DE112022001784T5

DE112022001784T5 - Verfahren zur Bewertung der Dispersionsstabilität und Verfahren zum Vergleich der Dispersionsstabilität

Info

Publication number: DE112022001784T5
Application number: DE112022001784.8T
Authority: DE
Inventors: Kazuhiro Takahashi; Kouichiro AKIYAMA; Hiroshi Satozono
Original assignee: Hamamatsu Photonics KK
Current assignee: Hamamatsu Photonics KK
Priority date: 2021-03-26
Filing date: 2022-03-24
Publication date: 2024-02-15
Also published as: GB2619247A; US20240175811A1; WO2022201862A1; JPWO2022201862A1; GB202314496D0; GB2618736A; GB202313254D0; US20240142360A1; JPWO2022203007A1; WO2022203007A1; DE112022001785T5

Abstract

Ein Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß ist ein Verfahren zur Bewertung einer Dispersionsstabilität eines in einem Dispersionsmedium dispergierten Dispersoids. Das Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren beinhaltet einen ersten Schritt, bei dem eine Probe, die das Dispersionsmedium und das Dispersoid enthält, auf einer reflektierenden Oberfläche gehalten wird, und einen zweiten Schritt, bei dem Terahertz-Wellen von einer der Probe gegenüberliegenden Seite auf die reflektierende Oberfläche einfallen und die von der reflektierenden Oberfläche reflektierten Terahertz-Wellen erfasst werden. Im zweiten Schritt wird, während ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem dem Dispersoid gestattet wird, sich auf die reflektierende Oberfläche hin zu bewegen, eine Vielzahl von Detektionsergebnissen erfasst, die jeweils einer Vielzahl von Zeitpunkten entsprechen, die voneinander beabstandet sind.

Description

Technischer Bereich
Die vorliegende Offenbarung bezieht sich auf ein Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren und ein Dispersionsstabilitäts-Vergleichserfahren.
Stand der Technik
Aus dem Stand der Technik ist ein Verfahren zur Evaluierung der Dispersionsstabilität eines in einem Dispersionsmedium dispergierten Dispersoids bekannt (siehe z.B. Patentschrift 1). Bei einem solchen Verfahren wird in einer Probe, die ein Dispersionsmedium und ein in dem Dispersionsmedium dispergiertes Dispersoid enthält, eine Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids auf Basis der Änderung der Position des Flüssigkeitsniveaus eines ausgefällten Teils, der aufgrund der Ausfällung des Dispersoids erzeugt wird, ermittelt, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids wird auf Basis der Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids bewertet.
Zitateliste
Patentliteratur

[Patentliteratur 1] Japanische ungeprüfte Patentveröffentlichung Nr. JP 2018-62635 A
[Patentliteratur 2] Ungeprüfte japanische Patentveröffentlichung Nr. JP 2012-231779 A

Zusammenfassung der Erfindung
Technisches Problem
In einem solchen, oben beschriebenen Verfahren kann die Position des Flüssigkeitsstands eines ausgefällten Teils beispielsweise von einem Arbeiter visuell gemessen werden. In diesem Fall besteht jedoch die Sorge, dass sich die Genauigkeit der Bewertung der Dispersionsstabilität aufgrund erheblicher Schwankungen der Messergebnisse in Bezug auf die Position des Flüssigkeitsspiegels des ausgefällten Teils verschlechtern kann.
Hinsichtlich eines Verfahrens, bei dem die Genauigkeit der Bewertung der Dispersionsstabilität verbessert wurde, ist eine Technologie zur Identifizierung der Position des Flüssigkeitsstandes eines ausgefällten Teils mittels Lichteinfall bekannt (siehe z.B. Patentliteratur 2). Bei einem solchen Verfahren wird die Position des Flüssigkeitsstands eines ausgefällten Teils durch Änderung der Einfallsposition des Lichts auf eine Probe (durch Überstreichen des Lichts in Bezug auf die Probe) ermittelt. Wenn jedoch die Einfallsposition des Lichts geändert wird, ist ein Mechanismus oder ähnliches zur Änderung der Einfallsposition des Lichts erforderlich. Infolgedessen besteht die Sorge, dass eine Vorrichtung in ihrer Gesamtheit kompliziert werden könnte.
Eine Aufgabe der vorliegenden Offenbarung ist es, ein Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren und ein Dispersionsstabilitäts-Vergleichserfahren bereitzustellen, bei dem die Dispersionsstabilität eines Dispersoids mit hoher Genauigkeit und einfacher Zusammensetzung bewertet werden kann.
Lösung des Problems
Ein Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß einem Aspekt der vorliegenden Offenbarung ist ein Verfahren zur Bewertung der Dispersionsstabilität eines in einem Dispersionsmedium dispergierten Dispersoids. Das Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren umfasst einen ersten Schritt, bei dem eine Probe, die das Dispersionsmedium und das Dispersoid enthält, auf einer reflektierenden Oberfläche gehalten wird, und einen zweiten Schritt, bei dem Terahertz-Wellen von einer der Probe gegenüberliegenden Seite auf die reflektierende Oberfläche auftreffen und die von der reflektierenden Oberfläche reflektierten Terahertz-Wellen detektiert werden. Im zweiten Schritt wird, während ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem sich das Dispersoid auf die reflektierende Oberfläche zubewegen kann, eine Vielzahl von Erfassungsergebnissen erfasst, die jeweils einer Vielzahl von Zeitpunkten entsprechen, die voneinander getrennt sind.
Im zweiten Schritt dieses Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren werden, während ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem sich das Dispersoid auf die reflektierende Oberfläche zubewegen kann, eine Vielzahl von Erfassungsergebnissen erfasst, die jeweils einer Vielzahl von Zeitpunkten entsprechen, die voneinander getrennt sind. Dementsprechend kann auf Basis der zeitlichen Änderung der Frequenzcharakteristiken, die unter Verwendung der Erfassungsergebnisse berechnet werden, eine Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids in Richtung der reflektierenden Oberfläche festgestellt werden, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids kann bewertet werden. Darüber hinaus werden in einem zweiten Schritt die oben beschriebenen Detektionsergebnisse durch Einstrahlung und Detektion von Terahertz-Wellen gewonnen. Aus diesem Grund kann z.B. im Vergleich zu einer visuellen Messung die Dispersionsstabilität des Dispersoids mit hoher Genauigkeit bewertet werden. Darüber hinaus wird im zweiten Schritt die Dispersionsstabilität des Dispersoids wie oben beschrieben bewertet, indem Terahertz-Wellen von einer der Probe gegenüberliegenden Seite auf die reflektierende Oberfläche einfallen und die von der reflektierenden Oberfläche reflektierten Terahertz-Wellen erfasst werden. Dementsprechend kann z.B. die Dispersionsstabilität des Dispersoids im Vergleich zu einer veränderten Einfallsposition des Lichts auf die Probe mit einer einfachen Konstitution bewertet werden. Wie oben beschrieben, kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids gemäß dieser Methode zur Bewertung der Dispersionsstabilität mit hoher Genauigkeit und einer einfachen Zusammensetzung bewertet werden.
Das vorstehende Dispersionsstabilitäts-Evaluierungverfahren kann ferner einen dritten Schritt zur Berechnung einer Vielzahl von Frequenzcharakteristika, die jeweils der Vielzahl von Zeiten entsprechen, auf Basis jedes der Vielzahl von Detektionsergebnissen und einen vierten Schritt zur Ermittlung einer Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids in Richtung der reflektierenden Oberfläche auf Basis der zeitlichen Änderung der Vielzahl von Frequenzcharakteristika beinhalten. Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids auf Basis der Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids in Richtung der reflektierenden Oberfläche bewertet werden.
Im dritten Schritt kann ein Absorptionsspektrum der Probe in Bezug auf die Terahertz-Wellen als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken berechnet werden. Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids anhand des Absorptionsspektrums bewertet werden.
Im dritten Schritt kann ein Brechungsindexspektrum der Probe in Bezug auf die Terahertz-Wellen als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken berechnet werden. Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids anhand des Brechungsindexspektrums bewertet werden.
Im dritten Schritt kann eine Absorption der Probe in Bezug auf die Terahertz-Wellen als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken berechnet werden. Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids anhand der Extinktion bewertet werden. Darüber hinaus kann der Aufbau einer Lichtquelle und dergleichen der Vorrichtung vereinfacht werden, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids kann mit einem einfacheren Aufbau bewertet werden.
Im vierten Schritt kann ein Wert innerhalb eines Spitzenfrequenzbereichs, der dem Dispersoid entspricht, als jede der mehreren Frequenzcharakteristika verwendet werden. Dementsprechend können Informationen, die dem Dispersoid in der Probe entsprechen, genauer erfasst werden, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids kann genauer bewertet werden.
Im vierten Schritt kann ein Wert innerhalb eines Basisfrequenzbereichs, der sich von dem, dem Dispersoid entsprechenden Spitzenfrequenzbereich unterscheidet, als jede der mehreren Frequenzcharakteristika verwendet werden. Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität auch für Dispersoide bewertet werden, die keine Absorptionsspitze in Bezug auf die auf die reflektierende Oberfläche einfallenden Terahertz-Wellen aufweisen.
Das Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren kann ferner einen fünften Schritt des Rührens der Probe in einem Zustand umfassen, in dem die Probe auf der reflektierenden Oberfläche gehalten wird. In diesem fünften Schritt kann die Stärke des Rührens eingestellt werden. Dementsprechend kann in einem Zustand, in dem die Probe auf der reflektierenden Oberfläche gehalten wird, das Dispersoid in dem Dispersionsmedium dispergiert werden, indem die Stärke des Rührens erhöht wird, und das Dispersoid kann sich in Richtung der reflektierenden Oberfläche bewegen, indem die Stärke des Rührens verringert wird. Aus diesem Grund kann ein Zustand, in dem sich die Dispersoide in Richtung der reflektierenden Oberfläche bewegen können, leicht aufrechterhalten werden.
Das Dispersionsmedium kann eine Flüssigkeit sein. Das Dispersoid kann ein Feststoff sein. Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität eines in einer Flüssigkeit dispergierten Feststoffs bewertet werden.
Im ersten Schritt kann die Probe so gehalten werden, dass sie der reflektierenden Oberfläche von der Oberseite in vertikaler Richtung in Bezug auf die reflektierende Oberfläche zugewandt ist. Im zweiten Schritt kann ein Zustand aufrechterhalten werden, in dem die Dispersoide in vertikaler Richtung zur reflektierenden Oberfläche hin ausgefällt werden können. Dementsprechend kann, wenn das spezifische Gewicht des Dispersoids größer als das spezifische Gewicht des Dispersionsmediums ist, die Bewegung des Dispersoids zur reflektierenden Oberfläche einfach realisiert werden.
Ein Dispersionsstabilitäts-Vergleichsverfahren gemäß einem anderen Aspekt der vorliegenden Offenbarung umfasst einen Schritt der Durchführung des vorstehenden Dispersionsstabilitäts-Bewertungsverfahrens für jede einer Vielzahl von Proben und einen Schritt des Vergleichs der Dispersionsstabilitäten der Vielzahl von Proben miteinander.
Nach diesem Dispersionsstabilitäts-Vergleichsverfahren, wie oben beschrieben, können die Dispersionsstabilitäten einer Vielzahl von Proben mit hoher Genauigkeit und einfacher Zusammensetzung miteinander verglichen werden.
Vorteilhafte Auswirkungen der Erfindung
Gemäß der vorliegenden Offenbarung ist es möglich, ein Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren und ein Dispersionsstabilitäts-Vergleichsverfahren bereitzustellen, bei dem die Dispersionsstabilität eines Dispersoids mit hoher Genauigkeit und mit einer einfachen Zusammensetzung bewertet werden kann.
Kurze Beschreibung der Zeichnungen

