DE10352334B4 - Verfahren zur Regelung einer Mikrofokus-Röntgeneinrichtung - Google Patents
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Abstract
Verfahren zur Regelung der Intensität der durch eine Röntgenröhre einer Mikrofokus-Röntgeneinrichtung erzeugten Röntgenstrahlung, wobei
– die Röntgenröhre ein Target und Mittel zur Beaufschlagung des Targets mit einem Targetstrom aufweist,
– zur Regelung der Intensität der Röntgenstrahlung wenigstens ein Parameter des Targetstromes geregelt wird,
– mittels eines Hochspannungsgenerators eine im Wesentlichen konstante Hochspannung erzeugt wird, durch die aus einer Kathode freigesetzte Elektronen zum Erzeugen eines Emissionsstromes der Röntgenröhre in Richtung auf das Target beschleunigt werden,
– bei einer Verringerung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung erhöht wird, und bei einer Erhöhung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung verringert wird.
– die Röntgenröhre ein Target und Mittel zur Beaufschlagung des Targets mit einem Targetstrom aufweist,
– zur Regelung der Intensität der Röntgenstrahlung wenigstens ein Parameter des Targetstromes geregelt wird,
– mittels eines Hochspannungsgenerators eine im Wesentlichen konstante Hochspannung erzeugt wird, durch die aus einer Kathode freigesetzte Elektronen zum Erzeugen eines Emissionsstromes der Röntgenröhre in Richtung auf das Target beschleunigt werden,
– bei einer Verringerung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung erhöht wird, und bei einer Erhöhung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung verringert wird.
Description
- Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Regelung der Intensität der durch eine Mikrofokus-Röntgeneinrichtung erzeugten Röntgenstrahlung.
- Mikrofokus-Röntgeneinrichtungen sind allgemein bekannt, beispielsweise durch
US 4344013 A , und werden beispielsweise zum Prüfen von Leiterplatten in der Elektronikindustrie eingesetzt. Entsprechende Mikrofokus-Röntgeneinrichtungen sind ferner auch durchEP 0 815 582 B1 ,CH 559 969 A WO 96/29723 A1 DE 32 225 11 A1 bekannt. - Es sind Mikrofokus-Röntgeneinrichtungen der betreffenden Art bekannt, die ein Target und Mittel zur Beaufschlagung des Targets mit einem Targetstrom aufweisen. Die bekannten Mikrofokus-Röntgeneinrichtungen weisen ferner Mittel zur Regelung der Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung auf. Diese Mittel sind bei den bekannten Röntgeneinrichtungen beispielsweise dadurch gebildet, daß ein von einem Filament ausgehender Emissionsstrom geregelt wird.
- Ein Nachteil der bekannten Mikrofokus-Röntgeneinrichtungen besteht darin, daß die erzielte Regelung keine ausreichende Zuverlässigkeit aufweist. Dies führt dazu, daß sich beispielsweise bei Untersuchung eines elektronischen Bauteiles im Verlaufe der Untersuchung die Bildhelligkeit ändert. Dies schränkt insbesondere die Möglichkeiten einer automatischen Bildverarbeitung, die eine konstante oder nahezu konstante Bildhelligkeit voraussetzt, in erheblichem Maße ein.
- Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Regelung einer Mikrofokus-Röntgeneinrichtung anzugeben, bei der die Zuverlässigkeit der Regelung erhöht ist.
- Diese Aufgabe wird durch ein im Anspruch 1 angegebenes erfindungsgemäßes Verfahren zur Regelung der Intensität der von einer Mikrofokus-Röntgeneinrichtung erzeugten Röntgenstrahlung gelöst.
- Der Grundgedanke der erfindungsgemäßen Lehre besteht darin, die Intensität der Röntgenstrahlung dadurch zu regeln, daß wenigstens ein Parameter des Targetstromes, insbesondere die Stromstärke des Targetstromes, geregelt wird. Durch Regelung des Targetstromes ist die Intensität der durch die Röntgenröhre erzeugten Röntgenstrahlung mit hoher Konstanz und Zuverlässigkeit regelbar. Damit ist die Röntgeneinrichtung insbesondere in Bereichen gut einsetzbar, in denen es besonders auf eine hohe Konstanz der Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung ankommt. Insbesondere ist die Röntgeneinrichtung besonders gut bei der Untersuchung elektronischer Bauteile einsetzbar, bei der Verfahren der automatischen Bildverarbeitung zur Anwendung kommen, die nur dann mit hinreichender Zuverlässigkeit anwendbar sind, wenn die Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung hinreichend konstant sind.
