DE102009035952A1 - Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse, Verwendung einer Kamera bei einem CVD-Verfahren sowie CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen - Google Patents

Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse, Verwendung einer Kamera bei einem CVD-Verfahren sowie CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen Download PDF

Info

Publication number
DE102009035952A1
DE102009035952A1 DE102009035952A DE102009035952A DE102009035952A1 DE 102009035952 A1 DE102009035952 A1 DE 102009035952A1 DE 102009035952 A DE102009035952 A DE 102009035952A DE 102009035952 A DE102009035952 A DE 102009035952A DE 102009035952 A1 DE102009035952 A1 DE 102009035952A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
silicon
cvd
camera
flange
diameter
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE102009035952A
Other languages
English (en)
Inventor
Ralph Kienzler
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
GRAEBER ENGINEERING CONSULTANTS GmbH
Original Assignee
GRAEBER ENGINEERING CONSULTANTS GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by GRAEBER ENGINEERING CONSULTANTS GmbH filed Critical GRAEBER ENGINEERING CONSULTANTS GmbH
Priority to DE102009035952A priority Critical patent/DE102009035952A1/de
Priority to PCT/EP2010/004720 priority patent/WO2011015330A2/de
Publication of DE102009035952A1 publication Critical patent/DE102009035952A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/52Controlling or regulating the coating process
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J3/00Processes of utilising sub-atmospheric or super-atmospheric pressure to effect chemical or physical change of matter; Apparatus therefor
    • B01J3/004Sight-glasses therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C01INORGANIC CHEMISTRY
    • C01BNON-METALLIC ELEMENTS; COMPOUNDS THEREOF; METALLOIDS OR COMPOUNDS THEREOF NOT COVERED BY SUBCLASS C01C
    • C01B33/00Silicon; Compounds thereof
    • C01B33/02Silicon
    • C01B33/021Preparation
    • C01B33/027Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material
    • C01B33/035Preparation by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds other than silica or silica-containing material by decomposition or reduction of gaseous or vaporised silicon compounds in the presence of heated filaments of silicon, carbon or a refractory metal, e.g. tantalum or tungsten, or in the presence of heated silicon rods on which the formed silicon is deposited, a silicon rod being obtained, e.g. Siemens process
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
    • C23C16/24Deposition of silicon only
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/4418Methods for making free-standing articles
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J2208/00Processes carried out in the presence of solid particles; Reactors therefor
    • B01J2208/00008Controlling the process
    • B01J2208/00654Controlling the process by measures relating to the particulate material

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

Die Erfindung betrifft einen Flansch 4 für einen CVD-Reaktor 1, an dem eine Kamera, insbesondere eine Wärmebildkamera 10, mittelseiner Befestigungsvorrichtung 5 angebracht ist, wobei die Kamera so ausrichtbar ist, dass sie mindestens eine der sich in dem CVD-Reaktor 1 befindenden Siliziumstangen 15 erfasst. Außerdem betrifft die Erfindung eine Verwendung einer Kamera, insbesondere einer Wärmebildkamera 10, zur Bestimmung des Durchmessers D von Siliziumstangen 15 während des Abscheideprozesses von Reinsilizium bei der Durchführung eines CVD-Verfahrens. Darüber hinaus betrifft die Erfindung ein CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen 15, bei dem die Flussmenge des zugeführten Prozessgases vom Durchmesser D der Siliziumstangen 15 abhängt.

Description

  • Die Erfindung befasst sich mit einem Flansch für einen CVD-Reaktor, in dem Siliziumstangen angeordnet sind, auf denen sich während eines CVD-Verfahrens Silizium abscheidet. Außerdem befasst sich die Erfindung mit einer Verwendung einer Kamera im Rahmen der Durchführung eines CVD-Verfahrens (CVD steht für Chemical Vapour Deposition). Die Erfindung befasst sich darüber hinaus auch mit einem CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen aus Reinsilizium. Im Rahmen dieser Anmeldung wird unter Reinsilizium Silizium verstanden, das einen Reinheitsgrad von über 99,99% aufweist; es umfasst somit auch Reinstsilizium mit einem Reinheitsgrad von über 99,9999%.
