DE102015121022A1

DE102015121022A1 - Strahlungsabbildungssystem

Info

Publication number: DE102015121022A1
Application number: DE102015121022.3A
Authority: DE
Inventors: Hidetomo Suwa; Motoki Tagawa; Kensuke Kobayashi; Masataka Suzuki
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 2014-12-04
Filing date: 2015-12-03
Publication date: 2016-06-09
Also published as: PH12015000411A1; BR102015030401A2; CN105662442B; US9974499B2; CN105662442A; GB201521257D0; US20160157797A1; GB2535590A; KR20160067768A; US9801596B2; BR102015030401B1; KR101927690B1; CN110833428B; RU2015151339A; RU2637835C2; US20180028135A1; MY178804A; PH12015000411B1; GB2535590B; CN110833428A

Abstract

Ein Strahlungsabbildungssystem hat: mehrere Strahlungsabbildungsvorrichtungen, die jeweils ein Strahlungserfassungspaneel und ein das Strahlungserfassungspaneel umhüllendes Gehäuse haben. Die mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen sind so feldartig angeordnet, dass ein Teil von jeder der Strahlungsabbildungsvorrichtungen sich räumlich von einer Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, und ein Strahlungsbild ausgehend von Bildsignalen von jeder der mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen erlangt wird. Das Gehäuse von zumindest einer Strahlungsabbildungsvorrichtung der mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen ist so ausgebildet, dass eine Strahlungsdurchlässigkeit des Gehäuses, das den überlappenden Bereich definiert, höher als eine Strahlungsdurchlässigkeit des Gehäuses ist, das einen unterschiedlichen Bereich definiert.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Strahlungsabbildungssystem, das für medizinische Bilddiagnosevorrichtungen, nicht zerstörende Prüfvorrichtungen, Strahlung verwendende Analysatoren usw. einsetzbar ist.
In zurückliegenden Jahren bestand z.B. in dem Gebiet der Medizin für Fotografie ein Bedarf mit einem verlängerten Beobachtungsbereich (im Folgenden als „verlängerte Fotografie“ bezeichnet), wo die Wirbelsäule, der untere Körper oder der gesamte Körper eines Subjekts fotografiert wird, um Ungleichgewichte oder Abnormalitäten des Körperbaus zu erkennen. Insbesondere ist ein Strahlungsabbildungssystem, das durch eine einmalige Strahlungsbelichtung eine verlängerte Fotografie durchführen kann, im Vergleich mit einem Strahlungsabbildungssystem, das eine verlängerte Fotografie durch Teilen des Beobachtungsbereichs in mehrere Abschnitte durchführt und mehrere Male eine Strahlungsbelichtung durchführt, von dem Gesichtspunkt bevorzugter, eine körperliche Bewegung des Subjekts und eine reduzierte Belichtung auszuschließen.
Die Druckschrift JP 2012-040140 A offenbart ein Strahlungsabbildungssystem, wo eine verlängerte Fotografie mit einer Einzelbelichtung ohne Bildausfall an den Nähten durch Durchführen einer Fotografie mit einem Feld von mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen durchgeführt werden kann. In der Druckschrift JP 2012-040140 A sind eine Steuertafel einer ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung, die näher an der Strahlungs-Bestrahlungsseite als eine zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung vorgesehen ist, und ein Pixelfeld der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung jeweils so positioniert, dass die Steuertafel der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung sich nicht mit dem Pixelfeld der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung aus der Bestrahlungsrichtung betrachtet überlappt, und der Abschnitt, wo die Strahlungsabbildungsvorrichtungen überlappen. Bildinformation wird von dem Pixelfeld der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung betreffend die Strahlung erhalten, durch die der überlappte Abschnitt bestrahlt wird. Ein verlängertes Bild ohne Bildausfall an den Nähten kann durch kachelartiges Aneinanderlegen der Bilder von beiden Strahlungsabbildungsvorrichtungen erhalten werden. Jedoch erwähnt die Druckschrift JP 2012-040140 die Wirkungen des Gehäuses der Strahlungsabbildungsvorrichtungen auf die Bilder nicht, und das Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung kann Filmfehler in Bildern erzeugen, die von der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung erhalten werden. Ein Gesichtspunkt der vorliegenden Erfindung stellt eine Technik bereit, die vorteilhaft im Unterdrücken von Filmfehlern ist, die in Bildern auftreten, die aufgrund des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung von der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung erhalten werden.
Ein Strahlungsabbildungssystem hat mehrere Strahlungsabbildungsvorrichtungen, die jeweils ein Strahlungserfassungspaneel mit mehreren Pixeln in feldartiger Weise in einer zweidimensionalen Matrix angeordnet hat und die konfiguriert sind, Strahlung in Bildsignale umzuwandeln, und ein Gehäuse, das das Strahlungserfassungspaneel umhüllt. Die mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen sind feldartig so aufgestellt, dass ein Teil von jeder Strahlungsabbildungsvorrichtung räumlich von einer Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, und ein Strahlungsbild ausgehend von Bildsignalen von jeder der mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen erlangt wird. Das Gehäuse von zumindest einer Strahlungsabbildungsvorrichtung der mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen ist so ausgebildet, dass eine Strahlungsdurchlässigkeit des den Überlappungsbereich definierenden Gehäuses (Gehäuseteils) höher als eine Strahlungsdurchlässigkeit des Gehäuses (Gehäuseteils) ist, der in dem Teil einen von dem Bereich unterschiedlichen Bereich definiert.
Weitere Merkmale der vorliegenden Erfindung werden aus der folgenden Beschreibung von beispielhaften Ausführungsformen mit Bezug auf die anhängenden Zeichnungen deutlich.
1 ist eine schematische Querschnittsansicht zum Beschreiben eines Strahlungsabbildungssystems.
2A und 2B sind eine schematische Querschnittsansicht und eine schematische Draufsicht einer Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß einer ersten Ausführungsform.
3A und 3B sind eine schematische Querschnittsansicht und eine schematische Draufsicht einer Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß einer zweiten Ausführungsform.
4A und 4B sind eine schematische Querschnittsansicht und eine schematische Draufsicht einer Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß einer dritten Ausführungsform.
5 ist eine vergrößerte schematische Ansicht der Strahlungsabbildungsvorrichtung, die gemäß der dritten Ausführungsform eingestellt ist.
6 ist eine schematische Querschnittsansicht und eine schematische Draufsicht einer Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß einer vierten Ausführungsform.
7A und 7B sind schematische Querschnittsansichten zum Beschreiben eines Strahlungsabbildungssystems gemäß einer fünften Ausführungsform.
8A und 8B sind schematische Querschnittsansichten zum Beschreiben des Strahlungsabbildungssystems gemäß der fünften Ausführungsform.
9A und 9B sind schematische Querschnittsansichten einer Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß der fünften Ausführungsform.
10A bis 10C sind schematische Querschnittsansichten der Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß der fünften Ausführungsform.
11A bis 11C sind schematische Querschnittsansichten der Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß der fünften Ausführungsform.
12 ist eine schematische Querschnittsansicht der Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß der fünften Ausführungsform.
13A und 13B sind eine schematische Querschnittsansicht und eine schematische Draufsicht einer Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß einer sechsten Ausführungsform.
14 ist eine schematische Draufsicht der Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß der sechsten Ausführungsform.
Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung werden im Folgenden mit Bezug auf die anhängenden Zeichnungen im Detail beschrieben. Es sollte jedoch angemerkt werden, dass Details der Abmessung und der Strukturen, die in den Ausführungsformen dargestellt sind, nicht auf die in dem Text und den Zeichnungen gegebenen beschränkt sind. Es ist anzumerken, dass in der vorliegenden Beschreibung nicht lediglich Röntgenstrahlen, sondern auch α-Strahlen, β-Strahlen, γ-Strahlen, Partikelstrahlen, kosmische Strahlen usw. ebenfalls in der Strahlung vorhanden sind.
Ein Strahlungsabbildungssystem gemäß der vorliegenden Erfindung wird zuerst mit Bezug auf 1 beschrieben. 1 ist eine schematische Querschnittsansicht zum Beschreiben des Strahlungsabbildungssystems. Ein Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S in dem Strahlungsabbildungssystem hat eine erste Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 und eine zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2. Die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ist im Vergleich zu der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 näher an einer Strahlungserzeugungseinheit R vorgesehen, d.h., näher an der Strahlungs-Bestrahlungsseite. Ein Teil der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ist so vorgesehen, dass er von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet räumlich mit einem Teil der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappt ist. Räumliches Überlappen wie hierin verwendet kann Überlappen in physikalischer Berührung oder Überlappen über den Raum ohne physikalische Berührung sein. Ein Subjekt M steht auf einer Stufe, die vor dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S platziert ist, und ist somit zwischen dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S und der Strahlungserzeugungseinheit R positioniert. Strahlung X, die von der Strahlungserzeugungseinheit R zu dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S abgestrahlt wird, tritt durch das Subjekt M durch und erreicht die Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 und D2, und die durch den Strahlungsabbildungssatz S gefangene Strahlung wird in Bildsignale umgewandelt. Durch die Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 und D2 erlangte Bildsignale werden an einer nicht dargestellten Bildverarbeitungsvorrichtung einer Kachelverarbeitung ausgesetzt und dabei ein Strahlungsbild des Subjekts M erlangt.
Erste Ausführungsform
Als nächstes wird mit Bezug auf 2A und 2B eine erste Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben. 2A ist eine schematische Querschnittsansicht, die eine vergrößerte Ansicht des eingekreisten Abschnitts in 1 ist, und ein Konzeptdiagramm, das Bildsignale an dem Bereich darstellt, und 2B ist eine schematische Draufsicht der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 gemäß der ersten Ausführungsform.
Die mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 und D2 haben jeweils ein Strahlungserfassungspaneel 2, einen integrierten Schaltkreis IC, der auf einer flexiblen Schaltkreistafel 8 und/oder einer gedruckten Schaltkreistafel 5 montiert ist, und ein erstes Element 1 und ein zweites Element 6, wie aus 2A ersichtlich ist. Das Strahlungserfassungspaneel 2 weist ein Pixelfeld mit mehreren Pixeln in einer feldartigen Weise in einer zweidimensionalen Matrix angeordnet auf, und wandelt bestrahlte Strahlung in Bildsignale um. Der integrierte Schaltkreis IC, der auf der flexiblen Schaltkreistafel 8 und/oder der gedruckten Schaltkreistafel 5 montiert ist, ist elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel 2 verbunden. Das erste Element 1 und das zweite Element 6 umhüllen zumindest das Strahlungserfassungspaneel 2 und den integrierten Schaltkreis IC.
Das Gehäuse von zumindest einer Strahlungsabbildungsvorrichtung der mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen in dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S weist ein Teil auf, das eine andere Strahlungsabbildungsvorrichtung räumlich überlappt, und die Strahlungsdurchlässigkeit des Teils entsprechend dem überlappenden Teil ist höher als die Strahlungsdurchlässigkeit von anderen Teilen des Gehäuses eingestellt. Noch genauer weist das Gehäuse der an der Strahlungs-Bestrahlungsseite von der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 vorgesehenen ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 von den mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen des Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S die folgende Konfiguration auf. Das Gehäuse ist einschließlich des ersten Elements 1 und des zweiten Elements 6 derart ausgebildet, dass die Strahlungsdurchlässigkeit eines ersten Bereichs, der aus dem ersten Element 1 ausgebildet ist, das die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet räumlich überlappt, höher als die Strahlungsdurchlässigkeit eines zweiten Bereichs ist, der aus dem zweiten Element 6 ausgebildet ist, das zu dem integrierten Schaltkreis IC der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 gerichtet ist. Gemäß dieser Konfiguration wird eine Absorption der Strahlung an dem Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1, die die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 räumlich überlappt, unterdrückt. Somit ist von den an der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erlangten Bildsignalen eine Verschlechterung der von räumlich den ersten Bereich überlappenden Pixeln erlangten Signale unterdrückt, und Filmfehler, die aufgrund des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 in dem von der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erlangtem Bild auftreten können, sind unterdrückt.
Ein bestimmtes Beispiel der Strahlungsabbildungsvorrichtung gemäß der ersten Ausführungsform wird im Folgenden beschrieben. Die Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 und D2 haben jeweils in dem Gehäuse einen zusammengefügten Körper, der durch Schichten des Strahlungserfassungspaneels 2, eines druckempfindlichen Adhäsivs 3, einer Basis 4 und der gedruckten Schaltkreistafel 5 in dieser Reihenfolge von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus erhalten wird. Das Strahlungserfassungspaneel 2 wird durch das drucksensitive Adhäsiv 3 mit der Basis 4 gefügt, und somit ist das Strahlungserfassungspaneel 2 durch die Basis 4 gelagert. Die gedruckte Schaltkreistafel 5 ist an der gegenüberliegenden Seite von dem Strahlungserfassungspaneel 2 über die Basis 4 vorgesehen. Die Einschlüsse der Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 und D2 haben das erste Element 1 und das zweite Element 6. Das erste Element 1 ist aus einem Material hergestellt, das im Vergleich zu dem zweiten Element 6 eine hohe Strahlungsdurchlässigkeit aufweist. Das erste Element 1, das den ersten Bereich ausmacht, benutzt bevorzugt ein Material, das eine Strahlungsdurchlässigkeit von der Strahlungseinfallrichtung gleichwertig zu 5 mm Aluminium oder weniger aufweist. CFRP (Kohlenstofffaserverstärkter Kunststoff) wird z.B. verwendet. Der Bereich des ersten Elements 1, der zu einem Pixelfeld des Strahlungserfassungspaneels 2 gerichtet ist, weist bevorzugt eine Strahlungsdurchlässigkeit auf, die in dem ersten Bereich höher ist. Andererseits ist das zweite Element 6, das den zweiten Bereich des Gehäuses ausbildet, der zu dem integrierten Schaltkreis IC gerichtet ist, bevorzugt aus einem Material mit einer höheren Steifigkeit als das erste Element 1 und einer niedrigeren Strahlungsdurchlässigkeit ausgebildet, vor allem Metallmaterialien wie z.B. Aluminium und Magnesium werden verwendet. Das Strahlungserfassungspaneel 2 hat ein Pixelfeld, das in der Lage ist eine Strahlung zu fangen, und einen Randabschnitt an dem äußeren Umfang des Pixelfelds. Die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 ist so positioniert, dass das Pixelfeld davon teilweise mit dem Pixelfeld der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 überlappt, und dabei eine Konfiguration ergibt, in der das Pixelfeld von einer oder der anderen der Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 und D2 unabhängig von der Linie davon eine Bildinformation erlangen wird. Das gefügte Strahlungsbild wird durch kachelartiges Aneinanderlegen der Bildsignale der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 und der Bildsignale der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erschaffen, die nicht durch die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 erlangt wurde. Nun können die Strukturen der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 in einem Bereich von der Kante des Pixelfelds der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 zu der Kante des Gehäuses durch die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 aufgenommen werden, was in Filmfehlern resultiert, die in dem gefügten Strahlungsbild auftreten. Entsprechend ist der erste Bereich in der vorliegenden Ausführungsform als ein Abschnitt ausgebildet, in dem das erste Element 1 sich um den Seitenwandabschnitt zu dem rückwärtigen Flächenabschnitt faltet, und wird durch die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 aufgenommen. Entsprechend kann eine Abschwächung der Strahlung aufgrund der Absorption der Strahlung durch das Gehäuse in diesem Bereich im Vergleich zu einem Fall unterdrückt werden, in dem das zweite Element 6 für diesen Abschnitt verwendet wird. Durch das Reduzieren der Abgabeverschlechterung der Strahlungsbilder kann das Bild dieses Bereichs einer Korrekturverarbeitung durch Kombinieren mit einer Information ausgesetzt werden, die die Ausgabeverschlechterungsgröße aufgrund des Gehäuses in diesem Bereich betrifft, von zuvor erlangten Strahlungsbildern, und dabei die Bildqualität verbessert werden. Das erste Element 1 und das zweite Element 6 werden unter Verwendung von Schrauben außerhalb des ersten Bereichs gefügt, was eine Konfiguration ergibt, in der die Schrauben 7 nicht durch die gefügten Strahlungsbilder aufgenommen werden.
