DE112006000713T5 - Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme und -verfahren unter Verwendung einer zeitlichen digitalen Signalverarbeitung zum Verringern von Rauschen und zum gleichzeitigen Erzeugen mehrfacher Bilder - Google Patents

Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme und -verfahren unter Verwendung einer zeitlichen digitalen Signalverarbeitung zum Verringern von Rauschen und zum gleichzeitigen Erzeugen mehrfacher Bilder Download PDF

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Abstract

Röntgenstrahl-Bildgebungssystem, umfassend:
(a) eine Röntgenstrahlquelle, die ausgelegt ist, einen gepulsten Röntgenstrahl zu erzeugen, der eine vorbestimmte Frequenz aufweist, und den gepulsten Röntgenstrahl auf ein abzubildendes Objekt anzuwenden;
(b) einen Röntgenstrahldetektor, der ausgelegt ist, die Röntgenstrahlung von dem Objekt zu erfassen und zeitliche Röntgenstrahldaten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung zu erzeugen; und
(c) einen zeitlichen Datenanalysator, der ausgelegt ist, einen zeitlichen Signalprozess auf die zeitlichen Daten anzuwenden, um zumindest einen Teil der zeitlichen Daten zu entfernen, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Frequenz aufweisen.

Description

  • Regierungsbeteiligung
  • Diese Erfindung wurde mit Unterstützung der US-Regierung unter der Fördernummer N00014-98-1-0597, bewilligt von dem Office of Naval Research, ausgeführt. Die US-Regierung hat bestimmte Rechte an der Erfindung.
  • Querbezug zu einer verwandten Anmeldung
  • Diese non-provisional Patentanmeldung beansprucht die Priorität der US-Provisional Application Nr. 60/674,537 , eingereicht am 25. April 2005, wobei hierin die Offenbarung davon in ihrer Gesamtheit unter Bezugnahme eingeschlossen ist.
  • Technisches Gebiet
  • Der Gegenstand, der hierin offenbart ist, betrifft Röntgenstrahl-Abbildung. Spezifischer betrifft der hierin offenbarte Gegenstand Röntgenstrahlbildgebungssysteme und -verfahren unter Verwendung einer zeitlichen digitalen Signalverarbeitung zum Verringern von Rauschen und zum Verbessern einer Bildaufnahmegeschwindigkeit durch ein gleichzeitiges Erhalten mehrfacher Bilder.
  • Stand der Technik
  • Eine Röntgenstrahl-Abbildung wird weithin in vielen Gebieten einschließlich medizinischer Diagnostik und Behandlung, industrieller Inspektion und Testen, Sicherheitsüberwachung und -erfassungen verwendet. Bei gegenwärtigen Röntgenstrahl-Bildgebungssystemen wird ein Röntgenstrahl erzeugt und auf ein dreidimensionales (3-D-) Objekt zum Projizieren des Objekts auf einen zweidimensionalen (2-D-) Plattendetektor angewandt. Die Projektion kann in 2-D- und 3-D-Bildern rekonstruiert werden. In typischer Weise wird Rauschen entlang der Richtung des Röntgenstrahls erzeugt, und dies führt zu einer verringerten Auflösung des Objektbilds. Rauschen kann herrühren von dem abzubildenden Objekt, einem Röntgenstrahldetektor, der die Röntgenstrahlung erfasst, elektronischen Schaltungen und verschiedenen anderen Quellen.
  • Ein beispielhaftes Röntgenstrahl-Bildgebungssystem ist ein Computertomographie-(CT-)System. Die CT ermöglicht eine Rekonstruktion eines 3-D-Bilds eines Objekts durch ein Aufnehmen von Hunderten bis Tausenden von 2-D-Projektionsbildern aus unterschiedlichen Projektionswinkeln. Bei vielen gegenwärtigen CT-Scannern wird eine einzige Röntgenstrahlröhre mechanisch um ein Objekt herum gedreht, um Mehrfach-Projektionsbilder, die zur Rekonstruktion eines Bilds des Objekts erforderlich sind, aufzunehmen. Der Prozess eines mechanischen Drehens der Röntgenstrahlröhre begrenzt die Datenaufnahmerate. Ferner ist die Steuerung derartiger Systeme durch den Prozess eines mechanischen Drehens der Röntgenstrahlröhre kompliziert. Viele gegenwärtige CT-Scanner nehmen 2-D-Bilder jeweils von einem Beobachtungswinkel auf. Somit ist die Geschwindigkeit des CT-Scanners beschränkt.
  • Röntgenstrahlsysteme, die eine verbesserte Objektbildgebungsgeschwindigkeit aufweisen, schließen ultraschnelle Elektronen strahl-CT-Scannersysteme und Inspektionssysteme für eine gedruckte Schaltungsplatine (PCB) ein. In diesen Systemen steuert ein elektromagnetisches Feld einen Elektronenstrahl auf unterschiedliche Positionen eines Röntgenstrahlziels, um einen Abtast-Röntgenstrahl zu erzeugen. Derartige Systeme können groß und kostenintensiv sein und einen begrenzten Bereich von Beobachtungswinkeln einschließen. Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme, die kleiner, weniger kostenintensiv sind und einen größeren Bereich von Beobachtungswinkeln einschließen, sind erwünscht.
  • Eine weitere wünschenswerte Verbesserung für Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme ist eine erhöhte Auflösung von Objektbildern. Die Auflösung kann durch ein Verringern von Rauschen verbessert werden, das in den Röntgenstrahldaten enthalten ist, die für eine Bilderzeugung verwendet werden. Eine Rauschreduktion bei Röntgenstrahldaten kann auch zu einer Reduktion der Stärke einer Röntgenstrahlung führen, die für eine Objektabbildung erforderlich ist. Eine Verringerung in der Stärke der Röntgenstrahlung kann für Mammographie und bei Abbildungen in der Mikroelektronik vorteilhaft sein, Anwendungen, die minimierte Röntgenstrahl-Dosierungen erfordern.
  • Dementsprechend besteht im Licht der gewünschten Verbesserungen, die mit Röntgenstrahl-Bildgebungssystemen einhergehen, ein Bedarf nach einer verbesserten Röntgenstrahl-Bildgebungssystem-Funktionalität und nach darauf bezogenen Verfahren.
  • Zusammenfassung
  • In Übereinstimmung mit dieser Offenbarung werden neuartige Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme und -verfahren unter Verwendung einer zeitlichen digitalen Signalverarbeitung zum Verrin gern von Rauschen und zum gleichzeitigen Erhalten mehrfacher Bilder bereitgestellt.
  • Eine der vorliegenden Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht deswegen darin, neuartige Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme und -verfahren unter Verwendung einer zeitlichen digitalen Signalverarbeitung zum Verringern von Rauschen und zum gleichzeitigen Erhalten mehrfacher Bilder bereitzustellen. Dies und andere Aufgaben, wie sie aus der vorliegenden Offenbarung offensichtlich werden können, werden zumindest teilweise oder vollständig durch den hierin beschriebenen Gegenstand gelöst.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnungen
  • Bevorzugte Ausführungsformen des hierin beschriebenen Gegenstandes werden nun unter Bezugnahme auf die zugehörigen Zeichnungen geschrieben werden. In den Zeichnungen zeigen:
  • 1 ein Blockdiagramm eines Einzelstrahl-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems gemäß einer Ausführungsform des hierin offenbarten Gegenstandes;
  • 2 ein Flussdiagramm, das einen beispielhaften Prozess zum Abbilden eines Objekts unter Verwendung eines Einzelstrahl-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstandes veranschaulicht;
  • 3 eine schematische Querschnittsansicht einer Feldemissions-Röntgenstrahlquelle gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstandes;
  • 4A-4C Graphen, die einen unterschiedlichen Strom, der an einen Feldemitter angelegt werden kann, der in 3 gezeigt ist, über einer Zeitperiode zum Erzeugen eines gepulsten Röntgenstrahls veranschaulichen;
  • 5A-5C Graphen, die Röntgenstrahl-Intensitäten von Röntgenstrahlen unterschiedlicher Pulsfrequenzen, die von einer Röntgenstrahlquelle erzeugt werden, veranschaulichen;
  • 6 ein Blockdiagramm eines Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems zum gleichzeitigen Aufnehmen von Mehrfachansicht-Projektionsbildern gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstandes;
  • 7 ein Flussdiagramm, das einen beispielhaften Prozess zum Abbilden eines Objekts unter Verwendung eines Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstandes veranschaulicht;
  • 8 eine schematische Querschnittsansicht einer Mehrfachpixel-Feldemissions-Röntgenstrahlquelle gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands;
  • 9 eine schematische Querschnittsansicht einer Röntgenstrahleinheit der Röntgenstrahlquelle, die in 8 gezeigt ist, zum Erzeugen eines einzelnen, gepulsten Röntgenstrahls gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegen stands;
  • 10A und 10B Graphen, die einen experimentell bemessenen Kathodenstrom und eine Spannung jeweils von fünf Pixeln, die in 8 gezeigt sind, veranschaulichen;
  • 11 ein Bild von Lochblendenmessungen von Röntgenstrahl-Erzeugungspunkten für fünf Pixel, die in 8 gezeigt sind;
  • 12 einen Graphen, der Größen der Fokuspunkte, die in 11 gezeigt sind, veranschaulicht;
  • 13A-13C Graphen, die zeitliche Röntgenstrahlsignale und ein entsprechendes Fourier-Leistungsspektrum veranschaulichen;
  • 14 ein perspektivisches schematisches Blockdiagramm eines quasi-monochromatischen Mikro-CT-Scanners gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstandes;
  • 15 ein schematisches Diagramm einer Anordnung eines Röntgenstrahldetektors und einer Röntgenstrahlquelle für eine gleichzeitige Aufnahme von Mehrfachprojektionsbildern von 3-D-Objekten;
  • 16A-16F Bilder eines Objekts, die auf der Grundlage einer Röntgenstrahlung aus einer Mehrzahl von Röntgenstrahlen erzeugt sind;
  • 17 ein schematisches Diagramm eines beispielhaften CT-Bildgebungssystems gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands; und
  • 18A und 18B schematische Diagramme von beispielhaften Mammographie-Bildgebungssystemen gemäß Ausführungsformen des hierin beschriebenen Gegenstandes.
