DE10235658B4

DE10235658B4 - Prüfungseinrichtung und Prüfungsverfahren für Dichtungen von Verschlüssen

Info

Publication number: DE10235658B4
Application number: DE2002135658
Authority: DE
Inventors: Helmut Kappner
Original assignee: Individual
Current assignee: Individual
Priority date: 2002-08-02
Filing date: 2002-08-02
Publication date: 2007-01-11
Anticipated expiration: 2022-08-03
Also published as: DE10235658A1

Abstract

Prüfeinrichtung für einen Verschlusskörper (2) mit einer innerhalb des Verschlusskörpers (2) auf einer Verschlussfläche (2.1) angeordneten Dichtung (3), wobei die Prüfeinrichtung mindestens eine erste Beleuchtungseinrichtung (4.1) für den Verschlusskörper (2) aufweist und mindestens eine durch die Beleuchtungseinrichtung (4.1) generierte Lichtlinie (4.5) auf der Dichtung (3) und auf der als Verschlussfläche ausgebildeten Bezugsfläche (2.1), die eine Höhenreferenz bildet, anbringbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtlinie (4.5) gleichzeitig an zwei gegenüberliegenden Positionen P1, P2 jeweils auf der Dichtung (3) und der angrenzenden Verschlussfläche (2.1) anbringbar ist.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf eine Prüfeinrichtung und ein Prüfverfahren für Verschlusskörper, wie Flaschenverschlüsse oder Dosendeckel, mit einer innerhalb des Verschlusskörpers auf einer Verschlussfläche angeordneten Dichtung, wobei die Prüfeinrichtung mindestens eine erste Beleuchtungseinrichtung für den Verschlusskörper aufweist und mindestens eine durch die Beleuchtungseinrichtung generierte Lichtlinie auf der Dichtung und auf der als Verschlussfläche ausgebildeten Bezugsfläche, die eine Höhenreferenz bildet, anbringbar ist.

Es ist bereits eine Einrichtung zum Prüfen von Bolzen aus der DE 42 38 115 A1 bekannt. Hierbei werden die zu prüfenden Bolzen über zwei parallel mit Abstand zueinander verlaufende Transportbänder an einer Kamera und einer Beleuchtungseinrichtung vorbeigeführt. Die Beleuchtungseinrichtung generiert ein das Werkstück umfassendes helles Licht, damit der gewünschte Kontrast erreicht wird.

Die DE 24 15 592 B2 beschreibt ein Verfahren zum Messen von Fehlstellen in einer kreisringförmigen, mit einer Dichtungsmasse versehenen Verschlusszone auf dem Boden eines rotationssymmetrischen Deckels, der einer Kontrollvorrichtung zugeführt wird, in welcher nur die kreisringförmige Verschlusszone beleuchtet wird. Während der Messung wird die kreisringförmige Verschlusszone punkt- oder strichförmig abgetastet, so dass der Durchmesser des Punktes bzw. die Länge des Striches der Breite der Verschlusszone ent spricht. Eine erfindungsgemäße Verbreiterung der Lichtlinie über die Verschlusszonen hinaus auf eine Referenzfläche sowie die Einbeziehung einer zweiten Verschlusszone durch den Lichtstrahl oder die außermittige Anordnung der Lichtlinie werden nicht beschrieben.

Die DE 44 08 291 C2 beschreibt ein Verfahren zur automatisierten optischen Prüfung einer Schweißnaht, wobei unter einem Winkel von 20° bis 70° ein Lichtstreifen quer zur Verlaufsrichtung der Schweißnaht auf dem Prüfling aufgebracht wird. Eine gleichzeitige Beleuchtung an zwei Positionen auf der Bauteiloberfläche einerseits sowie eine außermittige Anbringung der Lichtlinie andererseits werden nicht beschrieben.