  • Zur Erzeugung von polykristallinem Silizium wird das sogenannte Siemens-Verfahren angewandt. Dieses wird beispielsweise in der DE 10 2008 000 052 A1 oder auch von W. Zulehner et al. im Fachartikel „Silicon" (VCH Publishers Inc. Vol. 23 Seiten 721–748) sowie von K. Hesse in „Silizium für die Photovoltaik" (Erneuerbare Energien 7/2206 Seiten 67–69) beschrieben. Hierbei wird in einem CVD-Reaktor, der beispielsweise in der DE 1 061 593 und von N. Bardahl in „Thyristor-Wechselstromsteller für moderne Silizium-Abscheiungsanlagen bei Wacker-Chemitonic" (Siemens-Zeitschrift 47 (1973) Heft 3 Seiten 160–163) beschrieben wird, eine Anzahl von vorgegebenen Siliziumstangen erzeugt. Hierzu werden dünne Impfstäbe aus Reinsilizium – im folgenden Filament genannt – verwendet. Diese Filamente haben eine auf dem Kopf stehende U-Form und werden in geeigneter Art und Weise geheizt. Sie haben einen Durchmesser von ca. 8 mm. Dem CVD-Reaktor wird ein Gemisch aus Wasserstoffgas (H2) und gasförmigem Trichlorsilan (HSiCl3) zugeführt. Bei einer Temperatur von ca. 1.100°C und einem Druck von ca. 6 bar im CVD-Reaktor scheidet sich durch Reduktion eines Teils des Trichlorsilans zu Siliziumtetrachlorid (SiCl4) Reinsilizium auf dem Filament ab. Das verbrauchte Gasgemisch aus SiCl4, Wasserstoffgas, Chlorwasserstoff-Gas (HCl) und unverbrauchtem Trichlorsilan entweicht aus dem CVD-Reaktor über einen Gasauslass. Es wird über eine Aufbereitungsanlage zum Teil wieder in Prozessgas zurückverwandelt, was jedoch für die Erfindung nicht wesentlich ist und somit hier nicht näher ausgeführt wird. Die Filamente wachsen insgesamt zu Siliziumstangen mit einem Durchmesser von ca. 160 mm an. Die Wachstumsrate des Siliziums auf dem Filament wird von der Temperatur und dem Druck im CVD-Reaktor und der Menge des Prozessgases beeinflusst, wie es dem Fachmann gut bekannt ist. Der verwendbare Gasdurchsatz verändert sich hierbei mit der Durchmesserzunahme der Siliziumstangen. Die bislang empirisch ermittelte gehaltene Durchflussmenge des Prozessgases, die einzig von der Prozesszeit abhängt, ist deshalb im Hinblick auf die zu erzielende Abscheidungsrate nicht optimal gewesen.
  • Als Aufgabe der Erfindung ergibt sich somit, ein Verfahren zur Verfügung zu stellen, bei dem der Gasdurchsatz an Prozessgas und gegebenenfalls dessen Molverhältnis optimal auf die zum jeweiligen Zeitpunkt gegebene Größe des Siliziumstabes abgestimmt wird. Außerdem ist es auch noch Aufgabe der Erfindung, eine Vorrichtung zur Verfügung zu stellen, mit der die für einen solchen optimalen Gasdurchsatz nötigen Parameter zur Steuerung der Flussmenge des Prozessgases bestimmt werden kann.
  • Die Aufgabe wird durch ein CVD-Verfahren mit den Merkmalen des Patentanspruchs 15 gelöst. Dadurch, dass erfindungsgemäß die Flussmenge des zugeführten Prozessgases vom Durchmesser der Siliziumstangen abhängt, wird eine optimale Abscheiderate des Reinsiliziums auf dem Filament und im weiteren Verlauf auf den sich ständig vergrößernden Siliziumstangen erzielt.
