DE1180412B - Informationsspeicheranordnung mit Halbleiter-elementen - Google Patents
Informationsspeicheranordnung mit Halbleiter-elementenInfo
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Description
DEUTSCHES
PATENTAMT
Internat Kl.: H 03 k
Deutsche KL: 21 al -37/52
Nummer: 1180412
Aktenzeichen: G 28528IX c / 21 al
Anmeldetag: 8. Dezember 1959
Auslegetag: 29. Oktober 1964
Die Erfindung bezieht sich auf eine Informationsspeicheranordnung mit Halbleiterelement, wie sie in
datenverarbeitenden Anlagen verwendet wird. Speicheranordnungen mannigfaltiger Art sind in
datenverarbeitenden Anlagen bereits bekannt. Als Speicherelemente finden z. B. Magnetkerne, Gasentladungsröhren,
ferroelektrische oder halbleitende Elemente Verwendung.
Es ist beispielsweise bekannt, in dem Stromweg, der zu einer Elektrode eines ferroelektrischen
Speicherelementes führt, einen Transistor einzufügen und die Änderung der Impedanz des Transistors
auszunutzen, um eine veränderliche Impedanz für die wahlweise Informationsspeicherung in
dem Element verfügbar zu machen.
In einer anderen bekannten Anordnung wird ein ferroelektrisches Element mit der Oberfläche eines
Halbleiterkörpers in Berührung gebracht, und die Polarisation des ferroelektrischen Elementes wird
benutzt, um in dem Halbleiterkörper ein inneres elektrisches Feld verfügbar zu machen, welches den
Impedanzzustand des Halbleiterelementes steuert.
In der zuletzt genannten Speicheranordnung hat das halbleitende Element einen Körper mit wenigstens
zwei aneinander angrenzenden Zonen von entgegengesetztem Leitfähigkeitstyp, die wenigstens eine
Verbindungsgrenze bilden. Die Besonderheit der Anordnung besteht darin, daß ein ferroelektrisches
Element an die Oberfläche des Körpers dicht bei der Verbindung angelegt ist, daß ferner ein dritter, in
einem Abstand vom Körper befindlicher Anschluß an einer freien Oberfläche des ferroelektrischen Elementes
angebracht ist und daß schließlich eine Anordnung zur Steuerung der Polarisation zwischen
einem der beiden Anschlüsse und den dritten Anschluß geschaltet ist.
Zwar gelingt es mit der beschriebenen Anordnung, die Eigenarten eines halbleitenden Elementes zur
Informationsspeicherung auszunutzen, jedoch ist der erforderliche Schaltungsaufwand erheblich. Hinzu
kommt, daß die Herstellung der Halbleiterelemente mit PNP-Charakter nach wie vor einen hohen Aufwand
an Präzision erfordert.
In der angeführten Speicheranordnung muß das halbleitende Element stets an einem elektrischen
Potential liegen. Die über das ferroelektrische Element an das halbleitende Element angelegten Signale
dienen lediglich zur Steuerung des durch die Vorspannung am Halbleiterelement erzeugten Stromflusses.
Demgegenüber liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, eine Speicheranlage zu schaffen, die gegen-Informationsspeicheranordnung
mit Halbleiterelementen
Anmelder:
5
5
Litton Systems, Inc., Beverly Hills, Calif.
(V. St. A.)
Vertreter:
Vertreter:
Dipl.-Ing. H. Görtz, Patentanwalt,
Frankfurt/M., Schneckenhofstr. 27
Frankfurt/M., Schneckenhofstr. 27
Als Erfinder benannt:
Rolf K. Mueller, St. Paul, Minn. (V. St. A.)
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 8. Dezember 1958
(778 679)
über den bisher bekannten Speicheranordnungen mit Halbleiterelement nicht nur eine besonders einfache
Schaltungsanordnung aufweist, sondern die darüber
a5 hinaus gegenüber den bekannten Anordnungen
räumlich erheblich verkleinert werden kann. Ein weiteres Ziel der Erfindung ist es, eine einfache
Speicheranordnung zu schaffen, bei deren Herstellung keine größenbeschränkenden Probleme der
Zusammenstellung und des Zusammenbaus, insbesondere auch der Leitungsführung, auftreten. Die
neue Speicheranordnung hat eine hohe Betriebslebensdauer und erfordert nur sehr wenig Wartung.
Die Anordnung nach der Erfindung vermeidet die Nachteile der bisher bekanntgewordenen Speicheranordnungen
mit Halbleiterelementen, indem erfindungsgemäß das Halbleiterelement eine Korngrenze
aufweist, bei der das halbleitende Material zu beiden Seiten der Grenze einkristallinisch ist und die
Kristalle zur Bildung einer Diskontinuität im Kristallgitter zueinander schräg gestellt sind, an das Halbleiterelement
ein Generator zur Erzeugung eines Potentials als Eingabesignal angelegt ist, das an der
Korngrenze eine Ladung schafft, die die zu speichernde Information darstellt und an das Halbleiterelement
ein Generator für ein Abfragesignal angelegt ist, das den Zustand der Ladung an der Korngrenze
feststellt und eine gespeicherte Information zur Anzeige gelangen läßt.