- Erfindungsgemäß weist die Mikrofokus-Röntgeneinrichtung einen Hochspannungsgenerator zum Erzeugen einer vorzugsweise im wesentlichen konstanten Hochspannung auf, durch die zum Erzeugen eines Emissionsstromes der Röntgenröhre aus einer Kathode freigesetzte Elektronen in Richtung auf das Target beschleunigt werden.
- Insbesondere ist erfindungsgemäß vorgesehen, daß bei einer Verringerung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung erhöht wird, und bei einer Erhöhung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung verringert wird. Dabei wird die Trägheit der Regelung an die hinsichtlich der Hochspannung in der Röntgenröhre herrschenden Verhältnisse angepaßt.
- Ein besonderer Vorteil der erfindungsgemäßen Lehre besteht darin, daß aufgrund der Regelung des Targetstromes weder das thermische Verhalten der Röntgenröhre und eines zugehörigen Hochspannungsgenerators noch eine Alterung der Komponenten der Röntgeneinrichtung die Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung in wesentlichem Maße beeinflussen. Auch ein Wechsel zwischen unterschiedlichen Betriebsarten der Röntgeneinrichtung mit unterschiedlichen Brennfleckgrößen führt bei einer Regelung des Targetstromes nicht zu einer wesentlichen Änderung der Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung.
- Erfindungsgemäß können beliebige Parameter des Targetstromes geregelt werden. Da es sich bei dem Targetstrom in der Regel um einen Gleichstrom handeln wird, ist es besonders zweckmäßig, die Stromstärke des Targetstromes zu regeln. Handelt es sich demgegenüber bei dem Targetstrom beispielsweise um einen gepulsten Strom, so können beispielsweise die Pulsdauer oder das Tastverhältnis des Targetstromes geregelt werden. Handelt es sich bei dem Targetstrom um einen Wechselstrom, so können beispielsweise die Amplitude und/oder die Frequenz des Targetstromes geregelt werden.
- Weiterhin ist es möglich, den oder die zu regelnden Parameter des Targetstromes unmittelbar zu erfassen, beispielsweise bei Regelung der Stromstärke des Targetstromes dadurch, daß die Stromstärke des Targetstromes gemessen wird. Weiterhin ist es jedoch auch möglich, den zu regelnden Parameter des Targetstromes indirekt zu erfassen. Wird die Stromstärke des Targetstromes geregelt, so ist es beispielsweise möglich, die Stromstärke des Targetstromes indirekt dadurch zu erfassen, daß von dem Targetstrom rückgestreute Elektronen und damit ein ”Abbild” der Stromstärke des Targetstromes zu erfassen.
- Wenn das Target elektrisch gegen einen Grundkörper der Röntgenröhre isoliert an dem Grundkörper angeordnet ist, ist die Stromstärke des Targetstromes mit besonders hoher Zuverlässigkeit meßbar und als Istwert für die Regelung verwendbar.
- Zweckmäßigerweise ist ein Stromsensor zur Erfassung eines Istwertes der Stromstärke des Targetstromes vorgesehen. Der von dem Stromsensor erfaßte Istwert des Targetstromes kann dabei unmittelbar als Istwert für die Regelung des Targetstromes herangezogen werden. Es ist jedoch auch möglich, die Regelung des Targetstromes auf einer anderen Größe zu basieren, beispielsweise einer von dem Targetstrom abhängigen elektrischen Größe. Insbesondere ist es möglich, den gemessenen Targetstrom in eine Spannung zu wandeln und diese Spannung als Istwert für die Regelung heranzuziehen.
- Zweckmäßigerweise weisen die Mittel zur Regelung des Targetstromes eine Regeleinrichtung auf.
- Weiterhin kann vorgesehen werden, daß die Regeleinrichtung einen erfaßten Istwert des Targetstromes mit einem vorgegebenen Sollwert des Targetstromes vergleicht und eine Stellgröße derart verändert, daß die Differenz zwischen dem Sollwert und dem Istwert minimiert wird. Dabei kann die Regelung auch auf Basis von elektrischen Größen erfolgen, die von dem Targetstrom abhängig sind. Insbesondere kann der erfaßte Istwert des Targetstromes in eine Spannung gewandelt werden, die dann als Istwert der Regeleinrichtung zugeführt wird, die diese Spannung mit einem vorgegebenen Sollwert einer von einem Sollwert des Targetstromes abhängigen Spannung vergleicht und die Stellgröße derart verändert, daß die Differenz zwischen dem Sollwert und dem Istwert minimiert wird.