Das Gehäuse gemäß der vorliegenden Ausführungsform weist eine allgemein quadratische Form auf, wie aus 2B ersichtlich ist. Während eine Seite der vier Seiten unter Verwendung des ersten Elements 1 konfiguriert ist, sind die verbleibenden drei Seiten und alle Eckabschnitte unter Verwendung des zweiten Elements 6 konfiguriert. Diese Konfiguration stellt eine Festigkeit der Vorrichtung, wenn sie auf eine Ecke fallen gelassen wird, und eine allgemeine Steifigkeit sicher. In einem Fall der Verwendung von CFRP als dem ersten Element 1, ist die Formfähigkeit so schlecht, dass das Ausbilden einer Kastenform schwierig ist. Auch aus diesem Gesichtspunkt ist es vorteilhaft, lediglich eine Seite aus CFRP auszubilden. Das Gehäuse ist mit einem Leistungsschalter 10 für die Strahlungsabbildungsvorrichtung, einer Anzeigeeinheit 11 wie z.B. einer LED oder Ähnlichem zum Anzeigen des Leistungszustands der Strahlungsabbildungsvorrichtung und einem Verbindungsabschnitt 9, der mit einem Kabel 12 verbindbar ist, das eine Leistungszufuhr zu und/oder Übertragung/Empfangen von Signalen mit dem integrierten Schaltkreis IC durchführt, bereitgestellt. Diese sind als Bereiche in der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 anders als dem ersten Bereich vorgesehen, der sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappt. Die vorliegende Ausführungsform ergibt eine Konfiguration, wo diese Strukturen durch das Bereitstellen des zweiten Elements 6 nicht in dem gefügten Strahlungsbild aufgenommen werden Die flexible Schaltkreistafel 8, die elektrisch mit der gedruckten Schaltkreistafel 5 verbunden ist, ist elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel zwei an zwei wechselweise orthogonalen Seiten verbunden. Die flexible Schaltkreistafel 8 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ist an einem anderen Bereich als der erste Bereich vorgesehen, der sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappt, und ergibt dabei eine Konfiguration, in der die flexible Schaltkreistafel 8 nicht in den gefügten Strahlungsbildern aufgenommen wird. Ebenfalls sind die Bereiche des Gehäuses ausschließlich des ersten Bereichs bevorzugt von außen sichtbar, um eine Installation in der falschen Richtung zu verhindern.
Zweite Ausführungsform
Als nächstes wird eine zweite Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf 3A und 3B beschrieben. 3A ist eine schematische Querschnittsansicht, die eine vergrößerte Ansicht des eingekreisten Abschnitts in 1 und ein Konzeptdiagramm zeigt, das Bildsignale in diesem Bereich darstellt, und 3B ist eine schematische Draufsicht der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 gemäß der zweiten Ausführungsform. Konfigurationen, die die gleichen wie in der ersten Ausführungsform sind, sind mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet, und eine ausführliche Beschreibung davon wird ausgelassen.
Die Seitenwand des Gehäuses in dem ersten Bereich ist unter Verwendung des ersten Elements 1 in der ersten Ausführungsform konfiguriert. Jedoch wird die Strahlung an dem ersten Element 1 um eine Menge entsprechend der Dicke der äußeren Form des Gehäuses absorbiert, wodurch die Menge der absorbierten Strahlung im Vergleich zu anderen Bereichen ausschließlich der Seitenwand in dem ersten Bereich um eine Menge entsprechend der Dicke der Seitenwand merklich größer ist. Entsprechend ist die zweite Ausführungsform derart konfiguriert, dass z.B. die Dicke der äußeren Form des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung T1 in dem ersten Bereich dünner als die Dicke der äußeren Form des Gehäuses D der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung in einem zweiten Bereich ist, der ein von dem ersten Bereich unterschiedlicher Bereich ist, wie in 3A dargestellt ist. Insbesondere ist eine Konfiguration bevorzugt, in der die Dicke der äußeren Form des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung T1 in dem ersten Bereich zu dem Ende des ersten Bereichs dünner wird. Gemäß dieser Konfiguration ist die Höhe der Seitenwand, die unter Verwendung des ersten Elements 1 konfiguriert ist, im Vergleich mit der ersten Ausführungsform niedriger, und Filmfehler in Strahlungsbildern aufgrund der Absorption der Strahlung durch die Seitenwand des Gehäuses können sogar besser unterdrückt werden.
Außerdem sind aus den vier Seiten einer allgemein rechteckigen Form drei Seiten mit dem ersten Bereich unter Verwendung des ersten Elements ausgebildet, und die verbleibende Seite ist unter Verwendung des zweiten Elements 6 ausgebildet, wie aus 3B ersichtlich ist. In diesem Fall sind die flexible Schaltkreistafel 8 (nicht gezeigt), der Leistungsschalter 10, die Anzeigeeinheit 11 und die Verbindungseinheit 9 an der einen Seite des Gehäuses bereitgestellt, die aus dem zweiten Element 6 ausgebildet ist. Gemäß dieser Konfiguration sind in einem Fall, in dem das Gehäuse eine allgemein rechteckige Form aufweist, wenn es von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet wird, sowohl eine kurze Seite sowie auch eine lange Seite unter Verwendung des ersten Elements 1 konfiguriert. In einem Fall, in dem ein Strahlungsbild zu erhalten ist, das in Längsrichtung gefügt ist, können die kurzen Seiten als der erste Bereich überlappt sein, und in einem Fall, in dem ein Strahlungsbild zu erhalten ist, das seitlich gefügt ist, können die langen Seiten als der erste Bereich überlappt sein. Entsprechend ist die Freiheit der Fotografie mit der zweiten Ausführungsform im Vergleich zu der ersten Ausführungsform verbessert.