1 ist eine Ansicht des Aufbaus einer spektroskopischen Vorrichtung gemäß einer Ausführungsform.
2 ist eine Explosionsansicht einer umgebenden Struktur eines in 1 dargestellten Dispositionsbereichs.
3 ist eine Querschnittsansicht des in 2 dargestellten Dispositionsbereichs und Halters.
4 ist eine schematische Ansicht, die einen Bewegungszustand einer in einem Aufnahmeraum des Halters untergebrachten Probe illustriert.
5 ist eine Ansicht, die eine Vielzahl von Frequenzcharakteristiken illustriert, die jeweils einer Vielzahl von Zeiten entsprechen.
6 ist eine Ansicht, die eine zeitliche Veränderung der Frequenzcharakteristik illustriert.
7 ist eine Ansicht, die eine zeitliche Änderung der Frequenzcharakteristiken jeder einzelnen Probe aus einer Vielzahl von Proben illustriert.
8 ist ein Flussdiagramm eines Dispersionsstabilitäts-Vergleichsverfahrens gemäß dieser Ausführungsform.
9 ist eine Ansicht, die die jeweiligen Frequenzcharakteristiken eines Dispersionsmediums und der Probe in einem ersten Agitationszustand illustriert.
10 ist eine Ansicht, die eine Vielzahl von Frequenzcharakteristiken illustriert, die jeweils einer Vielzahl von Zeiten entsprechen.
11 ist eine Ansicht, die zweite Ableitungen der in 10 illustrierten Frequenzcharakteristiken illustriert.
12 ist eine Ansicht, die die zeitliche Veränderung der Frequenzcharakteristik illustriert.
13 ist eine Ansicht, die die zeitliche Änderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik veranschaulicht.
14 ist eine Ansicht, die die zeitliche Veränderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik jeder einzelnen Probe aus einer Vielzahl von Proben illustriert.
15 ist eine Ansicht, die die zeitliche Veränderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik jeder einzelnen Probe aus einer Vielzahl von Proben illustriert.
16 ist eine andere Ansicht, die die zeitliche Veränderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik illustriert.
17 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Änderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik für jede der Vielzahl von Proben illustriert.
18 ist eine Ansicht, die die Frequenzcharakteristiken entsprechend einer Vielzahl von Zeitpunkten illustriert.
19 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Veränderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik illustriert.
20 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Änderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik jeder der Vielzahl von Proben illustriert.
21 ist eine Ansicht des Aufbaus einer spektroskopischen Vorrichtung gemäß einem Modifikationsbeispiel.
22 ist eine Ansicht, die ein Verfahren zur Einstellung einer Frequenz bei Verwendung der in 21 dargestellten spektroskopischen Vorrichtung illustriert.
23 ist eine Ansicht, die ein Verfahren zur Berechnung einer Frequenzcharakteristik illustriert.
24 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Veränderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik illustriert.
25 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Veränderung des relativen Wertes einer Frequenzcharakteristik illustriert.

