DE102009050427A1 - Magnetsensorsystem und Verfahren - Google Patents

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Abstract

Ein Sensorsystem umfasst einen ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstand, der eine festgelegte Magnetschicht mit einer festen Orientierung in einer Referenzmagnetisierungsrichtung umfasst. Der erste Sensorwiderstand ist derart konfiguriert, dass sich sein Widerstand ansprechend auf einen Winkel ändert, der zwischen der Referenzmagnetisierungsrichtung und einem Magnetfeld definiert ist. Eine Mehrzahl von zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderständen ist konfiguriert, um ein Differenzsignal zu liefern. Jeder der zweiten Sensorwiderstände umfasst eine festgelegte Magnetschicht mit einer festen Orientierung in der Referenzmagnetisierungsrichtung. Ein anderes Sensorsystem umfasst einen ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstand mit einer Längsachse, die um 90° + einen Winkel Phi orientiert ist, wobei Phi < 90° relativ zu einer Referenzmagnetisierungsachse ist. Ein zweiter, magnetoresistiver Sensorwiderstand weist eine Längsachse auf, die um 90° - Phi relativ zu der Referenzmagnetisierungsachse orientiert ist.

Description

  • Der Widerstandswert von Sensoren, die auf Magnetoresistenz (MR; magnetoresistance) basieren, wie z. B. von Giant-Magnetoresistenz-(GMR-; giant magnetoresistance) oder Tunnel-Magnetoresistenz-(TMR-; tunnel magnetoresistance) Sensoren, variiert, wenn ein externes Magnetfeld an das Sensorbauelement angelegt ist. Magnetoresistenzwinkelsensoren werden verbreitet bei berührungsfreien Winkelpositionssensoren in rauen Umgebungen eingesetzt, wie in Automobilen oder der Industrie. Im Allgemeinen sind diese Sensoren relativ unempfindlich gegenüber Verschleiß und Verschmutzung.
  • Magnetoresistenz-„Spin-Ventil”-Sensoren haben üblicherweise zwei Magnetschichten, die durch eine nichtmagnetische Schicht getrennt sind. Eine der zwei Magnetschichten ist festgelegt, so dass sie eine feste Ausrichtung in einer Referenzrichtung hat, während die andere Schicht eine freie Schicht ist, die ihre Ausrichtung ansprechend auf ein externes Magnetfeld ändert.
  • GMR-Winkelsensoren verwenden z. B. Brückenkonfigurationen mit einem Widerstand, der seinen Widerstandswert reduziert, und einem anderen, der seinen Widerstandswert erhöht, wenn eine bestimmte physische Größe angelegt ist. Für GMR-Spin-Ventil-Sensoren kann dies erreicht werden durch Verwenden von GMR-Sensorwiderständen für die Schenkel der Brücke, die in zwei unterschiedlichen Referenzmagnetisierungsrichtungen magnetisiert sind. Um die Referenzmagnetisierungsrichtung festzulegen, wird die Struktur erwärmt, ein externes Magnetfeld wird angelegt, dann wird die Struktur abgekühlt, um die Magnetisierungsrichtung festzulegen.
  • Für monolithisch integrierte Sensoren, die mehrere Magnetisierungsrichtungen benötigen, muss dieser Prozess für jede Magnetisierungsrichtung wiederholt werden. Um ein Überschreiben der vorangehend festgelegten Magnetisierungen zu verhindern, wird üblicherweise ein lokalisierter Magnetisierungsprozess angewendet, wie z. B. durch ein lokales Erwärmen (z. B. durch monolithisch integrierte Erwärmungsstreifen oder einen Laserspot) innerhalb eines externen Magnetfeldes und dann Abkühlen, um die Magnetisierungsrichtung festzulegen. Dieser Prozess muss für jede Magnetisierungsrichtung ausgeführt werden, was die Komplexität und Kosten des Herstellungsprozesses erhöht.
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Sensorsystem und ein Verfahren zum Herstellen eines magnetoresistiven Sensorsystems mit verbesserten Charakteristika zu schaffen.
  • Die Aufgabe wird gelöst durch die Merkmale der unabhängigen Ansprüche. Weiterbildungen finden sich in den abhängigen Ansprüchen.
  • Ausführungsbeispiele eines Sensorsystems und eines Herstellungsverfahrens sind offenbart. Bei einigen Ausführungsbeispielen umfasst ein Sensorsystem einen ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstand, der eine festgelegte Magnetschicht mit einer festen Orientierung in einer Referenzmagnetisierungsrichtung umfasst. Der erste Sensorwiderstand ist derart konfiguriert, dass sich sein Widerstandswert ansprechend auf einen Winkel ändert, der zwischen der Referenzmagnetisierungsrichtung und einem Magnetfeld definiert ist. Eine Mehrzahl von zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderständen sind konfiguriert, um ein Differenzsignal zu liefern. Jeder der zweiten Sensorwiderstände umfasst eine festgelegte Magnetschicht mit einer festen Orientierung in der Referenzmagnetisierungsrichtung.
