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Die Erfindung betrifft Verfahren und Systeme zum Kalibrieren eines Shunt-Widerstands, insbesondere eines metallischen Shunt-Widerstands.
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Stand der Technik
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Für Stromregelverfahren ist es notwendig, den zu regelnden Strom zu messen. Üblicherweise wird der Strom indirekt als Spannung über einen von dem zu messenden Strom durchflossenen Messwiderstand bzw. Shunt-Widerstand gemessen. Aus dem Verhältnis von gemessener Spannung und Widerstand des durchflossenen Shunt-Widerstands kann dann auf den Messstrom zurückgeschlossen werden. Die Präzision der Strommessung hängt dabei entscheidend von der präzisen Kenntnis über den Widerstandswert des Shunt-Widerstands ab.
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Häufig werden Shunt-Widerstände verwendet, deren Widerstandstoleranz gering genug für den zu messenden Strom ist und deren Temperaturabhängigkeit im Idealfall Null ist oder zumindest einer bekannten Verteilung folgt. In letzterem Fall kann die an dem Shunt-Widerstand gemessene Spannung gemäß der bekannten Temperaturabhängigkeit korrigiert werden. Beispielsweise kann die gemessene Spannung mit einer Referenzspannung korrigiert werden, welche die gleiche bekannte Temperaturabhängigkeit aufweist wie der Shunt-Widerstand.
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Die Bestimmung der Referenzspannung kann beispielsweise vor der ersten Inbetriebnahme des Shunt-Widerstands erfolgen und als Referenz in die Messapparatur vorkonfiguriert werden. Insbesondere metallische Shunt-Widerstände können jedoch ihren Widerstandswert im Laufe des Betriebs ändern, beispielsweise durch Materialalterung. Da diese Materialalterung unter anderem von dem vor Inbetriebnahme unbekannten Stromfluss durch den Shunt-Widerstand abhängen kann, kann eine einmalige Vorkonfiguration der Messapparatur mit einer Referenzkurve die Materialalterung nicht abbilden.
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Aus der Druckschrift
US 2011/0033985 A1 ist es bekannt, einen Shunt-Widerstand mit geringer Temperaturabhängigkeit des Widerstands auf einem integrierten Schaltung anzuordnen, wobei eine Kalibrierung des Shunt-Widerstands mit Komponenten der integrierten Schaltung erfolgen kann.
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Offenbarung der Erfindung
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Die vorliegende Erfindung schafft gemäß einer Ausführungsform einen Shunt-Widerstand, mit zwei Messanschlüssen zum Anlegen eines Messstroms, welcher entlang einer Hauptstromrichtung durch den Shunt-Widerstand fließt, Schlitzstrukturen, welche den Shunt-Widerstand entlang der Hauptstromrichtung in zwei Seitenstrombereiche mit jeweils einer ersten Breite und einen Hauptstrombereich mit einer zweiten Breite teilen, und zwei Kalibrieranschlüssen, welche quer zu der Hauptstromrichtung an den Seitenstrombereichen angeschlossen sind. Dieser Shunt-Widerstand bietet den Vorteil, dass die Seitenstrombereichen hochohmigere Kalibrierwiderstände aufweisen, welche insbesondere hochohmiger als der Shunt-Widerstand entlang der Hauptstromrichtung sind, durch die ein Kalibriersignal geringer Stromstärke geleitet werden kann, so dass die eigentliche Strommessung durch den Hauptstrombereich nicht beeinträchtigt wird. Zugleich weisen die Seitenstrombereiche ein nahezu identisches Verhalten bezüglich Temperaturabhängigkeit, Materialalterung und stromflussbedingter Widerstandsänderung auf, so dass von den in den Seitenstrombereichen gemessenen Charakteristika des Widerstands auf die Änderungen des Widerstands im Hauptstrombereich zurückgeschlossen werden kann. Diese Informationen können in vorteilhafter Weise dazu genutzt werden, die Strommessungen im Hauptstrombereich hinsichtlich Temperaturabhängigkeit, Materialalterung und stromflussbedingter Widerstandsänderung präzise und während des Betriebs des Shunt-Widerstands zu korrigieren.
