DE102010001668B4 - Leistungstransistormodul mit integrierter Sammelschiene und Verfahren zu dessen Herstellung - Google Patents
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Abstract
Leistungstransistormodul, das folgende Merkmale aufweist: ein Leistungstransistorbauelement (200; 402–406), das eine Source, einen Drain (D) und ein Gate (G) aufweist; und eine Baugruppe (100; 400), die folgende Merkmale aufweist: einen mit der Source verbundenen elektrisch leitfähigen Flansch (102); einen ersten Anschluss, der an dem Flansch mechanisch befestigt und mit dem Gate elektrisch verbunden ist; einen zweiten Anschluss, der an dem Flansch mechanisch befestigt und mit dem Drain elektrisch verbunden ist; und eine Sammelschiene (114), die mechanisch an dem Flansch befestigt ist und sich zwischen zumindest zwei verschiedenen Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110, 112), die an dem Flansch mechanisch befestigt sind, erstreckt und dieselben verbindet, wobei die Sammelschiene über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen elektrisch mit dem Drain verbunden ist, wobei sich die Sammelschiene (114) über die gesamte Länge des Leistungstransistorbauelements (200; 402–406) hinweg zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110, 112) erstreckt und dieselben verbindet.
Description
- Leistungstransistorbaugruppen umfassen üblicherweise einen leitfähigen Flansch, auf dem ein isolierendes Fenster angeordnet ist. Ein Leistungstransistor ist an dem Flansch in dem Fenster so angebracht, dass die Quelle des Leistungstransistors direkt mit dem Flansch verbunden und geerdet werden kann. Eingangs- und Ausgangsanschlüsse sind an dem isolierenden Fenster befestigt, so dass Eingangs-(Gate-) bzw. Ausgangs-(Drain-)Verbindungen zu dem Leistungstransistor hergestellt werden können. Der Drain des Leistungstransistors muss ausreichend gleichstromvorgespannt sein, um einen ordnungsgemäßen Betrieb zu gewährleisten. Ein Gleichstrom-Zuführpfad ist üblicherweise in Form eines oder mehrerer Gleichstrom-Zuführanschlüsse vorgesehen, von denen jeder an dem isolierenden Fenster befestigt ist, so dass der Drain des Leistungstransistors vorgespannt werden kann. Beispielsweise kann ein Gleichstrom-Zuführanschluss von dem Ausgangsanschluss beabstandet sein und sich entlang einer Seite desselben erstrecken, während ein anderer Gleichstrom-Zuführanschluss von dem Ausgangsanschluss beabstandet ist und sich entlang der anderen Seite desselben erstreckt, wie in der
US 6 734 728 B1 offenbart ist. - Die
US 2007/0 024 358 A1 - Das Ende jedes Gleichstrom-Zuführanschlusses ist üblicherweise mittels Drahtbonden mit einem Ausgangsanpassungssperrkondensator verbunden, der über eine Anpassungsinduktivität mit dem Drain des Leistungstransistors gekoppelt ist. Der Ausgangsanpassungsinduktivität wird durch diesen Kondensator eine HF-Masse bereitgestellt. Das Zusammentreffen dieser Induktivität und Kapazität erzeugt einen „kalten” HF-Punkt, der dazu verwendet werden kann, einen Gleichstrom anzulegen und/oder niedere Frequenzen zu entkoppeln und zu beenden. Das Ende des Gleichstrom-Zuführanschlusses, das neben dem Ausgangskondensator endet, weist eine begrenzte Fläche zum Verbinden des Gleichstrom-Zuführanschlusses mit dem Anpassungskondensator auf. Dadurch wird die Anzahl von Drahtbondverbindungen, die zwischen dem Ende des Gleichstrom-Zuführanschlusses und dem Ausgangskondensator hergestellt werden können, beschränkt. Demgemäß stehen lediglich einige wenige Banddrähte zum Führen des gesamten DC-Vorspannungsstroms zu dem Drain des Leistungstransistors zur Verfügung. Leistungstransistoren, die hohe Betriebsströme aufweisen, können herkömmliche Gleichstrom-Zuführstrukturen nicht zuverlässig verwenden, da lediglich einige wenige Drahtbondverbindungen den Gleichstrom-Zuführanschluss mit dem Ausgangskondensator verbinden, wodurch die Fähigkeit der Baugruppe, niederfrequenten Strom zu führen, beschränkt wird.