  • Detaillierte Beschreibung
  • In Übereinstimmung mit der vorliegenden Offenbarung sind Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme und -verfahren unter Verwendung einer zeitlichen digitalen Signalverarbeitung zum Verringern von Rauschen und zum gleichzeitigen Erhalten mehrfacher Bilder bereitgestellt. Die Systeme und Verfahren, die hierin be schrieben sind, können eine bestimmte Anwendung zur Verwendung bei einer radiographischen Abbildung einschließlich CT, bei Tomosynthese, Fluoroskopie, Angiographie, Mehrfachenergie-Radiographie und Röntgenstrahl-Fluoreszenzspektroskopie-Analyse aufweisen. Andere beispielhafte Anwendungen schließen medizinische Diagnostik und Behandlung, ein industrielles, nicht-zerstörendes Testen (NDT, Non-Destrucive Testing) und eine Röntgenstrahl-Fluoreszenz-(XRF, X-Ray Fluorescence-)Analyse und eine Sicherheitsüberwachung und -erfassung ein. Ein Röntgenstrahl-Bildgebungssystem gemäß der vorliegenden Offenbarung kann eine Röntgenstrahlquelle, die ausgelegt ist, einen gepulsten Röntgenstrahl zu erzeugen, der eine vorbestimmte Frequenz aufweist, und den gepulsten Röntgenstrahl auf ein abzubildendes Objekt anzuwenden, enthalten. Ferner kann ein Röntgenstrahl-Bildgebungssystem gemäß der vorliegenden Offenbarung einen Röntgenstrahldetektor enthalten, der ausgelegt ist, eine Röntgenstrahlung von dem Objekt zu erfassen und zeitliche Daten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung zu erzeugen. Ein Röntgenstrahl-Bildgebungssystem gemäß der vorliegenden Offenbarung kann auch einen zeitlichen Datenanalysator enthalten, der ausgelegt ist, einen zeitlichen digitalen Signalprozess auf die zeitlichen Daten anzuwenden, um zumindest einen Teil der zeitlichen Daten, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Frequenz aufweisen, zu entfernen. Der entfernte Teil der zeitlichen Daten, die die unterschiedliche Frequenz aufweisen, kann einem Rauschen in der erfassten Röntgenstrahlung entsprechen. Folglich wird ein Signal-zu-Rausch-Verhältnis der Röntgenstrahldaten erhöht, um Bilder des Objekts, die unter Verwendung der zeitlichen Daten erzeugt werden, zu verbessern. Ferner kann ein Röntgenstrahl-Bildgebungssystem gemäß der vorliegenden Erfindung einen Röntgenstrahlfluss, der bei Bildgebungstechniken, wie etwa einer digitales Radiographie und einer Fluoreszenzspektroskopie benötigt wird, verringern.
  • Ferner kann ein Röntgenstrahl-Bildgebungssystem gemäß dem hierin beschriebenen Gegenstand eine Mehrfachpixel-Röntgenstrahlquelle enthalten, die ausgelegt ist, zum Erzeugen einer Mehrfachstrahl-Röntgenstrahlung programmierbar zu sein. Das System kann einen digitalen Röntgenstrahldetektor enthalten, der ausgelegt ist, eine zeitliche Röntgenstrahlung für jedes Pixel aufzuzeichnen. Ferner kann das System einen Datenprozessor enthalten, der ausgelegt ist, eine Energiespektrumanalyse auf der Grundlage der aufgezeichneten Daten durchzuführen und Frequenzkomponenten zu differenzieren. Das System kann Mehrfachprojektionsbilder gleichzeitig aufnehmen, um eine mehrfache Erhöhung in der Bildgebungsgeschwindigkeit bei CT-Scanner-Anwendungen und anderen Bildgebungsanwendungen zu ermöglichen.
  • Die zeitlichen Signalverarbeitungstechniken, die hierin beschrieben sind, stellen die Fähigkeit bereit, Rauschen, das der Röntgenstrahlquelle nicht zugeordnet ist, zu verringern. Diese Techniken können in vorteilhafter Weise das Signal-zu-Rausch-Verhältnis verbessern, um eine Abbildung mit einer niedrigen Dosierung möglich zu machen. Ferner können diese Techniken für Anwendungen, wie etwa Brust-CT und Tomosynthese verwendet werden, wo ein Aufrechterhalten einer niedrigen Gesamtdosierung pro Projektionsbild erwünscht sein kann. Die hierin beschriebenen Techniken können auch zu neuen Radiographieanwendungen, wie etwa einer pädiatrischen Radiographie mit ultraniedriger Dosierung führen.
  • Der Ausdruck "Röntgenstrahlquelle" wird hierin verwendet, um Vorrichtungen zu bezeichnen, die Röntgenstrahlung auf eine programmierbare Weise erzeugen können. Die Wellenform der Röntgenstrahlung kann periodisch oder aperiodisch und kontinuierlich oder gepulst sein. Beispielhafte Röntgenstrahlquellen können Röntgenstrahlen unter Verwendung von Elektronenfeldemittern erzeugen, die nanostrukturierte Materialien enthalten.
  • Der Ausdruck "zeitlicher digitaler Prozess" wird hierin verwendet, um jedwede digitale Verarbeitung von zeitlichen digitalen Daten einschließlich einer Fourier-Analyse und einer Wavelet-Analyse zu bezeichnen.
  • 1 ist ein Blockdiagramm eines Einzelstrahl-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands. Unter Bezugnahme auf 1 kann ein Röntgenstrahl-Bildgebungssystem, allgemein mit 100 bezeichnet, eine Röntgenstrahlquelle XS enthalten, die ausgelegt ist, einen gepulsten Röntgenstrahlstrahl XB einer vorbestimmten Pulsfrequenz zu erzeugen und den Röntgenstrahl XB auf ein abzubildendes Objekt Oanzuwenden. Das Objekt O kann in dem Pfad des Röntgenstrahls XB zum Schneiden von zumindest einem Teil des Röntgenstrahls XB positioniert werden. Der geschnittene Teil des Röntgenstrahls XB kann durch das Objekt O absorbiert werden und/oder durch das Objekt O hindurchlaufen. Ein weiterer Teil des Röntgenstrahls XB kann um das Objekt O herumlaufen.
  • Die Röntgenstrahlquelle XS kann jedwede geeignete Vorrichtung sein, die ausgelegt ist, um einen Röntgenstrahl zum Abbilden eines Objekts zu erzeugen. Eine beispielhafte Röntgenstrahlquelle kann eine Feldemissions-Röntgenstrahlquelle sein. Beispielhafte Feldemissions-Röntgenstrahlquellen sind in dem US-Patent Nr. 6,553,096 an Zhou et al., eingereicht am 6. Oktober 2000 und erteilt am 22. April 2003; dem US-Patent Nr. 6,850,595 an Zhou et al., eingereicht am 4. Dezember 2002 und erteilt am 1. Februar 2005; und US-Patent Nr. 6,876,724 an Zhou et al, eingereicht am 22. Januar 2002 und erteilt am 5. April 2005, beschrieben, wobei die Offenbarungen davon hierin unter Bezugnahme eingeschlossen sind. Eine einzigartige Eigenschaft der Feldemissions-Röntgenstrahlquellen ist ihre Fähigkeit, Röntgenstrahlpulse in beliebiger zeitlicher Wellenform zu erzeugen.
  • In einem Beispiel kann das System 100 eine Objektstufe OS zum Halten des Objekts O in einer Position zum Schneiden des Röntgenstrahls XB enthalten. Die Objektstufe OS kann eine steuerbare Drehstufe zum Drehen des Objekts O in unterschiedliche Richtungen sein, derart, dass unterschiedliche Seiten des Objekts O gegenüber dem Röntgenstrahl XB freigelegt werden.
  • Ferner kann das System 100 einen Röntgenstrahldetektor DET, der ausgelegt ist, eine Röntgenstrahlung XR zu erfassen, enthalten. Der Detektor DET kann kontinuierlich die Röntgenstrahlintensität der Röntgenstrahlung XR über einer Zeitperiode erfassen. Die erfasste Röntgenstrahlung XR kann den Teil des Röntgenstrahls XB enthalten, der durch das Objekt O hindurchläuft und/oder an dem Objekt O vorbeiläuft. Die Röntgenstrahlung XR kann auch Rauschen, das von den Bildgebungsobjekten, dem Detektor DET, elektronischen Schaltungen oder verschiedenen anderen Quellen erzeugt wird, enthalten. Ferner kann der Röntgenstrahldetektor DET zeitliche Röntgenstrahldaten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung XR erzeugen. Die zeitlichen Röntgenstrahldaten können durch ein Aufzeichnen der Röntgenstrahlintensität der Röntgenstrahlung als eine Funktion der Zeit mit einem Abtastintervall geringer als die Pulsbreite des Röntgenstrahls für eine gewünschte Haltezeit erzeugt werden. Die zeitlichen Röntgenstrahldaten können als ein elektrisches Signal dargestellt und gespeichert werden.
  • Der Röntgenstrahldetektor DET kann jedwede geeignete Vorrichtung sein, die ausgelegt ist, um Röntgenstrahlung zu erfassen. In einem Beispiel kann der Röntgenstrahldetektor DET ein digi taler Detektor mit einer hohen Rahmenrate sein. In einem weiteren Beispiel kann der Röntgenstrahldetektor einer oder mehrere Röntgenstrahldetektoren mit Si-PIN-Photodioden sein. Beispiele von digitalen Röntgenstrahldetektoren schließen Flächendetektoren mit ladungsgekoppelter Vorrichtung (CCD, Charge-Coupled Device), Flächendetektoren aus amorphem Selen (a-Se), Flächendetektoren aus amorphem Silizium (a-Si) und Arrays von Si-PIN-Photodioden-Röntgenstrahldetektoren ein, sind darauf aber nicht beschränkt.
  • Ferner kann das System 100 einen zeitlichen Datenanalysator AN enthalten, der ausgelegt ist, einen zeitlichen digitalen Signalprozess auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten anzuwenden und zumindest einen Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Pulfrequenz des Röntgenstrahls XB aufweisen, zu entfernen. Das meiste Rauschen, das von dem Röntgenstrahldetektor DET erfasst wird, muss ein eindeutiges zeitliches Leistungsspektrum mit einer eindeutigen Frequenz oder Korrelation mit der Röntgenstrahlquelle XS nicht aufweisen. Rauschen kann verringert oder entfernt werden, indem zeitliche Röntgenstrahldaten, die eine unterschiedliche Pulsfrequenz als der Röntgenstrahl XB aufweisen, verworfen werden. Durch ein Entfernen des Teils der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Pulsfrequenz aufweisen, wird das Signal-Rausch-Verhältnis für die Röntgenstrahldaten zum Verbessern von Bildern des Objekts O, das unter Verwendung der zeitlichen Röntgenstrahldaten erzeugt wird, erhöht.
