DE102014114721B4

DE102014114721B4 - Elektrischer Steckverbinder und Verfahren zur Überwachung des Zustands einer Kontaktoberfläche eines elektrischen Steckverbinder-kontaktes

Info

Publication number: DE102014114721B4
Application number: DE102014114721.9A
Authority: DE
Inventors: Lutz Tröger; Stefanie Damsch
Original assignee: Harting Electric GmbH and Co KG
Current assignee: Harting Electric Stiftung and Co KG
Priority date: 2014-10-10
Filing date: 2014-10-10
Publication date: 2019-08-29
Anticipated expiration: 2034-10-11
Also published as: DE102014114721A1; WO2016055056A1; EP3204988B1; EP3204988A1

Abstract

Elektrischer Steckverbinder, geeignet zur Überwachung des Zustands einer Kontaktoberfläche eines elektrischen Steckverbinderkontaktes, umfassend eine Messeinrichtung (5) und Sensoren, (4,4',4"), sowie den elektrischen Steckverbinderkontakt, der zumindest ein Kontaktbasismaterial (1) und eine darauf angeordnete Kontaktoberflächenbeschichtung (2) aufweist, wobei die Kontaktoberflächenbeschichtung (2) eine Zwischenschicht (21) und eine auf der Zwischenschicht (21) angeordnete Oberflächenschicht (22) besitzt und wobei die Sensoren (4,4',4") in der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) des Steckverbinderkontaktes angeordnet sind, wobei die Sensoren (4,4',4") als Nanostrukturen aus Kohlenstoff ausgebildet sind.