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Gemäß einer weiteren Ausführungsform schafft die vorliegende Erfindung daher ein System zum Erfassen eines Messstroms, mit einem erfindungsgemäßen Shunt-Widerstand, einer Erfassungsschaltung, welche mit den Messanschlüssen des Shunt-Widerstands verbunden ist, und welche dazu ausgelegt ist, einen durch den Shunt-Widerstand fließenden Messstrom zu erfassen und in Abhängigkeit von dem erfassten Messstrom ein Messsignal zu erzeugen, einer Kalibriereinrichtung, welche mit den Kalibrieranschlüssen verbunden ist, und welche dazu ausgelegt ist, eine Referenzspannung oder einen Referenzstrom an die zwei Kalibrieranschlüsse anzulegen und in Abhängigkeit von einer über den zwei Kalibrieranschlüssen abfallenden Spannung eine Kalibrierspannung zu ermitteln, und einer Korrekturschaltung, welche mit der Kalibriereinrichtung und der Erfassungsschaltung verbunden ist, und welche dazu ausgelegt ist, in Abhängigkeit von der erfassten Kalibrierspannung das von der Erfassungsschaltung erzeugte Messsignal zu korrigieren.
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Eine Möglichkeit zur Ausgestaltung der Kalibriereinrichtung umfasst dabei eine Gleichstromquelle, welche an die Kalibrieranschlüsse des Shunt-Widerstands angeschlossen ist, und einen Operationsverstärker, welcher dazu ausgelegt ist, eine über die Kalibrieranschlüsse abfallende Gleichspannung zu erfassen und daraus die Kalibrierspannung zu erzeugen. Dies bietet den Vorteil, mit einem Gleichstrom geringer Stromstärke die Widerstandsänderungen in den Seitenstrombereichen des Shunt-Widerstands zu ermitteln, ohne des Messstrom zu verfälschen.
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Diese Möglichkeit kann statt mit einer Gleichstromquelle mit einer Wechselstromquelle ausgestaltet werden. Diese hat – eine geeignete Frequenz für den eingeprägten Wechselstrom vorausgesetzt – den Vorteil, dass unabhängig von der Stärke des eingeprägten Stromes der Mittelwert des Stromes, der in den Seitenstrombereichen fließt, durch den zur Kalibrierung eingeprägten Strom nicht verändert wird. Dadurch erfolgt keine Änderung des Alterungsverhaltens in diesen Pfaden gegenüber dem Hauptstrombereich.
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Eine Möglichkeit zur Ausgestaltung der Kalibriereinrichtung umfasst eine Wechselspannungsquelle, welche dazu ausgelegt ist, die Kalibrieranschlüsse mit einer Referenzwechselspannung zu beaufschlagen, zwei Kondensatoren, welche jeweils mit einem der zwei Kalibrieranschlüsse verbunden sind, zwei Widerstände, welche jeweils zwischen die zwei Kondensatoren und einen Masseanschluss gekoppelt sind, und einen Operationsverstärker, welcher dazu ausgelegt ist, eine Spannungsdifferenz zwischen den zwei Knotenpunkten zwischen den zwei Kondensatoren und den zwei Widerständen abzugreifen und daraus die Kalibrierspannung zu erzeugen. Die Kondensatoren können mit den Widerständen der Seitenstrombereiche des Shunt-Widerstands als Hochpass zusammenwirken, dessen Grenzfrequenz von den Widerstandswerten der Seitenstrombereiche des Shunt-Widerstands abhängt. Durch Ermittlung des Spannungstransfers durch den Hochpass bei bekannter eingeprägter Wechselspannung kann über die Änderung der Grenzfrequenz auf die Änderung der Widerstandswerte der Seitenstrombereiche des Shunt-Widerstands zurückgeschlossen werden.
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Eine weitere Möglichkeit zur Ausgestaltung der Kalibriereinrichtung umfasst einen Ringoszillator, welcher mit den Kalibrieranschlüssen verbunden ist, und welcher dazu ausgelegt ist, eine Kalibrierspannung zu erzeugen, die eine Wechselspannung umfasst und deren Frequenz von dem Widerstand in den Seitenstrombereichen des Shunt-Widerstands abhängig ist. Die Oszillationsfrequenz des Ringoszillators hängt dabei von den Widerstandswerten der Seitenstrombereiche des Shunt-Widerstands ab. Über die Änderung der Oszillationsfrequenz des Ringoszillators kann wiederum auf die Änderung der Widerstandswerte der Seitenstrombereiche des Shunt-Widerstands zurückgeschlossen werden.