  • In einem Beispiel kann, nachdem eine vorbestimmte Anzahl von Röntgenstrahlpulsen von dem Röntgenstrahldetektor DET erzeugt sind, eine Zeitreihe der erfassten Daten durch eine zeitliche Fourier-Transformationsfunktion FTF verarbeitet werden, um ein Leistungsspektrum in der Frequenzdomäne zu erzeugen. Ein ein zelnes Frequenzbandbreitenfilter FBF kann Komponenten des Leistungsspektrums, die der Pulsfrequenz des Röntgenstrahls XB nicht entsprechen, filtern und verwerfen. Der Teil der zeitlichen Röntgendaten, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Frequenz aufweisen, kann Rauschen in der erfassten Röntgenstrahlung XR entsprechen. Der Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die eine Frequenz aufweisen, die die gleiche wie die vorbestimmte Frequenz ist, kann verwendet werden, um das Objekt O abzubilden.
  • Gemäß einer Ausführungsform kann die zeitliche Fourier-Analyse auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten angewandt werden, um den Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten zu entfernen, die eine Frequenz aufweisen, die unterschiedlich von der vorbestimmten Frequenz ist.
  • Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann eine zeitliche Kodiertechnik zum Erzeugen des gepulsten Röntgenstrahls XB verwendet werden. Beispielsweise kann der Röntgenstrahl SB Wavelet-kodiert werden. Eine zeitliche Wavelet-Dekodierung kann auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten zum Entfernen des Teils der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die Komponenten unterschiedlich von dem vorbestimmten Kodierungsschema aufweisen, angewandt werden.
  • Das System 100 kann auch ein Steuermodul CTR enthalten, das ausgelegt ist, Instruktionen zum Steuern der Röntgenstrahlquelle XS, des Röntgenstrahldetektors DET und eines Analysators AN zum Abbilden des Objekts O auszuführen. Die ausführbaren Instruktionen können als ein Computerprogrammprodukt implementiert werden, das in einem computerlesbaren Medium verwirklicht ist. Beispielhafte computerlesbare Medien können Plattenspeichervorrichtungen, Chipspeichervorrichtungen, anwendungsspezifische integrierte Schaltungen, programmierbare Logikvorrichtungen, herunterladbare elektrische Signale und/oder jedwedes andere geeignete computerlesbare Medium einschließen. Ferner kann das Steuermodul CTR Hardware, Software und/oder Firmware, wie etwa Speicher (z.B. RAM, ROM und computerlesbare Platten), Transistoren, Kondensatoren, Widerstände, Induktoren, einen logischen Schaltkreis und andere Komponenten enthalten, die geeignet sind zum einzelnen Steuern der Röntgenstrahlquelle XS, des Röntgenstrahldetektors DET und des Analysators AN zum Abbilden des Objekts O. Das Steuermodul CTR kann auch die Objektstufe OS zum Drehen des Objekts O steuern. Ferner kann das Steuermodul CTR die Frequenz und Pulsbreite der Röntgenstrahlung XR steuern.
  • 2 ist ein Flussdiagramm, das einen beispielhaften Prozess zum Abbilden eines Objekts unter Verwendung eines Einzelstrahl-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems (wie etwa des Systems 100, das in 1 gezeigt ist) gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstandes veranschaulicht. Unter Bezugnahme auf 2 schließt ein Block 200 ein Erzeugen eines gepulsten Röntgenstrahls, der eine vorbestimmte Frequenz aufweist, ein. In einem Block 202 kann der erzeugte Röntgenstrahl auf ein abzubildendes Objekt angewandt werden. Beispielsweise kann die Röntgenstrahlquelle XS der 1 einen gepulsten Röntgenstrahl XB erzeugen, der eine vorbestimmte Frequenz aufweist, und den Röntgenstrahl XB auf das Objekt O anwenden. Beispielhafte Frequenzen schließen ungefähr 1 Hz bis ungefähr 1 MHz ein, sind darauf aber nicht beschränkt. Beispielhafte Röntgenstrahl-Intensitäten schließen ungefähr 0,001 mA bis ungefähr 10.000 mA ein, sind darauf aber nicht beschränkt. Beispielhafte Röntgenstrahlenergien schließen ungefähr 10 keV bis ungefähr 1.000 keV ein, sind darauf aber nicht beschränkt.
  • In einem Block 204 kann die Röntgenstrahlung erfasst werden. Die Röntgenstrahlung kann einen Teil eines Röntgenstrahls XB, der durch das Objekt O und/oder an dem Objekt O vorbeiläuft, enthalten. Die erfasste Röntgenstrahlung kann auch Rauschen enthalten. Beispielsweise kann der Röntgenstrahldetektor DET eine Röntgenstrahlung XR erfassen, die einen Röntgenstrahl XB, der durch das Objekt oder an dem Objekt O vorbeiläuft, und Rauschen enthält.
  • In einem Block 206 kann die erfasste Röntgenstrahlung als zeitliche Röntgenstrahldaten erfasst werden. Ein zeitlicher digitaler Signalprozess kann auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten zum Entfernen von zumindest einem Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Pulsfrequenz des Röntgenstrahls XB (Block 208) aufweisen, angewandt werden. Als Nächstes kann in einem Block 210 ein Bild des Objekts O auf der Grundlage der zeitlichen Röntgenstrahldaten erzeugt werden. Der zeitliche digitale Prozess (DSP) kann eine Fourier-Analyse und eine Leistungsspektrumanalyse enthalten. Der DSP filtert die von dem Detektor DET erfassten Signale, die nicht von der Röntgenstrahlquelle XS erzeugt werden. Der Prozess kann für eines oder mehrere Pixel entweder in Sequenz oder parallel ausgeführt werden. Die Verarbeitung kann durch Software und/oder Hardware durchgeführt werden. Die Hardware kann einen oder mehrere digitale Signalprozessoren enthalten, die ausgelegt sind, um gleichzeitig Mehrfach-Projektionsbilder des Objekts O zu empfangen. Die Aufnahme der Projektionsbilder aus unterschiedlichen Winkeln kann verwendet werden, um 3-D-Bilder des Objekts über einen CT-Rekonstruktionsalgorithmus und/oder einen Tomosynthese-Algorithmus zu rekonstruieren.
  • 3 ist eine schematische Querschnittsansicht einer Feldemissions-Röntgenstrahlquelle, allgemein bezeichnet mit 300, gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands. Unter Bezugnahme auf 3 kann die Röntgenstrahlquelle 300 einen Elektronenfeldemitter FE (hierin auch bezeichnet als ein "Pixel") zum Emittieren von Elektronen enthalten. Der Elektronenfeldemitter FE kann auch eine oder mehrere Kohlenstoff-Nanoröhrchen und/oder andere geeignete Elektronenfeld-Emissionsmaterialien umfassen. Beispielhafte Elektronenfeld-Emissionsmaterialien können Nanoröhrchen, Nanostäbe, Spindt-Spitzen und Nanopartikel aus Diamant einschließen. Kohlenstoff-Nanoröhrchen sind nano-strukturiertes oder Nanostruktur-Material, wie etwa Nanopartikel mit Partikelgrößen von weniger als 100 nm. Der Elektronenfeldemitter FE kann mit einer Oberfläche einer Kathode C leitfähig oder kontaktierend oder einem geeigneten leitfähigen Material zum Aufnehmen eines Stroms gekoppelt sein.
  • Der Elektronenfeldemitter FE kann durch einen Controller (wie etwa ein Steuermodul CTR, das in 1 gezeigt ist) gesteuert werden, um Elektronen zum Erzeugen eines Elektronenstrahls EB zu emittieren. In einer Ausführungsform kann ein Controller eine Spannungsquelle VS1 steuern, um eine Spannung zwischen dem Elektronenfeldemitter FE und einer Gate-Elektrode GE anzulegen, um ein elektrisches Feld zum Extrahieren von Elektronen von dem Elektronenfeldemitter FE zu erzeugen. Die angelegte Spannung kann gepulst werden, um einen gepulsten Elektronenstrahl EB zu erzeugen. Somit kann die Frequenz des Elektronenstrahls XB durch die Frequenz des angelegten elektrischen Extraktionsfelds gesteuert werden.
  • Der Elektronenfeldemitter FE kann derart orientiert werden, dass extrahierte Elektronen zu einer Anodenzielstruktur T gerichtet werden. Die Zielstruktur T kann einen Röntgenstrahl XB einer gewünschten Wellenlänge auf einen Beschuss durch den gepulsten Elektronenstrahl EB hin erzeugen. Die Röntgenstrahl quelle 300 kann eine Fokussierelektrode FEL zum Fokussieren von Elektronen, die von den Elektronenfeldemittern FE extrahiert sind, auf die Zielstruktur T und somit zum Verringern der Größe des Elektronenstrahls EB enthalten. Die Fokussierelektrode FEL kann durch Anlegung einer Spannung an die Fokussierelektrode FEL durch eine Spannungsquelle VS2 gesteuert werden. Eine Spannungsquelle VS3 kann eine Spannung zwischen der Gate-Elektrode GE und der Zielstruktur T zum Beschleunigen von Elektronen, die von den Feldemittern FE emittiert werden, zu der Zielstruktur T hin anlegen.
  • Eine Vakuumkammer VC kann einen abgedichteten Innenraum zum Aufnehmen des Elektronenfeldemitters FE und der Gate-Elektrode GE enthalten. Der Innenraum des Vakuumgefäßes VC kann evakuiert werden, um einen gewünschten Innendruck zu erreichen. Ein beispielhafter Innendruck der Vakuumkammer VC kann ungefähr 10-7 Torr betragen. Der Elektronenstrahl EB kann von dem Innenraum der Vakuumkammer VC nach außen über einen Elektronenpermeablen Teil des Fensters laufen.
  • Die 4A-4C veranschaulichen Graphen unterschiedlichen Stroms, der an den Feldemitter FE (in 3 gezeigt) über eine Zeitperiode angelegt werden kann, um einen gepulsten Röntgenstrahl XB (gezeigt in 3) zu erzeugen. 4A zeigt die Anlegung eines Strompulses von ungefähr 1 Milliampere (mA), der eine Breite von ungefähr 0,5 Mikrosekunden (μs) bei einer konstanten Repetitionsrate von ungefähr 20 Kilohertz (kHz) aufweist. 4B zeigt die Anlegung eines Strompulses von ungefähr 1 Milliampere (mA), der eine Breite von ungefähr 8 Mikrosekunden (μs) bei einer konstanten Repetitionsrate von ungefähr 20 Kilohertz (kHz) aufweist. 4C zeigt die Anlegung eines Strompulses von ungefähr 1 Milliampere (mA), der eine Breite von ungefähr 45 Mikrosekunden (μs) bei einer kon stanten Repetitionsrate von ungefähr 20 Kilohertz (kHz) aufweist.
