DE102021113780B9 - Verfahren zur Charakterisierung einer Maske für die Mikrolithographie - Google Patents
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Citations (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102011086345A1 (de) | 2011-11-15 | 2013-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel |
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|---|---|---|---|---|
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| US7123348B2 (en) * | 2004-06-08 | 2006-10-17 | Asml Netherlands B.V | Lithographic apparatus and method utilizing dose control |
| KR101658494B1 (ko) * | 2009-06-30 | 2016-09-21 | 에이에스엠엘 네델란즈 비.브이. | 반사성 요소의 어레이의 회전을 위한 마운팅 및 이를 포함하는 리소그래피 장치 |
| DE102009047180A1 (de) * | 2009-11-26 | 2010-12-16 | Carl Zeiss Smt Ag | Facettenspiegel, Beleuchtungssystem und Projektionsbelichtungsanlage |
| DE102010009022B4 (de) * | 2010-02-22 | 2019-10-24 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungssystem sowie Projektionsobjektiv einer Maskeninspektionsanlage |
| DE102010030435A1 (de) * | 2010-06-23 | 2011-12-29 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Metrologiesystem |
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| DE102012208514A1 (de) * | 2012-05-22 | 2013-11-28 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Justagevorrichtung sowie Masken-Inspektionsvorrichtung mit einer derartigen Justagevorrichtung |
| DE102012209412A1 (de) * | 2012-06-04 | 2013-12-05 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Optisches Verfahren und optische Messvorrichtung zum Messen von Winkellagen von Facetten zumindest eines Facettenspiegels für EUV-Anwendungen |
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| WO2016045945A1 (en) * | 2014-09-26 | 2016-03-31 | Asml Netherlands B.V. | Inspection apparatus and device manufacturing method |
| KR20180010242A (ko) * | 2015-05-21 | 2018-01-30 | 칼 짜이스 에스엠티 게엠베하 | 마이크로리소그래픽 투영 장치의 작동 방법 |
| US10025079B2 (en) * | 2015-09-28 | 2018-07-17 | Kenneth Carlisle Johnson | Actinic, spot-scanning microscope for EUV mask inspection and metrology |
| DE102016212266B4 (de) * | 2016-07-05 | 2018-11-15 | Myestro Interactive Gmbh | Vorrichtung zur Messung der Distanz mindestens eines Objektes von einer Referenzebene |
| DE102017115262B9 (de) * | 2017-07-07 | 2021-05-27 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Verfahren zur Charakterisierung einer Maske für die Mikrolithographie |
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| DE102011086345A1 (de) | 2011-11-15 | 2013-05-16 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Spiegel |
| DE102013211269A1 (de) | 2013-06-17 | 2014-04-30 | Carl Zeiss Smt Gmbh | Beleuchtungsoptik zur Beleuchtung eines in einem Objektfeld anordenbaren, strukturierten Objektes sowie Metrologiesystem für die Untersuchung eines strukturierten Objektes |
| DE102013212613A1 (de) | 2013-06-28 | 2014-12-31 | Carl Zeiss Sms Gmbh | Beleuchtungsoptik für ein Metrologiesystem sowie Metrologiesystem mit einer derartigen Beleuchtungsoptik |
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