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Gemäß einer Ausführungsform kann jeweils eine Referenzkalibriereinrichtung vorgesehen sein, die baugleiche bzw. identische Bauteile zur Kalibriereinrichtung aufweist. Die Referenzkalibriereinrichtung kann dabei mit einem Referenzshunt-Widerstand verbunden sein, der dem Shunt-Widerstand gleicht, aber nicht durch einen Messstrom durchflossen wird. Damit können vorteilhafterweise Einflüsse, welche nicht auf eine messstrombedingte Widerstandsänderung bzw. Materialalterung zurückzuführen sind, aus dem Vergleich des Kalibrierspannungen der Kalibriereinrichtung und der Referenzkalibriereinrichtung ermittelt werden.
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Die Erfindung schafft gemäß einer weiteren Ausführungsform ein Verfahren zum Erfassen eines Messstroms, mit den Schritten des Erfassens eines durch einen erfindungsgemäßen Shunt-Widerstand fließenden Messstroms zum Erzeugen eines von dem erfassten Messstrom abhängigen Messsignals, des Anlegens einer Referenzspannung oder eines Referenzstroms an die Kalibrieranschlüssen des Shunt-Widerstands, des Erfassens einer über den zwei Kalibrieranschlüssen abfallenden Spannung, des Erzeugens einer Kalibrierspannung aus der über den zwei Kalibrieranschlüssen abfallenden Spannung, und des Korrigierens des Messsignals in Abhängigkeit von der Kalibrierspannung zum Ermitteln eines korrigierten Messstroms durch den Shunt-Widerstand.
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Weitere Merkmale und Vorteile von Ausführungsformen der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung mit Bezug auf die beigefügten Zeichnungen.
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Kurze Beschreibung der Zeichnungen
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Es zeigen:
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1a eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms;
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1b eine schematische Darstellung eines in dem System aus 1a verwendeten Shunt-Widerstands;
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2a eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms gemäß einer Ausführungsform der Erfindung;
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2b eine schematische Darstellung eines in dem System aus 2a verwendeten erfindungsgemäßen Shunt-Widerstands;
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3a eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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3b eine schematische Darstellung eines in dem System aus 3a verwendeten erfindungsgemäßen Shunt-Widerstands;
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4a eine schematische Darstellung einer Korrekturschaltung gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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4b eine schematische Darstellung einer Korrekturschaltung gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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5 eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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6 eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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7 eine schematische Darstellung einer Korrekturschaltung gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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8 eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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9 eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms gemäß einer weiteren Ausführungsform der Erfindung;
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10a eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms;
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10b eine schematische Darstellung eines Systems zum Erfassen eines Messstroms;
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1a zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 100' zum Erfassen eines Messstroms Jm. Ein Shunt-Widerstand 2' weist zwei Messanschlüsse 2a und 2b an gegenüberliegenden Seiten des Shunt-Widerstands 2' auf. An diesen Messanschlüssen 2a und 2b kann eine Spannung abgegriffen werden, welche von dem Messstrom Jm und den Widerstandswert des Shunt-Widerstands 2' abhängig ist. In einer Messschaltung 1' kann ein Operationsverstärker 3 angeordnet sein, der die über dem Shunt-Widerstand 2' abfallende Spannung erfasst und ein Messsignal ausgibt. Das Messsignal kann beispielsweise in einem Analog-Digital-Wandler (ADC) 4 in ein digitales Messsignal umgewandelt werden.
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1b zeigt eine schematische Darstellung eines in dem System 100' aus 1a verwendeten Shunt-Widerstands 2'. Der Shunt-Widerstand 2' wird von dem Strom Jm entlang einer Hauptstromrichtung durchflossen. Entlang der Hauptstromrichtung weist der Shunt-Widerstand 2' eine Länge von L = L1 + L2 + L3 auf, wobei ein Mittelbereich mit der größten Länge L2 zwischen zwei Randbereichen L1 und L3 liegt. Der Shunt-Widerstand 2' weist die Breite W auf. Der Shunt-Widerstand 2' kann beispielsweise vollständig aus Metall gefertigt sein, und in allen Bereichen das gleiche Material aufweisen.