  • Die 5A-5C veranschaulichen Graphen von Röntgenstrahl-Intensitäten von Röntgenstrahlen unterschiedlicher Pulsfrequenzen, die von einer Röntgenstrahlquelle, wie etwa der in 1 gezeigten Röntgenstrahlquelle, erzeugt werden. Die Röntgenstrahlen weisen eine konstante Breite von ungefähr 150 μs auf. 5A zeigt eine Röntgenstrahl-Intensität eines gepulsten Röntgenstrahls, der eine Frequenz von ungefähr 950 Hertz aufweist. 5B zeigt eine Röntgenstrahl-Intensität eines gepulsten Röntgenstrahls, der eine Frequenz von ungefähr 1900 Hertz aufweist. 5C zeigt eine Röntgenstrahl-Intensität eines gepulsten Röntgenstrahls, der eine Frequenz von ungefähr 3800 Hertz aufweist.
  • Ein Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystem gemäß dem hierin offenbarten Gegenstand kann mehrfach Projektionsbilder eines Objekts erzeugen. Ein Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystem kann eine Röntgenstrahlquelle enthalten, die ausgelegt ist, eine Mehrzahl von Röntgenstrahlen unterschiedlicher Frequenzen auf ein abzubildendes Objekt zu pulsen. Die gepulsten Röntgenstrahlen können an unterschiedliche Seiten des Objekts angelegt werden. Die Röntgenstrahlung, die von der Bestrahlung des Objekts herrührt, kann durch einen oder mehrere Röntgenstrahldetektoren erfasst werden. Wenn zwei oder mehrere Röntgenstrahlen mit eindeutigen Frequenzen abstrahlen, ist die erfasste Zeitreihe von Röntgenstrahldaten eine Überlagerung von Strahlungen von den Abstrahlstrahlen. Durch ein Verarbeiten der zeitlichen Röntgenstrahldaten über einen zeitlichen digitalen Signalprozess kann das Leistungsspektrum in der Frequenzdomäne für jedes Pixel (oder das gesamte Bild des Objekts) in eindeutige Komponenten von den mehrfachen Röntgenstrahlen zerlegt werden. Jede Komponente kann einem eindeuti gen Röntgenstrahl, der von einem spezifischen Pixel erzeugt wird, entsprechen. Folglich können Mehrfach-Projektionsbilder gleichzeitig unter Verwendung eines einzelnen Röntgenstrahldetektors erhalten werden. Ein Vorteil eines Anwendens mehrfacher Bilder auf eine CT-Abbildung oder jedwede andere geeignete Bildgebungsmodalität, die Mehrfachprojektionsbilder erfordert, ist die beträchtliche Zunahme in einer Bilddaten-Aufnahmegeschwindigkeit. Diese Bildgebungsmodalität kann CT, Tomosynthese, Fluoroskopie, Angiographie und dynamische Radiographie einschließen.
  • Ähnliche Bildgebungstechniken können angewandt werden, wenn mehrfache Strahlen in dem Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystem unterschiedliche Röntgenstrahl-Energiespektren aufweisen. Unterschiedliche Röntgenstrahl-Energiespektren können unter Verwendung unterschiedlicher Anoden-KVp oder unterschiedlicher Anodenmaterialien erreicht werden. Auf diese Weise kann das Bildgebungssystem ein schnelles Abbilden beim Dualenergie-Abbilden und Mehrfachenergie-Abbilden ermöglichen.
  • 6 ist ein Blockdiagramm eines Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems zum gleichzeitigen Aufnehmen von Mehrfachansicht-Projektionsbildern gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands. Unter Bezugnahme auf 6 kann ein Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystem, allgemein bezeichnet mit 600, eine Röntgenstrahlquelle XS enthalten, die ausgelegt ist, um eine Mehrzahl von gepulsten Röntgenstrahlen XB1-XB3 zu erzeugen und die gepulsten Röntgenstrahlen auf ein abzubildendes Projekt O anzuwenden. Die gepulsten Röntgenstrahlen können auf das Objekt O aus mehreren unterschiedlichen Winkeln oder von Mehrfachprojektionswinkeln angewandt werden. Jeder Röntgenstrahl XB1-XB3 kann bei einer unterschiedlichen zeitlichen Frequenz gepulst werden. Bei spielsweise können die Röntgenstrahlen XB1-XB3 jeweils bei vorbestimmten Frequenzen ω1, ω2, und ω3 gepulst werden.
  • Die Röntgenstrahlquelle XS kann jedwede geeignete Vorrichtung sein, die ausgelegt ist, um mehrfache Röntgenstrahlen zu erzeugen, die unterschiedliche zeitliche Frequenzen aufweisen. Eine beispielhafte Röntgenstrahlquelle kann eine Mehrfachpixel-Feldemissions-Röntgenstrahlquelle sein. Beispielhafte Feldemissions-Röntgenstrahlquellen sind in den US-Patenten Nr. 6,533,096 und 6,850,595 beschrieben, wobei die Offenbarungen davon hierin unter Bezugnahme eingeschlossen sind.
  • Das System 600 kann einen Röntgenstrahldetektor DET enthalten, der ausgelegt ist, Röntgenstrahlung XR zu erfassen, welches die Teile der Röntgenstrahlen XB1-XB3, die durch das Objekt O laufen, und Rauschen sein können. Der Detektor DET kann ein ultraschneller Röntgenstrahldetektor mit einer hohen Rahmenrate sein, der ausgelegt ist, eine Röntgenstrahlung, die bei Frequenzen ω1, ω2 und ω3 gepulst ist, zu erfassen und zu speichern. Ferner kann der Röntgenstrahldetektor DET zeitliche Röntgenstrahldaten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung XR erzeugen. Die zeitlichen Röntgenstrahldaten können durch ein Aufzeichnen der Röntgenstrahl-Intensität der Röntgenstrahlung als eine Funktion der Zeit mit einem Abtastintervall geringer als die Pulsbreite des Röntgenstrahls XB für eine gewünschte Haltezeit erzeugt werden. Die zeitlichen Röntgenstrahldaten können als ein elektrisches Signal dargestellt und gespeichert werden.
  • Ferner kann das System 600 einen zeitlichen Datenanalysator AN enthalten, der ausgelegt ist, einen zeitlichen Signalprozess auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten anzuwenden, um Röntgenstrahldaten aufzulösen, die die gleichen Frequenzen wie die vorbestimmten Frequenzen der Röntgenstrahlen XB1-XB3 aufwei sen. Der Analysator AN kann auch zumindest einen Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten entfernen, die unterschiedliche Frequenzen als die vorbestimmten Frequenzen aufweisen. Insbesondere kann, nachdem eine vorbestimmte Anzahl von Röntgenstrahlpulsen durch den Röntgenstrahldetektor DET erzeugt sind, eine Zeitreihe der erfassten Daten durch eine zeitliche Fourier-Transformationsfunktion FTF verarbeitet werden, um ein Leistungsspektrum in der Frequenzdomäne zu erzeugen. Die Frequenzbandbreitenfilter FBF können die Komponenten, die den Pulsfrequenzen der Röntgenstrahlen XB1-XB3 nicht entsprechen, filtern und verwerfen. Der Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die unterschiedliche Frequenzen als die vorbestimmten Frequenzen der Röntgenstrahlen XB1-XB3 aufweisen, können Rauschen in der erfassten Röntgenstrahlung XR entsprechen. Der Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die Frequenzen aufweisen, die die gleichen wie die vorbestimmten Frequenzen ω1, ω2 und ω3 sind, können zum Abbilden des Objekts O verwendet werden. Durch ein Entfernen des Teils der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die unterschiedliche Frequenzen als die vorbestimmten Frequenzen aufweisen, wird das Signal-zu-Rausch-Verhältnis der Röntgenstrahldaten zum Verbessern von Bildern des Objekts O, die unter Verwendung der zeitlichen Röntgenstrahldaten erzeugt werden, erhöht. Nach einer zeitlichen Fourier-Analyse werden die Röntgenstrahldaten in eindeutige Frequenzkomponenten, die den Frequenzen ω1, ω2 und ω3 entsprechen, zerlegt. Die Frequenzkomponenten können zum Erzeugen von Projektionsbildern des Objekts O durch entsprechende Röntgenstrahlen verwendet werden. Somit können Mehrfachprojektionsbilder gleichzeitig in der gleichen Zeitperiode wie bei einem einzelnen Projektionsabbilden erhalten werden. Ferner können die Frequenzkomponenten korreliert werden, um ein 3-D-Bild des Objekts O zu erzeugen.
  • Das System 600 kann auch ein Steuermodul CTR enthalten, das ausgelegt ist, Instruktionen zum Steuern der Röntgenstrahlquelle XS des Röntgenstrahldetektors DET und des Analysators AN zum Abbilden des Objekts O auszuführen.
  • Durch ein Benutzen eines Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystems, wie etwa des Systems 600, können Mehrfachprojektionsbilder eines Objekts aus Mehrfach-Röntgenstrahlquellen gleichzeitig unter Verwendung eines einzigen Detektors erhalten werden. Ferner können diese Techniken die Bildgebungsgeschwindigkeit bei CT, Tomosynthese, Fluorskopie, Angiographie und Mehrfachenergie-Radiographie verbessern. Diese Techniken können auch eine verbesserte Erfassungsgeschwindigkeit bei industriellen Anwendungen, wie etwa NDT und XRF, bereitstellen.
  • 7 ist ein Flussdiagramm, das einen beispielhaften Prozess zum gleichzeitigen Aufnehmen von Mehrfachansicht-Projektionsbildern (wie etwa das System 600, das in 6 gezeigt ist) gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstandes veranschaulicht. Unter Bezugnahme auf 7 schließt ein Block 700 ein Erzeugen einer Mehrzahl von gepulsten Röntgenstrahlen ein, die unterschiedliche vorbestimmte Frequenzen (ωk) aufweisen. In einem Block 702 können die gepulsten Röntgenstrahlen gleichzeitig oder zu unterschiedlichen Zeiten auf ein abzubildendes Objekt angewandt werden. Beispielsweise kann die Röntgenstrahlquelle XS der 6 eine Mehrzahl von gepulsten Röntgenstrahlen XB1-XB3 erzeugen, die unterschiedliche vorbestimmte Frequenzen aufweisen und die gepulsten Röntgenstrahlen auf das Objekt O anwenden. Die Röntgenstrahlen können auf das Objekt O unter unterschiedlichen Projektionswinkeln einstrahlen.