- Um eine besonders einfache und zuverlässige Regelung des Targetstromes zu erzielen, sieht eine Weiterbildung vor, daß die Stellgröße der Emissionsstrom ist.
- Weiterhin kann vorgesehen werden, daß die Regeleinrichtung eine elektrische oder elektronische Schaltung aufweist, die einen Regler bildet. Hierbei ist der Regler durch Hardware realisiert.
- Entsprechend den jeweiligen Anforderungen kann die Regeleinrichtung jedoch auch durch Software realisiert sein. Hierbei ist vorgesehen, daß die Regeleinrichtung eine elektronische Schaltung aufweist, die durch eine Regelungssoftware steuerbar ist, derart, daß die Regelung softwaregesteuert erfolgt. Ein besonderer Vorteil besteht darin, daß die Regelung des Targetstromes durch Veränderung der Software auf einfache Weise veränderbar ist.
- Weiterhin kann vorgesehen werden, daß die elektronische Schaltung einen Mikrocontroller oder dergleichen aufweist. Derartige Mikrocontroller stehen als einfache und kostengünstige Standardbauteile zur Verfügung.
- Grundsätzlich kann die Regelung des Targetstromes während des Betriebs der Röntgeneinrichtung stets eingeschaltet sein. Eine besonders vorteilhafte Weiter bildung der erfindungsgemäßen Lehre sieht jedoch vor, daß die Regelung des Targetstromes ein- und ausschaltbar ist. Bei dieser Ausführungsform kann das Ein- bzw. Ausschalten der Regelung des Targetstromes durch einen Benutzer und/oder automatisch erfolgen. Die Regelung des Targetstromes kann beispielsweise dann ausgeschaltet werden, wenn eine stabile Regelung des Targetstromes nicht möglich ist, beispielsweise wegen momentaner Betriebsparameter der Röntgeneinrichtung, um einer Fehlfunktion der Regelung vorzubeugen.
- Weiterhin kann vorgesehen werden, daß bei ausgeschalteter Regelung des Targetstromes eine weitere Regeleinrichtung den Emissionsstrom der Röntgenröhre regelt. Dabei wird nach einem Ausschalten der Regelung des Targetstromes der Emissionsstrom der Röntgenröhre geregelt. Wenn auch durch Regelung des Emissionsstromes nicht mit hinreichender Genauigkeit eine Regelung der Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung möglich ist, so ist gleichwohl durch die Regelung des Emissionsstromes sichergestellt, daß Schwankungen der Intensität sich in einem gewissen Rahmen halten.
- Eine andere Weiterbildung der erfindungsgemäßen Lehre sieht vor, daß ein beim Einschalten der Regelung des Targetstromes momentan fließender Targetstrom den Sollwert des Targetstromes bildet. Diese Ausführungsform ermöglicht es, die beim Einschalten der Regelung vorliegende Intensität der Röntgenstrahlung und damit die vorliegende Bildhelligkeit konstant zu halten.
- Weiterhin kann bei der Regelung des Emissionsstromes vorgesehen werden, daß ein beim Ausschalten der Regelung des Targetstromes momentan fließender Emissionsstrom einen Sollwert für die Regelung des Emissionsstromes durch die weitere Regel einrichtung bildet. Hier ändert sich beim Ausschalten der Regelung des Targetstromes die Bildhelligkeit nicht.
- Eine andere vorteilhafte Weiterbildung der erfindungsgemäßen Lehre sieht vor, daß die Regeleinrichtung den Targetstrom so regelt, daß ein Überschreiten einer vorgegebenen oder vorgebbaren maximalen elektrischen Leistung des Targets verhindert ist. Bei dieser Ausführugnsform ist eine Beschädigung des Targets durch einen elektrische Überlastung, die beispielsweise durch ein Überschwingen beim Einschalten auftreten könnte, zuverlässig vermieden.
- Eine andere vorteilhafte Weiterbildung der erfindungsgemäßen Lehre sieht vor, daß ein Einschalten der Regelung des Targetstromes nach einem Einschalten der Mikrofocus-Röntgenröhre zeitlich verzögert erfolgt. Auf diese Weise ist sichergestellt, daß die Regelung des Targetstromes erst dann aktiviert wird, wenn ein stabiler Betrieb der Regelung möglich ist.
