auswahl der richtigen Eingabe-Ausgabe-Torschaltungen, die während
des Lese- oder Schreib-Zugriffes gebraucht werden. Z.B. muss in Fig. 8 die Torschaltung 252 geöffnet werden, wenn kein Fehlzeichen
während eines Lesezugriffes angetroffen wird. Der Torschaltung 252
ist eine Und-Schaltung 254 zugeordnet, als deren Eingangs signale Impulse auf Leitung 74 und auf Leitung AR dienen. Die Torschaltung
252 kann den Inhalt des Speicherregisters 6 während eines normalen Lese-Zugriffes auf die Ausgangsleitungen schleusen. Während eines
normalen Schreib-Zugriffes ist die Torschaltung 256 der Fig. 12 in Betrieb.
Die übrigen Torschaltungen 9, 10, 11, 13, 14, 15 werden durch die Ausgangs signale von Fig. 4e ausgewählt und von Impulsen der Leitung
72 vorbereitet. Jede Torschaltung (z. B. 252", 256 und entsprechende)
haben als Eingangsleitungen Sammelleitungen, die zu Zeichenstellen entweder des Speicherregisters 6 vom Hauptspeicher oder des Speicherreigsters
6A vom HilfsSpeicher gehören. Die Abkürzung MDO bezieht sich z. B. auf den Datenausgang des Hauptspeichers und entspricht derselben
Abkürzung von Fig. 4a und 4b. Die Abkürzung ADO bedeutet Datenausgang des Hilfsspeichers und entspricht derselben Bezeichnung wie
Fig. 7. Die Abkürzung ADI bedeutet Dateneingang des Hilfsspeichers
und entspricht der gleichen Bezeichnung wie in Fig. 7. Die Datenausgangsleitung 26 der Fig. 2 befördert während eines Lese-Zugriffs Daten vom
Hauptspeicher , vom Hilfsspeicher oder von beiden Speichern; die Leitung
36 führt während eines Schreib-Zugriffes Daten zu den Speicherregistern
des Haupt- und des Hilfsspeichers. Beide Leitungen, 26 und 36, enthalten
einzelne Leitungen zu sechzehn Leitern, so dass jede einzelne Leitung ein Binärzeichen von acht Bits befördern kann.
Zur Erläuterung wird davon ausgegangen, dass das zweite Zeichen eines
gegebenen Wortes im Speicherregister 6 fehlerhaft ist, weil ein oder meh-
009821/1541 Pi4 7' 347.6
rere Bits dieses Zeichens dauernd unbrauchbar sind. Bevor dieses Wort
aus dem Speicherregister 6 als brauchbarer Ausgangswert entnommen werden kann, muss der Fehler entdeckt worden sein, so dass der Hilfsspeicher
fehlerfrei Ersatzzeichen liefern kann; es sind jedoch auch noch die Zeichen ( I oder In zur Identifizierung der Fehlzeichen und die
Zeichen zum Adresä eren der die Ersatzzeichen im HilfsSpeicher ent-
:' haltenden Adresse zu ermitteln.
f Aus Fig. 1 ist ersichtlich, dass die Bedingung C herrscht, wenn nur
das zweite Zeichen eines acht Zeichen enthaltenden Wortes des Haupt -
Speichers 2 fehlerhaft ist. Das Korrekturschema muss anzeigen, dass
; die Markierung I rechts von dem Fehlzeichen steht und dass die Y-
und X-Adressen im vierten und fünften Zeichen des fehlerhaften Haupt-
speicher-Wortes enthalten sind. Nachdem alle Markierung s-Schaltungen
134 bis 144 durch einen Impuls auf Leitung 146 (Fig. 4d) in den Zustand
"Eins" gebfacht worden sind, wird während des Lese-Teiles des Hauptspeicherzyklus
eine Prüfung auf eine Markierung I oder I gemacht. ' ix L
Beim gewählten Beispiel enthält der Block 86 des Speicherregisters 6
*H das Zeichen 11111110, das die Verschlüsselung für eine rechte Markierung
I darstellt. Die zweite Markie rungs schaltung 136 erhält auf ihrer
, R
Eingangsleitung 124 kein Ungleich-Signal, so dass die zugeordnete bistabile
Schaltung im "Eins1-Z ustand bleibt; die Markierungsschaltung 136
^ gibt also an die Und-Schaltung 150 kein Signal ab. Mangels Eingangssignal
von der Und-Schaltung 150 auf der Leitung 152 wird der Inverter 160 die
^ Und-Schaltungen 162 und 176 vorbereiten können . Ein Impuls auf Leitung
154 kann ans chi ies send die Und-Schaltung 162 passieren und die bistaj
bile Schaltung 166 in den "Eins'i Zustand versetzen, was das Vorliegen
; einer Markierung speichert ; dieser Impuls erscheint, auch auf Leitung
, 58 (Fig. 3) und wirft den Impulsgenerator 62 an, Wenn die bistabile Schal-
tung 166 in ihr em "Eins "-Zustand ist, werden die Eingabe-Ausgabe-Schaltungen
im Block 66 der Fig. 3 gesperrt und die besonderen Eingabe-Aus- . gäbe-Schaltungen im Block 71 werden (über Leitung 72) aktiviert.
