DE1214970B - Verfahren und Anordnung zur automatischen photoelektrischen Schichtdickenmessung bei der Herstellung duenner Schichten auf transparenten Unterlagen durch Aufdampfen im Vakuum - Google Patents

Verfahren und Anordnung zur automatischen photoelektrischen Schichtdickenmessung bei der Herstellung duenner Schichten auf transparenten Unterlagen durch Aufdampfen im Vakuum

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DE1214970B
DE1214970B DEJ19702A DEJ0019702A DE1214970B DE 1214970 B DE1214970 B DE 1214970B DE J19702 A DEJ19702 A DE J19702A DE J0019702 A DEJ0019702 A DE J0019702A DE 1214970 B DE1214970 B DE 1214970B
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circuit
minima
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DEJ19702A
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Arthur Mckinley Fury
Clarence Lee Smith
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    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C14/00Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material
    • C23C14/22Coating by vacuum evaporation, by sputtering or by ion implantation of the coating forming material characterised by the process of coating
    • C23C14/54Controlling or regulating the coating process
    • C23C14/542Controlling the film thickness or evaporation rate
    • C23C14/545Controlling the film thickness or evaporation rate using measurement on deposited material
    • C23C14/547Controlling the film thickness or evaporation rate using measurement on deposited material using optical methods
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
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Description

  • Verfahren und Anordnung zur automatischen photoelektrischen Schichtdickenmessung bei der Herstellung dünner Schichten auf transparenten Unterlagen durch Aufdampfen in Vakuum Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine An ordnung zur photoelektrisch gesteuerten Herstellung dünner Schichten, wobei die entstehende dünne Schicht während des Aufdampfvorganges mit monochromatischem Licht durchstrahlt und die Maxima und Minima der Lichtintensität infolge von Interferenzerscheinungen zur Bestimmung der Schicht dicke ermittelt werden.
  • Die einfachste bekannte Methode, aufgedampfte Schichten in der Dicke während des Aufdampfprozesses zu verfolgen, besteht daiiin, daß man durch ein Fenster in der Aufdampfapparatur und durch den zu bedampfenden durchsithtigen Körper eine Lichtquelle visuell beobachtet. Diese Methode erfordert jedoch erhebliche Übung und mag für geringere Anforderungen an die Genauigkeit der gewünschten Schichtstärke ausreichen. Genauere Ergebnisse lassen sich durch photoelektrische Meßmethoden erreichen Es ist bekannt, den Lichtstrahl einer monochromatischen Lichtquelle auf den Testkörper zu richten und entweder das an diesem Testglas reflektierte Licht oder das das Testglas durchdringende Licht zu messen.
  • Es ist weiter bekannt, aus der Anzahl der Maxima und Minima der Intensität des reflektierten Lichtes einer monochromatischen Lichtquelle, während des Aufdampfprozesses die Dicke der Schicht zu bestimmen.
  • Die bekannten Anordnungen ermöglichen zwar eine genaue Messung der Schichtstärke während des Aufdampfprozesses, sie erfordern jedoch eine genaue Beobachtung der Meßeinrichtung und Bedienung durch geschultes Personal.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Anordnung zu schaffen, die in der Lage ist, die Herstellung dünner Schichten im Aufdampfverfahren automatisch so zu steuern, daß ohne Eingriff einer Bedienungsperson dünne Schichten einer bestimulten Stärke mit hoher Genauigkeit erzeugt werden.
  • Gemäß der Erfindung wird diese Aufgabe bei einem Verfahren zur automatischen Schichtdickenmessung bei der Herstellung dünner Schichten auf transparenten Unterlagen durch Aufdampfen im Vakuum, wobei die entstehende dünne Schicht wihrend des Aufdampfvorganges mit monochromatischem Licht durchstrahlt und die infolge von Interferenzerschelnungen auftretenden Maxima und Minima der Licht intensität zur Bestimmung der Schichtdicke auf photoelektrischem Wege ermittelt werden, dadurch gelöst, daß die Anzahl der Maxima und Minima mittels einer an sich bekannten Differenzierschahung ermittelt wird und ein Zähler den Aufdampfprozeß bei Erreichung der der gewünschten Schichtdicke entsprechenden Zahl an Maxima und Minima áb schaltet.
  • Die Differenzierschaltung besteht vorteilhafterweise aus einem Kondensator, der mittels eines von der Spannungsvergleicherschatung gesteuerten Schalters wahlweise über eine in Flußrichtung oder eine in Sperrichtung geschaltete Diode an den Ausgang eines Verstärkers für die vom photoelektrischen Empfänger gelieferten Signale ängeschlossen ist, wobei die an den Dioden in Sperrichtung abfallende Spannung über einen von der Spàrinungsvergleicherschaltung gesteuerten Polwender an den Eingang der Spannungsvergleicherschaltung gelegt ist.