- Eine Weiterbildung der vorgenannten Ausführungsform sieht vor, daß das Einschalten erfolgt, wenn der Emissionsstrom einen vorgegebenen oder vorgebbaren Sollwert erreicht. Bei dieser Ausführungsform ist sichergestellt, daß die Regelung nicht etwa zu einem Zeitpunkt aktiviert wird, zu dem noch kein Emissionsstrom fließt.
- Da die Eigenschaften der durch den Hochspannungsgenerator, das zugehörige Hochspannungskabel und die Röntgenröhre gebildeten Regelstrecke der Regelung des Targetstromes u. U. in erheblichem Maße von der Hochspannung abhängig sind, sieht eine vorteilhafte Weiterbildung der erfindungsgemäßen Lehre vor, daß Regelparameter der Regeleinrichtung in Abhängigkeit von der Hochspannung veränderbar sind.
- Falls entsprechend den jeweiligen Anforderungen erforderlich, kann die Röntgenröhre Mittel aufweisen, durch die der Emissionsstrom derart ablenkbar oder blockierbar ist, daß ein Auftreffen des Emissionsstromes auf das Target im wesentlichen verhindert ist.
- Eine Weiterbildung der vorgenannten Ausführungsform sieht vor, daß bei Aktivierung der Mittel, durch die der Emissionsstrom ablenkbar oder blockierbar ist, ein Ausschalten der Regelung des Targetstromes erfolgt. Auf diese Weise sind Fehlfunktionen der Regelung zuverlässig vermieden.
- Gemäß einer anderen Weiterbildung der erfindungsgemäßen Lehre sind Mittel vorgesehen, die feststellen, ob an dem Target ein Kurzschluß vorliegt, wobei die Mittel bei Feststellung eines Kurzschlusses die Regelung des Targetstromes ausschalten. Auf diese Weise ist verhindert, daß das Target im Falle eines Kurzschlusses, bei dem der Targetstrom ganz oder teilweise abgeleitet wird, durch einen zu hohen Targetstrom zerstört wird.
- Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung näher erläutert, deren einzige Figur ein stark schematisiertes Blockschaltbild einer Röntgeneinrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens zeigt.
- In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel einer Mikrofokus-Röntgeneinrichtung
2 dargestellt, die nachfolgend kurz als Röntgeneinrichtung bezeichnet wird. Die Röntgeneinrichtung weist eine Röntgenröhre4 auf, die ein Target6 auf weist, das an einem Grundkörper8 der Röntgenröhre4 angeordnet ist. Aus der Zeichnung ist nicht ersichtlich und deshalb wird hier erläutert, daß das Target6 elektrisch isoliert gegen den Grundkörper8 der Röntgenröhre4 an dem Grundkörper8 angeordnet ist. Die Isolierung kann beispielsweise aus Keramik oder dergleichen bestehen. - Die Röntgeneinrichtung
2 weist ferner Mittel zur Beaufschlagung des Targets6 mit einem Targetstrom auf, die einen als Kathode geschalteten Heizfaden10 aufweisen. Die Mittel zur Beaufschlagung des Targets6 mit einem Targetstrom weisen ferner einen Hochspannungsgenerator12 zum Erzeugen einer veränderbaren, nach einer Veränderung jedoch im wesentlichen konstanten Hochspannung auf, mittels derer in einem im Inneren des Grundkörpers4 herrschenden Vakuum aus dem Heizfaden10 freigesetzte Elektronen in Richtung auf das Target6 beschleunigt werden, wobei beim Auftreffen der Elektronen auf das Target6 in dem Fachmann allgemein bekannter Weise Röntgenstrahlung entsteht. - Die aus dem Heizfaden
10 austretenden und durch die Hochspannung in Richtung auf das Target6 beschleunigten Elektronen bilden einen Emissionsstrom14 , der mittels einer Spule16 fokussiert wird. In Bewegungsrichtung der Elektronen hinter der Spule16 ist eine Lochblende18 angeordnet, die dazu dient, den Durchmesser des Elektronenstrahles derart zu verringern, daß die Röntgenröhre einen Brennfleck mit einem Durchmesser von ≤ 200 μm, insbesondere ≤ 10 μm, aufweist, so daß die Röntgenröhre4 als Mikrofokus-Röntgenröhre ausgebildet ist. Derjenige Teil des Emissionsstromes, der das Target6 erreicht, bildet einen Targetstrom. - Die Röntgeneinrichtung
2 weist ferner Mittel zur Regelung der Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung, die in der Zeichnung durch das Bezugszeichen20 symbolisiert ist, auf, wobei die Mittel erfindungsgemäß Mittel zur Regelung der Stromstärke des Targetstromes aufweisen. Bei dem in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiel ist der zu regelnde Parameter des Targetstromes die Stromstärke des Targetstromes. Die Mittel zur Regelung des Targetstromes weisen bei diesem Ausführungsbeispiel eine Regeleinrichtung22 auf, die bei diesem Ausführungsbeispiel einen Mikrocontroller aufweist, der durch eine Regelungssoftware steuerbar ist, derart, daß die Regelung der Stromstärke des Targetstromes softwaregesteuert erfolgt. - Die Röntgeneinrichtung
