DE102017206574B4

DE102017206574B4 - Verschlechterungsdiagnosevorrichtung

Info

Publication number: DE102017206574B4
Application number: DE102017206574.5A
Authority: DE
Inventors: Masanori Kurimoto; Yuki Iwagami; Yoshitake NISHIUMA; Takayuki YANAI
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 2016-06-08
Filing date: 2017-04-19
Publication date: 2023-01-05
Anticipated expiration: 2037-04-20
Also published as: CN107479527B; US10416220B2; US20170356947A1; CN107479527A; DE102017206574A1; JP2017218975A

Abstract

Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100), umfassend:
- eine Mikrocontrollereinheit (11), die einen nichtflüchtigen Speicher (57) einschließt; und
- einen anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreis (14) einschließlich einer Referenzerzeugungsvorrichtung (51), wobei
(i) der nicht-flüchtige Speicher (57) konfiguriert ist, eine Ausgabeinformation zu speichern bezüglich einer Referenz von der Referenzerzeugungsvorrichtung (51) in einem Zustand, worin es keine Verschlechterung eines Zielelektronikteils (54) gibt, und eine Ausgabeinformation zu speichern bezüglich der Referenz von der Referenzerzeugungsvorrichtung (51) in einem Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) bei einem vorbestimmten Verwendungspunkt,
(ii) die Microcontrollereinheit (11) konfiguriert ist, ein Ausgabesignal des Zielelektronikteils (54) bezüglich der Referenz zu empfangen, und
(iii) die Microcontrollereinheit (11) konfiguriert ist, eine Diagnoseevaluierung eines Verschlechterungszustands des Zielelektronikteils (54) auf Grundlage der Ausgabeinformation in dem Zustand, wo es keine Verschlechterung gibt, und der Ausgabeinformation in dem Verschlechterungszustand auszuführen.

Description

HINTERGRUND DER ERFINDUNG
Gebiet der Erfindung
Die vorliegende Erfindung betrifft eine Verschlechterungsdiagnosevorrichtung, die einen Zustand einer Verschlechterung von Elektronikteilcharakteristika aufgrund einer zeitlichen Änderung oder dergleichen diagnostiziert.
Beschreibung der verwandten Technik
Elektronikteile werden in Produkten in einer Vielfalt von Gebieten verwendet. Elektronikteile für eine Industrieanlagenausrüstung, einen in einem Automobil montierten Antriebsstrang und dergleichen müssen zum Betrieb über eine lange Dauer während eines Beibehaltens der Zuverlässigkeit fähig sein. Jedoch sind elektrische und elektronische Instrumente derart ausgebildet, dass eine Verschlechterung aufgrund vielfältiger Beanspruchungsarten voranschreitet, so wie eine Umweltbeanspruchung, eine elektrische Beanspruchung und eine mechanische Beanspruchung. Aufgrund dessen müssen eine vorbeugende Wartung und eine Wartungsverwaltung zu einer zweckgemäßen Zeit ausgeführt werden.
Bezüglich elektrischen und elektronischen Instrumenten, die auch in einem Automobil montiert sind, ist Konformität mit funktionalen Sicherheitsstandards wichtig, und es gibt strikte Anforderungen hinsichtlich Charakteristika und einer Genauigkeit eines montierten Elektronikteils und einer Konformität mit Störungskriterien für eine Antriebsstrang-Elektroniksteuereinheit (ECU).
In einer Mikro-Steuereinheit (MCU) oder einem teuren Allzweck-IC werden teure Materialien mit einer geringen individuellen Differenz oder zeitlichen Verschlechterung verwendet, und es gibt Materialien, wo ein Betriebszustand korrigiert wird in Übereinstimmung mit einer zeitlichen Änderung durch das Material, das einen nicht-flüchtigen Speicher, so wie ein EEPROM, in einem Chip des Materials selbst hat, um Charakteristika zu korrigieren.
Beispielsweise werden in dem Gebiet der Motorsteuerung eine Korrelation zwischen einem Ausmaß einer Aktuatorsteuerung und einem Verbrennungsparameter und eine Korrelation zwischen einem Verbrennungsparameter und einem Motorabgabewert durch eine Determinante oder ein Modell realisiert, wodurch eine für eine Sollmotorabgabe zweckgemäße Aktuatorarbeitslast hergeleitet werden kann. Aufgrund dessen wird auf eine Korrelationsänderung reagiert mittels Bereitstellung einer Funktion, die ein Lernen einer Aktuatorsteuerungsausmaßberechnung bezüglich eines Verbrennungsparameters veranlasst, mit einer hohen Abhängigkeit von einer Umgebungsbedingungsänderung und einer zeitlichen Verschlechterung (Patentliteratur 1). Die in Patentliteratur 1 offenbarte Technologie ist derart, dass ein Verbrennungsparameter mehrfach bezüglich desselben Steuerungsausmaßes erfasst wird, und die Lernfunktion realisiert wird mittels Nutzung eines Mittelwertes zu einer normalen Zeit und einer Gewichtung, wenn eine Übergangszeit verwendet wird.
Außerdem wird in Patentliteratur 2 ein Funke, der eine Zündung eines Luft-Kraftstoff-Gemisches verursacht, identifiziert aus einem oder mehreren von kontinuierlichen Zündfunken, die in einem mit dem Gemisch befüllten Zylinder freigesetzt werden, ein Zeitintervall, für das eine vorbestimmte Mechanische-Leistung-Versorgung durch einen Verbrennungsmotor garantiert wird, wird aus der Funkenfreisetzung bewertet, und ein Punkt, bei dem ein Kraftstoffinjektorventil geöffnet wird, wird so geändert, dass eine anschließende Zündung bei einem vorbestimmten Punkt ausgeführt wird, wobei aufgrund dessen ein optimaler Zündfunke einmal ausgelassen wird.
Patentliteratur 3 ist außerdem derart, dass, wenn eine Menge eines Kraftstoffs, die in einem Injektorzyklus eingespritzt worden ist (Gesamtkraftstoffeinspritzungsmenge), eine Einspritzungsmenge-Schaltschwelle überschreitet, eine EGR-Einrichtung gesteuert wird auf Grundlage der Sauerstoffkonzentration in einem Abgas, die durch einen Abgassauerstoffkonzentrationssensor erfasst worden ist, und wenn die eingespritzte Kraftstoffmenge gleich oder kleiner als die Einspritzungsmenge-Schaltschwelle ist, wird die EGR-Einrichtung gesteuert auf Grundlage einer durch einen Frischluftmengensensor erfassten Frischluftmenge. Beim Erlernen einer Einspritzungsmenge wird außerdem eine Differenz zwischen einer befohlenen Kraftstoffeinspritzungsmenge und einer tatsächlich eingespritzten Kraftstoffmenge als ein Lernwert berechnet, und eine durch eine zeitliche Verschlechterung eines Injektors oder dergleichen verursachte Einspritzungsmengenvariation wird durch eine jeweilige Einspritzungsmenge-Schaltschwelle eines Einspritzungsmenge-Schaltschwelle-Kennfeldes bekämpft, welches in Übereinstimmung mit dem Lernwert korrigiert wird.