  • Nach einem weitern Merkmal der Erfindung bringt der von der Spannungsvergleicherschaltung gesteuerte Zähler bei einem bestimmten Zählerstand einen Steuerschalter zum Ansprechen, der durch Betätigurlg eines Verschlusses über dem Vètdampfullgsmaterial und durch Abschaltung der Heizung eine weitere Ablagerung des Äufdampfnaaterials verhindert.
  • Weitere Merkmale der Erfindung sind in den Unteransprüchen enthalten. Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der folgenden Beschreibung und den nachstehenden Zeichnungen erläutert. Es zeigt F i g. 1 eine schematische Darstellung der Anordnung zur photo elektrisch gesteuerten Herstellung, F i g. 2 eine graphische Darstellung der Ausgangsspannung des photoelektrischen Empfängers während des Aufbringungsvorgangs, F i g. 3 einen vergrößerten Teil der graphischen Darstellung von Fig. 2, F i g. 4 einen Teil der der Steueranordnung zugeordneten Relaisschaltung.
  • Gemäß Fig. 1 ist eine Vakuumkammer 10 vorgesehen, in der sich ein Behälter 12 befindet, welcher das während des Aufbringungsvorgangs aufzudampfende Material enthält, sowie ein Verschlußmechanismus 14, der den muß des auf das Trägermaterial 18 aufzubringenden Materials aus dem Behälter steuert, und zwar ist das Trägermaterial 18 in dem Trägerhalter 16 und auf einem geeigneten Steuerschieber angebracht. Eine monochromatische Lichtquelle 20 steht in einem definierten Winkel an einer Seite des Trägerhalters, und eine Photozelle 22 befindet sich auf der der Lichtquelle entgegengesetzten Seite des Trägerhalters und ist auf die Lichtquelle ausgerichtet.
  • Das auf das Trägermaterial aufzubringende Material ist ein halbdurchsichtiges Material, z. B. Silicium.
  • Das von der monochromatischen Lichtquelle 20 durch das Material durchfallende Licht, das von der Photozelle22 aufgenommen wird, durchläuft daher eine Reihe von Maxima und Minima, wobei die Intensität des durchfallenden Lichts im Mittel allmählich exponentiell auf Null absinkt. Die Maxima besitzen Abstände von etwa einer Viertelwellenlänge des benutzten Lichtes. Das Ausgangssignal der Photozelle als Ergebnis dieses- Aurbringungsvor ganges ist in Fig 2 dargestellt. Es tritt eine fortlaufende Folge von Maxima und Minima auf, während die Kurve auf einer im allgemeinen sinkenden exponentiellen Bahn verläuft. Die Orte der Maxima und Minima sind zwar entlang der exponentiellen Bahn leichten Schwankungen ausgesetzt, da die Zahl der Extrema eine Funktion der Stärke des auf das Trägermaterial aufgebrachten Materiaffilms ist. Die Stärke des auf der Unterlage aufgebrachten Films läßt sich innerhalb eines Bruchteils eines Prozents messen bzw. steuern, indem man diese Maxima und Minima zählt und den Auffallwinkel des Lichtes zur Durchstrahlung der Materialprobe richtig einstellt.
  • Die Batterie 24 liefert die Spannung zum Betrieb der Photozelle, und die abgefühlten Lichtschwankungen werden als Spannungsschwankungen am Widerstand 26 dargestellt. Das Signal am Widerstand 26 wird im Verstärker 28 verstärkt und der Steuerschaltung zugeleitet, die aus den Dioden30, 32, dem Widerstand 34, den Relaiskontakten 36, 38, dem Kontaktarm40 und dem Kondensator 42 besteht.
  • Zu Beginn des Aufbringungsvorgangs wird die Steuerschaltung eingeschaltet, und die Ausgangsspannung des Verstärkers 28 geht sofort auf den Wert von +1OVolt, wie durch die Kurve44 in Fig.2 und vergrößert in Fig. 3 dargestellt ist. Diese Ausgangsspannung liefert die Photozelle ohne Aufdampfschicht auf dem Trägermaterial. Der Kondensator 42 lädt sich gemäß der gestrichelten Linie 46 in F i g. 3 über die Diode 32 auf. Diese Spannung an der Diode 32 wird verstärkt durch den Verstärker 52 und über die Relaiskontakte 54, 56 der Spannungsvergleicher schaltung 58 zugeführt. Die Spannungsvergleicher-Eingangsschaltung ist so ausgelegt, daß diese Spannug dazu neigt, die Vergleicherschaltung in ihren Abschaltbereich zu treiben, da eine Spannungsdifferenz von etwa 3 Volt einer definierten Polarität nötig ist, um die Vergleicherschaltung zu betreiben.