2 weist ferner einen Sensor24 auf, der den Targetstrom an dem Target6 abfühlt und einem Meßverstärker26 zuführt. Der Meßverstärker26 verstärkt den gemessenen Targetstrom, wobei das Ausgangssignal des Meßverstärkers einen Istwert der Strom stärke des Targetstromes bildet, der einem Eingang28 der Regeleinrichtung22 zugeführt wird. Der Regeleinrichtung22 wird ferner über einen weiteren Eingang30 ein Sollwert der Stromstärke des Targetstromes zugeführt, wobei die Regeleinrichtung22 den erfaßten Istwert des Targetstromes mit dem Sollwert des Targetstromes vergleicht und eine Stellgröße derart verändert, daß die Differenz zwischen dem Sollwert und dem Istwert minimiert wird. - Bei dem in der Zeichnung dargestellten Ausführungsbeispiel bildet der Emissionstrom die Stellgröße der Regelung. Wie allgemein bekannt, wird der Emissionsstrom dadurch erzeugt, daß aus dem Heizfaden
10 Elektronen austreten, die durch die von dem Hochspannungsgenerator12 erzeugte Hochspannung in Richtung auf das Target beschleunigt werden. In der Zeichnung ist nicht dargestellt und deshalb wird hier erläutert, daß in Bewegungsrichtung der Elektronen hinter dem Heizfaden10 ein Gitter oder dergleichen angeordnet ist, an das eine ebenfalls von dem Hochspannungsgenerator12 erzeugte Spannung anlegbar ist. Durch Veränderung der Spannung an dem Gitter ist der Emissionsstrom veränderbar, wobei sich der Emissionsstrom bei Erhöhung der an das Gitter angelegten Spannung verringert und bei Verringerung der an das Gitter angelegten Spannung erhöht. - Zur Beeinflussung der Stellgröße ist ein Ausgang
32 der Regeleinrichtung22 mit einem Steuereingang34 des Hochspannungsgenerators12 verbunden, wobei die an das Gitter angelegte Spannung und damit der Emissionsstrom über den Steuereingang34 veränderbar ist. - Die Funktionsweise der erfindungsgemäßen Röntgeneinrichtung
2 ist wie folgt:
Bei Betrieb der Röntgeneinrichtung2 wird der Heizfaden10 so beheizt, daß im Vakuum Elektronen aus dem Heizfaden10 austreten. Über den Hochspannungsgenerator wird zwischen dem als Anode geschalteten Target6 und dem als Kathode geschalteten Heizfaden10 eine Hochspannung erzeugt, aufgrund derer die aus dem Heizfaden10 austretenden Elektronen in Richtung auf das Target6 beschleunigt werden und einen Emissionsstrom der Röntgenröhre4 bilden. Der Emissionsstrom14 wird über die Spule16 und die Blende18 fokussiert, wobei ein das Target erreichender Teil des Emissionsstromes14 den Targetstrom bildet. Beim Auftreffen auf das Target6 erzeugen die Elektronen in dem Fachmann bekannter Weise die Röntgenstrahlung20 , die bei dem Ausführungsbeispiel zur Untersuchung von elektronischen Bauteilen verwendet wird. - Bei Betrieb der Röntgeneinrichtung
2 fühlt der Sensor24 den Targetstrom ab, der nach einer Verstärkung durch den Meßverstärker26 als erfaßter Istwert des Targetstromes an den Eingang28 der Regeleinrichtung22 angelegt wird. Die Regeleinrichtung22 vergleicht den erfaßten Istwert mit einem an dem Eingang30 anliegenden Sollwert und minimiert die Differenz zwischen dem vorgegebenen oder vorgebbaren Sollwert und dem erfaßten Istwert. - Wird über die Regeleinrichtung
22 festgestellt, daß sich der Istwert des Targetstromes verringert, was eine Verringerung der Helligkeit eines mittels der Röntgenstrahlung20 erzeugten Bildes zur Folge hätte, so erhöht die Regeleinrichtung22 wie in der oben beschriebenen Weise den Emmissionsstrom. Infolgedessen steigt die Stromstärke des Targetstromes so lange an, bis die Differenz zwischen dem erfaßten Istwert des Targetstromes und dem Sollwert null wird. Steigt demgegenüber die Stromstärke des Targetstromes an, so ver ringert die Regeleinrichtung22 den Emissionsstrom über den Steuereingang34 , so daß die Stromstärke des Targetstromes abnimmt, bis die Differenz zwischen dem erfaßten Istwert und dem Sollwert null wird. - Auf diese Weise wird der Targetstrom geregelt und mit hoher Genauigkeit konstant gehalten, so daß die Intensität zu der erzeugten Röntgenstrahlung konstant gehalten wird. Demzufolge bleibt die Helligkeit eines mittels der Röntgenstrahlung zur Untersuchung eines elektronischen Bauteiles erzeugten Bildes konstant, so daß eine Auswertung des Bildes mittels einer automatischen Bildverarbeitung ermöglicht bzw. wesentlich vereinfacht ist.
