DE102019111881A1 - Verfahren und vorrichtung zum senden von daten gemäss einem signalzeitablauf - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum senden von daten gemäss einem signalzeitablauf Download PDF

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Abstract

Hier wird eine Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung mit einem Knoten, um die Vorrichtung mit einer Testvorrichtung zu verbinden; einem oder mehreren Prozessoren, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind, ein elektrisches Signal von dem Knoten zu empfangen, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; einen Zeitpunkt der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen; und Daten zum Knoten während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers zu senden, offenbart.

Description

  • Technisches Gebiet
  • Verschiedene Ausführungsformen beziehen sich im Allgemeinen auf die Übertragung von Daten zwischen asynchronen Elementen wie beispielsweise einer automatischen Testausrüstung („ATE“) und einer getesteten Vorrichtung („DUT“).
  • Hintergrund
  • Vorrichtungen können unter Verwendung von irgendeinem einer Vielfalt von Protokollen und Kommunikationsressourcen miteinander kommunizieren. In einigen Typen von Kommunikation zwischen Vorrichtungen kann nur ein Draht für die Kommunikation zwischen den Vorrichtungen verfügbar sein oder es kann ansonsten erwünscht sein, nur einen Draht für eine solche Kommunikation zu verwenden. Dies kann beispielsweise ohne Begrenzung während der Kommunikation zwischen einer ATE und einer DUT auftreten.
  • Unter einigen Umständen können die zwei Vorrichtungen asynchron arbeiten. Das heißt, jede Vorrichtung kann mit einem oder mehreren Prozessoren ausgestattet sein, die gemäß einem oder mehreren lokalen Oszillatoren arbeiten. Obwohl verschiedene Protokolle existieren, um asynchrone Vorrichtungen zu synchronisieren, ist ein solcher synchroner Betrieb gewöhnlich nur vorübergehend, da die Prozessortakte jeder Vorrichtung gewöhnlich auseinander driften, nachdem die Synchronisation vollendet ist. Wenn die Prozessortakte auseinander driften, kann eine Übertragung von Daten zwischen Prozessoren zunehmend beeinträchtigt werden.
  • Verschiedene Anstrengungen wurden unternommen, um das Problem der Drift zwischen asynchronen Vorrichtungen anzugehen. Gemäß einem bekannten Verfahren kann eine ATE mit einem großen Puffer und einem robusten Prozessor konfiguriert sein, der zur anschließenden Analyse von asynchron empfangenen Daten von der DUT in der Lage sein kann, um die Übertragung von empfangenen Daten zu detektieren. Testmuster können an den ATE-Prozessoren ausgeführt werden und eine geeignete Abtastimpulsposition kann durch Experimentieren bestimmt werden, wie z. B. durch „Shmooing“ des Testmusters in einem Shmoo-Diagramm. Die Auswahl eines idealen Abtastimpulspunkts für individuelle Muster gemäß diesem bekannten Verfahren ist eine mühselige und prozessorbelastende Aufgabe. An sich können die Puffer und/oder Prozessoren, die für solche Operationen erforderlich sind, kostspielig oder anderweitig für eine gegebene Implementierung unerwünscht sein. Folglich ist ein einfacheres Verfahren, das an einem weniger leistungsstarken Prozessor durchgeführt werden kann, erwünscht.
  • Es ist auch bekannt, ein wiederholtes Synchronisationsprotokoll in Anspruch zu nehmen, um eine ausreichende Synchronisation für die Datenübertragung erneut herzustellen. Solche Synchronisationsprotokolle können eine vergleichsweise langwierige Verhandlung zwischen den zwei Vorrichtungen erfordern, können jedoch nur zu kurzen Perioden einer angemessenen Synchronisation führen. Selbst bei der Herstellung eines geeigneten Grades an Synchronisation driften gewöhnlich die Takte der zwei Vorrichtungen auseinander, wodurch eine erneute Synchronisation schnell erforderlich ist. Dies erfordert die Zueignung eines signifikanten Mehraufwands für das Synchronisationsprotokoll im Vergleich zur Menge an Daten, die als Ergebnis übertragen werden können.
  • Andere bekannte Versuche, um eine synchrone Kommunikation zwischen einer ATE und einer DUT mit asynchronen Takten zu ermöglichen, haben die Verwendung von zusätzlichen Drähten für die Übertragung von Synchronisationssignalen erfordert, wie z. B. eines ersten Drahts für die Datenübertragung und eines zweiten Drahts für die Taktübertragung. In Anbetracht dessen, dass viele Vorrichtungen nur einen einzelnen Eingangs/Ausgangs-Anschluss für die Datenübertragung aufweisen, kann dies eine unpraktische oder unerwünschte Lösung sein.
  • Figurenliste
  • In den ganzen Zeichnungen sollte beachtet werden, dass gleiche Bezugszeichen verwendet werden, um dieselben oder ähnlichen Elemente, Merkmale und Strukturen darzustellen. Die Zeichnungen sind nicht notwendigerweise maßstäblich, wobei stattdessen die Betonung im Allgemeinen auf die Erläuterung von Aspekten der Offenbarung gelegt wird. In der folgenden Beschreibung werden einige Aspekte der Offenbarung mit Bezug auf die folgenden Zeichnungen beschrieben, in denen:
    • 1 eine Taktdrift in einem Testprotokoll zwischen einer ATE und einer DUT darstellt;
    • 2 die Übertragung von asynchronen Daten zu einer Host-ATE darstellt;
    • 3 ein bekanntes Verfahren zur Übertragung eines Synchronisationssignals von der ATE zur DUT unter Verwendung eines zusätzlichen Leiters, um ein Taktsignal zu übertragen, darstellt;
    • 4 ein Datenübertragungsschema mit einem Synchronisationssignal zeigt;
    • 5 eine ATE, die mit einer DUT und einer Einzeldrahtverbindung verbunden ist, zeigt;
    • 6 eine Schaltungskonfiguration einer Master-Platine und einer Slave-Platine gemäß einem Aspekt der Offenbarung darstellt;
    • 7 eine Datenpaketübertragung in Reaktion auf ein Synchronisationssignal gemäß einem anderen Aspekt der Offenbarung darstellt;
    • 8 eine Datenpaketübertragung in Reaktion auf ein Synchronisationssignal gemäß einem anderen Aspekt der Offenbarung darstellt;
    • 9 ein Verfahren zur Einzeldrahtsynchronisation gemäß einem Aspekt der Offenbarung darstellt.
  • Beschreibung
  • Die folgende ausführliche Beschreibung bezieht sich auf die begleitenden Zeichnungen, die zur Erläuterung spezielle Details und Aspekte zeigen, in denen die Offenbarung ausgeführt werden kann. Diese Aspekte werden in ausreichendem Detail beschrieben, um dem Fachmann auf dem Gebiet zu ermöglichen, die Offenbarung auszuführen. Andere Aspekte können verwendet werden und strukturelle, logische und elektrische Änderungen können durchgeführt werden, ohne vom Schutzbereich der Offenbarung abzuweichen. Die verschiedenen Aspekte schließen sich nicht notwendigerweise gegenseitig aus, da einige Aspekte mit einem oder mehreren anderen Aspekten kombiniert werden können, um neue Aspekte zu bilden. Verschiedene Aspekte werden in Verbindung mit Verfahren beschrieben und verschiedene Aspekte werden in Verbindung mit Vorrichtungen beschrieben. Es kann jedoch selbstverständlich sein, dass in Verbindung mit Verfahren beschriebene Aspekte ebenso für die Vorrichtungen gelten können und umgekehrt.
  • Das Wort „beispielhaft“ wird hier so verwendet, dass es „als Beispiel, Instanz oder Erläuterung dienend“ bedeutet. Irgendeine Ausführungsform oder Konstruktion, die hier als „beispielhaft“ beschrieben wird, soll nicht notwendigerweise als gegenüber anderen Ausführungsformen oder Konstruktionen bevorzugt oder vorteilhaft aufgefasst werden.
  • In den ganzen Zeichnungen sollte beachtet werden, dass gleiche Bezugszeichen verwendet werden, um dieselben oder ähnliche Elemente, Merkmale und Strukturen darzustellen.
  • Die Begriffe „mindestens eines“ und „eines oder mehrere“ können als eine Zahlenmenge umfassend verstanden werden, die größer als oder gleich eins ist (z. B. eins, zwei, drei vier, [...] usw.). Der Begriff „mehrere“ kann als eine Zahlenmenge umfassend verstanden werden, die größer als oder gleich zwei ist (z. B. zwei, drei vier, fünf, [...] usw.).
  • Der Ausdruck „mindestens eines von“ im Hinblick auf eine Gruppe von Elementen kann hier so verwendet werden, dass er mindestens ein Element von der Gruppe, die aus den Elementen besteht, bedeutet. Der Ausdruck „mindestens eines von“ im Hinblick auf eine Gruppe von Elementen kann beispielsweise hier so verwendet werden, dass er eine Auswahl bedeutet von: einem der aufgelisteten Elemente, mehreren der aufgelisteten Elemente, mehreren individuellen aufgelisteten Elementen oder mehreren von einer Mehrzahl von aufgelisteten Elementen.
