DE10231776B4 - Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop - Google Patents

Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop Download PDF

Info

Publication number
DE10231776B4
DE10231776B4 DE10231776.3A DE10231776A DE10231776B4 DE 10231776 B4 DE10231776 B4 DE 10231776B4 DE 10231776 A DE10231776 A DE 10231776A DE 10231776 B4 DE10231776 B4 DE 10231776B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
scanning
spectral
sample
spectral data
fluorescent dye
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10231776.3A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10231776A1 (de
Inventor
Dr. Storz Rafael
Dr. Birk Holger
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leica Microsystems CMS GmbH
Original Assignee
Leica Microsystems CMS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Family has litigation
First worldwide family litigation filed litigation Critical https://patents.darts-ip.com/?family=29761948&utm_source=google_patent&utm_medium=platform_link&utm_campaign=public_patent_search&patent=DE10231776(B4) "Global patent litigation dataset” by Darts-ip is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.
Application filed by Leica Microsystems CMS GmbH filed Critical Leica Microsystems CMS GmbH
Priority to DE10231776.3A priority Critical patent/DE10231776B4/de
Priority to US10/617,841 priority patent/US20040032651A1/en
Publication of DE10231776A1 publication Critical patent/DE10231776A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10231776B4 publication Critical patent/DE10231776B4/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0076Optical details of the image generation arrangements using fluorescence or luminescence
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0028Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders specially adapted for specific applications, e.g. for endoscopes, ophthalmoscopes, attachments to conventional microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation
    • G02B21/0064Optical details of the image generation multi-spectral or wavelength-selective arrangements, e.g. wavelength fan-out, chromatic profiling
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/16Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes

Abstract

Verfahren zur Scanmikroskopie, umfassend folgende Schritte:
• Beleuchten einer Probe (23), die zumindest einen Fluoreszenzfarbstoff enthält, mit Beleuchtungslicht,
• Detektieren des von Rasterpunkten der Probe (23) ausgehenden Detektionslichtes mit einem Spektraldetektor (29), der für jeden Rasterpunkt Spektraldaten erzeugt,
• Ermitteln eines Amplitudenwertes zu jedem Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten und
• Übertragen der Amplitudenwerte an ein Verarbeitungsmodul (39), dadurch gekennzeichnet, dass der zumindest eine in der Probe (23) enthaltene Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten durch Vergleichen der Spektraldaten mit in einem Speichermodul (35) für verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe abgelegten Referenzdaten ermittelt wird, und
• nach der Übertragung der Amplitudenwerte an das Verarbeitungsmodul (39) die Spektraldaten in dem Verarbeitungsmodul (39) aus den übermittelten Amplitudenwerten rekonstruiert werden.