Halbleiterelemente mit einer Korngrenze sind bereits bekannt. Der Grenzschichteffekt, der bei bisher
bekannten halbleitenden Elementen durch das Zu-
409 709/111
sammentreffen von wenigstens zwei aneinander angrenzenden
Zonen von entgegengesetztem Leitfähigkeitstyp hervorgerufen wurde, wird in den neuen
Korngrenzelementen dadurch bewirkt, daß die zwei Kristalle mit Bezug aufeinander schräg gestell,! sind.
An der Verbindungsstelle entsteht dadurch eins Diskontinuität
im Kristallgitter. Diese Diskontinuität läßt sich als eine Reihe von Versetzungen oder Verschiebungen
der Kanten auffassen. Jede Verschie-
Die Darstellungen werden einzeln und im Detail erörtert. F i g. 1 zeigt eine typische Korngrenzzelle
10. Die Zelle besteht aus einem Block aus halbleitendem Material mit Kontakten 12, 14, die an den
Enden angelötet sind, und einer Korngrenze 16 irgendwo zwischen den zwei Enden. An jeder Seite
der Grenze ist das halbleitende Material einkristallinisch, d. h., das Kristallgitter ist kontinuierlich. Die
zwei Kristalle sind indessen mit Bezug aufeinander
bung weist hin- und herwechselnde Verbindungsstel- io schräg gestellt mit dem Ergebnis, daß dort an der
len auf, die entweder als Löcher- oder als Elek- Verbindungsstelle eine Diskontinuität im Kristalltronenfallen
wirken, je nach der Art des verwendeten gitter besteht. Diese Diskontinuität läßt sich als
Halbleitermaterials. Bei Germanium des N-Typs Reihe von Versetzungen oder Verschiebungen des
z. B. besteht die wechselnde Verbindungsstelle aus Kantentyps auffassen. Jede Verschiebung weist hineinem
unpaarigen Elektron, das freie Elektronen ein- 15 und herwechselnde Verbindungsstellen auf, die entfängt,
die der Grenze eine nutzbare, reine Negativ- weder als Löcher- oder als Elektronenfallen wirken,
ladung erteilen. Die reine Negativgrenzladung weist je nach der Art des fraglichen Halbleitermaterials.
die Leitungselektronen in der Materialmasse zurück Bei Germanium des N-Typs z. B. besteht die wech-
und beläßt ein von Elektronen erschöpftes Gebiet selnde Verbindungsstelle aus einem unpaarigen Elekmit
einer niedrigeren Leitfähigkeit an der Korn- 20 tron, das freie Elektronen einfängt, die der Grenze
grenze. Die Korngrenze bildet infolgedessen eine Potentialsperre gegen den Fluß von Elektronen, und
der äquivalente elektrische Kreis besteht aus einer
Reihen-Parallel-Kombination aus zwei Dioden sowie
zwei Kondensatoren.
der äquivalente elektrische Kreis besteht aus einer
Reihen-Parallel-Kombination aus zwei Dioden sowie
zwei Kondensatoren.
So ausgebildete Speicherelemente besitzen den Vorteil, daß zum Einspeichern einer Information in
die Korngrenze und zum Abfragen einer dort gespeicherten Information elektrische Impulse gleicher
Größe dienen können.
Weitere Einzelmerkmale und Anwendungsmöglichkeiten der Erfindung ergeben sich aus der Zeichnungsbeschreibung,
die weitere Ausführungsbeispiele erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine stark vergrößerte Ansicht eines Halbleiiterkorngrenzelements,
das eine einzelne Speicherzelle bildet,
Fig. 2 ein Schaltschema, das den äquivalenten Kreis der in F i g. 1 veranschaulichten Zelle darstellt,
Fig. 3 eine Kurve, die die sich ergebende Strom- 4° an, so wird die Potentialsperre erniedrigt, und ein
empfindlichkeit veranschaulicht, wenn die Zelle nach Elektronennuß in die Grenze hinein tritt auf. Die
der Fig. 1 einem Ladeimpuls unterworfen wird, wo- Größe dieses Flusses und folglich die Ladezeit werbei
sich die Zelle in einem ursprünglich ungeladenen den nur durch den Widerstand der Masse des Ger-Zustand
befindet, maniums und nicht durch Diffusionsprozesse und
F i g. 4 eine weitere Kurve, die die Stromempfind- 45 Minoritätsträgerspeichereffekte begrenzt, wie es bei
lichkeit veranschaulicht, die auftritt, wenn die Zelle herkömmlichen Dioden der Fall ist.