  • Die Worte „mehrfach“ und „mehrere“ in der Beschreibung und den Ansprüchen beziehen sich ausdrücklich auf eine Menge größer als eins. Folglich beziehen sich beliebige Ausdrücke, die explizit die vorstehend erwähnten Worte anführen (z. B. „mehrere von [Objekten]“, „mehrere [Objekte]“), die sich auf eine Menge von Objekten beziehen, ausdrücklich auf mehr als eines der Objekte. Die Begriffe „Gruppe (von)“, „Menge [von]“, „Sammlung (von)“, „Reihe (von)“, „Sequenz (von)“, „Gruppierung (von)“ usw. und dergleichen in der Beschreibung und in den Ansprüchen, falls vorhanden, beziehen sich auf eine Menge gleich oder größer als eins, d. h. eines oder mehrere. Die Begriffe „zweckmäßige Teilmenge“, „verringerte Teilmenge“ und „geringere Teilmenge“ beziehen sich auf eine Teilmenge einer Menge, die nicht gleich der Menge ist, d. h. eine Teilmenge einer Menge, die weniger Elemente als die Menge enthält.
  • Der Begriff „Daten“, wie hier verwendet, kann als Informationen in irgendeiner geeigneten analogen oder digitalen Form umfassend verstanden werden, z. B. als Datei, Teil einer Datei, Menge von Dateien, Signal oder Strom, Teil eines Signals oder Stroms, Menge von Signalen oder Strömen und dergleichen vorgesehen. Ferner kann der Begriff „Daten“ auch so verwendet werden, dass er einen Verweis auf Informationen bedeutet, z. B. in Form eines Zeigers. Der Begriff Daten ist jedoch nicht auf die vorstehend erwähnten Beispiele begrenzt und kann verschiedene Formen annehmen und beliebige Informationen darstellen, wie auf dem Fachgebiet verstanden.
  • Der Begriff „Prozessor“ oder „Steuerung“, wie beispielsweise hier verwendet, kann als irgendeine Art von Entität verstanden werden, die die Bearbeitung von Daten, Signalen usw. ermöglicht. Die Daten, Signale usw. können gemäß einer oder mehreren speziellen Funktionen bearbeitet werden, die durch den Prozessor oder die Steuerung ausgeführt werden.
  • Ein Prozessor oder eine Steuerung kann folglich eine analoge Schaltung, digitale Schaltung, Mischsignalschaltung, Logikschaltung, ein Prozessor, Mikroprozessor, eine Zentraleinheit (CPU), eine Graphikverarbeitungseinheit (GPU), ein Digitalsignalprozessor (DSP), ein anwenderprogrammierbares Verknüpfungsfeld (FPGA), eine integrierte Schaltung, eine anwendungsspezifische integrierte Schaltung (ASIC) usw. oder irgendeine Kombination davon sein oder diese umfassen. Irgendeine andere Art von Implementierung der jeweiligen Funktionen, die nachstehend genauer beschrieben werden, kann auch als Prozessor, Steuerung oder Logikschaltung verstanden werden. Es ist selbstverständlich, dass beliebige zwei (oder mehr) der Prozessoren, Steuerungen oder Logikschaltungen, die hier ausführlich beschrieben werden, als einzelne Entität mit äquivalenter Funktionalität oder dergleichen verwirklicht sein können, und dass dagegen irgendein einzelner Prozessor, irgendeine einzelne Steuerung oder Logikschaltung, die hier ausführlich beschrieben werden, als zwei (oder mehr) separate Entitäten mit äquivalenter Funktionalität oder dergleichen verwirklicht sein kann.
  • Der Begriff „System“ (z. B. ein Antriebssystem, ein Positionsdetektionssystem usw.), das hier ausführlich beschrieben wird, kann als Menge von zusammenwirkenden Elementen verstanden werden, die Elemente können beispielhaft und nicht zur Begrenzung eine oder mehrere mechanische Komponenten, eine oder mehrere elektrische Komponenten, ein oder mehrere Befehle (z. B. in Speichermedien codiert), eine oder mehrere Steuerungen usw. sein.
  • Eine „Schaltung“, wie hier verwendet, wird als irgendeine Art von Logik implementierender Entität verstanden, die Spezial-Hardware oder einen Prozessor, der eine Software ausführt, umfassen kann. Eine Schaltung kann folglich eine analoge Schaltung, digitale Schaltung, Mischsignalschaltung, Logikschaltung, ein Prozessor, ein Mikroprozessor, eine Zentraleinheit („CPU“), Graphikverarbeitungseinheit („GPU“), ein Digitalsignalprozessor („DSP“), ein anwenderprogrammierbares Verknüpfungsfeld („FPGA“), eine integrierte Schaltung, eine anwendungsspezifische integrierte Schaltung („ASIC“) usw. oder irgendeine Kombination davon sein. Irgendeine andere Art von Implementierung der jeweiligen Funktionen, die nachstehend genauer beschrieben werden, kann auch als „Schaltung“ verstanden werden. Es ist selbstverständlich, dass beliebige zwei (oder mehr) der hier ausführlich beschriebenen Schaltungen als einzelne Schaltung mit im Wesentlichen einer äquivalenten Funktionalität verwirklicht sein können und dass dagegen irgendeine hier ausführlich beschriebene einzelne Schaltung als zwei (oder mehr) separate Schaltungen mit im Wesentlichen äquivalenter Funktionalität verwirklicht sein kann. Außerdem können sich Bezugnahmen auf eine „Schaltung“ auf zwei oder mehr Schaltungen beziehen, die gemeinsam eine einzelne Schaltung bilden.
  • Wie hier verwendet, kann ein „Arbeitsspeicher“ als nichtransitorisches computerlesbares Medium verstanden werden, in dem Daten oder Informationen für den Abruf gespeichert werden können. Bezugnahmen auf einen „Arbeitsspeicher“, die hier enthalten sind, können als sich auf einen flüchtigen oder nichtflüchtigen Arbeitsspeicher beziehend verstanden werden, einschließlich eines Direktzugriffsarbeitsspeichers („RAM“), eines Festwertarbeitsspeichers („ROM“), Flash-Arbeitsspeichers, Halbleiterspeichers, eines Magnetbandes, eines Festplattenlaufwerks, eines optischen Laufwerks usw. oder irgendeiner Kombination davon. Ferner wird erkannt, dass Register, Schieberegister, Prozessorregister, Datenpuffer usw. auch hier durch den Begriff Arbeitsspeicher umfasst sind. Es wird erkannt, dass eine einzelne Komponente, die als „Arbeitsspeicher“ oder „ein Arbeitsspeicher“ bezeichnet wird, aus mehr als einem unterschiedlichen Typ von Arbeitsspeicher bestehen kann und sich folglich auf eine gemeinsame Komponente mit einem oder mehreren Typen von Arbeitsspeicher beziehen kann. Es ist leicht verständlich, dass irgendeine einzelne Arbeitsspeicherkomponente in mehrere gemeinsam äquivalente Arbeitsspeicherkomponenten aufgetrennt werden kann und umgekehrt. Obwohl ein Arbeitsspeicher als von einer oder mehreren anderen Komponenten separat dargestellt sein kann (wie z. B. in den Zeichnungen), ist ferner selbstverständlich, dass ein Arbeitsspeicher in eine andere Komponente wie z. B. auf einem gemeinsamen integrierten Chip integriert sein kann.
  • Eine ATE kann irgendeine Vorrichtung sein, die verwendet wird, um einen Test an einer zweiten Vorrichtung durchzuführen, die üblicherweise als DTE bekannt ist. ATEs können im Bereich von einfachen bis zu komplexen Rechenvorrichtungen liegen und können mehrere komplexe Testinstrumente enthalten, ob real oder simuliert. ATEs können zum automatischen Testen und/oder Diagnostizieren von Fehlern in anspruchsvollen elektronischen Vorrichtungen in der Lage sein. Solche anspruchsvollen elektronischen Vorrichtungen können gepackte Teile, Wafer-Testen, Systeme auf Chips und integrierte Schaltungen umfassen, sind jedoch nicht darauf begrenzt.
  • Eine ATE kann dazu konfiguriert sein, Testinformationen von einer DUT zu empfangen. Die ATE und die DUT können jeweils mit Prozessoren konfiguriert sein, die asynchron in Bezug aufeinander arbeiten. Eine solche asynchrone Kommunikation kann gewisse Herausforderungen in Bezug auf die Übertragung von Daten erzeugen. Selbst unter Umständen, unter denen die synchrone Kommunikation erreicht wird, wie z. B. durch die Verwendung eines Synchronisationsprotokolls, driften die zwei Prozessoren sehr wahrscheinlich auseinander, wodurch zusätzliche Synchronisationsanstrengungen erforderlich sind.