  • Gemäß einer weiteren Ausführungsform kann eine zeitliche Kodierungstechnik zum Erzeugen von gepulsten Röntgenstrahlen XB1-XB3 verwendet werden. Beispielsweise kann eine Röntgenstrahlquelle aus Wavelet-kodierten Röntgenstrahlen XB1, XB3 bestehen. Der Analysator AN kann eine zeitliche Wavelet-Dekodierung auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten zum Extrahieren der Röntgenstrahlung aus unterschiedlichen Wavelet-Komponenten anwenden.
  • In einem Block 704 kann die Röntgenstrahlung erfasst werden. Die Röntgenstrahlung kann einen Teil der Röntgenstrahlen XB1-XB3, die durch das Objekt O laufen und/oder an dem Objekt O vorbeilaufen, einschließen. Ferner kann die erfasste Röntgenstrahlung Rauschen einschließen. Beispielsweise kann der Röntgenstrahldetektor DET, der in 6 gezeigt ist, eine Röntgenstrahlung XR erfassen, die die Röntgenstrahlen XB1-XB3, die durch das Objekt O oder an diesem vorbeilaufen, und Rauschen einschließen. Der Röntgenstrahldetektor DET kann zeitliche Daten d(x,y,t) für jedes Pixel (x,y) ausgeben, welches einen Strahl erzeugt. Die Pixel können durch Koordinaten x und y identifiziert werden.
  • In einem Block 706 kann die erfasste Röntgenstrahlung als zeitliche Röntgenstrahldaten aufgezeichnet werden. Ein zeitlicher digitaler Signalprozess kann auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten angewandt werden, um die Röntgenstrahlsignale mit den vorbestimmten Pulsfrequenzen zu extrahieren (Block 708). Beispielsweise können die zeitlichen Daten d(x,y,t) über eine zeitliche Fourier-Transformation verarbeitet werden, um ein Spektrum in der Frequenzdomäne d(x,y,ω) zu erhalten. Die k-te Hauptkomponente entspricht dem Röntgenstrahl, der von der Röntgenstrahlquelle erzeugt wird, die bei einer Frequenz ωk arbeitet. Die Anzahl von eindeutigen Frequenzen kann zwei, zehn, hundert oder tausend sein. Als Nächstes kann in einem Block 710 zumindest ein Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die unterschiedliche Frequenzen als die vorbestimmten Frequenzen aufweisen, entfernt werden. In einem Block 712 können Bilder des Objekts O erzeugt werden. Beispielsweise kann die k-te Hauptkomponente verwendet werden, um das Projektionsbild aus dem k-ten Röntgenstrahl zu erzeugen. Durch dieses beispielhafte Verfahren können Projektionsbilder gleichzeitig während einer Belichtungszeit während eines einzelnen Projektionsbilds und unter Verwendung eines einzelnen Detektors erhalten werden.
  • 8 ist eine schematische Querschnittsansicht einer Mehrfachpixel-Feldemissions-Röntgenstrahlquelle, allgemein bezeichnet mit 800, gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands. Unter Bezugnahme auf 8 kann die Röntgenstrahlquelle 800 eine Mehrzahl von Elektronenfeldemittern FE zum Emittieren von Elektronen enthalten. Die Elektronenfeldemitter FE können eine oder mehrere Kohlenstoff-Nanoröhrchen und/oder andere geeignete Elektronenfeld-Emissionsmaterialien umfassen. Ferner können die Elektronenfeldemitter FE an einer Fläche jeweiliger Kathoden C, leitfähig oder in einer Kontaktleitung, oder durch ein anderes geeignetes leitfähiges Material angebracht werden. Elektronenfeldemitter können Kohlenstoff-Nanoröhrchen sein. Die Pixel können mit einer Mitten-zu-Mitten-Beabstandung von ungefähr 1,27 cm gleichmäßig beabstandet sein. Die Elektronenfeldemitter FE können ein Kohlenstoff-Nanoröhrchenfilm vom 1,5 mm im Durchmesser sein, der auf eine Metallplatte beschichtet ist. Jedes Pixel kann ausgelegt sein, einen Strom von 1 mA zu emittieren.
  • Die Elektronenfeldemitter FE können durch einen Controller (wie etwa ein Steuermodul CTR, das in 6 gezeigt ist) gesteuert werden, um Elektronen zum Erzeugen jeweiliger Elektro nenstrahlen EB zu emittieren. In einer Ausführungsform kann ein Controller Spannungsquellen VS1 steuern, um Spannungen zwischen den Elektronenfeldemittern FE und Gate-Elektroden GE anzulegen, um jeweilige elektrische Felder zum Extrahieren von Elektronen aus den Elektronenfeldemittern FE zu erzeugen. Die angelegten Spannungen können bei unterschiedlichen Frequenzen gepulst sein, um gepulste Elektronenstrahlen EB unterschiedlicher Frequenzen zu erzeugen. Insbesondere kann der Controller einzeln eine Mehrzahl von Metalloxid-Halbleiter-Feldeffekttransistoren (MOSFETs) T zum einzelnen Steuern der Feldemitter FE betreiben, um Elektronen zu emittieren. Der Controller kann die Spannung, die an die Feldemitter FE angelegt wird, einzeln steuern, um Transistoren einzeln ein- und auszuschalten. Die Drains der Transistoren T können mit einer entsprechenden einer Mehrzahl von Kathoden C verbunden sein. Jede Kathode C kann mit einem jeweiligen Feldemitter FE über einen Widerstand, wie etwa einen 100-Kiloohm-Schutzwiderstand R, verbunden sein. Die Transistoren T können durch die einzelne Anlegung eines Hochsignals (z.B. 5 V) bzw. eines Niedrigsignals (z.B. 0 V) an die Gates der Transistoren T ein- und ausgeschaltet werden. Wenn ein Hochsignal an das Gate eines Transistors angelegt wird, wird ein Drain-zu-Source-Kanal des Transistors eingeschaltet, um eine Spannungsdifferenz zwischen einer jeweiligen Kathode C und der Gate-Elektrode GE anzulegen. Eine Spannungsdifferenz, die eine Schwelle überschreitet, kann ein elektrisches Feld zwischen der Kathode C und der Gate-Elektrode GE erzeugen, derart, dass Elektronen aus jeweiligen Elektronenfeldemittern FE extrahiert werden. Umgekehrt wird, wenn eine niedrige Spannung (z.B. 0 V) an das Gate eines Transistors angelegt wird, ein entsprechender Drain-zu-Source-Kanal ausgeschaltet, derart, dass die Spannung an dem Elektronenfeldemitter FE elektrisch floatet und die Spannungsdifferenz zwischen einer jeweiligen Kathode C und der Gate-Elektrode GE ein elektrisches Feld einer ausreichende Stärke nicht erzeugen kann, um Elektronen aus dem jeweiligen Elektronenfeldemitter zu extrahieren. Der Controller ist ausgelegt, Spannungspulse unterschiedlicher Frequenzen an die Gates der Transistoren T einzeln anzulegen. Somit kann der Controller die Frequenzen der Elektronenstrahlpulse aus den Feldemittern FE einzeln steuern.
  • Ferner kann die Röntgenstrahlquelle 800 eine Anode A enthalten. Eine Spannungsdifferenz kann zwischen die Anode A und die Gate-Elektrode GE angelegt werden, derart, dass jeweilige Felder zum Beschleunigen von Elektronen, die durch die jeweiligen Elektronenfeldemitter FE emittiert werden, zu jeweiligen Zielstrukturen TR hin erzeugt werden. Die Zielstrukturen TR können aus Molybdän ausgeführt sein. Die Zielstrukturen TR können Röntgenstrahlen, die eine gewünschte Pulsfrequenz aufweisen, auf einen Beschuss durch die Elektronenstrahlen EB erzeugen. Die Röntgenstrahlquelle 800 kann eine Fokussierelektrode FEL zum Fokussieren von Elektronen, die aus den Elektronenfeldemittern FE extrahiert sind, auf die Zielstruktur T und somit zum Verringern der Größe des Elektronenstrahls EB enthalten. Die Fokussierelektrode FEL kann durch die Anlegung einer Spannung an die Fokussierelektrode FEL durch eine Spannungsquelle VS2 gesteuert werden. In einer Ausführungsform kann die Anodenspannung ungefähr 400 kV betragen. Die Gate-Spannung kann in Abhängigkeit von dem erforderlichen Fluss variiert werden.
  • Eine Vakuumkammer VC kann einen abgedichteten Innenraum zum Aufnehmen der Elektronenfeldemitter FE und der Gate-Elektrode GE enthalten. Der Innenraum der Vakuumkammer VC kann evakuiert werden, um einen gewünschten Innendruck zu erreichen. Ein beispielhafter Innendruck der Vakuumkammer VC kann ungefähr 10-7 Torr sein. Der Elektronenstrahl EB kann sich von dem Innenraum der Vakuumkammer VC nach außen über ein Elektronenpermeables Teil oder ein Fenster ausbreiten. In einem Beispiel kann der Elektronen-permeable Teil oder das Fenster ein Beryllium-(Be-)Röntgenstrahlfenster mit 4'' Durchmesser sein.
  • 9 ist eine schematische Querschnittsansicht einer Röntgenstrahleinheit 900 der in 8 gezeigten Röntgenstrahlquelle 800 zum Erzeugen eines einzelnen gepulsten Röntgenstrahls XB gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands. Die Röntgenstrahleinheit 900 stellt ein einzelnes Pixel der Röntgenstrahlquelle 800 dar. Unter Bezugnahme auf 9 kann die Röntgenstrahleinheit 900 einen Elektronenfeldemitter FE enthalten, der auf eine Kathode C abgeschieden ist. In einem Beispiel kann der Elektronenfeldemitter FE ein Kohlenstoff-Nanoröhrchenfilm mit 1,5 mm Durchmesser sein. Der Kohlenstoff-Nanoröhrchenfilm kann auf eine Fläche eines Metallsubstrats abgeschieden sein. Ferner kann der Kohlenstoff-Nanoröhrchenfilm auf die Oberfläche durch einen elektrophoretischen Prozess abgeschieden werden.