Beschreibung von Ausführungsform
Nachfolgend wird eine Ausführungsform der vorliegenden Offenbarung unter Bezugnahme auf die Zeichnungen im Detail beschrieben. In jedem der Diagramme werden die gleichen Bezugszeichen für gleiche oder entsprechende Teile verwendet, und eine doppelte Beschreibung wird weggelassen.
Spektroskopische Vorrichtung
Wie in 1 illustriert, umfasst eine spektroskopische Vorrichtung 1 einen Ausgabeabschnitt 20, einen Dispositionsbereich 30, einen Justierabschnitt 40, einen Reflexionsbereich 50, einen Detektionsabschnitt 60 und eine Verarbeitungseinheit 70. Die spektroskopische Vorrichtung 1 ist eine Vorrichtung zur Durchführung eines Spektroskopieverfahrens mit abgeschwächter Totalreflexion (ATR) unter Verwendung von Terahertz-Wellen.
Der Ausgabeabschnitt 20 gibt Terahertz-Wellen T aus. Konkret verfügt der Ausgabeabschnitt 20 über eine Lichtquelle 21, einen Verzweigungsbereich 22, einen Zerhacker 23, eine Vielzahl von Spiegeln M1 bis M3 und ein Element zur Erzeugung von Terahertz-Wellen 24. Die Lichtquelle 21 gibt Licht mittels Pulsschwingung ab. Beispielsweise gibt die Lichtquelle 21 einen gepulsten Laserstrahl mit einer Pulsbreite im Bereich Femtosekunden ab. Die Lichtquelle 21 ist also eine gepulste Femtosekunden-Laserlichtquelle.
Der Verzweigungsbereich 22 ist zum Beispiel ein Strahlteiler oder ähnliches. Der Verzweigungsbereich 22 bewirkt, dass die Lichtausgabe der Lichtquelle 21 in Pumplicht P1 und Sondenlicht P2 aufgeteilt wird. Der Zerhacker 23 lässt in einem regelmäßigen Zyklus abwechselnd und wiederholt das vom Verzweigungsabschnitt 22 ausgegebene Pumplicht P1 durch und sperrt es.
Jeder der Spiegel M1 bis M3 reflektiert nacheinander das Pumplicht P1, das den Zerhacker 23 durchlaufen hat. Das Pumplicht P1, das den Zerhacker 23 passiert hat, wird nacheinander von jedem der Spiegel M1 bis M3 reflektiert und fällt dann auf das Terahertz-Wellenerzeugungselement 24. Im Folgenden wird ein optisches System für das Pumplicht P1, das das Terahertz-Wellenerzeugungselement 24 von dem Verzweigungsabschnitt 22 erreicht, als „optisches Pumpsystem“ bezeichnet.
Das Terahertz-Wellenerzeugungselement 24 gibt die Terahertz-Wellen T aus, wenn das vom Spiegel M3 reflektierte Pumplicht P1 darauf einfällt. Das Terahertz-Wellenerzeugungselement 24 umfasst beispielsweise einen nichtlinearen optischen Kristall (z.B. ZnTe), ein photoleitendes Antennenelement (z.B. einen Lichtschalter, der GaAs verwendet), einen Halbleiter (z.B. InAs) oder einen Supraleiter. Wenn das Terahertz-Wellenerzeugungselement 24 einen nichtlinearen optischen Kristall enthält, erzeugt das Terahertz-Wellenerzeugungselement 24 die Terahertz-Wellen T aufgrund eines nichtlinearen optischen Phänomens, das als Reaktion auf den Einfall des Pumplichts P1 auftritt.
Die Terahertz-Wellen T haben Zwischeneigenschaften, die zwischen den Eigenschaften von Lichtwellen und Radiowellen liegen. Die Terahertz-Wellen T sind elektromagnetische Wellen mit einer Frequenz, die einem Zwischenbereich zwischen den Bereichen von Lichtwellen und Radiowellen entspricht. Die Terahertz-Wellen T haben eine Frequenz von etwa 0,01 THz bis 100 THz. Die Terahertz-Wellen T werden in einem gleichmäßigen Wiederholungszyklus erzeugt und haben eine Impulsbreite von etwa einigen Pikosekunden. Das Terahertz-Wellenerzeugungselement 24 erzeugt nämlich einen gepulsten Lichtzug mit einer Vielzahl von Terahertz-Wellen T, die in vorbestimmten Zeitabständen (Pulsintervallen) angeordnet sind. Im Folgenden wird ein optisches System, in dem die Terahertz-Wellen T vom Terahertz-Wellen-Erzeugungselement 24 einen Detektor 61 (der weiter unten beschrieben wird) erreichen, als „optisches Terahertz-Wellen-System“ bezeichnet.
Der Dispositionsbereich 30 ist zum Beispiel ein sogenanntes aplanatisches Prisma oder ähnliches. Der Dispositionsbereich 30 hat eine Einfallsfläche 30a, eine Emissionsfläche 30b, eine Reflexionsfläche 30c, eine erste subreflektierende Fläche 30d und eine zweite subreflektierende Fläche 30e. Die Einfallsfläche 30a und die Emissionsfläche 30b sind parallel zueinander. Die reflektierende Fläche 30c steht senkrecht zu der Einfallsfläche 30a und der Emissionsfläche 30b. In der vorliegenden Ausführungsform ist die Reflexionsfläche 30c in vertikaler Richtung nach oben gerichtet. Auf der Reflexionsfläche 30c ist eine Probe S angeordnet. Die erste subreflektierende Oberfläche 30d und die zweite subreflektierende Oberfläche 30e sind Oberflächen auf einer der reflektierenden Oberfläche 30c gegenüberliegenden Seite im Dispositionsbereich 30 und bilden einen vertieften Bereich. Eine von der ersten subreflektierenden Fläche 30d und der zweiten subreflektierenden Fläche 30e gebildete Fläche ist in Richtung der reflektierenden Fläche 30c vertieft.
Der Dispositionsbereich 30 ist transparent in Bezug auf die Terahertz-Wellen T, die von dem Terahertz-Wellenerzeugungselement 24 ausgegeben werden. Ein Brechungsindex des Dispositionsbereichs 30 ist höher als ein Brechungsindex der Probe S. Ein Material des Dispositionsbereichs 30 ist beispielsweise Silizium oder dergleichen. Die Terahertz-Wellen T, die auf die Einfallsfläche 30a des Dispositionsbereichs 30 einfallen, werden nacheinander von der ersten subreflektierenden Fläche 30d, der reflektierenden Fläche 30c und der zweiten subreflektierenden Fläche 30e reflektiert und dann von der Emissionsfläche 30b nach außen abgegeben. Informationen über ein Terahertz-Wellenband, das sich auf die Probe S bezieht, können durch Erfassen eines Dämpfungsreflexionsgrads von evaneszenten Wellen gewonnen werden, die ausgetreten sind, wenn die Terahertz-Wellen T von der reflektierenden Oberfläche 30c vollständig reflektiert werden.
Der Einstellabschnitt 40 hat eine Vielzahl von Spiegeln M4 bis M8. Das von dem Verzweigungsabschnitt 22 ausgegebene Sondenlicht P2 wird nacheinander von jedem der Spiegel M4 bis M8 reflektiert, wird weiter von dem Reflexionsbereich 50 reflektiert und fällt dann auf den Detektor 61. Der Reflexionsbereich 50 ist ein Spiegel. Im Folgenden wird ein optisches System für das Sondenlicht P2, das den Detektor 61 vom Verzweigungsabschnitt 22 erreicht, als „optisches Sondensystem“ bezeichnet.
Im Justierabschnitt 40 werden eine optische Weglänge zwischen dem Spiegel M4 und dem Spiegel M5 und eine optische Weglänge zwischen dem Spiegel M6 und dem Spiegel M7 durch Verschieben der Spiegel M5 und M6 eingestellt. Dementsprechend wird die optische Weglänge des optischen Systems der Sonde eingestellt. Der Justierabschnitt 40 justiert eine Differenz zwischen „einer optischen Weglänge, die durch Addieren der optischen Weglänge des optischen Terahertz-Wellen-Systems, das den Detektor 61 vom Terahertz-Wellen-Erzeugungselement 24 erreicht, zu der optischen Weglänge des optischen Pumpsystems, das das Terahertz-Wellen-Erzeugungselement 24 vom Verzweigungsabschnitt 22 erreicht“ und „der optischen Weglänge des optischen Sondensystems, das den Detektor 61 vom Verzweigungsabschnitt 22 erreicht“.
Der Detektionsabschnitt 60 detektiert die Terahertz-Wellen T, die von dem Dispositionsbereich 30 ausgegeben werden. Insbesondere hat der Detektionsabschnitt 60 den Detektor 61, einen I/V-Wandlungsverstärker 62, einen Lock-in-Verstärker 63 und einen A/D-Wandler 64. Wenn die vom Dispositionsbereich 30 ausgegebenen Terahertz-Wellen T und das vom Reflexionsbereich 50 reflektierte Sondenlicht P2 auf den Detektor 61 treffen, detektiert der Detektor 61 eine Korrelation zwischen den Terahertz-Wellen T und dem Sondenlicht P2.
Der Detektor 61 umfasst insbesondere eine photoleitende Antenne und dergleichen. Wenn das Sondenlicht P2 auf den Detektor 61 auftrifft, werden im Detektor 61 optische Träger erzeugt. Wenn die Terahertz-Wellen T auf den Detektor 61 einfallen, in dem optische Träger erzeugt werden, fließen die optischen Träger als Reaktion auf ein elektrisches Feld der Terahertz-Wellen T. Infolgedessen werden sie vom Detektor 61 als Strom ausgegeben. Die Menge des aus dem Detektor 61 abgegebenen Stroms hängt von der Intensität des elektrischen Feldes der Terahertz-Wellen T ab.
Ein Stromausgang des Detektors 61 wird in den I/V-Umwandlungsverstärker 62 eingegeben. Der I/V-Umwandlungsverstärker 62 wandelt einen Stromausgang des Detektors 61 in eine Spannung um, verstärkt dann die Spannung und gibt sie an den Lock-in-Verstärker 63 aus. Der Lock-in-Verstärker 63 erfasst synchron ein elektrisches Signal, das vom I/V-Umwandlungsverstärker 62 mit einer Wiederholungsfrequenz ausgegeben wird, die den Durchgang des Pumplichts P1 durch den Zerhacker 23 zulässt und sperrt. Der A/D-Wandler 64 wandelt ein analoges Signal aus dem Lock-in-Verstärker 63 in ein digitales Signal um. Ein vom Lock-in-Verstärker 63 ausgegebenes Signal hat einen Wert, der von der Intensität des elektrischen Feldes der Terahertz-Wellen T abhängt. Auf diese Weise detektiert der Detektionsabschnitt 60 eine Korrelation zwischen den Terahertz-Wellen T und dem Sondenlicht P2 und detektiert eine elektrische Feldamplitude der Terahertz-Wellen T.
Im Justierabschnitt 40 wird, wenn die optische Weglänge des optischen Sondensystems durch Einstellen der optischen Weglänge zwischen dem Spiegel M4 und dem Spiegel M5 und der optischen Weglänge zwischen dem Spiegel M6 und dem Spiegel M7 eingestellt wird, eine Differenz zwischen den jeweiligen Zeitpunkten der Terahertz-Wellen T und des Sondenlichts P2, das in den Detektor 61 eingegeben wird, eingestellt. Wie oben beschrieben, beträgt die Pulsbreite der Terahertz-Wellen T im Allgemeinen etwa Pikosekunden, während die Pulsbreite des Sondenlichts P2 etwa Femtosekunden beträgt. Die Impulsbreite des Sondenlichts P2 ist also um mehrere Stellen schmaler als die der Terahertz-Wellen T. Wenn der Justierabschnitt 40 einen Einfallszeitpunkt des Sondenlichts P2 auf dem Detektor 61 abtastet, erhält man daher eine Zeitwellenform der elektrischen Feldamplitude der Terahertz-Wellen T (die im Folgenden als „elektrische Feldwellenform" bezeichnet wird). Im Folgenden wird die Erfassung einer elektrischen Feldwellenform durch eine solche Technik einfach als „Erfassung einer elektrischen Feldwellenform“ bezeichnet.
Wenn der Einfallszeitpunkt des Sondenlichts P2 einmal überstrichen wird, erhält man eine Wellenform des elektrischen Feldes einer Terahertz-Welle T, die einer vorbestimmten Zeit entspricht. In der vorliegenden Ausführungsform wird der Einfallszeitpunkt des Sondenlichts P2 auf dem Detektor 61 durch den Einstellabschnitt 40 mehrfach durchlaufen. Dementsprechend wird eine Vielzahl von Wellenformen des elektrischen Feldes erhalten. Der Detektionsabschnitt 60 erfasst nämlich Daten, die eine Vielzahl von elektrischen Feldwellenformen (Detektionsergebnisse) umfassen, die jeweils einer Vielzahl von Zeitpunkten entsprechen, die voneinander getrennt sind.
Die Verarbeitungseinheit 70 erfasst Informationen, die sich auf die Probe S beziehen, auf Basis einer Vielzahl von elektrischen Feldwellenformen, die von dem Detektionsabschnitt 60 erfasst werden. Insbesondere berechnet die Verarbeitungseinheit 70 eine Frequenzcharakteristik, die jeder elektrischen Feldwellenform entspricht, auf Basis eines vom A/D-Wandler 64 ausgegebenen Signals. Eine Frequenzcharakteristik gibt eine optische Charakteristik in Bezug auf eine Frequenz an. Eine optische Eigenschaft ist ein Lichtabsorptionsvermögen, ein Lichtreflexionsvermögen, eine Lichtdurchlässigkeit oder ähnliches. Eine Frequenzcharakteristik ist zum Beispiel ein Absorptionsspektrum. Die Verarbeitungseinheit 70 erfasst Informationen über die Probe S auf Basis der einzelnen Frequenzcharakteristika. Dementsprechend misst die spektroskopische Vorrichtung 1 die zeitliche Veränderung der Probe S. Die Verarbeitungseinheit 70 besteht aus einer zentralen Verarbeitungseinheit (CPU), einem Festwertspeicher (ROM), einem Direktzugriffsspeicher (RAM) und dergleichen.
Umgebungsstruktur des Dispositionsbereichs
Wie in 2 illustriert, umfasst die spektroskopische Vorrichtung 1 ferner eine Bewegungseinheit 10 als Umgebungsstruktur des Dispositionsbereichs 30. Die Bewegungseinheit 10 besteht aus einer Grundplatte 11, einem Paar von Stützkörpern 14, einem Halter 15, einem Dichtungselement 16, einem Befestigungsbereich 17 und einem Beweger 18. Die Grundplatte 11 hält den Dispositionsbereich 30. Die reflektierende Oberfläche 30c des Dispositionsbereichs 30 (siehe 1) schneidet eine Z-Achsenrichtung (vertikale Richtung). Die reflektierende Fläche 30c ragt aus einer vorderen Fläche 11a der Grundplatte 11 heraus. Die Einfallsfläche 30a des Dispositionsbereichs 30 (siehe 1) schneidet eine X-Achsenrichtung. Das Einfallen der Terahertz-Wellen T auf die Einfallsfläche 30a des Dispositionsbereichs und die Emission der Terahertz-Wellen T von der Emissionsfläche 30b können auf einer Rückflächenseite 11b der Grundplatte 11 erfolgen.
Jeder der Stützkörper 14 ist an der Vorderfläche 11a der Grundplatte 11 befestigt. Das Paar von Stützkörpern 14 ist auf beiden Seiten in einer Y-Achsenrichtung in Bezug auf den Dispositionsbereich 30 angeordnet. Beispielsweise weist jeder der Stützkörper 14 eine rechtwinklige Parallelepipedform mit der X-Achsenrichtung als Längsrichtung auf. In jedem der Stützkörper 14 ist auf einer Platzierungsfläche 14a auf einer der Grundplatte 11 gegenüberliegenden Seite ein Loch 14b ausgebildet.
Der Halter 15 ist beispielsweise ein Behälter, der die Form eines rechteckigen Parallelepipeds hat. Der Halter 15 umfasst einen Aufnahmeraum 15c zur Aufnahme der Probe S (siehe 3). Der Halter 15 ist auf der reflektierenden Oberfläche 30c des Dispositionsbereichs 30 zwischen dem Paar von Stützkörpern 14 angeordnet. Das Dichtungselement 16 ist zwischen dem Halter 15 und der reflektierenden Fläche 30c angeordnet.
