DE113777C - - Google Patents

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DE113777C DENDAT113777D DE113777DA DE113777C DE 113777 C DE113777 C DE 113777C DE NDAT113777 D DENDAT113777 D DE NDAT113777D DE 113777D A DE113777D A DE 113777DA DE 113777 C DE113777 C DE 113777C
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/43Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length by measuring critical angle

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2885923A (en) * 1954-08-13 1959-05-12 Phillips Petroleum Co Reflection refractometer
US4571075A (en) * 1982-08-30 1986-02-18 K-Patents Oy Measuring window for a process refractometer

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2885923A (en) * 1954-08-13 1959-05-12 Phillips Petroleum Co Reflection refractometer
US4571075A (en) * 1982-08-30 1986-02-18 K-Patents Oy Measuring window for a process refractometer

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