  • Bei anderen Ausführungsbeispielen umfasst ein Sensorsystem einen ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstand mit einer Längsachse, orientiert um 90° + einem Winkel Φ, wobei Φ < 90° relativ zu einer Referenzmagnetisierungsachse ist. Ein zweiter, magnetoresistiver Sensorwiderstand weist eine Längenachse auf, die orientiert ist um 90° – Φ relativ zu der Referenzmagnetisierungsachse.
  • Die beiliegenden Zeichnungen sind umfasst, um ein weiteres Verständnis der vorliegenden Erfindung zu geben und sind in diese Beschreibung eingelagert und bilden einen Teil derselben. Die Zeichnungen stellen die Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung dar und dienen zusammen mit der Beschreibung dazu, die Prinzipien der Erfindung zu erklären. Andere Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung und viele der vorgesehenen Vorteile der vorlegenden Erfindung sind ohne weiteres ersichtlich, wenn sie durch Bezugnahme auf die nachfolgende, detaillierte Beschreibung besser verständlich werden. Die Elemente der Zeichnungen sind nicht notwendigerweise maßstabsgetreu relativ zueinander. Gleiche Bezugszeichen bezeichnen entsprechende, ähnliche Teile.
  • Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
  • 1 konzeptionell ein Ausführungsbeispiel eines Sensorsystems zum Messen einer Winkelposition;
  • 2 konzeptionell ein Beispiel eines magnetoresistiven (MR-)Sensorwiderstands;
  • 3 einen Prozess zum Festlegen einer Referenzmagnetisierungsrichtung für einen MR-Sensorwiderstand;
  • 4 ein Ausführungsbeispiel eines MR-Sensorsystems, das einen rechteckigen Magneten verwendet;
  • 5 ein Ausführungsbeispiel eines MR-Sensorsystems, das einen Ringmagneten verwendet;
  • 6 ein Beispiel von Signalen, die durch ein System gemäß 4 oder 5 ausgegeben werden;
  • 7 ein anderes Ausführungsbeispiel eines MR-Sensorsystems;
  • 8 das System aus 7 mit gedrehten Referenzmagnetisierungsrichtungen;
  • 9 ein Beispiel von Signalen, die durch Systeme gemäß 7 und 8 ausgegeben werden;
  • 10 Differenzausgangssignale gemäß dem System gemäß 8; und
  • 11 konzeptionell ein Ausführungsbeispiel eines MR-Widerstandsstapels.
  • In der nachfolgenden, detaillierten Beschreibung wird Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen genommen, die einen Teil hiervon bilden und in denen auf darstellende Weise spezifische Ausführungsbeispiele gezeigt sind, in denen die Erfindung praktiziert werden kann. Diesbezüglich wird eine Richtungsterminologie wie z. B. „oben”, „unten”, „vorne”, „hinten”, „Vorder”-, „Hinter”- etc. Bezug nehmend auf die Orientierung bzw. Ausrichtung der Figur(en) verwendet, die beschrieben wird (werden). Da Komponenten von Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung in einer Reihe von unterschiedlichen Orientierungen positioniert sein können, wird die Richtungsterminologie zu Zwecken der Darstellung verwendet und ist auf keine Weise einschränkend. Es wird darauf hingewiesen, dass andere Ausführungsbeispiele verwendet werden können und strukturelle oder logische Änderungen ausgeführt werden können, ohne von dem Schutzbereich der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Die nachfolgende, detaillierte Beschreibung soll daher nicht in einem einschränkenden Sinn genommen werden, und der Schutzbereich der vorliegenden Erfindung ist durch die beiliegenden Ansprüche definiert.
  • 1 stellt ein Ausführungsbeispiel eines Sensorsystems 100 zum Messen einer Winkelposition dar. Das System 100 umfasst einen Sensor 112, der aus einer Mehrzahl von Magnetoresistenz-(z. B. GMR-)Sensorwiderständen besteht. Ein bewegbarer Magnet 110 ist benachbart zu dem Sensor 112 positioniert. Der Magnet 110 kann z. B. an einer drehbaren Welle befestigt sein. Der Magnet 110 richtet ein Magnetfeld ein, so dass, wenn sich der Magnet 110 dreht, das sich bewegende Magnetfeld verursacht, dass der Widerstandswert der Sensorwiderstände des Sensors 112 variiert. Der sich ändernde Widerstandswert wird verwendet, um die Winkelposition des Magneten 110 zu bestimmen, und somit die Position der Welle oder eines anderen sich drehenden Bauelements, an das der Magnet angebracht ist. Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel wird die Ausgabe des Sensors 112 zu einem Prozessor 114 geliefert, der programmiert ist, um die Winkelposition des drehbaren Magneten 110 basierend auf den variierenden Widerstandswerten zu bestimmen.