Darüber hinaus offenbart Patentliteratur 4 ein Motorleistungsfähigkeit-Diagnosesystem mit einem Sensor, der ein physikalisches Ausmaß bezüglich einer Motorleistungsfähigkeit misst, einer Steuereinrichtung, die automatisch Motorlastbedingungen und eine Motordrehzahl auf Konstanten in einem Diagnosemodus setzt und automatisch das physikalische Ausmaß bezüglich der durch den Sensor gemessenen Motorleistungsfähigkeit speichert, und einem Monitor, auf dem eine zeitliche Änderung des physikalischen Ausmaßes bezüglich der in der Steuereinrichtung gespeicherten Motorleistungsfähigkeit angezeigt wird, wobei die Motorleistungsfähigkeit sich in Übereinstimmung mit den Motorlastbedingungen und der Motordrehzahl unterscheidet, aber eine hochpräzise Motorleistungsfähigkeitdiagnose einfach durch die Steuereinrichtung ausgeführt werden kann, die automatisch diese Testbedingungen jedes Mal auf Konstanten setzt. Darüber hinaus offenbart Patentliteratur 4, dass, selbst wenn es eine Variation in Messdaten aufgrund eines Motors oder einer Maschine gibt, eine zeitliche Änderung der Motorleistungsfähigkeit präzise ermittelt werden kann, und der Bedarf oder anderenfalls für eine Überholung präzise bestimmt werden kann, durch Speichern und Akkumulieren von Messdaten des physikalischen Ausmaßes bezüglich der durch den Sensor gemessenen Motorleistungsfähigkeit von der Zeit, seit das Fahrzeug neu ist, mit einem Motor desselben Chassis. Durch eine zeitliche Änderung der Messdaten des physikalischen Ausmaßes bezüglich der Motorleistungsfähigkeit, welche(s) auf dem Monitor angezeigt wird, kann außerdem eine Motorleistungsfähigkeitdiagnose ausgeführt werden, wo die Daten gemessen werden.
Aus JP 2006- 275 929 A ist eine Komponentenverschlechterungsgrad-Evaluierungsvorrichtung bekannt, worin die Komponenten in einem nichtflüchtigen Speicher eine Selbstverschlechterungs-Evaluierungsinformation speichern. Eine elektronische Motorsteuerung bestimmt den Verschlechterungsgrad der jeweiligen Komponente auf der Grundlage der Verschlechterungs-Evaluierungsinformation. Wenn der Verschlechterungsgrad einen Referenzwert erreicht, wird die Verschlechterungsinformation angezeigt.
Aus US 2009 / 0 027 313 A1 ist eine Bildgebungsvorrichtung bekannt, die eine Vielzahl von Pixeln in Form von selbstleuchtenden Lichtelementen aufweist, die an Kreuzungen von Anzeigeabtastleitungen und Signalleitungen angeordnet sind. Erfassungsleitungen dienen dazu, Pixel auszuwählen, um eine Bildverschlechterung zu erfassen. Verschlechterungskorrektureinrichtungen dienen dazu, das Erfassungsergebnis der Verschlechterung in Bilddaten widerzuspiegeln, die an die jeweiligen Pixel gegeben werden.
Aus US 2015 / 0 134 192 A1 ist eine Diagnosevorrichtung bekannt, um den Verschlechterungsgrad eines Fahrzeugs in Bezug auf zu diagnostizierende Gegenstände einzuschätzen. Dazu werden mehrere Schwellwerte, die für zu diagnostizierende, identische Gegenstände gemäß dem Alterungsgrad des zu diagnostizierenden Fahrzeugs in Bezug auf den Verschlechterungsgrad des zu diagnostizierenden Fahrzeugs gesetzt wurden, und ein Sensorerfassungswert, der von dem zu diagnostizierenden Fahrzeug erhalten wird, miteinander verglichen.

Patentliteratur 1: JP 2011- 094 588 A
Patentliteratur 2: JP 2004- 521 222 A
Patentliteratur 3: JP 2007- 192 136 A
Patentliteratur 4: JP 2003- 065 098 A

Eine allgemeine ECU enthält eine MCU, einen Mehrzweck-IC und individuelle Elektronikteile und integriert einen anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreis (ASIC). Es ist häufig der Fall mit Komponenten auf einer ECU, dass es dort nicht nur individuelle Unterschiede zwischen identischen Teilen gibt, sondern dass auch die Geschwindigkeit einer zeitlichen Verschlechterung sich zwischen Teilen unterscheidet, und bei dem Versuch eines Arrangierens, dass alle Teile, einschließlich Korrektureinrichtungen, Hochpräzisionsteile mit geringer Verschlechterung sind, steigen die Kosten an, und es kann kein Profit gemacht werden. In Abhängigkeit von der Region und dem Ausmaß der Verschlechterung kann die Verschlechterung jedoch eine wesentliche Funktion der ECU beeinträchtigen, und es kann einen beachtlichen Verlust einer Zuverlässigkeit geben.
ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
Die vorliegende Erfindung hat eine Aufgabe, eine Verschlechterungsdiagnosevorrichtung bereitzustellen, so dass ein Zustand einer Verschlechterung aufgrund einer zeitlichen Änderung oder dergleichen zweckgemäß diagnostiziert werden kann, selbst wenn Teile, so dass es individuelle Unterschiede zwischen identischen Teilen oder Unterschiede in einer Verschlechterungsgeschwindigkeit zwischen Teilen gibt, oder ein Teil, das nicht einen nichtflüchtigen Speicher, so wie ein EEPROM, in einem Chip des Teils selbst hat, gemischt sind.