  • Das Problem der Synchronisation zwischen einer ATE und einer DUT kann in bestimmten Testsituationen relevant sein. Das Anwendungsmodustesten für eine solche Ausrüstung erlegt im Allgemeinen ein asynchrones Kommunikationsprotokoll auf, um eine vollständige Überprüfung von bestimmten Spezifikationen sicherzustellen. Eine Einzeldrahtschnittstelle wird typischerweise für die Kommunikation zwischen der ATE und der DUT verwendet und viele ATEs und/oder DUTs sind mit nur einem einzelnen Eingangs/Ausgangs-Anschluss für eine solche Kommunikation konfiguriert. Der native Testtakt der ATE ist typischerweise zum Takt der DUT phasen- und frequenzverschoben, was eine Schwierigkeit beim Abtasten von DUT-Daten erzeugt. Angesichts des Vorangehenden ist es erwünscht, einen zuverlässigen Testmechanismus zu schaffen, der ermöglicht, dass die DUT ein Übertragungspaket mit dem ATE-Takt entlang einer Einzeldrahtschnittstelle synchronisiert. Es ist erwünscht, diese Prozedur derart zu implementieren, dass ein oder mehrere existierende Einzeldrahtschnittstellenprotokolle weiterhin verwendet werden können. Ferner ist es erwünscht, die Prozedur in Weisen auszuführen, die die Verwendung mit einer Vielfalt von Testern ermöglichen, einschließlich Testern mit vergleichsweise kleinen Puffern und/oder einer Vielfalt von Prozessorqualitäten.
  • Daten, die durch die DUT übertragen werden, sind im Allgemeinen mit dem DUT-Takt synchron. Selbst unter Umständen, unter denen die DUT und die ATE synchronisiert sind, wird erwartet, dass der DUT-Takt eine Drift erfährt, wie z. B. eine Drift aufgrund ihres Herstellungsprozesses oder Temperaturveränderungen. In einer typischen Implementierung können ungefähr zwei Bytes von Daten zuverlässig durch die ATE abgetastet werden, bevor sich die Synchronisation ausreichend verschlechtert, um die Datenübertragung merklich zu beeinträchtigen. Verschiedene Taktiken wurden verwendet, um zu versuchen, diese begrenzte Menge an Datenübertragung zu verbessern, wie z. B. Festlegen von Abtastimpulspunkten in Richtung des Endes des ATE-Taktzyklus, wenn die Taktfrequenz niedriger ist als der ATE-Takt, oder Festlegen des Abtastimpulses auf den Beginn des ATE-Takts, wenn der DUT-Takt schneller ist als der ATE-Takt. Selbst wenn diese Maßnahmen getroffen werden, führt irgendeine signifikante Taktdrift wahrscheinlich zu einem Ausbeuteverlust.
  • ATEs können eine verdrahtete oder drahtlose Verbindung mit der DUT aufweisen. Im relevanten Teil kann die ATE eine verdrahtete Verbindung mit der DUT aufweisen. Die verdrahtete Verbindung kann einen einzelnen Draht oder mehr als einen Draht umfassen. Die hier beschriebenen Verfahren und Prinzipien sollen an einer Verbindung von ATE zu DUT durchführbar sein, die aus einem Draht besteht. Trotz dessen können die hier beschriebenen Verfahren und Prozeduren alternativ oder zusätzlich in Testszenarios durchgeführt werden, die zwei oder mehr Drähte beinhalten.
  • Die Eindrahttestumgebung kann in verschiedenen Anwendungen bevorzugt sein, da die Verwendung eines einzelnen Drahts eine Anzahl von Schnittstellensignalen verringern kann und dadurch eine geringere Anschlussstiftzahl erfordern, eine höhere Dichte bieten und typischerweise weniger Leistung erfordern kann. In solchen Eindrahttestszenarios können der eine Draht und eine Referenzmasse verwendet werden. Diese Eindrahttestimplementierungen können unidirektional, bidirektional und/oder in einem Halbduplexmodus mit bidirektionaler Übertragung über einen einzelnen Draht konfiguriert sein. Zusätzliche Signale können für Hardware-Quittungsaustauschvorgänge verwendet werden, wie erforderlich. Das Einzeldrahttesten kann dazu konfiguriert sein, irgendeine von Signalamplitude, Signalfrequenz oder Signalphase zu nutzen, ob in Isolation oder in Kombination mit zwei oder mehr Eigenschaften. Das Testen kann in einer Unicast-, Multicast- oder Broadcast-Konfiguration oder irgendeiner Kombination davon stattfinden.
  • Die Testkonfiguration kann eine Trainingssequenz beinhalten. Die Trainingssequenz kann irgendeine Anzahl von komplementären Bits umfassen. Die Trainingssequenz kann eine feste Referenzperiode zwischen zwei fallenden Flanken eines Signals vorsehen, wodurch die Kalibrierung des DUT-Zeitablaufs auf die aktuelle Übertragungsgeschwindigkeit ermöglicht wird.
  • Konzepte für Verfahren und Vorrichtungen für das Vorrichtungstesten sind hier offenbart. Um das Vorrichtungstesten durchzuführen, kann ein Synchronisationsimpuls in ein Kommunikationsprotokoll im Allgemeinen während einer Periode eingebettet werden, wenn eine Datenübertragung von der DUT erwartet wird. Der Synchronisationsimpuls kann mindestens zwei Abschnitte umfassen, wie z. B. einen niedrigen Abschnitt und einen hohen Abschnitt, oder einen Ein-Abschnitt und einen Aus-Abschnitt. Die DUT und die ATE können dazu konfiguriert sein, das Synchronisationsschema, wie hier beschrieben, zu verwenden, wie z. B. Implementieren, Erkennen, Einstellen und Durchführen gemäß dem Synchronisationsschema.
  • 1 demonstriert die effektive Taktdrift in einem Testprotokoll 100 zwischen einer ATE und einer DUT. In dieser Figur sind drei Signale gezeigt. Das obere Signal stellt eine erwartete Signalübertragung 102 von der DUT zur ATE dar. Das mittlere Signal gibt eine tatsächliche Übertragung 104 von der DUT zur ATE an. Das dritte Signal ist ein Taktsignal auf der Basis des Takts der ATE. Wie durch diese Figur demonstriert, demonstriert die anfängliche Übertragung einen hohen Grad an Synchronität, da der Beginn der erwarteten Übertragung 102 und der Beginn der tatsächlichen Übertragung 104 im Wesentlichen gleich sind. Das wiederholte Muster der erwarteten Übertragung 102 und der tatsächlichen Übertragung 104 fährt fort, sie werden jedoch mit jeder aufeinander folgenden Generation mehr in Bezug aufeinander verschoben. Das heißt, obwohl die erwartete Übertragung 102 konstant bleibt, driftet die tatsächliche Übertragung 104 in Bezug auf die erwartete Übertragung 102 nach rechts. Anders angegeben, die tatsächliche Übertragung 104 beginnt im Vergleich zur erwarteten Übertragung 102 länger zu driften. Wie in dieser Figur zu sehen ist, ist die tatsächliche Übertragung 104 nach ungefähr zehn Iterationen ausreichend weit nach rechts gedriftet, dass sie zur erwarteten Übertragung 102 konstruktiv entgegengesetzt ist.
  • 2 zeigt die Übertragung von asynchronen Daten zu einer Host-ATE. In einer herkömmlichen Testsituation steuert der Takt der DUT den Zeitablauf der Übertragung von der DUT zur ATE 202. Da der Takt der DUT für eine Drift in Bezug auf den Takt der ATE anfällig ist, erfährt die DUT eine Übertragungsdrift, während der sie Pakete von Daten asynchron in Bezug auf die ATE überträgt. In diesem Fall werden beispielsweise Datenpakete 204a-204h asynchron von der DUT zur ATE 202 übertragen. Die Datenpakete 204a-204h sind ungleichmäßig beabstandet, um die sich ändernde asynchrone Übertragung zu demonstrieren, die der DUT-Taktdrift zugeordnet ist.
  • Viel der asynchronen Übertragung aufgrund der Taktdrift kann durch das Ausstatten der ATE 200 mit einem hochwertigen Prozessor und großen Puffer und das Verwenden von einer oder mehreren Strategien, um einen Taktzählwert von den empfangenen Daten zu detektieren, berücksichtigt und korrigiert werden. In dieser Konfiguration sammelt die ATE 202 die asynchronen empfangenen Übertragungen und analysiert sie anschließend, um die empfangenen Daten zu detektieren. Selbst mit diesem Verfahren kann ein Datenverlust ausgeschlossen werden. Überdies erfordert dies signifikante Prozessorleistung und einen großen Puffer. Dies setzt sich in teurere Prozessoren um, was schließlich die Kosten der ATE 202 erhöht.