Description

  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Scanmikroskopie.
  • Außerdem betrifft die Erfindung ein Scanmikroskop mit einer Lichtquelle, die Beleuchtungslicht zur Beleuchtung einer Probe emittiert, die zumindest einen Fluoreszenzfarbstoff enthält, mit einer Scaneinrichtung zum Abrastern von Rasterpunkten der Probe, mit einem Spektraldetektor zum Detektieren des von den Rasterpunkten ausgehenden Detektionslichtes, wobei der Spektraldetektor für jeden Rasterpunkt Spektraldaten erzeugt.
  • In der Scanmikroskopie wird eine Probe mit einem Lichtstrahl beleuchtet, um das von der Probe emittierte Reflexions- oder Fluoreszenzlicht zu beobachten. Der Fokus eines Beleuchtungslichtstrahles wird mit Hilfe einer steuerbaren Strahlablenkeinrichtung, im Allgemeinen durch Verkippen zweier Spiegel, in einer Objektebene bewegt, wobei die Ablenkachsen meist senkrecht aufeinander stehen, so dass ein Spiegel in x-, der andere in y-Richtung ablenkt. Die Verkippung der Spiegel wird beispielsweise mit Hilfe von Galvanometer-Stellelementen bewerkstelligt. Die Leistung des vom Objekt kommenden Lichtes wird in Abhängigkeit von der Position des Abtaststrahles gemessen. Üblicherweise werden die Stellelemente mit Sensoren zur Ermittlung der aktuellen Spiegelstellung ausgerüstet.
  • Speziell in der konfokalen Scanmikroskopie wird ein Objekt mit dem Fokus eines Lichtstrahles in drei Dimensionen abgetastet.
  • Ein konfokales Rastermikroskop umfasst im Allgemeinen eine Lichtquelle, eine Fokussieroptik, mit der das Licht der Quelle auf eine Lochblende - die sog. Anregungsblende - fokussiert wird, einen Strahlteiler, eine Strahlablenkeinrichtung zur Strahlsteuerung, eine Mikroskopoptik, eine Detektionsblende und die Detektoren zum Nachweis des Detektions- bzw. Fluoreszenzlichtes. Das Beleuchtungslicht wird über einen Strahlteiler eingekoppelt. Das vom Objekt kommende Fluoreszenz- oder Reflexionslicht gelangt über die Strahlablenkeinrichtung zurück zum Strahlteiler, passiert diesen, um anschließend auf die Detektionsblende fokussiert zu werden, hinter der sich die Detektoren befinden. Detektionslicht, das nicht direkt aus der Fokusregion stammt, nimmt einen anderen Lichtweg und passiert die Detektionsblende nicht, so dass man eine Punktinformation erhält, die durch sequentielles Abtasten des Objekts zu einem dreidimensionalen Bild führt. Meist wird ein dreidimensionales Bild durch schichtweise Bilddatennahme erzielt, wobei die Bahn des Abtastlichtstrahles auf bzw. in dem Objekt idealerweise einen Mäander beschreibt. (Abtasten einer Zeile in x-Richtung bei konstanter y-Position, anschließend x-Abtastung anhalten und per y-Verstellung auf die nächste abzutastende Zeile schwenken und dann, bei konstanter y-Position, diese Zeile in negativer x-Richtung abtasten u.s.w.). Um eine schichtweise Bilddatennahme zu ermöglichen, wird der Probentisch oder das Objektiv nach dem Abtasten einer Schicht verschoben und so die nächste abzutastende Schicht in die Fokusebene des Objektivs gebracht.
  • Bei vielen Anwendungen werden Proben mit mehreren Markern, beispielsweise mehreren unterschiedlichen Fluoreszenzfarbstoffen präpariert. Diese Farbstoffe können sequentiell, beispielsweise mit Beleuchtungslichtstrahlen, die unterschiedliche Anregungswellenlängen aufweisen, angeregt werden. Auch eine simultane Anregung mit einem Beleuchtungslichtstrahl, der Licht mehrerer Anregungswellenlängen beinhaltet, ist üblich. Aus der Europäischen Patentanmeldung EP 0 495 930 A1 „Konfokales Mikroskopsystem für Mehrfarbenfluoreszenz“ ist beispielsweise eine Anordnung mit einem einzelnen mehrere Laserlinien emittierenden Laser bekannt. Derzeit sind in der Praxis solche Laser meist als Mischgaslaser, insbesondere als ArKr-Laser, ausgebildet.
  • Zur Detektion werden hierbei Spektraldetektoren verwendet, die beispielsweise als Multibanddetektoren ausgeführt sein können.
  • Aus der deutschen Offenlegungsschrift DE 198 29 944 A1 ist ein Verfahren und eine Anordnung zur Gerätekonfiguration von konfokalen Mikroskopen bekannt, bei denen Laserlicht mit einer oder mehreren Spektrallinien erzeugt und auf eine Probe gerichtet wird, die einen Fluoreszenzfarbstoff enthält oder auf einen Fluoreszenzfarbstoff aufgebracht ist. Dabei werden die Excitationswellenlängen und die Emissionswellenlängen verschiedener Fluoreszenzfarbstoffe in getrennten Datensätzen erfasst und diese in einem Datenspeicher abgelegt. Ebenso werden die mit dem Mikroskop einstellbaren Laserspektren, die auf die Probe zu richten sind, und die mit den vorhandenen Filtern erzielbaren Transmissionsspektren in Datensätzen erfasst und diese Datensätze gespeichert. Aus einer rechnerischen Verknüpfung dieser Datensätze werden Vorgaben für die Konfiguration des Mikroskops ermittelt.