schon geladen ist und einem zusätzlichen Ladeimpuls Eine bildliche Darstellung des Stromflusses in die
unterworfen wird, Grenze, der sich ergibt, wenn an das Musterstück ein
Fig. 5 ein Schaltschema, das einen Weg ver- rechteckiger Spannungsimpuls angelegt wird, ist den
anschaulicht, auf dem Information in das System 5° F i g. 3 und 4 zu entnehmen. F i g. 3 zeigt einen
oder die Anlage hineingegeben und aus diesem abge- Stromimpuls 26, der sich ergibt, wenn die Spannung
fühlt oder herausgelassen werden kann, an eine ungeladene Grenze angelegt wird. Dort be-
F i g. 6 eine Ansicht, bei der der Betriebszustand steht zuerst ein rascher Anstieg auf ein Maximum,
demjenigen der Anlage gemäß der F i g. 5 entspricht, gefolgt von einem langsamen Abfall, wenn sich das
wobei die vorliegende Ansicht indessen eine Matrize 55 Grenzpotential demjenigen des angelegten Impulses
aus Speicherzellen veranschaulicht, die gemäß den nähert. Der kleine negative Impuls, mit 28 beziffert,
Lehren der neuen Erfindung ausgebildet ist, der auftritt, nachdem der angelegte Spannungsimpuls
F i g. 7 eine Anlage, die im allgemeinen derjenigen aufgehört hat, ist die Folge einer Wiederverteilung
der F i g. 5 ähnlich ist, bei der aber nahe der Korn- der Träger in der Materialmasse und für die in Rede
grenze jeder Zelle ein Lochinjektionskontakt ange- 60 stehenden Zwecke nicht wichtig,
ordnet ist, um ein Abfühlen oder Herauslesen von Legt man nun, nachdem man die Grenze gemäß
Information zu erzielen, der F i g. 3 geladen hat, einen zweiten Spannungs-
F i g. 8 eine Anlage, die mit zerstörungsfreiem Ab- impuls derselben Größe an das Muster, so erhält
fühlen der Information arbeitet, während die voraus- man den mit der Ziffer 30 bezeichneten Stromimpuls
gehenden Anlagen nur eine zerstörende Auslese zu- 65 (F i g. 4). In diesem Falle ist der Strom viel kleiner,
lassen, und da die Grenze, die durch den früheren Impuls ge-
F i g. 9 noch eine weitere Ausführungsform der schaffene Ladung zurückhält und folglich dem weiteneuen
Erfindung. ren Stromfluß eine große Sperre darbietet. Zwar er
eine nutzbare, reine Negativladung erteilen. Die reine negative Grenzladung weist die Leitungselektronen
in der Materialmasse zurück und beläßt ein von Elektronen erschöpftes Gebiet mit einer niedrigen
Leitfähigkeit an der Grenze.
Infolgedessen bildet die Grenze eine Potentialsperre gegen den Fluß von Elektronen, und der äquivalente
elektrische Kreis besteht aus einer Reihen-Parallel-Kombination aus zwei Dioden 18 und 20 sowie
zwei Kondensatoren 22, 24 (F i g. 2). Die Größen der zwei Kapazitäten hängen von der Breite des
von den Elektronen erschöpften Gebietes ab, die ihrerseits von der reinen Ladung an der Grenze abhängt.
Unter Gleichgewichtsbedingungen hat die Höhe der Potentialsperre in Germanium des N-Typs die
Größenordnung weniger Zehntel eines Elektronenvolts. Legt man nun eine Vorspannung einer der
Polaritäten zwischen den Enden des Musterstücks
scheint noch einmal wieder ein kleiner negativer Impuls 32, nachdem der angelegte Spannungsimpuls
aufgehört hat, wobei die Größe dieses Impulses derjenigen des Impulses 28 entspricht.
Hiernach hat man also eine Vorrichtung, die sich in einer Binäranlage als Speicherzelle verwenden
läßt. Der ungeladene Zustand könnte 0 entsprechen, während der geladene Zustand 1 entsprechen könnte.
Die Größe des Stromimpulses, der sich ergibt, wenn ein Fragespannungsimpuls angelegt wurde, würde
eine Anzeige des ursprünglichen Zustandes der Grenze sein. Diese Art der Befragung ist natürlich
zerstörend. Man könnte nun ein nichtzerstörerisches Fragesystem schaffen, indem man die Kapazität der
Grenze mißt, da die Größe der Kapazität von der Grenzladung abhängt. Ein solches System wird später
beschrieben werden. Es bestehen zwei Wege, die man anwenden könnte, um die Grenze zu entladen
und sie hierdurch in ihren O-Zustand zurückzuführen. So könnte man einen Ohmschen Kontakt an die
Grenze anlegieren und diesen Kontakt mit dem Ende des Musterstücks kurzschließen, um die Grenze zu
entladen, oder man könnte auch das Musterstück mit Licht der passenden Wellenlänge (1,7 Mikron im
Falle von Germanium) bestrahlen. Eine Lichtbestrahlung des Musterstücks erzeugt Loch-Elektron-Paare
in der Materialmasse. Die Löcher diffundieren dann zur Grenze, indem sie die reine Ladung an der
Grenze herabsetzen und sie wirksam entladen. Die obige Erörterung ist zumeist auf Germanium des
N-Typs beschränkt, wo die Majoritätsträger Elektronen sind und die Grenze eine nutzbare, reine Negativladung
enthält, da sich die vorliegende Erfahrung auf diesen Materialtyp gründet.