Die DE 195 40 545 C2 beschreibt ein Verfahren zum optischen Überprüfen des Sitzes von Verschlusskappen auf Gefäßen, wobei während der Translation des Gefäßes mindestens ein durchgehendes Höhenprofil erzeugt wird. Dabei werden rechtwinklig zueinander angeordnete, so genannte Lichtvorhänge generiert, die jeweils aus einem gegenüberliegend zur Flasche angeordneten Sender-Empfänger-Paar bestehen, wobei der Empfänger im Wesentlichen eine Intensitätsprüfung des ihn treffenden Lichts durchführt. Eine erfindungsgemäße Generierung einer Lichtlinie auf dem zu messenden Bauteil einerseits sowie die gleichzeitige Generierung der Lichtlinie an zwei gegenüberliegenden Positionen auf dem Bauteil oder eine außermittige Positionierung der Lichtlinie andererseits zur Erfassung des Höhenprofils werden nicht beschrieben.

Die DE 196 01 114 C2 beschreibt eine Vorrichtung zur Prüfung auf lichtreflektierende Fehler. Die Generierung einer Lichtlinie auf dem Prüfling zwecks Vermessung einer Dichtung wird nicht beschrieben.

Die DE 68 11 546 U beschreibt ein Prüfgerät zum Prüfen der Dichtheit von Kunststoffüberzügen bei Deckeln. Die erfindungsgemäße Anordnung und Ausbildung der Lichtlinie mit Rücksicht auf die Messung einer erhobenen Dichtung relativ zu einer Bezugsfläche wird nicht beschrieben.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Prüfeinrichtung derart auszubilden und anzuordnen, dass eine präzise Prüfung von Dichtungen in ihrer dreidimensionalen Ausprägung gewährleistet ist.

Gelöst wird die Aufgabe durch die Merkmale des Hauptanspruchs. Hierdurch wird erreicht, dass der geometrische Bezug zwischen der Oberfläche der Dichtung im Bereich der Lichtlinie und der Oberfläche der Bezugsfläche bzw. der Verschlussfläche erfasst wird und ausgewertet werden kann. Die an die Dichtung angrenzende Verschlussfläche stellt eine geometrische Basis für die Auswertung der Form der Dichtung dar.

Vorteilhaft ist es hierzu auch, dass zwischen einem die Lichtlinie generierenden Lichtstrahl und der als Verschlussfläche ausgebildeten Bezugsfläche ein Winkel α vorgesehen ist, wobei der Winkel α zwischen 10° und 80° oder zwischen 30° und 60°, insbesondere 45° beträgt. Bei α gleich 45° entspricht die tatsächliche Höhe der Dichtung genau der Höhe der Projektion der Lichtlinie auf der Dichtung, da der von tan 45° gleich 1 ist.

Hierzu ist es vorteilhaft, dass die Bezugsfläche mit Bezug zum Verlauf der Lichtlinie an die Dichtung angrenzend ange ordnet ist. Somit kann der Verlauf der Lichtlinie optimal ausgewertet werden.

Eine zusätzliche Möglichkeit ist gemäß einer Weiterbildung, dass der Beleuchtungseinrichtung eine Kamera zugeordnet ist, wobei eine optische Achse der Kamera zentrisch zur Dichtung oder einem Dichtungsabschnitt angeordnet ist. Durch die zentrische Anordnung der Kamera kann die Projektion der Lichtlinie auf der Dichtung bzw. der Verschlussfläche erfasst werden. Bei größeren Bauteilen ist eine Verschiebung der Kamera bzw. sind mehrere Kameras notwendig. Die Orientierung der Kamera verläuft senkrecht zur Dichtungs-Grundfläche, wobei die Achsen der Lichtlinien-Projektoren in vorteilhafter Weise in Bezug zur Grundfläche der Dichtung so geneigt werden und die Strahlrichtung tangential zur Dichtfläche verläuft.