  • Bei typischen, bekannten Sensoren sind die Sensorwiderstände bei zwei Brücken konfiguriert, eine mit einer Magnetisierung in einer x-Richtung und eine mit einer Magnetisierung in einer y-Richtung. Die x-Brücke liefert ein Signal proportional zu dem Kosinus des Winkels zwischen der Richtung des Magnetfeldes des Magneten 110 und einer Referenzmagnetisierungsrichtung, und der y-Sensor liefert ein Sinussignal proportional zu demselben Winkel. Unter Verwendung beider Signale ist die Winkelmessung eindeutig. Ferner werden die Sensorwiderstände, die diagonal in jeder Brücke positioniert sind, in Gegenrichtung magnetisiert, um eine maximale Empfindlichkeit zu erreichen. Somit benötigen bekannte Sensoren üblicherweise vier unterschiedliche Magnetisierungsrichtungen.
  • 2 stellt ein Beispiel eines MR-Sensorwiderstands 200 dar, der in dem Sensor 112 umfasst ist. Jeder der Sensorwiderstände 200 des Sensors 112 weist eine festgelegte (bzw. gepinnte; pinned) Magnetschicht 202 auf, die eine feste Orientierung in einer Referenzmagnetisierungsrichtung 204 aufweist. Eine nichtmagnetische Abstandhalterschicht 206 trennt eine freie Magnetschicht 208 und die festgelegte Schicht 202. 3 stellt einen Prozess zum Festlegen der Referenzmagnetisierungsrichtung 204 dar. Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel umfasst die festgelegte Schicht 202 eine antiferromagnetische Schicht 210 und eine ferromagnetische Schicht 212. Bei einigen Ausführungsbeispielen umfasst die festgelegte Schicht 202 ferner eine Abstandhalterschicht und eine Referenzschicht. In 3a gibt es keine spezifische Magnetisierung der ferromagnetischen Schicht 212.
  • Im Allgemeinen sind die Sensorwiderstandsstrukturen auf einem gemeinsamen Substrat gebildet und die Magnetisierung wird erreicht durch Anlegen eines externen Magnetfeldes in der gewünschten Richtung, Erwärmen des Sensorelements, um in dieser Richtung magnetisiert zu werden, und Abkühlen desselben. In 3b wird Wärme auf die Struktur ausgeübt und ein Magnetfeld ist in der Referenzrichtung 204 angelegt. Bei einigen Ausführungsbeispielen ist die antiferromagnetische Schicht 210 aus Platinmangan (PtMn) gebildet und wird z. B. auf eine Temperatur zwischen ungefähr 300–400°C erwärmt. In 3c ist die Struktur derart abgekühlt, dass die Austauschvorspannung die Oberfläche der antiferromagnetischen Schicht 212 ausrichtet, was zu dem Festlegen der ferromagnetischen Schicht 212 in der Referenzrichtung 204 führt, wie in 3d dargestellt ist.
  • Für Sensorsysteme, die unterschiedliche Magnetisierungsrichtungen für die individuellen Sensorwiderstände benötigen, ist ein separater Erwärmungsprozess zum Festlegen jeder Magnetisierungsrichtung erforderlich. Ferner müssen die Elemente ohne Erwärmungselemente magnetisiert werden, die vorangehend magnetisiert wurden, da dies die Magnetisierungsrichtung überschreiben würde. Daher wird die Magnetisierungsrichtung üblicherweise unter Verwendung einer lokalen Erwärmung in Kombination mit einem lokalen/globalen Magnetfeld eingestellt. Gemäß Aspekten der vorliegenden Offenbarung sind Ausführungsbeispiele offenbart, die einen einzelnen Erwärmungsprozess benötigen, um die Referenzmagnetisierungsrichtung für alle Sensorwiderstände auf einem gemeinsamen Substrat eines MR-Sensorsystems einzustellen.
  • 4 stellt ein Ausführungsbeispiel eines Sensorsystems 300 dar, das eine Mehrzahl von MR-Sensorwiderständen verwendet, die in derselben Referenzrichtung magnetisiert sind. Das Sensorsystem 300 umfasst einen ersten MR-Sensorwiderstand 301, der eine festgelegte magnetische Schicht mit einer festen Orientierung in einer Referenzmagnetisierungsrichtung 204 aufweist, wie oben beschrieben ist. Der erste Sensorwiderstand 301 ist benachbart zu einem drehbaren Magneten 110 in einem homogenen Abschnitt des Magnetfeldes positioniert, das durch den Magneten 110 eingerichtet ist. Anders ausgedrückt ist der erste Sensorwiderstand 301 an einem Ort positioniert, wo die Magnetfeldlinien 312 relativ gerade sind und sich in derselben Richtung erstrecken.