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2a zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 100 zum Erfassen eines Messstroms Jm. Ein Shunt-Widerstand 2 weist zwei Messanschlüsse 2a und 2b an gegenüberliegenden Seiten des Shunt-Widerstands 2 auf. An diesen Messanschlüssen 2a und 2b kann eine Spannung abgegriffen werden, welche von dem Messstrom Jm und den Widerstandswert des Shunt-Widerstands 2 abhängig ist. Ein Operationsverstärker 3 kann die über dem Shunt-Widerstand 2 abfallende Spannung erfassen und ein Messsignal ausgeben, welches beispielsweise in einem Analog-Digital-Wandler (ADC) 4 in ein digitales Messsignal umgewandelt werden kann.
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2b zeigt eine schematische Darstellung eines in dem System 100 aus 2a verwendeten Shunt-Widerstands 2. Der Shunt-Widerstand 2 unterscheidet sich von dem Shunt-Widerstand 2' in 1b im Wesentlichen dadurch, dass Schlitzstrukturen 7 und 8 in Längsrichtung in den Mittelbereich des Shunt-Widerstands 2 eingebracht sind. Dadurch wird der Mittelbereich in drei, über die Länge L2 quer zu der Hauptstromrichtung elektrisch voneinander getrennte Bereiche geteilt: zwei Seitenstrombereiche 5 und 6 sowie einen Hauptstrombereich. Der Hauptstrombereich kann beispielsweise die Breite W0 aufweisen, wohingegen die Seitenstrombereiche 5 und 6 jeweils die Breite W1 bzw. W2 aufweisen. Insbesondere können die Breiten W1 und W2 gleich groß sein und jeweils erheblich geringer als die Breite W0 des Hauptstrombereichs. Der Messstrom Jm, der durch den Shunt-Widerstand 2 entlang einer Hauptstromrichtung fließt, teilt sich dabei in drei Teilströme Jm1, Jmw, und Jm2 auf, wobei Jm = Jm1 + Jmw + Jm2 gilt. An den zwei Seitenstrombereichen 5 und 6 sind jeweils Kalibrieranschlüsse 5c und 6c quer zu der Hauptstromrichtung angebracht. Beispielsweise können die Kalibrieranschlüsse 5c und 6c jeweils auf halber Höhe L2/2 der Seitenstrombereiche 5 und 6 angeschlossen sein, so dass die Seitenstrombereiche 5 und 6 in zwei Strompfade aufgeteilt werden, welche, wie in 2a gezeigt, die Widerstände 5a und 5b bzw. 6a und 6b aufweisen.
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Es kann selbstverständlich auch möglich sein, dass die Seitenstrombereiche 5 und 6 in einem Mittelbereich des Shunt-Widerstands 2 angeordnet sind, so dass der Hauptstrombereich zwei Hauptstrompfade aufweist, die am Rand der Shunt-Widerstands 2 entlang führen, während die zwei Strompfade der Seitenstrombereiche 5 und 6 in einem Mittelbereich des Shunt-Widerstands 2 entlang führen. Die Darstellung des Shunt-Widerstands 2 in 2b ist daher nur beispielhaft und kann je nach geometrischer Anordnung der Schlitzstrukturen auf viele verschiedene Arten ausgestaltet werden, solange der Shunt-Widerstand 2 in eine Anzahl Hauptstrompfade und zwei Strompfade mit einem höheren Widerstand als die Hauptstrompfade aufgeteilt werden.