Hierzu ist es vorteilhaft, dass eine erste Lichtlinie und/oder eine zweite Lichtlinie auf dem Verschlusskörper angeordnet sind, wobei die erste Lichtlinie und die zweite Lichtlinie um einen Winkel β zwischen 30° und 89°, insbesondere 90° versetzt angeordnet sind und der Winkel β zwischen 45° und 90°, insbesondere 90° beträgt. Somit wird der Verschlusskörper bzw. die Dichtung an mehreren Stellen über den Umfang verteilt ausgewertet. Die Auswahl dieser Stellen kann auch in anderen Winkelabständen entsprechend der gegebenen Verschlusskonstruktion erfolgen.

Gemäß einer bevorzugten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Lösung ist schließlich vorgesehen, dass der Verschlusskörper rotierend angeordnet ist und die erste Beleuchtungseinrichtung eine mit der Bildfrequenz der Kamera korrelierende Lichtstrahlgenerierungsfrequenz aufweist.

Während der Verschlusskörper rotiert, werden synchron zeitlich versetzt Aufnahmen der dann an verschiedenen Stellen der Verschlussfläche befindlichen Lichtlinie erzielt, die je nach Drehzahl und Bildfrequenz eine entsprechende Auflösung der Beschaffenheit der Dichtung gewährleisten. Vorzugsweise werden gleiche Winkelabstände zwischen den Aufnahmen gewählt.

Vorteilhaft ist es auch, dass der durch die Kamera generierten Bildpixelmatrix des auf der Dichtung und der angrenzenden Verschlussfläche auftreffenden Lichtstrahls bzw. der Lichtlinie ein als Vektorfeld ausgebildetes Messlinienfeld überlagert ist, wobei das Vektorfeld mindestens einen Kreisvektor bzw. Kreismesslinie mit mehreren Radialvektoren bzw. Radiallinien und/oder mindestens zwei rechtwinklig und/oder parallel zueinander angeordnete Linienvektoren bzw. Messlinien aufweist. Die Überlagerung eines diskreten Vektorfeldes gewährleistet die Auswertung der Form der Lichtlinie, die eine Grundlage für die Beschaffenheit bzw. die Höhe der Dichtung darstellt.

Zur Auswertung der Form der Lichtlinie wird z. B. ein Kantenfindungsalgorithmus, der in jeder Messlinie die Vorder- oder Hinterkante oder den Mittelpunkt der Lichtlinie bestimmt, verwendet. Eine andere Methode ist z. B. die bekannte Konturverfolgungsmethode, die der Lichtlinie folgend deren Koordinaten im Bild ermittelt. Die Bestimmung der Lichtlinienkoordinaten im Bild ist nun die Grundlage für die Erfassung der Beschaffenheit bzw. die Höhe der Dichtung. Da die Erfassung der Höhenlinien der Dichtung stets nur in Bezug auf die Basishöhe des Verschlusses interessant ist, dient als Bezugsgröße für die Höhenkoordinaten der Dichtung die gefundene Position der Lichtlinie auf dem Verschlusskörper seitlich der Dichtung.

Vorteilhaft ist es ferner, dass mindestens einer Beleuchtungseinrichtung und mindestens einer Kamera eine gemeinsame Auswerteeinheit und/oder eine gemeinsame Sortiereinheit zugeordnet ist. Die Beleuchtungseinrichtung und die Kamera sind hierbei an einer von mehreren Produktionslinien angeordnet. Sämtliche für alle Produktionslinien erfassten Bilder werden an eine gemeinsame Auswerteeinheit gesendet. Das Aussortieren mittels der Sortiereinheit kann hierbei ebenfalls unmittelbar in jeder Produktionslinie oder erst nach einer Zusammenführung der verschiedenen Produktionslinien erfolgen.