  • Bevorzugt wird der Durchmesser der Siliziumstangen mittels einer Kamera, insbesondere einer Wärmebildkamera, mit anschließender Bildauswertung bestimmt. Eine solche Anordnung ist mit relativ einfachen technischen Zusatzgeräten zu den sowieso schon vorhandenen Bestandteilen, die für die Durchführung des CVD-Verfahrens nötig sind, zu erreichen.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass der Wert des Durchmessers anhand einer vorher festgelegten Tabelle in einen Wert einer Flussmenge des Prozessgases umgewandelt wird und mittels des Werts der Flussmenge Steuerventile einer Gaskonsole gesteuert werden, die die Menge des zugeführten Prozessgases kontrollieren. Dadurch wird nach einem genau festgelegten Ablauf die Flussmenge des Prozessgases gesteuert, so dass zu jedem Zeitpunkt die vorherbestimmte, auf den Durchmesser der Siliziumstangen genau abgestimmte Flussmenge des Prozessgases eingeleitet wird und somit eine optimale Wachstumsrate des Reinsiliziums auf den Siliziumstangen in Abhängigkeit von deren Durchmesser gewährleistet ist.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Tabelle während der Durchführung des CVD-Verfahrens in Abhängigkeit von der aktuellen Abscheiderate des Siliziums angepasst wird.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Flussmenge bei kleinen Durchmessern der Siliziumstangen geringer ist als bei größeren Durchmessern.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Flussmenge während des CVD-Verfahrens in Abhängigkeit von der aktuellen Abscheiderate des Siliziums geändert wird. Dadurch wird die Gesamtdauer des Verfahrens bis zum Erreichen der gewollten Durchmesser der Siliziumstangen verkürzt werden, da immer die aktuell für eine optimale Abscheiderate benötigte Flussmenge an Prozessgas eingeleitet wird. Besonders bevorzugt ist dabei, dass die Flussmenge bei einem Durchmesser der Siliziumstange von 8 mm 80 kg/h beträgt und bei einem Durchmesser von 150 mm 2750 kg/h.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass als Prozessgas eine Mischung aus Trichlorsilangas und Wasserstoffgas in einem vorbestimmten Molverhältnis verwendet wird. Dadurch kann einer der Standardprozesse für das CVD-Verfahren zur Abscheidung von Reinsilizium auf Filamenten verwendet werden, wie dies beispielsweise beim Siemens-Verfahren der Fall ist. Im Rahmen eines erfindungsgemäßen CVD-Verfahrens ist es auch möglich, anstatt der Mischung aus Trichlorsilangas und Wasserstoffgas zur Durchführung des Siemens-Verfahrens als Prozessgas Monosilan (SiH4) zu verwenden. Die Verwendung von Monosilan ist in der Literatur für die Abscheidung von Reinsilizium bekannt, so dass hier nicht näher darauf einzugehen ist
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass das Prozessgas bei kleinem Durchmesser einen höheren Molanteil Wasserstoffgas enthält als bei größeren Durchmessern der Siliziumstang. Es hat sich gezeigt, dass dadurch eine bessere Abscheiderate erzielen lässt, als wenn das Molverhältnis über die gesamte Dauer konstant gehalten wird.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Kamera schräg von oben auf die Siliziumstangen ausgerichtet ist. Durch eine solche Ausrichtung der Kamera ist es möglich, diese oberhalb des CVD-Reaktors anzuordnen. Insbesondere ist es dabei vorteilhaft, die Kamera so außerhalb des CVD-Reaktors anzuordnen, dass die Siliziumstäbe durch ein Schauglas von der Kamera erfasst werden.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Kamera nur genau eine Siliziumstange erfasst. Dadurch wird gewährleistet, dass die Genauigkeit der Bestimmung des Durchmessers dieser einen Siliziumstange sehr hoch ist, da keine Überschneidungen mit anderen Siliziumstangen gegeben sind, die zu einer Verfälschung des zu bestimmenden Durchmessers der Siliziumstangen führen würde.
  • Die Aufgabe wird auch durch einen Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse mit den Merkmalen des Patentanspruchs 1 gelöst. Dadurch, dass an dem Flansch eine Kamera, insbesondere eine Wärmebildkamera, angebracht ist, die so ausrichtbar ist, dass sie mindestens eine der sich im CVD-Reaktor befindenden Siliziumstangen erfasst, besteht die Möglichkeit, den Durchmesser der Siliziumstangen zu bestimmen. Dadurch wird die Möglichkeit eröffnet, die Flussmenge des Prozessgases zu bestimmen, das jeweils abhängig vom Durchmesser der Siliziumstangen eingeleitet werden sollte, um eine möglichst hohe Abscheiderate von Reinsilizium auf den Siliziumstangen zu erzielen.