  • Derzeit werden die von dem Spektraldetektor gemessenen Spektraldaten über einen Datenbus an die weiterverarbeitenden Module bzw. Rechner oder PCs übertragen. Dies ist online möglich, wenn die Anzahl der gleichzeitig abgetasteten Rasterpunkte klein ist. Derzeit ist typischerweise bei 10 MB pro Übertragungskanal und pro Sekunde die maximale Bandbreite des Datenbusses ausgeschöpft. Sind die Spektraldaten sehr umfangreich und werden gleichzeitig viele Rasterpunkte abgetastet, wie es beispielsweise bei Zeilenscannern oder bei Nipkovsystemen üblich ist, so reicht die Bandbreite für eine Onlineübertragung nicht mehr aus, so dass ein Onlinedarstellung der Probe nicht möglich ist, ohne Informationen zu verlieren.
  • Aus der US 5 480 804 A ist ein Verfahren gemäß Oberbegriff des Anspruchs 1 bekannt.
  • Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Scanmikroskopie vorzuschlagen, das zuverlässig und mit minimalem Informationsverlust eine Online-Beobachtung einer Probe auch dann ermöglicht, wenn simultan große Mengen an Spektraldaten anfallen.
  • Die Aufgabe wird durch ein Verfahren gemäß Anspruch 1 gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den abhängigen Ansprüchen aufgeführt.
  • Es ist außerdem eine Aufgabe der Erfindung ein Scanmikroskop anzugeben, mit dem zuverlässig eine Online-Beobachtung einer Probe auch dann möglich ist, wenn simultan große Mengen an Spektraldaten anfallen.
  • Diese Aufgabe wird durch ein Scanmikroskop gemäß Anspruch 8 gelöst.
  • Die Erfindung hat den Vorteil, dass das „Nadelöhr“ der prinzipiell limitierten Übertragungsrate von dem Scankopf eines Scanmikroskops zu dem Verarbeitungsmodul, das aus den gewonnenen Detektionssignalen und Spektraldaten dem Benutzer anzeigbare Bilddaten erzeugt und das meist als vom Scankopf räumlich getrennter PC ausgeführt ist, erfindungsgemäß nicht mehr der limitierende Faktor bei der Online-Beobachtung einer Probe ist; selbst wenn beispielsweise simultan ganze Scanzeilen mit vielen, beispielsweise 1024, Rasterpunkten abgetastet werden.
  • Dies wird erfindungsgemäß dadurch erreicht, dass möglichst früh in der Datenkette eine Datenreduktion erreicht wird, die jedoch nicht mit einem Verlust an Informationen einher geht. In einer bevorzugten Ausgestaltung wird die Datenreduktion, nämlich das Ermitteln eines Amplitudenwertes zu jedem Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten, bereits in einem Modul innerhalb der Elektronik des Scankopfes vollzogen. Vorzugsweise ist dieses Modul in Form einer programmierbaren Elektronik, wie beispielsweise FPGA (Field Programmable Gate Arrray) oder DSP (digital signal processor) umfasst, implementiert.
  • In einer bevorzugten Ausgestaltung umfasst der Spektraldetektor ein Gitter- oder Prismenspektrometer oder vorzugsweise einen Multibanddetektor.
  • In einer bevorzugten Ausführung umfasst das Beleuchten ein Abrastern der Rasterpunkte der Probe mit Beleuchtungslicht, insbesondere mit dem Fokus eines Beleuchtungslichtstrahles. Dieser kann beispielsweise mäanderförmig über oder durch die Probe geführt werden. Es ist auch möglich, die Probe weiträumig - nicht abrasternd - zu beleuchten und die Zuordnung der Spektralinformationen zu Rasterpunkten durch rasterndes Detektieren vorzunehmen, was besonders gut mit konfokalen Anordnungen realisierbar ist.
  • In einer bevorzugten Ausgestaltung erfolgt das Abrastern sequentiell. In einer anderen Variante erfolgt das Abrastern zumindest teilweise simultan oder zeilenweise.
  • Eine bevorzugte Ausführungsvariante des Verfahrens umfasst den weiteren Schritt des Ermittelns des zumindest einen in der Probe enthaltenen Fluoreszenzfarbstoffs aus den Spektraldaten. Dies kann in einer bevorzugten Ausgestaltung ein Vergleichen der Spektraldaten mit in einem Speichermodul für verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe abgelegten Referenzdaten umfassen. Die Referenzdaten werden auf der Basis der bekannten Emissionsspektren der Fluoreszenzfarbstoffe erstellt und in dem Speichermodul abgelegt. Die Referenzdaten können beispielsweise bei der Herstellung in dem Speichermodul abgelegt werden oder, je nach Anwendung, individuell vom Benutzer oder automatisch in das Speichermodul geladen werden. Stehen für das Emissionsspektrum eines - beispielsweise exotischen - Fluoreszenzfarbstoffes keine Referenzdaten zur Verfügung, so können diese Daten während der Messung ermittelt werden und für künftige Untersuchungen zu den Referenzdaten hinzu gefügt werden, so dass bei dem nächsten Auftreten von vergleichbaren Spektraldaten für ein Pixel nur noch auf die Referenzdaten zugegriffen werden muss. Das Vergleichen der Spektraldaten mit den Referenzdaten umfasst vorzugsweise ein Minimieren der Summe der Fehlerquadrate.
    Erfindungsgemäß umfasst das Verfahren nach der Übertragung den weiteren Schritt des Rekonstruierens der Spektraldaten in dem Verarbeitungsmodul aus den übermittelten Amplitudenwerten. Dies ist durch einfache Rechenoperationen möglich, da dem Verarbeitungsmodul die Art der Datenreduktion auf der Basis der Referenzdaten und die Referenzdaten selbst bekannt sind.