  • 3 stellt ein bekanntes Verfahren zum Übertragen eines Synchronisationssignals von der ATE 202 zur DUT unter Verwendung eines zusätzlichen Drahts dar. In diesem Fall ist der Host 202 mit der DUT über mindestens zwei Drähte verbunden. Ein erster Draht 302 wird für die Datenübertragung von Datenpaketen verwendet, wie durch die Ziffern 204a bis mindestens 204h dargestellt. Der zweite Draht 304 wird verwendet, um ein Synchronisationssignal zu übertragen. Die DUT kann dazu konfiguriert sein, das Synchronisationssignal zu empfangen, wie auf 304 übertragen, und Datenpakete in Reaktion auf oder gemäß dem empfangenen Synchronisationssignal zu übertragen. In diesem Fall werden die Datenpakete entlang eines vom Synchronisationssignal verschiedenen Drahts übertragen. Gemäß diesem Verfahren kann es nicht erforderlich sein, streng zwischen der Datenübertragung und Synchronisationssignalübertragung abzuwechseln, da sie auf verschiedenen Drähten stattfinden und wahrscheinlich einander nicht beeinflussen. Trotzdem benötigt die Anforderung, einen zusätzlichen Draht zu haben, zusätzliche Prozessorressourcen, was unerwünscht sein kann. Überdies sind viele ATEs und DUTs dazu konfiguriert, mit einer einzelnen Eingangs/Ausgangs -Leitung zu arbeiten, und wären nicht in der Lage, einen zweiten Leiter für die Übertragung eines Synchronisationssignals einzuführen.
  • 4 zeigt ein Datenübertragungsschema mit einem Synchronisationssignal gemäß einem Aspekt der Offenbarung. In dieser Weise ist die ATE 202 mit der DUT über einen einzelnen Draht 401 verbunden, entlang dessen ein Synchronisationssignal (wie durch mindestens 404 und 408 dargestellt) von der ATE 202 zur DUT übertragen wird, und ein oder mehrere Datenpakete (wie durch mindestens 402 und 410 dargestellt), von der DUT zur ATE 202 übertragen werden. Die DUT kann dazu konfiguriert sein, Datenpakete in Reaktion auf ein empfangenes Synchronisationssignal zu übertragen. Das Datenpaket 402 wird beispielsweise in Reaktion auf das vorangehende Synchronisationssignal übertragen. Dem Datenpaket 402 folgt ein zusätzliches Synchronisationssignal 404, dem ein nächstes Datenpaket folgt. In dieser Weise erfüllen die Synchronisationssignale mindestens zwei Zwecke. Erstens schaffen die Synchronisationssignale ein Mittel zur Synchronisation zwischen dem Takt der ATE 202 und dem DUT-Takt. Da die Synchronisationssignale durch die ATE 202 übertragen werden, stellen sie einen Zeitablauf des Takts der ATE 202 dar und schaffen daher ein Mittel für die DUT, um Signale synchron mit dem Takt der ATE 202 zu übertragen. Zweitens funktionieren diese Synchronisationssignale als Aufforderung oder Anforderung für die Datenübertragung. In dieser Weise kann die ATE 202 die Datenübertragung durch ihre Synchronisationssignale anstreben und anhalten. Im Verlauf des Empfangs von Daten kann die ATE 202 vorübergehend ihre Verarbeitungsressourcen auf eine andere Aufgabe richten müssen. Solche anderen Aufgaben könnten Datenverarbeitung, Pufferanalyse, Abfrage einer zusätzlichen Vorrichtung oder anderes sein. Unter irgendeinem dieser Umstände kann es erwünscht sein, dass die ATE 202 vorübergehend den Empfang von Datenpaketen anhält. In dieser Weise kann die ATE 202 leicht die Übertragung von Datenpaketen durch die DUT durch Einstellen des Sendens des Synchronisationssignals unterbrechen. Eine solche Periode ist durch 406 dargestellt, in der die ATE 202 gewählt hat, das Senden des Synchronisationssignals vorübergehend zu unterbrechen. Auf der Basis des mit Datenpaketen 0 bis 3 und ihrer entsprechenden Synchronisationssignale erstellten Musters würde erwartet werden, dass die ATE 202 ein Synchronisationssignal unmittelbar nach dem Datenpaket 3 sendet, dem unmittelbar ein oder mehrere zusätzliche Datenpakete in dem mit 406 bezeichneten Raum folgen würden. Da jedoch die ATE 202 kein Synchronisationssignal in dieser Periode gesendet hat, hat auch die DUT kein entsprechendes Datenpaket gesendet. In dieser Weise kann die ATE 202 die DUT steuern, um Datenpakete für das Testen zu senden oder das Senden zu unterbrechen. Wenn die ATE 202 das Empfangen von Datenpaketen fortsetzen kann, kann die ATE ein Synchronisationssignal 408 senden, um die DUT aufzufordern, ein Datenpaket 410 zu übertragen. Wie hier dargestellt ist, kann die ATE 202 in dieser Weise die DUT anweisen, Pakete zu irgendeiner Zeit oder mit irgendeiner Frequenz zu senden, die für das Testen der ATE 202 geeignet ist.
  • 5 zeigt eine ATE 502, die mit einer DUT 504 und einer Einzeldrahtverbindung 506 verbunden ist. Die ATE 502 umfasst eine Synchronisationserzeugungsschaltung 508 und die DUT 504 umfasst eine Synchronisationsdetektionsschaltung 510. In dieser Weise erzeugt die ATE 502 ein Synchronisationssignal in der Synchronisationserzeugungsschaltung 508 und überträgt das Synchronisationssignal über den einzelnen Draht 506 zur DUT 504. Das Synchronisationssignal wird durch die DUT 504 empfangen und durch die Synchronisationssignaldetektionsschaltung 510 detektiert. In Reaktion auf das detektierte Synchronisationssignal antwortet die DUT mit der Übertragung von Datenpaketen über den einzelnen Draht 506, auf dem das Synchronisationssignal gesendet wurde. Die Übertragung von Datenpaketen von der DUT 504 zur ATE 502 wird mit einer Frequenz durchgeführt, die dem detektierten Synchronisationssignal entspricht. Ferner wird die Übertragung von Datenpaketen in Reaktion auf das empfangene Datensynchronisationssignal durchgeführt, so dass die Übertragung von Datenpaketen durch die Übertragung des Synchronisationssignals von der ATE 502 zur DUT 504 ausgelöst werden kann und die Übertragung von Datenpaketen durch Anhalten oder Einstellen der Übertragung des Synchronisationssignals von der ATE 502 zur DUT 504 angehalten oder eingestellt werden kann. Gemäß einem anderen Aspekt der Offenbarung kann die ATE mit einem oder mehreren Prozessoren konfiguriert sein, die dazu konfiguriert sein können, irgendeine der hier beschriebenen Funktionen durchzuführen, einschließlich, jedoch nicht begrenzt auf die Funktionen, die durch die Synchronisationserzeugungsschaltung 508 durchgeführt werden, und/oder das Senden des Synchronisationssignals. Gemäß einem anderen Aspekt der Offenbarung kann die DUT mit einem oder mehreren Prozessoren konfiguriert sein, die dazu konfiguriert sein können, beliebige der hier beschriebenen Funktionen durchzuführen, einschließlich, jedoch nicht begrenzt auf die Funktionen, die durch die Synchronisationsdetektionsschaltung 508 durchgeführt werden, und/oder das Senden der Daten in Reaktion auf das Synchronisationssignal.
  • 6 stellt eine Schaltungskonfiguration einer Master-Platine 602 und einer Slave-Platine 604 gemäß einem Aspekt der Offenbarung dar. In dieser Weise umfasst die Master-Platine 602 die ATE 606 und die Slave-Platine 604 umfasst die DUT 608. Die ATE ist mit einem einzelnen Eingangs/Ausgangs-Anschlussstift 610 konfiguriert, der über einen einzelnen Draht mit dem einzelnen Eingangs/Ausgangs-Anschlussstift 612 der DUT 608 verbunden ist. In dieser Weise wird das Synchronisationssignal vom Anschlussstift 610 zum Anschlussstift 612 übertragen und die Datenpakete werden vom Anschlussstift 612 zum Anschlussstift 610 übertragen. Da viele ATE-Vorrichtungen mit einem einzelnen Eingangs/Ausgangs-Anschlussstift konfiguriert sind und da viele DUT-Vorrichtungen mit einem einzelnen Eingangs/Ausgangs-Anschlussstift konfiguriert sind, ermöglicht die Fähigkeit, ein Synchronisationssignal und Datenpakete auf demselben Draht zu übertragen, die Verwendung der hier beschriebenen verbesserten Synchronisationsverfahren mit existierenden Anschlussstift- und Vorrichtungskonfigurationen.
  • 7 stellt eine Datenpaketübertragung 704 in Reaktion auf ein Synchronisationssignal 702 dar. Das Synchronisationssignal 702 kann ein interner Verarbeitungstakt der ATE sein, mit dem der Synchronisationsimpuls synchronisiert wird. Wie hier dargestellt, können der eine oder die mehreren Prozessoren der DUT dazu konfiguriert sein, die Übertragung des Datenpakets gemäß einer Stoppzeit oder einer voreilenden Spur des Synchronisationssignals zu beginnen. In der herkömmlichen Methode kann es bekannt sein, einen zweiten Anschlussstift/Draht zu verwenden, um das Synchronisationssignal zu übertragen.
