DE1246282B - Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen - Google Patents

Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen

Info

Publication number
DE1246282B
DE1246282B DE1959ST015326 DEST015326A DE1246282B DE 1246282 B DE1246282 B DE 1246282B DE 1959ST015326 DE1959ST015326 DE 1959ST015326 DE ST015326 A DEST015326 A DE ST015326A DE 1246282 B DE1246282 B DE 1246282B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
particles
change
alternating
voltage
field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE1959ST015326
Other languages
English (en)
Inventor
Dr Harald Straubel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
HARALD STRAUBEL DR
Original Assignee
HARALD STRAUBEL DR
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by HARALD STRAUBEL DR filed Critical HARALD STRAUBEL DR
Priority to DE1959ST015326 priority Critical patent/DE1246282B/de
Publication of DE1246282B publication Critical patent/DE1246282B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J49/00Particle spectrometers or separator tubes
    • H01J49/26Mass spectrometers or separator tubes
    • H01J49/34Dynamic spectrometers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Other Investigation Or Analysis Of Materials By Electrical Means (AREA)

Description

  • Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen In der Atomphysik ist eine Reihe" von Verfahren bekanntgeworden,-elektrisch geladene Teilchen durch passend angeordnete elektromagnetische Felder zu beschleunigen oder/und sie auf bestimmte Bahnen zu bringen. Wesentlich ist dabei, daß die Teilchen mit einer vorher zu bestimmenden Geschwindigkeit in entsprechende Bahnen eingeführt werden. Schwankungen der Geschwindigkeit oder der Richtung führen zu starken Defokussierungen. Beim Massenspek trograph wird durch besondere Maßnahmen (Blenden, passend gewählte und gekrümmte elektrische und magnetische Felder) eine Fokussierung der bewegten Teilchen auf einen Punkt erreicht.
  • Die Bestimmung von Ladung/Masse kann außer mit dem Massenspektrographen (schnell bewegte Teilchen) auch nach dem Verfahren von Millikan (langsam sinkende Teilchen) erfolgen.
  • Beide Verfahren sind aus bekannten Gründen nur geeignet, mit relativ großen e/m Werten bzw. entsprechend sehr kleinen Massen zu arbeiten.
  • Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die technische Aufgabe gelöst; elektrisch geladene Teilchen, und zwar nicht nur Elektronen oder Ionen, sondern auch größere Partikeln aus einer Vielzahl von Molekülen in evakuierten geschlossenen Kammern bzw. in offenen Anordnungen unter Atmosphärendruck auf Grund ihrer spezifischen Ladung durch eine Stabilisierungswirkung im: elektrischen Feld zu analysieren und/oder zu trennen.
  • Der Erfinder fand nun, daß eine Stabilisierung (Lokalisierung) elektrisch geladener Teilchen bis herab zu e/m - 10-5 As/g möglich ist, wenn man die Teilchen angenähert in die Sattelpunkte axial-symmetrischer .oder eben-symmetrischer Wechselpotentiale »einschießt«. Im Gegensatz zu den bisher bekannten Verfahren werden dabei die Teilchen selbsttätig eingefangen und konzentrieren sich im Sattelpunkt. Sie bleiben dort, bis sie bei genügend großer Abweichung vom passenden e/m-Wert entweder durch die Schwerkraft nach unten herausfallen oder nach oben herausgeschleudert werden. Mit diesem Verfahren können somit geladene Teilchen analysiert und/oder getrennt werden.
  • Das erfindungsgemäße Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen auf Grund ihrer spezifischen Ladung, bei dem die Teilchen in die Nähe eines Sattelpunktes eines elektrischen Wechselfeldes gebracht werden, ist dadurch gekennzeichnet, daß die Amplitude des Wechselfedes zunächst auf einen Wert eingeregelt wird, bei dessen Überschreitung die auf stabilen Bahnen im Wechselfeld eingefangenen Teilchen bestimmter spezifischer Ladung jede stabile Bewegung sprunghaft in Abhängigkeit von der Wechselspannung ändern (Sprungspannung) und daß danach die Spannung des Wechselfeldes geändert wird, um die Stabilitätsbereiche der Teilchen verschiedener spezifischer Ladung zu durchfahren.