  • In einer besonders bevorzugten Ausgestaltung wird die Abweichung der gemessenen Spektraldaten vom entsprechenden Referenzsignal als Zusatzinformation, aus der die Übereinstimmung bewertet werden kann, mit an das Verarbeitungsmodul übertragen. Die Zusatzinformation kann beispielsweise die Summe der Fehlerquadrate beinhalten.
  • Das Verfahren ist sowohl bei Mehrpunktscannern und Zeilenscannern, als auch bei sehr schnellen Einpunktscannern insbesondere bei Dauerscans von Vorteil. Außerdem bei der Übertragung über Datennetze, wie beispielsweise das Internet.
  • In einer ganz besonders bevorzugten Ausgestaltung ist das Scanmikroskop ein konfokales Scanmikroskop.
  • In der Zeichnung ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben, wobei gleich wirkende Elemente mit denselben Bezugszeichen versehen sind. Dabei zeigen:
    • 1 ein erfindungsgemäßes Scanmikroskop und
    • 2 ein Flussdiagramm für das erfindungsgemäße Verfahren,
  • 1 zeigt schematisch ein erfindungsgemäßes Scanmikroskop, das als konfokales Scanmikroskop ausgeführt ist. Der von einer Lichtquelle 1, die als Mehrlinienlaser 3 ausgeführt ist, kommende Beleuchtungslichtstrahl 5 wird mit Hilfe der Optik 9 auf die Beleuchtungslochblende 11 fokussiert. Nach Passieren der Beleuchtungslochblende 11 wird der Beleuchtungslichtstrahl 5 von einen Strahlteiler 13 über die Linse 7 zu einem kardanisch aufgehängten Scanspiegel 15, der den Beleuchtungslichtstrahl 5 durch die Scanoptik 17, die Tubusoptik 19 und das Objektiv 21 hindurch über bzw. durch die Probe 23 führt. Die Probe ist mit mehreren Fluoreszenzfarbstoffen markiert. Der Beleuchtungslichtstrahl 5 wird bei nicht transparenten Proben 23 über die Probenoberfläche geführt. Bei biologischen Proben 23 (Präparaten) oder transparenten Proben kann der Beleuchtungslichtstrahl 5 auch durch die Probe 23 geführt werden. Der von der Probe 23 ausgehende Detektionslichtstrahl 25 gelangt durch das Objektiv 21, die Tubusoptik 19 und die Scanoptik 17 hindurch und über den Scanspiegel 15 zum Strahlteiler 13, passiert diesen und trifft nach Passieren der Detektionsblende 27 auf einen Spektraldetektor 29, der als Multibanddetektor 31 ausgeführt ist und der elektrische Detektionssignale in Form von Spektraldaten erzeugt und an ein Modul 33 zum Ermitteln eines Amplitudenwertes weiterleitet. In dem Modul 33, das als FPGA-Baustein ausgeführt ist, erfolgt das automatische Ermitteln der in der Probe enthaltenen Fluoreszenzfarbstoffe aus den Spektraldaten durch Vergleichen der Spektraldaten mit den in einem Speichermodul 35 für verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe abgelegten Referenzdaten. Anschließend erfolgt das Ermitteln eines Amplitudenwertes bezüglich jedes ermittelten Fluoreszenzfarbstoffs auf der Basis der Spektraldaten. Die Amplitudenwerte werden zusammen mit Daten über die ermittelten Fluoreszenzfarbstoffe mit Hilfe eines Datenbusses 37 an ein Verarbeitungsmodul 39, das als PC 41 ausgeführt ist, übertragen. Nach der Übertragung werden die Spektraldaten in dem Verarbeitungsmodul 39 aus den übermittelten Amplitudenwerten und den Daten über die ermittelten Fluoreszenzfarbstoffe rekonstruiert. Die grafisch aufbereiteten Ergebnisse werden dem Benutzer auf einem Monitor 43 angezeigt.
  • 2 zeigt in einem Flussdiagramm den Ablauf eines erfindungsgemäßen Verfahrens. In einem ersten Schritt erfolgt das Abrastern 45 von Rasterpunkten einer Probe mit Beleuchtungslicht, in einem weiteren Schritt erfolgt das Detektieren 47 des von den Rasterpunkten ausgehenden Detektionslichtes mit einem Spektraldetektor, der für jeden Rasterpunkt Spektraldaten erzeugt. Der Spektraldetektor kann beispielsweise als Prismen, Gitter oder Multibanddetektor ausgeführt sein. In einem dritten Schritt erfolgt das Ermitteln 49 eines Amplitudenwertes bezüglich jedes in der Probe enthaltenen Fluoreszenzfarbstoff, der dem Anteil des von diesem Fluoreszenzfarbstoff in einem Pixel ausgehenden Lichtes am Gesamtdetektionslicht proportional ist, aus den Spektraldaten und anschließend das Übertragen 51 der Amplitudenwerte an ein Verarbeitungsmodul. In einem letzten Schritt erfolgt das Rekonstruieren 53 der Spektraldaten in einem Verarbeitungsmodul aus den übermittelten Amplitudenwerten.
  • Die Erfindung wurde in Bezug auf eine besondere Ausführungsform beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und Abwandlungen durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen.
  • Bezugszeichenliste
  • 1
    Lichtquelle
    3
    Mehrlinienlaser
    5
    Beleuchtungslichtstrahl
    7
    Linse
    9
    Optik
    11
    Beleuchtungslochblende
    13
    Strahlteiler
    15
    Scanspiegel
    17
    Scanoptik
    19
    Tubusoptik
    21
    Objektiv
    23
    Probe
    25
    Detektionslichtstrahl
    27
    Detektionsblende
    29
    Spektraldetektor
    31
    Multibanddetektor
    33
    Modul
    35
    Speichermodul
    37
    Datenbus
    39
    Verarbeitungsmodul
    41
    PC
    43
    Monitor
    45
    Abrastern
    47
    Detektieren
    49
    Ermitteln
    51
    Übertragen
    53
    Rekonstruieren