Diese Aufgabe wird gelöst wie in den Patentansprüchen 1 und 2 jeweils angegeben ist. Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
Eine Verschlechterungsdiagnosevorrichtung der Erfindung hat eine Ausgabeinformation bezüglich einer Referenz in einem Zustand, wo es keine Verschlechterung eines individuellen Elektronikteils gibt, welcher ein Ziel ist, und eine Ausgabeinformation in einem Zustand einer Verschlechterung bezüglich der Referenz bei einem vorbestimmten Verwendungspunkt, empfängt ein Ausgabesignal des individuellen Elektronikteils bezüglich der Referenz und führt eine Diagnoseevaluierung eines Verschlechterungszustands des individuellen Elektronikteils von der Ausgabeinformation in dem Zustand, wo es keine Verschlechterung gibt, und der Ausgabeinformation in dem Verschlechterungszustand aus.
Die Erfindung ist derart, dass durch Enthalten einer Funktion, die eine Diagnose eines Verschlechterungszustands eines individuellen Elektronikteils mit einer geringen Genauigkeit oder einer beträchtlichen Verschlechterung ausführt, das individuelle Elektronikteil mit einer geringen Präzision oder beträchtlichen Verschlechterung verwendet werden kann, und die Ausgabe des individuellen Elektronikteils auf Grundlage der Diagnose des Verschlechterungszustands korrigiert werden kann.
Die vorhergehenden und andere Aufgaben, Merkmale, Aspekte und Vorteile der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden detaillierten Beschreibung der Erfindung in Zusammenhang mit den begleitenden Zeichnungen besser ersichtlich werden.
Figurenliste

1 ist ein Ausgestaltungsdiagramm, das einen Umriss einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt.
2 ist eine schematische Ansicht, die eine Realisierungsprozedur der Erfindung zeigt.
3 ist ein Flussdiagramm, das Schritte eines Entwicklungsprozesses der Erfindung zeigt.
4 ist ein Flussdiagramm, das eine Ist-Evaluierung und eine Korrekturprozedur der Erfindung zeigt.
5 ist ein Ausgestaltungsdiagramm der ersten Ausführungsform der Erfindung.
6 ist ein Ausgestaltungsdiagramm, das ein Stromerfassungsvorrichtung-Beispiel zeigt.
7A ist ein Diagramm, das eine Bedingungsreferenztabelle zeigt.
7B ist ein Diagramm, das eine Bedingungsreferenztabelle zeigt.
7C ist ein Diagramm, das eine Bedingungsreferenztabelle zeigt.
8 ist ein Diagramm, das eine Verschlechterungscharakteristiktabelle zeigt
9 ist ein Beziehungsdiagramm, das einen Idealwert einer Referenz unter einer Charakteristikbedingung und ein Ausmaß einer Abwertung bzw. Minderung davon zeigt.
10 ist ein Diagramm, das ein Beispiel eines Korrekturalgorithmus zeigt.
11 ist ein Diagramm, das ein Beispiel eines Korrigierens eines Ist-Messwertes zeigt.
12A ist ein Diagramm, das eine Interpolationsparametertabelle zeigt.
12B ist ein Diagramm, das eine Interpolationsparametertabelle zeigt.
13 ist ein Beziehungsdiagramm, das ein Korrekturkonzept für einen Ist-Messwert und einer Charakteristikbedingung zeigt.
14 ist ein Flussdiagramm, das eine zweite Ausführungsform der Erfindung zeigt.
15 ist ein Ausgestaltungsdiagramm einer dritten Ausführungsform der Erfindung.
16 ist ein Ausgestaltungsdiagramm einer vierten Ausführungsform der Erfindung.

DETAILLIERTE BESCHREIBUNG DER BEVORZUGTEN AUSFÜHRUNGSFORMEN
Erste Ausführungsform
Als eine erste Ausführungsform der Erfindung wird hier im Nachfolgenden eine Beschreibung eines Falls gegeben werden, wo die Erfindung auf eine allgemeine ECU angewendet wird. Wie in 1 gezeigt, ist eine allgemeine ECU 100 aus einer MCU 11, einem Mehrzweck-IC 12, einem ersten individuellen Elektronikteil 13A und einem zweiten individuellen Elektronikteil 13B ausgestaltet, und ein anwendungsspezifischer integrierter Schaltkreis (ASIC) 14 integriert das zweite individuelle Elektronikteil 13B. Hierbei ist das erste individuelle Elektronikteil 13A ein Elektronikteil mit einer hohen Genauigkeit oder einer geringen zeitlichen Verschlechterung und mit einer Korrekturfunktion, und das zweite individuelle Elektronikteil 13B ist ein Elektronikteil mit einer geringen Genauigkeit oder einer beträchtlichen zeitlichen Verschlechterung und ohne Korrekturfunktion. In den Zeichnungen geben dieselben Bezugszeichen identische oder entsprechende Teilstücke an.
Es ist häufig der Fall mit den die ECU 100 ausgestaltenden Teilen, dass es nicht nur individuelle Unterschiede zwischen identischen Teilen gibt, sondern dass auch die Geschwindigkeit einer zeitlichen Verschlechterung zwischen Teilen sich unterscheidet, und beim Versuch eines Arrangierens, dass alle Teile, einschließlich Korrektureinrichtungen, Hochgenauigkeitsteile mit geringer Verschlechterung sind, steigen die Kosten an, und es kann kein Profit gemacht werden. Mit Verwendung eines anderen Elektronikteils wird deshalb eine Verschlechterungsdiagnose auf dem zweiten individuellen Elektronikteil 13B ausgeführt, das von einer geringen Genauigkeit oder einer beträchtlichen zeitlichen Verschlechterung ist und keine Korrekturfunktion hat, und eine Zuverlässigkeit der ECU 100 wird erhöht durch Ausstellen einer Warnung, Korrigieren von Parametern für eine Evaluierung, oder Addieren einer Korrektur zu einem Ausgabewert des zweiten individuellen Elektronikteils 13B wie erforderlich.
Das heißt, dass das zweite individuelle Elektronikteil 13B in einer schwachen Position ist, und die Korrektur des schwachen zweiten individuellen Elektronikteils 13B, erforderlich für eine Steuerung, unter dem Schutz des ASIC 14 ausgeführt wird (ein Schützen eines Elektronikteils in einer schwachen Position und ein Ausführen einer Korrektur auf diese Weise werden hier im Nachfolgenden als eine „Schutzkorrektur“ eingestuft werden. In der folgenden Beschreibung verweist folglich ein „Schutzkorrekturziel“ auf das oben beschriebene zweite individuelle Elektronikteil 13B, und eine Aktion durch den ASIC 14 ist eine „Schutzkorrektur“).