Gelöst wird die Aufgabe dadurch, dass die Verschlussfläche und die Dichtung des Verschlusskörpers mit mindestens einem fächerförmigen Lichtstrahl beleuchtet werden und der Lichtstrahl in einem Winkel α zwischen 10° und 80°, insbesondere 45° zur Verschlussfläche angeordnet wird, wobei die durch den Lichtstrahl erzeugte Lichtlinie auf der Dichtung und gleichzeitig auf einem Teil der an die Dichtung angrenzenden Verschlussfläche angeordnet bzw. platziert wird. Die Verschlussfläche stellt einen grundlegenden Bezugspunkt zur Bewertung der Höhe der Dichtung dar, so dass die Erzeugung der Lichtlinie auf der Dichtung und von der Dichtung zur angrenzenden Verschlussfläche die Prüfung der Dichtung gewährleistet.

Ferner ist es vorteilhaft, dass die auf der Dichtung und der Verschlussfläche erzeugte Lichtlinie von der Kamera erfasst und in eine Bildpixelmatrix umgewandelt wird und der Bildpixelmatrix ein Vektorfeld überlagert wird, wobei die maximale Höhe h der Lichtlinie ermittelt und nach d = h tan α in eine Dicke d der Dichtung umgerechnet und mit einem Sollwert verglichen wird. Die Abweichung vom Sollwert stellt das Kriterium zum Aussortieren der Dichtung bzw. des Verschlusskörpers dar.

Um die Komplexität der erfindungsgemäßen Vorrichtung zu begrenzen, ist es von Vorteil, dass die Prüfung der Dicke d gleichzeitig an den zwei gegenüberliegenden Positionen P1, P2 der Dichtung (3) und der jeweils angrenzenden Verschlussfläche (2.1) durchgeführt wird.

Schließlich ist es von Vorteil, dass die Prüfung der Dicke d an den zwei Positionen P1, P2 und an zwei weiteren um 90° versetzt angeordneten Positionen P3 und P4 durchgeführt wird und die Höhe der Dichtung im Bereich jedes Vektors ermittelt wird und durch die Bildung des Integrals über den ermittelten Höhenverlauf h das Volumen der Dichtung bestimmt wird.

Vorteilhaft ist es hierzu auch, dass die Prüfung der Dicke d gleichzeitig an allen Positionen durchgeführt wird, die durch eine oder mehrere Lichtlinien auf dem Verschlusskörper erzeugt werden. Es ist auch vorgesehen, durch Bewegung der Kamera mehrere Lichtlinien entlang bzw. auf der Dichtung zu projizieren. Diese können insgesamt von einer Kamera oder von mehreren Kameras erfasst werden.

Bei dem Einsatz nur einer Kamera und bei Vorliegen der meist kreisringförmigen Vorzugsform von Dichtungen wird vorteilhafterweise die optische Achse der Kamera zentrisch zur Dichtung bzw. bei größeren Maßen zentrisch zum entsprechenden Dichtungsteil angeordnet.

Letztlich ist es von Vorteil, dass der Verschlusskörper in Rotation versetzt wird und die Prüfung der Dicke d an mehreren Stellen über den Umfang der Dichtung durchgeführt wird.

Im Zusammenhang mit der erfindungsgemäßen Ausbildung und Anordnung ist es von Vorteil, dass die Prüfung unmittelbar nach der Herstellung des Verschlusskörpers und/oder nach dem Trocknen des Verschlusskörpers und vor einer Zusammenführung durchgeführt wird, wobei das Aussortieren durch die Sortiereinheit erst nach der Zusammenführung mehrerer Produktionslinien für die Verschlusskörper durchgeführt wird.

Zudem ist es von Vorteil, dass zwischen der Achse des die Lichtlinie generierenden Linienprojektors und der Achse der die Linie auf dem Verschluss betrachtenden Kamera der Winkel α bzw. β vorgesehen ist.