Dritte Ausführungsform
Als nächstes wird mit Bezug auf 4A, 4B und 5 eine dritte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung beschrieben. 4A ist eine schematische Draufsicht der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 gemäß der dritten Ausführungsform, und 4B ist eine schematische Querschnittsansicht, die vergrößerte Ansicht des eingekreisten Abschnitts in 1 ist, und eine Konzeptansicht, die Bildsignale an dem Bereich darstellt. 5 ist eine Konzeptansicht zum Beschreiben eines Installationsabschnitts zum Installieren einer Strahlungsabbildungsvorrichtung in einem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S. Konfigurationen, die die gleichen wie die der ersten Ausführungsform sind, sind mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet, und eine ausführliche Beschreibung davon wird ausgelassen.
Das Gehäuse gemäß der dritten Ausführungsform hat ein drittes Element 16, das an einer Seite der vier Seiten der allgemein rechteckigen Form eine Öffnung aufweist, einen Deckel 14, der in der Lage ist, die Öffnung des dritten Elements 16 zu schließen, und eine Anbindung 15, um den Deckel 14 an das dritte Element 16 so zu fügen, dass es zum Öffnen und Schließen in der Lage ist. Wenn eine Strahlungsabbildungsvorrichtung alleine verwendet wird, befindet sich der Deckel 14 in einem geschlossenen Zustand. Andererseits befindet sich der Deckel 14 in einem Fall, in dem eine verlängerte Fotografie durchgeführt wird, um ein gefügtes Strahlungsbild zu erlangen, das durch Überlappen von Teilen von Strahlungsabbildungsvorrichtungen erhalten wird, in einem offenen Zustand, und eine Seite des Gehäuses ist geöffnet, und kann so bewegt werden, dass ein Teil des Anbindungskörpers innerhalb des Gehäuses außerhalb des Gehäuses sichtbar ist. Eine Konfiguration mit einem fluoreszierenden Element, das Strahlung in sichtbares Licht ändert, und einem fotoelektrischen Umwandlungselement, das sichtbares Licht in elektrische Signale umwandelt, wird für die Pixel des Strahlungserfassungspaneels 2 verwendet, das in dem Anbindungskörper vorhanden ist. Entsprechend können gewünschte Strahlungsbilder nicht erhalten werden, falls das Strahlungserfassungspaneel 2 einem externen Licht ausgesetzt ist, und so ist ein Schildelement 17 bereitgestellt, um das Strahlungserfassungspaneel 2 in einem Zustand zu schützen, in dem der Deckel 14 offen ist. Das Schildelement 17 macht im Wesentlichen einen Teil des Gehäuses aus, und die Materialien davon weisen eine geringere Strahlungsabsorptionsrate auf als das dritte Element 16. In einem Zustand, in dem der Deckel 14 offen ist, können das Strahlungserfassungspaneel 2 und das Schildelement 17 sich zu einer Position bewegen, die räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappt ist. Es kann gesagt werden, dass das Strahlungserfassungspaneel 2 und das Schildelement 17 der erste Bereich des Gehäuses sind, und dabei Filmfehler unterdrücken, die aufgrund des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 in Bildern auftreten können, die durch die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erlangt sind.
Ein Eingriffsabschnitt 18 ist an dem Ende des Deckels 14 bereitgestellt, wie in 5 dargestellt ist, um in einem geschlossenen Zustand an einem Hakenabschnitt 19 befestigt zu werden, der an dem dritten Element 16 bereitgestellt ist.
Andererseits ist ein Einstellabschnitt 21, der an dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S bereitgestellt ist, mit einem Sperrausrückabschnitt 20 bereitgestellt. Wenn eine Strahlungsabbildungsvorrichtung an dem Einstellabschnitt 21 des Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S installiert wird, drückt der Sperrausrückabschnitt 20 den Einrückabschnitt 18 nach oben. Dies löst die Befestigung des Deckels 14, und der Deckel 14 befindet sich in einem offenen Zustand, wie in 4B dargestellt ist. Entsprechend dieser Konfiguration ist der Übergang zu der Anordnung für verlängerte Fotografie einfach, wenn die Strahlungsabbildungsvorrichtungen an dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S installiert werden, um eine verlängerte Fotografie durchzuführen.
Vierte Ausführungsform
Als nächstes wird eine vierte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf 6 beschrieben. 6 ist eine schematische Querschnittsansicht, die eine vergrößerte Ansicht des eingekreisten Abschnitts in 1 ist, und eine Konzeptansicht, die Bildsignale in dem Bereich darstellt. Konfigurationen, die die gleichen wie die der ersten Ausführungsform sind, sind mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet, und eine ausführliche Beschreibung davon wird ausgelassen.
Ein Aufnahmegehäuse des Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S, der mehrere Strahlungsabbildungsvorrichtungen aufnimmt, hat eine Schutzplatte 22, um die aufgenommenen Strahlungsabbildungsvorrichtungen zu schützen, und ein Streustrahlentfernungsgitter (das nicht dargestellt ist) von der Belastung des Subjekts M. Materialien wie z.B. Acryl oder Polykarbonate können für die Schutzplatte 22 verwendet werden. Die Schutzplatte 22 gemäß der vorliegenden Ausführungsform weist in ihrer Dicke eine Verteilung auf, um Filmfehler in den Strahlungsbildern zu unterdrücken. Insbesondere ist dafür gesorgt, dass die Strahlungsdurchlässigkeit, die durch Hinzuzählen der drei Schichten der Schutzplatte 22 in einer Position entsprechend dem ersten Bereich, dem Gehäuse und der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 und dem Randabschnitt des Strahlungserfassungspaneels 2 erhalten wird, allgemein gleich der Strahlungsdurchlässigkeit der Schutzplatte 22 an anderen Abschnitten aus dem ersten Bereich ist. Dies kann außerdem Filmfehler unterdrücken, die aufgrund des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 in Bildern auftreten können, die an der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erlangt werden.
Fünfte Ausführungsform
Als nächstes wird ein Strahlungsabbildungssystem gemäß einer fünften Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf 7A bis 8B beschrieben. 7A bis 8B sind jeweils schematische Querschnittsansichten zum Beschreiben von Beispielen der fünften Ausführungsform.
Der Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S in dem Strahlungsabbildungssystem in den zuvorstehend erwähnten Zeichnungen hat die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung D1, die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 und eine dritte Strahlungsabbildungsvorrichtung D3. Die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ist näher an der Strahlungserzeugungseinheit R als im Vergleich zu der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 vorgesehen, d.h., näher an der Strahlungs-Bestrahlungsseite. Ein Teil der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ist so vorgesehen, dass er räumlich mit einem Teil der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt. Räumliches Überlappen wie hierin verwendet kann ein Überlappen sein, während physikalische Berührung stattfindet, oder ein Überlappen über dem Raum, ohne dass eine physikalische Berührung stattfindet. In dem in 7A dargestelltem Beispiel ist die dritte Strahlungsabbildungsvorrichtung D3 an der gegenüberliegenden Seite der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 von der Strahlungserzeugungseinheit R vorgesehen, d.h., an der gegenüberliegenden Seite von der Strahlungs-Bestrahlungsseite. Ein Teil der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ist so vorgesehen, dass er räumlich mit einem Teil der dritten Strahlungsabbildungsvorrichtung D3 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt. Andererseits ist in dem in 7B dargestelltem Beispiel die dritte Strahlungsabbildungsvorrichtung D3 näher an der Strahlungserzeugungseinheit R1 im Vergleich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 vorgesehen, d.h., näher an der Strahlungs-Bestrahlungsseite. Ein Teil der dritten Strahlungsabbildungsvorrichtung D3 ist so vorgesehen, dass er räumlich mit einem Teil der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt. Die Dicke des gesamten Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S ist in der in 7A und 7B dargestellten Konfiguration unterdrückt. In der in 7B dargestellten Konfiguration ist die einzige Strahlungsabbildungsvorrichtung betreffend der eine andere Strahlungsabbildungsvorrichtung räumlich an der Strahlungs-Bestrahlungsseite überlappt, die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2, so dass die Anzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen reduziert werden kann, die durch das räumliche Überlappen beeinträchtigt sind.