009821/1SA1 P 14 74 347.6
' :Ά .1*
_19_ 1Λ74347
Nachdem einmal die Markierung gefunden ist, die über die Schaltungen
des Blockes 71 eine Kette von Vorgängen auslöst, erscheint aif Leitung
168 (Fig. 4 c) ein von dem Block 66 oder 71 herrührender Impuls, der
eine "Eins" auf die zugeordneten Leitungen zur Bitstelle niedrigster Ordnung jedes Zeichens 2 bis 7 durchlässt. Der zweite Vergleich wird
das Ergebnis "ungleich" haben, da die Markierung infolge der vorausgesetzten Bedingung C von Fig. 1 I lautet; die bistabile Schaltung
XV
136 (Fig. 4d) wird in ihren Zustand "Null" versetzt zugleich mit den
bistabilen Schaltungen 134 bis 144. Die Und-Schaltung 150 gibt ein Ausgangssignal
zur Leitung 152 und bereitet die Und-Schaltung en 156 und
vor.
Ein jetzt auf Leitung 172 einlauf ender. Impuls kann die Und-Schaltung
170 zur Einstellung der bistabilen Schaltung 174 in den Zustand "Null" passieren; dies zeigt an, dass eine rechte Markierung vorliegt. Da die
bistabile Schaltung 182 vor dem Auftreten des Impulses auf Leitung 17 2
im Zustand "Eins" war (infolge früherer Einstellung über Leitung 154),
werden die Und-Schaltungen 214 und 216 (Fig. 4c) vorbereitet und die
Oder-Schaltung 193 gibt einen Ausgangsimpuls ab. Letztere öffnet, über Leitung 193a, das Tor 200, dessen Eingang "Null" von dem höchststelligen
Bit der Y-Adresse ein Signal zugeht. Es ist nämlich der Fig. zu entnehmen, dass ein einzelnes Fehlzeichen durch eine "Null" in der
höchsten Bitstelle des Y-Adressceichens markiert, wird.
Auf der Ausgangsleitung 200 a des Tores 200 erscheint also ein Signal,
das die Oder-Schaltung 210 (Fig. 4c) speist. Das Ausgangssignal der Oder-Schaltung stellt die bistabile Schaltung 212 über Leitung 210a
in den Zustand "Null" und über Leitung 212a werden die Und-Schaltungen
214, 218, 222, 226, 230 und 234 vorbereitet. Da die Und-Schaltung 214
ein zweites Eingangssignal von Leitung 182b empfängt (Zustand "Eins" der bistabilen Schaltung 182 von Fig. 4d) , so1 wird die Leitung C erregt. An diese Leitung ist (Fig. 4e) die Leitung 301 angeschlossen,
00982 1 / 1 5A 1 ρ 14 74 347.6
so dass über die Oder-Schaltung 303 die Und-Schaltung 300a vorbereitet
wird. Da eine Lese-Operation vorliegt, wird die Und-Schaltung 300a
durchlässig (bei einer Schreib-Operation wäre 30Za in Betrieb). Beim
Lese-Vorgang ist also die Leitung 308 erregt, an welche die Schlüsselzeichen
(C + K + N)R angeschrieben sind. Dieses Signal bereitet die Und-Schaltung
310 der Fig. 10 vor. Aus Fig. 4e ist weiter zu entnehmen, dass über die Leitung C eine mit dem Schlüsselzeichen CR bezeichnete
Leitung erregt wird, welche über Leitung 316 in Fig. 10 die Und-Schaltung
312 vorbereitet. Die Schaltungslogik muss nämlich die Korrektur eines einzelnen Fehlzeichens und zweier benachbarter Fehlzeichen
ermöglichen.