  • Die Röntgenstrahleinheit 900 kann eine Gate-Elektrode GE zum Extrahieren von Elektroden auf die Anlegung einer Spannung durch Spannungsquelle VS1 hin enthalten. In einem Beispiel kann die Gate-Elektrode GE ein Wolfram-Gitter sein. Die Gate-Elektrode GE kann von der Kathode C durch einen dielektrischen Abstandshalter DS beabstandet sein. In einem Beispiel kann der dielektrische Abstandshalter DS ungefähr 150 μm in der Dicke betragen.
  • In einer Ausführungsform kann der Röntgenstrahl XB durch ein Anlegen einer konstanten Gleichspannung an die Anode A und einer variablen Gleichspannung (weniger als ungefähr 1 kV) an die Gate-Elektrode GE erzeugt werden. Ein n-Kanal-MOSFET T kann ausgelegt sein, zum Ein- und Ausschalten der Emission von Elektronen aus dem Elektronenfeldemitter FE. Ein Pixel kann durch Anlegen eines 5-V-Signals aktiviert werden, um den Kanal des MOSFET T zu öffnen, derart, dass der Elektronenfeldemitter FE eine vollständige elektrische Schaltung mit der Gate-Elektrode GE bildet. Der Elektronenfeldemitter FE kann elektrisch an ein Drain des MOSFET T angeschlossen sein. Die Source des MOSFET T kann geerdet sein. Das Gate des MOSFET T kann mit dem Ausgang einer digitalen I/O-Platine verbunden sein, die ausgelegt ist, ein 5-V-Gleichspannungssignal bereitzustellen.
  • Elektronen können aus dem Feldemitter FE emittiert werden, wenn die Spannung, die von der Spannungsquelle VS1 angelegt ist, größer als das kritische Feld für eine Emission ist. Die emittierten Elektronen können durch die Anlegung einer Spannung über der Anode A und der Gate-Elektrode GE durch die Spannungsquelle VS2 beschleunigt werden. Die Elektronen bilden einen Elektronenstrahl EB, der eine Fläche der Anode A beschießt, um eine Röntgenstrahl XB zu erzeugen. Eine Spannung kann an eine Fokussierelektrode FEL zum Fokussieren des Elektronenstrahls ES an einen Zielfokuspunkt der Anode A angelegt werden.
  • Unter Bezugnahme wiederum auf 8 kann ein Abtast-Röntgenstrahl aus unterschiedlichen Ausgangspunkten auf einem Ziel der Anode A erzeugt werden, indem ein gepulstes Steuersignal, das eine vorbestimmte Pulsbreite aufweist, über jeden MOSFET in der Röntgenstrahlquelle 800 geschwenkt wird. Bei jedem MOSFET, auf den das Signal geschwenkt wird, kann ein Kanal des MOSFET geöffnet werden, um einen Röntgenstrahl von dem entsprechenden Fokuspunkt auf dem Anodenziel zu erzeugen.
  • Ein Untersatz von Pixeln kann aktiviert werden, derart, dass der Untersatz der Pixel Elektronen mit den gleichen Pulsfrequenzen emittiert, welche Röntgenstrahlen aus unterschiedlichen Fokuspunkten mit den gleichen Frequenzen erzeugen. Alternativ kann ein Pixeluntersatz aktiviert werden, derart, dass der Untersatz der Pixel Elektronen mit unterschiedlichen Pulsfrequenzen emittiert, die Röntgenstrahlen von unterschiedlichen Fokuspunkten mit unterschiedlichen Frequenzen erzeugen. In einer Ausführungsform kann ein Untersatz von Pixeln unter Verwendung getrennter Gate-Elektroden für den Untersatz der Pixel aktiviert werden. Extraktionsspannungen können an die entsprechenden Pixel mit vorbestimmten Pulsfrequenzen angelegt werden, um feldemittierte Elektronen mit den erwünschten Pulsfrequenzen und Amplituden zu erzeugen.
  • In einer weiteren Ausführungsform kann ein Untersatz von Pixeln unter Verwendung eines gemeinsamen Gates für sämtliche der Elektronen-emittierenden Pixel aktiviert werden. Der Elektronenstrahl kann durch ein Pulsen der Aktivierungsspannung, die an die MOSFET-Schaltung angelegt wird, gepulst werden. Beispielsweise kann, um einen gepulsten Röntgenstrahl mit einer vorbestimmten Frequenz zu erzeugen, eine gepulste Spannung mit der vorbestimmten Frequenz angelegt werden, um den entsprechenden MOSFET zu öffnen.
  • Die 10A und 10B veranschaulichen Graphen von experimentell gemessenem Kathodenstrom bzw. Spannung aus fünf Pixeln, die in 8 gezeigt sind. Der Strom und die Spannung wurden über einer Periode von 30 Minuten bei einem konstanten Strommodus unter Verwendung eines 100-Taktverhältnisses gemessen. Der eingestellte Kathodenstrom betrug 100 μA. Die Anodenspannung wurde auf 400 kV eingestellt.
  • 11 veranschaulicht ein Bild von Lochblendenmessungen der Röntgenstrahl-Erzeugungspunkte für fünf Pixel, die in 8 gezeigt sind. Die Lochblendenmessungen zeigen fünf gleichmäßig beabstandete Fokuspunkte auf einem Ziel. 12 veranschaulicht einen Graphen von Größen der Fokuspunkte, die in 11 gezeigt sind. Die Größen der Fokuspunkte reichen zwischen un gefähr 200 μm und 300 μm im Durchmesser bei einer Fokussierspannung von ungefähr 900 V.
  • Die 13A-13C veranschaulichen Graphen von zeitlichen Röntgenstrahlsignalen und ein entsprechendes Fourier-Leistungsspektrum. Die zeitlichen Röntgenstrahlsignale stellen eine Röntgenstrahlung dar, die von einem Si-PIN-Photodioden-Röntgenstrahldetektor erfasst ist. Die Graphen links auf den 13A-13C stellen das zeitliche Röntgenstrahlsignal dar. Die Graphen rechts auf den 13A-13C stellen das Fourier-Leistungsspektrum des entsprechenden zeitlichen Röntgenstrahlsignals dar. Das Fourier-Leistungsspektrum kann durch ein Anwenden eines zeitlichen digitalen Signalprozesses auf das entsprechende zeitlichen Röntgenstrahlsignal erzeugt werden. Die Röntgenstrahlung kann ein gepulster Röntgenstrahl sein, der von einer Röntgenstrahlquelle erzeugt wird. Unter Bezugnahme auf 13A wurde eine Röntgenstrahlquelle bei 400 Hz gepulst. Unter Bezugnahme auf 13B wurde eine Röntgenstrahlquelle bei 500 Hz gepulst. Unter Bezugnahme auf 13C wurden Röntgenstrahlquellen bei 400 Hz und 500 Hz gepulst. Die Leistungsspektrumgraphen zeigen, dass die Amplitude einer Röntgenstrahlquelle einer vorbestimmten Frequenz so zugeordnet werden kann, dass sie von der entsprechenden Quelle herrührt.
  • Gemäß einer Ausführungsform können monochromatische Röntgenstrahlen zum Erhalten eines Bilds eines abzubildenden Objekts erzeugt und gepulst werden. 14 veranschaulicht ein perspektivisches schematisches Blockdiagramm eines quasi-monochromatischen Mikro-CT-Scanners, allgemein bezeichnet mit 1400 gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands. Unter Bezugnahme auf 14 kann der Scanner 1400 eine Kathode C enthalten, die eine Mehrzahl von Elektronenfeldemittern zum Emittieren einer Mehrzahl von Elektronenstrahlen EB unterschiedlicher Frequenzen enthält. Die Elektronenstrah len EB können auf ein Anodenziel AT zum Erzeugen einer Röntgenstrahlung XR unterschiedlicher Pulsfrequenzen gerichtet werden. Die Kathode C und das Anodenziel AT können in einer druckdichten Vakuumkammer aufgenommen sein. Die Röntgenstrahlung XR kann aus der Vakuumkammer durch ein Elektronenpermeables Fenster, das aus Be ausgeführt ist, strahlen.
  • Die Röntgenstrahlung XR kann auf einen Kollimator CR zur Kollimation gerichtet werden. Die kollimierte Röntgenstrahlung XR kann von einem Monochromator M zum Erzeugen monochromatischer Röntgenstrahlung MXR aufgefangen werden. Ein Röntgenstrahldetektor DET kann zum Auffangen der monochromatischen Röntgenstrahlung MXR positioniert werden. Ein abzubildendes Objekt kann zwischen den Monochromator und den Röntgenstrahldetektor DET zum Abbilden positioniert werden. Der Röntgenstrahldetektor DET kann die Röntgenstrahlung erfassen und zeitliche Röntgenstrahldaten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung erzeugen. Ein zeitlicher Datenanalysator kann einen zeitlichen digitalen Signalprozess auf die zeitlichen Röntgenstrahldaten anwenden, um zumindest einen Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die unterschiedliche Frequenzen als die Pulsfrequenzen der Elektronenstrahlen EB aufweisen, zu entfernen. Die resultierenden zeitlichen Röntgenstrahldaten können zum Erzeugen eines Bilds des Objekts verwendet werden. Gemäß einer Ausführungsform kann die Röntgenstrahlung XR eine Mehrzahl unterschiedlicher Röntgenstrahlen unterschiedlicher Pulsfrequenzen enthalten, die auf unterschiedliche Stellen des abzubildenden Objekts gerichtet werden.
  • Wie oben stehend offenbart, kann ein abzubildendes Objekt zum Aufnehmen einer Röntgenstrahlung unterschiedlicher Pulsfrequenzen aus mehreren Richtungen positioniert werden. Ein 3-D-Bild des Objekts kann durch ein Erfassen der Röntgenstrahlung von dem Objekt erzeugt werden, während das Objekt die Röntgen strahlung unterschiedlicher Pulsfrequenzen aufnimmt. 15 veranschaulicht ein schematisches Diagramm einer Anordnung eines Röntgenstrahldetektors DET und einer Röntgenstrahlquelle XS für eine gleichzeitige Aufnahme von Mehrfachprojektionsbildern von von 3-D-Objekten O. Unter Bezugnahme auf 15 können fünf Röntgenstrahlen XB1-XB5 von Elektronenfeldemittern FE1-FE5 jeweils erzeugt werden. Die Röntgenstrahlen XB1-XB5 können auf unterschiedliche Seiten des Objekts O gerichtet werden. Die Röntgenstrahlquelle XS und das Objekt O können um ungefähr 15 cm beabstandet sein. Das Objekt O kann einen Metallstab MR und eine Messerklinge KB enthalten.