In der in 8A und 8B dargestellten Konfiguration ist die dritte Strahlungsabbildungsvorrichtung D3 an der gegenüberliegenden Seite der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungserzeugungseinheit R vorgesehen, d.h., an der gegenüberliegenden Seite von der Strahlungs-Bestrahlungsseite. Ein Teil der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 ist so vorgesehen, dass er räumlich mit einem Teil der dritten Strahlungsabbildungsvorrichtung D3 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt. Das Subjekt M steht auf einer Stufe, die vor dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S platziert ist, und ist somit hinsichtlich des Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S und der Strahlungserzeugungseinheit R positioniert. Die von der Strahlungserzeugungseinheit R zu dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S abgestrahlte Strahlung X tritt durch das Subjekt M durch und erreicht die Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 bis D3, und wird gefangen, indem sie in Bildsignale umgewandelt wird. Durch die Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 bis D3 erlangte Bildsignale werden einer Kachelanordnungsverarbeitung an einer Bildverarbeitungsvorrichtung ausgesetzt, die nicht dargestellt ist, und dabei ein Strahlungsbild des Subjekts M erlangt. Während die Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 bis D3 hinsichtlich des Gehäuses des Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S in 8A und 8B gekippt vorgesehen sind, um die Dicke des Gehäuses des Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S zu reduzieren, ist die vorliegende Erfindung nicht darauf beschränkt.
Als nächstes wird die fünfte Ausführungsform der vorliegenden Erfindung mit Bezug auf 9A und 9B beschrieben. 9A ist eine schematische Querschnittsansicht, die ein Beispiel gemäß der fünften Ausführungsform darstellt, ist eine vergrößerte Ansicht des eingekreisten Abschnitts in 7A. 9B ist eine schematische Querschnittsansicht, die ein anderes Beispiel gemäß der fünften Ausführungsform darstellt, und ist eine vergrößerte Ansicht des eingekreisten Abschnitts in 7A.
Die mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 und D2 haben jeweils das Strahlungserfassungspaneel 2, den integrierten Schaltkreis IC, der auf der flexiblen Schaltkreistafel 8 und/oder der gedruckten Schaltkreistafel 5 montiert ist, und ein Gehäuse 23. Das Strahlungserfassungspaneel 2 weist ein Pixelfeld mit mehreren Pixeln auf, die in einer zweidimensionalen Matrix feldartig angeordnet sind, und wandelt abgestrahlte Strahlung in Bildsignale um. Der integrierte Schaltkreis IC, der auf der flexiblen Schaltkreistafel 8 und/oder der gedruckten Schaltkreistafel 5 montiert ist, ist elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel 2 verbunden. Das Gehäuse 23 umgibt zumindest das Strahlungserfassungspaneel 2 und den integrierten Schaltkreis IC.
Das Gehäuse 23 von zumindest einer Strahlungsabbildungsvorrichtung für mehrere Strahlungsabbildungsvorrichtungen in dem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S weist die Strahlungsdurchlässigkeit eines Bereichs entsprechend einem Teil davon auf, der sich räumlich mit einem anderen Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz überlappt, die höher ist, als die Strahlungsdurchlässigkeit von Bereichen, die nicht derjenige Bereich sind. Noch genauer weist von den mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen des Strahlungsabbildungsvorrichtungssatzes S das Gehäuse 23 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1, die auf der Strahlungs-Bestrahlungsseite von der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 vorgesehen ist, die folgende Konfiguration auf. Das Gehäuse 23 ist mit der Dicke eines ersten Bereichs, der sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, dünner als die maximale Dicke von anderen Bereichen als dem ersten Bereich derart ausgebildet, dass die Strahlungsdurchlässigkeit des ersten Bereichs höher als die Strahlungsdurchlässigkeit eines zweiten Bereichs ist, der zu dem integrierten Schaltkreis IC der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 gerichtet ist. Noch genauer ist die Dicke der äußeren Form des ersten Bereichs dünner, als die Dicke der äußeren Form des zweiten Bereichs. Gemäß dieser Konfiguration ist eine Absorption von Strahlung an dem Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 unterdrückt, die sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappt. Somit ist von den Bildsignalen, die an der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erlangt werden, eine Verschlechterung von sich räumlich mit dem ersten Bereich überlappenden Pixeln unterdrückt, und Filmfehler unterdrückt, die aufgrund des Gehäuses 23 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 in dem Bild auftreten können, das von der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erlangt ist.
Ein bestimmtes Beispiel der Strahlungsabbildungsvorrichtungen gemäß der fünften Ausführungsform wird im Folgenden beschrieben. Die Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 bis D3 haben jeweils in dem Gehäuse 23 einen Anschlusskörper, der durch das Schichten des Strahlungserfassungspaneels 2, eines drucksensitiven Adhäsivs 3, einer Basis 4 und der gedruckten Schaltkreistafel 5 in dieser Reihenfolge von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus erhalten werden. Das Strahlungserfassungspaneel 2 ist durch das druckempfindliche Adhäsiv 3 mit der Basis 4 gefügt, und somit ist das Strahlungserfassungspaneel 2 durch die Basis 4 gelagert. Die gedruckte Schaltkreistafel 5 ist an der gegenüberliegenden Seite von dem Strahlungserfassungspaneel 2 über der Basis 4 vorgesehen.