Es gibt indessen eine Reihe von weiteren Materialen, die zweckentsprechend wären und gegenüber
Germanium einige Vorteile (und natürlich einige Nachteile) hätten. Beispielsweise sind für Silizium
des N-Typs und Indium-Antimon des P-Typs brauchbare Korngrenzen berichtet worden, und man hat
Grund zu glauben, daß Grenzen bei anderen III-V-Massen und in Siliziumcarbid ebenfalls brauchbare
Eigenschaften haben dürften. Die Erörterung der Wirksamkeit und des Arbeitens der Vorrichtung
wäre dann dieselbe wie weiter oben für alle Materialien des N-Typs, während man für Materialien des
P-Typs, wo Löcher die Majoritätsträger sind, lediglich Löcher durch in Rede stehende Elektronen ersetzen
und eine Grenze mit einer nutzbaren, reinen positiven Ladung verlangen würde. Wie früher dargetan,
hätte jeder Materialtyp seine eigenen Vorteile. Beispielsweise ließe sich Silizium bei Raumtemperatuir
(20° C) verwenden, während Germanium auf die Temperatur von flüssigem Stickstoff (196° C) gekühlt
werden müßte. Der Grund hierfür liegt darin, daß es einer größeren Energiemenge bedarf, um in Silizium
ein freies Leitungselektron zu erzeugen, und deshalb gibt es dort auch nicht viele Träger mit genügender
thermischer Energie bei 2O0C, um die Ladung an der Grenze zu stören. In Germanium z. B. würde
sich die Grenze fast augenblicklich bei 200C auf
ihren Gleichgewichtswert entladen, während sich die Ladung bei -1960C um etwa 1% in 3 Stunden
ändert. Indium-Antimon andererseits, das eine kleinere Energielücke zwischen der Valenz und den
Leitfähigkeitsstreifen als Germanium hat, würde auf noch niedrigere Temperaturen zu kühlen sein, würde
aber auf Infrarotstrahlung heraus bis etwa 6 Mikron ansprechen im Vergleich zu 1,7 Mikron bei Germanium.
Dies dürfte bei manchen Anwendungen Vorteile haben.
Obwohl die Erörterung dieses Punktes auf.Speichervorrichtungen
beschränkt worden ist, die bei Binäranlagen angewendet werden sollen, könnte
man die KorngrenzspeicheraeUe auch so ausbilden,
daß sie in anderen Systemen oder Anlagen arbeitet, die eine größere Anzahl von Zeichen hat, z. B.
ίο wie das gewöhnliche Dezimalsystem. Um zu sehen,
wie dies bewerkstelligt werden würde,,, sei.noch einmal
auf die F i g. 3 und 4 Bezug genommen. Diese beiden Diagramme zeigen die extremen Fälle von
Fragestromimpulsen, wenn die Grenzen voll ent-^ laden bzw. voll geladen sind. Hätte man eine Anzahl
von Spannungsmformationsimpulsen unterschiedlicher Größen, würde man die Grenze auf eine Anzahl
von unterschiedlichen Pegeln laden. Dann könnte man, mit einem Spannungsfrageimpuls, der
ao gleich oder größer als der größte Inf örmationsimpuls
war, aus der Größe des sich ergebenden Stxomimpulses die Zahl bestimmen, die in die Vorrichtung eingegeben
worden war. Diese Arbeitsweise bietet einen entschiedenen Vorteil gegenüber den meisten verfügbaren
Speichervorrichtungen, da diese lediglich zwei stabile Arbeitspunkte haben und sich daher nur für
das Binärsystem verwenden lassen.
Als weitere Möglichkeit könnte man den voll geladenen Zustand als den O-Zustand und den voll entladenen
Zustand als den 1-Zustand anwenden, wenn die Vorrichtung im Binärsystem verwendet werden
würde. Auf diese Weise könnte man die Information mit einem Lichtbündel einführen und der Frageimpuls
würde die Vorrichtung immer in den 0-Zustand zurückführen.
In F i g. 5 ist eine Zehn-Zellen-Speicheranlage veranschaulicht. Hier wirkt ein Impulsgenerator 34 sowohl
für das Eingeben von Information in eine Mehrzahl von Zellen 10 als auch für das Abfühlen
einer solchen Information. Wie veranschaulicht, kann der Generator wahlweise mittels eines Drehschalters
36 an irgendeine gegebene Zelle 10 angeschlossen werden. In diese mit den, verschiedenen
Zellen 10 befindet sich ein .RC-Kreis 38, und in dem
veranschaulichten Beispiel ist ein KathodenstrahloszUloskop
40 an den Kreis 38 angeschlossen.
Im Gebrauch wurden die Ladeimpulse mittels des Generators 34 angelegt werden. Um die am linken
Ende befindliche Zelle 10 zu laden, wäre der Dreharm des Schalters 36 auf den unmittelbar mit dieser
speziellen Zelle verbundenen Kontakt einzustellen. Ein Impuls von rund 4 oder 5 Volt, der für einige
Mikrosekunden angelegt wird, reicht aus, die Zelle zu laden. Wird gewünscht, die Information abzufühlen
oder herauszulesen, d. h. zu bestimmen, ob dies? Zelle geladen ist, wird der Schaltann wieder ,auf den
Kontakt eingestellt, der der zu befragenden Ζεφ.ζμ^
geordnet ist. Ist dies geladen, wie es bei dem Beispiel der Fall ist, beobachtet man am Oszilloskop.40 einen
Impuls, dessen Größe derjenigen des Impulses 30 entspricht. Auf diese Weise wird eine Anzeige hinsichtlich
der in dieser speziellen Zelle gespeicherten Information verwirklicht. Sollte irgendeine der anderen
Zellen 10 befragt werden, wird ein dem Impuls 26 ähnlicher großer Impuls wahrgenommen, da Information
unter dieser angenommenen Gruppe von Umständen außer in die linke eine Zelle noch in
keine Zelle eingegeben worden ist.