  • Eine Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Befestigungsvorrichtung einen fest mit dem Flansch verbundenen ersten Teil und einen fest mit der Kamera, insbesondere der Wärmebildkamera, verbundenen zweiten Teil aufweist, wobei erster und zweiter Teil über eine Drehachse unter verschiedenen Winkeln zueinander festlegbar sind. Dadurch ist es möglich, dass der von der Kamera erfasste Teil der Siliziumstange hinsichtlich ihrer Höhe eingestellt werden kann. Dabei kann für den jeweiligen Einzelfall eine optimale Einstellung erzielt werden, bei der der Durchmesser der Siliziumstange am besten durch die Auswertung des von der Kamera erzeugten Bildes ermöglicht wird.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass der Flansch zentral an einer Öffnung im Deckel des CVD-Reaktors anbringbar ist. Da diese zentral gelegene Öffnung im Deckel des Reaktorgehäuses bei den gängigen Modellen von CVD-Reaktoren, wie sie beispielsweise von der Anmelderin angeboten werden, sowieso zum Einführen eines Heizers vorhanden ist, muss keine zusätzliche Öffnung im CVD-Reaktor ausgebildet werden. Vielmehr ist es somit in sehr kostensparender Art und Weise möglich, einen standardmäßig vorhandenen CVD-Reaktor zu verwenden.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Kamera auf den oberen Bereich der Siliziumstangen in einem Bereich zwischen 70% und 90%, insbesondere 79%, der Gesamthöhe der Siliziumstangen ausgerichtet ist. In diesem Bereich ist die Winkeleinstellung der Kamera gegenüber dem Flansch, an dem diese angeordnet ist, in Verbindung mit den geometrischen Gegebenheiten bei einem standardmäßigen CVD-Reaktor der Anmelderin mit der standardmäßigen Öffnung gerade so, dass eine besonders gute Bestimmung des Durchmessers der Siliziumstangen möglich ist.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Kamera eine einzige Siliziumstange erfasst. Wie oben schon zum Verfahren ausgeführt, kann dadurch verhindert werden, dass Fehlbestimmungen bzw. eine ungenaue Bestimmung des Durchmessers der Siliziumstangen erfolgen, was eine Einstellung der Flussmenge des Prozessgases zur Folge hätte, die hinsichtlich der Abscheidungsrate des Reinsiliziums auf den Siliziumstangen nicht optimal wäre.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die einzige Siliziumstange zu einem Ring von Siliziumstangen gehört, der dem Zentrum des CVD-Reaktors am nächsten liegt. Bei den größeren CVD-Reaktoren ist nicht nur ein Ring von Siliziumstangen ausgebildet sondern zwei oder sogar drei Ringe. Wenn bei einem solchen CVD-Reaktor mit mehreren Ringen die Wärmebildkamera auf eine einzige Siliziumstange aus dem Ring, der am nächsten zum Zentrum des CVD-Reaktors ist, werden dadurch Fehler bei der Bestimmung des Durchmessers der Siliziumstangen vermieden. Diese könnten dadurch zustande kommen, dass, wenn die Wärmebildkamera nicht auf eine Siliziumstange aus dem innersten Ring ausgerichtet ist, Wärmestrahlung von Siliziumstangen des inneren Rings sich mit der Wärmestrahlung der eigentlich zu messenden Siliziumstange überlagern, auf die die Wärmekamera gerichtet ist. Bei sehr eng beieinander stehenden Siliziumstangen des innersten Rings könnte es in einem solchen Fall sogar sein, dass mit zunehmendem Durchmesserzuwachs eine Überlagerung der Bilder der Siliziumstangen des innersten Rings mit der Siliziumstange erfolgt, auf die die Wärmebildkamera ausgerichtet ist. Dies würde dazu führen, dass ab einem vorgegebenen Durchmesser der Siliziumstangen keine korrekte Bestimmung des Durchmessers mehr möglich wäre.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass der Abstand zwischen Optik der Kamera und Auftreffen der zentralen Sichtlinie der Kamera auf die Siliziumstangen zwischen 1,5 m und 1,8 m beträgt, bevorzugt 1,65 m. Dies ist insbesondere im Hinblick auf CVD-Reaktoren mit zwei oder mehr Ringen von Siliziumstangen optimal.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass die Kamera über eine erste Datenleitung mit einem Rechner samt Bildauswerteeinheit verbunden ist. Damit wird die Bestimmung des momentan vorliegenden Durchmessers der Siliziumstangen in einfacher Art und Weise ermöglicht. Bevorzugt ist der Rechner mit einer Datenbank verbunden, in der Referenzwerte von zuzuführender Flussmenge des Prozessgases in Abhängigkeit vom Durchmesser der Siliziumstangen abgelegt sind.
  • Eine weitere vorteilhafte Weiterbildung der Erfindung sieht vor, dass der Rechner mit einer Gaskonsole zur Steuerung der Flussmenge des zuzuführenden Prozessgases über mindestens eine zweite Datenleitung verbunden ist. Dadurch kann direkt die jeweils optimale Flussmenge eingestellt werden und dem CVD-Reaktor zugeführt werden, so dass die optimale Abscheiderate des Reinsiliziums auf den Siliziumstangen gewährleistet ist.
  • Außerdem wird die Aufgabe auch durch die Verwendung einer Kamera, insbesondere einer Wärmebildkamera, zur Bestimmung des Durchmessers von Siliziumstangen während des Abscheideprozesses von Reinsilizium bei der Durchführung eines CVD-Verfahrens gemäß Patentanspruch 11 gelöst. Die daraus resultierenden Vorteile wurden oben schon zum Flansch und zum CVD-Verfahren beschrieben. Dies gilt auch für die vorteilhaften Weiterbildungen der Erfindung gemäß den Patentansprüchen 12 bis 14. Zur Vermeidung von Wiederholungen wird auf diese Stellen verwiesen.