Der Befestigungsbereich 17 beinhaltet einen Plattenkörper 171, einen Zylinderkörper 172 und ein Paar von Befestigungselementen 173. Zum Beispiel hat der Plattenkörper 171 die Y-Achsenrichtung als seine Längsrichtung und weist eine rechteckige Plattenform auf, die die Z-Achsenrichtung als seine Dickenrichtung hat. Eine Breite des Plattenkörpers 171 in der X-Achsen-Richtung ist im Wesentlichen die gleiche wie eine Breite jedes der Stützkörper 14 in der X-Achsen-Richtung, und eine Breite des Plattenkörpers 171 in der Y-Achsen-Richtung ist im Wesentlichen die gleiche wie ein Abstand zwischen Endflächen des Paares von Stützkörpern 14 in der Y-Achsen-Richtung (Endflächen auf einer Seite gegenüber dem Dispositionsbereich 30 in der Y-Achsen-Richtung).
Der Zylinderkörper 172 durchdringt den Plattenkörper 171. Der Zylinderkörper 172 zeigt beispielsweise eine rechteckige Zylinderform. Der Zylinderkörper 172 erstreckt sich in Richtung der Z-Achse. Die Breite des Zylinderkörpers 172 in Richtung der Y-Achse ist kleiner als der Abstand zwischen dem Paar von Stützkörpern 14 in Richtung der Y-Achse. Der Zylinderkörper 172 ist an dem Plattenkörper 171 befestigt.
Der Halter 15 ist in einem Innenraum des Zylinderkörpers 172 untergebracht. Eine Breite des Innenraums des Zylinderkörpers 172 in der X-Achsenrichtung ist etwas größer als eine Breite des Halters 15 in der X-Achsenrichtung. Die Breite des Innenraums des Zylinderkörpers 172 in Richtung der Y-Achse ist geringfügig größer als die Breite des Halters 15 in Richtung der Y-Achse. Der Halter 15 kann in den Innenraum des Zylinderkörpers 172 in der Z-Achsen-Richtung eingesetzt werden.
Die beiden Befestigungselemente 173 sind auf beiden Seiten in Richtung der Y-Achse in Bezug auf den Zylinderkörper 172 angeordnet. Jedes der Befestigungselemente 173 durchdringt den Plattenkörper 171. Der Plattenkörper 171 wird in einem Zustand, in dem der Halter 15 in den Innenraum des Zylinderkörpers 172 eingeführt ist, auf die Aufstellfläche 14a jedes der Stützkörper 14 gelegt. Jedes der Befestigungselemente 173 ist an dem Loch 14b jedes der Trägerkörper 14 befestigt. Dementsprechend ist der Halter 15 an dem Dispositionsbereich 30 befestigt.
Der Beweger 18 hat eine Welle 181, einen Propeller 182, eine Antriebseinheit 183 und ein Einstellelement 184. Die Welle 181 erstreckt sich in Richtung der Z-Achse. Der Propeller 182 ist an einem Endabschnitt der Welle 181 befestigt. Der Propeller 182 ist innerhalb des Aufnahmeraums 15c des Halters 15 angeordnet (siehe 3). Die Antriebseinheit 183 ist im anderen Endabschnitt der Welle 181 vorgesehen.
Die Antriebseinheit 183 hat einen Motor oder ähnliches zum Drehen der Welle 181. Das Einstellelement 184 ist an der Außenseite der Antriebseinheit 183 vorgesehen. Das Einstellelement 184 ist ein Knopf zum Steuern einer Drehfrequenz des Motors. Ein Arbeiter kann die Drehfrequenz des Motors durch Drehen des Einstellelements 184 steuern.
Wie in 3 dargestellt, ist der Halter 15 auf einer Oberseite in Z-Achsenrichtung in Bezug auf den Dispositionsbereich 30 angeordnet. Der Halter 15 umfasst Hauptflächen 15a und 15b, die in Richtung der Z-Achse einander gegenüberliegenden Seiten zugewandt sind. Die Hauptfläche 15a ist der reflektierenden Fläche 30c des Dispositionsbereichs 30 in der Z-Achsenrichtung zugewandt. Die Hauptfläche 15a kommt mit der reflektierenden Fläche 30c in Berührung. Der Halter 15 umfasst den Aufnahmeraum 15c. Der Aufnahmeraum 15c umfasst einen ersten Zylinderabschnitt 15g, einen zweiten Zylinderabschnitt 15e und einen verjüngten Abschnitt 15d. Der erste Zylinderabschnitt 15g öffnet sich zur Hauptfläche 15b. Der zweite Zylinderabschnitt 15e öffnet sich an der Hauptfläche 15a. Der erste Zylinderabschnitt 15g und der zweite Zylinderabschnitt 15e weisen beispielsweise eine zylindrische Form auf. Die Breite des zweiten Zylinderabschnitts 15e ist kleiner als die Breite des ersten Zylinderabschnitts 15g.
Der verjüngte Abschnitt 15d ist zwischen dem ersten Zylinderabschnitt 15g und dem zweiten Zylinderabschnitt 15e angeordnet. Der verjüngte Abschnitt 15d ist mit einem Endabschnitt des ersten Zylinderabschnitts 15g an der Seite des zweiten Zylinderabschnitts 15e und einem Endabschnitt des zweiten Zylinderabschnitts 15e an der Seite des ersten Zylinderabschnitts 15g verbunden. Der verjüngte Abschnitt 15d weist eine Kegelstumpfform auf, die sich vom ersten Zylinderabschnitt 15g zum zweiten Zylinderabschnitt 15e hin verjüngt.
Der Halter 15 umfasst einen vertieften Abschnitt 15f, der an der Hauptfläche 15a ausgebildet ist. Das Dichtungselement 16 ist in dem ausgesparten Abschnitt 15f angeordnet. Das Dichtungselement 16 umfasst ein Durchgangsloch. Die Breite des Durchgangslochs des Dichtungselements 16 ist im Wesentlichen die gleiche wie die Breite des zweiten Zylinderabschnitts 15e. Das Dichtungselement 16 dichtet einen Spalt zwischen dem Halter 15 und dem Dispositionsbereich 30 ab.
Die Probe S wird in dem Aufnahmeraum 15c untergebracht. Die Probe S wird von dem Halter 15 so gehalten, dass sie der reflektierenden Oberfläche 30c von der Oberseite in Richtung der Z-Achse in Bezug auf die reflektierende Oberfläche 30c zugewandt ist. Die Probe S kommt in Kontakt mit der reflektierenden Oberfläche 30c. Die Terahertz-Wellen T werden von einem Teil der reflektierenden Oberfläche 30c reflektiert, mit dem die Probe S in Kontakt kommt. Die Detektionsergebnisse, die durch die Erfassung der von der reflektierenden Oberfläche 30c reflektierten Terahertz-Wellen T gewonnen werden, sind Ergebnisse, die sich auf die Probe S in einer Position nahe der reflektierenden Oberfläche 30c beziehen.
Die Probe S enthält ein Dispersionsmedium Sa und ein Dispersoid Sb. Das Dispersionsmedium Sa ist eine Flüssigkeit. In der vorliegenden Ausführungsform ist das Dispersionsmedium Sa zum Beispiel Wasser. Dem Dispersionsmedium Sa wird zum Beispiel ein Dispergiermittel oder ähnliches beigemischt. In der vorliegenden Ausführungsform ist das Dispergiermittel z.B. ein Tensid. Bei den Dispersoiden Sb handelt es sich um suspendierte Stoffe, die sich in dem Dispersionsmedium Sa wahrscheinlich nicht auflösen. Die Dispersoide Sb sind fest. Die Dispersoide Sb sind zum Beispiel Pulver. Das spezifische Gewicht des Dispersoids Sb ist größer als das spezifische Gewicht des Dispersionsmediums Sa.
Wie in 4(a) illustriert, werden die Dispersoide Sb in dem Dispersionsmedium Sa dispergiert, wenn die Stärke des Bewegens der Probe S aufgrund einer vergleichsweise hohen Rotationsfrequenz des Propellers 182 in einem vergleichsweise signifikanten Zustand ist (der im Folgenden als „erster Rührzustand“ bezeichnet wird). In dem ersten Agitierzustand wird ein Zustand aufrechterhalten, in dem die Dispersoide Sb in dem Dispersionsmedium Sa vergleichsweise homogen dispergiert sind (im Folgenden als „dispergierter Zustand“ bezeichnet). In dem dispergierten Zustand, da die Menge des Dispersoids Sb, das in der Probe S an einer Position nahe der reflektierenden Oberfläche 30c (in der vorliegenden Ausführungsform der zweite Zylinderabschnitt 15e und der verjüngte Abschnitt 15d) enthalten ist, vergleichsweise klein wird, kann ein Detektionsergebnis nahe dem des Dispersionsmediums Sa erzielt werden.
Wie in 4(b) illustriert, können sich die Dispersoide Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c bewegen, wenn die Stärke der Bewegung der Probe S aufgrund einer vergleichsweise niedrigen Rotationsfrequenz des Propellers 182 in einem Zustand ist, der kleiner ist als der erste Agitierzustand (der im Folgenden als „ein zweiter Agitierzustand“ bezeichnet wird). Die Dispersoide Sb werden in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c in Richtung der Z-Achse abgeschieden. Die Dispersoide Sb werden auf der reflektierenden Oberfläche 30c abgelagert. Im zweiten Agitierzustand wird ein Zustand aufrechterhalten, in dem sich die Dispersoide Sb zur reflektierenden Oberfläche 30c bewegen (im Folgenden als „ Agitierzustand" bezeichnet). In der vorliegenden Ausführungsform ist der zweite Agitierzustand ein Zustand, in dem die Drehung des Propellers 182 gestoppt ist. In der vorliegenden Ausführungsform wird der Bewegungszustand durch Anhalten der Drehung des Propellers 182 aufrechterhalten. Da im Bewegungszustand die Menge des Dispersoids Sb, das in der Probe S an einer Position nahe der reflektierenden Oberfläche 30c enthalten ist, mit der Zeit zunimmt, kann ein Erfassungsergebnis erzielt werden, das dem des Dispersoids Sb nahe kommt.
5 ist eine Ansicht, die die Frequenzcharakteristiken der Probe S beim Wechsel vom ersten Rührzustand zum zweiten Rührzustand zeigt. Jede der in 5 dargestellten Frequenzcharakteristiken L1, L2 und L3 wird auf Basis des Detektionsergebnisses berechnet, das jeweils zu einer Vielzahl von Zeitpunkten im Abstand voneinander erfasst wird. In 5 gibt die vertikale Achse die optische Charakteristik und die horizontale Achse die Frequenz an. In der vorliegenden Ausführungsform sind die optischen Charakteristika Absorptionskoeffizienten. Die Frequenzcharakteristika L1, L2 und L3 sind Absorptionsspektren. Die Frequenzcharakteristik L1 entspricht dem ersten Rührzustand. Die Frequenzcharakteristika L2 und L3 entsprechen dem zweiten Agitierzustand.
Wie in 5 illustriert, steigt die Frequenzcharakteristik L1 mit zunehmender Frequenz gleichmäßig an. Dies liegt daran, dass sich die Probe S im ersten Agitierzustand im dispergierten Zustand befindet (siehe z.B. 4(a)), so dass ein Detektionsergebnis erzielt wird, das dem des Dispersionsmediums Sa nahe kommt. Der Spitzenfrequenzbereich F ist ein Frequenzband, das dem Dispersoid Sb entspricht und einem eindeutigen Peak entspricht, der aus dem Dispersoid Sb abgeleitet ist. Die Frequenzcharakteristik L2 enthält einen Peak P2 im Spitzenfrequenzbereich F, und die Frequenzcharakteristik L3 enthält einen Peak P3 im Spitzenfrequenzbereich F. Dies ist darauf zurückzuführen, dass sich die Probe S im zweiten Agitierzustand im Bewegungszustand befindet (siehe z.B. 4(b)), so dass ein Erfassungsergebnis nahe dem des Dispersoids Sb erhalten wird. Die Größe des Peaks P3 ist größer als die Größe des Peaks P2. Dies liegt daran, dass sich die Probe S im zweiten Agitierzustand im Bewegungszustand befindet, so dass die Menge des Dispersoids Sb, das in der Probe S an einer Position nahe der reflektierenden Oberfläche 30c enthalten ist, mit der Zeit zunimmt.
„Ein Peak“ in einer Frequenzcharakteristik bezeichnet einen Teil einer Frequenzcharakteristik, in dem sich die Änderungsrate einer optischen Charakteristik in Reaktion auf eine Frequenzänderung ändert. Wenn beispielsweise in einem Fall, in dem die horizontale Achse die Frequenz und die vertikale Achse die optische Charakteristik anzeigt, ein Punkt, der eine optische Charakteristik anzeigt, die einer vorbestimmten Frequenz zwischen einer Frequenz und einer anderen Frequenz entspricht, auf der einen Seite oder der anderen Seite in Bezug auf eine Basislinie positioniert ist, die einen Punkt, der eine optische Charakteristik anzeigt, die der einen Frequenz entspricht, und einen anderen Punkt, der eine andere optische Charakteristik anzeigt, die der anderen Frequenz entspricht, verbindet, ist ein Teil zwischen der einen Frequenz und der anderen Frequenz in der Frequenzcharakteristik eine Spitze. Die Basislinie kann eine gerade Linie oder eine Kurve sein. Als anderes Beispiel ist in einem Fall, in dem die horizontale Achse die Frequenz und die vertikale Achse die optische Charakteristik anzeigt, wenn es einen Teil der Frequenzcharakteristik gibt, in dem sich die Änderungsrate einer optischen Charakteristik als Reaktion auf eine Frequenzänderung von einer positiven Zahl zu einer negativen Zahl ändert, oder einen Teil davon, in dem sie sich von einer negativen Zahl zu einer positiven Zahl ändert, eine Spitze der Frequenzcharakteristik.
„Eine Größe eines Peaks“ bezeichnet den Grad der Trennung eines Peaks von der Grundlinie. Wenn ein Peak deutlich von der Grundlinie abgesetzt ist, ist die Größe des Peaks signifikant. Ist ein Peak nur geringfügig von der Grundlinie entfernt, ist die Größe des Peaks klein. Wenn der längste Abstand zwischen einem Peak und der Basislinie signifikant ist, ist das Ausmaß des Peaks signifikant. Wenn der längste Abstand zwischen einem Peak und der Grundlinie gering ist, ist die Größe des Peaks gering. Die Frequenzen, die dem längsten Abstand entsprechen, können gleich oder unterschiedlich sein. Wenn die Fläche zwischen einem Peak und der Grundlinie groß ist, ist die Größe des Peaks groß. Wenn die Fläche zwischen einem Peak und der Grundlinie klein ist, ist die Größe des Peaks klein.
6 ist eine Ansicht, die die zeitliche Änderung der Größe eines Peaks illustriert. In 6 gibt die vertikale Achse die zweite Ableitung der Frequenzcharakteristik im Spitzenfrequenzbereich F (die im Folgenden einfach als „zweite Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F“ bezeichnet wird) an, und die horizontale Achse gibt die Zeit an. In 6 bezeichnet eine Zunahme der zweiten Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F eine Verringerung der Größe einer Spitze, und eine Verringerung der zweiten Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F eine Zunahme der Größe einer Spitze. Wie in 6 dargestellt, nimmt die zweite Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F während eines Zeitraums nach einer Zeit (die im Folgenden als „eine Verschiebungszeit“ bezeichnet wird) T0 (zweiter Agitierzustand) beim Verschieben vom ersten Agitierzustand zum zweiten Agitierzustand allmählich ab. Während des Zeitraums nach der Umschaltzeit T0 nimmt die Größe des Spitzenwerts mit der Zeit allmählich zu. Dies liegt daran, dass sich die Probe S während des Zeitraums nach der Verschiebungszeit T0 im Bewegungszustand befindet, so dass die Menge des in der Probe S an einer Position nahe der reflektierenden Oberfläche 30c enthaltenen Dispersoids Sb mit der Zeit zunimmt. Während des Zeitraums nach der Verschiebungszeit T0 behält die zweite Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F einen konstanten Wert bei, nachdem sie mit der Zeit allmählich abgenommen hat. Während des Zeitraums nach der Verschiebungszeit T0 behält die Größe der Spitze nämlich einen konstanten Wert bei, nachdem sie im Laufe der Zeit allmählich zugenommen hat. Dies liegt daran, dass sich die Menge des Dispersoids Sb, das in der Probe S an einer Position nahe der reflektierenden Oberfläche 30c enthalten ist, infolge der Ablagerung einer vorbestimmten Menge des Dispersoids Sb an einer Position nahe der reflektierenden Oberfläche 30c nicht mehr zeitlich ändert.