Das Gehäuse 23 weist die Dicke der äußeren Form des ersten Bereichs der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 auf, die sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, um dünner als die Dicke der maximalen äußeren Form von Bereichen zu sein, die nicht der erste Bereich sind. Noch genauer ist die Dicke des ersten Bereichs dünner als die Dicke der äußeren Form des zweiten Bereichs ausgebildet, der zu dem integrierten Schaltkreis IC der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 gerichtet ist. Insbesondere ist die Dicke in dem ersten Bereich der äußeren Form des Gehäuses 23 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 bevorzugt ausgebildet, zu dem Endabschnitt des ersten Bereichs immer dünner zu sein. In dem in 9A dargestellten Beispiel ist der Kantenlinienabschnitt, der die Vorderfläche der Strahlungs-Bestrahlungsseite des Gehäuses 23 und die Seitenfläche verbindet, an dem ersten Bereich der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 abgefast, um einen abgeschrägten Bereich (abgeschrägte Fläche) aufzuweisen, die von einer Richtung parallel zu der Seitenfläche des Gehäuses 23 abgeschrägt ist. Entsprechend ist die Dicke der äußeren Form des Gehäuses 23 in dem ersten Bereich im Vergleich zu der Dicke der äußeren Form des Gehäuses 23 in einem dritten Bereich (effektiver Bereich), der zu dem zweiten Bereich und Pixelfeld gerichtet ist. Ebenfalls verringert das Aufweisen des abgeschrägten Bereichs die Höhe der Seitenfläche an dem ersten Bereich des Gehäuses 23 im Vergleich mit einem Fall, in dem die Seitenfläche den abgeschrägten Bereich nicht aufweist, so dass die Strahlungsdurchlässigkeit höher ist. In einem Fall, wie z.B. in 9B, wo der abgeschrägte Bereich im Vergleich zu 9A breiter ausgebildet ist, ist die Höhe der Seitenfläche in dem ersten Bereich des Gehäuses 23 sogar niedriger, so dass die Strahlungsdurchlässigkeit sogar höher ist, und die Breite des ersten Bereichs sogar breiter ist. Der abgeschrägte Bereich ist nicht beschränkt, an dem Seitenabschnitt der Seiten von der Strahlungs-Bestrahlungsseite des Gehäuses 23 aus betrachtet ausgebildet zu sein, wo der erste Bereich vorhanden ist, sondern kann an anderen Seitenabschnitten bereitgestellt sein, wo der erste Bereich nicht vorhanden ist. Das Strahlungserfassungspaneel 2 hat ein Pixelfeld, das in der Lage ist, eine Strahlung zu fangen, und einen Randabschnitt an dem äußeren Umfang des Pixelfelds. Die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 ist so positioniert, dass das Pixelfeld davon sich teilweise mit dem Pixelfeld der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 überlappt, und dabei eine Konfiguration ergibt, in der das Pixelfeld von einer oder der anderen der Strahlungsabbildungsvorrichtungen D1 oder D2 unabhängig von dessen Linie eine Bildinformation erlangen wird. Das gefügte Strahlungsbild wird durch das kachelartige Aneinanderfügen der Bildsignale der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 und der Bildsignale der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2, die nicht durch die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 erlangt wurden, geschaffen. Nun können die Strukturen der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 in einem Bereich von der Kante des Pixelfelds der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 zu der Kante des Gehäuses 23 durch die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 aufgenommen werden, was in Filmfehler resultiert, die in dem gefügten Strahlungsbild auftreten. Somit ist die Dicke der äußeren Form des ersten Bereichs der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1, die sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, dünner als die größte Dicke der äußeren Formen von anderen als dem ersten Bereich ausgebildet. Entsprechend kann eine Abschwächung der Strahlung aufgrund der Absorption der Strahlung durch das Gehäuse 23 in diesem Bereich im Vergleich zu einem Fall unterdrückt werden, indem die Dicke der äußeren Form dieser Position die gleiche wie die Dicke an anderen äußeren Formen ist. Durch das Reduzieren der Ausgabeverschlechterung der Strahlungsbilder kann das Bild dieses Bereichs einer Korrekturverarbeitung durch das Kombinieren mit einer Information betreffend die Ausgabeverschlechterungsgröße aufgrund des Gehäuses 23 in diesem Bereich ausgesetzt werden, von zuvorstehend erlangten Strahlungsbildern, und dabei die Bildqualität verbessert werden.
Der Kantenlinienabschnitt, der die Fläche gegenüber der Strahlungs-Bestrahlungsseite des Gehäuses 23 und die Seitenfläche verbindet, kann an dem ersten Bereich der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 abgefast sein, um einen abgeschrägten Bereich aufzuweisen, wo die Seitenfläche des Gehäuses 23 abgeschrägt ist, wie aus 10A bis 10C ersichtlich ist. In einem Fall wie z.B. in 10B, in dem dafür gesorgt ist, dass der abgeschrägte Bereich im Vergleich zu 10A breiter ist, ist die Höhe der Seitenfläche in dem ersten Bereich des Gehäuses 23 sogar niedriger, und so die Strahlungsdurchlässigkeit sogar höher, und die Breite des ersten Bereichs ist sogar breiter. Ebenfalls kann der abgeschrägte Bereich eine gekrümmte Fläche anstelle einer Ebene sein, wie in 10C dargestellt ist, und eine gekrümmte Fläche und eine Ebene können kombiniert werden. Dies ist auf die Form anwendbar, wo der abgeschrägte Bereich an der Strahlungs-Bestrahlungsseite ausgebildet ist, wie in 9A und ebenfalls in 9B dargestellt ist.
Außerdem kann sich der abgeschrägte Bereich in dem ersten Bereich der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 zu einem Bereich erstrecken, der sich räumlich mit einem Teil der Basis 4 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, wie in 11A bis 11C dargestellt ist. In einem derartigen Fall ist die Seitenfläche der Basis 4 bevorzugt abgeschrägt, um zu dem abgeschrägten Bereich zu passen, wie in 11A dargestellt ist. Ebenfalls kann die gesamte Seitenfläche des Gehäuses 23 in einem abgeschrägten Bereich einem ersten Bereich der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ausgebildet sein, wie in 11B dargestellt ist. Darüber hinaus kann die gesamte Seitenfläche des Gehäuses 23 in einem abgeschrägten Bereich ausgebildet sein, der an dem ersten Bereich der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 eine gekrümmte Fläche aufweist, wie in 11C dargestellt ist.
Der Kantenlinienabschnitt, der die Vorderfläche der Strahlungs-Bestrahlungsseite des Gehäuses 23 und die Seitenfläche verbindet, kann abgefast sein um einen abgeschrägten Bereich aufzuweisen, und der Kantenlinienabschnitt, der die Fläche gegenüber der Strahlungs-Bestrahlungsseite des Gehäuses 23 und die Seitenfläche verbindet, kann abgefast sein, um einen abgeschrägten Bereich aufzuweisen, wie in 12 dargestellt ist. Diese Art von Konfiguration ist bevorzugt an einer Strahlungsabbildungsvorrichtung angewendet, die in einem Strahlungsabbildungsvorrichtungssatz S eingesetzt ist, wie er in 8A und 8B dargestellt ist.
Sechste Ausführungsform
Eine sechste Ausführungsform wird mit Bezug auf 13A und 13B beschrieben. 13A ist eine schematische Querschnittsansicht und eine vergrößerte Ansicht des eingekreisten Abschnitts in 7A, und 13B ist eine schematische Draufsicht einer ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 gemäß der sechsten Ausführungsform. Konfigurationen, die die gleichen wie die in der fünften Ausführungsform sind, sind mit den gleichen Bezugszeichen bezeichnet, und eine ausführliche Beschreibung davon wird ausgelassen.
Die sechste Ausführungsform unterscheidet sich von der fünften Ausführungsform mit Bezug auf den Punkt, dass sie die folgende Konfiguration aufweist. Das Gehäuse 23 hat ein erstes Element 13 und ein zweites Element 24, so dass die Strahlungsdurchlässigkeit in dem ersten Bereich, der sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, höher als im Vergleich zu der Strahlungsdurchlässigkeit in anderen Bereichen als diesem Bereich ist. Gemäß dieser Konfiguration ist eine Strahlungsabsorption an dem sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappenden Gehäuse 23 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 unterdrückt. Entsprechend ist eine Verschlechterung von Bildsignalen unterdrückt, die durch die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 von Pixeln erlangt werden, die sich räumlich mit dem ersten Bereich überlappen, und dabei Filmfehler unterdrückt, die in Bildern aufgrund des Gehäuses 23 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 auftreten können, die durch die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 erlangt werden.