Ein Mechanismus (Korrekturmethodik 21) zum Evaluierungen und Korrigieren einer Verschlechterung in der Genauigkeit oder Leistungsfähigkeit des zweiten individuellen Elektronikteils 13B ist derart, dass, wie in 2 gezeigt, eine Schutzkorrektur der Verschlechterung des verschlechterten Teils ausgeführt wird mit Verwendung eines Elektronikteils (hier entsprechend zu dem ASIC 14) mit einer Verschlechterungsevaluierungseinrichtung 22, aufgenommen in einem Entwicklungsprozess aufgenommen, bevor ein Produkt versendet wird, und einen Verschlechterungszustand mit Verwendung der Verschlechterungsbestimmungseinrichtung, die aufgenommen worden ist in dem Entwicklungsprozess, evaluiert, wenn das Produkt nach der Versendung verwendet wird, und Korrektureinrichtung 23, die eine Schutzkorrektur des verschlechterten Teils (hier entsprechend zu dem zweiten individuellen Elektronikteil 13B) in Übereinstimmung mit einem Ergebnis der Evaluierung ausführt.
Die Aufnahme in den Entwicklungsprozess wird in Übereinstimmung mit einem in 3 gezeigten Fluss implementiert.
Schritt 3-1: In einem Experimentplanschritt werden Referenzen mit bereits bekannten Messwerten und einer Quantität davon, externe Faktoren, von denen gedacht wird, dass sie sich auf Messergebnisse und Obergrenz- und Untergrenzwerte davon auswirken, eine Parameterquantität und Schritte für ein Schutzkorrekturziel (beispielsweise das zweite individuelle Elektronikteil 13B von 1) bestimmt.
Schritt 3-2: In einem Datensammlungsschritt werden Referenzmessdaten für das Schutzkorrekturziel auf Grundlage von Schritt 3-1 gesammelt.
Schritt 3-3: In einem Verschlechterungscharakteristik-Erwägungsschritt wird ein Beschleunigungstest mit Verwendung von Referenzen auf dem Schutzkorrekturziel ausgeführt, und eine obere Verschlechterungsgrenze wird aus Verschlechterungscharakteristika unter einer jeweiligen Verwendungsbedingung, zulässigen Genauigkeit und Produktlebensdauer bestimmt.
Schritt 3-4: In einem Korrekturalgorithmus-Bestimmungsschritt wird ein Korrekturalgorithmus auf Grundlage einer durch die Ergebnisse von Schritten 3-2 und 3-3 unterstützten Theorie in Erwägung gezogen und bestimmt.
Schritt 3-5: In einem Korrekturschaltkreis-Anbringungsschritt wird der im Schritt 3-4 bestimmte Korrekturalgorithmus in einem Elektronikteil angebracht, das eine Schutzkorrektur ausführt (entsprechend zu dem ASIC 14 in dem Beispiel von 1). Der Korrekturalgorithmus kann nur als Hardware realisiert oder kann mit Verwendung von Software realisiert sein.
Die Hardware kann komplett individuell angepasste Artikel, so wie der ASIC 14, sein oder kann eine Kombination von individuellen Halbleitern, einschließlich externen Halbleitern, sein.
Eine Ist-Korrektur-Einrichtung, nachdem das Produkt versendet wird, wird in Übereinstimmung mit einem in 4 gezeigten Flussdiagramm ausgeführt. Die Ist-Korrektur-Einrichtung ist in Schritte von Schritt 4-1 bis Schritt 4-8, ein Kalibrierungsmodus 4a genannt, und Schritte von Schritt 4-8 bis Schritt 4-9, ein Normalmodus 4b genannt, aufgeteilt. Der Kalibrierungsmodus 4a ist ein Anfangsmodus beim Starten einer Energieversorgung, und eine Verschiebung kann zu diesem Modus mit Verwendung eines Schalters, so wie eine Rücksetzung, gemacht werden.
Schritt 4-1: In einem Rücksetzungsschritt wird die Vorrichtung in dem Kalibrierungsmodus 4a gestartet bzw. hochgefahren, der ein Anfangszustand ist, wenn die Energieversorgung gestartet wird, oder wenn der Rücksetzungsschalter gedrückt wird.
Schritt 4-2: In einem Referenzmessschritt werden Ergebnisse eines Messens des Schutzkorrekturziels mit Verwendung von Referenzen mit bereits bekannten Messwerten gespeichert.
Schritt 4-3: In einem Erwarteter-Wert-Extrahierungsschritt werden erwartete Werte, die in Übereinstimmung mit externen Verwendungsbedingungen korrigiert worden sind, aus erwarteten Schutzkorrekturzielwerten bezüglich der bereits bekannten Referenzen berechnet.
Schritt 4-4: In einem Differenzberechnungsschritt werden Differenzen zwischen den Messwerten von Schritt 4-2 und erwarteten Werten von Schritt 4-3 berechnet.
Schritt 4-5: In einem Differenzvergleichsschritt werden eine Differenz und die obere Verschlechterungsgrenze verglichen.
Schritt 4-6: In einem Warnschritt wird eine Elementersetzungswarnung bezüglich des Schutzkorrekturziels ausgestellt, wenn die Differenz größer als die obere Verschlechterungsgrenze ist.
Schritt 4-7: In einem Korrekturparameter-Berechnungsschritt ist die Differenz kleiner als die obere Verschlechterungsgrenze, Korrekturparameter werden auf Grundlage des bereits angebrachten Korrekturalgorithmus auf Grundlage des Zustands der Verschlechterung des Schutzkorrekturziels berechnet, und eine Meldung des Verschlechterungszustands wird ausgestellt, wie erforderlich, auf Grundlage der Beziehung mit der oberen Verschlechterungsgrenze.
Schritt 4-8: In einem Rücksetzungsaufhebungsschritt wird das Erfassungsziel des Schutzkorrekturziels von der Referenz zu einem Ist-Erfassungsziel umgeschaltet, und der Modus wird von Kalibrierung zu normal verschoben, wodurch der Rücksetzungszustand aufgehoben wird.
Schritt 4-9: In einem Ergebniskorrekturschritt werden die Ist-Messwerte bzw. tatsächlichen Messwerte von dem Schutzkorrekturziel korrigiert mit Verwendung von Korrekturausdrücken auf Grundlage der im Schritt 4-7 berechneten Korrekturparameter, und Ergebnisse der Korrekturen werden in Echtzeit ausgegeben.
Eine Hardwareausgestaltung beim Implementieren der Erfindung ist in 5 gezeigt.