Ein nun folgendes Signal auf Leitung 72 (Fig. 10) lässt die Und-Schaltungen
310, 312, 314 usw. durchlässig werden, die im Block 71 der Fig. 3
enthalten sind. Im gewählten Beispiel liegt nur ein Fehlzeichen vor, so dass (in Fig. 10) nur die Und-Schaltung 312 durchlässig wird . Beiläufig
ist festzustellen, dass die Aus gangs signale der Torschaltung 318 aus einem Wort bestehen, dessen erstes Zeichen (MDO Nr. 1) aus dem
auptspeicher, dessen zweites bis fünftes Zeichen (ADO Nr. 1 bis Nr. 4)
aus dem Hilfsspeicher und dessen sechstes bis achtes Zeichen (MDO Nr.
bis Nr. 8) aus dem Hauptspeicher kommen. Die T or schaltung en 320 und
322 liefern das sechste Zeichen für das korrigierte Wort bei Feststellung eines einzelnen Fehlzeichens oder zweier benachbarter Fehlzeichen. Die
Torschaltung 320 wird betätigt, um aus dem Hauptspeicher ein Zeichen
als sechstes Zeichen des korrigierten Wortes zu bekommen, wenn die
Bedingung C von Fig. 1 besteht; die Torschaltung 322 dient zur Lieferung des sechsten Zeichens des korrigierten Wortes aus dem Hilfsspeicher,
wenn die Bedingung K der Fig. 1 vorliegt. Die verschiedenen Ausgangswerte der Fig. 8 bis 11 liefern Korrekturzeichen aus einem Hilfsspeicher
durchsetzt mit unkorrigierten Zeichen aus dem Hauptspeicher während eines Lese-Zugriffs und die Fig, 12 bis 15 zeigen die entsprechenden Eingangsdaten
bei einem Schreib-Zugriff, wobei Korrekturzeichen aus einem
Hilfsspeicher mit unkorrigierten Zeichen aus dem Hauptspeicher ver-
009821/1541 pi4 74 347.6
U74347
mischt sind» Die Art der Kombination von Zeichen aus Haupt- und Hilfs·
speicher wird durch die logischen Schaltungen hauptsächlich der Fig. 4 und 8 bis 15 bewirkt.
009821/1541 P ,7 74 347.6
Claims (4)
1. Einrichtung zum Betrieb von wortorientierten Digitalspeichern
mit einem einen Lese- und einen Schreib-Teil enthaltenden Speicherzyklus
und mit defekten Speicherelementen in einigen Zeichen eines Wortes, gekennzeichnet durch einen Fehlerprüfer (43)
zur Ermittlung der Lage einer Defektstelle in einem angesteuerten Spei eher wort und der Adresse in einem Hilf s speicher, an
welcher die infolge des Defektes im Speicher nicht speicherbaren Daten aufgenommen werden und durch Steuer schaltungen
(71) die beim Vorliegen eines Defektes den Hilfsspeicher zur
Aufnahme oder Abgabe der im Speicher nicht speicherbaren Daten anrufen.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass neben
jeder Defektstelle des Speichers in benachbarten Speicher stellen eine den Defekt und seinen Umfang angebende Markierung sowie
die Adresse der Hilf speicher stelle eingetragen wird, welche die im Speicher nicht speicherbaren Daten aufnimmt, dass der
Fehlerprüfer (43) die Defektstelle durch Abtasten des Speicherregisters (6) während des Leseteils eines Speicherzyklus ermittelt,
dass die Steuerschaltungen (71) den Anruf der durch die Adressen
aus dem Speicherregister (6) bestimmten Speicher stellen des Hilfsspeicher s bewirkt und dass Tor schaltungen (24; 34) die
Reihenfolge der Eingabe bzw. Ausgabe der Speicherwerte z. B. aus dem Speicher und dem Hilfsspeicher steuern.
3. Einrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass
der Fehlerprüfer (43) zwischen zwei Arten von Markierungen unterscheidet, die angeben, ob die Defektstelle rechts oder links
von der Markierung liegt.