  • In dieser Position ändert sich der Widerstandswert des ersten Sensorwiderstands 301 ansprechend auf das Magnetfeld, das durch den Magneten 110 eingerichtet wird. Der Widerstandswert variiert zwischen einem Minimum und einem Maximum, abhängig von dem Winkel zwischen der Referenzmagnetisierungsrichtung 204 und dem Magnetfeld, gemäß einer Sinusfunktion.
  • Die Gruppe aus zweiten Sensorwiderständen 302 ist konfiguriert, um ein Differenzsignal zu liefern. Jeder der zweiten Sensorwiderstände 302 weist auch eine festgelegte Magnetschicht mit einer festen Orientierung in derselben Referenzrichtung 204 auf. Somit kann die Referenzmagnetisierung aller Widerstände 301, 301 unter Verwendung eines einzelnen Erwärmungsprozesses eingestellt werden.
  • Die zweiten Widerstände 302 sind in einer Region 314 des Magnetfeldes positioniert, die inhomogen ist. Die Orte dieser Widerstände sind auf eine Weise ausgewählt, dass die Differenz Minima und Maxima an Winkelpositionen aufweist, die 90° phasenverschoben gegenüber dem Sinus des einzelnen, ersten Widerstands 301 sind. Im Allgemeinen folgt der Widerstandswert der zweiten Widerstände 302 keiner Sinusfunktion, beide Signale zusammen liefern jedoch eindeutige Informationen über den Winkel zwischen der Achse des Magneten 110 und der Magnetisierungsrichtung 204 der Widerstände 301, 302.
  • Bei dem Ausführungsbeispiel, das in 4 dargestellt ist, ist der erste Sensorwiderstand 301 unter der Drehachse des Magneten 110 positioniert. Die zweiten Sensorwiderstände umfassen vier Widerstände 302a, 302b, 302c, 302d, die im Allgemeinen den ersten Sensorwiderstand 301 umgeben und in einem inhomogenen Abschnitt des Magnetfeldes positioniert sind – dem Abschnitt unter dem Streumagnetfeld 314, wo die Magnetfeldlinien gekrümmt sind.
  • Im Allgemeinen verringert für einen MR-Sensor ein Magnetfeld in der Richtung der Referenzmagnetisierung den Widerstandswert des MR-Sensorwiderstands und ein Feld in der entgegengesetzten Richtung erhöht denselben. In 4a ist die lange Achse des Magneten 110 senkrecht zu der Referenzrichtung 204 orientiert. In dieser Position sind die magnetischen Streufeldlinien 314 im Allgemeinen entgegengesetzt zu der Referenzrichtung 204 für den ersten und den dritten Sensorwiderstand 302a und 302c orientiert und erhöhen daher den Widerstandswert dieser Sensorwiderstände. Für den zweiten und den vierten Sensorwiderstand 302b und 302d sind die Streufeldlinien 314 im Allgemeinen in derselben. Richtung orientiert wie die Referenzrichtung 204 und somit ist der Widerstandswert verringert.
  • In 4b hat sich der Magnet 110 90° gedreht, derart, dass er parallel zu der Referenzrichtung 204 der Sensorwiderstände 301, 302 orientiert ist. In dieser Position sind die magnetischen Streufeldlinien 314 im Allgemeinen in der Referenzrichtung 204 orientiert, wodurch somit der Widerstandswert aller zweiten Sensorwiderstände 302a, 302b, 302c, 302d verringert wird. 4c stellt das System 300 mit dem Magnet 110 bei ungefähr einem 45°-Winkel relativ zu der Referenzrichtung 204 dar. Für den ersten und dritten Sensorwiderstand 302a, 302c der zweiten Widerstandsgruppe haben die magnetischen Streufeldlinien 314 eine vernachlässigbare Wirkung auf den Widerstandswert dieser Sensorwiderstände 302a, 302c, da sich die Streufeldlinien 314 in beiden Richtungen erstrecken. In der Region des zweiten und vierten Sensorwiderstands 302b, 302d erstrecken sich die Feldlinien 314 im Allgemeinen in derselben Richtung wie die Referenzrichtung 204 und verringern somit den Widerstandswert des zweiten und vierten Sensorwiderstands 302b, 302d.
  • 5 stellt ein Ausführungsbeispiel eines Sensorsystems 300 dar, wo ein Ringmagnet 111 verwendet wird anstelle des rechteckigen Magneten 110, der in 4 dargestellt ist. In 5a sind die homogenen Feldlinien 312, die durch den Ringmagneten 111 eingerichtet sind, senkrecht zu der Referenzrichtung 204 orientiert. Entsprechend sind die magnetischen Streufeldlinien 114 für den ersten und dritten Sensorwiderstand 302a und 302c im Allgemeinen entgegengesetzt zu der Referenzrichtung 204 orientiert und erhöhen daher den Widerstandswert dieser Sensorwiderstände. Für den zweiten und vierten Sensorwiderstand 302b, 302d sind die Streufeldlinien im Allgemeinen in derselben Richtung orientiert wie die Referenzrichtung 204 und somit wird der Widerstandswert verringert.
