DE1299088C2 - Ablenkeinrichtung fuer den korpuskularstrahl in einem korpuskularstrahlgeraet, insbesondere elektronenmikroskop - Google Patents
Ablenkeinrichtung fuer den korpuskularstrahl in einem korpuskularstrahlgeraet, insbesondere elektronenmikroskopInfo
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 2
- 238000010894 electron beam technology Methods 0.000 claims 2
- 230000004075 alteration Effects 0.000 claims 1
- 239000000969 carrier Substances 0.000 claims 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 claims 1
- 210000000003 hoof Anatomy 0.000 claims 1
- 230000005012 migration Effects 0.000 claims 1
- 238000013508 migration Methods 0.000 claims 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 claims 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
Classifications
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
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- H01J37/00—Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
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- H01J37/1478—Beam tilting means, i.e. for stereoscopy or for beam channelling
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- H01J37/21—Means for adjusting the focus
Landscapes
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- Particle Accelerators (AREA)
- Electron Sources, Ion Sources (AREA)
- Electron Beam Exposure (AREA)
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19661299088 DE1299088C2 (de) | 1966-06-10 | 1966-06-10 | Ablenkeinrichtung fuer den korpuskularstrahl in einem korpuskularstrahlgeraet, insbesondere elektronenmikroskop |
NL676703637A NL149324B (nl) | 1966-06-10 | 1967-03-08 | Afbuigsysteem voor de deeltjesbundel in een met een deeltjesbundel werkend toestel. |
US644650A US3644733A (en) | 1966-06-10 | 1967-06-08 | Electron microscope deflection system for directing the beam at a predetermined angle and direction at the object |
GB26737/67A GB1171007A (en) | 1966-06-10 | 1967-06-09 | Improvements in or relating to Corpuscular Beam Apparatus. |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19661299088 DE1299088C2 (de) | 1966-06-10 | 1966-06-10 | Ablenkeinrichtung fuer den korpuskularstrahl in einem korpuskularstrahlgeraet, insbesondere elektronenmikroskop |
DES0104241 | 1966-06-10 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1299088C2 true DE1299088C2 (de) | 1974-10-17 |
DE1299088B DE1299088B (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | 1974-10-17 |
Family
ID=25751670
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19661299088 Expired DE1299088C2 (de) | 1966-06-10 | 1966-06-10 | Ablenkeinrichtung fuer den korpuskularstrahl in einem korpuskularstrahlgeraet, insbesondere elektronenmikroskop |
Country Status (4)
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4090077A (en) * | 1969-03-05 | 1978-05-16 | Siemens Aktiengesellschaft | Particle beam device with a deflection system and a stigmator |
JPS4922351B1 (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) * | 1969-12-25 | 1974-06-07 | ||
NL7012671A (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) * | 1970-08-27 | 1972-02-29 | ||
US3857034A (en) * | 1970-08-31 | 1974-12-24 | Max Planck Gesellschaft | Scanning charged beam particle beam microscope |
USRE29500E (en) * | 1970-08-31 | 1977-12-20 | Max-Planck-Gesellschaft Zur Forderung Der Wissenschaften E.V. | Scanning charged beam particle beam microscope |
US3801784A (en) * | 1972-04-14 | 1974-04-02 | Research Corp | Scanning electron microscope operating in area scan and angle scan modes |
US3932749A (en) * | 1974-03-22 | 1976-01-13 | Varian Associates | Electron gun |
US4095104A (en) * | 1975-09-01 | 1978-06-13 | U.S. Philips Corporation | Electron microscope |
US4795912A (en) * | 1987-02-17 | 1989-01-03 | Trw Inc. | Method and apparatus for correcting chromatic aberration in charged particle beams |
-
1966
- 1966-06-10 DE DE19661299088 patent/DE1299088C2/de not_active Expired
-
1967
- 1967-03-08 NL NL676703637A patent/NL149324B/xx unknown
- 1967-06-08 US US644650A patent/US3644733A/en not_active Expired - Lifetime
- 1967-06-09 GB GB26737/67A patent/GB1171007A/en not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3644733A (en) | 1972-02-22 |
GB1171007A (en) | 1969-11-19 |
NL149324B (nl) | 1976-04-15 |
NL6703637A (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | 1967-12-11 |
DE1299088B (GUID-C5D7CC26-194C-43D0-91A1-9AE8C70A9BFF.html) | 1974-10-17 |
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EF | Willingness to grant licences | ||
EHJ | Ceased/non-payment of the annual fee |