Das erste Element 13 ist aus einem Material hergestellt, das eine hohe Strahlungsdurchlässigkeit im Vergleich zu dem zweiten Element 24 aufweist. Das erste Element 13, das den ersten Bereich ausmacht, benutzt bevorzugt ein Material, das eine Strahlungsdurchlässigkeit von der Strahlungseinführrichtung gleichwertig zu 5 mm Aluminium oder weniger aufweist. CFRP (kohlefaserverstärkte Kunststoffe) werden z.B. verwendet. Der Bereich des ersten Elements 13, das zu dem Pixelfeld gerichtet ist, weist bevorzugt eine Strahlungsdurchlässigkeit auf, die höher als in dem ersten Bereich ist. Andererseits ist das zweite Element 24, das den zweiten Bereich ausmacht, bevorzugt aus einem Material mit einer höheren Steifigkeit als das erste Element 13 und einer niedrigeren Strahlungsdurchlässigkeit ausgebildet. Metallmaterialien wie z.B. Aluminium und Magnesium werden verwendet. Das erste Element 13 und das zweite Element 24 sind unter Verwendung von Schrauben 7 außerhalb des ersten Bereichs gefügt, was eine Konfiguration ergibt, in der die Schrauben 7 nicht in den gefügten Strahlungsbildern aufgenommen werden.
Das Gehäuse 23 weist eine allgemein quadratische Form auf, wie in 13B dargestellt ist. Während eine Seite der vier Seiten unter Verwendung des ersten Elements 13 konfiguriert ist, sind die verbleibenden drei Seiten und alle Eckabschnitte unter Verwendung des zweiten Elements 24 konfiguriert. Diese Konfiguration stellt eine Festigkeit der Vorrichtung sicher, wenn sie auf eine Ecke fallen gelassen wird, und eine allgemeine Steifigkeit. In einem Fall, in dem CFRP als das erste Element 13 verwendet wird, ist die Formbarkeit niedrig, so ist das Ausbilden einer Kastenform schwierig. Auch aus diesem Gesichtspunkt ist das Ausbilden von lediglich einer Seite aus CFRP vorteilhaft. Das Gehäuse 23 ist mit dem Leistungsschalter 10 für die Strahlungsabbildungsvorrichtung, der Anzeigeeinheit 11, wie z.B. einer LED oder Ähnlichem zum Anzeigen des Zustands der Strahlungsabbildungsvorrichtung und dem Verbindungsabschnitt 9 bereitgestellt, der mit dem Kabel 12 verbunden ist, das eine Leistungszufuhr zu und/oder Übertragung/Empfang von Signalen mit dem integrierten Schaltkreis IC durchführt. Diese sind als andere Bereiche in der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 als dem ersten Bereich vorgesehen, der sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappt. Die vorliegende Ausführungsform ergibt eine Konfiguration, in der diese Strukturen nicht in dem gefügten Strahlungsbild aufgenommen sind, in dem das zweite Element 24 bereit gestellt ist. Die flexible Schaltkreistafel 8, die elektrisch mit der gedruckten Schaltkreistafel 5 verbunden ist, ist elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel 2 an zwei wechselweise rechtwinkligen Seiten verbunden. Die flexible Schaltkreistafel 8 der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung D1 ist an einem anderen Bereich als der erste Bereich vorgesehen, der sich räumlich mit der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung D2 überlappt, und ergibt dabei eine Konfiguration, in der die flexible Schaltkreistafel 8 nicht in den gefügten Strahlungsbildern aufgenommen ist. Ebenfalls sind die Bereiche des Gehäuses 23 ausschließlich des ersten Bereichs bevorzugt von außen sichtbar, um eine Installation in der falschen Richtung zu verhindern.
Außerdem kann eine Anordnung derart sein, wie in 14 dargestellt ist, wo von den vier Seiten einer allgemein rechteckigen Form drei Seiten einschließlich des ersten Bereichs unter Verwendung des ersten Elements 13 ausgebildet sind, und die verbleibende eine Seite unter Verwendung des zweiten Elements 24 ausgebildet ist. In diesem Fall sind die flexible Schaltkreistafel 8, die nicht dargestellt ist, der Leistungsschalter 10, die Anzeigeeinheit 11, und die Verbindungseinheit 9 an der einen Seite des Gehäuses 23 bereit gestellt, die aus dem zweiten Element 24 hergestellt ist. Entsprechend dieser Konfiguration sind in einem Fall, in dem das Gehäuse 23 eine allgemein rechteckige Form von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet aufweist, sowohl eine kurze Seite wie auch eine lange Seite unter Verwendung des ersten Elements 13 konfiguriert. In einem Fall, in dem ein in Längsrichtung gefügtes Strahlungsbild zu erhalten ist, können die kurzen Seiten als der erste Bereich überlappt sein, und in einem Fall, in dem ein seitlich gefügtes Strahlungsbild zu erhalten ist, können die langen Seiten als der erste Bereich überlappt sein. Entsprechend ist die Freiheit der Fotografie mit der sechsten Ausführungsform im Vergleich zu der fünften Ausführungsform verbessert.
Während die folgende Erfindung mit Bezug auf beispielhafte Ausführungsformen beschrieben wurde, ist zu verstehen, dass die Erfindung nicht auf die offenbarten beispielhaften Ausführungsformen begrenzt ist. Der Bereich der folgenden Ansprüche soll gemäß der breitesten Interpretation berücksichtigt werden, um alle solche Modifikationen und Äquivalente der Strukturen und Funktionen zu umfassen. Jede der Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung, die voranstehend beschrieben wurde, kann einzeln oder als Kombination einer Mehrzahl der Ausführungsformen oder Merkmale davon implementiert werden, wo das notwendig ist, oder wo die Kombination der Elemente oder Merkmale von einzelnen Ausführungsformen in einer einzelnen Ausführungsform nutzbringend ist.
Ein Strahlungsabbildungssystem hat: mehrere Strahlungsabbildungsvorrichtungen, die jeweils ein Strahlungserfassungspaneel und ein das Strahlungserfassungspaneel umhüllendes Gehäuse haben. Die mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen sind so feldartig angeordnet, dass ein Teil von jeder der Strahlungsabbildungsvorrichtungen sich räumlich von einer Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, und ein Strahlungsbild ausgehend von Bildsignalen von jeder der mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen erlangt wird. Das Gehäuse von zumindest einer Strahlungsabbildungsvorrichtung der mehreren Strahlungsabbildungsvorrichtungen ist so ausgebildet, dass eine Strahlungsdurchlässigkeit des Gehäuses, das den überlappenden Bereich definiert, höher als eine Strahlungsdurchlässigkeit des Gehäuses ist, das einen unterschiedlichen Bereich definiert.
ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
Zitierte Patentliteratur

JP 2012-040140 A [0003, 0003]
JP 2012-040140 [0003]

Claims

Strahlungsabbildungssystem, mit einer Mehrzahl Strahlungsabbildungsvorrichtungen, wobei jede Strahlungsabbildungsvorrichtung umfasst: ein Strahlungserfassungspaneel mit einer Mehrzahl in einer zweidimensionalen Matrix feldartig angeordneter Pixel und das konfiguriert ist, Strahlung in Bildsignale umzuwandeln, und einem Gehäuse, das das Strahlungserfassungspaneel umhüllt; wobei die Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen feldartig so angeordnet sind, dass ein Teil von jeder der Strahlungsabbildungsvorrichtungen sich räumlich von einer Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet überlappt, und ausgehend von Bildsignalen von jeder der Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen ein Strahlungsbild erlangt wird, und wobei das Gehäuse von zumindest einer Strahlungsabbildungsvorrichtung der Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen so ausgebildet ist, dass eine Strahlungsdurchlässigkeit des den überlappenden Bereich definierenden Gehäuses höher als eine Strahlungsdurchlässigkeit des einen unterschiedlichen Bereich definierenden Gehäuses.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 1, wobei jede der Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen außerdem einen integrierten Schaltkreis umfasst, der elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel verbunden ist, wobei das Gehäuse außerdem den integrierten Schaltkreis umhüllt, und wobei von der Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen das Gehäuse einer ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung, die an der Strahlungs-Bestrahlungsseite von einer zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung positioniert ist, derart ausgebildet ist, dass die Strahlungsdurchlässigkeit von einem ersten Bereich der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung, der von der Strahlungs-Bestrahlungsseite betrachtet eine zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung räumlich überlappt, höher als die Strahlungsdurchlässigkeit eines zweiten Bereichs der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung ist, der zu dem integrierten Schaltkreis der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung gerichtet ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 2, wobei die Dicke des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung in dem ersten Bereich kleiner als die Dicke des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung in dem zweiten Bereich ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 3, wobei die durch das Gehäuse definierte Dicke der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung zu einer Außenkante des ersten Bereichs hin kleiner wird.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 2, wobei das Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung umfasst ein erstes Element, das angeordnet ist, den ersten Bereich auszubilden, und ein zweites Element, das angeordnet ist, den zweiten Bereich auszubilden, wobei das zweite Element eine höhere Steifigkeit und eine niedrigere Strahlungsdurchlässigkeit als das erste Element aufweist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 5, wobei das Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung in allgemein rechteckiger Form konfiguriert ist, wobei zumindest eine Seite der vier Seiten der allgemein rechteckigen Form aus dem ersten Element ausgebildet ist und die verbleibenden Seiten der vier Seiten aus dem zweiten Element ausgebildet sind.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 6, wobei die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung außerdem einen Leistungsschalter hat, wobei der Leitungsschalter an einem Abschnitt des Gehäuses bereitgestellt ist, der aus dem zweiten Element ausgebildet ist.
Strahlungsabbildungsvorrichtung nach Anspruch 6, wobei die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung außerdem eine Anzeigeeinheit hat, die konfiguriert ist, einen Leistungszustand der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung anzuzeigen, wobei die Anzeigeeinheit an einem Abschnitt des Gehäuses bereitgestellt ist, der aus dem zweiten Element ausgebildet ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 6, wobei die erste Strahlungsabbildungsvorrichtung außerdem eine Verbindungseinheit hat, die konfiguriert ist, ein Kabel zu empfangen, das in der Lage ist, den integrierten Schaltkreis mit zumindest einem aus einer Leistungszufuhr dazu und Übertragung/Empfang von Signalen bereitzustellen, wobei die Verbindungseinheit an einem Abschnitt des Gehäuses bereitgestellt ist, der aus dem zweiten Element ausgebildet ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 6, wobei das erste Element aus einem Material ausgebildet ist, das eine Strahlungsdurchlässigkeit gleichwertig zu 5 mm Aluminium oder weniger aufweist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 2, wobei die Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen außerdem weiter umfasst eine flexible Schaltkreistafel, die elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel verbunden ist, eine gedruckte Schaltkreistafel, die elektrisch mit der flexiblen Schaltkreistafel verbunden ist, und ein Basiselement, das konfiguriert ist, das Strahlungserfassungspaneel zu lagern, und wobei die gedruckte Schaltkreistafel an einer Seite des Basiselements vorgesehen ist, die eine gegenüberliegende Seite zu einer Seite ist, an der das Strahlungserfassungspaneel vorgesehen ist, und der integrierte Schaltkreis auf der gedruckten Schaltkreistafel und/oder der flexiblen Schaltkreistafel montiert ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 1, außerdem mit einem Aufnahmegehäuse, das konfiguriert, die Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen aufzunehmen, wobei das Aufnahmegehäuse eine Schutzplatte hat, die konfiguriert ist, die Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen zu schützen, wobei die Schutzplatte eine Verteilung in der Dicke aufweist, so dass Filmfehler in den Strahlungsbildern unterdrückt sind.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 1, wobei jede der Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen außerdem einen integrierten Schaltkreis hat, der elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel verbunden ist, wobei das Gehäuse außerdem den integrierten Schaltkreis umhüllt, und wobei aus der Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen das Gehäuse einer ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung, die an der Strahlungs-Bestrahlungsseite von einer zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung positioniert ist, eine Dicke an einem ersten Bereich, der von der Strahlungs-Bestrahlungsseite aus betrachtet die zweite Strahlungsabbildungsvorrichtung räumlich überlappt, derart ausgebildet ist, dass sie dünner als die Dicke des Gehäuses an dem zweiten Bereich der zweiten Strahlungsabbildungsvorrichtung ist, die zu dem integrierten Schaltkreis der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung gerichtet ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 13, wobei die Dicke des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung in dem ersten Bereich zu einer Außenkante des ersten Bereichs hin dünner wird.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 13, wobei das Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung umfasst: ein erstes Element, das angeordnet ist, den ersten Bereich auszubilden, und ein zweites Element, das angeordnet ist, den zweiten Bereich auszubilden, wobei das zweite Element eine höhere Steifigkeit und eine niedrigere Strahlungsdurchlässigkeit als das erste Element aufweist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 15, wobei das Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung als allgemein rechteckige Form konfiguriert ist, und zumindest eine Seite der vier Seiten der allgemein rechteckigen Form aus dem ersten Element ausgebildet ist, und die verbleibenden Seiten der vier Seiten aus dem zweiten Element ausgebildet sind.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 13, wobei die Mehrzahl der Strahlungsabbildungsvorrichtungen jeweils außerdem umfasst eine flexible Schaltkreistafel, die elektrisch mit dem Strahlungserfassungspaneel verbunden ist, eine gedruckte Schaltkreistafel, die elektrisch mit der flexiblen Schaltkreistafel verbunden ist, und ein Basiselement, das konfiguriert ist, das Strahlungserfassungspaneel zu lagern, wobei die gedruckte Schaltkreistafel an einer Seite des Basiselements vorgesehen ist, die eine gegenüberliegende Seite zu einer Seite ist, auf der das Strahlungserfassungspaneel vorgesehen ist, und der integrierte Schaltkreis auf der gedruckten Schaltkreistafel und/oder der flexiblen Schaltkreistafel montiert ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 13, wobei das Gehäuse der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung in dem ersten Bereich einen abgeschrägten Bereich aufweist, der hinsichtlich einer Richtung parallel zu einer Seitenfläche des Gehäuses der ersten Strahlungsabbildungsvorrichtung abgeschrägt ist.
Strahlungsabbildungssystem nach Anspruch 18, wobei der abgeschrägte Bereich eine gekrümmte Fläche aufweist.