In dieser Ausführungsform wird eine Beschreibung eines Beispiels gegeben werden, wo ein Stromgröße-Erfassungsschaltkreis, der für eine Offenes-Ventil-Erfassung während einer Direkteinspritzung-Motorsteuerung oder für eine Sauerstoffkonzentrationserfassung während einer Luft-Kraftstoff-Verhältnis-Steuerung verwendet wird, das Schutzkorrekturziel ist. Eine Nennstromversorgung ist eine Referenz, und ein von einem Sensor ausgegebener Strom ist ein Ist-Erfassungsziel bzw. tatsächliches Erfassungsziel.
Wie in 5 gezeigt, ist die ECU 100 ausgestaltet aus einer Referenzerzeugungsvorrichtung 51, die eine Hochgenauigkeitsreferenz aus einer Batterie erzeugt, einem Sensor 53, der eine externe Verwendungsbedingung an eine Steuerung/Berechnung-Vorrichtung 52 als ein physikalisches Ausmaß überträgt, einem A/D-Wandler 55, der einen Analogwert, der ein Messergebnis von einem Schutzkorrekturziel 54 ist, in ein Digitalsignal umwandelt, einem RAM 56, der temporär den Messwert abspeichert, einem nicht-flüchtigen Speicher 57, der Parameter, Daten, Programme und für eine Korrektur erforderliche Korrekturergebnisse speichert, der Steuerung/Berechnung-Vorrichtung 52, die eine Bestimmung oder Berechnung während eines Zugriffs auf den RAM 56 oder den nicht-flüchtigen Speicher 57 ausführt, und einer Kommunikationsschnittstelle 58, die zum Referenzieren einer Information von außerhalb der ECU 100, die in dem nicht-flüchtigen Speicher 57 abgespeichert worden ist, und zum Initialisieren oder Aktualisieren von Parametern und Programmen in dem nichtflüchtigen Speicher 57 verwendet ist, wobei diese Ausgestaltungen die Halbleitervorrichtung (ASIC) 14 bilden, die als ein Elektronikteil integriert ist, und bezüglich der Halbleitervorrichtung (ein Teilstück einer Sensorgruppe davon kann an das Äußere als ein externes Teil entfernt sein) ist die ECU 100 ausgestaltet aus einer Schaltvorrichtung 59, zum Schalten zwischen der das Erfassungsziel bildenden Referenz und dem Ist-Erfassungsziel, und dem Schutzkorrekturziel 54. Dies ist die Ausgestaltung der elektronischen Steuervorrichtung, die die ECU 100 genannt wird. Die Kommunikationsschnittstelle 58 führt eine Kommunikation an eine Vorrichtung 5d aus, die außerhalb bereitgestellt ist und eine Informationsakquisition und eine Parameteraktualisierung ausführt. Außerdem ist die Ausgestaltung derart, dass die Elementaustauschwarnung bezüglich des Schutzkorrekturziels in dem Warnschritt von Schritt 4-6 von der Steuerung/Berechnung-Vorrichtung 52 an eine außerhalb bereitgestellte Vorrichtung 5c ausgestellt wird.
Hier ist ein spezifisches Beispiel eines Stromerfassungsschaltkreises 60 als das Schutzkorrekturziel 54 gezeigt. Wie in 6 gezeigt, ist der Stromerfassungsschaltkreis 60 aus einem Widerstand 61, durch den der Strom fließt, und einem Verstärker 62 zum Verstärken eines kleinen bzw. augenblicklichen Erfassungsbereiches davon ausgestaltet.
Die Korrekturmethodik wird in Übereinstimmung mit dem Fluss von 3 in dem Entwicklungsprozess der ECU 100 in Erwägung gezogen. Zuerst werden ein Erfassungsziel 5a bezüglich des Schutzkorrekturziels 54, externe Bedingungen 5b beim Verwenden der ECU 100, ein Betriebsbereich mit einer Verschlechterung und Referenzen bestimmt. In der ersten Ausführungsform werden eine Umgebungstemperatur und ein Luftdruck als externe Verwendungsbedingungen ins Auge gefasst, und beispielsweise werden drei Arten einer Nennstromversorgung I1, I2 und I3 als Referenzen verwendet. Die Aufgabe ist es, eine Leistungsfähigkeitsverschlechterung des Stromerfassungsschaltkreises 60, der das Schutzkorrekturziel ist, zu erfassen und den Sensorausgabestrom, der das Ist-Erfassungsziel ist, zu korrigieren. Jede Nennstromversorgung wird durch die Referenzerzeugungsvorrichtung 51 erzeugt, die eine Komponente von 5 ist.
Als Nächstes wird ein Experimentplan zum Bestimmen von oberen und unteren Grenzen von Parametern, die gesammelt werden sollen, der Parameterquantität, Zwischen-Parameter-Schritten und Verschlechterungscharakteristika bei der Entwicklungsstufe formuliert.
Dann, wenn eine Sammlung von Daten auf Grundlage des Experimentplans abgeschlossen ist, werden die Arten einer Bedingungsreferenztabelle, in 7A, 7B und 7C gezeigt, für jede Referenz (die Nennstromversorgungen I1, I2 und 13) aus Ergebnissen von Messungen bezüglich der Idealzustand- (keine Verschlechterung) Referenzen (die Nennstromversorgungen I1, I2 und 13) unter jeder bzw. jeweiligen externen Verwendungsbedingung (Temperatur und Luftdruck) zusammengestellt. Beispielsweise werden bezüglich der Referenz I1 Idealbedingung- (angenommen, T0 zu sein) Messwerte bei einem Luftdruck P1 und einer Temperatur C1 registriert als I1-P_1C1_T0, abgekürzt als I1-110. Auf dieselbe Weise werden Messwerte in einem Zustand keiner Verschlechterung bei einem Luftdruck P2 und Temperatur C1 als 11-210 registriert, und durch Ändern der Parameter wird die I1-Bedingungsreferenztabelle zusammengestellt, wie in 7A gezeigt. Auf dieselbe Weise werden Referenztabellen für die Referenzen I2 und I3 zusammengestellt, wie in 7B und 7C gezeigt.
Als Nächstes werden beschleunigte Verschlechterungspunkte bezüglich des Schutzkorrekturziels, beispielsweise Zeit- (fixiert in Einheiten von Jahr, Monat, Tag und Uhrzeit) Punkte T1 und T2, nachdem das Produkt versendet wird, und ein Obere-Verschlechterungsgrenze-Punkt Tn bestimmt. Verschlechterungscharakteristika unter jeder Verwendungsbedingung werden gesammelt mit Verwendung des Schutzkorrekturziels, das beschleunigt worden ist, auf Grundlage der Datensammlungsbedingungen und der Referenzen (die Nennstromversorgungen I1, I2 und 13), und tabuliert. Wie in 8 gezeigt, werden beispielsweise die Werte der Referenz I1 bezüglich des Idealzustandwertes I1-110 von I1 unter den Bedingungen P1 und C1, nachdem T1 und T2 verstreichen, als I1-111 bzw. I1-112 registriert, und der Obere-Verschlechterungsgrenze-Wert wird als I1-11n registriert. Dadurch, dass die Referenzen I2 und I3 auch auf dieselbe Weise gemessen und registriert werden, wird eine Verschlechterungscharakteristiktabelle für jede Referenz (die Nennstromversorgungen I1, I2 und 13) zusammengestellt.