Description

Die Erfindung betrifft in einem ersten Aspekt einen elektrischen Steckverbinder gemäß dem Oberbegriff des unabhängigen Hauptanspruchs 1.
Die Erfindung betrifft in einem zweiten Aspekt ein Verfahren zur Überwachung des Zustands der Kontaktoberfläche des elektrischen Steckverbinderkontaktes mittels des Steckverbinders nach einem der Ansprüche 1 bis 6.
Derartige Kontaktoberflächen umfassen eine Kontaktoberflächenbeschichtung, aufweisend zumindest eine Zwischenschicht, die zumindest größtenteils aus Nickel gebildet sein kann, und weiterhin aufweisend eine darauf angeordnete Oberflächenschicht, die aus einem Edelmetall, beispielsweise aus Silber oder Gold, oder auch aus einer organischen Schicht bestehen kann. Die Kontaktoberflächenbeschichtung, und insbesondere ihre Oberflächenschicht, dient in der Regel dazu, das Leitverhalten eines elektrischen Steckverbinderkontaktes, auf den sie aufgebracht ist, zu verbessern und diesen Steckverbinderkontakt gegen Oxydation zu schützen.
Stand der Technik
Aus den Druckschriften US 2007 0158 619 A1 und US 2007 0199 826 A1 sind in einer Matrix eingelagerte Kohlenstoffnanoröhren (carbon nanotubes; „CNTs“) sowie die Herstellung solcher Schichten mittels galvanischer Kontaktoberflächenbeschichtung bereits bekannt.
Aus den Druckschriften DE 10 2008 001 000 A1 und DE 10 2009 002 178 A1 ist die Herstellung und Anwendung von in einer Matrix eingebetteten Kohlenstoffnanostrukturen als Material für Elektroden mit verbesserter Leistungsfähigkeit und als strangförmiges Kompositleitermaterial bekannt.
Aus der Druckschrift DE 10 2009 054 427 A1 ist für Elektronikanwendungen ebenfalls ein Verfahren bekannt, bei welchem die kohlenstoff- und edelmetallhaltige Kontaktoberflächenbeschichtung als Paste oder in Pulverform auf ein Substrat aufgebracht wird.
Aus den Druckschriften EP 1 566 814 B1 und DE 603 15 063 T2 ist es bekannt, für Schleifkontakte Kohlenstoffnanofasern oder Kohlenstoffnanoröhren auf der Oberfläche von Metallpartikeln aufzubringen.
Die Druckschrift WO 2007 118 337 A1 schlägt vor, dass solche Kohlenstoffnanofasern oder Kohlenstoffnanoröhren in eine Metallmatrix eingebracht werden um die thermische und elektrische Leitfähigkeit zu erhöhen.
Die Druckschrift DE 10 318 890 B4 beschreibt ein Halbzeug für die Herstellung von Steckkontakten in Steckverbindern für elektrische Gleichstromnetze in Kraftfahrzeugen. Dabei wird bezüglich der Steckkontakte offenbart, zwischen dem Grundkörper und der kontaktgebenden Beschichtung eine Zwischenschicht vorzusehen, welche die Diffusion von Bestandteilen des Materials des Grundkörpers in die kontaktgebende Beschichtung und auf die Kontaktoberfläche hemmt. Eine solche Zwischenschicht kann zum Beispiel aus wenigen (im Nickel bestehen.
Die Druckschrift DE 10 2010 018 039 A1 offenbart eine Vorrichtung zur Erfassung einer Beschädigung einer Beschichtung auf einem Bauteil, insbesondere zur Erfassung eines in eine Beschichtung eingebrachten Kratzers, wobei auf dem Bauteil oder auf einer auf dem Bauteil vorgesehenen Substratschicht bereichsweise mindestens ein Strukturelement und auf dem Bauteil oder der Substratschicht eine Beschichtung vorgesehen ist, wobei das mindestens eine Strukturelement in die Beschichtung eingebettet, von der Beschichtung überdeckt oder auf der Beschichtung angeordnet ist, und wobei das mindestens eine Strukturelement mit einem Steuermodul derart in Verbindung steht, dass mit dem Steuermodul das mindestens eine Strukturelement mit einer physikalischen Messgröße beaufschlagbar und eine Beschädigung oder Veränderung des mindestens einen Strukturelementes mit dem Steuermodul und/oder mit einem weiteren, mit dem mindestens einen Strukturelement in Verbindung stehenden Modul über eine durch die Beschädigung oder Veränderung des Strukturelementes verursachte Veränderung der physikalischen Messgröße erfassbar ist. Unter anderem wird weiterhin offenbart, dass es sich bei der physikalischen Messgröße um einen elektrischen Strom handeln kann.
Im Stand der Technik existiert der Nachteil, dass bezüglich des aktuellen Zustandes der Oberfläche einzelner Kontakte im Betrieb eine ständige Unsicherheit besteht. Oft werden die Kontaktoberflächenbeschichtungen bei der Herstellung der Kontakte zur Sicherheit unnötig stark ausgestaltet, was einen erhöhten Materialaufwand zu Folge hat. Im Einzelfall verbleibt trotzdem eine Restunsicherheit.
Aufgabenstellung
Die Aufgabe der Erfindung besteht daher darin, eine solche kontinuierliche Zustandsüberwachung einer Kontaktoberfläche eines Steckverbinderkontaktes mit einem möglichst geringen Aufwand zu ermöglichen.
Die Aufgabe wird durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche gelöst.
Vorteilhafte Ausgestaltungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen angegeben.