  • 8 stellt eine Vorrichtung 802 gemäß einem Aspekt der Offenbarung dar. Die Vorrichtung kann in einer Datentestumgebung wie z. B. einer durch eine ATE zu testenden Vorrichtung verwendet werden. Die Vorrichtung kann einen Knoten 806 und einen oder mehrere Prozessoren 804 umfassen, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind, vom Knoten ein elektrisches Signal zu empfangen, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand 808a, 808b, 808c und einem zweiten Zustand 810a, 810b, 810c gemäß einem vorbestimmten Signalzeitablauf abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; und wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu konfiguriert sind, einen Zeitpunkt des zweiten Zustandes auf der Basis des vorbestimmten Signalzeitablaufs zu bestimmen; und Daten 812a, 812b, 812c zum Knoten während des zweiten Zustandes in Reaktion auf den Empfang des Signals gemäß dem ersten Zustand zu senden.
  • Der erste Zustand und der zweite Zustand können auf der Basis einer Änderung irgendeiner Signalcharakteristik unterschieden werden. Beispiele von Änderungen der Signalcharakteristiken können eine Änderung der Amplitude, eine Änderung der Frequenz und/oder eine Änderung der Phase umfassen, sind jedoch nicht darauf begrenzt. Die Änderung der Signalcharakteristik kann ermöglichen, dass das Signal zwischen einem hohen Zustand und einem niedrigen Zustand umschaltet. Der erste Zustand kann einem hohen Zustand oder einem niedrigen Zustand entsprechen und der zweite Zustand kann dem anderen des hohen Zustandes oder des niedrigen Zustandes entsprechen.
  • Gemäß einem Aspekt der Offenbarung können der erste Zustand und der zweite Zustand ein oder aus entsprechen. Das heißt, in dem Fall, dass der erste Zustand der Ein-Zustand ist, kann das Signal dazwischen, dass es eine Charakteristik aufweist, die über einem vorbestimmten Schwellenwert liegt, oder aus ist, umschalten. In dieser Konfiguration kann der zweite Zustand, der einer Sendegelegenheit entspricht, das Fehlen einer Signalübertragung von einer externen Vorrichtung sein. In dieser Weise wird erwartet, dass die einzige Übertragung auf dem gemeinsam genutzten Draht oder zum gemeinsam genutzten Knoten, falls vorhanden, die während des zweiten Zustandes stattfindet, das Senden von Daten durch die Vorrichtung wäre.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der Offenbarung kann der zweite Zustand einem niedrigen Signal entsprechen. Das heißt, das Signal kann zwischen hoch und niedrig abwechseln und eine externe Vorrichtung wie z. B. die ATE sendet ein niedriges Signal während der zweiten Stufe. In dieser Weise muss das Senden von Daten durch die DUT so konfiguriert sein, dass es für die ATE lesbar ist, wenn die ATE gleichzeitig ein Signal über denselben Draht sendet.
  • Da sowohl der erste Signalzustand als auch das Senden von Daten auf demselben Draht stattfinden, kann das Senden von Daten innerhalb des ganzen oder weniger als des ganzen zweiten Signalzustandes stattfinden. Das heißt, der eine oder die mehreren Prozessoren können dazu konfiguriert sein, Daten während einer ganzen oder im Wesentlichen einer ganzen Dauer zu senden, die der zweiten Stufe entspricht. Alternativ können der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sein, Daten während einer Periode zu senden, die weniger als der ganzen zweiten Stufe entspricht. In dieser Weise kann die zweite Stufe eine Gelegenheit sein, um Daten während einer Dauer von irgendeiner Länge zu senden, die geringer ist als die Dauer der zweiten Stufe. In dieser Weise kann die Dauer der zweiten Stufe auf der Basis der Vorteile und Kompromisse in Bezug auf die Konfiguration der ersten Stufe und der zweiten Stufe ausgewählt werden. Je länger die zweite Stufe ist, desto mehr Daten können beispielsweise gesendet werden, und desto weniger wahrscheinlich ist es, dass die DU Daten gleichzeitig mit einer ersten Zustandsübertragung sendet. Je länger die zweite Stufe ist, desto weniger Beziehung hat andererseits die zweite Stufe mit der ersten Stufe, was die Synchronisationsfunktion erfüllt. Das heißt, obwohl das Synchronisationssignal einem Takt der ATE entspricht und folglich als Basis dienen kann, um eine Übertragung der Daten von der DUT zur ATE vorübergehend zu synchronisieren, gilt dass, je länger die zweite Stufe ist, desto mehr Gelegenheit für eine Drift oder andere die Synchronisation destabilisierende Faktoren auftritt.
  • 9 stellt ein Verfahren zur Datenübertragung dar, das das Empfangen eines elektrischen Signals von einem Knoten, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt 902; das Bestimmen eines Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals 904; und das Senden von Daten zum Knoten während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers 906 umfasst.
  • Wie hier angegeben, kann die Übertragung von Datenpaketen durch die DUT durch ein gepulstes Synchronisationssignal ausgelöst werden, wie von der ATE übertragen. Diese Synchronisationssignale können mit einem vorbestimmten Intervall, das dem Testtakt der ATE entspricht, und/oder mit einer Rate, die gemäß einer Verarbeitungsgeschwindigkeit und/oder Pufferkapazität der DUT ausgewählt ist, gepulst sein. Die Datenübertragung von der DUT kann so übertragen werden, dass sie dem Synchronisationssignal entspricht. Das Synchronisationssignal kann als Einladung oder Auslöseereignis für die DUT dienen, um ihre Datenpakete in einem Burst-Modus nach den Testzyklen zu senden. Der Datenabtastimpuls kann auf die fallenden Flanken des ATE-Testtakts (ate_clk) ausgerichtet werden, was der Mittelpunkt des Testerzyklus sein kann.
  • Ein digitaler Überprüfungsprüfstand kann als Kombination eines Einzeldrahtschnittstellen-Host-Modells und der DUT, die miteinander verbunden sind, betrieben werden. Das Host-Modell kann einen Einzeldrahtschnittstellentreiber umfassen, der einen Synchronisationsimpuls einleitet, wenn es erwünscht ist, die Übertragung eines Pakets durch die DUT auszulösen. Anstatt dass die DUT ein oder mehrere Datenpakete entsprechend dem Takt der DUT oder anderweitig entsprechend einem Zeitablauf der DUT überträgt, können die fertigen Daten in dieser synchronisierten Konfiguration beim Empfangen des gepulsten Signals gesendet werden. Das Host-Modell kann dazu konfiguriert sein, das Synchronisationssignal zu senden, um die Übertragung von Datenpaketen auszulösen. Das Host-Modell kann dazu konfiguriert sein, das Synchronisationssignal bei der Bestimmung einzuleiten, dass die DUT bereit ist, die Übertragung zu beginnen. Beim Durchführen der Datenübertragung gemäß dem Synchronisationssignal, wie hier beschrieben, bleibt die DUT mit der Einzeldrahtschnittstelle kompatibel und kann folglich bekannte Protokolle für die Datenübertragung verwenden.
  • Die Logik zum Durchführen der Verfahren und Prozeduren, wie hier beschrieben, kann auf Software basieren und/oder auf Hardware basieren. Das heißt, die ATE kann eine oder mehrere Schaltungen umfassen, die dazu konfiguriert sind, das Synchronisationssignal als Aufforderungen zum Empfangen von Datenübertragungen von der DUT zu erzeugen und zu senden. Ebenso kann die DUT eine oder mehrere Schaltungen umfassen, die dazu konfiguriert sind, das Synchronisationssignal zu empfangen und zu detektieren, und Datenpakete in Reaktion auf das detektierte Synchronisationssignal zu senden. Zusätzlich oder alternativ können diese Funktionen durch Verarbeiten von Befehlen ausgeführt werden, die bewirken, dass ein oder mehrere Prozessoren in der ATE und/oder der DUT die hier beschriebenen Verfahren und Prozeduren ausführen.
  • Die Verfahren und Prozeduren, die hier beschrieben sind, können in existierenden Testvorrichtungen mit geringer Modifikation durchgeführt werden. Es wird ausdrücklich erwartet, dass die hier beschriebenen Verfahren und Prozeduren unter Verwendung von existierenden Protokollen für das Vorrichtungstesten durchgeführt werden können, wie beispielsweise eines Einzeldrahtschnittstellenprotokolls, und dadurch die Übertragung des Synchronisationssignals und die Übertragung der entsprechenden Datenpakete zum Testen auf demselben Draht ermöglichen.
  • Die hier beschriebenen Verfahren und Prozeduren können unter Verwendung von zwei Vorrichtungen, einer ATE und einer DUT, mit Takten, die zueinander asynchron sind, durchgeführt werden. Da das Synchronisationssignal gemäß einem Zeitablauf des Takts der ATE erzeugt wird, wird das Synchronisationssignal mit der ATE synchronisiert oder entspricht ansonsten dieser. Beim Empfangen des Synchronisationssignals und Detektieren desselben empfängt die DUT eine regelmäßige Eingabe, die dem ATE-Takt entspricht. Dies ermöglicht, dass die DUT Datenpakete gemäß einer Takteinstellung der ATE überträgt, ohne Notwendigkeit, wiederholte herkömmliche Synchronisationsprozeduren in Anspruch zu nehmen.