Ein Befragen oder Abfühlen einer solchen Zelle 10 läßt diese natürlich in geladenem Zustand zurück.
Deshalb ist es notwendig, alle Ladungen an den Zellen 10 gemäß der F i g. 5 zu löschen, bevor neue Information
eingegeben wird. Dies läßt sich ohne weiteres dadurch verwirklichen, daß man die Reihe der
Zellen 10 der Lichtenergie aussetzt. Für Germanium ist eine Wellenlänge von 1,7 Mikron oder darunter,
ausgeübt für einen Bruchteil einer Mikrosekunde,
des Lichtes sein. Das Licht injiziert, wie früher geschildert, Löcher, und die so injezierten Löcher fließen
zur Grenze und neutralisieren hierdurch die Ladung an der Korngrenze.
Das in Verbindung mit F i g. 5 verwendte Schema der Eingabe und des Abfühlens wird ebenso auch
für die Anlage nach der F i g. 6 verwendet. Hier ist zwar eine Matrize 42 vorgesehen, um eine Mehrzahl
daß die Wirkungsweise gemäß F i g. 6 aus der bereits gegebenen Schilderung ohne weiteres verständlich ist.
Mit den Armen der Schalter 70 und 72 in den veranschaulichten Stellungen nimmt die durch die über-S
läppenden oder ausgefluchteten Abschnitte der Streifen 50 und 60 gebildete Zelle eine Ladung an der
Komgrenze 44 auf, wenn vom Generator 34 ein Impuls zugeschickt wird. Wird der Arm des Schalters
70 zu seinem nächsten Kontakt bewegt, wird die von
angemessen. Allgemein gesprochen muß, je höher io den Streifen 52 und 60 gebildete Zelle geladen, wenn
die Energielücke ist, desto kürzer die Wellenlänge ein Impuls übertragen wird. Während eines nachfolgenden
Abfühlvorganges erzeugen beide Zellen verhältnismäßig kleine Impulse, deren Größe derjenigen
des Impulses 30 entspricht, während jede der ungei5
ladenen Zellen einen Impuls auf dem Oszilloskop 40 registriert, der dem Impuls 26 ähnlich ist.
Es ist indessen möglich, eine Speicherzelle herzustelen,
die sich nach dem Abfühlen im entladenen Zustand befindet. Durch Einführung eines Lochinji-
von Speicherzellen zu bilden, die in derselben Weise so zierenden Kontaktes 80 an der halbledtenden Zelle
wie die einzelnen Zellen 10 wirken. Hierbei war die 10 mit der Korngrenze 16 wird ein solches Ergebnis
Matrize 42 ursprünglich ein kleiner Streifen aus halb- erreicht. Eine Anordnung mit derart abgewandten
leitendem Material mit einer Korngrenze 44. Die ein- Zellen ist in F i g. 7 veranschaulicht,
zelnen Zellen, im vorliegenden Falle fünfundzwanzig, F i g. 7 zeigt, statt des Eingabe- und Abfühlgene-
werden dadurch gebildet, daß ein Satz von parallelen 35 rators 34 ein ähnlicher Generator 82, aber nur für
Nuten 46 an einer Seite und ein zweiter Satz von Eingabezwecke verwendet wird. Wie bei dem System
Nuten 48 an der entgegengesetzten Seite eingeschnit- gemäß der F i g. 5 wird ein Wahlschalter 84 verwenten
werden, wobei die zwei Sätze rechtwinklig zuein- det, so daß sich ein Impuls zu irgendeiner gewünschander
verlaufen. Eine nähere Inaugenscheinnahme ten Zelle 10 übertragen läßt, um dieselbe in der geder
Figur läßt erkennen, daß jeder Satz von Nuten 30 maß der F i g. 5 verwirklichten Weise zu laden.
46, 48 tief genug ist, um die Grenze 44 zu durch- Für Zwecke des Abfühlens wird ein Impulsgenerator
86 verwendet, der sich vom Generator 82 auf Grund der Impulsgröße, die er erzeugt, weitgehend
unterscheidet. Genauer gesagt, ist der Generator 82 35 dazu bestimmt, einen Eingabeimpuls in der Größenordnung
von annähernd 5 Volt zu liefern, doch braucht der vom Generator 86 gelieferte Abfühlimpuls
nur ein Bruchteil eines Volts zu betragen. Augenscheinlich sind diese Werte nur Annäherungsher durch die überlappenden Abschnitte dieser ver- 40 werte und ändern sich für verschiedene halbleitende
schiedenen Streifen gebildet, wobei die Anzahl von Materialien tatsächlich ziemlich weitgehend.