Basierend auf einer Periode ab der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Zeitpunkt T, zu dem die Größe des Peaks beginnt, einen konstanten Wert beizubehalten (im Folgenden „Ablagerungszeit“), kann eine Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb ermittelt und eine Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb bewertet werden. Mit zunehmender Zeitspanne zwischen dem Verschiebungszeitpunkt T0 und dem Ablagerungszeitpunkt T wird die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb verringert. Mit Sinken der Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb wird die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb verbessert. Mit anderen Worten, wenn die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb verringert wird, wird der dispergierte Zustand des Dispersoids Sb im Dispersionsmedium Sa stabil.
7 ist eine Ansicht, die die zeitliche Änderung der Größe des Spitzenwerts von jeder der mehreren Proben S1, S2 und S3 illustriert. In 7, ähnlich wie in 6, gibt die vertikale Achse die zweite Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F an, und die horizontale Achse gibt die Zeit an. Wie in 7 dargestellt, ist eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einer Ablagerungszeit T1 der Probe S1 länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zur Ablagerungszeit T2 der Probe S2, und die Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zur Ablagerungszeit T2 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einer Ablagerungszeit T3 der Probe S3. Es ist nämlich eine Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S1 niedriger als eine Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S2, und die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S2 ist niedriger als eine Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S3. Basierend auf den in 7 illustrierten Ergebnissen können die Dispersionsstabilitäten der Dispersoide Sb der Proben S1, S2 und S3 miteinander verglichen werden, indem die Bewegungsgeschwindigkeit der Dispersoide Sb der Proben S1, S2 und S3 miteinander verglichen wird. Da die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S1 geringer ist als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S2, ist die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S1 der Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S2 überlegen. Da die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S2 geringer ist als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S3, ist die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S2 höher als die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S3.
Dispersionsstabilitätsvergleichsverfahren
Als nächstes wird ein Dispersionsstabilitätsvergleichsverfahren beschrieben. Zunächst wird, wie in 8 illustriert, die Probe S vorbereitet (Schritt S1). In Schritt S1 wird die Probe S auf die reflektierende Oberfläche 30c des Dispositionsbereichs 30 gehalten. In Schritt S1 wird die Probe S so gehalten, dass die Probe S der reflektierenden Oberfläche 30c von der Oberseite in Richtung der Z-Achse in Bezug auf die reflektierende Oberfläche 30c gegenüberliegt. Insbesondere wird zunächst der Halter 15 mit Hilfe des Befestigungsabschnitts 17 an dem Dispositionsbereich 30 befestigt. Anschließend wird das Rührwerk 18 so angeordnet, dass der Propeller 182 in dem Aufnahmeraum 15c des Halters 15 positioniert ist.
Anschließend wird in einem Zustand, in dem die Probe S nicht im Aufnahmeraum 15c aufgenommen ist, eine Wellenform des elektrischen Referenzfeldes erfasst, indem die Terahertz-Wellen T veranlasst werden, auf die Einfallsfläche 30a aufzutreffen. Anschließend wird das Dispersionsmedium Sa, dem ein Dispersionsmittel beigemischt ist, in den Aufnahmeraum 15c eingeführt. Anschließend wird das Dispersionsmedium Sa durch Rotation des Propellers 182 agitiert. Die Rotationsfrequenz des Propellers 182 beträgt beispielsweise etwa 1.600 U/min. Anschließend werden in einem Zustand, in dem die Drehung des Propellers 182 aufrechterhalten wird, die Dispersoide Sb in den Aufnahmeraum 15c eingeführt. Dementsprechend wird das Dispersoid Sb in dem Dispersionsmedium Sa dispergiert. Der Schritt S1 entspricht einem ersten Schritt.
Anschließend wird die Probe S in einem Zustand bewegt, in dem die Probe S auf der reflektierenden Oberfläche 30c gehalten wird (Schritt S2). Insbesondere befindet sich die Probe S in Schritt S2 im ersten Rührzustand, indem die Rotationsfrequenz des Propellers 182 beibehalten wird. Schritt S2 ist ein Teil eines fünften Schritts. Anschließend werden die Terahertz-Wellen T veranlasst, von einer der Probe S gegenüberliegenden Seite auf die reflektierende Oberfläche 30c aufzutreffen, und die von der reflektierenden Oberfläche 30c reflektierten Terahertz-Wellen T werden detektiert (Schritt S3). In Schritt S3 werden die Terahertz-Wellen T veranlasst, durch den Ausgabeabschnitt 20 auf die Einfallsfläche 30a des Dispositionsbereichs 30 einzufallen, und es wird eine Korrelation zwischen den Terahertz-Wellen T, die durch den Detektionsabschnitt 60 von der Emissionsfläche 30b des Dispositionsbereichs 30 emittiert werden, und dem durch den Reflexionsbereich 50 reflektierten Probenlicht P2 erfasst. Dementsprechend wird eine Wellenform des elektrischen Feldes der Terahertz-Wellen T erfasst. In Schritt S3 wird bewirkt, dass die Terahertz-Wellen T kontinuierlich auf die reflektierende Oberfläche 30c auftreffen, und die von der reflektierenden Oberfläche 30c reflektierten Terahertz-Wellen T werden kontinuierlich erfasst. Dementsprechend wird eine Vielzahl von Wellenformen des elektrischen Feldes erfasst, die jeweils einer Vielzahl von Zeitpunkten entsprechen, die voneinander getrennt sind. Insbesondere wird in Schritt S3 eine Vielzahl von Wellenformen des elektrischen Feldes erfasst, indem der Einfallszeitpunkt des Sondenlichts P2 auf dem Detektor 61 durch den Justierabschnitt 40 mehrfach verschoben wird. In Schritt S3 wird eine Einfallsposition der Terahertz-Wellen T auf der Einfallsfläche 30a beibehalten. Das heißt, dass in Schritt S3 die Einfallsposition der Terahertz-Wellen T in Bezug auf die Probe S nicht verändert wird. Der Schritt S3 entspricht einem zweiten Schritt.
Anschließend wird die Stärke der Agitation eingestellt (Schritt S4). In Schritt S4 wird der Agitierzustand der Probe S vom ersten Agitierzustand in den zweiten Agitierzustand verschoben. Die Stärke der Agitation im zweiten Agitierzustand ist geringer als die Stärke der Agitation im ersten Agitierzustand. In Schritt S4 wird die Rotationsfrequenz des Propellers 182 reduziert. In Schritt S4 der vorliegenden Ausführungsform wird die Drehung des Propellers 182 gestoppt. In Schritt S4 wird ein Zustand aufrechterhalten, in dem sich die Dispersoide Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c bewegen können. In Schritt S4 wird ein Zustand aufrechterhalten, in dem die Dispersoide Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c in Richtung der Z-Achse abgeschieden werden können. Schritt S4 ist ein Teil des fünften Schritts.
In Schritt S3 werden die Terahertz-Wellen T auf die reflektierende Oberfläche 30c auftreffen und erfasst, während ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem sich die Dispersoide Sb auf die reflektierende Oberfläche 30c zubewegen können. In der vorliegenden Ausführungsform wird der Schritt S3 kontinuierlich während der Perioden der Durchführung von Schritt S1, Schritt S2 und Schritt S4 durchgeführt. Das heißt, dass während jeder Periode der Durchführung von Schritt S1, Schritt S2 und Schritt S4 eine Vielzahl von Detektionsergebnissen, die jeweils einer Vielzahl von Zeiten entsprechen, erfasst werden. In Schritt S3 werden eine Vielzahl von Detektionsergebnissen im ersten Agitierzustand und eine Vielzahl von Detektionsergebnissen im zweiten Agitierzustand erfasst.
Anschließend wird eine Vielzahl von Frequenzcharakteristika, die jeweils einer Vielzahl von Zeiten entsprechen, auf Basis jedes der Vielzahl von in Schritt S3 (Schritt S5) erfassten Detektionsergebnissen berechnet (erfasst). In der vorliegenden Ausführungsform wird in Schritt S5 ein Absorptionsspektrum der Probe S in Bezug auf die Terahertz-Wellen T als jede der mehreren Frequenzkennlinien berechnet. Wie in 9 illustriert, stimmt die Frequenzcharakteristik der Probe S im ersten Rührzustand im Wesentlichen mit der Frequenzcharakteristik des Dispersionsmediums Sa im ersten Rührzustand überein. Dies liegt daran, dass sich die Probe S im ersten Rührzustand im dispergierten Zustand befindet, so dass ein Detektionsergebnis erzielt wird, das dem des Dispersionsmediums Sa nahe kommt. 10 ist eine Ansicht, die eine Vielzahl von Frequenzcharakteristiken zeigt, die in Schritt S5 erfasst wurden. Wie in 10 illustriert, ändert sich die Vielzahl der Frequenzcharakteristiken im Laufe der Zeit. Darüber hinaus treten im Spitzenfrequenzbereich F mit Verstreichen der Zeit Spitzen der Frequenzcharakteristiken auf.
11 ist eine Ansicht, die zweite Ableitungen der in 10 illustrierten Frequenzcharakteristika illustriert. Wie in 11 illustriert, ändern sich die zweiten Ableitungen im Spitzenfrequenzbereich F mit der Zeit. In einem Basisfrequenzbereich B ist ein Absolutwert der zweiten Ableitung jeder der Frequenzcharakteristiken gleich oder kleiner als ein vorbestimmter Wert. In der vorliegenden Ausführungsform sind die Absolutwerte der zweiten Ableitungen im Basisfrequenzbereich B annähernd Null. Im Basisfrequenzbereich B enthält jede der Frequenzcharakteristiken keinen Peak (siehe 10). Der Basisfrequenzbereich B ist ein Frequenzband, das der Basislinie der Frequenzkennlinie entspricht. Der Basisfrequenzbereich B ist ein Bereich, der sich vom Spitzenfrequenzbereich F unterscheidet. Da zyklische Schwingungen (Welligkeiten, die sich von den aus dem Dispersoid Sb abgeleiteten Peaks unterscheiden) in den Analyseergebnissen aufgrund von während der Analyse (z.B. Fourier-Transformation) auftretenden Datendiskontinuitäten auftreten können, kann der Absolutwert der zweiten Ableitung im Basisfrequenzbereich B größer als Null sein. Schritt S5 entspricht einem dritten Schritt.
Anschließend wird auf Basis der zeitlichen Änderung einer Vielzahl von Frequenzcharakteristika die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c ermittelt (Schritt S6). In Schritt S6 wird als jede der mehreren Frequenzcharakteristika ein Wert innerhalb des Spitzenfrequenzbereichs F verwendet. In Schritt S6 wird die Größe der Spitze der Frequenzkennlinie als jede der mehreren Frequenzkennlinien verwendet. In Schritt S6 der vorliegenden Ausführungsform wird die zweite Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F als die Größe der Spitze verwendet. 12 ist eine Ansicht, die die zeitliche Änderung der zweiten Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F veranschaulicht. Wie in 12 dargestellt, nimmt die zweite Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F nach der Verschiebungszeit T0 im Laufe der Zeit allmählich ab.
In 13 gibt die vertikale Achse den relativen Wert der zweiten Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F (der im Folgenden als „relativer Spitzenwert“ bezeichnet wird) an, und die horizontale Achse gibt die Zeit an. Ein Spitzenrelativwert wird berechnet, indem der Absolutwert der zweiten Ableitung im Spitzenfrequenzbereich F durch den größten Wert der Absolutwerte einer Vielzahl von zweiten Ableitungen im Spitzenfrequenzbereich F geteilt wird. Der größte Wert des relativen Spitzenwerts ist 1. Wie in 13 illustriert, steigt der relative Spitzenwert während der Periode nach der Verschiebungszeit T0 allmählich über die Zeit an. Der Spitzenrelativwert behält einen konstanten Wert bei, nachdem er einen Referenzwert C erreicht hat. Der Zeitpunkt, an dem der Spitzenrelativwert den Referenzwert C erreicht, ist die Ablagerungszeit T. In der vorliegenden Ausführungsform beträgt der Referenzwert C beispielsweise 0,8. In Schritt S6 wird die Zeitspanne zwischen dem Verschiebungszeitpunkt T0 und dem Ablagerungszeitpunkt T als Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb ermittelt. Schritt S6 entspricht einem vierten Schritt. Jeder der vorstehenden Schritte entspricht einem Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren, zum Evaluieren der Dispersionsstabilität des in dem Dispersionsmedium Sa dispergierten Dispersoids Sb.
In der vorliegenden Ausführungsform werden die Schritte S1 bis S6 für jede einer Vielzahl von Proben S durchgeführt. Anschließend werden die Dispersionsstabilitäten der Vielzahl von Proben S miteinander verglichen (Schritt S7). 14 ist eine Ansicht, die die zeitliche Änderung der relativen Spitzenwerte der Proben S10, S20, S30 und S40 als eine Vielzahl von Proben S illustriert. Das Dispersionsmedium Sa der Proben S10, S20, S30 und S40 ist Wasser, und das Dispersoid Sb der Proben S10, S20, S30 und S40 ist Theophyllin-Monohydrat. Die Teilchengröße des Dispersionsmittels Sb beträgt beispielsweise 63 um oder weniger. Das Dispersionsmittel der Probe S10 ist Hydroxypropylmethylcellulose, das Dispersionsmittel der Probe S20 ist Hydroxypropylcellulose, und das Dispersionsmittel der Probe S30 ist Poloxamer. Die Konzentrationen der Dispersionsmittel der Proben S10, S20 und S30 sind identisch. Die Probe S40 enthält kein Dispersionsmittel.