Weitere Vorteile und Einzelheiten der Erfindung sind in den Patentansprüchen und in der Beschreibung erläutert und in den Figuren dargestellt. Es zeigt:
1 eine perspektivische Prinzipskizze eines Verschlusskörpers mit Dichtung und Verschlussfläche sowie Lichtstrahl und Lichtlinie;
2 eine Seitenansicht einer Dichtung mit Lichtlinie und Lichtstrahl;
3 ein Verschlusskörper mit Dichtung, Verschlussfläche, zwei Lichtlinien in der Ansicht von oben;
4 eine Bildpixelmatrix mit Vektorfeld und Lichtlinie.
Der in 2 dargestellte Verschlusskörper 2 weist eine Verschlussfläche 2.1 auf, die über einen Außenumfang durch einen Rand 2.3 begrenzt ist. Innerhalb bzw. auf der Verschlussfläche 2.1 ist eine Dichtung 3 vorgesehen, die profiliert ausgebildet ist und über die Verschlussfläche 2.1 hervorsteht.
Der Verschlusskörper 2 wird über eine erste Beleuchtungseinrichtung 4.1 mit einem Lichtstrahl 4.4 beleuchtet, so dass auf dem Verschlusskörper 2 eine erste Lichtlinie 4.5 erzeugt wird. Der Lichtstrahl 4.4 schließt hierbei mit dem Verschlusskörper 2 bzw. mit der Verschlussfläche 2.1 einen Winkel α von 30° ein. Die erste Lichtlinie 4.5 verläuft vom Rand 2.3 ausgehend über die Verschlussfläche 2.1 zur anschließenden Dichtung 3 und von dort wieder auf die Verschlussfläche 2.1 bis in die Mitte der Verschlussfläche 2.1, wo sich ein entsprechender Verlauf auf der anderen Seite der Verschlussfläche 2.1 wiederholt. Entsprechend der Profilierung der Dichtung 3 entsteht somit eine mit dem Profil der Dichtung 3 korrelierende wellige Form der ersten Lichtlinie 4.5. Zentrisch oberhalb des Verschlusskörpers 2 bzw. der Dichtung 3 ist eine Kamera 10 angeordnet.
Gemäß 2 trifft die erste Lichtlinie 4.5 auf eine obere Kante 3.1 der Dichtung 3 auf und verläuft geradlinig über die Dichtung 3 bis hin zur Verschlussfläche 2.1. Die Dicke der Dichtung 3 ist hierbei mit d bezeichnet und wird zwischen der oberen Kante 3.1 und der Verschlussfläche 2.1 gemessen. Die Erstreckung der ersten Lichtlinie 4.5 auf der Dichtung 3 in horizontaler Richtung ist mit h bezeichnet.
Diese Länge h wird zwischen einem Punkt b1 und einem Punkt b2 gemessen, wobei b1 den Berührpunkt zwischen der ersten Lichtlinie 4.5 und der oberen Kante 3.1 und b2 den Berührpunkt zwischen der ersten Lichtlinie 4.5 und der Verschlussfläche 2.1 darstellt. Der Winkel α und die beiden Abstände d und h stehen hierbei über die Funktion d = h tan α in Korrelation.
Gemäß 3 wird auf dem Verschlusskörper 2 durch die erste Lichtlinie 4.5 eine erste Position P1 und eine zweite Position P2 definiert, an denen jeweils die erste Lichtlinie 4.5 von der Dichtung 3 auf die angrenzende Verschlussfläche 2.1 verläuft. Zudem ist eine zweite Lichtlinie 4.5' vorgesehen, die eine dritte Position P3 und eine vierte Position P4 definiert, wobei die erste Lichtlinie 4.5 und die zweite Lichtlinie 4.5' in einem Winkel β von etwa 90° angeordnet sind. Jeder Linienlaser projiziert beidseitig bzw. auf zwei Seiten eine Lichtlinie 4.5 auf die Dichtung 3, so dass vier Positionen von der Kamera 10 erfasst werden.
Gemäß 4 wird eine durch eine Kamera 10 erzeugte Bildpixelmatrix 9, in der die erste Lichtlinie 4.5 im Bereich der Dichtung 3 und der angrenzenden Verschlussfläche 2.1 bzw. einer der Punkte P1 bis P4 dargestellt ist, mit einem Vektorfeld 7 überlagert. Das Vektorfeld 7 weist hierbei mehrere parallel angeordnete Linearvektoren 7.1. auf, die in etwa rechtwinklig zu dem Teil der ersten Lichtlinie 4.5 angeordnet sind, der auf der Verschlussfläche 2.1 abgebildet ist. Die Linearvektoren 7.1 verlaufen hierbei parallel zu einer X-Achse 9.1 der Bildpixelmatrix 9. Durch eine nicht dargestellte Auswerteeinheit wird der Abstand h zwi schen einem Hochpunkt H und einem Tiefpunkt T der ersten Lichtlinie 4.5 ermittelt. Der Hochpunkt H weist hierbei die größte Koordinate der X-Achse 9.1 auf und entspricht dem Berührpunkt b1 gemäß 2. Der Tiefpunkt T weist die kleinste Koordinate auf und entspricht dem Berührpunkt b2 gemäß 2. Über die Funktion d = h tan α wird die Dicke d der Dichtung 3 bestimmt.