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3a zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 100 zum Erfassen eines Messstroms Jm. Das System 100 unterscheidet sich von dem System 100 in 2a dahingehend, dass an den Kalibrieranschlüssen 5c und 6c eine Gleich- oder Wechselstromquelle Jk angeschlossen ist, die einen Gleich- oder Wechselstrom durch den Shunt-Widerstand 2 schickt. In 3b ist die schematische Darstellung des Shunt-Widerstands 2 aus den 2a, 2b und 3a gezeigt. Der Strom Jk von der Stromquelle Jk tritt am Kalibrieranschluss 5c in den Shunt-Widerstand 2 ein und teilt sich auf die Widerstände 5a und 5b in Teilströme Jka und Jkb auf. Es kann vorgesehen sein, dass die Kalibrieranschlüsse 5c und 6c jeweils auf halber Höhe des Hauptstrombereichs des Shunt-Widerstands 2 angeschlossen sind, so dass die Widerstände 5a und 5b bzw. 6a und 6b jeweils gleich groß sind. In diesem Fall sind auch die Teilströme Jka und Jkb jeweils gleich groß und betragen jeweils die Hälfte des Stroms Jk. Die Teilströme Jka und Jkb fließen in den Randbereichen des Shunt-Widerstands 2 jeweils quer zum Messstrom Jm. In den Randbereichen ist der Widerstand gegenüber den Widerständen 5a und 5b bzw. 6a und 6b jeweils vernachlässigbar, wenn die Länge L1 bzw. L2 der Randbereiche jeweils erheblich größer als die Breite W1 und W2 der Seitenstrombereiche gewählt wird. Die Teilströme Jka und Jkb vereinigen sich am Kalibrieranschluss 6c wieder zu dem Strom Jk. Die Amplitude des Stroms Jk kann aufgrund der geringen Breite der Seitenstrombereiche W1 und W2 gegenüber der wesentlich größeren Breite W0 des Hauptstrombereichs wesentlich kleiner gewählt werden als der Messstrom Jm, so dass der Messstrom nicht oder nur unwesentlich beeinflusst wird. Weiterhin wird die messbedingte Alterung des Shunt-Widerstands 2 durch die Einprägung des Stroms Jk minimiert – insbesondere, wenn der Strom Jk als Wechselstrom eingeprägt wird.
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Das System 100 weist eine Kalibrierschaltung 1 auf, welche die Stromquelle Jk und einen Operationsverstärker 9 umfasst. Der Operationsverstärker 9 ist dazu ausgelegt, die über die Kalibrieranschlüsse 5c und 6c abfallende Spannung zu erfassen. Diese erfasste Spannung hängt von den Widerstandswerten der Widerstände 5a, 5b, 6a und 6b ab, die ihrerseits einer Materialalterung unterliegen können. Der Operationsverstärker 9 erzeugt eine Kalibrierspannung, welche an einen Anschluss 20b einer Korrekturschaltung 20 übergeben werden kann. Gleichermaßen wird die Messspannung des Operationsverstärkers 3 an einen Anschluss 20a der Korrekturschaltung 20 übergeben, welche die Messspannung auf die Kalibrierspannung korrigiert, so dass an einem Ausgang 20c der Korrekturschaltung eine korrigierte bzw. kalibrierte Messspannung zur Verfügung gestellt wird.
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Der Hauptstrombereich und die Seitenstrombereiche 5, 6 des Shunt-Widerstands 2 unterliegen den gleichen alterungs- und/oder temperaturbedingten Veränderungen, so dass mit der Kalibrierspannung diese Einflüsse auf den Shunt-Widerstand 2 in der Korrekturschaltung 20 eliminiert werden können und somit die Erfassung des Messstroms Jm über die gesamte Betriebsdauer des Shunt-Widerstands 2 präzise erfolgen kann. Die Kalibrierung des Messstroms Jm kann beispielsweise kontinuierlich oder in zyklisch geeigneten Abständen erfolgen. Es kann vorteilhaft sein, die Stromrichtung der Gleichstromquelle in geeigneten zeitlichen Abständen umzupolen, das heißt, ein rechteckförmiges Stromsignal einzuprägen, damit die Stromdichte in den beiden Seitenstrombereichen im Mittel genauso groß ist, wie die Stromdichte im Hauptstrombereiche, so dass die stromdichtebedingte Alterung konstant bleibt. Weiterhin kann es hierzu vorteilhaft sein, statt einer Gleichstromquelle eine Wechselstromquelle einzusetzen. Es kann alternativ auch möglich sein, den Strom Jk nur für kurze Zeit in den Shunt-Widerstand 2 einzuprägen, beispielsweise in gepulster Form. Dadurch kann der zusätzliche Stromeintrag in den Shunt-Widerstand 2 verringert werden und die messbedingten Veränderungen der Widerstandswerte minimiert werden.