Wie in 14 illustriert ist, ist eine Periode von der Verschiebungszeit T0 zu einer Ablagerungszeit T10 der Probe S10 länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 zu einer Ablagerungszeit T20 der Probe S20, die Periode von der Verschiebungszeit T0 zu der Ablagerungszeit T20 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 zu einer Ablagerungszeit T30 der Probe S30, und die Periode von der Verschiebungszeit T0 zu der Ablagerungszeit T30 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 zu einer Ablagerungszeit T40 der Probe S40. Es ist nämlich die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S10 geringer als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S20, die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S20 ist geringer als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S30, und die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S30 ist geringer als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S40.
Basierend auf den in 14 dargestellten Ergebnissen kann man sehen, dass die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S10 der Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S20 überlegen ist, die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S20 der Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S30 überlegen ist und die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S30 der Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S40 überlegen ist. In Abhängigkeit vom Dispersionsmittel zeigt sich nämlich, dass Hydroxypropylmethylcellulose der Hydroxypropylcellulose, Hydroxypropylcellulose dem Poloxamer überlegen ist, und Poloxamer dem Wasser (ohne Dispersionsmittel) überlegen ist.
15 ist eine Ansicht, die die zeitliche Änderung der relativen Peakwerte der Proben S50, S60 und S70 als eine Vielzahl von Proben S illustriert. Das Dispersionsmedium Sa der Proben S50, S60 und S70 ist Wasser, und das Dispersoid Sb jeder der Proben S50, S60 und S70 ist Nifedipin. Das Dispersionsmittel der Probe S50 ist Hydroxypropylmethylcellulose, das Dispersionsmittel der Probe S60 ist Hydroxypropylcellulose, und das Dispersionsmittel der Probe S70 ist Poloxamer.
Wie in 15 illustriert, ist eine Periode von der Verschiebungszeit T0 zu einer Ablagerungszeit T50 der Probe S50 länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einer Ablagerungszeit T60 der Probe S60, und die Periode von der Verschiebungszeit T0 zu der Ablagerungszeit T60 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 zu einer Ablagerungszeit T70 der Probe S70. Es ist nämlich die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S50 geringer als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S60, und die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S60 ist geringer als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb der Probe S70.
Basierend auf den in 15 illustrierten Ergebnissen ist zu sehen, dass die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S50 der Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S60 überlegen ist, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S60 der Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb der Probe S70 überlegen ist. Selbst wenn es sich bei den Dispersoiden Sb um Nifedipin handelt, ist festzustellen, dass Hydroxypropylmethylcellulose dem Dispersionsmittel Hydroxypropylcellulose und Hydroxypropylcellulose dem Dispersionsmittel Poloxamer überlegen ist. Jeder der vorgenannten Schritte entspricht der Methode des Dispersionsstabilitätsvergleichs zum Vergleich der Dispersionsstabilitäten der mehreren Proben S miteinander.
Wie oben beschrieben, wird in Schritt S3 (zweiter Schritt), während ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem sich die Dispersoide Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c bewegen können, eine Vielzahl von Erfassungsergebnissen, die jeweils einer Vielzahl von Zeitpunkten entsprechen, die voneinander getrennt sind, erfasst. Dementsprechend kann auf Basis der zeitlichen Änderung der Frequenzcharakteristiken, die unter Verwendung der Erfassungsergebnisse berechnet werden, die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c festgestellt werden, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb kann evaluiert werden. Darüber hinaus werden in Schritt S3 die oben beschriebenen Detektionsergebnisse vermittels Einfall und Detektion der Terahertz-Wellen T gewonnen. Aus diesem Grund kann z.B. im Vergleich zu einer visuellen Messung die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb mit hoher Genauigkeit evaluiert werden. Darüber hinaus wird in Schritt S3 die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb wie oben beschrieben evaluiert, indem die Terahertz-Wellen T von einer der Probe S gegenüberliegenden Seite auf die reflektierende Oberfläche 30c auftreffen und die von der reflektierenden Oberfläche 30c reflektierten Terahertz-Wellen T erfasst werden. In Schritt S3 wird nämlich die Einfallsposition der Terahertz-Wellen T in Bezug auf die Probe S beibehalten. Dementsprechend kann beispielsweise die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb im Vergleich zu einer Änderung der Einfallsposition des Lichts auf eine Probe (Licht wird in Bezug auf eine Probe geschwenkt) (siehe z.B. Patentliteratur 2) mit einer einfachen Zusammensetzung bewertet werden. Wie oben beschrieben, kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb mit einer einfachen Zusammensetzung mit hoher Genauigkeit bewertet werden.
Wenn beispielsweise Licht auf einen Behälter fällt, der eine Probe enthält, und das Verhältnis zwischen der Intensität des durchgelassenen Lichts und der Intensität des gestreuten Lichts gemessen wird (siehe z.B. Patentliteratur 2), kann sich die Genauigkeit der Messergebnisse aufgrund von Verunreinigungen des Behälters, Luftblasen in der Probe oder Ähnlichem verschlechtern. In Schritt S3 des Verfahrens zur Bewertung der Dispersionsstabilität der vorliegenden Offenbarung wird, da die Terahertz-Wellen T auf den Dispositionsbereich 30 einfallen, eine Verschlechterung der Messergebnisse aufgrund von Verunreinigungen des Halters 15, Luftblasen in der Probe S oder Ähnlichem eingedämmt.
Darüber hinaus kann es beispielsweise erforderlich sein, einen übergreifenden Lichtbereich zu sichern, wenn die Einfallsposition des Lichts auf eine Probe verändert wird (siehe z.B. Patentliteratur 2). Insbesondere, wenn die Größe des Dispersoids unterschiedlich ist, kann auch die Position des Flüssigkeitsspiegels eines abgeschiedenen Teils unterschiedlich sein. Wenn die Größe des Dispersoids einer Probe und die Größe des Dispersoids einer anderen Probe unterschiedlich sind, kann die Position des Flüssigkeitsspiegels des abgeschiedenen Teils der einen Probe und die Position des Flüssigkeitsspiegels des abgeschiedenen Teils der anderen Probe unterschiedlich sein. Um in einem solchen Fall die Position des Flüssigkeitsspiegels des ausgefällten Teils jeder einzelnen Probe aus einer Vielzahl von Proben genau zu identifizieren, ist es erforderlich, den Abtastbereich des Lichts zu vergrößern. In Schritt S3 des Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahrens gemäß der vorliegenden Offenbarung kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids mit unterschiedlichen Größen einfach bewertet werden, da die Einfallsposition der Terahertz-Wellen T in Bezug auf die Probe S beibehalten wird.
Das Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahrens beinhaltet den Schritt S5 des Berechnens einer Vielzahl von Frequenzcharakteristiken, die jeweils einer Vielzahl von Zeiten entsprechen, auf Basis jedes einer Vielzahl von Erfassungsergebnissen (dritter Schritt), und den Schritt S6 des Feststellens der Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c auf Basis der zeitlichen Änderung der Vielzahl von Frequenzcharakteristiken (vierter Schritt). Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb auf Basis der Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb zur reflektierenden Oberfläche 30c hin bewertet werden. Insbesondere kann z.B. im Vergleich zur visuellen Ermittlung der zeitlichen Änderung der Frequenzcharakteristiken (siehe z.B. Patentliteratur 2) die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb quantitativ ermittelt und die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb quantitativ evaluiert werden, indem die Zeitspanne von der Verschiebungszeit T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T quantifiziert wird.
In Schritt S5 wird das Absorptionsspektrum der Probe S in Bezug auf die Terahertz-Wellen T als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken berechnet. Entsprechend kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb unter Verwendung des Absorptionsspektrums evaluiert werden.
In Schritt S6 wird als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken ein Wert innerhalb des Spitzenfrequenzbereichs F, der dem Dispersoid Sb entspricht, verwendet. Dementsprechend können Informationen, die dem Dispersoid Sb in der Probe S entsprechen, genauer und direkter erfasst werden, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb kann genauer bewertet werden. Es ist z.B. auch denkbar, dass eine zeitliche Veränderung der Frequenzcharakteristik durch eine Auflösung des Dispersoids Sb im Dispersionsmedium Sa verursacht wird. Wird in einem solchen Fall z.B. ein Wert innerhalb des Basisfrequenzbereichs B verwendet, ist zu befürchten, dass es schwierig sein kann, zu unterscheiden, ob die zeitliche Änderung der Frequenzcharakteristik durch die Bewegung des Dispersoids Sb zur reflektierenden Oberfläche 30c verursacht wird, oder durch die Auflösung des Dispersoids Sb im Dispersionsmedium Sa verursacht wird. Wenn ein Wert innerhalb des Spitzenfrequenzbereichs F, der dem Dispersoid Sb entspricht, verwendet wird, ist es möglich zu unterscheiden, dass die zeitliche Änderung der Frequenzeigenschaften durch die Bewegung des Dispersoids Sb verursacht wird, so dass die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb genauer evaluiert werden kann. Darüber hinaus kann, wenn ein Wert innerhalb des Spitzenfrequenzbereichs F, der dem Dispersoid Sb entspricht, verwendet wird, selbst wenn der Absorptionskoeffizient des Dispersoids Sb und der Absorptionskoeffizient des Dispersionsmediums Sa im Wesentlichen gleich sind, die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb auf Basis der Änderung der Größe des Peaks bewertet werden. Außerdem kann ein kristalliner Zustand des Dispersoids Sb festgestellt werden, wenn ein dem Dispersoid Sb entsprechender Wert innerhalb des Peakfrequenzbereichs F verwendet wird.
Das Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren umfasst den Schritt S2 des Agitierens der Probe S in einem Zustand, in dem die Probe S auf der reflektierenden Oberfläche 30c gehalten wird (fünfter Schritt). In Schritt S4 (fünfter Schritt) wird die Stärke des Agitierens eingestellt. Dementsprechend kann in einem Zustand, in dem die Probe S auf der reflektierenden Oberfläche 30c gehalten wird, das Dispersoid Sb in dem Dispersionsmedium Sa dispergiert werden, indem die Stärke des Agitierens erhöht wird, und das Dispersoid Sb kann in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c bewegt werden, indem die Stärke des Agitierens verringert wird. Aus diesem Grund kann ein Zustand, in dem sich die Dispersoide Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c bewegen können, leicht beibehalten werden.
Das Dispersionsmedium Sa ist eine Flüssigkeit. Das Dispersoid Sb ist ein Feststoff. Dementsprechend kann die Dispersionsstabilität eines in einer Flüssigkeit dispergierten Feststoffs evaluiert werden.
In Schritt S1 (erster Schritt) wird die Probe S so gehalten, dass die Probe S der reflektierenden Oberfläche 30c von der Oberseite in Richtung der Z-Achse (vertikale Richtung) in Bezug auf die reflektierende Oberfläche 30c zugewandt ist. In Schritt S3 wird ein Zustand aufrechterhalten, in dem die Dispersoide Sb in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c in vertikaler Richtung abgeschieden werden können. Dementsprechend kann, wenn das spezifische Gewicht des Dispersoids Sb größer ist als das spezifische Gewicht des Dispersionsmediums Sa, die Bewegung des Dispersoids Sb zur reflektierenden Oberfläche 30c einfacher realisiert werden.
Gemäß dem oben beschriebenen Dispersionsstabilitäts-Vergleichsverfahren können die Dispersionsstabilitäten einer Vielzahl von Proben S mit hoher Genauigkeit und einfacher Zusammensetzung miteinander verglichen werden.
Modifikationsbeispiel
In der Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem in Schritt S6 ein Wert innerhalb des Spitzenfrequenzbereichs F als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken verwendet wird. In Schritt S6 kann jedoch auch ein Wert innerhalb des Basisfrequenzbereichs B als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika verwendet werden. In 16 gibt die vertikale Achse den relativen Wert der Frequenzcharakteristik im Basisfrequenzbereich B (der im Folgenden als „relativer Basiswert“ bezeichnet wird) an, und die horizontale Achse gibt die Zeit an. Der relative Basiswert wird durch Normierung der Frequenzcharakteristik im Basisfrequenzbereich B berechnet. Insbesondere wird der relative Basiswert so berechnet, dass der größte Wert der absoluten Werte der Vielzahl von Frequenzcharakteristiken im Basisfrequenzbereich B 1 wird und der kleinste Wert davon Null wird. Wie in 16 illustriert, nimmt der relative Basiswert während des Zeitraums nach der Verschiebungszeit T0 mit der Zeit allmählich ab. Der relative Basiswert behält einen konstanten Wert bei, nachdem er den Referenzwert C erreicht hat. D.h., der Zeitpunkt, an dem der relative Basiswert den Referenzwert C erreicht, ist die Ablagerungszeit T. Der Referenzwert C beträgt beispielsweise 0,2. Auf diese Weise kann, selbst wenn ein Wert innerhalb des Basisfrequenzbereichs B als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken verwendet wird, ähnlich wie bei der Verwendung eines Werts innerhalb des Spitzenfrequenzbereichs F, die Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zur Ablagerungszeit T als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb ermittelt werden. In diesem Fall kann die Dispersionsstabilität auch für das Dispersoid Sb bewertet werden, das keine Absorptionsspitze in Bezug auf die auf die reflektierende Oberfläche 30c einfallenden Terahertz-Wellen T aufweist.