2: Verschlusskörper
2.1: Verschlussfläche
2.2: Mittellinie
2.3: Rand
3: Dichtung
3.1: Kante
4.1: erste Beleuchtungseinrichtung
4.4: Lichtstrahl
4.5: erste Lichtlinie
4.5': zweite Lichtlinie
7: Vektorfeld
7.1: Linearvektor
9: Bildpixelmatrix
9.1: X-Achse
10: Kamera

Claims

Prüfeinrichtung für einen Verschlusskörper (2) mit einer innerhalb des Verschlusskörpers (2) auf einer Verschlussfläche (2.1) angeordneten Dichtung (3), wobei die Prüfeinrichtung mindestens eine erste Beleuchtungseinrichtung (4.1) für den Verschlusskörper (2) aufweist und mindestens eine durch die Beleuchtungseinrichtung (4.1) generierte Lichtlinie (4.5) auf der Dichtung (3) und auf der als Verschlussfläche ausgebildeten Bezugsfläche (2.1), die eine Höhenreferenz bildet, anbringbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass die Lichtlinie (4.5) gleichzeitig an zwei gegenüberliegenden Positionen P1, P2 jeweils auf der Dichtung (3) und der angrenzenden Verschlussfläche (2.1) anbringbar ist.
Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass zwischen einem die Lichtlinie (4.5) generierenden Lichtstrahl (4.4) und der als Verschlussfläche ausgebildeten Bezugsfläche (2.1) ein Winkel α vorgesehen ist, wobei der Winkel α zwischen 10° und 80° oder zwischen 30° und 60°, oder 45° beträgt.
Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Beleuchtungseinrichtung (4.1) eine Kamera (10) zugeordnet ist, wobei eine optische Achse der Kamera (1D) zentrisch zur Dichtung (3) oder einem Dichtungsabschnitt angeordnet ist.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine erste Lichtlinie (4.5) und/oder eine zweite Lichtlinie (4.5') auf dem Verschlusskörper (2) angeordnet sind, wobei die erste Lichtlinie (4.5) und die zweite Lichtlinie (4.5') um einen Winkel β zwischen 30° und 89°, oder 90° versetzt angeordnet sind.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Bezugsfläche (2.1) mit Bezug zum Verlauf der Lichtlinie (4.5) an die Dichtung (3) angrenzend angeordnet ist.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Verschlusskörper (2) rotierend angeordnet ist und die erste Beleuchtungseinrichtung (4.1) eine mit der Bildfrequenz der Kamera (10) korrelierende Lichtstrahlgenerierungsfrequenz aufweist.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der durch die Kamera (10) generierten Bildpixelmatrix des auf der Dichtung (3) und der angrenzenden Verschlussfläche (2.1) auftreffenden Lichtstrahls (4.4) ein als Vektorfeld (7) ausgebildetes Messlinienfeld überlagert ist.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Vektorfeld (7) mindestens einen Kreisvektor mit mehreren Radialvektoren und/oder mindestens zwei rechtwinklig und/oder parallel zueinander angeordnete Linienvektoren aufweist, wobei das Vektorfeld (7) die Lichtlinie (4.5) überlagert.
Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens einer Beleuchtungseinrichtung (4.1) und mindestens einer Kamera (10) eine gemeinsame Auswerteeinheit und/oder eine gemeinsame Sortiereinheit zugeordnet ist.