- Außerdem erstrecken sich die Drahtbondverbindungen üblicherweise von dem Ende jedes Gleichstrom-Zuführanschlusses zu jeweiligen Enden des Ausgangskondensators. Dieser Knoten des Kondensators ist auch mit dem Drain des Leistungstransistors mittels Drahtbonden verbunden, und der andere Kondensatorknoten ist geerdet. Jedoch bewirkt ein Zuführen von Gleichstromleistung lediglich zu den Enden des Ausgangskondensators einen Abfall des Isolationswiderstandes zwischen den Enden und der Mittenregion des Kondensatorknotens. Demgemäß liegt die Mitte des Kondensatorknotens während des Betriebs des Leistungstransistors nicht bei demselben niedrigen Frequenzpotential wie die Enden des Knotens. Dieser Abfall des Isolationswiderstandes setzt sich bis zu dem Drain des Leistungstransistors fort und erzeugt über den Drain hinweg unsymmetrische niederfrequente Endpunkte. Dies bewirkt, dass manche Regionen des Drains (z. B. die Endregionen) anders vorgespannt werden als andere Regionen des Drains (z. B. die Mittenregion), was zu einem unbeabsichtigten LC-Filtern führt, das die Leistungsfähigkeit des Leistungstransistors verringert. Der Abfall des Isolationswiderstandes über den Kondensatorknoten hinweg verschlimmert sich in Abhängigkeit von der Kondensatorlänge, wobei die Länge des Kondensators und somit die Anzahl von Leistungstransistoren, die in der Baugruppe enthalten sein können, beschränkt wird.
- Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, Leistungstransistormodule, Verfahren sowie eine Leistungstransistorbaugruppe mit verbesserten Charakteristika zu liefern.
- Die Aufgabe wird durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche gelöst. Weiterbildungen finden sich in den abhängigen Ansprüchen.
- Gemäß einem Ausführungsbeispiel umfasst eine Leistungstransistorbaugruppe einen elektrisch leitfähigen Flansch, der dahin gehend konfiguriert ist, mit einer Quelle eines Leistungstransistorbauelements verbunden zu werden. Die Baugruppe umfasst ferner einen ersten Anschluss, der mechanisch an dem Flansch befestigt ist und dahin gehend konfiguriert ist, mit einem Gate des Leistungstransistorbauelements elektrisch verbunden zu werden, und einen zweiten Anschluss, der mechanisch an dem Flansch befestigt ist und dahin gehend konfiguriert ist, mit einem Drain des Leistungstransistorbauelements elektrisch verbunden zu werden. Die Baugruppe umfasst ferner eine Sammelschiene, die mechanisch an dem Flansch befestigt ist und sich zwischen zumindest zwei verschiedenen Gleichstrom-Vorspannungsanschlüssen, die mechanisch an dem Flansch befestigt sind, erstreckt und diese miteinander verbindet. Die Sammelschiene ist dahin gehend konfiguriert, über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen mit dem Drain elektrisch verbunden zu werden.
- Fachleuten werden bei Lektüre der folgenden ausführlichen Beschreibung und bei Betrachtung der beiliegenden Zeichnungen zusätzliche Merkmale und Vorteile einleuchten.
- Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 eine dreidimensionale Ansicht eines Ausführungsbeispiels einer Leistungstransistorbaugruppe; -
2 eine Draufsicht auf die Leistungstransistorbaugruppe der1 ; -
3 ein Ersatzschaltbild der Leistungstransistorbaugruppe der1 ; und -
4 eine dreidimensionale Ansicht eines weiteren Ausführungsbeispiels einer Leistungstransistorbaugruppe. -
1 veranschaulicht eine dreidimensionale Ansicht eines Ausführungsbeispiels einer Leistungstransistorbaugruppe100 . Die Baugruppe100 umfasst einen elektrisch leitfähigen Flansch102 , der einen Eingangs- und einen Ausgangsanschluss104 ,106 aufweist, die mechanisch an dem Flansch102 befestigt sind. Bei einem Ausführungsbeispiel ist ein isolierendes Bauglied108 auf dem Flansch102 angeordnet, und der Eingangs- und der Ausgangsanschluss104 ,106 sind an dem isolierenden Bauglied108 befestigt, wodurch die Anschlüsse104 ,106 von dem Flansch102 elektrisch isoliert werden. Zumindest zwei verschiedene Gleichstromvorspannungsanschlüsse110 ,112 sind ebenfalls an dem Flansch102 mechanisch befestigt, z. B. an dem isolierenden Fenster108 . Bei einem Ausführungsbeispiel sind die Gleichstromvorspannungsanschlüsse110 ,112 von dem Ausgangsanschluss106 beabstandet, und sie erstrecken sich entlang der Seiten desselben. Die Baugruppe100 umfasst ferner eine Sammelschiene114 , die mechanisch an dem Flansch102 befestigt ist, z. B. an dem isolierenden Fenster108 . - Die Sammelschiene
114 erstreckt sich zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen110 ,112 und verbindet dieselben. Bei einem Ausführungsbeispiel kann die Sammelschiene eine beliebige Art von Metallisierung sein, die als allgemein flacher Streifen angeordnet ist. Die Sammelschiene114 liefert einen Niederfrequenz- und Gleichstromverbindungsbus, der sich über die gesamte Länge eines Leistungstransistorbauelements (nicht in1 gezeigt), das an der Baugruppe100 befestigt ist, erstreckt. Somit weist die Sammelschiene114 über die gesamte Länge der Sammelschiene114 hinweg einen minimalen Abfall des Isolationswiderstandes auf. Außerdem ermöglicht die Sammelschiene114 gleichmäßigere Abschlüsse, eine Handhabung von höherem Strom, erhöhte Zuverlässigkeit und zusätzliche Flexibilität. Die Sammelschiene114 verbessert auch die Hochfrequenzcharakteristika des an der Baugruppe100 befestigten Leistungstransistorbauelements, indem sie die Abschlüsse über alle Abschnitte des Transistordrains hinweg symmetrisch macht, wie hierin nachstehend ausführlicher beschrieben wird. Ein Leistungstransistor, der symmetrische Drainabschlüsse aufweist, kann eine verbesserte Videobandbreite liefern, da der Pfad zu den Modulationsabschlüssen eine sehr niedrige Induktivität aufweist. -
2 zeigt eine Draufsicht auf die Baugruppe100 , bei der ein Leistungstransistorbauelement200 und Kondensatoren202 ,204 an der Baugruppe100 angebracht sind. Der Leistungstransistor200 weist einen an der Unterseite des Transistors200 angeordneten Source-Anschluss, einen Drain (D) und ein Gate (G) auf. Der Flansch102 ist bei einem Ausführungsbeispiel mit der Source verbunden und geerdet. Jedoch können der Flansch102 und die Source an einen beliebigen wünschenswerten Spannungspegel gebunden sein. Der Eingangsanschluss104 ist mit dem Gate des Transistors200 elektrisch verbunden, und der Ausgangsanschluss106 ist mit dem Drain elektrisch verbunden, z. B. über jeweilige Gruppen von Bonddrähten206 –214 . Die Sammelschiene114 ist über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen mit dem Drain elektrisch verbunden. - Gemäß einem Ausführungsbeispiel umfassen die HF-geerdeten Verbindungen eine erste Gruppe von Bonddrähten
212 , die die Sammelschiene114 mit einem ersten Leiter eines Ausgangsanpassungskondensators202 verbinden, und eine zweite Gruppe von Bonddrähten214 , die den ersten Leiter des Ausgangskondensators202 mit dem Drain des Leistungstransistors200 verbinden. Der Kondensator202 weist auf seiner Unterseite einen zweiten Leiter auf, die z. B. über den Flansch102 mit HF-Masse verbunden ist. Die Gruppe von Bonddrähten214 , die den ersten Leiter des Ausgangskondensators202 mit dem Drain verbinden, können entsprechend bemessen sein, um als Abstimmdrähte zu fungieren, so dass die Drain-zu-Source-Kapazität des Leistungstransistorbauelements200 etwas unterhalb eines gewünschten Betriebsbandes schwingt. - Außerdem bilden die erste und die zweite Gruppe von Bonddrähten