  • Die Röntgenstrahlung, die durch das und um das Objekt O herumläuft, kann von dem Röntgenstrahldetektor DET erfasst werden. Der Röntgenstrahldetektor DET kann zeitlich Röntgenstrahldaten auf der Grundlage der erfassten Röntgenstrahlung erzeugen. Die resultierenden zeitlichen Röntgenstrahldaten können zum Erzeugen eines Bilds des Objekts O gemäß des hierin beschriebenen Gegenstands verwendet werden. Unter Bezugnahme auf 15 enthält das beispielhafte Objekt O einen Metallstab, der vor einer Metallmesserklinge positioniert ist. Gemäß einer Ausführungsform kann ein Tomosynthesebild des Objekts O erhalten werden, das eine Scheibe des Objekts O zeigt, die die Messerklinge KB enthält und den Metallstab MR nicht. Gemäß einer Ausführungsform kann der Röntgenstrahldetektor DET ein digitaler 2-D-Röntgenstrahl-Bildsensor sein, der ein 1056×1056-Pixelfeld mit einer 50×50-μm-Pixelgröße aufweist. Der Röntgenstrahldetektor DET kann bei 16 Rahmen pro Sekunde (fps, Frames per Second) mit einer 4×4-Klasseneinteilung betrieben werden. Die Bildgebungsbedingungen können 40 kVp, 25 μA Kathodenstrom und 5 Sekunden Belichtungszeit sein.
  • Die 16A-16F sind schematische Bilder des in 15 gezeigten Objekts O, erzeugt mit dem Röntgenstrahldetektor DET und der Röntgenstrahlquelle XS, die in 15 gezeigt sind, gemäß dem hierin beschriebenen Gegenstand. Die 16A-16E sind schematische Bilder des Objekts O, erzeugt auf der Grundlage der Röntgenstrahlung von jeweils den Röntgenstrahlen XB1-XB2. 16F ist ein Tomosynthesebild des Objekts O, das eine Scheibe des Objekts O zeigt, die die Messerklinge KB enthält und nicht den Metallstab MR.
  • 17 ist ein schematisches Diagramm eines beispielhaften stationären CT-Bildgebungssystems, allgemein bezeichnet mit 1400, gemäß einer Ausführungsform des hierin beschriebenen Gegenstands. Unter Bezugnahme auf 17 kann das System 1700 eine Mehrfachpixel-Röntgenstrahlquelle XS in einer Ringkonfiguration zum Richten einer Mehrzahl von Röntgenstrahlen auf ein abzubildendes Objekt O enthalten. Das System 1700 kann auch einen Röntgenstrahldetektor DET enthalten, der eine Mehrzahl von 2-D-Tafeln zum Aufnehmen von Röntgenstrahlung aufweist. In diesem Beispiel enthält der Röntgenstrahldetektor DET sechs 2-D-Tafeln. Ein Röntgenstrahl XB, der von der Röntgenstrahlquelle XS angelegt wird, kann von einer oder mehreren Tafeln des Röntgenstrahldetektors DET erfasst werden. Die Röntgenstrahlen können an das Objekt O gleichzeitig angelegt werden.
  • Die Mehrzahl der Röntgenstrahlen kann bei unterschiedlichen Frequenzen gepulst und auf das Objekt O unter unterschiedlichen Winkeln aufgetragen werden. Der Röntgenstrahldetektor DET kann die resultierende Röntgenstrahlung erfassen und die Röntgenstrahlung als zeitliche Röntgenstrahldaten aufzeichnen. Eine zeitliche Fourier-Transformation kann auf die zeitlichen Daten zum gleichzeitigen Erhalten von mehrfachen Projektionsbildern angewandt werden. Die resultierenden Bilder können verwendet werden, um 3-D-CT-Bilder des Objekts O zu erhalten.
  • Die 18A und 18B sind schematische Diagramme von beispielhaften Mammographie-Tomosynthese-Bildgebungssystemen, allgemein bezeichnet mit 1500, gemäß Ausführungsformen des hierin beschriebenen Gegenstands. Unter Bezugnahme auf die 18A und 18B kann ein System 1800 eine Mehrfachpixel-Röntgenstrahlquelle XS zum Erzeugen und Berichten einer Mehrzahl von Röntgenstrahlen XB auf eine abzubildende Brust B enthalten. Das System 1800 kann auch einen Röntgenstrahldetektor DET, wie etwa einen einzelnen oder Mehrfachlinien-Photonenzähldetektor enthalten. Die Röntgenstrahlen können gleichzeitig an die Brust B angelegt werden. Unter Bezugnahme auf 18A ist die Mehrfachpixel-Röntgenstrahlquelle XS in einer Ausführungsform auf eine derartige Weise angeordnet, dass unterschiedliche Pixel entlang einer Richtung senkrecht zu einer Achse verteilt sind, die von dem Brustkorb zu der Brustwarze einer Person verläuft. Unter Bezugnahme auf 18B ist in einer weiteren Ausführungsform eine Mehrfachpixel-Röntgenstrahlquelle XS auf eine derartige Weise angeordnet, dass unterschiedliche Pixel entlang der gleichen Richtung wie eine Achse verteilt sind, die von dem Brustkorb zu der Brustwarze einer Person verläuft.
  • Die Röntgenstrahlen XB können bei unterschiedlichen Frequenzen gepulst und an die Brust B unter unterschiedlichen Winkeln angelegt werden. Ferner können die Röntgenstrahlen XB durch einen Kollimator CL kollimiert werden. Der Röntgenstrahldetektor DET kann die resultierende Röntgenstrahlung erfassen und kann die Röntgenstrahlung als zeitliche Röntgenstrahldaten aufzeichnen. In Übereinstimmung mit dem hierin beschriebenen Gegenstand kann eine zeitliche Fourier-Transformation auf die zeitlichen Daten angewandt werden, um zumindest einen Teil der zeitlichen Röntgenstrahldaten, die unterschiedliche Frequenzen als die Pulsfrequenzen der Röntgenstrahlen aufweisen, zu entfernen. Die resultierenden Daten können verwendet werden, um ein Bild der Brust B zu erhalten. Durch ein gleichzeitiges Anwenden von Röntgenstrahlen können sämtliche Projektionsbilder einer Brust in einem einzigen Scan erhalten werden. Ein hochqualitatives Tomosynthesebild einer Brust kann in der gleichen Scan-Spanne, wie sie für ein einzelnes Mammogram-Bild erforderlich ist, erhalten werden.
  • Es ist zu verstehen, dass verschiedene Details des hierin beschriebenen Gegenstandes geändert werden können, ohne von dem Umfang des hierin beschriebenen Gegenstandes abzuweichen. Überdies dient die voranstehende Beschreibung nur dem Zweck einer Veranschaulichung und nicht dem Zweck einer Beschränkung, da der hierin beschriebene Gegenstand durch die nachstehend offenbarten Ansprüche definiert ist.
  • Zusammenfassung
  • Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme und -verfahren unter Verwendung einer zeitlichen digitalen Signalverarbeitung zum Verringern von Rauschen und zum gleichzeitigen Erhalten mehrfacher Bilder
  • Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme und -verfahren sind bereitgestellt, die eine zeitliche digitale Signalverarbeitung zum Verringern von Rauschen und zum gleichzeitigen Erhalten von mehrfachen Bildern verwenden. Ein Röntgenstrahl-Bildgebungssystem kann eine Röntgenstrahlquelle enthalten, die ausgelegt ist, einen gepulsten Röntgenstrahl zu erzeugen, der eine vorbestimmte Frequenz aufweist, und den gepulsten Röntgenstrahl auf ein abzubildendes Objekt anwenden. Ein Röntgenstrahldetektor kann ausgelegt sein, die Röntgenstrahlung von dem Objekt zu erfassen und zeitliche Daten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung zu erzeugen. Ein zeitlicher Datenanalysator kann ausgelegt sein, einen zeitlichen Signalprozess auf die zeitlichen Daten anzuwenden, um zumindest einen Teil der zeitlichen Daten zu entfernen, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Frequenz aufweisen.

Claims (54)

  1. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem, umfassend: (a) eine Röntgenstrahlquelle, die ausgelegt ist, einen gepulsten Röntgenstrahl zu erzeugen, der eine vorbestimmte Frequenz aufweist, und den gepulsten Röntgenstrahl auf ein abzubildendes Objekt anzuwenden; (b) einen Röntgenstrahldetektor, der ausgelegt ist, die Röntgenstrahlung von dem Objekt zu erfassen und zeitliche Röntgenstrahldaten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung zu erzeugen; und (c) einen zeitlichen Datenanalysator, der ausgelegt ist, einen zeitlichen Signalprozess auf die zeitlichen Daten anzuwenden, um zumindest einen Teil der zeitlichen Daten zu entfernen, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Frequenz aufweisen.
  2. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, wobei die Röntgenstrahlquelle umfasst: (a) Elektronenfeldemitter, die ausgelegt sind, einen gepulsten Elektronenstrahl zu erzeugen, der die vorbestimmte Frequenz aufweist; und (b) eine Zielstruktur, die positioniert ist, den Elektronenstrahl zu empfangen und den gepulsten Röntgenstrahl auf ein Empfangen des Elektronenstrahls hin zu erzeugen.
  3. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 2, wobei die Elektronenfeldemitter Komponenten umfassen, die gewählt sind aus der Gruppe bestehend aus einem Nanoröhrchen, einem Nanostab, einer Spindt-Spitze und Nanopartikeln aus Diamant.
  4. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, wobei der Röntgenstrahldetektor einen digitalen Detektor mit einer hohen Rahmenrate umfasst.
  5. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, wobei der Röntgenstrahldetektor Detektoren umfasst, die gewählt sind aus der Gruppe, die besteht aus einem oder mehreren Si-PIN-Photodioden-Röntgenstrahldetektoren, einem oder mehreren ladungsgekoppelten (CCD-) Flächendetektoren, einem oder mehreren amorphen Selen-(a-Se-) Flächendetektoren und einem oder mehreren amorphen Silizium-(a-Si-) Flächendetektoren.
  6. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, wobei der zeitliche Signalprozess eine zeitliche Fourier-Analyse umfasst.
  7. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, wobei der zeitliche Signalprozess eine zeitliche Wavelet-Analyse umfasst.