  • In 5b ist der Ringmagnet 111 90° gedreht, derart, dass die Feldlinien 312 parallel zu der Referenzrichtung 204 der Sensorwiderstände 301, 302 sind. In dieser Position sind die magnetischen Streufeldlinien 314 im Allgemeinen in der Referenzrichtung 204 orientiert, wodurch der Widerstandswert aller zweiten Sensorwiderstände 302a, 302b, 302c, 302d verringert wird.
  • 6 stellt ein Beispiel von Signalen von den Sensorwiderständen 301, 302 dar. Wie oben angegeben wurde, gibt der erste Sensorwiderstand 301 ein sinusförmiges Signal 320 ansprechend auf den sich drehenden Magneten aus. Die zweiten Sensorwiderstände 302 sind konfiguriert, um Differenzsignale zu liefern, wobei die Kurve 322 der zweiten Widerstände 302a, 302b, 302c, 302d zum Beispiel berechnet wird durch Kombinieren der Widerstandswerte gemäß (302a302b) + (302c302d). Die Funktionen (302d302b) und (302a302c) sollten immer 0 sein, was zur Einstellung der Magnetposition und zum Selbsttesten einer Fehlausrichtung oder einer asymmetrischen Beschädigung der Sensoren verwendet werden kann.
  • Bei einigen Ausführungsbeispielen wird der Winkel unter Verwendung einer Nachschlagtabelle bestimmt, die die Signale des ersten und zweiten Widerstands 301, 302 mit Winkelpositionen korreliert. Bei anderen Ausführungsbeispielen wird der Arkustangens des Quotienten beider Signale berechnet. Die Differenz der zweiten Sensorwiderstandsgruppe 302 ist keine exakte Kosinusfunktion. Stattdessen ist das Ergebnis ein gestörter Winkel und ist linearisiert. Bei einigen Ausführungsbeispielen wird der Arkussinus des ersten Sensorwiderstands 301 berechnet und korrekte Region auf der Winkelachse wird basierend auf dem Vorzeichen des Differenzsignals von den zweiten Widerständen 302 identifiziert.
  • 7 stellt ein anderes Ausführungsbeispiel eines Sensorsystems 400 dar. Dieses Ausführungsbeispiel verwendet die Formanisotropie in schmalen MR-Streifenstrukturen (z. B. weniger als 5 μm Breite). Das Sensorsystem umfasst einen ersten und zweiten MR-Sensorwiderstand 401, 402. Der erste und der zweite Sensorwiderstand 401, 402 weisen jeweils eine festgelegte Referenzmagnetisierungsrichtung auf, die z. B. mit einem Erwärmungsprozess eingestellt wird, der oben beschrieben ist. Wie bei den vorangehend offenbarten Ausführungsbeispielen wird die Referenzmagnetisierungsrichtung des ersten und zweiten Sensorwiderstands 401, 402 unter Verwendung eines einzelnen Erwärmungsprozesses festgelegt.
  • Bei bekannten MR-Sensoren ist die Referenzmagnetisierungsrichtung üblicherweise senkrecht zu der Streifenlängsachse. Bei dem dargestellten Ausführungsbeispiel weisen die Sensorwiderstände 401, 402 jeweils eine Längsachse 410 auf. Der erste Sensorwiderstand 401 weist seine Längsachse 410 orientiert um 90° + einen Winkel Φ, wobei Φ < 90°, relativ zu der Achse der Referenzmagnetisierungsrichtung 204 auf. Der zweite Sensorwiderstand 402 weist seine Längsachse 410 orientiert um 90° – Φ relativ zu der Referenzmagnetisierungsachse 204 auf. Bei einigen Ausführungsbeispielen ist Φ zwischen 5° und 85°. Bei einigen Ausführungsbeispielen ist der Wert des Winkels Φ aufgrund von Herstellungstoleranzen etc. nicht genau derselbe für den ersten und den zweiten Widerstand 401, 402. Elektrisch/magnetisch macht ein kleiner Unterschied (z. B. +/–4°) zwischen dem Winkel Φ bei dem ersten und dem zweiten Widerstand keinen wesentlichen Unterschied.