212 ,214 zusammen mit der Sammelschiene114 einen integrierten Gleichstrom- und Modulationsfrequenz-Zuführpfad, der symmetrische Abschlusspunkte über im Wesentlichen den gesamten Transistor-Drain hinweg liefert. Auch steht die gesamte Länge der Sammelschiene114 zum Herstellen von Bonddrahtverbindungen mit dem Ausgangsanpassungskondensator202 und dem Drain zur Verfügung. Dadurch wird die Stromführungsfähigkeit der Baugruppe100 beträchtlich erhöht. Bei manchen Ausführungsbeispielen werden eine ausreichende Anzahl von Bonddrahtverbindungen von der Sammelschiene114 zu dem Ausgangsanpassungskondensator202 und von dem Ausgangskondensator202 zu dem Drain hergestellt, so dass die Baugruppe100 zuverlässig Leistungspegel von zumindest 300 W unterbringen kann. Bei einem Ausführungsbeispiel erstreckt sich die Sammelschiene114 über zumindest eine Länge des Leistungstransistorbauelements200 hinweg zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen110 ,112 und verbindet diese, wie in2 gezeigt ist. Demgemäß wird die Anzahl von Bonddrähten, die verfügbar sind, um die Gleichstromvorspannungsanschlüsse110 ,112 mit dem Drain zu verbinden, durch die Länge des Leistungstransistorbauelements200 , die Oberflächengröße der Sammelschiene114 und die Verdrahtungsmasseregeln, die mit der zum Herstellen der Baugruppe100 eingesetzten Bonddrahttechnologie zusammenhängen, beschränkt. - Die erste und die zweite Gruppe von Bonddrähten
212 ,214 bilden auch einen induktivitätsarmen Zuführpfad zwischen der Sammelschiene114 und dem Drain des Leistungstransistors200 . Der induktivitätsarme Zuführpfad kann einen niederfrequenten Abschluss bei Frequenzen zwischen etwa 0 und 100 MHz liefern. Ein Niederfrequenzabschluss dieser Art ist für Videoanwendungen wie z. B. COFDM (coded orthogonal frequency-division, codiertes Orthogonal-Frequenzmultiplex) nützlich, bei denen Signalleistungspegel rasch ansteigen und abfallen. Unter derartigen Bedingungen eines raschen Signalschaltens kann eine induktivitätsintensive Zufuhr bewirken, dass bei dem Leistungstransistor200 Bedingungen eines repetitiven L di/dt-Lawinendurchbruchs auftreten. Jedoch liefert der durch die erste und die zweite Gruppe von Bonddrähten212 ,214 gelieferte induktivitätsarme Zuführpfad einen relativ induktivitätsarmen Pfad zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen110 ,112 und dem Drain des Leistungstransistors200 . Dies wiederum verringert durch L di/dt-Lawinendurchbruch verursachte Spannungsspitzen, die tendenziell bei bestimmten Anwendungen wie z. B. COFDM-Video auftreten. Der induktivitätsarme Zuführpfad, der durch die erste und die zweite Gruppe von Bonddrähten212 ,214 gebildet ist, erhöht auch die Betriebssignalbandbreite des Leistungstransistors200 , was für bestimmte Anwendungen wie beispielsweise Video oder drahtlose Infrastruktur vorteilhaft ist. -
3 ist ein Ersatzschaltbild der in2 veranschaulichten Leistungstransistorbaugruppe100 . Auf der Eingangsseite ist das Gate (G) des Leistungstransistors200 über eine Gruppe von Bonddrähten208 mit einem Knoten eines Eingangsanpassungskondensators204 gekoppelt. Dieser Knoten des Eingangskondensators204 ist über eine andere Gruppe von Bonddrähten206 auch mit dem Eingangsanschluss104 gekoppelt. Der untere Knoten (nicht zu sehen) des Kondensators204 ist mit HF-Masse verbunden. Die Länge der eingangsseitigen Bonddrähte206 ,208 und der Wert des Eingangsanpassungskondensators204 können so gewählt sein, dass ein gewünschtes Eingangsanpassungsnetzwerk verwirklicht wird. Der Eingangsanschluss104 kann auch einen Gleichstrom-Sperrkondensator (nicht gezeigt) zum Sperren bzw. Blockieren von niederfrequenten Signalen von dem HF-Eingang des Leistungstransistors200 aufweisen. Auf der Ausgangsseite wird über die Gleichstromvorspannungsanschlüsse110 ,112 und die Sammelschiene114 eine niederfrequente Vorspannung an den Drain (D) des Leistungstransistors200 angelegt, wie oben erläutert wurde. Der Ausgangsanschluss106 kann auch einen (nicht gezeigten) Gleichstrom-Sperrkondensator zum Sperren von niederfrequenten Signalen von dem HF-Ausgang des Leistungstransistors200 aufweisen. Die Länge der ausgangsseitigen Bonddrähte210 –214 und der Wert des Ausgangsanpassungskondensators202 können so gewählt sein, dass ein gewünschtes Ausgangsanpassungsnetzwerk verwirklicht wird. Außerdem können an der Baugruppe100 mehr als ein Leistungstransistor200 befestigt sein, da die Sammelschiene114 über die gesamte Länge der Sammelschiene114 hinweg relativ symmetrische Drainabschlusspunkte liefern kann, wie oben erläutert wurde. -