009821/1541 ρ 14 74 347.6
147434?
4. Einrichtung nach den Ansprüchen 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet,
dass bei Defektstellen in einem oder mehreren Zeichen eines Wortes
die Markierung in einer angrenzenden Zeichenstelle eingetragen wird und dass die in der Markierung benachbarten Zeichenstellen
enthaltenen Adressen Spei eher stellen des HilfsSpeichers definieren,
deren Inhalt das oder die Zeichen mit Def cktstellen Sowie die Zeichen mit der Markierung und den Adressen ersetzt.
009821/15/»!
Leerseite
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US347206A US3350690A (en) | 1964-02-25 | 1964-02-25 | Automatic data correction for batchfabricated memories |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1474347A1 true DE1474347A1 (de) | 1970-05-21 |
Family
ID=23362755
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19651474347 Pending DE1474347A1 (de) | 1964-02-25 | 1965-02-24 | Einrichtung zum Betrieb von Digitalspeichern mit defekten Speicherelementen |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3350690A (de) |
DE (1) | DE1474347A1 (de) |
FR (1) | FR1489711A (de) |
GB (1) | GB1026897A (de) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3428944A (en) * | 1965-03-08 | 1969-02-18 | Burroughs Corp | Error correction by retransmission |
FR1541243A (fr) * | 1965-05-27 | Ibm | Dispositif de contrôle d'erreur pour une mémoire | |
US3444526A (en) * | 1966-06-08 | 1969-05-13 | Ibm | Storage system using a storage device having defective storage locations |
US3434116A (en) * | 1966-06-15 | 1969-03-18 | Ibm | Scheme for circumventing bad memory cells |
US3432812A (en) * | 1966-07-15 | 1969-03-11 | Ibm | Memory system |
US3509541A (en) * | 1967-04-04 | 1970-04-28 | Bell Telephone Labor Inc | Program testing system |
US3566093A (en) * | 1968-03-29 | 1971-02-23 | Honeywell Inc | Diagnostic method and implementation for data processors |
US3633175A (en) * | 1969-05-15 | 1972-01-04 | Honeywell Inc | Defect-tolerant digital memory system |
DE1963895C3 (de) * | 1969-06-21 | 1973-11-29 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Datenspeicher und Datenspeicher anste'uerschaltung |
US3681757A (en) * | 1970-06-10 | 1972-08-01 | Cogar Corp | System for utilizing data storage chips which contain operating and non-operating storage cells |
US3765001A (en) * | 1970-09-30 | 1973-10-09 | Ibm | Address translation logic which permits a monolithic memory to utilize defective storage cells |
US3805243A (en) * | 1971-02-22 | 1974-04-16 | Cogar Corp | Apparatus and method for determining partial memory chip categories |
US3800294A (en) * | 1973-06-13 | 1974-03-26 | Ibm | System for improving the reliability of systems using dirty memories |
US3906200A (en) * | 1974-07-05 | 1975-09-16 | Sperry Rand Corp | Error logging in semiconductor storage units |
US3999051A (en) * | 1974-07-05 | 1976-12-21 | Sperry Rand Corporation | Error logging in semiconductor storage units |
US4150428A (en) * | 1974-11-18 | 1979-04-17 | Northern Electric Company Limited | Method for providing a substitute memory in a data processing system |
JPS5721799B2 (de) * | 1975-02-01 | 1982-05-10 | ||
US4045779A (en) * | 1976-03-15 | 1977-08-30 | Xerox Corporation | Self-correcting memory circuit |
US4339804A (en) * | 1979-07-05 | 1982-07-13 | Ncr Corporation | Memory system wherein individual bits may be updated |
US4380066A (en) * | 1980-12-04 | 1983-04-12 | Burroughs Corporation | Defect tolerant memory |
US4497020A (en) * | 1981-06-30 | 1985-01-29 | Ampex Corporation | Selective mapping system and method |
US4426688A (en) | 1981-08-03 | 1984-01-17 | Ncr Corporation | Memory system having an alternate memory |