  • Eine Asymmetrie zwischen dem ersten und dem zweiten Sensorwiderstand 401, 402 wird somit eingebracht. Unter Annahme derselben anfänglichen Referenzmagnetisierungsrich tung (oder Achse) 204 zwingt die Formanisotropie die Referenzmagnetisierung für einen der Sensorwiderstände in eine Richtung und die entgegengesetzte Richtung für den anderen Sensorwiderstand. Wenn der Sensor 400 in die Nähe oder über die Temperatur erwärmt wird, die erforderlich ist, um die Referenzmagnetisierungsrichtung festzulegen, oder die „Sperrtemperatur” (ungefähr 300–400°C für PtMn als den natürlichen Antiferromagnet), ist die Referenzmagnetisierung fast frei, um entlang ihres Anisotropie-Kraft-Gradienten gedreht zu werden – in entgegengesetzten Richtungen für den ersten und den zweiten Sensorwiderstand 401, 402, wie in 8 dargestellt ist.
  • Nach dem Abkühlen wird die neue Orientierung der Referenzmagnetisierungen 204a, 204b festgelegt. Als ein Ergebnis werden zwei Sensorwiderstände gebildet, die zumindest Komponenten aufweisen, die auf antiparallele Weise zueinander ausgerichtet sind. Daher wird durch eine Kombination der zwei Widerstände in einer Wheatstone-Brückenkonfiguration ein Differenzausgangssignal erhalten.
  • 9 ist ein Diagramm, das Experimentdaten mit einer ersten und zweiten Kurve 421, 422 darstellt, und die Ausgangssignale der Sensorwiderstände eines nichtoptimierten MR-Sensors mit einem ersten und zweiten Sensorwiderstand mit einem Neigungswinkel von +/–45° zeigt. Die Kurven 421, 422 sind für einen Großteil des Bereichs von Magnetfeldwinkeln angepasst. Nach dem Ausüben von 375°C für eine Stunde sind die gedrehten Referenzmagnetisierungsrichtungen des ersten und zweiten Sensorwiderstands festgelegt, wie bei dem Ausführungsbeispiel, das in 8 dargestellt ist. Folglich wird ein Winkel von ungefähr 35° zwischen den Referenzmagnetisierungsrichtungen des ersten und zweiten Sensorwiderstands erhalten, was zu einer Abweichung zwischen den Kurven 431, 432 führt, die verwendet werden kann, um ein Differenzausgangssignal zu liefern, das verwendet wird, um die Winkelposition des Drehmagneten zu identifizieren.
  • Unter Annahme einer Wheatstone-Brückenkonfiguration mit dem ersten und zweiten Widerstand 401, 402 wird ein Differenzausgangssignal durch ein Drehmagnetfeld erzeugt, wie in 10 dargestellt ist. Ein solches Signal kann verwendet werden, um einen Sensor zum Erfassen einer Magnetfeldrichtung innerhalb eines eingeschränkten Winkelbereichs (weniger als 180° bei einigen Ausführungsbeispielen) und mit niedrigen Genauigkeitsanforderungen zu implementieren. Ferner kann die Magnetfeldstärke erfasst werden, die z. B. geeignet zur Verwendung als Näherungsschalter ist.
  • 11 stellt schematisch einen MR-Widerstandsstapel 440 dar, der zur Verwendung bei dem Ausführungsbeispiel geeignet ist, das in 8 und 9 dargestellt ist. Er weist eine antiferromagnetische Schicht 442 auf, die eine natürliche antiferromagnetische Schicht 444 umfasst, die z. B. aus IrMn oder PtMn gebildet ist. Eine ferromagnetische Schicht oder eine festgelegte Schicht 446 ist über dem natürlichen Antiferromagneten 444 positioniert und hat laut Prozess eine sehr stabile Magnetisierungsrichtung. Eine nichtmagnetische Abstandhalterschicht 448 trennt die ferromagnetische Schicht 446 von einer antiferromagnetisch gekoppelten Referenzschicht 450. Die antiferromagnetische Kopplung wird verwaltet durch die Dicke der Abstandhalterschicht 448. Die ferromagnetische Schicht 446 und die Referenzschicht 450 bilden zusammen einen künstlichen Antiferromagneten 442, der die Stabilität gegen externe Magnetfelder verbessert. Eine andere Abstandhalterschicht 452 trennt die Referenzschicht 450 von einer freien Schicht 454. Die Abweichung der Magnetisierungswinkel zwischen der freien Schicht 454 und Referenzschicht 450 liefert den Spin-Ventil-Effekt.
  • Für Näherungsschalterimplementierungen ist eine bestimmte Kopplung zwischen der freien Schicht 454 und der Referenzschicht 450 (entweder ferromagnetisch oder antiferromagnetisch) notwendig, um eine Rückstellkraft für die Magnetisierung der freien Schicht zu liefern. Eine solche Kopplungskraft kann eingestellt werden durch die Dicke der nichtmagnetischen Abstandhalterschicht 452. Bei einigen Ausführungsbeispielen hat die Referenzschicht 450 eine Dicke zwischen ungefähr 0,5 nm und 10 nm und die festgelegte Schicht 446 hat eine Dicke zwischen ungefähr 0,5 nm und 10 nm.