  • Weitere Voreile und Einzelheiten der Erfindung werden anhand eines in den Figuren dargestellten Ausführungsbeispiels erläutert. Es zeigen im Einzelnen:
  • 1 ein schematisches Blockdiagramm zum erfindungsgemäßen Aufbau,
  • 2 einen horizontalen Schnitt durch einen CVD-Reaktor,
  • 3 einen vertikalen Schnitt durch den CVD-Reaktor, in dem nur ein einziges Filament dargestellt ist,
  • 4 eine vergrößerte Ansicht des in 3 dargestellten Flansches samt Wärmebildkamera aus einer anderen Richtung,
  • 5 einen Teilausschnitt des CVD-Reaktors mit einem Filament schräg von oben aus der Richtung, in der die Wärmebildkamera angeordnet ist, und
  • 6 die Ansicht der 5, bei der auf dem Filament Reinsilizium zu einer Siliziumstange abgeschieden ist.
  • Die Erfindung baut auf dem seit langem bekannten Siemens-Verfahren zur Abscheidung von Reinsilizium auf und geht von einem für dieses Verfahren dem Fachmann bekannten Reaktor zur Durchführung des Siemens-Verfahrens aus. Da sowohl das Siemens-Verfahren, das ein CVD-Verfahren ist, als auch der Reaktor bekannt sind, wird im Folgenden nur auf die für die Erfindung wesentlichen Bauteile und Verfahrenschritte eingegangen, insbesondere insofern sie für die Erfindung relevant sind.
  • In 1 ist ein stark vereinfachtes schematisches Blockdiagramm dargestellt, das die Grundlage des erfindungsgemäßen Verfahrens wiedergibt. In einem CVD-Reaktor 1 befindet sich eine Siliziumstange 15 (regelmäßig sind in Reaktoren zur Durchführung des Siemens-Verfahrens eine Vielzahl solcher Siliziumstangen 15 vorhanden – siehe Beschreibung zu 2). Beim Siemens-Verfahren werden dünne Filamente mit einem Durchmesser von ca. 8 mm auf eine Temperatur von ca. 1.100°C erhitzt. Das Erhitzen geschieht regelmäßig durch Anlegen einer Hochspannung, so dass Strom durch das Filament fließt, der in Wärme umgesetzt wird. An dem heißen Filament scheidet sich aus einem Prozessgas, das eine Mischung aus Wasserstoffgas und Trichlorsilan (HSiCl3) ist, bei einer Temperatur im Bereich von etwa 1.100°C bis 1.200°C und einem Druck im Bereich von ca. 6 bar polykristallines Silizium auf dem Filament ab. Dabei wird das Molverhältnis zwischen Wasserstoff und Trichlorsilan konstant bei 0,28 gehalten. Nur ein Teil des Trichlorsilans reagiert, so dass ein Rest an unverbrauchtem Trichlorsilan übrig bleibt. Hierzu kommt dann im Abgas noch Siliziumtetrachlorid (SiCl4) sowie Chlorwasserstoffgas (HCl) und auch unverbrauchtes Wasserstoffgas (H2). Dieses Abgas wird aus dem CVD-Reaktor 1 abgeführt und kann zum Teil recycelt werden, so dass wieder die nötigen Komponenten für das Prozessgas in Reinform (H2 und HSiCl3) zurückgewonnen werden können. Dies ist jedoch für die Erfindung nicht relevant, so dass hierauf nicht näher eingegangen wird.
  • Wird anstelle des Siemens-Verfahrens Monosilan anstatt des Trichlorsilans im Prozessgas verwendet, muss das Filament nicht so hoch erhitzt werden; dieser Prozess läuft schon bei einer Temperatur von 780°C ab. Das Prozessgas enthält bei diesem Prozess maximal 5% Wasserstoffgas. Ein Anteil von ca. 12% des Monosilans wird dabei umgesetzt; dabei entsteht neben dem Reinsilizium, das sich auf dem Filament niederschlägt noch Wasserstoffgas.
  • Im Folgenden wird nur noch auf das Siemens-Verfahren, das im Rahmen des beschriebenen Ausführungsbeispiels beschrieben wird, eingegangen. Es hat sich herausgestellt, dass die optimale Abscheiderate des Siliziums auf dem Filament beim Anwachsen der sich um das Filament bildenden Siliziumstange 15 (siehe 6) mit der Oberfläche der Siliziumstange 15 ändert. Hier setzt die Erfindung an und bildet das bekannte Siemens-Verfahren derart weiter, dass die Flussmenge des Prozessgases in Abhängigkeit vom Durchmesser der Siliziumstange 15 gesteuert wird. Man erhält dann eine optimale Abscheiderate von Silizium auf den Siliziumstangen 15, was den Gesamtprozess beschleunigt und ihn effizienter macht.