Verfahren zum Prüfen eines Verschlusskörpers (2) mit einer innerhalb des Verschlusskörpers (2) auf einer Verschlussfläche (2.1) angeordneten Dichtung (3), wobei die Prüfeinrichtung mindestens eine erste Beleuchtungseinrichtung (4.1) für den Verschlusskörper (2) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass: a) die Verschlussfläche (2.1) und die Dichtung (3) des Verschlusskörpers (2) mit mindestens einem fächerförmigen Lichtstrahl (4.4) beleuchtet werden, b) der Lichtstrahl (4.4) in einem Winkel α zwischen 10° und 80°, oder 45° zur Verschlussfläche (2.1) angeordnet wird, c) die durch den Lichtstrahl (4.4) erzeugte Lichtlinie (4.5) gleichzeitig an zwei gegenüberliegenden Positionen P1, P2 jeweils auf der Dichtung (3) und gleichzeitig auf einem Teil der an die Dichtung (3) angrenzenden Verschlussfläche (2.1) angeordnet wird.
Verfahren zum Prüfen eines Verschlusskörpers (2) nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, dass: a) die auf der Dichtung (3) und der Verschlussfläche (2.1) erzeugte Lichtlinie (4.5) von der Kam ra (10) erfasst und in eine Bildpixelmatrix (9) umgewandelt wird, b) der Bildpixelmatrix (9) ein Vektorfeld (7) überlagert wird, c) die maximale Höhe h der Lichtlinie (4.5) ermittelt wird und nach folgender Formel in eine Dicke d der Dichtung (3) umgerechnet wird: d = h tan α,d) die Dicke d mit einem Sollwert verglichen wird, e) die Höhe der Dichtung (3) im Bereich jedes Vektors (7.1) ermittelt wird und durch die Bildung des Integrals über den ermittelten Höhenverlauf h das Volumen der Dichtung (3) bestimmt wird.
Verfahren zum Prüfen eines Verschlusskörpers (2) nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfung der Dicke d gleichzeitig an den zwei gegenüberliegenden Positionen P1, P2 der Dichtung (3) und der jeweils angrenzenden Verschlussfläche (2.1) durchgeführt wird.
Verfahren zum Prüfen eines Verschlusskörpers (2) nach Anspruch 10 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfung der Dicke d an den zwei Positionen P1, P2 und an zwei weiteren um 90° versetzt angeordneten Positionen P3 und P4 durchgeführt wird.
Verfahren zum Prüfen eines Verschlusskörpers (2) nach Anspruch 10 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfung der Dicke d gleichzeitig an allen Positionen durchgeführt wird.
Verfahren zum Prüfen eines Verschlusskörpers (2) nach Anspruch 10 bis 14, dadurch gekennzeichnet, dass der Verschlusskörper (2) in Rotation versetzt wird und die Prüfung der Dicke d an mehreren Stellen über den Umfang der Dichtung (3) durchgeführt wird.
Verfahren zum Prüfen eines Verschlusskörpers (2) nach Anspruch 10 bis 15, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfung unmittelbar nach der Herstellung des Verschlusskörpers (2) und/oder nach dem Trocknen des Verschlusskörpers (2) und vor einer Zusammenführung durchgeführt wird, wobei das Aussortieren durch die Sortiereinheit erst nach der Zusammenführung mehrerer Produktionslinien für die Verschlusskörper (2) durchgeführt wird.