Claims (10)

  1. Verfahren zur Scanmikroskopie, umfassend folgende Schritte: • Beleuchten einer Probe (23), die zumindest einen Fluoreszenzfarbstoff enthält, mit Beleuchtungslicht, • Detektieren des von Rasterpunkten der Probe (23) ausgehenden Detektionslichtes mit einem Spektraldetektor (29), der für jeden Rasterpunkt Spektraldaten erzeugt, • Ermitteln eines Amplitudenwertes zu jedem Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten und • Übertragen der Amplitudenwerte an ein Verarbeitungsmodul (39), dadurch gekennzeichnet, dass der zumindest eine in der Probe (23) enthaltene Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten durch Vergleichen der Spektraldaten mit in einem Speichermodul (35) für verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe abgelegten Referenzdaten ermittelt wird, und • nach der Übertragung der Amplitudenwerte an das Verarbeitungsmodul (39) die Spektraldaten in dem Verarbeitungsmodul (39) aus den übermittelten Amplitudenwerten rekonstruiert werden.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass das Beleuchten ein Abrastern der Rasterpunkte der Probe (23) mit Beleuchtungslicht umfasst.
  3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Abrastern sequentiell erfolgt.
  4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass das Abrastern zumindest teilweise simultan erfolgt.
  5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das Abrastern zeilenweise erfolgt.
  6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Spektraldetektor (29) ein Gitter- oder Prismenspektrometer umfasst.
  7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Spektraldetektor (29) einen Multibanddetektor umfasst.
  8. Scanmikroskop zur Durchführung des Verfahrens nach einem der Ansprüche 1 bis 7, mit einer Lichtquelle (1), die Beleuchtungslicht zur Beleuchtung einer Probe (23) emittiert, die zumindest einen Fluoreszenzfarbstoff enthält, mit einer Scaneinrichtung zum Abrastern von Rasterpunkten der Probe (23), mit einem Spektraldetektor zum Detektieren des von den Rasterpunkten ausgehenden Detektionslichtes, wobei der Spektraldetektor für jeden Rasterpunkt Spektraldaten erzeugt, wobei ein Modul (33) zum Ermitteln eines Amplitudenwertes für jeden Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten vorgesehen ist, und wobei Mittel (37) zum Übertragen der Amplitudenwerte an ein Verarbeitungsmodul (39) vorgesehen sind, dadurch gekennzeichnet, dass • der zumindest eine in der Probe (23) enthaltene Fluoreszenzfarbstoff aus den Spektraldaten durch Vergleichen der Spektraldaten mit in einem Speichermodul (35) für verschiedene Fluoreszenzfarbstoffe abgelegten Referenzdaten ermittelbar ist, und • das Verarbeitungsmodul (39) ausgebildet ist, die Spektraldaten aus den übermittelten Amplitudenwerten zu rekonstruieren.
  9. Scanmikroskop nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Spektraldetektor ein Gitter- oder Prismenspektrometer umfasst.
  10. Scanmikroskop nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Spektraldetektor ein Multibanddetektor umfasst.
DE10231776.3A 2002-07-13 2002-07-13 Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop Expired - Fee Related DE10231776B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10231776.3A DE10231776B4 (de) 2002-07-13 2002-07-13 Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop
US10/617,841 US20040032651A1 (en) 2002-07-13 2003-07-11 Method for scanning microscopy, and scanning microscope