4 veranschaulicht eine Draufsicht auf eine Baugruppe400 , wobei drei verschiedene Leistungstransistorbauelemente402 –406 an der Baugruppe400 befestigt sind, um Anwendungen eines noch höheren Stroms zu handhaben. Jeder Leistungstransistor402 –406 weist eine Source (S), einen Drain (D) und ein Gate (G) auf. Ein Flansch408 der Baugruppe400 ist mit der Source jedes Transistors402 –406 verbunden. Ein Eingangsanschluss410 ist an dem Flansch408 mechanisch befestigt und mit dem Gate jedes Transistors402 –406 elektrisch verbunden, z. B. über Bonddrähte414 ,416 . Ein Ausgangsanschluss412 ist ebenfalls an dem Flansch408 mechanisch befestigt und mit dem Drain jedes Transistors402 –406 elektrisch verbunden, z. B. über Bonddrähte418 –422 . Eine Sammelschiene424 erstreckt sich zwischen zumindest zwei verschiedenen Gleichstromvorspannungsanschlüssen426 ,428 , die an dem Flansch408 mechanisch befestigt sind, und verbindet dieselben. Bei einem Ausführungsbeispiel sind der Eingangs- und der Ausgangsanschluss410 ,412 , die Gleichstromvorspannungsanschlüsse426 ,428 und die Sammelschiene424 an einem isolierenden Bauglied430 , das auf dem Flansch408 angeordnet ist, mechanisch befestigt. - Die Sammelschiene
424 ist über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen mit dem Drain jedes Leistungstransistors402 –406 elektrisch verbunden. Jede HF-geerdete Verbindung umfasst eine erste Gruppe von Bonddrähten420 , die die Sammelschiene424 mit einem jeweiligen HF-geerdeten Ausgangsanpassungskondensator432 verbinden, und eine zweite Gruppe von Bonddrähten418 , die den Kondensator432 mit dem entsprechenden Leistungstransistor-Drain verbinden, wie oben erläutert wurde. - Außerdem bilden die erste und die zweite Gruppe von Bonddrähten
418 ,420 , die mit jedem Transistor-Drain gekoppelt sind, zusammen mit der Sammelschiene424 einen integrierten Gleichstrom-Zuführpfad, der über im Wesentlichen den gesamten Drain hinweg symmetrische Abschlusspunkte liefert, wie oben erläutert wurde. Bei einem Ausführungsbeispiel erstreckt sich die Sammelschiene424 über zumindest eine kombinierte Länge aller Leistungstransistorbauelemente402 –406 zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen426 ,428 und verbindet dieselben, wie in4 gezeigt ist. Die erste und die zweite Gruppe von Bonddrähten418 ,420 , die mit jedem Leistungstransistor-Drain gekoppelt sind, bilden ferner einen induktivitätsarmen Zuführpfad zwischen der Sammelschiene424 und dem entsprechenden Drain. Der induktivitätsarme Zuführpfad kann bei Frequenzen zwischen etwa 0 und 100 MHz einen Niederfrequenzabschluss liefern, wie oben beschrieben wurde. Eingangsanpassungskondensatoren434 können ebenfalls vorgesehen werden, zusammen mit (nicht gezeigten) Eingangs- und Ausgangs-Gleichstrom-Sperrkondensatoren, wie oben beschrieben wurde. An den hierin beschriebenen Baugruppen100 ,400 können eine beliebige Anzahl von Leistungstransistorbauelementen befestigt sein, da die Sammelschienen114 ,424 dahin gehend entworfen sein können, sich über die gesamte Länge aller Bauelemente hinweg zu erstrecken und dabei allen Bauelementen mit einem vernachlässigbaren Abfall an Isolationswiderstand hinreichend symmetrische Niederfrequenzabschlusspunkte zu liefern. - Räumlich relative Begriffe wie z. B. „unter”, „unterhalb”, „untere(s,r)”, „über”, „obere(s,r)” und dergleichen werden zur Vereinfachung der Beschreibung verwendet, um die Positionierung eines Elements relativ zu einem zweiten Element zu erläutern. Diese Begriffe sollen zusätzlich zu anderen Orientierungen als den in den Figuren gezeigten andere Orientierungen des Bauelements umfassen. Ferner werden Begriffe wie z. B. „erste(s,r)”, „zweite(s,r)” und dergleichen auch dazu verwendet, verschiedene Elemente, Regionen, Abschnitte usw. zu beschreiben, und sie sollen ebenfalls keine Einschränkung darstellen. Gleiche Begriffe beziehen sich in der gesamten Beschreibung auf gleiche Elemente.