17 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Änderung der relativen Basiswerte der Proben S10, S20, S30 und S40 als eine Vielzahl von Proben S illustriert. Wie in 17 dargestellt ist, ist eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T11 der Probe S10 länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T21 der Probe S20, die Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T21 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T31 der Probe S30, und die Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T31 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T41 der Probe S40. Auf diese Weise können die Dispersionsstabilitäten der Proben S10, S20, S30 und S40 miteinander verglichen werden, selbst wenn ein Wert innerhalb des Basisfrequenzbereichs B als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken verwendet wird, ähnlich wie wenn ein Wert innerhalb des Spitzenfrequenzbereichs F verwendet wird.
In der Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem in Schritt S5 das Absorptionsspektrum der Probe S in Bezug auf die Terahertz-Wellen T als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika berechnet wird. In Schritt S5 kann jedoch auch das Brechungsindexspektrum der Probe S in Bezug auf die Terahertzwellen T als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristiken berechnet werden. 18 ist eine Ansicht, die die Brechungsindexspektren als die Vielzahl der in Schritt S5 erfassten Frequenzcharakteristika illustriert. Wie in 18 illustriert, ändert sich die Mehrzahl der Frequenzcharakteristika im Laufe der Zeit. Darüber hinaus erscheint im Basisfrequenzbereich B auch nach Ablauf der Zeit kein Peak der Frequenzcharakteristika.
19 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Änderung des relativen Wertes (Basisrelativwert) einer Frequenzcharakteristik im Basisfrequenzbereich B illustriert. In 19 gibt die vertikale Achse den relativen Wert des Brechungsindexspektrums im Basisfrequenzbereich B an, und die horizontale Achse gibt die Zeit N. Wie in 19 illustriert, nimmt der relative Basiswert während des Zeitraums nach der Verschiebungszeit T0 mit der Zeit allmählich ab. Der relative Basiswert behält einen konstanten Wert bei, nachdem er den Referenzwert C erreicht hat. D.h., der Zeitpunkt, an dem der relative Basiswert den Referenzwert C erreicht, ist der Ablagerungszeitpunkt T. Auf diese Weise kann, selbst wenn das Brechungsindexspektrum als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken verwendet wird, ähnlich wie bei der Verwendung des Absorptionsspektrums, der Zeitraum vom Verschiebungszeitpunkt T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb ermittelt werden. Bei Verwendung des Brechungsindexspektrums können die Schwankungen in den Messergebnissen verringert werden, so dass die Dispersionsstabilität mit höherer Genauigkeit bewertet werden kann.
20 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Änderung der relativen Basiswerte der Proben S10, S20, S30 und S40 als eine Vielzahl von Proben S illustriert. Wie in 20 illustriert ist, ist eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T12 der Probe S10 länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T22 der Probe S20, die Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T22 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T32 der Probe S30, und die Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T32 ist länger als eine Periode von der Verschiebungszeit T0 bis zu einem Ablagerungszeitpunkt T42 der Probe S40. Auf diese Weise können die Dispersionsstabilitäten der Proben S10, S20, S30 und S40 miteinander verglichen werden, selbst wenn das Brechungsindexspektrum als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken verwendet wird, ähnlich wie bei der Verwendung des Absorptionsspektrums.
In der Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem in Schritt S5 das Absorptionsspektrum der Probe S in Bezug auf die Terahertz-Wellen T als jedes der Vielzahl von Frequenzcharakteristika berechnet wird. In Schritt S5 kann jedoch auch eine Absorption der Probe S in Bezug auf die Terahertz-Wellen T als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika berechnet werden. In diesem Fall wird eine in 21 dargestellte spektroskopische Vorrichtung 1A verwendet. Wie in 21 dargestellt, unterscheidet sich die spektroskopische Vorrichtung 1A von der spektroskopischen Vorrichtung 1 im Wesentlichen dadurch, dass sie anstelle des Ausgabeabschnitts 20 einen Ausgabeabschnitt 20A und anstelle des Detektionsabschnitts 60 einen Detektionsabschnitt 60A aufweist. Die spektroskopische Vorrichtung 1A enthält nicht den Justierabschnitt 40 und den Reflexionsbereich 50. Die spektroskopische Vorrichtung 1A umfasst den Ausgabeabschnitt 20A, einen Zerhacker 26, den Dispositionsbereich 30, den Detektionsabschnitt 60A und die Verarbeitungseinheit 70.
Der Ausgabeabschnitt 20A weist eine Vielzahl von Lichtquellen 25 auf. Jede der Lichtquellen 25 gibt die Terahertz-Wellen T mit einer einzigen Wellenlänge aus. Jede der Lichtquellen 25 gibt die Terahertz-Wellen T mit voneinander verschiedenen Frequenzen aus. Die Lichtquellen 25 sind zum Beispiel Rückwärtswellenröhren, Quantenkaskadenlaser oder ähnliches. Der Zerhacker 26 lässt die von der Lichtquelle 25 ausgegebenen Terahertz-Wellen T in einem regelmäßigen Zyklus abwechselnd und wiederholt durch und sperrt sie. Die aus dem Ausgabeabschnitt 20A ausgegebenen Terahertz-Wellen T fallen auf die Einfallsfläche 30a des Dispositionsbereichs 30, werden nacheinander von der ersten subreflektierenden Fläche 30d, der reflektierenden Fläche 30c und der zweiten subreflektierenden Fläche 30e reflektiert, werden dann von der Emissionsfläche 30b nach außen abgegeben und fallen auf den Detektionsabschnitt 60A.
Der Detektionsabschnitt 60A detektiert die Terahertz-Wellen T, die von dem Dispositionsbereich 30 ausgegeben werden. Insbesondere hat der Detektionsabschnitt 60A einen Detektor 65, den Lock-in-Verstärker 63 und den A/D-Wandler 64. Der Detektor 65 ist beispielsweise eine Golay-Zelle, ein Bolometer, eine Schottky-Barrierediode, eine Resonanz-Tunneldiode oder ähnliches. Ein vom Detektor 65 ausgegebenes elektrisches Signal wird in den Lock-in-Verstärker 63 eingegeben. Der Lock-in-Verstärker 63 erfasst synchron ein elektrisches Signal, das vom Detektor 65 mit einer Wiederholungsfrequenz ausgegeben wird, die es den Terahertz-Wellen T erlaubt, den Zerhacker 23 zu durchlaufen, und sperrt sie. Der A/D-Wandler 64 wandelt ein analoges Signal aus dem Lock-in-Verstärker 63 in ein digitales Signal um. Die Verarbeitungseinheit 70 berechnet auf Basis eines vom A/D-Wandler 64 ausgegebenen Signals eine Frequenzcharakteristik. Es kann sein, dass die spektroskopische Vorrichtung 1A keinen Zerhacker 26 und Lock-in-Verstärker 63 hat.
Bei dem Dispersionsstabilitäts-Vergleichsverfahren unter Verwendung der spektroskopischen Vorrichtung 1A fallen die Terahertz-Wellen T mit einer einzigen Wellenlänge auf die Probe S. Die Frequenz der Terahertz-Wellen T wird wie folgt bestimmt. 22 ist eine Ansicht, die eine zweite Ableitung des Absorptionsspektrums des Dispersoids Sb zeigt. Zunächst werden, wie in 22 illustriert, die Frequenzen f1 und f2 ermittelt, die einen Bereich der Spitze des Absorptionsspektrums des Dispersoids Sb definieren, und es wird eine Frequenz fp ermittelt, die dem größten Wert der Absolutwerte der Spitze zwischen den Frequenzen f1 und f2 entspricht. Anschließend wird, wie in 23 illustriert, jede der Terahertz-Wellen T mit einer Frequenz von fp, der Terahertz-Wellen T mit einer Frequenz von f1 und der Terahertz-Wellen T mit einer Frequenz von f2 auf die Probe S auftreffen.
Anschließend werden Ap, A1 und A2 als Frequenzcharakteristika berechnet, wenn die Frequenz fp, f1 und f2 ist. Ap, A1 und A2 sind Absorptionswerte. Anschließend wird Am auf Basis von Am=(A2-A1) × (fp-f1) / (f2-f1) +A1 berechnet. Anschließend wird eine Differenz zwischen Ap und Am als Größe des Peaks berechnet. Bei jeder der vielen Messungen wird die zeitliche Änderung der Größe des Peaks durch die Durchführung einer solchen Messung ermittelt. 24 ist eine weitere Ansicht, die die zeitliche Änderung des relativen Werts (Spitzenrelativwert) der Größe eines in 23 illustrierten Spitzenwerts illustriert. Der Spitzenrelativwert wird so berechnet, dass der größte Wert der Vielzahl von Frequenzcharakteristika 1 wird und der kleinste Wert davon Null wird. Wie in 24 illustriert, nimmt der Spitzenrelativwert während des Zeitraums nach der Verschiebungszeit T0 mit der Zeit allmählich zu. Der Spitzenrelativwert behält einen konstanten Wert bei, nachdem er den Referenzwert C erreicht hat. Der Zeitpunkt, an dem der Spitzenrelativwert den Referenzwert C erreicht, ist der Ablagerungszeitpunkt T. Der Referenzwert C beträgt beispielsweise 0,8. Auf diese Weise kann, auch wenn die Absorption als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken verwendet wird, z.B. ähnlich wie bei der Verwendung des Absorptionsspektrums, der Zeitraum von der Verschiebungszeit T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb ermittelt werden.
Selbst wenn die spektroskopische Vorrichtung 1A verwendet wird, kann in Schritt S6 ein Wert innerhalb des Basisfrequenzbereichs als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika verwendet werden. In 25 zeigt die vertikale Achse den relativen Wert (relativer Basiswert) der Absorption im Basisfrequenzbereich, und die horizontale Achse zeigt die Zeit. Wie in 25 dargestellt, nimmt der relative Basiswert während des Zeitraums nach der Verschiebungszeit T0 mit der Zeit allmählich ab. Der relative Basiswert behält einen konstanten Wert bei, nachdem er den Referenzwert C erreicht hat. Der Zeitpunkt, an dem der relative Basiswert den Referenzwert C erreicht, ist der Ablagerungszeitpunkt T. Der Referenzwert C ist beispielsweise 0,2. Auf diese Weise kann, selbst wenn die Absorption im Basisfrequenzbereich als jede der mehreren Frequenzcharakteristiken verwendet wird, die Zeitspanne von der Verschiebungszeit T0 bis zum Ablagerungszeitpunkt T als die Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids Sb ermittelt werden. In einem solchen Fall kann die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb anhand der Absorption evaluiert werden. Darüber hinaus kann der Aufbau der Lichtquelle und dergleichen der Vorrichtung vereinfacht werden, und die Dispersionsstabilität des Dispersoids Sb kann mit einem einfacheren Aufbau evaluiert werden. Außerdem kann die Analyse der Daten erleichtert werden.
In der Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem in Schritt S4 die Drehung des Propellers 182 gestoppt wird. In Schritt S4 kann jedoch die Rotationsfrequenz des Propellers 182 reduziert werden. In Schritt S4 muss lediglich ein Zustand aufrechterhalten werden, in dem dem Dispersoid Sb gestattet wird, sich in Richtung der reflektierenden Oberfläche 30c zu bewegen. In der vorliegenden Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem in Schritt S2 die Probe S durch die Rotation des Propellers 182 agitiert wird. Die Form des Agitierens der Probe S ist jedoch nicht beschränkt. In Schritt S2 kann beispielsweise, nachdem ein die Probe S aufnehmender Behälter in Schwingung versetzt wurde, der Behälter auf der reflektierenden Oberfläche 30c des Dispositionsbereichs 30 angeordnet werden. In diesem Fall kann es sein, dass die spektroskopische Vorrichtung 1 keinen Beweger 18 aufweist.
In der Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, in dem Schritt S3 während einer Periode der Durchführung von Schritt S1, Schritt S2 und Schritt S4 durchgeführt wird. Schritt S3 muss jedoch nur während eines Zeitraums der Durchführung von mindestens Schritt S4 durchgeführt werden. Das Auftreffen und die Detektion der Terahertz-Wellen T müssen nämlich nur dann durchgeführt werden, wenn sich zumindest die Probe S in dem Bewegungszustand befindet.
In der vorliegenden Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, bei dem das Dispersoid Sb fest ist. Das Dispersoid Sb kann aber auch eine Flüssigkeit sein, die mit dem Dispersionsmedium Sa unverträglich ist. Beispielsweise kann das Dispersoid Sb ein Öl sein. In der Ausführungsform wurde ein Beispiel beschrieben, in dem das spezifische Gewicht des Dispersoids Sb größer ist als das spezifische Gewicht des Dispersionsmediums Sa. Das spezifische Gewicht des Dispersoids Sb kann jedoch auch kleiner als das spezifische Gewicht des Dispersionsmediums Sa sein. In diesem Fall können in Schritt S3 die Detektionsergebnisse erfasst werden, während ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem die Dispersoide Sb in Richtung der Z-Achse schwimmen (vertikales Verfahren). Darüber hinaus ist die reflektierende Oberfläche 30c des Dispositionsbereichs 30 in der Z-Achsenrichtung nach unten gerichtet, und die Probe S wird durch den Halter 15 in einer Weise gehalten, dass sie der reflektierenden Oberfläche 30c von der unteren Seite in der Z-Achsenrichtung in Bezug auf die reflektierende Oberfläche 30c gegenüberliegt.
Die Temperatur der Probe S kann während einer Periode der Durchführung von mindestens Schritt S3 eingestellt werden. Dementsprechend kann die zeitliche Änderung der Frequenzeigenschaften der Probe S unter einer vorbestimmten Temperaturbedingung gemessen werden, indem die Temperatur der Probe S konstant gehalten wird. Daher können Informationen in Bezug auf die Probe S mit günstiger Reproduzierbarkeit erfasst werden.
Als optisches System der Detektionsabschnitte 60 und 60A kann ein optischer Interferenztyp verwendet werden. In diesem Fall kann ein Absorptionsspektrum der Terahertz-Wellen T direkt erfasst werden, ohne dass eine Wellenform des elektrischen Feldes der Terahertz-Wellen T durch die Detektionsabschnitte 60 und 60A erfasst wird.
Bezugszeichenliste