  • Die offenbarten Ausführungsbeispiele ermöglichen die Bildung eines MR-Sensorsystems unter Verwendung eines Einzelerwärmungsprozesses, wie z. B. dem, der in Verbindung mit 3 offenbart und beschrieben ist, um die Referenzrichtung einer Mehrzahl von Sensorwiderstandsstrukturen festzulegen. Im Allgemeinen ist die Mehrzahl der magnetoresistiven Sensorwiderstandsstrukturen auf einem Substrat gebildet, das konfiguriert ist, wie z. B. bei den oben beschriebenen Ausführungsbeispielen offenbart ist. Die Widerstandsstrukturen werden erwärmt (ungefähr 300–400°C für PtMn) und ein Magnetfeld wird in einer Referenzrichtung angelegt. Ein Ofen oder ein thermischer Schnellhärtprozess wird bei einigen Ausführungsbeispielen zur Wärmeanwendung verwendet. Die Struktur wird dann abgekühlt, um die Referenzmagnetisierungsrichtung für jede der Sensorwiderstandsstrukturen zu befestigen. Somit können mit einem einzelnen Erwärmungsprozess Widerstandsstrukturen konfiguriert werden, um ein Differenzsignal auszugeben, das ansprechend auf ein externes Magnetfeld variiert.
  • Obwohl spezifische Ausführungsbeispiele hierin dargestellt und beschrieben wurden, werden Fachleute auf dem Gebiet erkennen, dass eine Vielzahl von alternativen und/oder gleichwertigen Implementierungen für die spezifischen, gezeigten und beschriebenen Ausführungsbeispiele eingesetzt werden kann, ohne von dem Schutzbereich der vorliegenden Erfindung abzuweichen. Diese Anmeldung soll jegliche Anpassungen oder Abänderungen der spezifischen Ausführungsbeispiele abdecken, die hierin erörtert werden. Daher ist es beabsichtigt, dass die Erfindung nur durch die Ansprüche und deren Entsprechungen eingeschränkt ist.

Claims (21)

  1. Sensorsystem (100, 300), das folgende Merkmale aufweist: einen ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstand, der eine festgelegte Magnetschicht mit einer festen Orientierung in einer Referenzmagnetisierungsrichtung (204) umfasst und derart konfiguriert ist, dass der Widerstandswert des ersten Sensorwiderstands sich ansprechend auf einen Winkel ändert, der zwischen der Referenzmagnetisierungsrichtung (204) und einem Magnetfeld definiert ist; und eine Mehrzahl von zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderständen, die konfiguriert sind, um ein Differenzsignal zu liefern, wobei jeder eine festgelegte Magnetschicht mit einer festen Orientierung in der Referenzmagnetisierungsrichtung (204) umfasst.
  2. Sensorsystem (100, 300) gemäß Anspruch 1, das ferner folgende Merkmale aufweist: einen bewegbaren Magneten, der ein Magnetfeld einrichtet, wobei der erste, magnetoresistive Sensorwiderstand in einem homogenen Abschnitt des Magnetfeldes positioniert ist; und die zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderstände in einem inhomogenen Abschnitt des Magnetfeldes positioniert sind.
  3. Sensorsystem (100, 300) gemäß Anspruch 2, bei dem der bewegbare Magnet (110) ein rechteckiger Magnet ist.
  4. Sensorsystem (100, 300) gemäß Anspruch 2 oder 3, bei dem der bewegbare Magnet (110) ein Ringmagnet ist.
  5. Sensorsystem (100, 300) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 4, bei dem die Mehrzahl der zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderstände vier Widerstände umfasst.
  6. Sensorsystem (100, 300) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 5, bei dem der erste und der zweite, magnetoresistive Sensorwiderstand auf einem gemeinsamen Substrat positioniert sind.
  7. Sensorsystem (100, 300) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 6, bei dem der erste und der zweite, magnetoresistive Sensorwiderstand jeweils Folgendes umfassen: eine nichtmagnetische Abstandhalterschicht, die auf der festgelegten, magnetischen Schicht positioniert ist; eine freie, magnetische Schicht, die auf der Abstandhalterschicht gegenüberliegend zu der festgelegten, magnetischen Schicht positioniert ist, wobei die freie, magnetische Schicht ihre Orientierung ansprechend auf das externe Magnetfeld ändert.
  8. Sensorsystem (100, 300) gemäß Anspruch 7, bei dem die festgelegte Schicht eine antiferromagnetische Schicht und eine ferromagnetische Schicht umfasst.
  9. Sensorsystem (100, 300) gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8, bei dem: die Änderung des Widerstandswerts des ersten Sensorwiderstands einer Sinusfunktion folgt; die Widerstandswerte der zweiten Sensorwiderstände Minima und Maxima aufweisen, die 90° phasenverschoben gegenüber dem Sinus des Widerstandswerts des ersten Sensorwiderstands sind.