Die Kontaktoberfläche umfasst eine Kontaktoberflächenbeschichtung, aufweisend zumindest eine Zwischenschicht sowie eine darauf angeordnete Oberflächenschicht. Bei der Herstellung kann die Kontaktoberflächenbeschichtung in mehreren Schritten auf ein Kontaktbasismaterial aufgebracht werden, indem zunächst die Zwischenschicht auf das Kontaktbasismaterial aufgebracht wird und danach die Oberflächenschicht auf die Zwischenschicht aufgebracht wird. Die Zwischenschicht kann zumindest größtenteils aus Nickel gebildet sein. Die Oberflächenschicht kann zumindest größtenteils aus einem Edelmetall wie Silber oder Gold oder auch aus einer organischen Schicht bestehen. Die Kontaktoberflächenbeschichtung und insbesondere deren Oberflächenschicht kann vorteilhafterweise dazu dienen, das Leitverhalten des elektrischen Kontaktes zu verbessern. Weiterhin kann die Kontaktoberflächenbeschichtung und insbesondere die Oberflächenschicht den Kontakt gegen Oxydation schützen.
Das erfindungsgemäße Verfahren dient dazu, den Verschleiß eines Steckverbinderkontaktes auch während seines Betriebs in Echtzeit zu überwachen. Bei dem Steckverbinderkontakt kann es sich beispielsweise um einen Pin- oder einen Buchsenkontakt handeln, der in einem Isolierkörper des Steckverbinders angeordnet ist oder dafür vorgesehen ist, in einem solchen Isolierkörper angeordnet zu werden. Der Steckverbinderkontakt weist zumindest das Basismaterial und die darauf angeordnete Kontaktoberflächenbeschichtung auf.
Die besagte Überwachung des Verschleißes ist besonders vorteilhaft, um ein sogenanntes „Over-Engineering“ zu vermeiden, also z.B. um die Kontaktoberflächenbeschichtung nicht aus Unsicherheit unnötig stark ausgestalten zu müssen, weil mit einem ausreichenden Vorlauf bekannt ist, oder zumindest daraus extrapoliert werden kann, wann ein Kontakt voraussichtlich ausfallen wird.
Mit Hilfe dieses Verfahrens wird eine Ermittlung der dazu benötigten Informationen über die Belastungshistorie des Steckverbinders auch in Echtzeit auf Einzelkontaktebene ermöglicht.
Von besonderem Vorteil ist es, dass durch die Erfindung eine aus Unsicherheit stattfindende Überdimensionierung der Kontaktoberflächenbeschichtung nicht mehr notwendig ist. Stattdessen kann gemessen und weiterhin aus den gewonnenen Messungen extrapoliert werden, wann ein Steckverbinder bzw. seine Steckverbinderkontakte voraussichtlich ausfallen werden. Somit ist es möglich, den jeweiligen Steckverbinder ggf. rechtzeitig auszutauschen, was in vielen Fällen ausreichend ist. Dadurch kann in einigen Fällen auch besonders wertvolles Veredelungsmaterial, möglicherweise sogar Silber oder Gold, eingespart werden.
Besonders vorteilhaft ist es, dass bei der Anwendung unabhängig von Fertigungsschwankungen eine ständige individuelle Kontrolle des Zustands der Oberfläche des jeweiligen Steckverbinderkontaktes existiert.
Dies ist insbesondere für sicherheitsrelevante Anwendungen von großer Bedeutung, weil konkrete Aussagen über den Zustand des jeweils verwendeten Steckverbinders, d.h. seiner einzelnen Steckverbinderkontakte, gemacht werden können.
Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass Wartungs- und Reparaturarbeiten vorausschauend geplant werden können, so dass der wirtschaftliche Schaden, der gegebenenfalls durch den Ausfall eines Steckverbinders besteht, überschaubar bleibt.
Es ist daher besonders vorteilhaft, während der Fertigung in die Kontaktoberfläche, insbesondere in die Zwischenschicht, Sensoren, insbesondere Sensorstrukturen, einzubringen. Insbesondere ist es von Vorteil, wenn diese Sensoren mit geringem Aufwand elektronisch ausgewertet werden können, beispielsweise mit einer einfachen Widerstandsmessung.
Insbesondere ist es vorteilhaft, wenn die Zwischenschicht eine Matrix aufweist und wenn in diese Matrix bestimmte Strukturen als Sensoren eingelagert werden, die insbesondere die Leitfähigkeit der Matrix beeinflussen. Beispielswiese können Nanostrukturen, insbesondere Nanofasern und/oder Nanoröhren in die Zwischenschicht eingebracht werden, wobei diese Nanostrukturen einen höheren spezifischen elektrischen Leitwert besitzen als die weitere Zwischenschicht.
Alternativ dazu können auch Lichtwellenleiter als Sensoren Verwendung finden.
Beim Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung, insbesondere der Zwischenschicht, werden die Sensoren, insbesondere die Nanostrukturen, zumindest teilweise beschädigt.
Beispielsweise kann aus der daraus resultierenden Änderung des elektrischen Leitverhaltens über eine Widerstandsmessung / Leitfähigkeitsmessung zumindest ein signifikantes Maß für den Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung gewonnen werden. Alternativ dazu kann, falls die Sensoren als Lichtwellenleiter ausgebildet sind, aus Photometrischen Größen, d.h. optischen Messgrößen, ein signifikantes Maß für den Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung gewonnen werden.
Figurenliste
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in den Zeichnungen dargestellt und wird im Folgenden näher erläutert. Es zeigen:

1a einen Steckverinderkontakt mit einer unbeschädigten Kontaktoberflächenbeschichtung und eine Gegenkontaktzunge;
1b den Steckverbinderkontakt, mit der Kontaktoberflächenbeschichtung, die bereits einen Abrieb erfahren hat;
2a den unbeschädigten Steckverbinderkontakt, mit Sensoren in der Kontaktoberflächenbeschichtung;
2b den Steckverbiderkontakt, mit den zum Teil bereits zerstörten Sensoren in der teilweise bereits abgeriebenen Kontaktoberflächenbeschichtung;
3a einen angedeuteten möglichen geometrischen Verlauf einer Nanostruktur in einer Zwischenschicht;
3b den unbeschädigten Steckverbinderkontakt mit Sensoren und einer Messeinrichtung;
3c den teilweise abgeriebenen Steckverbinderkontakt mit Sensoren und einer Messeinrichtung;
4a Eine mögliche Ausführung eines Verlaufs eines Sensors in der Zwischenschicht eines Steckverbinderkontaktes;
4b eine zweite mögliche Ausführung eines Verlaufs mehrerer Sensoren in der Zwischenschicht des Steckverbinderkontaktes;
4c eine dreidimensionale Darstellung eines Steckverbinderkontaktes, in dessen Kontaktoberflächenbeschichtung ein angedeutetes Netzwerk von Sensoren das Kontaktbasismaterial umgibt.