US5379411A (en) * | 1991-11-15 | 1995-01-03 | Fujitsu Limited | Fault indication in a storage device array |
US5857069A (en) * | 1996-12-30 | 1999-01-05 | Lucent Technologies Inc. | Technique for recovering defective memory |
US7292950B1 (en) * | 2006-05-08 | 2007-11-06 | Cray Inc. | Multiple error management mode memory module |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
BE620922A (de) * | 1961-08-08 | |||
US3222653A (en) * | 1961-09-18 | 1965-12-07 | Ibm | Memory system for using a memory despite the presence of defective bits therein |
US3264615A (en) * | 1962-12-11 | 1966-08-02 | Ibm | Memory protection system |
DE1218761B (de) * | 1963-07-19 | 1966-06-08 | International Business Machines Corporation, Armonk, N. Y. (V. St. A.) | Datenspeidbereinrichtung |
US3245049A (en) * | 1963-12-24 | 1966-04-05 | Ibm | Means for correcting bad memory bits by bit address storage |
-
1964
- 1964-02-25 US US347206A patent/US3350690A/en not_active Expired - Lifetime
-
1965
- 1965-02-19 GB GB7180/65A patent/GB1026897A/en not_active Expired
- 1965-02-23 FR FR6643A patent/FR1489711A/fr not_active Expired
- 1965-02-24 DE DE19651474347 patent/DE1474347A1/de active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR1489711A (fr) | 1967-07-28 |
US3350690A (en) | 1967-10-31 |
GB1026897A (en) | 1966-04-20 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1474347A1 (de) | Einrichtung zum Betrieb von Digitalspeichern mit defekten Speicherelementen | |
DE2614000C2 (de) | Diagnoseeinrichtung zur Prüfung von Funktionseinheiten | |
DE2442191C2 (de) | Verfahren zur Fehlerortsbestimmung in einem Arbeitsspeicher und Anordnung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2523414C3 (de) | Hierarchische Speicheranordnung mit mehr als zwei Speicherstufen | |
DE2646162C3 (de) | Schaltungsanordnung zum Ersetzen fehlerhafter Informationen in Speicherplätzen eines nicht veränderbaren Speichers | |
DE1524239A1 (de) | Verfahren zur Lokalisierung eines Fehlers in einer Anlage mit mindestens zwei parallel arbeitenden Rechengeraeten | |
DE2519381C3 (de) | ||
DE2646163B2 (de) | Schaltungsanordnung zum Ersetzen fehlerhafter Informationen in Speicherplätzen eines nicht veränderbaren Speichers | |
DE3125048A1 (de) | Erzeugung von fehlerkorrekturpruefbits unter benutzung von paritaetsbits zur durchlaufkontrolle | |
DE1901806A1 (de) | Schaltungsanordnung zur Kompensation schadhafter Speicherzellen in Datenspeichern | |
DE2400064A1 (de) | Speicherpruefanordnung und diese verwendendes endgeraetsystem in einem datenverarbeitungssystem | |
DE1549439A1 (de) | Datenverarbeitungssystem | |
DE2115198A1 (de) | Verfahren zum Wiederauffinden von Datensätzen | |
EP0615211B1 (de) | Verfahren zum Speichern sicherheitsrelevanter Daten | |
DE2554502B2 (de) | ||
DE1260532B (de) | Speicher mit Kenn-Wert-Aufruf | |
DE2045557A1 (de) | Vorrichtung zum Auffinden von Daten | |
DE1122589B (de) | Gebuehren-Aufzeichnungseinrichtung fuer Fernsprechteilnehmer | |
DE2641700A1 (de) | Taktueberwachung in digitalsystemen | |
DE1474386A1 (de) | Anordnung zum Speichern und Wiederauffinden von Daten | |
DE2106731A1 (de) | Diagnoseeinrichtung fur elektronische Datenverarbeitungsanlagen | |
DE1524878B2 (de) | Verfahren zum erzeugen von steuersignalen fuer die steuerung adressierbarer wortorientierter speicher | |
DE2939412C2 (de) | Schaltungsanordung zum Adressieren von Daten für Lese- und Schreibzugriffe in einer Datenverarbeitungsanlage | |
EP0013885B1 (de) | Verfahren zur Vermeidung von unerwünschten Paritätsfehlersignalen bei der Paritätprüfung eines Registerfeldes und Paritätsprüfeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2209253A1 (de) | Verfahren und schaltungsanordnung zur fehlerpruefung einer speicheradressierung |