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10231776.3A DE10231776B4 (de) 2002-07-13 2002-07-13 Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10231776A1 DE10231776A1 (de) 2004-01-22
DE10231776B4 true DE10231776B4 (de) 2021-07-22

Family

ID=29761948

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10231776.3A Expired - Fee Related DE10231776B4 (de) 2002-07-13 2002-07-13 Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20040032651A1 (de)
DE (1) DE10231776B4 (de)

Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2871358B1 (fr) * 2004-06-14 2007-02-09 Mauna Kea Technologies Soc Par Procede et systeme d'imagerie microscopique de fluorescence fibree multimarquage
DE102005020003B4 (de) * 2005-04-27 2007-10-11 MAX-PLANCK-Gesellschaft zur Förderung der Wissenschaften e.V. Fluoreszenzmikroskop
DE102005042672B4 (de) 2005-09-08 2009-10-01 Leica Microsystems Cms Gmbh Photosensor-Chip, Laser-Mikroskop mit Photosensor-Chip und Verfahren zum Auslesen eines Photosensor-Chips
DE102006034905B4 (de) * 2006-07-28 2015-07-30 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Anordnung zur Signalverarbeitung am Ausgang eines Mehrkanaldetektors
DE102009008646A1 (de) 2009-02-12 2010-08-19 Dodt, Hans-Ulrich, Dr. Vorrichtung zum optischen Abbilden einer Probe
US10260941B2 (en) * 2016-10-04 2019-04-16 Precitec Optronik Gmbh Chromatic confocal distance sensor

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0495930A1 (de) 1990-08-10 1992-07-29 The Regents Of The University Of Minnesota Laser für konfokales mikroskop
US5480804A (en) 1989-06-28 1996-01-02 Kirin Beverage Corporation Method of and apparatus for detecting microorganisms
DE19829944A1 (de) 1998-07-04 2000-01-05 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Gerätekonfiguration von konfokalen Mikroskopen
DE19829981A1 (de) 1998-07-04 2000-01-05 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie
US6337472B1 (en) 1998-10-19 2002-01-08 The University Of Texas System Board Of Regents Light imaging microscope having spatially resolved images
DE10065783A1 (de) 2000-12-30 2002-07-11 Leica Microsystems Verfahren, Anordnung und System zur Ermittlung von Prozessgrößen