  • Beim weiteren Anstieg der Spannung 46 am Kondensator 42 in Richtung auf +10 Volt sinkt die durch die Photozelle erzeugte und durch die Linie 44 dargestellte Spannung wegen der auftretenden Interferenzerscheinungen ab. Der Kondensator 42 lädt sich aber weiter auf, bis seine Spannung gleich der Ausgangsspannung des Verstärkers-28 istlDieser Zustand tritt ein zur Zeit T0 (F i g. 3). Die Ausgangsspannung des Verstärkers 28 nimmt weiter ab, aber der Kondensator 42 kann nicht folgen, da die Diode 32 in Sperrichtung vorgespannt wird (Diode 30 liegt nicht in diesem Stromkreis). Der Kondensator 42 entlädt sich- jedoch nur langsam über den Eingangs-' widerstand des Verstärkers 52 (etwa 5 Megohm) und den Widerstand 34. Die Spannungsdifferenz zwischen der Kondensatorspannung 46 und der Verstärkerausgangsspannung 44 tritt an der Diode 32 auf und wird durch den Verstärker 52 verstärkt. Wenn diese Spannung den Wert- 0,1 Volt erreicht (nach der Zeit A T0), wird die Spannungsvergleicherschaltung 58 wirksam (zur Zeit T0,) und liefert eine Ausgangsspannung, die die Relaisschaltung 60 betätigt, wodurch die Kontakte 40, 54 und 56 umgeschaltet werden. Das Ausgangssignal der Spannungsvergleicherschaltung wird außerdem einem voreingestellten Zähler 62 als Schrittschaltimpuls zugeführt.
  • Mit der Umschaltung der Relaiskontakte 54, 56 wird die dem Spannungsvergleicher zugeführte Spannung umgepolt, wodurch die Ausgangsspannung des Spannungsvergleichers abgeschaltet wird. Wenn der Kontaktarm40 vom Kontakt38 zum Kontakt36 umschaltet, wird der Kondensator 42 über die Diode sofort auf die Ausgangsspannung des Verstärkers 28 entladen.
  • Die Kondensatorspannung (Linie 46) folgt weiterhin der Ausgangsspannung (Linie 44) des Verstärkers 28 bis zur Zeit Tt, einem Zustand maximaler Lichtinterferenz in dem gesteuerten Material. Die Spannung 44 beginnt nun zu steigen, weil die Lichtinterferenz in dem Material abnimmt, aber der Kondensator 42 kann diesem Spannungsanstieg nicht folgen, da die Diode 30 nun in Sperrichtung vorgespannt ist. Diese Spannungsdifferenz zwischen dieser und dem Kondensator 42 und - der Ausgangsspannung des Verstärkers 28 wird dem Verstärker 52 zugeführt, um verstärkt der Spalmungsvergleicherschaltung zugeführt zu werden. Nach der Zeit d T1, wenn die Spannungsdifferenz gleich 0,1 Volt wird (Zeit T1,), wird die Spannungsvergleicherschaltung 58- wirksam und liefert eine Gleichspannung an die Relaisschaltung 60 und zur schrittweisen Weiterschaltung des Zählers 62. Die Relaisschaltung 60 schaltet die Relaiskontakte 40, 54 und 56 in ihre Ausgangsstellung zurück, und der beschriebene Vorgang kann sich wiederholen. Der Kondensator 42 lädt sich auf und folgt der Ausgangsspannung des Verstärkers 28, bis das nächste Maximum der Lichtübertragung erreicht ist, und dann beginnt die Ausgangsspannung des Verstärkers 28 abzunehmen. Wieder kann jedoch die Spannung am Kondensator 42 nicht erfolgen, und nach einem Zeitabschnitt (d e) den Wert 0,1 Volt erreicht hat; wird die Spannungsvergleicherschaltung wirksam, schaltet die Relais um und schaltet den Zähler einen Schritt weiter.