  10. Sensorsystem (400), das folgende Merkmale aufweist: einen ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstand mit einer Längsachse, die um 90° + einen ersten Winkel orientiert ist, wobei der erste Winkel < 90° relativ zu einer Referenzmagnetisierungsachse ist; und einen zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderstand mit einer Längsachse, die um 90° – einen zweiten Winkel relativ zu der Referenzmagnetisierungsachse orientiert ist, wobei der zweite Winkel ungefähr gleich dem ersten Winkel ist.
  11. Sensorsystem (400) gemäß Anspruch 10, bei dem der erste Winkel zwischen 5° und 85° ist.
  12. Sensorsystem (400) gemäß Anspruch 10 oder 11, bei dem der erste und der zweite, magnetoresistive Sensorwiderstand jeweils Folgendes umfassen: eine Antiferromagnetschicht; eine festgelegte Magnetschicht, die auf der Antiferromagnetschicht positioniert ist; eine erste, nichtmagnetische Abstandhalterschicht, die auf der festgelegten Magnetschicht gegenüberliegend zu der Antiferromagnetschicht positioniert ist; eine Referenzmagnetschicht, die auf der ersten Abstandhalterschicht gegenüberliegend zu der festgelegten Magnetschicht positioniert ist, wobei die Referenzmagnetschicht die Referenzmagnetisierungsachse definiert; eine zweite, nichtmagnetische Abstandhalterschicht, die auf der Referenzmagnetschicht gegenüberliegend zu der ersten Abstandhalterschicht positioniert ist; und eine freie Magnetschicht, die auf der zweiten Abstandhalterschicht gegenüberliegend zu der Referenzmagnetschicht positioniert ist, wobei die freie Magnetschicht ihre Orientierung ansprechend auf ein externes Magnetfeld ändert.
  13. Sensorsystem (400) gemäß Anspruch 12, bei dem die Referenzschicht eine Dicke zwischen 0,5 nm und 10 nm aufweist.
  14. Sensorsystem (400) gemäß Anspruch 12 oder 13, bei dem die festgelegte Schicht eine Dicke zwischen 0,5 nm und 10 nm aufweist.
  15. Verfahren zum Herstellen eines magnetoresistiven Sensorsystems, das folgende Schritte aufweist: Bilden einer Mehrzahl von magnetoresistiven Sensorwiderstandsstrukturen auf einem Substrat; Erwärmen der Widerstandsstrukturen; Anlegen eines Magnetfelds in einer Referenzrichtung an die Widerstandsstrukturen; Abkühlen der Widerstandsstrukturen, um eine Referenzmagnetisierungsrichtung für jede der Sensorwiderstandsstrukturen festzulegen; und Verbinden der Widerstandsstrukturen, um ein Differenzsignal auszugeben, das ansprechend auf ein externes Magnetfeld variiert.
  16. Verfahren gemäß Anspruch 15, bei dem die Widerstandsstrukturen auf ungefähr 300–400°C erwärmt werden.
  17. Verfahren gemäß Anspruch 15 oder 16, bei dem das Erwärmen der Widerstandsstrukturen das Verwenden eines Ofens zur Wärmeausübung umfasst.
  18. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 15 bis 17, bei dem ein thermischer Schnellhärtprozess zur Wärmeausübung verwendet wird.
  19. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 15 bis 18, bei dem die Referenzmagnetisierungsrichtung in einer gemeinsamen Richtung für jede der Sensorwiderstandsstrukturen fest ist, und bei dem das Bilden der Mehrzahl von magnetoresistiven Sensorwiderstandsstrukturen folgende Schritte umfasst: Bilden eines ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstands, der in einem homogenen Abschnitt des externen Magnetfeldes positioniert ist; und Bilden einer Mehrzahl von zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderständen, die in einem inhomogenen Abschnitt des Magnetfeldes positioniert sind und konfiguriert sind, um das Differenzsignal zu liefern.
  20. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 15 bis 19, bei dem das Bilden der Mehrzahl von magnetoresistiven Sensorwiderstandsstrukturen folgende Schritte umfasst: Bilden eines ersten, magnetoresistiven Sensorwiderstands mit einer Längsachse, die um 90° + einen Winkel Φ orientiert ist, wobei Φ < 90° relativ zu einer Referenzmagnetisierungsachse; und Bilden eines zweiten, magnetoresistiven Sensorwiderstands mit einer Längsachse, die um 90° – Φ relativ zu der Referenzmagnetisierungsachse orientiert ist; und wobei die Referenzmagnetisierungsrichtung in einer ersten und zweiten antiparallelen Richtung für die erste bzw. zweite Sensorwiderstandsstruktur festgelegt ist.
  21. Verfahren gemäß Anspruch 20, bei dem Φ zwischen 5° und 85° ist.
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