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5296703A (en) * 1992-04-01 1994-03-22 The Regents Of The University Of California Scanning confocal microscope using fluorescence detection
DE10004233B4 (de) * 2000-02-01 2005-02-17 Leica Microsystems Heidelberg Gmbh Mikroskop-Aufbau

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5480804A (en) 1989-06-28 1996-01-02 Kirin Beverage Corporation Method of and apparatus for detecting microorganisms
EP0495930A1 (de) 1990-08-10 1992-07-29 The Regents Of The University Of Minnesota Laser für konfokales mikroskop
DE19829944A1 (de) 1998-07-04 2000-01-05 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur Gerätekonfiguration von konfokalen Mikroskopen
DE19829981A1 (de) 1998-07-04 2000-01-05 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur konfokalen Mikroskopie
US6337472B1 (en) 1998-10-19 2002-01-08 The University Of Texas System Board Of Regents Light imaging microscope having spatially resolved images
DE10065783A1 (de) 2000-12-30 2002-07-11 Leica Microsystems Verfahren, Anordnung und System zur Ermittlung von Prozessgrößen

Also Published As

Publication number Publication date
US20040032651A1 (en) 2004-02-19
DE10231776A1 (de) 2004-01-22

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO1998038495A1 (de) Lichtabtastvorrichtung
DE10043992B4 (de) Verfahren zur Untersuchung einer Probe und konfokales Scan-Mikroskop
EP1302804A2 (de) Verfahren zur optischen Erfassung von charakteristischen Grössen einer beleuchteten Probe
WO2005029151A1 (de) Rastermikroskop mit evaneszenter beleuchtung
EP1505424B1 (de) Rastermikroskop mit optischer Einkoppelvorrichtung für externes Licht
DE10156506C1 (de) Verfahren zur Erzeugung eines mehrfarbigen Bildes und Mikroskop
WO2006003178A1 (de) Rastermikroskop und verfahren zur untersuchung von biologischen proben mit einem rastermikroskop
DE10231776B4 (de) Verfahren zur Scanmikroskopie und Scanmikroskop
WO2005031428A1 (de) Mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung
DE102013022026A1 (de) Mehrfarben-Scanning-Mikroskop
DE10347326B4 (de) Anordnung mit einem Mikroskop und einem Modul
WO2006008304A1 (de) Rastermikroskop
WO2005031427A1 (de) Verfahren zur probenuntersuchung und mikroskop mit evaneszenter probenbeleuchtung
DE10228477A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Kalibrieren eines Spektraldetektors
DE10324478B3 (de) Vorrichtung zum Ermitteln der Lichtleistung eines Lichtstrahles und Scanmikroskop
DE102004029733B4 (de) Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie
DE19822869A1 (de) Optisches Nahfeldmikroskop
EP1353210B1 (de) Mikroskop mit einer Vorrichtung zur Ermittlung der Lichtleistung eines Beleuchtungslichtstrahls
DE10231475A1 (de) Scanmikroskop mit optischem Bauteil und optisches Bauteil
DE10065784C2 (de) Verfahren zum Auffinden von Kontaktstellen zwischen Zellen in einer stimulierbaren mikroskopischen Probe bei einer Kalziummigration und Scanmikroskop zur Durchführung des Verfahrens
DE19707225A1 (de) Lichtabtastvorrichtung
DE10058100A1 (de) Verfahren und eine Anordnung zur Abtastung mikroskopischer Objekte mit einer Scaneinrichtung
DE102019119147A1 (de) Mikroskop und verfahren zur mikroskopie
DE10309911B4 (de) Verfahren zur Ermittlung eines Farblängsfehlers eines Scanmikroskops und Scanmikroskop
DE10247249A1 (de) Scanmikroskop mit einem Spiegel zur Einkopplung eines Manipulationslichtstrahls

Legal Events

Date Code Title Description
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: LEICA MICROSYSTEMS CMS GMBH, 35578 WETZLAR, DE

8110 Request for examination paragraph 44
R079 Amendment of ipc main class

Free format text: PREVIOUS MAIN CLASS: G02B0021060000

Ipc: G02B0021000000

R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee
R026 Opposition filed against patent
R452 Opposition proceedings concluded by decision of the patent division/the federal patent court

Effective date: 20220907

R453 Decision of the patent division/the federal patent court on the conclusion of the opposition proceedings has become final

Effective date: 20221012