  • Dies geschieht dadurch, dass der Durchmesser D der Siliziumstangen 15 durch Beobachtung mit einer Wärmebildkamera 10 einer einzigen Siliziumstange 15 als Repräsentant für die anderen im CVD-Reaktor 1 befindlichen Siliziumstangen 15 beobachtet wird. Als Wärmebildkamera 10 kann prinzipiell jede am Markt erhältliche Wärmebildkamera verwendet werden, beispielsweise das Modell IVS 6400 von Impac. Auf die nähere Ausgestaltung der Wärmebildkamera 10 kommt es nicht in erfindungswesentlicher Art und Weise an, da diese nur eine ausreichende Auflösung zur Bestimmung des Durchmessers D der Siliziumstange 15 aufweisen muss.
  • Das von der Wärmebildkamera 10 aufgenommene Bild der Siliziumstange 15 wird über eine erste Datenleitung 23 an einen Rechner 18 übertragen. In diesem erfolgt eine Auswertung des Bildes dahingehend, welchen Durchmesser D die aufgenommene Siliziumstange 15 zum aktuellen Zeitpunkt hat. Hierfür ist es lediglich notwendig, die Pixel in einer Richtung (horizontal oder vertikal – je nach Ausrichtung der Wärmebildkamera 10) abzuzählen. Mittels des für den Durchmesser D erhaltenen Wertes wird dann über eine Datenbank, in der jedem Durchmesserwert D ein Wert für die Flussmenge des Prozessgases gegenüber gestellt ist, bestimmt, welche Flussmenge des Prozessgases gerade zu einer optimalen Abscheiderate von Silizium auf der Siliziumstange 15 führt. Der dabei erhaltene Wert wird über zweite Datenleitungen 24 zu einer Gaskonsole 19 übertragen, in der zwei Steuerventile angeordnet sind – ein erstes Steuerventil 20 zur Steuerung der Flussmenge des Trichlorsilans und ein zweites Steuerventil 21 zur Steuerung der Flussmenge des Wasserstoffgases. Die beiden Steuerventile 20, 21 sind innerhalb von zwei von jeweiligen Vorratstanks (nicht dargestellt) für das Wasserstoffgas und das Trichlorsilan kommenden Versorgungsleitungen 25, 26 angeordnet. Durch diese Steuerventile 20, 21 wird das in seinem Molverhältnis unveränderte Prozessgas aus Vorratstanks über Gaseinlässe 16 in den CVD-Reaktor 1 eingespeist (in dem Schaltbild ist nur ein Gaseinlass 16 dargestellt). Damit wird über den gesamten Abscheidevorgang, während dem der Durchmesser der Siliziumstange 15 anwächst, die für eine möglichst hohe Abscheiderate von Silizium auf den Siliziumstangen 15 nötige Flussmenge an Prozessgas zur Verfügung gestellt.
  • In 2 ist ein horizontaler Schnitt durch einen CVD-Reaktor 1 dargestellt. Innerhalb der runden Reaktorwand 11 ist der plane Reaktorboden 12 zu erkennen. Auf diesem sind in zwei Ringen um das Zentrum Halteelemente 13 ausgebildet. Der innere Ring weist zwölf Halteelemente 13 auf, der äußere vierundzwanzig Halteelemente 13. Die Halteelemente 13 dienen dazu, die Filamente 14 aufzunehmen. Darüber hinaus dienen sie auch noch als Elektroden, um die Spannung an die Filamente 14 anzulegen, damit diese auf die notwendige Temperatur von ca. 1.100°C erhitzt werden können, damit der Abscheideprozess des Siliziums erfolgen kann. Die Filamente 14 sind U-förmig (nicht aus der 2 zu erkennen) ausgebildet, wobei jeweils zwei nebeneinander liegende Halteelemente 13 eines Rings die jeweils freien Enden der U-förmigen Filamente 14 aufnehmen.
  • Für die Zuführung des Prozessgases sind eine Reihe von Gaseinlässen 16 (im dargestellten Ausführungsbeispiel handelt es sich hierbei um zwölf zwischen den beiden Ringen von Halteelementen 13 angeordnete Gaseinlässe 16). Das verbrauchte Prozessgas entweicht über einen Gasauslass 17 im Reaktorboden 12.
  • Der in 2 dargestellte Aufbau entspricht demjenigen eines konventionellen bekannten CVD-Reaktors 1 für das Siemens-Verfahren, so dass keine weiteren Ausführungen zum Aufbau der beschriebenen Elemente nötig ist, insbesondere nicht hinsichtlich der Isolierung der unter Hochspannung stehenden Haltelemente 13 oder wie die Festlegung der Filamente 14 innerhalb der Halteelemente 13 erfolgt.