  • Das Synchronisationssignal kann mehrere Impulse umfassen. Die Impulse können irgendeine Dauer und/oder irgendeine Frequenz jeglicher Art aufweisen. Im Allgemeinen wird jedoch erwartet, dass die Impulse regelmäßig sind. Das heißt, dass eine Frequenz und eine Dauer des ersten Signalabschnitts im Allgemeinen konstant sind und dass eine Frequenz und eine Dauer des zweiten Signalabschnitts im Allgemeinen konstant sind, außer wenn der Impuls durch die ATE unterbrochen wird, da keine Datenübertragung von der DUT erwünscht ist. Die Dauer und/oder Frequenz können durch die ATE, die DUT oder eine Kombination der beiden bestimmt werden. Gemäß einem Aspekt der Offenbarung können die Dauer und/oder Frequenz des Synchronisationssignals in einem Quittungsaustauschvorgang zwischen der ATE und der DUT ausgehandelt werden. Die Dauer und/oder Frequenz des Synchronisationssignals können auf der Basis von beliebigen Faktoren ausgewählt werden, einschließlich, jedoch nicht begrenzt auf eine Verarbeitungsgeschwindigkeit der ATE, eine Verarbeitungsgeschwindigkeit der DUT, eine Pufferkapazität der ATE, eine Übertragungskapazität der DUT, eine Anzahl von DUT, die mit der ATE verbunden sind, oder anderweitig.
  • Das Synchronisationssignal kann mehrere Impulse umfassen, wobei jeder Impuls einen ersten Signalwert einer ersten Dauer und einen zweiten Signalwert der zweiten Dauer umfasst. Gemäß einem Aspekt der Offenbarung können der erste Signalwert und der zweite Signalwert ein hoher Signalwert bzw. ein niedriger Signalwert sein. Der niedrige Signalwert kann ein Signalwert mit einer Amplitude sein, die geringer als die hohe oder null ist. Der erste Signalwert und der zweite Signalwert können gemäß beliebigen bekannten Verfahren zum Darstellen von hoch und niedrig konfiguriert sein.
  • Das Synchronisationssignal kann von der ATE zur DUT übertragen werden. Die Übertragung kann gemäß einer existierenden Schnittstelle stattfinden. Das Synchronisationssignal kann gemäß einer einzelnen Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle der ATE übertragen werden und kann zu einer einzelnen Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle der DUT übertragen werden. Ebenso kann die Übertragung von Datenpaketen von diesem einzelnen Eingang/Ausgang der DUT zum einzelnen Eingang/Ausgang der ATE übertragen werden. Die ATE und die DUT können für Zwecke der Übertragung des Synchronisationssignals und der Datenpakete durch einen einzelnen Draht verbunden sein. In dieser Weise können sowohl das Synchronisationssignal als auch die Datenpakete entlang desselben Drahts übertragen werden, ob in einer abwechselnden Weise, simultan und/oder gleichzeitig.
  • Die Übertragung eines Strahlsynchronisationssignals und der Datenpakete kann gemäß irgendeinem bekannten oder unbekannten Protokoll durchgeführt werden. Gemäß einem Aspekt der Offenbarung kann die Übertragung des Synchronisationssignals und des einen oder der mehreren Datenpakete gemäß einem Einzeldrahtschnittstellenprotokoll stattfinden.
  • Die DUT kann mit einer oder mehreren Schaltungen und/oder Prozessoren konfiguriert sein, die dazu konfiguriert sind, das Synchronisationssignal zu empfangen und einen Zeitablauf des Synchronisationssignals zu detektieren.
  • Gemäß einem Aspekt der Offenbarung können die hier beschriebenen Prozeduren die Testmusterverarbeitung erleichtern. Wenn die Übertragungsdatenübertragungsprozesse mit dem ATE-Testtakt übermäßig synchronisiert werden, können die Wellenmengen auf nicht höher als eine minimiert werden. Wie hier beschrieben, kann der Testmusterprozess nur zwei Wellenmengen verwenden, eine Welle kann für den Synchronisationsimpuls verwendet werden und die andere Welle kann für die Datentransaktion verwendet werden. Die verringerte Anzahl von Wellen ermöglicht die Verwendung von einfacheren Prozessoren und kostengünstigeren Testoptionen, während eine hohe Parallelität aufrechterhalten wird.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der Offenbarung kann unter Verwendung des Synchronisationsimpulses als Reiz für die Übertragung von Datenpaketen die Kommunikation zwischen der ATE und der DUT mit erhöhter Effizienz durchgeführt werden, da eine oder mehrere Anforderungen für Daten beseitigt werden können, wobei die Anforderung durch ein Synchronisationssignal ersetzt wird. Die DUT kann dazu konfiguriert sein, das Synchronisationssignal zu interpretieren und Daten in Reaktion auf Bursts zu übertragen.
  • Gemäß einem anderen Aspekt der Offenbarung kann die DUT dazu konfiguriert sein, die Anwesenheit des Synchronisationssignals zu detektieren. Es wird erwartet, dass die DU dazu konfiguriert sein kann, gemäß den hier beschriebenen Verfahren, und auch gemäß einem herkömmlichen Testmuster ohne das Synchronisationssignal zu arbeiten. In dieser Weise kann die DUT dazu konfiguriert sein, die Anwesenheit eines Synchronisationssignals zu detektieren, wie hier beschrieben. Wenn das Synchronisationssignal vorhanden ist, kann die DUT dazu konfiguriert sein, mit Datenpaketen in der hier beschriebenen Weise zu reagieren. Wenn das Synchronisationssignal fehlt, kann die DUT dazu konfiguriert sein, Datenpakete gemäß einem anderen bekannten Verfahren zu übertragen.
  • Verglichen mit dem Zweidrahtverfahren des DUT-Testens, bei dem ein abgetastetes Signal auf einem anderen Draht als die Testdaten übertragen wird, kann ein Einzeldraht zusätzliche Signalmanagementschritte erfordern, um sicherzustellen, dass die Daten geeignet empfangen werden können. Bei der Zweidrahtkonfiguration stört der Abtastimpuls im Allgemeinen die Datenübertragung ungeachtet des Zeitpunkts der Datenübertragung nicht, da die Übertragungen auf verschiedenen Drähten isoliert sind. Diese Konfiguration erfordert natürlich mindestens zwei Eingangs/Ausgangs-Schnittstellen und einen robusteren Prozessor, was unerwünscht sein kann. Wenn die zwei Signale auf demselben Draht übertragen werden, kann es jedoch erforderlich sein, die Signale derart zu planen, dass die Datenübertragung und der Abtastimpuls nicht überlappen. Dies wird hier durch Konfigurieren der DUT erreicht, um das empfangene abgetastete Signal für den ersten Zustand und den zweiten Zustand zu bewerten und Daten nur in einer Zeit zu übertragen, die der erwarteten Übertragung des zweiten Zustandes entspricht.
  • Die ATE und/oder die DUT können dazu konfiguriert sein, Testdaten auf Verlangen bereitzustellen. Das heißt, die ATE kann ihre Verarbeitungsressourcen einer anderen Vorrichtung oder Aufgabe widmen müssen und an sich kann die ATE es nicht wünschen, Daten von der DUT zu empfangen. Die ATE kann in dieser Situation einfach das Senden des ersten Zustandes des Signals einstellen. Die DUT ist dazu konfiguriert, Daten in Reaktion auf das Empfangen des ersten Zustandes des Signals zu senden, und daher ist, wenn der erste Zustand des Signals nicht gesendet wird, die DUT dazu konfiguriert, Daten während der Zeit, die dem zweiten Zustand entspricht, nicht zu senden. In dieser Weise erzeugt die ATE ein Datenanforderungsszenario auf Verlangen. Wenn die ATE Daten erneut empfangen will, kann die ATE das Senden des Signals gemäß dem ersten Zustand fortsetzen, und dabei die DUT auffordern, das Senden von Daten fortzusetzen.
  • Die hier beschriebenen Verfahren und Prozeduren können gemäß einem Aspekt der Offenbarung als Abweichung von einem Datenabtastimpulscodiermechanismus verstanden werden. Bei der Datenabtastimpulscodierung ist es bekannt, dass eine Vorrichtung einen Datenstrom über einen ersten Draht und einen Abtastimpuls über einen zweiten Draht überträgt, wobei der Abtastimpuls so konfiguriert ist, dass er mit dem Datenstrom durch EXKLUSIV-ODER kombinierbar ist, um eine Übertragung zu ergeben, die das Taktsignal der Übertragungsvorrichtung darstellt. Unter dieser Konfiguration entspricht das ableitbare Taktsignal dem Taktsignal der Vorrichtung, die auch den Datenstrom überträgt. Gemäß den hier beschriebenen Verfahren und Prinzipien wird jedoch das Taktsignal zur Vorrichtung, die ihren Datenstrom überträgt, von der Vorrichtung übertragen, die dazu konfiguriert ist, den Datenstrom zu empfangen.
  • Die Anerkennung wird Aspekte der Offenbarung werden in den folgenden Beispielen beschrieben.