In dem Kalibrierungsmodus 4a zu einer Zeit einer tatsächlichen Verwendung bzw. Ist-Verwendung wird eine Verschlechterung des Schutzkorrekturziels evaluiert mit Verwendung der Tabellen und Referenzmesswerte. Wenn die relevante externe Verwendungsbedingung nicht in einem Index ist, wird eine Interpolation mit Verwendung eines Interpolationsalgorithmus ausgeführt. Wenn beispielsweise eine lineare Interpolation als ein Interpolationsalgorithmus verwendet wird, wobei eine Luftdruckbedingung P angenommen wird, P1 < P < P2 zu sein, und eine Temperaturbedingung C angenommen wird, C1 < C < C2 zu sein, bezüglich I1, werden Idealwerte einer Referenz I1-0 in einem Zustand keiner Verschlechterung unter den relevanten Bedingungen interpoliert für vier Punkte I1-110, 11-120, I1-210 und I1-220, wie in 9 gezeigt. Das Verschlechterungsausmaß wird auch interpoliert mit Verwendung eines Interpolationsalgorithmus, wenn das Abwertungsausmaß (Engl.: depreciation amount) nicht mit dem Abwertungspunkt T1, T2 oder dergleichen zusammenfällt. Das heißt, dass, wenn ein Wert entlang einer Zeitliche-Verschlechterung-Achse von I1-0, beispielsweise I1, angenommen wird, der Ist-Messwert zu sein, I1- (I1-0) das Verschlechterungsausmaß ist. Hierbei gibt T, die die Zeitliche-Verschlechterung-Achse ist, eine Stromgröße an. Normalerweise ist I1-0 nicht 0, aber wird angenommen, 0 zu sein, um ein Verständnis des Verschlechterungsausmaßes zu erleichtern.
Der Ist-Strom zu einer Zeit einer tatsächlichen Verwendung muss auch interpoliert werden auf Grundlage eines Wertes einer Verschlechterung von einem Referenzstrom in einem Idealzustand unter den relevanten Verwendungsbedingungen, aufgrund derer Korrekturparameter bezüglich jedes Index der Bedingungsreferenztabellen bestimmt werden.
Beispielsweise wird ein Fall eines Interpolierens mit Verwendung der folgenden Art eines linearen Ausdrucks berücksichtigt werden, wie in 10 gezeigt.
Korrekturausdruck 1: Icorrected = a*Imeasured +b
Hier geben a und b Korrekturkoeffizienten an.
Wie in 11 gezeigt, kann in diesem Fall der korrigierte Stromwert Icorrected (Ic) aus der Ist-Stromgröße Imeasured (Im) mit Verwendung von Korrekturausdruck 1 berechnet werden. Außerdem kann der Korrekturausdruck für einen Fall einer Stromversorgung kleiner als I2 und einen Fall einer Stromversorgung größer als I2 geändert werden.
Bezüglich der Korrekturparameter sind Charakteristika der Verschlechterungspunkte T1, T2 und so weiter und des Obere-Verschlechterungsgrenze-Punktes Tn bereits gesammelt worden, aufgrund derer Korrekturparametertabellen für die Referenzströme I1 und I2 und Korrekturausdruck 1, berechnet mit Verwendung von I2 und I3, zusammengestellt werden, wie in 12A und 12B gezeigt, für jeden Bedingungsreferenztabellenindex, von den Datensammlungsergebnissen jedes beschleunigten Verschlechterungspunktes. 12A ist eine Parametertabelle für T0 <= T < T1, und 12B ist eine Parametertabelle T1 <= T < T2.
Zu einer Zeit einer tatsächlichen Verwendung wird das Verschlechterungsausmaß geschätzt aus dem Luftdruck P und der Temperatur C, die externe Verwendungsbedingungen sind, und den Ergebnissen eines Messens der Referenzströme I1, I2 und I3, und die Korrekturparameter a und b, die den MesswertIm von dem Verschlechterungsausmaß korrigieren, werden aus der Korrekturparametertabelle von 12A oder 12B extrahiert, wie in einem Ist-Messwert-Korrekturkonzept unter spezifischen Bedingungen gezeigt, gezeigt in 13. Wenn beispielsweise die geschätzte zeitliche Abwertung unter der Luftdruckbedingung P1 < P < P2 und der Temperaturbedingung C1 < C < C2 angenommen wird, T1 < T < T2 zu sein, von den Messergebnissen in den Fällen der Referenzströme I1, I2 und I3, werden entweder die vier Werte (a12-112, b12-112), (a12-122, b12-122), (a12-212, b12-212), (a12-222, b12-222) oder (a23-112, b23-112), (a23-122, b23-122), (a23-212, b23-212), (a23-222, b23-222) extrahiert in Übereinstimmung mit der Stromgröße von Im. Darüber hinaus wird ein Korrekturausdruck bestimmt durch Interpolieren der Korrekturparameter a und b in Übereinstimmung mit den Werten der Luftdruckbedingung P und der Temperaturbedingung C.
Wenn die Differenz zwischen dem Idealwert und dem Ist-Messwert die obere Verschlechterungsgrenze überschreitet, die in Abhängigkeit von den externen Bedingungen berechnet worden ist, wird eine Warnung bezüglich eines Elementaustauschs ausgestellt, und wenn dieses nicht der Fall ist, wird ein geschätztes Restausmaß berichtet, wie erforderlich, die Rücksetzung wird aufgehoben, und eine Verschiebung wird zu dem Normalmodus 4b gemacht.
In dem Normalmodus 4b wird der korrigierte Stromwert Ic hergeleitet bezüglich des Ist-Stromwertes Im, mit Verwendung der Korrekturparameter a und b, die wie zuvor beschrieben berechnet worden sind, und eines Korrekturausdrucks.