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In den 4a und 4b sind schematische Darstellung für mögliche Ausführungsformen der Korrekturschaltung 20 in 3a gezeigt. Die Korrekturschaltung 20 in 4a weist einen ADC 4a auf, welcher einen Referenzspannungseingang 4d umfasst. Der ADC 4a wandelt die Messspannung des Operationsverstärkers 3 von analoger in digitale Form um, wobei die Kalibrierspannung des Operationsverstärkers 9 als Referenzspannung an den Referenzspannungseingang 4d des ADCs 4a angelegt wird. Die Korrekturschaltung 20 in 4a weist zwei ADCs 4a und 4b sowie ein digitales Rechenwerk auf. Die Spannungssignale der Operationsverstärker 3 und 9 werde in den ADCs 4a bzw. 4b digitalisiert. Das digitale Rechenwerk 21 weist einen Referenzanschluss 21 auf, an welchen das digitalisierte Kalibrierspannungssignal des Operationsverstärkers 9 angelegt wird, um das digitale Messspannungssignal des Operationsverstärkers 3 rechnerisch zu korrigieren.
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Es versteht sich für einen Fachmann, dass eine der in den 4a und 4b gezeigten Korrekturschaltungen 20 jeweils auch für eine der im Folgenden beschriebenen Korrekturschaltungen 20 der 5, 8, 9, 10a und 10b eingesetzt werden kann.
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Es kann vorgesehen sein, eine Referenzkalibriereinrichtung zu der Kalibriereinrichtung 1 in 3a auszugestalten. Dazu kann ein Referenzshunt-Widerstand, der dem Shunt-Widerstand 2 baugleich ist, über die Kalibrieranschlüsse mit einer Referenzgleichstromquelle verbunden werden. Eine über die Kalibrieranschlüsse des Referenzshunt-Widerstands abfallende Referenzspannung kann dann mithilfe eines Referenzoperationsverstärkers erfasst werden. Die Referenzkalibriereinrichtung unterscheidet sich von der Kalibriereinrichtung dadurch, dass der Referenzshunt-Widerstand im Gegensatz zu dem Shunt-Widerstand 2 nicht von dem Messstrom Jm durchflossen wird. Dadurch kann durch Vergleich der von der Referenzkalibriereinrichtung erzeugten Referenzkalibrierspannung und der von der Kalibriereinrichtung erzeugten Kalibrierspannung auf die durch den Messstrom Jm verursachte stromdichtebedingte Alterung des Shunt-Widerstands 2 zurückgeschlossen werden, da alle anderen externen Einflüsse wie Temperaturabhängigkeit oder sonstige Einflüsse sowohl in der Referenzkalibriereinrichtung als auch in der Kalibriereinrichtung gleichermaßen auftreten.
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5 zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 200 zum Erfassen eines Messstroms. Das System 200 unterscheidet sich von dem System 100 in 2a und 3a im Wesentlichen dadurch, dass eine andere Kalibriereinrichtung 1 eingesetzt wird. Eine Wechselspannungsquelle Uk ist dazu ausgelegt, über Kondensatoren C1 und C2 jeweils einen der zwei Kalibrieranschlüsse 5c und 6c mit einer Wechselspannung zu beaufschlagen, so dass die Widerstände 5a und 5b bzw. 6a und 6b mit jeweils einem der Kondensatoren C1 bzw. C2 ein erstes Hochpassglied für die Hochpassfilterung der Wechselspannung Uk an die Anschlüsse 5c bzw. 6c darstellen. Die Kalibrieranschlüsse 5c und 6c sind jeweils mit Kondensatoren C3 und C4 verbunden. Beispielsweise können die Kondensatoren C3 und C4 jeweils die gleiche Kapazität C aufweisen, und die Kondensatoren C1 und C2 können jeweils die gleiche Kapazität Ck aufweisen. Dabei hängt die Amplitude der an den Kondensatoren C3 und C4 anliegenden Wechselspannung jeweils von der Grenzfrequenz fg der ersten Hochpassglieder ab, die ihrerseits wiederum von den Widerstandswerten Rk der Widerstände 5a und 5b bzw. 6a und 6b abhängen: fg = (2πRkCk)–1
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Unter Zuhilfenahme zweier Impedanzen Z1 und Z2, welche zwischen die Kondensatoren C3 und C4 sowie ein Referenzpotential, beispielsweise ein Massepotential, gekoppelt werden, kann zwischen den Knoten zwischen den Kondensatoren C3 bzw. C4 und den Impedanzen Z1 bzw. Z2 eine Referenzspannung abgegriffen werden, welche von dem Operationsverstärker 9 erfasst wird, um eine Kalibrierspannung zu erzeugen.