- Gemäß der Verwendung hierin sind die Begriffe „aufweisen”, „enthalten”, „umfassen” und dergleichen offene Begriffe, die auf das Vorliegen angegebener Elemente oder Merkmale hinweisen, jedoch zusätzliche Elemente oder Merkmale nicht ausschließen. Die Artikel „ein/eine/einer” sowie „der”, „die” und „das” sollen den Plural sowie den Singular umfassen, es sei denn, der Kontext gibt eindeutig etwas anderes vor.
Claims (24)
- Leistungstransistormodul, das folgende Merkmale aufweist: ein Leistungstransistorbauelement (
200 ;402 –406 ), das eine Source, einen Drain (D) und ein Gate (G) aufweist; und eine Baugruppe (100 ;400 ), die folgende Merkmale aufweist: einen mit der Source verbundenen elektrisch leitfähigen Flansch (102 ); einen ersten Anschluss, der an dem Flansch mechanisch befestigt und mit dem Gate elektrisch verbunden ist; einen zweiten Anschluss, der an dem Flansch mechanisch befestigt und mit dem Drain elektrisch verbunden ist; und eine Sammelschiene (114 ), die mechanisch an dem Flansch befestigt ist und sich zwischen zumindest zwei verschiedenen Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ), die an dem Flansch mechanisch befestigt sind, erstreckt und dieselben verbindet, wobei die Sammelschiene über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen elektrisch mit dem Drain verbunden ist, wobei sich die Sammelschiene (114 ) über die gesamte Länge des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) hinweg zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ) erstreckt und dieselben verbindet. - Leistungstransistormodul gemäß Anspruch 1, bei dem die Sammelschiene (
114 ) einen allgemein flachen Metallisierungsstreifen umfasst. - Leistungstransistormodul gemäß Anspruch 1 oder 2, bei dem die eine oder mehreren HF-geerdeten Verbindungen eine erste Mehrzahl von Bonddrähten (
212 ), die die Sammelschiene (114 ) mit einem Kondensator verbinden, und eine zweite Mehrzahl von Bonddrähten (214 ), die den Kondensator mit dem Drain verbinden, umfassen. - Leistungstransistormodul gemäß Anspruch 3, bei dem die zweite Mehrzahl von Bonddrähten (
214 ) eine Mehrzahl von Abstimmdrähten umfassen, die so bemessen sind, dass eine Drain-zu-Source-Kapazität des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) bei einer Frequenz unterhalb eines gewünschten Betriebsbands schwingt. - Leistungstransistormodul gemäß Anspruch 3 oder 4, bei dem die erste und die zweite Mehrzahl von Bonddrähten (
212 ,214 ) zwischen der Sammelschiene (114 ) und dem Drain einen induktivitätsarmen Zuführpfad bilden, der dahin gehend wirksam ist, bei Frequenzen zwischen etwa 0 und 100 MHz einen Niederfrequenzabschluss zu liefern. - Leistungstransistormodul gemäß einem der Ansprüche 3 bis 5, bei dem die Sammelschiene (
114 ) und die erste und die zweite Mehrzahl von Bonddrähten einen integrierten Gleichstrom-Zuführpfad bilden, der über im Wesentlichen den gesamten Drain hinweg symmetrische Abschlusspunkte liefert. - Leistungstransistormodul gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem das Leistungstransistorbauelement (
200 ;402 –406 ) dahin gehend konfiguriert ist, bei einem Leistungspegel von 300 W oder mehr zu arbeiten. - Ein Verfahren zum Herstellen eines Leistungstransistormoduls, das folgende Schritte umfasst: mechanisches Befestigen eines ersten Anschlusses, eines zweiten Anschlusses und zumindest zweier verschiedener Gleichstromvorspannungsanschlüsse (
110 ,112 ) an einem elektrisch leitfähigen Flansch; Verbinden des Flansches mit einer Source eines Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ); elektrisches Verbinden des ersten Anschlusses mit einem Gate des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ); elektrisches Verbinden des zweiten Anschlusses mit einem Drain des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ); mechanisches Befestigen einer Sammelschiene (114 ) an dem Flansch, die sich über die gesamte Länge des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) hinweg zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ) erstreckt und dieselben verbindet; und elektrisches Verbinden der Sammelschiene mit dem Drain über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen. - Verfahren gemäß Anspruch 8, das ein mechanisches Befestigen des ersten und des zweiten Anschlusses, der Sammelschiene (