Wie bisher beschrieben, ist der ASIC 14 ausgestaltet zum Haben einer Ausgabezustandinformation bezüglich der Referenzen, wenn das Schutzkorrekturziel 54, das das Ziel eines Schutzes ist, in einem Zustand keiner Verschlechterung ist, und einer Verschlechterungszustandinformation bezüglich der Referenzen bei einem vorbestimmten Verwendungspunkt, und führt eine Diagnoseevaluierung des Verschlechterungszustands des Schutzkorrekturziels 54 von einem Ausgabesignal des Schutzkorrekturziels 54 aus. Mit Verwendung der Diagnosefunktion des ASIC 14 kann eine Korrektur zu der Ausgabe des Schutzkorrekturziels 54 hinzugefügt werden, und die Ausgabe kann als ein Steuersignal verwendet werden.
Zweite Ausführungsform
Eine Ausführungsform zum Lesen von Aggregatergebnissen mit Verwendung einer Kommunikationsschnittstelle und zum Aktualisieren von Korrekturausdrücken und Korrekturparametern, die in einen nicht-flüchtigen Speicher geschrieben worden sind, wird mit Verwendung eines in 14 gezeigten Flussdiagramms beschrieben werden.
Zu einer Zeit eines Normalbetriebs werden Daten gemessen und korrigiert (Schritt 14-1) und aufgezeichnet in einem RAM zusammen mit Messbedingungen, und die aufgezeichneten Ergebnisse werden regelmäßig aggregiert (Schritt 14-2) und aufgezeichnet in einer Datenregion eines nicht-flüchtigen Speichers, beispielsweise beim Abschalten oder Zurücksetzen (Schritt 14-3). Diese Daten können mit Verwendung einer Kommunikationsschnittstelle gelesen und an eine Datenzentrale oder dergleichen übertragen werden. Durch die bisher beschriebene Operation, die ausgeführt wird beim Abschalten, muss beispielsweise ein Benutzer nicht warten, bis die relevante Tätigkeit abgeschlossen wird.
Eine Offline-Analyse dieser Information kann ausgeführt werden, und durch Vergleichen mit in dem Entwicklungsprozess gesammelten Daten können der Verschlechterungszustand eines Korrekturziels und eine Abhängigkeit von externen Verwendungsbedingungen verifiziert und erkannt werden (Schritt 14-4). Aus der zuvor beschriebenen Charakteristikevaluierung wird eine Hinzufügung eines Korrekturalgorithmus in Erwägung gezogen, wie erforderlich, und die Notwendigkeit oder anderenfalls eines Änderns der Korrekturausdrücke oder Parameterquantität oder ein Aktualisieren von Parameterwerten wird bestimmt (Schritt 14-5). Wenn es bestimmt wird, dass eine Aktualisierung erforderlich ist, wird dem Benutzer die Angelegenheit gemeldet, eine Operation der Vorrichtung wird zu einem zweckgemäßen Zeitpunkt gestoppt, beispielsweise beim Abschalten, und es wird eine Verschiebung zu einem Wartungsmodus gemacht. In dem Wartungsmodus werden Stromwerte bzw. aktuelle Werte (Korrekturprogramme und Korrekturparameter) des nicht-flüchtigen Speichers mit Verwendung der Kommunikationsschnittstelle aktualisiert (Schritt 14-6). Obwohl nicht Over-the-Air (OTA), kann es in manchen Fällen erforderlich sein, ein Elektronikteil auszutauschen, beispielsweise einen ASIC. Wenn das nächste Mal die Energieversorgung nach einem Aktualisieren angeschaltet wird, wird die Kalibrierung mit Verwendung der Korrekturausdrücke und Korrekturparameter nach dem Aktualisieren implementiert, und eine Schutzkorrektur mit Verwendung neuer Daten wird implementiert nach einem Verschieben zu einem Normalmodus.
Dritte Ausführungsform
In der dritten Ausführungsform ist ein Realisierungsverfahren mit Verwendung einer Ausgestaltung gezeigt, die von dieser der ersten Ausführungsform unterschiedlich ist. Die erste Ausführungsform, wie in 5 gezeigt, zeigt ein Ausgestaltungsbeispiel, wo eine Referenzerzeugungsvorrichtung 51, Sensor 53, A/D-Wandler 55, RAM 56, Steuerung/Berechnung-Vorrichtung 52, nichtflüchtiger Speicher 57 und Kommunikationsschnittstelle 58 alle in einem Elektronikteil integriert sind, aber es ist nicht wesentlich, dass alles in einem Elektronikteil integriert ist, eine MCU mit extrem hoher Zuverlässigkeit existiert auch, aufgrund derer ein Teilstück der Komponenten durch eine Funktion der MCU ersetzt sein kann und als eine integrierte Umgebung mit dem ASIC realisiert sein kann. Wie in 15 gezeigt, ist eine Ausgestaltung beispielsweise derart, dass nur die Referenzerzeugungsvorrichtung 51, ein Teilstück oder alles der Sensorgruppe 53, die Kommunikationsschnittstelle 58 zum Kommunizieren mit einer MCU und eine anwendungsspezifische Logik 151 als ein Elektronikteil in dem ASIC 14 integriert sind, während für andere Komponenten eine MCU 11 verwendet wird, oder die Komponenten externe individuelle Teile sind.
In dem Fall dieser Ausgestaltung sendet ein Elektronikteil, beispielsweise der ASIC 14, externe Bedingungen, die durch einen eingebauten oder externen Sensor akquiriert worden sind, an den A/D-Wandler 55 der MCU 11, und eine Schaltvorrichtung wird via eine Elektronikteilaufgenommene Logik gesteuert, die einen Befehl von der MCU 11 empfängt.
Anwendungsbeispiele, die anders als die bisher beschriebene Ausgestaltung sind, sind dieselben wie in der ersten Ausführungsform.
Vierte Ausführungsform
Darüber hinaus ist ein Fall, wo das Schutzkorrekturziel ein Elektronikschaltkreis ist, in den ersten bis dritten Ausführungsformen gezeigt, aber wenn die Elektronikschaltkreise eines Vielfachen von Schutzkorrekturzielen 54 in der ECU 100 eingebettet sind, wie in 16 gezeigt, ist ein Vielfaches des Kanal-A/D-Wandlers 55 enthalten, der einen Analogausgabewert von einem Elektronikteil in ein Digitalsignal umwandelt, wird eine Ausgabe von dem Kanal-A/D-Wandler 55 an die Steuerung/Berechnung-Vorrichtung 52 gesendet, und der Verschlechterungszustand jedes Elektronikschaltkreises des Vielfachen von Schutzkorrekturzielen 54 kann evaluiert werden durch die Steuerung/Berechnung-Vorrichtung 52 in Übereinstimmung mit jedem Ausgabesignal. In diesem Fall werden die Schutzkorrekturziele 54 sequenziell durch die Schaltvorrichtung 59 geschaltet, und Verschlechterungszustände davon werden durch die Ausgabesignale evaluiert, die sequenziell umgeschaltet werden. In dem Ereignis eines Problems als ein Ergebnis der Evaluierung wird eine Warnung durch die Vorrichtung 5c ausgestellt, die warnt, dass es ein Problem gibt.