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Die Kondensatoren C3 und C4 bilden somit mit den Impedanzen Z1 bzw. Z2 jeweils ein zweites Hochpassglied. Dabei kann die Grenzfrequenz der zweiten Hochpassglieder vorzugsweise identisch gewählt und so gelegt werden, dass sie niedriger liegt als die Grenzfrequenz fg der ersten Hochpassglieder. Dadurch kann erreicht werden, dass die zwischen den Anschlüssen 5c und 6c anliegende Kalibrierspannung betraglich kaum gedämpft wird, sondern lediglich das Eingangspotential auf den Operationsverstärker 9 optimiert.
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Die Kalibrierspannung hängt von der Grenzfrequenz fg ab. Wenn beispielsweise die Grenzfrequenz fg so gewählt wird, dass die Frequenz der Wechselspannung Uk größer oder gleich der Grenzfrequenz fg ist, dann führt jede Widerstandserhöhung der Widerstände 5a, 5b, 6a und 6b dazu, dass die Kalibrierspannung größer wird. Damit kann die Kalibrierspannung des Operationsverstärkers 9 in einem Mischer 22 gemischt werden und in die Korrekturschaltung 20 eingespeist werden, um die Messspannung des Operationsverstärkers 3 zu korrigieren.
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6 zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 300 zum Erfassen eines Messstroms Jm. Das System 300 unterscheidet sich von dem System 300 in 5 im Wesentlichen dadurch, dass eine Referenzkalibriereinrichtung vorgesehen 23, welche im Wesentlichen die gleichen Komponenten aufweist wie die Kalibriereinrichtung 1. Dabei ist jedoch der in der Referenzkalibriereinrichtung 23 angeordnete Referenzshunt-Widerstand nicht von einem Messstrom Jm durchflossen. Die durch den Referenzoperationsverstärker 24 erzeugte Referenzkalibrierspannung wird in einem Referenzmischer 25 gemischt und an einen Referenzanschluss 26d einer Korrekturschaltung 26 übergeben. Die Korrekturschaltung 26 ist in 7 in größerem Detail gezeigt. Die Korrekturschaltung 26 unterscheidet sich von der Korrekturschaltung 20 in 4b im Wesentlichen dadurch, dass ein dritter ADC 4c vorgesehen ist, in dem die Referenzkalibrierspannung des Referenzanschlusses 26d digitalisiert wird. Zusätzlich zu der in dem ADC 4b digitalisierten Kalibrierspannung der Kalibriereinrichtung wird dann die digitalisierte Referenzkalibrierspannung in das digitale Rechenwerk 21 eingespeist, um das digitalisierte Messsignal des ADC 4a noch präziser korrigieren zu können.