  8. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, wobei zumindest ein Teil der zeitlichen Daten, die die unterschiedliche Frequenz aufweisen, Rauschen in der erfassten Röntgenstrahlung entspricht.
  9. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, umfassend eine zeitliche Transformationsfunktion, die ausgelegt ist, ein Leistungsspektrum in der Frequenzdomäne auf der Grundlage der zeitlichen Daten zu erzeugen.
  10. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 9, umfassend ein Frequenzbandbreitenfilter, das ausgelegt ist, Teile des Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne, die der vorbestimmten Frequenz nicht entsprechen, zu filtern.
  11. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 10, wobei das Frequenzbandbreitenfilter ausgelegt ist, die Teile des Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne zu verwerfen, die der vorbestimmten Frequenz nicht entsprechen.
  12. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 1, umfassend eine Objektstufe, die ausgelegt ist, das Objekt in unterschiedliche Positionen bezüglich des Röntgenstrahls zu drehen.
  13. Mehrfachpixel-Röntgenstrahl-Bildgebungssystem, umfassend: (a) eine Röntgenstrahlquelle, die ausgelegt ist, eine Mehrzahl von gepulsten Röntgenstrahlen zu erzeugen, die unterschiedliche vorbestimmte Frequenzen aufweisen, und gepulste Röntgenstrahlen auf ein abzubildendes Objekt anzuwenden; (b) einen Röntgenstrahldetektor, der ausgelegt ist, die Röntgenstrahlung von dem Objekt zu erfassen und zeitliche Daten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung zu erzeugen; (c) einen zeitlichen Datenanalysator, der ausgelegt ist, einen zeitlichen Signalprozess auf die zeitlichen Daten anzuwenden, um zeitliche Daten, die die gleichen Frequenzen wie die vorbestimmten Frequenzen aufweisen, aufzulösen.
  14. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei die Röntgenstrahlquelle umfasst: (a) Elektronenfeldemitter, die ausgelegt sind, eine Mehrzahl von gepulsten Elektronenstrahlen zu erzeugen, die die unterschiedlichen vorbestimmten Frequenzen aufweisen; und (b) zumindest eine Zielstruktur, die positioniert ist, die Elektronenstrahlen zu empfangen und die gepulsten Röntgenstrahlen auf ein Empfangen der Elektronenstrahlen hin zu erzeugen.
  15. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 14, wobei die Elektronenfeldemitter Komponenten umfassen, die gewählt sind aus der Gruppe, die besteht aus einem Nanoröhrchen, einem Nanostab, einer Spindt-Spitze und Nanopartikeln aus Diamant.
  16. Röntgenstrahl-Bildgebungssysteme nach Anspruch 14, umfassend Kathoden, die mit den Elektronenfeldemittern verbunden sind, zum Bereitstellen eines Stroms zu den Elektronenfeldemittern.
  17. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei die Röntgenstrahlquelle ausgelegt ist, die Röntgenstrahlen zu Wavelet-kodieren.
  18. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 17, wobei der zeitliche Datenanalysator ausgelegt ist, die zeitlichen Daten zu Wavelet-dekodieren.
  19. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei die Röntgenstrahlquelle eine Mehrzahl von Pixeln zum Erzeugen der gepulsten Röntgenstrahlen enthält und wobei die Röntgenstrahlquelle ausgelegt ist, die gepulsten Röntgenstrahlen von den unterschiedlichen Pixeln auf das Objekt aus unterschiedlichen Winkeln anzuwenden.
  20. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei die Röntgenstrahlquelle ausgelegt ist, die Röntgenstrahlen in einer vorbestimmten Sequenz anzuwenden.
  21. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei die Röntgenstrahlquelle ausgelegt ist, die Röntgenstrahlen gleichzeitig anzuwenden.
  22. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei die Röntgenstrahlen unterschiedliche Röntgenstrahlenergien aufweisen.
  23. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei der Röntgenstrahldetektor einen digitalen Detektor mit einer hohen Rahmenrate umfasst.
  24. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei der Röntgenstrahldetektor Detektoren umfasst, die gewählt sind aus der Gruppe, die besteht aus einem oder mehreren Si-PIN-Photodioden-Röntgenstrahldetektoren, einem oder mehreren ladungsgekoppelten Vorrichtungs-(CCD-) Flächendetektoren, einem oder mehreren amorphen Selen-(a-Se-) Flächendetektoren und einem oder mehreren amorphen Silizium-(a-Si-) Flächendetektoren.
  25. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei der zeitliche Signalprozess eine zeitliche Fourier-Analyse umfasst.
  26. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei der zeitliche Signalprozess eine zeitliche Wavelet-Analyse umfasst.
  27. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, wobei die zeitlichen Daten, die die gleichen Frequenzen wie die vorbestimmten Frequenzen aufweisen, den gepulsten Röntgenstrahlen entsprechen.
  28. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, umfassend eine zeitliche Transformationsfunktion, die ausgelegt ist, ein Leistungsspektrum in der Frequenzdomäne auf der Grundlage der zeitlichen Daten zu erzeugen.
  29. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 28, umfassend ein Frequenzbandbreitenfilter, das ausgelegt ist, Teile des Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne zu filtern, die den vorbestimmten Frequenzen nicht entsprechen.
  30. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 29, wobei das Frequenzbandbreitenfilter ausgelegt ist, die Teile des Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne zu verwerfen, die den vorbestimmten Frequenzen nicht entsprechen.
  31. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, umfassend einen Monochromator, der ausgelegt ist, monochromatische gepulste Röntgenstrahlen zu erzeugen.
  32. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 13, umfassend einen Prozessor, der ausgelegt ist, gleichzeitig Mehrfach-Projektionsbilder des Objekts zu empfangen.
  33. Röntgenstrahl-Bildgebungssystem nach Anspruch 32, wobei der Prozessor ausgelegt ist, 3-D-Bilder des Objekts zu rekonstruieren.
  34. Verfahren zum Röntgenstrahl-Abbilden, wobei das Verfahren umfasst: (a) Anwenden eines gepulsten Röntgenstrahls, der eine vorbestimmte Frequenz aufweist, auf ein abzubildendes Objekt; (b) Erfassen der Röntgenstrahlung von dem Objekt; (c) Erzeugen zeitlicher Daten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung; und (d) Anwenden eines zeitlichen Signalprozesses auf die zeitlichen Daten, um zumindest einen Teil der zeitlichen Daten, die eine unterschiedliche Frequenz als die vorbestimmte Frequenz aufweisen, zu entfernen.
  35. Verfahren nach Anspruch 34, wobei das Anwenden des zeitlichen Signalprozesses ein Anwenden einer zeitlichen Fourier-Analyse umfasst.
  36. Verfahren nach Anspruch 34, wobei das Anwenden des zeitlichen Signalprozesses ein Anwenden einer zeitlichen Wavelet-Analyse umfasst.
  37. Verfahren nach Anspruch 34, wobei der zumindest ein Teil der zeitlichen Daten, die die unterschiedliche Frequenz aufweisen, Rauschen in der erfassten Röntgenstrahlung entspricht.
  38. Verfahren nach Anspruch 34, umfassend ein Erzeugen eines Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne auf der Grundlage der zeitlichen Daten.
  39. Verfahren nach Anspruch 38, umfassend ein Filtern von Teilen des Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne, die der vorbestimmten Frequenz nicht entsprechen.
  40. Verfahren nach Anspruch 39, umfassend ein Verwerfen der Teile des Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne, die der vorbestimmten Frequenz nicht entsprechen.
  41. Verfahren nach Anspruch 34, umfassend ein Drehen des Objekts in unterschiedliche Positionen bezüglich des Röntgenstrahls.
  42. Verfahren zum Röntgenstrahl-Abbilden, wobei das Verfahren umfasst: (a) Anwenden einer Mehrzahl von gepulsten Röntgenstrahlen, die unterschiedliche vorbestimmte Frequenzen aufweisen, auf ein abzubildendes Objekt; (b) Erfassen der Röntgenstrahlung von dem Objekt; (c) Erzeugen von zeitlichen Daten auf der Grundlage der Röntgenstrahlung; und (d) Anwenden eines zeitlichen Signalprozesses auf die zeitlichen Daten, um Mehrfach-Projektionsbilder gleichzeitig zu erhalten.
  43. Verfahren nach Anspruch 42, wobei das Anwenden der gepulsten Röntgenstrahlen ein Wavelet-Kodieren der Röntgenstrahlen umfasst.
  44. Verfahren nach Anspruch 43, wobei das Anwenden eines zeitlichen Signalprozesses ein Wavelet-Dekodieren der zeitlichen Daten umfasst.
  45. Verfahren nach Anspruch 42, wobei das Anwenden der gepulsten Röntgenstrahlen ein Anwenden der gepulsten Röntgenstrahlen auf das Objekt aus unterschiedlichen Richtungen umfasst.
  46. Verfahren nach Anspruch 42, wobei das Anwenden der gepulsten Röntgenstrahlen ein Anwenden der gepulsten Röntgenstrahlen in einer vorbestimmten Sequenz umfasst.
  47. Verfahren nach Anspruch 42, wobei das Anwenden der gepulsten Röntgenstrahlen ein gleichzeitiges Anwenden der Röntgenstrahlen umfasst.
  48. Verfahren nach Anspruch 42, wobei die Röntgenstrahlen unterschiedliche Röntgenstrahlenergien aufweisen.
  49. Verfahren nach Anspruch 42, wobei die Röntgenstrahlen monochromatisch sind.
  50. Verfahren nach Anspruch 42, wobei das Anwenden eines zeitlichen Signalprozesses ein Anwenden einer zeitlichen Fourier-Analyse umfasst.
  51. Verfahren nach Anspruch 42, wobei das Anwenden eines zeitlichen Signalprozesses ein Anwenden einer zeitlichen Wavelet-Analyse umfasst.
  52. Verfahren nach Anspruch 42, wobei das Anwenden eines zeitlichen Signalprozesses ein Erzeugen eines Leistungsspektrums in der Frequenzdomäne auf der Grundlage der zeitlichen Daten umfasst.
  53. Verfahren nach Anspruch 42, umfassend ein Verarbeiten des zeitlichen Signals, um Mehrfach-Projektionsbilder des Objekts gleichzeitig zu erhalten.
  54. Verfahren nach Anspruch 53, umfassend ein Verarbeiten des zeitlichen Signals, um 3-D-rekonstruierte CT-Bilder des Objekts unter Verwendung der Mehrfach-Projektionsbilder des Objekts zu erhalten.
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