  • Weiter zeigte sich - ebenfalls entgegen den Erfahrungen mit den bisherigen Beschleunigern (als Sammelbegriff) -, daß derart stabilisierte Teilchen bei Aufhebung der Schwerkraft durch ein passend überlagertes Gleichfeld nicht etwa mit der Frequenz der Wechselspannung schwingen, sondern mit f/2.
  • Die Bewegung derart fixierter Teilchen läßt sich nun nicht mit den, bisherigen mathematischen Verfahren ausrechnen, sondern führt auf nichtlineare Differentialgleichungen mit periodischen Koeffizienten, für die bisher exakte Lösungen nicht gefunden werden konnten.
  • Da mit dem beschriebenen Verfahren Teilchen auch mit Massen von 10-s g und mehr nicht nur im elektrischen Feld fixiert, sondern auch zu beliebigen Zeitpunkten- (etwa durch Feldänderungen) daraus Wieder entfernt, untersucht und wieder eingeworfen werden können, ergibt sich eine vielseite Anwendbarkeit für Untersuchungen von elm, aber auch von e und m, wenn m aus Wägung oder dem Durchmesser bestimmt wird.
  • Ob Teilchen eingefangen werden oder nicht, hängt ab vom e/m-Wert; der momentanen Feldstärke am jeweiligen Ort des Teilchens und der Frequenz. Es zeigte sich, daß die »Stabilisierungskraft« unter sonst gleichen Umständen mit abnehmender Frequenz zunächst wächst. Dies bedeutet, daß ein in das elektrostatische System fallendes Teilchen bei niedriger Frequenz leichter eingefangen wird als bei höherer Frequenz.
  • Die elektrischen Kräfte, welche auf das Teilchen einwirken, rufen eine Stabilisierung, d. h. eine regelrechte Fixierung in einem Punkt des elektrischen Feldes, nur bei einer bestimmten Feldstärke bzw. e/m-Werte hervor. Angefangen von einer Minimalfeldstärke x ist eine Steigerung auf z. B. 3 x möglich, ohne daß sich die Lage des Teilchens ändert. Erst bei Überschreitung dieses Wertes beginnt das Teilchen plötzlich eine lineare Schwingung mit halber Frequenz auszuführen. Die Schwingungsamplitude ist dabei anfangs angenähert proportional der Feldstärke. Dieser Schwingungseinsatz (»Sprungpunkt«) ist derart scharf definiert, daß man mit seiner Hilfe Änderungen von elm in der Größenordnung von 10-4 ohne weiteres feststellen kann.
  • Ein axial-symmetrisches Feld mit Sattelpunkt zur Stabilisierung der Teilchen kann z. B. dadurch erzeugt werden, daß eine dünne Metallplatte von (beispielsweise) 10 cm Durchmesser, 0,01 cm Dicke und einer konzentrischen Bohrung von 2 cm Durchmesser einseitig an Wechselspannung gelegt wird, während der andere Pol der Wechselspannungsquelle geerdet ist. In. diesem Fall bildet sich genau in der Mitte des Loches (in der Ebene der Scheibe) ein Sattelpunkt des Potentials aus, in den ein eventuell vorbeifliegendes Teilchen automatisch eingefangen wird. Es ist dabei selbstverständlich, daß.etwamehrere, gleichnamig geladene Teilchen, die auch die Einfangbedingung erfüllen, sich wegen ihrer gegenseitigen Abstoßung nicht genau im Sattelpunkt - des Potentials vereinigen, sondern mit Abständen, die der Größe ihrer Ladung entsprechen.
  • Hinsichtlich der Teilchengröße ist das erfindungsgemäße Verfahren nicht beschränkt, jedenfalls nicht nach dem Gebiet der kleinen Teilchen. Es können sowohl Elektronen, Ionen, schwarze Kerne »stabilisiert« werden als auch Teilchen mit Massen von 10-5 g. Eine prinzipielle Grenze nach oben ist nur gegeben durch: a) die mögliche maximale Feldstärke des elektrostatischen Systems, b) die maximale Ladungsdichte auf dem Teilchen. Die durch .das erfindungsgemäße Verfahren erzielbaren technischen Wirkungen ermöglichen noch andere Anwendungsmöglichkeiten des Verfahrens außer zur Analyse und/oder Trennung von Teilchen auf Grund des Verhältnisses von elm der Teilchen.
  • Mit dem Verfahren ist auch die nahezu direktionskraftlose Aufhängung von Teilchen in elektrischen Wechselfeldern möglich bzw. die Einstellung einer bestimmten, meßbaren Direktionskraft durch das Wechselfeld selbst oder/und durch ein überlagertes Gleichfeld. Hieraus ergeben sich weitere meßtechnische Anwendungen.