- Die Regeleinrichtung
22 ist bei diesem Ausführungsbeispiel so ausgebildet, daß die Regelung des Targetstromes ein- und ausschaltbar ist. - Bei einem Ausführungsbeispiel wird die Regelung des Targetstromes nach einem Einschalten der Röntgenröhre
4 zeitlich verzögert eingeschaltet, um eine Fehlfunktion der Regelung während eines Anlaufens der Röntgeneinrichtung2 , bei dem die Röntgenröhre4 für den Betrieb vorbereitet wird (warm up), die Spannung an dem Heizfaden10 eingestellt wird (filament adjust) und der Elektronenstrahl zentriert wird, zu verhindern. Bei dem Ausführungsbeispiel wird der Emissionsstrom gemessen und die Regelung dann eingeschaltet, wenn der Emissionsstrom einen vorgegebenen oder vorgebbaren Sollwert erreicht hat. - Bei dem Ausführungsbeispiel bildet ein beim Einschalten der Regelung des Targetstromes momentan fließender Targetstrom den Sollwert des Targetstromes, der dem Steuereingang
30 der Regeleinrichtung22 zugeführt wird. - Ferner wird bei dem Ausführungsbeispiel bei ausgeschalteter Regelung des Targetstromes durch eine weite re, in der Zeichnung nicht dargestellte Regeleinrichtung der Emissionsstrom der Röntgenröhre geregelt, wobei ein beim Ausschalten der Regelung des Targetstromes momentan fließender Emissionsstrom einen Sollwert für die Regelung des Emissionsstromes durch die weitere Regeleinrichtung vorgibt. Auf diese Weise ist eine Veränderung der Bildhelligkeit bei einem Ausschalten der Regelung des Targetstromes vermieden.
- Ferner wird bei dem Ausführungsbeispiel bei einer Änderung des Sollwertes der nach der Änderung wieder im wesentlichen konstanten Hochspannung die Regelung des Targetstromes ausgeschaltet, bis ein neuer Sollwert der Hochspannung erreicht ist. Weiterhin sind die Regelparameter der Regeleinrichtung
22 in Abhängigkeit von der von dem Hochspannungsgenerator12 erzeugten Hochspannung veränderbar, und zwar derart, daß bei einer Verringerung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung erhöht ist, und daß bei einer Erhöhung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung verringert ist. - Aus der Zeichnung ist nicht ersichtlich und deshalb wird hier erläutert, daß die Röntgenröhre
4 Mittel aufweist, durch die der Emissionsstrom derart ablenkbar oder blockierbar ist, daß ein Auftreffen des Emissionsstromes auf das Target im wesentlichen verhindert ist. Bei Aktivierung dieser auch als Shutter bezeichneten Mittel wird die Regelung des Targetstromes bei dem Ausführungsbeispiel ausgeschaltet. - Um das Target
6 vor einer Beschädigung zu schützen, regelt bei dem Ausführungsbeispiel die Regeleinrichtung22 den Targetstrom so, daß ein Überschreiten einer vorgegebenen oder vorgebbaren maximalen elektrischen Leistung des Targets verhindert wird. Ferner wird durch in der Zeichnung nicht dargestellte Mittel festgestellt, ob an dem Target6 ein Kurzschluß vorliegt, wobei diese Mittel bei Feststellung eines Kurzschlusses die Regelung eines Targetstromes ausschalten. Auf diese Weise ist bei dem Ausführungsbeispiel eine Beschädigung oder Zerstörung des Targets durch eine Überlastung zuverlässig vermieden. - Die Röntgeneinrichtung
2 ermöglicht auf einfache und zuverlässige Weise eine Regelung der Intensität der erzeugten Röntgenstrahlung.