  • In 3 ist ein vertikaler Schnitt durch den CVD-Reaktor 1 entlang dessen Mittellängsachse dargestellt, wobei nur ein einziges Halteelement 13 samt darin befindlichem Filament 14 des inneren Rings dargestellt ist. Das Filament weist die Höhe H auf, die für die Oberfläche der Siliziumstange 15 während des Prozesses mitbestimmend ist. Im vorliegenden Fall, der keineswegs beschränkend ist, beträgt die Höhe H 2,4 m. Das Halteelement 13 ist auf dem planen Reaktorboden 12 angeordnet. Darüber hinaus sind Zuleitungen zu Gaseinlässen 16 und die Ableitung des Gasauslasses 17 zu erkennen. Im oberen Bereich wird der CVD-Reaktor 1 durch einen kuppelförmigen Deckel 2 abgeschlossen. Dieser weist in seinem Zentrum eine Öffnung 3 auf. Ein dergestalt ausgebildeter CVD-Reaktor 1 ist aus dem Stand der Technik bekannt. Erfindungsgemäß ist nun an der Öffnung 3 ein Flansch 4 angebracht, der über eine Befestigungsvorrichtung 5 mit einer Wärmebildkamera 10 verbunden ist. Der Flansch 4 verschließt die Öffnung 3 mittels eines Schauglases (nicht dargestellt). Der Flansch 4 ist bevorzugt mit einem oder zwei gekühlten Schaugläsern ausgestattet.
  • In 4 ist eine vergrößerte Darstellung des Flansches 4 mit daran angebrachter Wärmebildkamera 10 aus der gegenüberliegenden Richtung wie in 3 dargestellt. Die Befestigungsvorrichtung 5, die den Flansch 4 mit der Wärmebildkamera 10 verbindet, ist zweiteilig ausgebildet. Der Flansch 4 ist dabei fest mit einem ersten Teil 6 verbunden. Die Wärmebildkamera 10 ist innerhalb einer Halterung 9 gehalten. Die Halterung 9 ist ein Bestandteil eines zweiten Teils 7 der Befestigungsvorrichtung 5. Erster Teil 6 und zweiter Teil 7 der Befestigungsvorrichtung 5 sind über eine im Ausführungsbeispiel horizontal verlaufende Achse 8 miteinander verbunden. Dadurch ist es möglich, den Winkel der zentralen Sichtlinie 22 (siehe 3) der Wärmebildkamera 10 gegenüber der Vertikalen zu verändern.
  • Dies bedeutet im Ergebnis, dass dadurch eine variable Einstellung des Höhenbereichs, der in 3 mit Sichthöhe S (Abstand des Schnittpunktes der zentralen Sichtlinie 22 mit der Siliziumstange und dem Reaktorboden 12) bezeichnet ist, des Filaments 14 bzw. der sich darum aufbauenden Siliziumstange 15, die beobachtet werden soll, möglich ist. Im vorliegenden Fall, der keineswegs beschränkend ist, beträgt die Sichthöhe S 1,9 m Durch Änderung des Winkels um die Drehachse 8 kann somit der Beobachtungsbereich entweder nach oben nach unten verschoben werden. Damit kann auf die geometrischen Gegebenheiten des Flansches 4 und seiner Ausgestaltung in Höhe und Breite, die von der Öffnung 3 abhängt, und der Anordnung der Filamente 14 innerhalb des CVD-Reaktors 1 Rechnung getragen werden.
  • In den 5 und 6 ist in Richtung der zentralen Sichtlinie 22 (siehe 3) der Wärmebildkamera 10 die Anordnung des erfindungsgemäßen Flansches 4 samt Befestigungsvorrichtung 5 mit Halterung 9 für die Wärmebildkamera 10 in zwei unterschiedlichen Stadien des Abscheideprozesses dargestellt. 5 zeigt den Zustand zu Beginn des Abscheideprozesses, bei dem nur das Filament 14 aus Reinsilizium vorhanden ist und noch kein polykristallines Silizium darauf abgeschieden wurde. Dagegen zeigt 6 das Endstadium des Abscheideprozesses, bei dem das auf das Filament 14 aufgewachsene polykristalline Silizium zu einer Siliziumstange 15 mit einem Durchmesser D von ca. 180 mm angewachsen ist.