  • Bei Fortsetzung des Vorganges wird der Vergleicher nach jedem relativen Maximum und Minimum wirksam. Wenn der Vergleicher den Zähler 62 eine bestimmte Anzahl von Schritten betätigt hat, erzeugt der Zähler einen Ausgangsimpuls, der die Steuerschaltung für die Verschluß- und Heizeinrichtung 64 betätigt. Hierdurch wird der Verschluß 14 über dem Behälter 12 wirksam. Außerdem wird die Induktionsheizung abgeschaltet, welche die Erhitzung des Behälters bewirkt, wodurch der Ablagerungsvorgang sofort beendet wird.
  • Vorzugsweise muß die Vergleicherschaltung innerhalb einer Genauigkeit von t 10 ovo arbeiten, d. h. mit einer Abweichung von weniger als 0,01 Volt an den Dioden 30, 32. Durch entsprechende Steuerung der Lichtquelle kann die Spannungsdifferenz zwischen benachbarten Maxima und Minima, z. B. m und n, > 0,5 V gehalten werden, so daß Signalabweichungen an den Dioden, die weniger als +15 Angström für einen Siliziummonoxydfilm entsprechen, festgestellt werden können. Mit zunehmender Stärke der aufgebrachten Schicht werden die Spannungsdifferenzen zwischen benachbarten Maxima und Minima kleiner. Diese Differenz kann einen gut meßbaren Wert unterschreiten, weshalb Mittel vorgesehen sind, die die Intensität der Lichtquelle 20 erhöhen, wenn eine solche erhöhte Lichtstärke oder ein verstärktes Ausgangssignal aus der Photozelle22 erwünscht sind. Bei einer aufzubringenden Schichtdicke von 10000 Angström kann eine Abweichung von weniger als +28/o durch die Verwendung dieser Schaltung erreicht werden.
  • Eine genauere schematische Darstellung der Steuerschaltung ist in F i g. 4 enthalten. Diese Schaltung wird außerdem in Verbindung mit einem Widerstandssystem für die Steuerung zur Aufbringung undurchsichtiger Filme verwendet, und daher werden Teile der in Fig.4 gezeigten Schaltung, wie z.B. der Schalter 66, für diesen Zweck benutzt. Für die Steuerung transparenter Filme wird der Schalter 66 in seine untere Stellung gebracht. F i g. 4 zeigt außerdem Klemmenleisten 68, 70 und 72, die Verbindungen zu anderen Teilen der Schaltungsanordnung ermöglichen, die hier zum Verständnis der Erfindung nicht gezeigt zu werden brauchen. Der Kontaktarm 40 wird durch eine Relaiserregerwicklung 74 und eine Auslösewicklung 76 gesteuert. Die Relaiskontakte 54 und 56 werden durch die Erregerwicklung 78 und die Auslösewicklung 80 gesteuert. Die Doppeldiodenröhre 82 enthält die beiden Dioden 30 und 32.
  • Das Eingangssignal von der Kathode der Photozelle22 wird über den Schalter66H von der Klemme 68D aus über die Leitung 84 zugeführt. Das Signal wird über den Widerstand 26, den Schalter 661 und die Leitung 86 der Klemme 68E und der 67,5-Volt-Batterie 24 zugeführt. Vom Schalter 66H aus wird es über die Leitung 88 der Klemme 70A und dadurch dem Verstärker 28 zugeleitet. Das andere Eingangssignal wird dem Verstärker über den Schalter 66 G, Leitung 90 und die Klemme 70 B zugeführt.
  • Der Verstärkerausgangsimpuls wird über den Schalter 66F und die Leitung 92 den Dioden 30 und 32 und dem Lastwiderstand 94 zugeleitet. Dabei besteht ein Parallelzweig zum Lastwiderstand 94 durch die angeschlossene Diode, den Widerstand 96 und die Kapazität 42 zur Erde.