Zellen für die angenommene Anzahl von Streifen Derselbe i?C-Kreis 38 läßt sich zusammen mit
fünfundzwanzig beträgt. dem Kathodenstrahloszilloskop 40 zum Beobachten
Bei der Durchführung der Eingabe- und Abfühl- der abgefüllten Information anwenden. Indessen vervorgänge
läßt sich derselbe Impulsgenerator 34 ver- 45 bleibt jede Zelle 10 nach der Abfüllung in ungeladewenden,
der in Verbindung mit Fig. 5 verwendet nem Zustand, und zwar dank der Einführung der
wird. Über einen ersten Wählschalter 70 kann der Abfrageimpulse an der Korngrenze 16 der befragten
Generator 34 an irgendeinen der oberen Streifen 50 Zellen. Sonach verbleibt, obwohl das System ebenso
angeschlossen werden. In gleicher Weise kann wie die Systeme nach den F i g. 5 und 6 mit Informairgendeiner
der unteren Streifen 60 bis 68 mittels 50 tionszerstörung arbeitet, das vorliegende System in
eines zweiten Wahlschalters 72 einbezogen werden. Bereitschaft für die Aufnahme neuer Information,
Im Kreis mit diesem zweiten Schalter 72 liegt der
jRC-Kreis 38 und das Kathodenstrahloszilloskop 40
(Fig. 5). Die Schalter 70, 72 sind entweder für das
Eingeben oder Abfühlen der Zelle eingestellt, die 55
durch die überlappenden Abschnitte der Streifen 50
und 60 gebildet ist. Beispielsweise ist in F i g. 6 die
Zelle ausgewählt, die in der linken unteren Ecke
nächst dem Schalter 70 liegt.
jRC-Kreis 38 und das Kathodenstrahloszilloskop 40
(Fig. 5). Die Schalter 70, 72 sind entweder für das
Eingeben oder Abfühlen der Zelle eingestellt, die 55
durch die überlappenden Abschnitte der Streifen 50
und 60 gebildet ist. Beispielsweise ist in F i g. 6 die
Zelle ausgewählt, die in der linken unteren Ecke
nächst dem Schalter 70 liegt.
Während sie in F i g. 5 nicht veranschaulicht ist, 60 und keine Abfühlimpulse zu liefern. Der Generator
zeigt Fig. 6 eine Lichtquelle 74, die über einen 82 kann über einen Einzelpolschalter90 an einen
Schalter 78 von einer Batterie gespeist wird. Aus Wahlschalter 88 angeschlossen werden,
dem, was bereits gesagt ist, versteht sich, daß die Die verschiedenen, dem Wahlschalter 80 zugeord-
Lichtquelle 74 zum Löschen der verschiedenen La- neten Kontakte sind an ein Ende der in diesem spezidungen
verwendet wird, die auf irgendeiner der die 65 eilen System verwendeten Zellen 10 angeschlossen.
Matrize 42 bildenden Zellen vorhanden sein können. Die anderen Enden dieser Zellen sind an eine Mehr-Da
bereits die Wirkungsweise gemäß der F i g. 5 zahl Induktanzspulen 90 angeschlossen, die ihrerseits
geschildert worden ist, darf angenommen werden, über einen Widerstand 94 an Erde liegen.
schneiden. Photowiderstands- und Ätztechniken, die bei der Herstellung von gedruckten Schaltkreisen allgemein
verwendet worden sind, lassen sich auch für die Herstellung der Matrize 42 anwenden.
Die Nuten 46 teilen die obere Oberfläche der Matrize 42 in einzelne Streifen 50, 52, 54, 56 und 58,
während die Nuten 48 die untere Oberfläche in Streifen
60, 62, 64, 66 und 68 teilen. Jede Zelle wird da-
ohne daß man zur Anwendung irgendwelcher
Lichtenergie für Löschzwecke Zuflucht nehmen
muß.
Lichtenergie für Löschzwecke Zuflucht nehmen
muß.
Wo eine nichtzerstörende Abfühlung gewünscht
wird, läßt sich das in Fig. 8 schematisch veranschaulichte System anwenden. Hierbei läßt sich
wieder der Eingabeimpulsgenerator 82 der Fig. 7
verwenden, dessen Aufgabe es ist, nur Ladeimpulse
wird, läßt sich das in Fig. 8 schematisch veranschaulichte System anwenden. Hierbei läßt sich
wieder der Eingabeimpulsgenerator 82 der Fig. 7
verwenden, dessen Aufgabe es ist, nur Ladeimpulse
Um irgendeine gewünschte Zelle 10 gemäß der F i g. 8 zu laden, hat man nur den Schalter 90 zu
schließen, und kann, indem man den beweglichen Arm des Wahlschalters 88 auf den speziellen Kontakt
setzt, der an die zu ladende Zelle angeschlossen ist, die die zu speichernde Information darstellende
Ladung in die Korngrenze 16 der beabsichtigten Zelle einführen. Wie veranschaulicht, würde die
Zelle 10 in F i g. 8 links die Ladung aufnehmen.