  • In Beispiel 1 ist eine Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung offenbart, die einen Knoten, um die Vorrichtung mit einer Testvorrichtung zu verbinden; einen oder mehrere Prozessoren, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind: vom Knoten ein elektrisches Signal zu empfangen, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; einen Zeitpunkt der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen; und Daten zum Knoten während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers zu senden, umfasst.
  • In Beispiel 2 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von Beispiel 1 offenbart, wobei der erste Zustand und der zweite Zustand durch eine Änderung einer Signaleigenschaft des elektrischen Signals unterschieden werden.
  • In Beispiel 3 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von Beispiel 2 offenbart, wobei die Signaleigenschaft eine Änderung der Amplitude des Signals, eine Änderung der Frequenz des Signals, eine Änderung der Phase des Signals und/oder irgendeine Kombination davon ist.
  • In Beispiel 4 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von irgendeinem der Beispiele 1 bis 3 offenbart, wobei der erste Zustand eine erste Zustandsdauer aufweist und der zweite Zustand eine zweite Zustandsdauer aufweist, und wobei das Bestimmen des Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit das Bestimmen der ersten Zustandsdauer und/oder der zweiten Zustandsdauer umfasst.
  • In Beispiel 5 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von irgendeinem der Beispiele 1 bis 4 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu konfiguriert sind, einen Zeitpunkt des Datenübertragungsauslösers auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen und keine Daten während des bestimmten Zeitpunkts des Datenübertragungsauslösers zu senden.
  • In Beispiel 6 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von Beispiel 5 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu konfiguriert sind, das Senden von Daten, das im Wesentlichen mit einem Beginn des Übertragungsauslösers zusammenfällt, gemäß dem bestimmten Zeitpunkt zu stoppen.
  • In Beispiel 7 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestdatenumgebung von irgendeinem der Beispiele 1 bis 6 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu konfiguriert sind, einen Kandidatenzeitpunkt für den ersten Zustand und den zweiten Zustand zu bestimmen und den Kandidatenzeitpunkt zum Knoten zu senden.
  • In Beispiel 8 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von Beispiel 7 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren den Kandidatenzeitpunkt gemäß einer Prozessorgeschwindigkeit der Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung und/oder einer Pufferkapazität der Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung bestimmen.
  • In Beispiel 9 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von irgendeinem von Beispiel 1 bis 8 offenbart, wobei der Knoten eine Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle ist, die so konfiguriert ist, dass sie mit einer externen Vorrichtung verbunden ist.
  • In Beispiel 10 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von Beispiel 9 offenbart, wobei die Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle so konfiguriert ist, dass sie mit der externen Vorrichtung über einen einzelnen Draht verbunden ist.
  • In Beispiel 11 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von irgendeinem der Beispiele 1 bis 10 offenbart, wobei das elektrische Signal und die Daten auf demselben Draht übertragen werden.
  • In Beispiel 12 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von Beispiel 11 offenbart, wobei die Daten gemäß einem Einzeldrahtschnittstellenprotokoll gesendet werden.
  • In Beispiel 13 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von irgendeinem der Beispiele 1 bis 12 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind, Daten zu senden, was nur im Wesentlichen mit einem nacheilenden Ende des ersten Zustandes zusammenfällt.
  • In Beispiel 14 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von irgendeinem der Beispiele 1 bis 13 offenbart, wobei die Datenübertragungsvorrichtung eine getestete Vorrichtung ist.
  • In Beispiel 15 ist die Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung von irgendeinem der Beispiele 1 bis 14 offenbart, wobei der Knoten mit einer automatischen Testausrüstung verbunden ist.
  • In Beispiel 16 ist ein Verfahren zum Testen von Vorrichtungen offenbart, das das Empfangen eines elektrischen Signals von einem Knoten, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; das Bestimmen eines Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals; und das Senden von Daten zum Knoten während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers umfasst.
  • In Beispiel 17 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von Beispiel 16 offenbart, wobei der erste Zustand und der zweite Zustand durch eine Änderung einer Signaleigenschaft des elektrischen Signals unterschieden werden.
  • In Beispiel 18 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von Beispiel 17 offenbart, wobei die Signaleigenschaft eine Änderung der Amplitude des Signals, eine Änderung der Frequenz des Signals, eine Änderung der Phase des Signals und/oder irgendeine Kombination davon ist.
  • In Beispiel 19 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von irgendeinem der Beispiele 16 bis 18 offenbart, wobei der erste Zustand eine erste Zustandsdauer aufweist und der zweite Zustand eine zweite Zustandsdauer aufweist, und wobei das Bestimmen des Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit das Bestimmen der ersten Zustandsdauer und/oder der zweiten Zustandsdauer umfasst.
  • In Beispiel 20 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von irgendeinem der Beispiele 16 bis 19 offenbart, das ferner das Bestimmen eines Zeitpunkts des Datenübertragungsauslösers auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals und das Senden keiner Daten während des bestimmten Zeitpunkts des Datenübertragungsauslösers umfasst.
  • In Beispiel 21 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von Beispiel 20 offenbart, das ferner das Stoppen des Sendens von Daten, das mit einem Beginn des Übertragungsauslösers im Wesentlichen zusammenfällt, gemäß dem bestimmten Zeitpunkt umfasst.
  • In Beispiel 22 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von irgendeinem der Beispiele 16 bis 21 offenbart, das ferner das Bestimmen eines Kandidatenzeitpunkts für den ersten Zustand und den zweiten Zustand und das Senden des Kandidatenzeitpunkts zum Knoten umfasst.
  • In Beispiel 23 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von Beispiel 22 offenbart, das ferner das Bestimmen des Kandidatenzeitpunkts gemäß einer Prozessorgeschwindigkeit und/oder einer Pufferkapazität umfasst.
  • In Beispiel 24 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von irgendeinem der Beispiele 16 bis 23 offenbart, wobei der Knoten eine Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle ist, die so konfiguriert ist, dass sie mit einer externen Vorrichtung verbunden ist.
  • In Beispiel 25 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von Beispiel 24 offenbart, wobei die Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle so konfiguriert ist, dass sie mit der externen Vorrichtung über einen einzelnen Draht verbunden ist.
  • In Beispiel 26 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von irgendeinem der Beispiele 16 bis 26 offenbart, wobei das elektrische Signal und die Daten auf demselben Draht übertragen werden.
  • In Beispiel 27 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von Beispiel 26 offenbart, wobei die Daten gemäß einem Einzeldrahtschnittstellenprotokoll gesendet werden.
  • In Beispiel 28 ist das Verfahren zum Testen von Vorrichtungen von irgendeinem der Beispiele 16 bis 27 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind, Daten zu senden, was nur im Wesentlichen mit einem nacheilenden Ende des ersten Zustandes zusammenfällt.
  • In Beispiel 29 sind ein oder mehrere nichttransiente computerlesbare Medien offenbart, die Befehle umfassen, um zu bewirken, dass ein oder mehrere Prozessoren das Verfahren von irgendeinem der Beispiele 16 bis 29 durchführen.
  • In Beispiel 30 ist ein System zur Verwendung in einer Datentestumgebung offenbart, das Folgendes umfasst: eine Testvorrichtung, die Folgendes umfasst: einen oder mehrere Prozessoren, die dazu konfiguriert sind, ein elektrisches Signal zu senden, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt; wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; eine zu testende Vorrichtung, die Folgendes umfasst: einen Knoten, um die zu testende Vorrichtung mit der Testvorrichtung zu verbinden; einen oder mehrere Prozessoren, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind: von dem Knoten das elektrische Signal zu empfangen; einen Zeitpunkt der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen; und Daten zur Testvorrichtung während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers zu senden.
  • In Beispiel 31 ist das System von Beispiel 30 offenbart, wobei der erste Zustand und der zweite Zustand durch eine Änderung einer Signaleigenschaft des elektrischen Signals unterschieden werden.
  • In Beispiel 32 ist das System von Beispiel 31 offenbart, wobei die Signaleigenschaft eine Änderung der Amplitude des Signals, eine Änderung der Frequenz des Signals, eine Änderung der Phase des Signals und/oder irgendeine Kombination davon ist.
  • In Beispiel 33 ist das System von irgendeinem der Beispiele 30 bis 32 offenbart, wobei der erste Zustand eine erste Zustandsdauer aufweist und der zweite Zustand eine zweite Zustandsdauer aufweist, und wobei das Bestimmen des Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit das Bestimmen der ersten Zustandsdauer und/oder der zweiten Zustandsdauer umfasst.
  • In Beispiel 34 ist das System von irgendeinem der Beispiele 30 bis 33 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren der zu testenden Vorrichtung ferner dazu konfiguriert sind, einen Zeitpunkt des Datenübertragungsauslösers auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen und keine Daten während des bestimmten Zeitpunkts des Datenübertragungsauslösers zu senden.
  • In Beispiel 35 ist das System von Beispiel 34 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren der zu testenden Vorrichtung ferner dazu konfiguriert sind, das Senden von Daten, das im Wesentlichen mit einem Beginn des Übertragungsauslösers zusammenfällt, gemäß dem bestimmten Zeitpunkt zu stoppen.
