DE10232860A1 - Verfahren sowie Vorrichtung zur Reinigung von Aussenflächen an Lithographieobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen - Google Patents

Verfahren sowie Vorrichtung zur Reinigung von Aussenflächen an Lithographieobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen Download PDF

Info

Publication number
DE10232860A1
DE10232860A1 DE2002132860 DE10232860A DE10232860A1 DE 10232860 A1 DE10232860 A1 DE 10232860A1 DE 2002132860 DE2002132860 DE 2002132860 DE 10232860 A DE10232860 A DE 10232860A DE 10232860 A1 DE10232860 A1 DE 10232860A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
cleaning fluid
cleaning
lens
lithography
cleaned
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE2002132860
Other languages
German (de)
English (en)
Inventor
Dieter Schmerek
Frank Marianek
Ralf Scharnweber
Oliver Dr. Wolf
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss SMT GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss SMT GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss SMT GmbH filed Critical Carl Zeiss SMT GmbH
Priority to DE2002132860 priority Critical patent/DE10232860A1/de
Publication of DE10232860A1 publication Critical patent/DE10232860A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/70Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
    • G03F7/708Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
    • G03F7/70908Hygiene, e.g. preventing apparatus pollution, mitigating effect of pollution or removing pollutants from apparatus
    • G03F7/70925Cleaning, i.e. actively freeing apparatus from pollutants, e.g. using plasma cleaning

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Epidemiology (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Atmospheric Sciences (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
DE2002132860 2002-07-17 2002-07-17 Verfahren sowie Vorrichtung zur Reinigung von Aussenflächen an Lithographieobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen Ceased DE10232860A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002132860 DE10232860A1 (de) 2002-07-17 2002-07-17 Verfahren sowie Vorrichtung zur Reinigung von Aussenflächen an Lithographieobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE2002132860 DE10232860A1 (de) 2002-07-17 2002-07-17 Verfahren sowie Vorrichtung zur Reinigung von Aussenflächen an Lithographieobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10232860A1 true DE10232860A1 (de) 2004-01-29

Family

ID=29796454

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE2002132860 Ceased DE10232860A1 (de) 2002-07-17 2002-07-17 Verfahren sowie Vorrichtung zur Reinigung von Aussenflächen an Lithographieobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10232860A1 (zh-CN)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006014775A1 (de) * 2006-03-30 2007-10-18 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren und Behandlungsflüssigkeit zur Reinigung und Reparatur von optischen Elementen
WO2008108643A2 (en) * 2007-03-07 2008-09-12 Asml Netherlands B.V. Removal of deposition on an element of a lithographic apparatus

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999027568A1 (fr) * 1997-11-21 1999-06-03 Nikon Corporation Graveur de motifs a projection et procede de sensibilisation a projection

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO1999027568A1 (fr) * 1997-11-21 1999-06-03 Nikon Corporation Graveur de motifs a projection et procede de sensibilisation a projection
US6496257B1 (en) * 1997-11-21 2002-12-17 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006014775A1 (de) * 2006-03-30 2007-10-18 Carl Zeiss Smt Ag Verfahren und Behandlungsflüssigkeit zur Reinigung und Reparatur von optischen Elementen
WO2008108643A2 (en) * 2007-03-07 2008-09-12 Asml Netherlands B.V. Removal of deposition on an element of a lithographic apparatus
WO2008108643A3 (en) * 2007-03-07 2008-11-27 Asml Netherlands Bv Removal of deposition on an element of a lithographic apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10036867B4 (de) Substrat-Bearbeitungsverfahren und -vorrichtung
DE102011051912B4 (de) Reinigungs- und Trocknungsverfahren und Reinigungs- und Trocknungsvorrichtung
DE19549490C2 (de) Anlage zur chemischen Naßbehandlung
DE69829607T2 (de) Lithographisches System mit Absaugesystem zur Debris-Entsorgung
DE102009059790A1 (de) Reinigungsvorrichtung
DE102013216121A1 (de) Laserbearbeitungsvorrichtung
DE4318676B4 (de) Verfahren zur Verringerung einer teilchenförmigen Konzentration in Arbeitsfluiden
DE102017212887A1 (de) Verfahren, Vorrichtung und Anlage zur Leiterplattenherstellung
DE2941708A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum reinigen von filmstreifen
DE10207499A1 (de) Verfahren zum Reinigen von Fluidabgabeeinrichtungen und Reinigungsvorrichtung
DE69935795T2 (de) Exzentrisch rotierendes bearbeitungsgerät für flache medien
AT408930B (de) Vorrichtung zur chemischen behandlung von wafern
DE10232860A1 (de) Verfahren sowie Vorrichtung zur Reinigung von Aussenflächen an Lithographieobjektiven mikrolithographischer Projektionsbelichtungsanlagen
DE19925655A1 (de) Reinigungseinrichtung
DE19934300C2 (de) Vorrichtung zum Behandeln von Substraten
DE60022355T2 (de) Verfahren zur überprüfung von vorbearbeitungsregelungen in einem waferreinigungssystem
DE4142358C2 (de) Entfettungs-Reinigungsverfahren
DE102007063169A1 (de) Verfahren und Anlage zum Bearbeiten bzw. Reinigen von Si-Blöcken
DE102004033195A1 (de) Vorrichtung zur Inspektion eines mikroskopischen Bauteils
DE102015210455A1 (de) Reinigungsverfahren und vorrichtung mit partikel monitoring
EP2072146A2 (de) Modulartig zusammengesetzte Beschichtungszelle
EP0742052B1 (de) Spritzkabine und Verfahren zum Betreiben einer Spritzkabine
DE102019203880A1 (de) Mess- oder Inspektionsvorrichtung und Verfahren zum Vermessen oder zum Inspizieren einer Oberfläche
CN106842831A (zh) 一种显影喷嘴装置
DE2724579C3 (de) Verfahren zum Reinigen der Oberflache einer Mehrzahl von Substraten für Halbleiterbauelemente und Vorrichtung zur Durchführung dieses Verfahrens

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
8110 Request for examination paragraph 44
8131 Rejection