Die Figuren enthalten teilweise vereinfachte, schematische Darstellungen. Zum Teil werden für gleiche, aber gegebenenfalls nicht identische Elemente identische Bezugszeichen verwendet. Verschiedene Ansichten gleicher Elemente könnten unterschiedlich skaliert sein.
Die 1a und 1b zeigen jeweils eine Anordnung, die aus dem Stand der Technik bekannt ist, nämlich einen Kontakt, bei dem es sich insbesondere um einen Steckverbinderkontakt, d.h. um einen elektrischen Kontakt eines Steckverbinders, handelt, z.B. um einen Pin- oder Buchsenkontakt, der in einem Isolierkörper des Steckverbinders angeordnet ist oder dafür vorgesehen ist, in einem solchen Isolierkörper angeordnet zu werden.
Der Steckverbinderkontakt besitzt ein Kontaktbasismaterial 1, auf das z.B. zum Korrosionsschutz und/oder zur Verbesserung der elektrischen Leitfähigkeit eine Kontaktoberflächenbeschichtung 2 aufgebracht ist, wobei die Kontaktoberflächenbeschichtung 2, in diesem Fall durch eine Gegenkontaktzunge 3, einen Abrieb erfährt und dadurch zunächst abgerieben und langfristig zerstört wird. Die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 besteht aus einer Zwischenschicht 21 und einer Oberflächenschicht 22.
Die 1a zeigt den Steckverbinderkontakt mit einem Kontaktbasismaterial 1 sowie der darauf aufgebrachten Kontaktoberflächenbeschichtung 2 und eine Gegenkontaktzunge 3.
Die 1b zeigt den Steckverbinderkontakt in einem Zustand, bei dem die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 bereits teilweise abgerieben ist. Die Oberflächenschicht 22 ist nur noch in Fragmenten vorhanden. Auch die Zwischenschicht 21 ist zumindest in einem Bereich bereits teilweise abgerieben. Es ist leicht erkennbar, dass der Abrieb von dem Zusammenwirken des Kontaktes mit der Gegenkontaktzunge 3 stammt.
Die 2a und 2b zeigen vergleichbare Anordnungen, bei denen jedoch zusätzlich in die Kontaktoberflächenbeschichtung, insbesondere in die Zwischenschicht 21, mehrere Sensoren 4,4',4" eingebracht sind. Diese Sensoren 4,4',4" können sich insbesondere dadurch auszeichnen, dass sie eine höhere spezifische elektrische Leitfähigkeit besitzen als die Zwischenschicht 21, in die sie gegebenenfalls eingebracht sind. In einer alternativen Ausführung könnte es sich bei den Sensoren 4,4', 4" aber beispielsweise auch um Lichtwellenleiter, z.B. Glasfaserleitungen, handeln.
In der 2a sind die in die noch unbeschädigte Kontaktoberflächenbeschichtung 2 eingebrachten Sensoren 4,4',4" dargestellt. Es ist selbstverständlich, dass die drei dargestellten Sensoren 4,4',4" stellvertretend für eine in der Zwischenschicht 21 existierende Vielzahl von Sensoren stehen. Insbesondere kann es sich bei den Sensoren 4,4',4" um Nanostrukturen handeln, welche in die Kontaktoberflächenbeschichtung 2, insbesondere in die Matrix der Zwischenschicht 21, eingebracht sind.
In der 2b ist dargestellt, wie die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 einen so starken Abrieb erfahren hat, dass die im äußeren Bereich der Zwischenschicht 21 angeordneten Sensoren, 4,4', die stellvertretend für einen ersten Teil der Sensoren stehen, zumindest teilweise zerstört sind, wodurch ihre verglichen mit der Kontaktoberflächenbeschichtung besonders gut elektrisch leitende Funktion zumindest erheblich reduziert ist. Ein weiterer Sensor 4", der näher am Kontaktbasismaterial angeordnet ist und stellvertretend für einen zweiten Teil der Sensoren steht, ist dagegen unzerstört und erhält so beispielsweise seinen hohen Leitwert aufrecht.
Die 3a deutet einen realistischeren Verlauf einer Nanostruktur in der Matrix einer Kontaktoberflächenbeschichtung 2 an. Weiterhin ist auch eine daran angeschlossene Messeinrichtung 5 dargestellt. Diese beinhaltet im vorliegenden Beispiel Mittel zur elektrischen Widerstandsmessung. Aufgrund des wesentlich höheren Leitwerts, durch den sich der Sensor 4 von der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 unterscheidet, kann trotz der vergleichsweise großen Länge des Sensors 4 von der Messeinrichtung 5 eine Aussage darüber getroffen werden, ob der Sensor 4 beschädigt ist, oder ob der Sensor 4 unbeschädigt ist und somit eine elektrisch leitende Verbindung mit dem für ihn typisch hohen Leitwert darstellt. Doch auch bei einer teilweisen Beschädigung des Sensors 4 ist der dazugehörige Stromkreis nicht vollständig unterbrochen, sondern lediglich dessen Leitwert verringert, da seine an die Beschädigung grenzenden Enden über die Kotaktoberflächenbeschichtung 2 elektrisch leitend verbunden sind und auch die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 elektrisch leitend ist, wenngleich ihr Leitwert auch geringer ist als der des Sensors 4,4',4". Bei einer Vielzahl solcher Sensoren 4,4',4" kann mittels einer statistischen Auswertung somit auch das Ausmaß der Zerstörung der Sensoren 4 Berücksichtigung finden.
Die 3b zeigt in eine schematisierte Darstellung eine Ausführung, bei der mehrere Sensoren 4,4',4", die über das Kontaktbasismaterial 1 unterschiedlich weit in den Kontakt hineingeführt werden. Von dort aus dringen die Sensoren 4,4',4" auch unterschiedlich tief in die Kontaktoberflächenbeschichtung 2 ein. Auf diese Weise verlaufen sie über einen relativ langen Bereich durch das Kontaktbasismaterial 1, dessen Leitwert noch einmal deutlich geringer ist als der Leitwert der Kontaktoberflächenbeschichtung 2, was die Messbarkeit verbessert. In einer alternativen Ausführung könnten die Sensoren selbstverständlich auch ausschließlich in der Kontaktoberflächenbeschichtung liegen ohne das Kontaktbasismaterial zu passieren.
In der 3c ist zusätzlich die Gegenkontaktzunge 3 dargestellt, durch die ein Teil der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 abgerieben ist. Dementsprechend ist zumindest ein erster Teil der Sensoren 4,4' teilweise zerstört, d.h. unterbrochen, und besitzt somit, verglichen mit ihrem ursprünglichen Zustand, eine zumindest verringerte elektrische Leitfähigkeit, während ein weiterer Teil der Sensoren, hier dargestellt durch den weiteren Sensor 4", nach wie vor unzerstört ist und seine ursprüngliche Leitfähigkeit aufrecht erhält.
Es ist insbesondere beim Einsatz von Nanostrukturen wie Nanofasern und/oder Nanoröhren als Sensoren 4,4',4", mit denen die Kontaktoberfläche durchsetzt ist, leicht nachvollziehbar, dass die gezeigten Sensoren 4,4',4" jeweils exemplarisch für eine Vielzahl von Sensoren stehen, dass deren geometrische Verteilung ebenfalls statistischer Natur ist, und dass daher bei den Messungen statistische Erkenntnisse über den Zustand der Gesamtheit dieser Sensoren 4,4',4" gewonnen werden. Tatsächlich lassen diese statistischen Erkenntnisse jedoch, wie mit Hilfe von Messungen und Simulationen herausgefunden wurde, signifikante Rückschlüsse auf den Zustand der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 zu.
In der 4a ist exemplarisch ein Sensor 4 in der angedeuteten Form einer Nanostruktur dargestellt, der innerhalb der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 an zwei gegenüberliegenden Seiten des Kontakts im Wesentlichen in Steckrichtung verläuft und sich somit von einer Seite des Kontaktes zur anderen Seite des Kontaktes erstreckt und der am Fuß des Steckverbinders an jeder der beiden Seiten zur Auswertung elektrisch leitend mit der Messeinrichtung 5 verbunden ist. Diese Ausführungsform besitzt den Vorteil, dass der Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung 2 über die gesamte Kontaktlänge automatisch mit gleicher Gewichtung ausgewertet wird.
In der 4b sind exemplarisch drei solche Sensoren 4,4',4" dargestellt, die jeweils nur an einer Seite des Kontaktes an die Messeinrichtung 5 angeschlossen sind und daher entsprechend ihrer Länge unterschiedlich weit in Steckrichtung verlaufen. Es ist leicht erkennbar dass ein Abrieb an der Spitze des Kontaktes bei der statistischen Auswertung geringer gewichtet ist als ein Abrieb an demjenigen Bereich, an dem die Sensoren 4,4',4" an das Messeinrichtung 5 angeschlossen sind. Es empfiehlt sich also, die Konzentration der Sensoren an denjenigen Stellen, an denen ein hoher Reibverschleiß zu erwarten ist, zu erhöhen. Diese Darstellung dient in erster Linie dem prinzipiellen Verständnis dieses Vorgangs.
Die 4c zeigt einen Steckverbinderkontakt in einer dreidimensionalen Darstellung. Dabei ist das Kontaktbasismaterial von einem Netz von Sensoren umgeben. Die Konzentration der Sensoren bleibt, von geringfügigen statistischen Schwankungen abgesehen, über die Oberfläche des Steckverbinderkontaktes konstant.
Bezugszeichenliste