30c: Reflektierende Oberfläche
B: Basisfrequenzbereich
F: Spitzenfrequenzbereich
S: Probe
Sa: Dispersionsmedium
Sb: Dispersoid
T: Terahertz-Wellen

ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur

JP 201862635 A [0002]
JP 2012231779 A [0002]

Claims

Verfahren zur Bewertung einer Dispersionsstabilität eines in einem Dispersionsmedium dispergierten Dispersoids, wobei das Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren umfasst: einen ersten Schritt des Haltens einer Probe, die das Dispersionsmedium und das Dispersoid enthält, auf einer reflektierenden Oberfläche; und einen zweiten Schritt, bei dem Terahertz-Wellen veranlasst werden, von einer der Probe gegenüberliegenden Seite auf die reflektierende Oberfläche einzufallen, und die von der reflektierenden Oberfläche reflektierten Terahertz-Wellen zu detektieren, wobei im zweiten Schritt, während ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem sich die Dispersoide in Richtung der reflektierenden Oberfläche bewegen können, eine Vielzahl von Detektionsergebnissen, die jeweils einer Vielzahl von Zeitpunkten entsprechen, die voneinander entfernt sind, erfasst werden.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß Anspruch 1, weiter umfassend: einen dritten Schritt der Berechnung einer Vielzahl von Frequenzcharakteristika, die jeweils der Vielzahl von Zeiten entsprechen, auf Basis jedes der Vielzahl von Detektionsergebnissen; und einen vierten Schritt der Ermittlung einer Bewegungsgeschwindigkeit des Dispersoids in Richtung der reflektierenden Oberfläche auf Basis der zeitlichen Änderung der Vielzahl von Frequenzcharakteristika.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß Anspruch 2, wobei im dritten Schritt ein Absorptionsspektrum der Probe in Bezug auf die Terahertz-Wellen als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika berechnet wird.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß Anspruch 2, wobei im dritten Schritt ein Brechungsindexspektrum der Probe in Bezug auf die Terahertz-Wellen als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika berechnet wird.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß Anspruch 2, wobei im dritten Schritt eine Absorption der Probe in Bezug auf die Terahertz-Wellen als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika berechnet wird.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 5, wobei im vierten Schritt ein Wert innerhalb eines Spitzenfrequenzbereichs, der dem Dispersoid entspricht, als jedes der Vielzahl von Frequenzcharakteristika verwendet wird.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß einem der Ansprüche 2 bis 5, wobei im vierten Schritt ein Wert innerhalb eines Basisfrequenzbereichs, der sich von dem, dem Dispersoid entsprechenden Spitzenfrequenzbereich unterscheidet, als jede der Vielzahl von Frequenzcharakteristika verwendet wird.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 7, weiter umfassend: einen fünften Schritt, bei dem die Probe in einem Zustand bewegt wird, in dem sie auf der reflektierenden Oberfläche gehalten wird, wobei im fünften Schritt die Stärke des Rührens eingestellt wird.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei das Dispersionsmedium eine Flüssigkeit ist, und wobei das Dispersoid fest ist.
Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei im ersten Schritt die Probe so gehalten wird, dass die Probe der reflektierenden Oberfläche von der Oberseite in der vertikalen Richtung in Bezug auf die reflektierende Oberfläche gegenüberliegt, und wobei im zweiten Schritt ein Zustand aufrechterhalten wird, in dem sich das Dispersoid in vertikaler Richtung auf die reflektierende Oberfläche niederschlagen kann.
Dispersionsstabilitäts-Vergleichsverfahren, umfassend: einen Schritt der Durchführung des Dispersionsstabilitäts-Evaluierungsverfahren gemäß nach einem der Ansprüche 1 bis 10 für jede einer Vielzahl von Proben; und einen Schritt des Vergleichs der Dispersionsstabilitäten der mehreren Proben untereinander.