  • In Beispiel 36 ist das System von irgendeinem der Beispiele 30 bis 35 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren der zu testenden Vorrichtung ferner dazu konfiguriert sind, einen Kandidatenzeitpunkt für den ersten Zustand und den zweiten Zustand zu bestimmen und den Kandidatenzeitpunkt zum Knoten zu senden.
  • In Beispiel 37 ist das System von Beispiel 36 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren der zu testenden Vorrichtung dazu konfiguriert sind, den Kandidatenzeitpunkt gemäß einer Prozessorgeschwindigkeit der zu testenden Vorrichtung und/oder einer Pufferkapazität der zu testenden Vorrichtung zu bestimmen.
  • In Beispiel 38 ist das System von irgendeinem der Beispiele 30 bis 37 offenbart, wobei das elektrische Signal und die Daten auf demselben Draht übertragen werden.
  • In Beispiel 39 ist das System von Beispiel 38 offenbart, wobei die Daten gemäß einem Einzeldrahtschnittstellenprotokoll gesendet werden.
  • In Beispiel 40 ist das System von irgendeinem der Beispiele 30 bis 39 offenbart, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind, Daten zu senden, was nur im Wesentlichen mit einem nacheilenden Ende des ersten Zustandes zusammenfällt.
  • In Beispiel 41 ist das System von irgendeinem der Beispiele 30 bis 40 offenbart, wobei die Datenübertragungsvorrichtung eine getestete Vorrichtung ist.
  • In Beispiel 42 ist eine Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung offenbart, die Folgendes umfasst: einen Knoten, um die Vorrichtung mit einer Testvorrichtung zu verbinden; einen oder mehrere Prozessoren, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind: von dem Knoten ein elektrisches Signal zu empfangen, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; einen Zeitpunkt des ersten Zustandes und/oder des zweiten Zustandes auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen; und Daten zum Knoten während eines Zeitpunkts, der dem zweiten Zustand entspricht, in Reaktion auf das Empfangen des Signals gemäß dem ersten Zustand zu senden.
  • In Beispiel 43 ist eine Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung offenbart, die Folgendes umfasst: einen Knoten; einen oder mehrere Prozessoren, die dazu konfiguriert sind, gemäß einem Abhörmodus oder einem Übertragungsmodus zu arbeiten; wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu konfiguriert sind: von dem Knoten einen Übertragungsauslöser einer ersten Dauer gemäß dem Abhörmodus zu empfangen, wobei der Übertragungsauslöser eine Aufforderung darstellt, Daten in einer anschließenden Übertragungsperiode zu senden; Daten zum Knoten während der Übertragungsperiode in Reaktion auf das Empfangen des ersten Signalabschnitts zu senden.
  • Obwohl die Offenbarung mit Bezug auf spezielle Aspekte speziell gezeigt und beschrieben wurde, sollte vom Fachmann auf dem Gebiet verstanden werden, dass verschiedene Änderungen in der Form und im Detail darin durchgeführt werden können, ohne vom Gedanken und Schutzbereich der Offenbarung, wie durch die beigefügten Ansprüche definiert, abzuweichen. Der Schutzbereich der Offenbarung ist somit durch die beigefügten Ansprüche angegeben und alle Änderungen, die in die Bedeutung und den Äquivalenzumfang der Ansprüche fallen, sollen daher enthalten sein.

Claims (20)

  1. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung, die Folgendes umfasst: einen Knoten, um die Vorrichtung mit einer Testvorrichtung zu verbinden; einen oder mehrere Prozessoren, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind: von dem Knoten ein elektrisches Signal zu empfangen, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; einen Zeitpunkt der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen; und Daten zum Knoten während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers zu senden.
  2. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach Anspruch 1, wobei der erste Zustand und der zweite Zustand durch eine Änderung einer Signaleigenschaft des elektrischen Signals unterschieden werden.
  3. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach Anspruch 2, wobei die Signaleigenschaft eine Änderung der Amplitude des Signals, eine Änderung der Frequenz des Signals, eine Änderung der Phase des Signals und/oder irgendeine Kombination davon ist.
  4. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei der erste Zustand eine erste Zustandsdauer aufweist und der zweite Zustand eine zweite Zustandsdauer aufweist, und wobei das Bestimmen des Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit das Bestimmen der ersten Zustandsdauer und/oder der zweiten Zustandsdauer umfasst.
  5. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu konfiguriert sind, einen Zeitpunkt des Datenübertragungsauslösers auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen und keine Daten während des bestimmten Zeitpunkts des Datenübertragungsauslösers zu senden.
  6. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren ferner dazu konfiguriert sind, einen Kandidatenzeitpunkt für den ersten Zustand und den zweiten Zustand zu bestimmen, und den Kandidatenzeitpunkt zum Knoten zu senden, und wobei der Kandidatenzeitpunkt gemäß einer Prozessorgeschwindigkeit der Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung und/oder einer Pufferkapazität der Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung bestimmt wird.
  7. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei der Knoten eine Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle ist, die so konfiguriert ist, dass sie mit einer externen Vorrichtung verbunden ist.
  8. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei das elektrische Signal und die Daten auf demselben Draht übertragen werden.
  9. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind, Daten zu senden, was nur im Wesentlichen mit einem nacheilenden Ende des ersten Zustandes zusammenfällt.
  10. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, wobei die Datenübertragungsvorrichtung eine getestete Vorrichtung ist.
  11. Vorrichtung zur Verwendung in einer Datentestumgebung nach einem der Ansprüche 1 bis 10, wobei der Knoten mit einer automatischen Testausrüstung verbunden ist.
  12. Verfahren zum Testen von Vorrichtungen, das Folgendes umfasst: Empfangen eines elektrischen Signals von einem Knoten, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt, wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; Bestimmen eines Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals; und Senden von Daten zum Knoten während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers.
  13. Verfahren zum Testen von Vorrichtungen nach Anspruch 12, wobei der erste Zustand und der zweite Zustand durch eine Änderung einer Signaleigenschaft des elektrischen Signals unterschieden werden.
  14. Verfahren zum Testen von Vorrichtungen nach Anspruch 13, wobei die Signaleigenschaft eine Änderung der Amplitude des Signals, eine Änderung der Frequenz des Signals, eine Änderung der Phase des Signals und/oder irgendeine Kombination davon ist.
  15. Verfahren zum Testen von Vorrichtungen nach einem der Ansprüche 12 bis 14, wobei der erste Zustand eine erste Zustandsdauer aufweist und der zweite Zustand eine zweite Zustandsdauer aufweist, und wobei das Bestimmen des Zeitpunkts der Datenübertragungsgelegenheit das Bestimmen der ersten Zustandsdauer und/oder der zweiten Zustandsdauer umfasst.
  16. Verfahren zum Testen von Vorrichtungen nach einem der Ansprüche 12 bis 15, das ferner das Bestimmen eines Zeitpunkts des Datenübertragungsauslösers auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals und das Senden keiner Daten während des bestimmten Zeitpunkts des Datenübertragungsauslösers umfasst.
  17. Verfahren zum Testen von Vorrichtungen nach einem der Ansprüche 12 bis 16, das ferner das Bestimmen eines Kandidatenzeitpunkts für den ersten Zustand und den zweiten Zustand und das Senden des Kandidatenzeitpunkts zum Knoten umfasst, wobei der Kandidatenzeitpunkt gemäß einer Prozessorgeschwindigkeit und/oder einer Pufferkapazität der Vorrichtung bestimmt wird.
  18. Verfahren zum Testen von Vorrichtungen nach einem der Ansprüche 12 bis 17, wobei der Knoten eine Eingangs/Ausgangs-Schnittstelle ist, die so konfiguriert ist, dass sie mit einer externen Vorrichtung verbunden ist.
  19. Ein oder mehrere nichttransiente computerlesbare Medien mit Befehlen, um zu bewirken, dass ein oder mehrere Prozessoren das Verfahren nach einem der Ansprüche 12 bis 18 durchführen.
  20. System zur Verwendung in einer Datentestumgebung, das Folgendes umfasst: eine Testvorrichtung, die Folgendes umfasst: einen oder mehrere Prozessoren, die dazu konfiguriert sind, ein elektrisches Signal zu senden, wobei das elektrische Signal zwischen mindestens einem ersten Zustand und einem zweiten Zustand abwechselt; wobei der erste Zustand einen Datenübertragungsauslöser darstellt und der zweite Zustand eine Datenübertragungsgelegenheit darstellt; eine zu testende Vorrichtung, die Folgendes umfasst: einen Knoten, um die zu testende Vorrichtung mit der Testvorrichtung zu verbinden; einen oder mehrere Prozessoren, wobei der eine oder die mehreren Prozessoren dazu konfiguriert sind: das elektrische Signal von dem Knoten zu empfangen; einen Zeitpunkt der Datenübertragungsgelegenheit auf der Basis des empfangenen elektrischen Signals zu bestimmen; und Daten zur Testvorrichtung während der Datenübertragungsgelegenheit in Reaktion auf das Empfangen des Datenübertragungsauslösers zu senden.
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