Um die Information abzufühlen, wird ein Signalgenerator 96 verwendet, der mittels eines Einzelpolschalters
98 an den Wählschalter 88 anschließbar ist. Die von dem Generator 96 zugeführte Frequenz
kann die Größenordnung von ein Megahertz haben, wobei die genaue Frequenz nicht wesentlich ist. Mittels
einer derartigen Einrichtung wird die Kapazität der Zellen, die davon abhängt, ob diese geladen oder
ungeladen sind, zur Anzeige der gespeicherten Information ausgenutzt. Genauer gesagt, ist jede Zelle 10
mit den in F i g. 8 dargestellten Schaltkreisteilen so beschaffen, daß sie als Kondensator in einem Resonanzkreis
wirkt, wobei die Gegenwart einer Spule 92 in jedem leitenden Pfad die Induktanz liefert.
Offensichtlich wird, indem man irgendeine spezielle Zelle 10 nur einem kleinen Fragesignal aussetzt,
die in einer gegebenen Zelle 10 auf Grund der an ihrer Korngrenze 16 erscheinenden Ladung dargestellten
Information nicht zerstört werden. Demzufolge arbeitet das vorliegende System mit zerstörungsfreier
Abführung. Wie bei den in F i g. 5 und 6 veranschaulichten Systemen läßt sich der Lichtaufprall
verwenden, um die Zellen 10 nach der F i g. 8 von ihren Ladungen zu befreien. Außerdem versteht
es sich, daß sich das System nach der F i g. 8 das für die Anwendung einzelner halbleitender Zellen 10 beschrieben
worden ist, auch für die Anwendung in Form der Matrize 42 gemäß der F i g. 6 eignet, wobei
dann eine Hochfrequenzabfühlung an die Stelle der dort beispielsweise verwendeten Impulsabfühlung
tritt.
Das in F i g. 9 veranschaulichte System enthält die Matrize 42 gemäß der F i g. 6, aber in etwas abweichender
Ausführung. Gleichwohl bestehen gewisse Ähnlichkeiten. Unter diesen befindet sich die Anwendung
der Schalter 70, 72 und des Kathodenstrahloszilloskops 40. Ein Abfühlgenerator 99, der
derselbe wie der Generator 34 sein kann, wird ebenfalls verwendet. Obwohl die Generatoren 34 und 99
identisch sein können, werden sie aber in unterschiedlicher Art verwendet, so daß auch unterschiedliehe
Bezugsziffern gebraucht sind.
Das System nach der F i g. 9 unterscheidet sich merklich von dem System nach der F i g. 6, und zwar
auf Grund der für die Informationslöschung vorgesehenen Einrichtung. Hier wird die Matrize 42 einem
gesteuerten Lichtaufprall ausgesetzt. Ein Mittel zur Erreichung dieses Zieles ist, die Matrize an der
Außenseite des Schirmes einer herkömmlichen Kathodenstrahlröhre 100 anzubringen. Das Elektronenbündel
der Röhre 100 läßt sich in herkömmlicher Weise auf Grund eines Vertikalablenkungskreises
102 und eines Horizontalablenkungskreises 104 über den gesamten Schirmbereich und damit über die gesamte
Fläche der Matrize steuern.
Bei Anwendung des Systems gemäß der F i g. 9 nehmen alle die die Matrize 42 bildenden Zellen eine
Raumladung an ihrer Korngrenze auf. Dies läßt sich mit dem Generator 99 ohne weiteres verwirklichen.
Auf jeden Fall läßt sich, wenn die Zellen der Matrize
42 geladen sind, das Aufprallen des innerhalb der Röhre 100 erzeugten Elektronenbündels so bewerkstelligen,
daß es auf ausgewählte Abschnitte des Schirmes aufprallt und hierdurch einen lichtfleck
erzeugt. Beispielsweise könnte man, wenn man eine Eingabeinformation zur Zelle an der rechten Seite
der Matrize gelangen lassen will, die Baueinheiten 102 und 104 zur Vertikal- bzw. Horizontalablenkung
erregen, so daß sie das Elektronenbündel veranlassen, den Schirm in diesem Bereich zu treffen, um den
Lichtfleck zu erzeugen.
Es ist bereits geschildert worden, daß das Licht eine geladene Zelle durch Injektion positiver Löcher
dazu bringt, daß sie sich entlädt. Demgemäß wird die betreffende spezielle Zelle entladen. Dies könnte die
erste Bedingung darstellen, wenn das System gemäß der F i g. 9 als Binärsystem verwendet würde. Andererseits
könnte es, wenn die fragliche Zelle in ihrem voll geladenen Zustand belassen wird, die 0-Bedingung
in Binärsprache darstellen.
Angenommen nunmehr, daß man die untere, rechte Zelle der Matrize in F i g. 9 zu befragen
wünscht, so befinden sich die beweglichen Arme der Schalter 70, 72 bereits in der Stellung, um dies auszuführen.
Wird vom Generator 99 ein Abfühlimpuls übertragen, folgt hieraus, daß ein großer Impuls (vgl.
den Impuls 26 der F i g. 3) auf dem Oszilloskop 40 erscheint und es dementsprechend bekannt wird, daß
bisher die 1-Bedingung bestand. Wird indessen die Zelle unmittelbar links davon mit einem Impuls vom
Generator 99 befragt, dann befindet sich die Korngrenze in geladenem Zustand und man nimmt nur
einen kleinen Impuls, wie den Impuls 30 der F i g. 4, wahr.