  • Die Spannungsdifferenz an der angeschlossenen Diode wird über den Widerstand98, den Schalter 66E, die Leitung 100 und die Klemme70F dem Verstärker 52 zugeleitet. Die Ausgangssignale des Verstärkers 52 gelangen über die Leitungen 102 und 104 und die Schalter 66C und 66 D zu den Relaiskontakten 54 und 56, um über den Widerstand 106 der Leitung 108 als Eingangssignal für die Spannungsvergleicherschaltung über den Schalter 661C den Gittern der Spannungsvergleicherröhre 110 zugeführt zu werden. Ein Relais 112 liegt- im Anodenkreis- der Spannungsvergleicherröhre und ist über eine Leitung 114 und eine Klemme 68 F an eine 125-Volt-Gleichspannungsquelle angeschlossen. Dem Relais 112 ist ein Kontakt 116 zugeordnet, dessen eine Klemme über die Leitung 118 und die Klemme 72B an eine 12-Volt-Gleichstromquelle angeschlossen ist. Wenn die Spannungsvergleicherröhre arbeitet und dabei das Relais 112 erregt, wird der Kontakt 116 umgeschaltet und das 12-Volt-Signal über die Leitung 120, den Schalter 66B, die Leitung 122 und die Klemme 721L den zugeordneten Relais der Relaisschaltung 60 zugeführt und der Zähler 62 schrittweise weitergeschalte. Eines der erregten Relais öffnet den Anodenkreis der RöhrellO, wodurch das 125-Volt-Signal vom Relais 112 abgetrennt und dieses Relais abgeschaltet wird, so daß das Ausgangssignal des Vergleichers von der Leitung 120 abgetrennt wird. Durch die Betätigung der Relaisschaltung werden die Erregerwicklungen 74 und 78 über die Leitung 124 erregt und dadurch die Relaiskontakte40, 54 und 56 umgeschaltet. Hat die Anzahl der Einzelschritte eine bestimmte, im Zähler eingestellte Zahl erreicht, erzeugt dieser ein Ausgangssignal, das den Verschluß 14 und die Heizeinrichtung betätigt, wodurch der Aufdampfungsvorgang beendet wird.

Claims (4)

  1. Patentansprüche: 1. Verfahren zur automatischen Schichtdickenmessung bei der Herstellung dünner Schichten auf transparenten Unterlagen durch Aufdampfen im Vakuum, wobei die entstehende dünne Schicht während des Aufdampfungsvorganges mit monochromatischem Licht durchstrahlt und die infolge von Interferenzerscheinungen auftretenden Maxima und Minima der Lichtintensität zur Bestimmung der Schichtdicke auf photoelektrischem Wege ermittelt werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Anzahl der Maxima und Minima mittels einer an sich bekannten Differenzierschaltung ermittelt wird und ein Zähler den Aufdampfprozeß bei Erreichung der der gewünschten Schichtdicke entsprechenden Zahl an Maxima und Minima abschaltet.
  2. 2. Anordnung zur Durchführung der Schichtdickenmessung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß eine Differenzierschaltung (30 32, 34, 36, 38, 40, 42, 52) die erste Ableitung des von einem photoelektrischen Empfänger (22) gelieferten Signals erzeugt, die mittels Steuerimpulse einer Spannungsvergleicherschaltung (58) einen Zähler (62) einstellt, der bei einem bestimmten Zählerstand einen Steuerschalter (64) zum Ansprechen bringt, welcher durch Betätigung eines Verschlusses (14) über dem Verdampfungsmaterial und durch Abschaltung der Heizung eine weitere Ablagerung des Aufdampfmaterials verhindert.
  3. 3 Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Differenzierschaltung(30, 32, 34, 36, 38, 40, 42, 52) aus einem Korden sator (42) besteht, der mittels eines von der Spannungsvergleicherschaltung gesteuerten Schalters (40) wahlweise über eine in Flußrichtung oder eine in Sperrichtung geschaltete Diode (30 bzw.
    32) an den Ausgang eines Verstärkers (28) für die vom photoelektrischen Empfänger (22) gelieferten Signale angeschlossen ist, und daß die an den Dioden (30 bzw. 32) in Sperrichtung abfall lende Spannung über einen von der Spånnungsvergleicherschaltung (58) gesteuerten Polwender (54, 56) an den Eingang der Spaunungsver gleicherschaltung (58) gelegt ist.
  4. 4. Anordnung nach den Ansprüchen 2 und 3, dadurch gekennzeichnet, daß eine Steuereinriclitung die Intensität der Lichtquelle (20) mit zunehmender Dicke der aufgebrachten Schicht erhöht.
    In Betracht gezogene Druckschriften: Zeitschrift »Vakuum-Technik«, Februar 1959, S. 8 bis 11.
DEJ19702A 1960-07-05 1961-04-05 Verfahren und Anordnung zur automatischen photoelektrischen Schichtdickenmessung bei der Herstellung duenner Schichten auf transparenten Unterlagen durch Aufdampfen im Vakuum Pending DE1214970B (de)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2240509A1 (de) * 1971-08-19 1973-02-22 Saint Gobain Waermedaemmende verglasung und verfahren zu ihrer herstellung
WO2005100958A1 (de) * 2004-04-02 2005-10-27 Optoprecision Gmbh Verfahren und überwachung des abscheideverhaltens einer beschichtungsvorrichtung einer beschichtungsanlage und vorrichtung zur durchführung desselben

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