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Interferometer Das Interferometer nach MichelsonoderLinnik ist zur
Beobachtung von reflektierenden Objekten im Auflicht, das Interferometer nach Mach-Zehnder
von durchsichtigen Objekten im Durchlicht geeignet.
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Es ist bereits vorgeschlagen worden, auf der Objektseite eines Mikroskopobj
ektivs eine Mach-Zehnder-Einrichtung anzuordnen, wobei das Objektiv einen großen
Arbeitsabstand und daher schwache Vergrößerung haben muß. Um dieses Mikroskop auch
für Auflichtbeobachtung zu benutzen, ist vorgesehen, daß der eine Teilerspiegel
der .Mach-Zehnder-Einrichtung um 90" gedreht wird und daß ein Referenzspiegel und
ein Kondensator eingefügt wir. Es ist ferner bekannt, daß für ein Interferenzmikroskop
mit einer Mach-Zehnder-Einrichtung vier genau gleiche Objektive erforderlich sind,
die nur mit Schwieriglteit zu finden sind. Die Erfindung betrifft ein Intetferometer,
das sowohl für die Durchlichtbeobachtung als auch für Auflicht-- beobachtung dienen
kann. Insbesondere kann es als Mikroskop mit starker Vergrößerung und großer Apertur
eingerichtet sein. Das Interferometer nach der Erfindung unterscheidet sich ferner
von den bekannten Instrumenten vorteilhaft dadurch, daß es nur drei Objektive zu
enthalten braucht und ohne Veränderung für beide Beobachtungsarten dient.
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Die Erfindung besteht darin, daß in dem einen Teilstrahl des durch
einen Strahlenteiler geteilten Lichtbündels eine Einrichtung für Durchlicht und
in dem anderen Teilstrahl eine Einrichtung für Auflicht angeordnet ist, in die wahlweise
ein Objekt gestellt werden kann. Die kohärenten Teilstrahlen werden nach Durchlaufen
der Einrichtungen einem Strahlenvereiniger zugeführt. Insbesondere sind in der Durchlicht-Einrichtung
zwei gegeneinander gerichtete Ob-Objektive vorgesehen, welche die Objektebene einschließen,
während in der Auflicht-Einrichtung nur ein Objektiv steht, welches infolge der
Reflexion an der Objektebene der Auflicht Einrichtung zweimal durchlaufen wird.
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Wird das Interferometer für ein in der Objektebene der Durchlicht-Einrichtung
stehendes Objekt benutzt, so wird in die Objektebene der Auflicht-Einrichtung ein
Referenzspiegel gestellt.
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Wird das Interferometer für ein in der Objektebene der Auflicht-Einrichtung
stehendes reflektierendes Objekt benutzt, so bleibt die Objektebene der Durchlicht-Einrichtung
frei, so daß der diese Einrichtung durchlaufende Teilstrahl als Referenzstrahl dient.
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Zur Einstellung der Breite und Neigung der Interferenzstreifen dienen
die hierfür üblichen Mittel, nämlich der Aragokompensator und die bekannte schwenkbare
planparallele Glasplatte. Man kann aber auch verstellbare Spiegel benutzen.
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Mit diesen Mitteln kann man für beide Teilstrahlen genau gleiche
optische Wege erreichen. Man erhält dann einen unendlich breiten Interferenzstreifen.
Das Objekt erscheint dann als Phasenkontrastbild.
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In der Zeichnung sind - Ausführungsbeispiele des Interferometers
nach der Erfindung dargestellt. Es zeigt Fig. 1 ein Interferometer mit einander
parallelen Obj ektebenen, Fig. 2 ein Interferometer mit senkrecht zueinander stehenden
Objektebenen.