Eine günstige Eigenschaft des vorliegenden Systems ist auch, daß die Matrix 42 nach einem Abfühlvorgang
immer in einem geladenen Zustand belassen wird, da die Wirkung von jedem Impuls vom
Generator derart ist, daß sie ein Laden einer gegebenen Zelle verursacht. Es ist das Licht von der Kathodenstrahlröhre,
das die Entladung bewirkt.
Claims (12)
1. Informationsspeicheranordnung mit Halbleiterelement, dadurch gekennzeichnet,
daß das Halbleiterelement (10, 42) eine Korngrenze (16, 44) aufweist, bei der das halbleitende
Material zu beiden Seiten der Grenze einktistallinisch ist und die Kristalle zur Bildung einer Diskontinuität
im Kristallgitter zueinander schräg gestellt sind, an das Halbleiterelement (10, 42)
ein Generator (34,82) zur Erzeugung eines Potentials als Eingabesignal gelegt ist, das an der Korngrenze
(16, 44) eine Ladung schafft, die die zu speichernde Information darstellt, und an das
Halbleiterelement (10, 42) ein Generator (34, 86, 96) für ein Abfragesignal angelegt ist, das den Zustand
der Ladung an der Korngrenze (16, 44) feststellt und eine gespeicherte Information zur
Anzeige gelangen läßt.
2. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß zum Einspeichern und Abfragen
elektrische Impulse gleicher Größe dienen.
3. Speicher nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß zum Erzeugen der Eingabe-
und Abfragesignale derselbe Generator (34) verwendet wird.
409 709/111
4. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das als Speicherzelle dienende
Halbleiterelement (10) in Verbindung mit einer Impedanzspule (92) einen Schwingkreis bildet,
der mittels Hochfrequenzimpulsen ohne eine Zerstörung der Information abgefragt wird.
5. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Ladung durch eine Lichtquelle
(74) und/oder einen lochinjizierenden Kontakt (80) in der Nähe der Korngrenze (16)
löschbar ist.
6. Speicher nach den Ansprüchen 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, daß der Generator (34)
ein Spannungsgenerator mit je nach der Größe der in der Anordnung zu speichernden Information
von 0 bis zu einer gegebenen Größe regelbarer Ausgangsspannung ist.
7. Speicher nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß an den lochinjizierenden Kontakt
(80) ein Impulsgenerator (86) angeschlossen ist.
8. Speicher nach Anspruch 1 mit mehreren Halbleiterelementen, gekennzeichnet durch einen
Stufenschalter (36, 70, 72, 84) zur Anlegung eines einer Information entsprechenden Potentials
an einzelne Elemente (10).
9. Anordnung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch einen weiteren Stufenschalter (F i g. 7),
der wahlweise ein gewünschtes Element (10) abfragt.
10. Anordnung nach Anspruch 9, gekennzeichnet durch einen Umschalter (90, 98) zum wahlweisen
Anlegen oder Abfragen einer Information über den Stufenschalter (88).
11. Speicher nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Halbleiterelemente in Form
einer Matrix (42) aus einem Block aus halbleitendem Material gebildet sind, der aus oberen und
unteren Oberflächen mit dazwischenliegenden Korngrenzen (44) besteht und eine Anzahl paralleler
Nuten (46), die von der Oberfläche zu einer Stelle gerade jenseits der Korngrenze (44)
reichen und eine erste Gruppe gleichgerichteter paralleler Streifen (50 bis 58) bilden, und eine
Anzahl im rechten Winkel zu ersterer verlaufender paralleler Nuten (48) aufweist, die von der
entgegengesetzten Oberfläche zu einer Stelle gerade hinter der Korngrenze (44) reichen und eine
zweite Gruppe paralleler Streifen (60 bis 68) rechtwinklig zur ersten Gruppe bilden.
12. Speicher nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß bei den aufeinander senkrecht
stehenden Streifenscharen je ein zugehöriger Stufenschalter (70, 72) zugeordnet ist.
In Betracht gezogene Druckschriften:
Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 041 165,
1024119, 1042 648;
britische Patentschrift Nr. 774 308.
Deutsche Auslegeschriften Nr. 1 041 165,
1024119, 1042 648;
britische Patentschrift Nr. 774 308.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
409 709/111 10.64
Bundesdruckerei Berlin
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US778679A US3109163A (en) | 1958-12-08 | 1958-12-08 | Memory system and method utilizing a semiconductor containing a grain boundary |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1180412B true DE1180412B (de) | 1964-10-29 |
Family
ID=25114113
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DEG28528A Pending DE1180412B (de) | 1958-12-08 | 1959-12-08 | Informationsspeicheranordnung mit Halbleiter-elementen |
Country Status (3)
Country | Link |
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US (1) | US3109163A (de) |
DE (1) | DE1180412B (de) |
GB (1) | GB902024A (de) |
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1959
- 1959-12-08 GB GB41735/59A patent/GB902024A/en not_active Expired
- 1959-12-08 DE DEG28528A patent/DE1180412B/de active Pending
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Publication number | Publication date |
---|---|
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