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8 zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 400 zum Erfassen eines Messstroms Jm. Das System 400 unterscheidet sich von den Systemen 100 in 2a und 3a und 200 in 5 im Wesentlichen dadurch, dass eine andere Kalibriereinrichtung 1 eingesetzt wird. Die Kalibriereinrichtung 1 weist eine Ringoszillatorschaltung 30 auf, welche mit den Kalibrieranschlüssen 5c und 6c des Shunt-Widerstands 2 verbunden ist. Die Ringoszillatorschaltung 30 kann aus zwei Schleifen aufgebaut sein, welche jeweils mit verschiedenen der Kalibrieranschlüsse 5c und 6c verbunden sind. Eine erste Schleife weist eine erste Verstärkerkette 32 mit einem Verstärker und einer ungradzahligen Anzahl – z.B. drei – Invertern auf, welche in Reihe mit einem Kondensator C5 gekoppelt sind. Ein weiterer Kondensator C6 ist zwischen einen der Kalibrieranschlüsse 5c und einen Eingang eines Operationsverstärkers 31 gekoppelt. Eine zweite Schleife weist eine zweite Verstärkerkette 33 mit einer geradzahligen Anzahl – z.B. vier – Invertern auf, welche in Reihe mit einem Kondensator C7 gekoppelt sind. Ein weiterer Kondensator C8 ist zwischen den anderen der Kalibrieranschlüsse 6c und den anderen Eingang eines Operationsverstärkers 31 gekoppelt. Beide Schleifen sind über die Eingänge des Operationsverstärkers 31 hinweg über eine Impedanz Z3 gekoppelt. Die Oszillationsfrequenz des Ringoszillators 30 hängt dabei unter Anderem von den Widerstandswerten der Widerstände 5a, 5b, 6a und 6b ab, so dass eine Spannung, welche an dem Ausgang des Operationsverstärkers 31 anliegt, eine Wechselspannungsfrequenz aufweist, welche sich mit den Widerstandswerten der Widerstände 5a, 5b, 6a und 6b ändert. Die Ausgangsspannung des Ringoszillators 30 kann daher in einem Mischer 22 gemischt werden und als Kalibrierspannung an den Anschluss 20b einer Korrekturschaltung 20 übergeben werden.
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9 zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 500 zum Erfassen eines Messstroms Jm. Das System 500 unterscheidet sich von dem System 400 in 8 dadurch, dass ein Referenzringoszillator 34 vorgesehen ist, der eine Referenzkalibrierspannung erzeugt, die in dem Mischer 22 mit der Kalibrierspannung des Ringoszillators 30 gemischt werden kann.
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10a zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 600 zum Erfassen eines Messstroms Jm. Das System 600 umfasst einen Shunt-Widerstand 2', der den Aufbau des Shunt-Widerstands 2' in 1b aufweisen kann. Über Messanschlüsse 2a und 2b wird ein Messstrom Jm in den Shunt-Widerstand 2' eingespeist und über einen Operationsverstärker 3 wird die über den Shunt-Widerstand 2' durch den Messstrom Jm verursachte Spannung erfasst. Zusätzlich zu dem Messstrom Jm wird über eine Wechselstromquelle Jhf in einer Kalibriereinrichtung 36 ein Wechselstrom hoher Frequenz in den Shunt-Widerstand 2' über die Messanschlüsse 2a und 2b eingeprägt. Der Wechselstrom Jhf kann im Vergleich zu dem Messstrom Jm eine wesentlich höhere Frequenz und eine wesentlich geringere Amplitude aufweisen. Über einen Operationsverstärker 9 wird ebenfalls die über die Messanschlüsse 2a und 2b abfallende Spannung des Shunt-Widerstands 2' ermittelt. Die von dem Operationsverstärker 9 ausgegebene Messspannung wird in einen Bandpassfilter 27 eingespeist, welcher eine Bandpassfrequenz aufweist, die auf die Frequenz des Wechselstrom Jhf abgestimmt ist. Der Bandpassfilter 27 weist dabei vorzugsweise eine sehr geringe Bandbreite und/oder eine sehr hohe Filtergüte auf. Je geringer die Bandbreite des Bandpassfilters 27 ist, desto geringer kann die Amplitude des Wechselstroms Jhf gewählt werden. Die von dem Bandpassfilter 27 gefilterte Ausgangsspannung des Operationsverstärkers 9 gibt damit den von dem Wechselstrom Jhf verursachten Spannungsanteil der über dem Shunt-Widerstand 2' abfallenden Gesamtspannung wieder. Die Veränderungen in diesem Spannungsanteil können dann wiederum zum Kalibrieren der durch den Operationsverstärker 3 ermittelten Messspannung in einer Korrekturschaltung 20 herangezogen werden.
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10b zeigt eine schematische Darstellung eines Systems 700 zum Erfassen eines Messstroms Jm. Das System 700 unterscheidet sich von dem System 600 in 10a dadurch, dass eine Referenzkalibriereinrichtung 35 vorgesehen ist, die eine Referenzkalibrierspannung erzeugt, die in dem Mischer 22 mit der Kalibrierspannung der Kalibriereinrichtung 36 gemischt werden kann.
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ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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Zitierte Patentliteratur
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- US 2011/0033985 A1 [0005]