114 ) und der Gleichstromvorspannungsanschlüsse (110 ,112 ) an einem auf dem Flansch angeordneten isolierenden Bauglied umfasst. - Verfahren gemäß Anspruch 8 oder 9, das folgende Schritte umfasst: Verbinden der Sammelschiene (
114 ) mit einem Kondensator über eine erste Mehrzahl von Bonddrähten; und Verbinden des Kondensators mit dem Drain über eine zweite Mehrzahl von Bonddrähten. - Verfahren gemäß Anspruch 10, das ein Bemessen der zweiten Mehrzahl von Bonddrähten derart, dass eine Drain-zu-Source-Kapazität des Leistungstransistorbauelements (
200 ;402 –406 ) bei einer Frequenz unterhalb eines Betriebsbands schwingt, umfasst. - Verfahren gemäß einem der Ansprüche 8 bis 11, bei dem man die Sammelschiene (
114 ) sich über zumindest eine Länge des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ) erstrecken lässt. - Leistungstransistorbaugruppe (
100 ;400 ), die folgende Merkmale aufweist: einen elektrisch leitfähigen Flansch, der dahin gehend konfiguriert ist, mit einer Source eines Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) verbunden zu werden; einen ersten Anschluss, der mechanisch an dem Flansch befestigt und dahin gehend konfiguriert ist, mit einem Gate des Leistungstransistorbauelements elektrisch verbunden zu werden; einen zweiten Anschluss, der mechanisch an dem Flansch befestigt und dahin gehend konfiguriert ist, mit einem Drain des Leistungstransistorbauelements elektrisch verbunden zu werden; und eine Sammelschiene (114 ), die mechanisch an dem Flansch befestigt ist und sich über die gesamte Länge des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) hinweg zwischen zumindest zwei verschiedenen Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ), die an dem Flansch mechanisch befestigt sind, erstreckt und dieselben verbindet, wobei die Sammelschiene dahin gehend konfiguriert ist, über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen elektrisch mit dem Drain verbunden zu werden. - Leistungstransistorbaugruppe (
100 ;400 ) gemäß Anspruch 13, bei der der erste und der zweite Anschluss, die Sammelschiene (114 ) und die Gleichstromvorspannungsanschlüsse (110 ,112 ) mechanisch an einem auf dem Flansch angeordneten isolierenden Bauglied befestigt sind. - Leistungstransistorbaugruppe (
100 ;400 ) gemäß Anspruch 13 oder 14, bei der die Sammelschiene (114 ) einen allgemein flachen Metallisierungsstreifen umfasst. - Verfahren zum Herstellen einer Leistungstransistorbaugruppe (
100 ;400 ), das folgende Schritte umfasst: mechanisches Befestigen eines ersten Anschlusses an einem elektrisch leitfähigen Flansch; mechanisches Befestigen eines zweiten Anschlusses an dem Flansch; mechanisches Befestigen zumindest zweier verschiedener Gleichstromvorspannungsanschlüsse (110 ,112 ) an dem Flansch; mechanisches Befestigen einer Sammelschiene (114 ) an dem Flansch, die sich über die gesamte Länge des Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) hinweg zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ) erstreckt und dieselben verbindet; und HF-Erden der Sammelschiene. - Verfahren gemäß Anspruch 16, das ein mechanisches Befestigen des ersten und des zweiten Anschlusses, der Sammelschiene (
114 ) und der Gleichstromvorspannungsanschlüsse (110 ,112 ) an einem auf dem Flansch angeordneten isolierenden Bauglied umfasst. - Verfahren gemäß Anspruch 16 oder 17, bei dem das mechanische Befestigen einer Sammelschiene (