Claims (15)
- Verfahren zur Regelung der Intensität der durch eine Röntgenröhre einer Mikrofokus-Röntgeneinrichtung erzeugten Röntgenstrahlung, wobei – die Röntgenröhre ein Target und Mittel zur Beaufschlagung des Targets mit einem Targetstrom aufweist, – zur Regelung der Intensität der Röntgenstrahlung wenigstens ein Parameter des Targetstromes geregelt wird, – mittels eines Hochspannungsgenerators eine im Wesentlichen konstante Hochspannung erzeugt wird, durch die aus einer Kathode freigesetzte Elektronen zum Erzeugen eines Emissionsstromes der Röntgenröhre in Richtung auf das Target beschleunigt werden, – bei einer Verringerung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung erhöht wird, und bei einer Erhöhung der Hochspannung die Regelparameter so verändert werden, daß die Trägheit der Regelung verringert wird.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass als Parameter die Stromstärke des Targetstromes geregelt wird.
- Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein Istwert der Stromstärke des Targetstromes erfaßt wird.
- Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß ein erfaßter Istwert des Targetstromes mit einem vorgegebenen Sollwert des Targetstromes verglichen und eine Stellgröße derart verändert wird, daß die Differenz zwischen dem Sollwert und dem Istwert minimiert wird.
- Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß als Stellgröße der Emissionsstrom verwendet wird.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelung des Targetstromes ein- und ausschaltbar ist.
- Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein beim Einschalten der Regelung des Targetstromes momentan fließender Targetstrom als Sollwert des Targetstromes verwendet wird.
- Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß ein beim Ausschalten der Regelung des Targetstromes momentan fließender Emissionsstrom als Sollwert für die Regelung des Emissionsstromes verwendet wird.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Targetstrom so geregelt wird, daß ein Überschreiten einer vorgegegeben oder vorgebbaren maximalen elektrischen Leistung des Targets verhindert wird.
- Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß nach dem Einschalten der Mikrofokus-Röntgenröhre die Regelung des Targetstromes zeitlich verzögert eingeschaltet wird.
- Verfahren nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die Regelung des Targetstromes eingeschaltet wird, wenn der Emissionsstrom einen vorgegebenen oder vorgebbaren Sollwert erreicht.
- Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer Änderung des Sollwertes der Hochspannung die Regelung des Targetstromes ausgeschaltet wird, bis ein neuer Sollwert der Hochspannung erreicht ist.
- Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Regelparameter der Regelung in Abhängigkeit von der Hochspannung verändert werden.
- Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß bei einer Ablenkung oder Blockierung des Emissionsstromes derart, daß ein Auftreffen des Emissionsstromes auf das Target im Wesentlichen verhindert wird, die Regelung des Targetstromes abgeschaltet wird.
- Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß festgestellt wird, ob an dem Target ein Kurzschluß vorliegt, und daß bei Feststellung eines Kurzschlusses die Regelung des Targetstromes abgeschaltet wird.