Claims (5)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen auf - Grund ihrer spezifischen Ladung, bei dem die Teilchen in die Nähe eines Sattelpunktes eines elektrischen Wechselfeldes gebracht werden, d a d u r c h g e k e n n -z e i c h n e t, daß die Amplitude des Wechselfeldes zunächst auf einen Wert eingeregelt wird, bei dessen Überschreitung -die auf stabilen Bahnen im Wechselfeld eingefangenen Teilchen bestimmter spezifischer Ladung ihre stabile Bewegung sprunghaft in Abhängigkeit von der Wechselspannung ändern (Sprungspannung) und daß danach die Spannung des Wechselfeldes geändert wird, um die Stabilitätsbereiche der Teilchen verschiedener spezifischer Ladung zu durchfahren.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Gewicht der Teilchen durch ein zusätzliches elektrisches Gleichfeld ganz oder nahezu aufgehoben oder überkompensiert wird.
  3. 3. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Ladungsänderung eines oder mehrerer Teilchen aus der jeweiligen Höhe der Wechselspannung am Sprungpunkt ermittelt wird.
  4. 4. Verfahren nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Massenänderung eines oder mehrerer Teilchen aus der jeweiligen Höhe der Wechselspannung am Sprungpunkt ermittelt wird.
  5. 5. Verfahren nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß veränderte Reibungswiderstände des Teilchens als Folge einer Massenänderung (Durchmesseränderung) oder einer Dichteänderung des umgebenden Gases durch den Sprungpunkt oder die nach Überschreitung des Sprungpunktes einsetzende Amplitude ermittelt werden. In Betracht gezogene Druckschriften: . Deutsche Patentschrift Nr. 944 900; Zeitschrift für Physik, Bd. 140, 1955, S. 262 bis 273; Zeitschrift für Physik, Bd. 1S2, 1958, S. 143 bis 182; Zeitschrift für Naturforschung, Bd. 8 a, 1953, S. 448 bis 450; Wainrib, E. A., und Wiljutin, W. J., »Elektronenoptik«, Berlin 1952, S: 76 und 77.
DE1959ST015326 1959-07-07 1959-07-07 Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen Pending DE1246282B (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1959ST015326 DE1246282B (de) 1959-07-07 1959-07-07 Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE1959ST015326 DE1246282B (de) 1959-07-07 1959-07-07 Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1246282B true DE1246282B (de) 1967-08-03

Family

ID=7456654

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE1959ST015326 Pending DE1246282B (de) 1959-07-07 1959-07-07 Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE1246282B (de)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE944900C (de) * 1953-12-24 1956-06-28 Wolfgang Paul Dr Ing Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE944900C (de) * 1953-12-24 1956-06-28 Wolfgang Paul Dr Ing Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE944900C (de) Verfahren zur Trennung bzw. zum getrennten Nachweis von Ionen verschiedener spezifischer Ladung
DE3750928T2 (de) Laufzeit-Massenspektrometrie.
DE4134905A1 (de) Tandem-massenspektrometer basierend auf flugzeitanalyse
DE3421824C2 (de) Vorrichtung zur Kontrolle der Verdichtung bei Vibrationsverdichtungsgeräten
DE1943588C1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Trennung eines wenigstens teilweise ionisierten Gasgemisches in eine leichtere und eine schwerere Fraktion
DE2740272C3 (de) Verfahren zum Trennen von zwei Isotopen eines Stoffes
DE1598072A1 (de) Multipol-Massenfilter
DE2040521A1 (de) Massenspektrometer
DE3446875A1 (de) Gasmessfuehler und verfahren zum nachweisen eines gases
DE19650542A1 (de) Dreidimensionales Quadrupolmassenspektrometer
DE69623728T2 (de) Massenspektrometer
DE2628422C3 (de) Verfahren zur Massenspektroskopie
EP0613171B1 (de) Massenspektrometer zur flugzeitabhängigen Massentrennung
DE102008025974B3 (de) Auswertung von Frequenzmassenspektren
DE102013015046A1 (de) Bildgebendes Massenspektrometer und Verfahren zum Steuern desselben
DE4408489C2 (de) Massenspektrometer
DE1246282B (de) Verfahren zum Analysieren und/oder Trennen von geladenen Teilchen
DE1292884B (de) Verfahren und Vorrichtung zum massenspektrometrischen Analysieren eines Gasgemisches
DE4429831A1 (de) Verfahren zur Größenklassierung von Aerosolpartikeln
DE1498983B2 (de) Vorrichtung zur Trennung von Ionen mit verschiedener spezifischer elektrischer Ladung
DE102016014941A1 (de) Massenspektrometer
DE69923212T2 (de) Ionenpumpeschaltersteuerung
DE1258148B (de) Massenspektrometer mit zirkularperiodischer Ionen-Beschleunigung vom Typ eines Omegatrons
DE2012479C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Massenanalyse mit Hilfe eines Massenfilters
DE916677C (de) Hochfrequenzmassenspektrometer