Die Verschlechterungsdiagnosevorrichtung der Erfindung enthält eine Referenztabelle von Ausgabezuständen bezüglich Referenzen in einem Zustand, wo es keine Verschlechterung eines Elektronikschaltkreises gibt, der ein Schutzkorrekturziel bildet, und eine Verschlechterungscharakteristiktabelle für jede Referenz, erhalten von Verschlechterungscharakteristika bei vorbestimmten Verwendungspunkten, wobei ein Verschlechterungszustand durch Empfangen einer Ausgabe des Elektronikschaltkreises diagnostiziert werden kann.
Beliebige Komponenten der Ausführungsformen können verändert oder weggelassen werden, wie zweckgemäß, ohne von dem Schutzbereich der Erfindung abzuweichen.

Claims

Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100), umfassend: - eine Mikrocontrollereinheit (11), die einen nichtflüchtigen Speicher (57) einschließt; und - einen anwendungsspezifischen integrierten Schaltkreis (14) einschließlich einer Referenzerzeugungsvorrichtung (51), wobei (i) der nicht-flüchtige Speicher (57) konfiguriert ist, eine Ausgabeinformation zu speichern bezüglich einer Referenz von der Referenzerzeugungsvorrichtung (51) in einem Zustand, worin es keine Verschlechterung eines Zielelektronikteils (54) gibt, und eine Ausgabeinformation zu speichern bezüglich der Referenz von der Referenzerzeugungsvorrichtung (51) in einem Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) bei einem vorbestimmten Verwendungspunkt, (ii) die Microcontrollereinheit (11) konfiguriert ist, ein Ausgabesignal des Zielelektronikteils (54) bezüglich der Referenz zu empfangen, und (iii) die Microcontrollereinheit (11) konfiguriert ist, eine Diagnoseevaluierung eines Verschlechterungszustands des Zielelektronikteils (54) auf Grundlage der Ausgabeinformation in dem Zustand, wo es keine Verschlechterung gibt, und der Ausgabeinformation in dem Verschlechterungszustand auszuführen.
Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100), umfassend: - eine Referenzerzeugungsvorrichtung (51), die eine Referenz erzeugt; - einen nicht-flüchtigen Speicher (57), in dem eine Ausgabeinformation in einem Zustand eines Zielelektronikteils (54), worin es keine Verschlechterung bezüglich der Referenz gibt, und eine Ausgabeinformation in einem Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) bezüglich der Referenz bei einem vorbestimmten Verwendungspunkt abgespeichert ist; und - eine Schaltvorrichtung (59), die mit der Referenzerzeugungsvorrichtung (51) und dem Zielelektronikteil (54) gekoppelt ist; und - eine Steuervorrichtung (52), die eine Ausgabe von dem Zielelektronikteil (54) empfängt und einen Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) auf Grundlage der Ausgabeinformation in dem Zustand, worin es keine Verschlechterung gibt, und der Ausgabeinformation in dem Verschlechterungszustand diagnostiziert, die in dem nicht-flüchtigen Speicher (57) abgespeichert worden sind.
Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100) gemäß Anspruch 2, wobei das Zielelektronikteil (54) ein Stromerfassungsschaltkreis ist, der nicht-flüchtige Speicher (57) ein Programm hat, das einen Messwert des Zielelektronikteils (54) in Übereinstimmung mit dem Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) korrigiert, und der Messwert des Zielelektronikteils (54) in Übereinstimmung mit dem Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) korrigiert wird.
Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100) gemäß Anspruch 2, wobei das Zielelektronikteil (54) ein Elektronikteil ist, das keine Selbstkorrigierfunktion hat, die Ausgabeinformation in dem Zustand, wo es keine Verschlechterung gibt, die Ausgabeinformation in dem Verschlechterungszustand, wobei eine Leistungsfähigkeitsverschlechterung evaluiert wird durch einen Beschleunigungstest, der vielfältige Arten einer externen Umgebung aufbringt, so wie eine Temperatur und ein Luftdruck, und ein Korrekturparameter und Korrekturalgorithmus, die eine Auswirkung der externen Umgebung berücksichtigen, in dem nicht-flüchtigen Speicher (57) abgespeichert sind, und der Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) diagnostiziert wird in der Steuervorrichtung (52) aus einer Information über eine Differenz zwischen der Ausgabeinformation in dem Zustand, wo es keine Verschlechterung gibt, und der Ausgabeinformation in dem Verschlechterungszustand und aus einem Messergebnis zu einer Zeit einer tatsächlichen Verwendung.
Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100) gemäß Anspruch 2, 3 oder 4, wobei der Verschlechterungszustand des Zielelektronikteils (54) diagnostiziert wird in der Steuervorrichtung (52) mit Verwendung einer Bedingungsreferenztabelle, in der ein erwarteter Wert gespeichert ist, der ein Zustand ist, wo es keine Verschlechterung gibt, mit einer Verwendungsbedingung des Zielelektronikteils (54) als einen Index, und einer Interpolationsparametertabelle, die erzeugt worden ist mit Verwendung einer Verschlechterungscharakteristiktabelle, die gemessen worden ist bei jedem Verschlechterungspunkt entsprechend einer jeweiligen zeitlichen Änderung mit Verwendung der Bedingungsreferenztabelle, mit einer Produktlebensdauer als eine obere Verschlechterungsgrenze.
Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100) gemäß Anspruch 4, mit einer Kommunikationsschnittstelle (58), wobei die externe Verwendungsbedingung und ein Messwert des Zielelektronikteils (54) und ein Ergebnis eines Korrigierens der Ausgabe des Zielelektronikteils (54) offline hinsichtlich eines Verschlechterungszustands und einer Abhängigkeit von der externen Verwendungsbedingung eines Korrekturziels verifiziert werden, und der in den nicht-flüchtigen Speicher (57) geschriebene Korrekturparameter aktualisiert werden kann.
Verschlechterungsdiagnosevorrichtung (100) gemäß Anspruch 2, wobei, mit einer Mehrzahl von Zielelektronikteilen (54) als Korrekturziele (5a), ein Verschlechterungszustand für jedes der Mehrzahl der Zielelektronikteile (54) diagnostiziert wird.