DE19904732B4
(de )
2013-02-28
Behälterprüfmaschine
DE3913228C2
(de )
1998-04-09
Spektroskopiesystem diffuser Reflexion und Verfahren zum Erhalten eines diffusen Reflexionsspektrums
DE69415965T2
(de )
1999-09-09
Verfahren und vorrichtung zur kontinuierlichen diffusen beleuchtung
EP0678910A2
(de )
1995-10-25
Vorrichtung zur Kontrolle von Halbleiterscheiben
DE3516752A1
(de )
1986-02-06
System zur erfassung von selektiven lichtbrechenden defekten in transparenten gegenstaenden
DE102018202051B4
(de )
2023-11-23
Vorrichtung zum automatischen Prüfen von Linsen und Verfahren zum automatischen Prüfen einer Vielzahl von Linsen
DE69714802T2
(de )
2003-03-27
Beleuchtungsvorrichtung mit verbesserter Sichtbarkeit für einen Film mit medizinisch-diagnostischen Bildern
DE29724018U1
(de )
1999-09-02
Vorrichtung zur visuellen Inspektion der Oberflächenbeschaffenheit von Abmusterungsflächen größerer Abmessung
EP0678911A2
(de )
1995-10-25
Verfahren und Vorrichtung zur Kontrolle von Halbleiterscheiben
DE102009032210A1
(de )
2011-01-05
Bearbeitungsanlage
DE1400794U
(https= )
DE3145686C2
(de )
1985-07-25
Vorrichtung zum Untersuchen von Gefäßinhalten
DE20212577U1
(de )
2002-11-07
Vorrichtung zur optischen Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit von Behältern
DE2527770C3
(de )
1981-09-10
Objektträger zur Durchführung von Agglutinationsreaktionen
DE102009009355A1
(de )
2010-09-09
Vorrichtung und Verfahren zum Detektieren von Fehlern bei der Waferherstellung
DE593226C
(de )
1934-02-28
Dunkelfeldkondensor fuer Mikroskope
EP1563467A1
(de )
2005-08-17
Verfahren zur fotografischen aufnahme eines zylinderförmigen, insbesondere plattenförmigen gegenstandes
EP1212605B1
(de )
2005-01-05
Anordnung zur inspektion von matten ebenen und/oder leicht gekrümmten oberflächen
DE616367C
(de )
1935-07-26
Verfahren zur photographischen Aufnahme von Hochdruckformen
DE102021110149A1
(de )
2022-10-27
Prüfvorrichtung zum Kontrollieren von Bauteiloberflächen und Verfahren dafür
DE194418C
(https= )
DE42818C
(de )
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DE102015101252B4
(de )
2023-10-19
Beleuchtungsvorrichtung, optisches Analysesystem sowie Verfahren zum Abtasten einer Oberfläche
DE336428C
(de )
1921-05-02
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DE398433C
(de )
1924-07-17
Einrichtung zur schiefen Projektion von Diapositiven