DE1115050B - Schlierenoptische Anordnung - Google Patents

Schlierenoptische Anordnung

Info

Publication number
DE1115050B
DE1115050B DEP22073A DEP0022073A DE1115050B DE 1115050 B DE1115050 B DE 1115050B DE P22073 A DEP22073 A DE P22073A DE P0022073 A DEP0022073 A DE P0022073A DE 1115050 B DE1115050 B DE 1115050B
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
optical arrangement
arrangement according
optical
diaphragm
schlieren
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DEP22073A
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Dipl-Math Dietrich Stams
Dr Hans Jakob
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Phywe AG
Original Assignee
Phywe AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to NL245362D priority Critical patent/NL245362A/xx
Application filed by Phywe AG filed Critical Phywe AG
Priority to DEP22073A priority patent/DE1115050B/de
Priority to CH8125259A priority patent/CH378067A/de
Priority to FR815133A priority patent/FR1244766A/fr
Publication of DE1115050B publication Critical patent/DE1115050B/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods
    • G01N21/455Schlieren methods, e.g. for gradient index determination; Shadowgraph
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/41Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length
    • G01N21/45Refractivity; Phase-affecting properties, e.g. optical path length using interferometric methods; using Schlieren methods

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
DEP22073A 1959-01-21 1959-01-21 Schlierenoptische Anordnung Pending DE1115050B (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
NL245362D NL245362A (US07223432-20070529-C00017.png) 1959-01-21
DEP22073A DE1115050B (de) 1959-01-21 1959-01-21 Schlierenoptische Anordnung
CH8125259A CH378067A (de) 1959-01-21 1959-11-30 Schlierenoptische Anordnung zur Bestimmung von Brechungsindexgradienten in geschichteten Lösungen
FR815133A FR1244766A (fr) 1959-01-21 1960-01-08 Dispositif strioscopique

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DEP22073A DE1115050B (de) 1959-01-21 1959-01-21 Schlierenoptische Anordnung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE1115050B true DE1115050B (de) 1961-10-12

Family

ID=7368562

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DEP22073A Pending DE1115050B (de) 1959-01-21 1959-01-21 Schlierenoptische Anordnung

Country Status (4)

Country Link
CH (1) CH378067A (US07223432-20070529-C00017.png)
DE (1) DE1115050B (US07223432-20070529-C00017.png)
FR (1) FR1244766A (US07223432-20070529-C00017.png)
NL (1) NL245362A (US07223432-20070529-C00017.png)

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2612814A (en) * 1948-05-26 1952-10-07 Du Pont Differential refractometer

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2612814A (en) * 1948-05-26 1952-10-07 Du Pont Differential refractometer

Also Published As

Publication number Publication date
CH378067A (de) 1964-05-31
FR1244766A (fr) 1960-10-28
NL245362A (US07223432-20070529-C00017.png)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2558392A1 (de) Partikelanalysator
DE19758338B4 (de) Linsenmesser
DE2504802B2 (de) Fluoreszenzmikrophotometer zum Arbeiten mit senkrechter Reflexion
DE867757C (de) Lichtelektrische Pruefeinrichtung
DE742220C (de) Verfahren und Vorrichtung zum Untersuchen der Einstellung von optischen Systemen, insbesondere von photographischen Objektiven
DE1115050B (de) Schlierenoptische Anordnung
DE102014222271A1 (de) Maskeninspektionssystem zur Inspektion von Lithographiemasken
DD252119A1 (de) Anordnung zur bestimmung der oberflaechen von objekten mittels moretechnik
DE2423255A1 (de) Optisches geraet
DE932997C (de) Verfahren und Vorrichtung zur automatischen Bestimmung der Anzahl und Ausdehnung ungleich geformter und unregelmaessig verteilter Elemente eines Prueflings
DE621820C (de) Vorrichtung zur Bestimmung der Lichtdurchlaessigkeit duenner Schichten, insbesondere photographischer Schichten
CH237420A (de) Optisches Prüfgerät für die Umrissform von Werkstücken.
DE745688C (de) Optische Anordnung fuer Messgeraete mit Lichtzeiger
DE736346C (de) Stereoskopisches Messgeraet
DE2732430A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum analysieren einer reproduktions-vorlage
DE3203984C2 (de) Verfahren und Anordnung zur Darstellung der Abbildungsgüte von optischen Systemen
AT265697B (de) Zusatz-Gerät für optische Instrumente, insbesondere für Mikroskope
DE676898C (de) Verfahren und Einrichtung zur Messung des Gradienten photographischer Schichten
DE2100304C (de) Verfahren und Vorrichtung zum beruh rungslosen Messen der Oberflachenbeschaf fenheit, insbesondere Rauhigkeit einer im wesentlichen ebenen Flache
DE727894C (de) Verfahren zum Bestimmen der Belichtungszeit bei Farbaufnahmen
DE3207973A1 (de) Optische vorrichtung
DE842856C (de) Vorrichtung zum Nachweis der zweidimensionalen Abweichungen des Lichtes von einer Normalrichtung unter Verwendung des Schlierenverfahrens
DE2611888C2 (de) Vorrichtung zum Ausmessen von Proben
AT214274B (de) Vergrößerungsgerät mit Belichtungsmeßvorrichtung
WO2005003837A1 (de) Verfahren und anordnung zur eliminierung von falschlicht