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US10/717,300 US20050100133A1 (en) | 2003-11-06 | 2003-11-19 | Microfocus x-ray apparatus |
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Publications (2)
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---|---|---|---|---|
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US8571175B2 (en) * | 2009-11-30 | 2013-10-29 | The Boeing Company | System and method for determining ionization susceptibility using x-rays |
DE102012021794B3 (de) * | 2012-11-08 | 2014-01-16 | Krohne Messtechnik Gmbh | Messanordnung zur Bestimmung einer Messgröße |
DE102012024893B4 (de) * | 2012-12-20 | 2017-01-26 | Krohne Messtechnik Gmbh | Messanordnung zur Bestimmung einer Messgröße und Verfahren zur Erzeugung eines Ausgangssignals |
US9405021B2 (en) | 2013-06-03 | 2016-08-02 | Unfors Raysafe Ab | Detector for detecting x-ray radiation parameters |
DE102014015974B4 (de) * | 2014-10-31 | 2021-11-11 | Baker Hughes Digital Solutions Gmbh | Anschlusskabel zur Verminderung von überschlagsbedingten transienten elektrischen Signalen zwischen der Beschleunigungsstrecke einer Röntgenröhre sowie einer Hochspannungsquelle |
EP3413691A1 (de) | 2017-06-08 | 2018-12-12 | Koninklijke Philips N.V. | Vorrichtung zur erzeugung von röntgenstrahlen |
DE102018201247A1 (de) | 2018-01-26 | 2019-08-01 | Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh | Objektdurchstrahlungsvorrichtung und Verfahren zum Ermitteln eines Zustandes einer Objektdurchstrahlungsvorrichtung |
US11315751B2 (en) * | 2019-04-25 | 2022-04-26 | The Boeing Company | Electromagnetic X-ray control |
US11769647B2 (en) * | 2021-11-01 | 2023-09-26 | Carl Zeiss X-ray Microscopy, Inc. | Fluid cooled reflective x-ray source |
GB2619108A (en) * | 2022-11-22 | 2023-11-29 | 3Dx Ray Ltd | A method, apparatus, system and computer program for generating a radiographic X-ray beam |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH559969A5 (de) * | 1970-05-18 | 1975-03-14 | Machlett Lab Inc | |
US4344013A (en) * | 1979-10-23 | 1982-08-10 | Ledley Robert S | Microfocus X-ray tube |
DE3222511A1 (de) * | 1982-06-16 | 1983-12-22 | Alfred Dipl.-Ing. 3050 Wunstorf Reinhold | Feinfokus-roentgenroehre und verfahren zur bildung eines mikrofokus der elektronenemission einer roentgenroehren-gluehkathode |
WO1996029723A1 (de) * | 1995-03-20 | 1996-09-26 | Medixtec Gmbh Medizinische Geräte | Mikrofocus-röntgeneinrichtung |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE322515C (de) * | 1919-10-26 | 1920-07-01 | Chemische Werke Waren Loch & C | Schweissstab zum autogenen Schweissen von Metallen |
US4322797A (en) * | 1978-04-19 | 1982-03-30 | U.S. Philips Corporation | X-ray tube filament current predicting circuit |
US5020086A (en) * | 1983-07-05 | 1991-05-28 | Ridge, Inc. | Microfocus X-ray system |
US5199054A (en) * | 1990-08-30 | 1993-03-30 | Four Pi Systems Corporation | Method and apparatus for high resolution inspection of electronic items |
JP2001319608A (ja) * | 2000-05-10 | 2001-11-16 | Shimadzu Corp | マイクロフォーカスx線発生装置 |
JP2002298772A (ja) * | 2001-03-30 | 2002-10-11 | Toshiba Corp | 透過放射型x線管およびその製造方法 |
WO2003019995A1 (fr) * | 2001-08-29 | 2003-03-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Dispositif de production de rayons x |
JP4316211B2 (ja) * | 2001-08-29 | 2009-08-19 | 株式会社東芝 | X線発生装置 |
US7448802B2 (en) * | 2002-02-20 | 2008-11-11 | Newton Scientific, Inc. | Integrated X-ray source module |
WO2004079752A2 (en) * | 2003-03-04 | 2004-09-16 | Inpho, Inc. | Systems and methods for controlling an x-ray source |
-
2003
- 2003-11-06 DE DE10352334A patent/DE10352334B4/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-11-19 US US10/717,300 patent/US20050100133A1/en not_active Abandoned
-
2004
- 2004-04-19 EP EP04009205A patent/EP1530408A3/de not_active Withdrawn
- 2004-05-13 JP JP2004144105A patent/JP2005142140A/ja active Pending
- 2004-11-08 CN CNB2004100858574A patent/CN100417307C/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CH559969A5 (de) * | 1970-05-18 | 1975-03-14 | Machlett Lab Inc | |
US4344013A (en) * | 1979-10-23 | 1982-08-10 | Ledley Robert S | Microfocus X-ray tube |
DE3222511A1 (de) * | 1982-06-16 | 1983-12-22 | Alfred Dipl.-Ing. 3050 Wunstorf Reinhold | Feinfokus-roentgenroehre und verfahren zur bildung eines mikrofokus der elektronenemission einer roentgenroehren-gluehkathode |
WO1996029723A1 (de) * | 1995-03-20 | 1996-09-26 | Medixtec Gmbh Medizinische Geräte | Mikrofocus-röntgeneinrichtung |
EP0815582B1 (de) * | 1995-03-20 | 1999-09-22 | Medixtec GmbH Medizinische Geräte | Mikrofocus-röntgeneinrichtung |
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