1: Kontaktbasismaterial
2: Kontaktoberflächenbeschichtung
21: Zwischenschicht
22: Oberflächenschicht
3: Gegenkontaktzunge
4,4',4": Sensoren
5: Messeinrichtung

Claims

Elektrischer Steckverbinder, geeignet zur Überwachung des Zustands einer Kontaktoberfläche eines elektrischen Steckverbinderkontaktes, umfassend eine Messeinrichtung (5) und Sensoren, (4,4',4"), sowie den elektrischen Steckverbinderkontakt, der zumindest ein Kontaktbasismaterial (1) und eine darauf angeordnete Kontaktoberflächenbeschichtung (2) aufweist, wobei die Kontaktoberflächenbeschichtung (2) eine Zwischenschicht (21) und eine auf der Zwischenschicht (21) angeordnete Oberflächenschicht (22) besitzt und wobei die Sensoren (4,4',4") in der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) des Steckverbinderkontaktes angeordnet sind, wobei die Sensoren (4,4',4") als Nanostrukturen aus Kohlenstoff ausgebildet sind.
Elektrischer Steckverbinder gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Messeinrichtung (5) Mittel zur elektrischen Widerstandsmessung aufweist.
Elektrischer Steckverbinder gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Sensoren (4,4',4") durch in eine Matrix der Zwischenschicht (21) eingelagerte Strukturen gebildet sind.
Elektrischer Steckverbinder gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Sensoren (4,4',4") in der Zwischenschicht (21) angeordnet sind.
Elektrischer Steckverbinder gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Zwischenschicht (21) aus Nickel gebildet ist.
Elektrischer Steckverbinder gemäß einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Sensoren (4,4',4") einen höheren elektrischen Leitwert besitzen als die Zwischenschicht (21).
Verfahren zur Überwachung des Zustands der Kontaktoberfläche des elektrischen Steckverbinderkontaktes mittels des elektrischen Steckverbinders nach einem der vorstehenden Ansprüche, wobei die Messeinrichtung (5) in einem ersten Verfahrensschritt eine Leitfähigkeitsmessung durchführt und in einem zweiten Verfahrensschritt aus der gemessenen Leitfähigkeit ein signifikantes Maß für den Abrieb der Kontaktoberflächenbeschichtung (2) gewonnen wird.