114 ) an dem Flansch, die sich zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ) erstreckt und dieselben verbindet, ein Verbinden der Gleichstromvorspannungsanschlüsse mit einem allgemein flachen Metallisierungsstreifen, der mechanisch an dem Flansch befestigt ist, umfasst. - Leistungstransistormodul, das folgende Merkmale aufweist: zumindest zwei verschiedene Leistungstransistorbauelemente (
200 ;402 –406 ), von denen jedes eine Source, einen Drain und ein Gate aufweist; und eine Baugruppe (100 ;400 ), die folgende Merkmale aufweist: einen mit der Source jedes Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) verbundenen elektrisch leitfähigen Flansch (102 ); einen ersten Anschluss, der an dem Flansch mechanisch befestigt und mit dem Gate jedes Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) elektrisch verbunden ist; einen zweiten Anschluss, der an dem Flansch mechanisch befestigt und mit dem Drain jedes Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) elektrisch verbunden ist; und eine Sammelschiene (114 ), die mechanisch an dem Flansch befestigt ist und sich zwischen zumindest zwei verschiedenen Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ), die an dem Flansch mechanisch befestigt sind, erstreckt und dieselben verbindet, wobei die Sammelschiene über eine oder mehrere HF-geerdete Verbindungen elektrisch mit dem Drain jedes Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) verbunden ist, wobei sich die Sammelschiene (424 ) über die gesamte Länge aller Leistungstransistorbauelemente (200 ;402 –406 ) hinweg zwischen den zwei verschiedenen Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ) erstreckt und dieselben verbindet. - Leistungstransistormodul gemäß Anspruch 19, bei dem die eine oder mehreren HF-geerdeten Verbindungen eine erste Mehrzahl von Bonddrähten (
212 ), die die Sammelschiene (114 ) mit zumindest einem Kondensator verbinden, und eine zweite Mehrzahl von Bonddrähten (214 ), die den zumindest einen Kondensator mit dem Drain jedes Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) verbinden, umfassen. - Leistungstransistormodul gemäß Anspruch 20, bei dem die zweite Mehrzahl von Bonddrähten (
214 ) eine Mehrzahl von Abstimmdrähten umfassen, die so bemessen sind, dass eine Drain-zu-Source-Kapazität jedes Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) bei einer Frequenz unterhalb eines Betriebsbands schwingt. - Leistungstransistormodul gemäß Anspruch 20 oder 21, bei dem die erste und die zweite Mehrzahl von Bonddrähten (
212 ,214 ) zwischen der Sammelschiene (114 ) und dem Drain jedes Leistungstransistorbauelements (200 ;402 –406 ) einen induktivitätsarmen Zuführpfad bilden, wobei der induktivitätsarme Zuführpfad dahin gehend wirksam ist, bei Frequenzen zwischen etwa 0 und 100 MHz einen Niederfrequenzabschluss zu liefern. - Leistungstransistormodul gemäß einem der Ansprüche 20 bis 22, bei dem die Sammelschiene (
114 ) und die erste und die zweite Mehrzahl von Bonddrähten einen integrierten Gleichstrom-Zuführpfad bilden, der über im Wesentlichen den gesamten Drain hinweg symmetrische Abschlusspunkte liefert. - Leistungstransistormodul gemäß einem der Ansprüche 19 bis 23, bei dem sich die Sammelschiene (
114 ) über zumindest eine kombinierte Länge aller Leistungstransistorbauelemente (200 ;402 –406 ) hinweg zwischen den Gleichstromvorspannungsanschlüssen (110 ,112 ) erstreckt und dieselben verbindet.
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Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20070024358A1 (en) * | 2005-07-26 | 2007-02-01 | Infineon Technologies North America Corp. | Semiconductor power device and RF signal amplifier |
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US6466094B2 (en) * | 2001-01-10 | 2002-10-15 | Ericsson Inc. | Gain and bandwidth enhancement for RF power amplifier package |
US6734728B1 (en) * | 2002-12-19 | 2004-05-11 | Infineon Technologies North America Corp. | RF power transistor with internal bias feed |
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Patent Citations (1)
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