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Das von der Lichtquelle 1 kommende, durch Aperturblende und Sehfeldblende
gehende und durch die Linse 2 parallel gemachte einfallende Lichtbündel trifft auf
den Strahlenteiler 3 und wird in die Teilstrahlen 4 und 5 zerlegt. Der Teilstrahl
5 wird nach Durchlaufen der Kompensationsplatte 6 durch den Umlenkspiegel 7 den
beiden gegeneinandergerichteten Objektiven 8 und 9 zugeführt, zwischen denen ein
Objekttisch 10 angeordnet ist. Nach Fig. 1 sind weitere Umlenkspiegelflächen 11
und 12 vorgesehen, welche den Teilstrahl 5 der Vereinigungsfläche 13 zuführen. Der
Teilstrahl 4 geht durch das Objektiv 14 zur Objektebene 15 der Auflicht-Einrichtung.
Hier kann entweder das spiegelnde Objekt oder der gestrichelt gezeichnete Referenzspiegel
16 angeordnet werden. Der zurückkehrende Teilstrahl 4 durchsetzt den Strahlenteiler
3 und die Vereinigungsspiegelfläche 13. Beide Teilstrahlen werden dem Fernrohr 17
in sonst bekannter Weise zugeführt. Der Teilstrahl 4 wird einmal an einer halbdurchlässigen
Teilerfläche reflektiert und geht zweimal durch eine solche hindurch, so daß seine
Intensität auf ein Achtel herabgesetzt wird. Dagegen wird der Teilstrahl5 einmal
von einer Teilerfläche durchgelassen und einmal reflektiert. Daher ist es zweckmäßig,
die Spiegelfläche 7 halbreflektierend auszubilden. Die Spiegel 11 und 12 sind als
Dachkantspiegel oder -prismen ausgebi
Idet, derart, daß der Lichtstrahl
zuerst auf die eine Dachfläche fällt und von dieser auf die zweite reflektiert wird.
Verschiebt man beide Dachkantspiegel gemeinsam in Richtung des Pfeiles, so ändert
man die Weglänge des Strahls 5. Bei Verschiebung in Richtung des zweifachen Pfeiles
erhält man in dem Okular die zur Erzeugung der Interferenzstreifen erforderliche
Pupillenversetzung derart, daß die Pupillen der Strahlen 4 und 5 nebeneinanderliegen.
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Verschiebt man senkrecht zur Zeichenebene einen Dachspiegel oder beide
in entgegengesetzten Richtungen, so liegen die Pupillen nebeneinander in Richtung
senkrecht zur Zeichenebene. Daher kann man durch eine Kombination der Verschiebungen
die Interferenzstreifen in beliebiger Richtung einstellen. Man kann zur Pupillenversetzung
auch die Dachkantprismen durch die bekannten Planplatten 19, 20 (Fig. 2) ersetzen.
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Nach Fig. 2 sind die mit denselben Ziffern wie in Fig. 1 bezeichneten
Teile so angeordnet, daß die Objektebenen 10 und 15 senkrecht zueinander stehen.
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Die beiden Teilstrahlen 4 und 5 werden durch die Spiegelprismen 22
und 23 dem Vereinigungsspiegel 13 zugeführt. Durch eine geringe Verschiebung der
Prismen 22, 23 kann man die zur Erzeugung der Interferenzstreifen nötige Pupillenversetzung
bewirken. Mit 19 und 20 sind drehbare und kippbare Planplatten bezeichnet.
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Man erkennt, daß die Objektive 8 und 9 eine Durchlicht-Einrichtung
bilden, für welche der Teilstrahl 4 den Referenzstrahl bildet, falls der Referenzspiegel
16 eingeschaltet ist. Falls man aber ein Auflichtobjelçt in die Objektebene 15 bringt,
so bildet der Teilstrahl 5 den Referenzstrahl.
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PATENTANSPROCHE: 1. Interferometer, dadurch gekennzeichnet, daß in
dem einen Teilstrahl des durch einen Strahlen-
teiler geteilten Lichtbündels eine
Einrichtung für Durchlicht und in dem anderen Teilstrahl eine Einrichtung für Auflicht
angeordnet ist, in die wahlweise ein Objekt gestellt werden kann, und daß die Teilstrahlen
nach Durchlaufen der Einrichtungen einem Strahlenvereiniger zugeführt sind.