  • Im Einzelnen ist in den 5 und 6 zu sehen: Die Öffnung 3 im Deckel 2, an der der Flansch 4 angebracht ist. Mit dem Flansch 4 ist über die Befestigungsvorrichtung 5 die Halterung 9 für die Wärmebildkamera 10 (aus Gründen der besseren Darstellbarkeit weggelassen) verbunden. Die Sicht entspricht genau der zentralen Sichtlinie 22 der eingesetzten Wärmebildkamera 10 und gibt ungefähr den Sichtbereich der Wärmebildkamera 10 wieder (der sich aufgrund des sich von der Kameraoptik aufweitenden Sichtbereichs als größer darstellt, als dies die Halterung 9 vorgibt).
  • Die Bestimmung des Durchmessers D der Siliziumstange 15 mittels der Wärmebildkamera 10 erfolgt durch eine Kalibrierung auf einen zu erreichenden Enddurchmesser von 180 mm von der maximalen Auflösung der verwendeten Wärmebildkamera 10 von 640 Pixeln. Die Wärmebildkamera bestimmt dann zum jeweiligen Zeitpunkt die hellen Pixel, die sie aufgrund der Wärmestrahlung der beobachteten Siliziumstange 15 aufnimmt. Diese ist aufgrund der um mehrere 100°C höheren Temperatur der Siliziumstange 15 gegenüber der Umgebung, in Form des Prozessgases, möglich. Aufgrund der ermittelten Anzahl von Pixel kann in Verbindung mit der oben genannten Kalibrierung auf den Maximaldurchmesser der aktuelle Durchmesser D ermittelt werden.
  • Mit der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist es somit möglich, zu jedem Zeitpunkt des Abscheideprozesses sehr exakt den Durchmesser D der beobachteten Siliziumstange 15 zu bestimmen. Aufgrund des oben schon ausgeführten Verfahrens kann dem exakten Durchmesser D der Siliziumstange 15 die optimale Flussmenge für eine optimale Abscheiderate zum jeweiligen Zeitpunkt mittels des Rechners 18 bestimmt werden. Mittels des dadurch erhaltenen Wertes für die Flussmenge des Prozessgases wird diese dann über die Gaskonsole 19 geregelt. Im vorliegenden Ausführungsbeispiel wurde die Flussmenge an Prozessgas wie folgt in Abhängigkeit von der Oberfläche der Siliziumstange 15 geändert: Bei einer Oberfläche von 0,13 m2 betrug die Flussmenge 82,4 kg/h; bei 0,53 m2 382 kg/h; bei 1,57 m2 1.447 kg/h und bei 2,36 m2 2.570 kg/h. Die Beziehung zwischen der Oberfläche der Siliziumstange 15 und dem Durchmesser D der Siliziumstange 15 ist über die bekannten geometrischen Daten eindeutig bestimmbar.
  • Es folgt nun noch eine Zusammenschau der Parameter, die für das in den Figuren dargestellte Abscheideverfahren verwendet wurden, wobei diese jedoch nicht abschließend sind, sondern alle anderen im Rahmen eines Siemens-Verfahrens möglichen Parameter für Temperatur, Druck usw. genauso im Rahmen der Erfindung verwendet werden können. Anstatt des Angegebenen Rechners kann auch jeder beliebige Laptop oder anderer Rechner verwendet werden, auf dem die benötigte Software installiert ist.
    Temperatur der Filamente: 1.100°C
    Molverhältnis von H2 zu HSiCl3: 0,28
    Druck des Prozessgases im CVD-Reaktor: 6,0 bar
    Flussmenge des Prozessgases am Anfang des Prozesses: 80 kg/h
    Flussmenge des Prozessgases am Ende des Prozesses: 2.500 kg/h
    Spannung am Filament beim Zünden: 8.000 V
    Spannung am Filament am Anfang des Prozesses: 1.700 V
    Spannung am Filament am Ende des Prozesses: 320 V
    Durchmesser des Filaments: 8 mm
    Durchmesser der Siliziumstange am Ende des Prozesses: 180 mm
    Höhe des Filaments: 2.400 mm
    Abstand zwischen Kameraoptik und Filament entlang zentraler Sichtlinie: 1.650 mm
    Blickhöhe der zentralen Sichtlinie über Reaktorboden: 1.900 mm
    Verwendete Wärmebildkamera: IVS 6400 Impac
    Horizontale Auflösung der Wärmebildkamera: 640 Pixel
    Rechner: Hewlett Packard HP 3D
  • Bezugszeichenliste
  • 1
    CVD-Reaktor
    2
    Deckel
    3
    Öffnung
    4
    Flansch
    5
    Befestigungsvorrichtung
    6
    erster Teil
    7
    zweiter Teil
    8
    Drehachse
    9
    Halterung
    10
    Wärmebildkamera
    11
    Reaktorwand
    12
    Reaktorboden
    13
    Halteelement
    14
    Filament
    15
    Siliziumstange
    16
    Gaseinlass
    17
    Gasauslass
    18
    Rechner
    19
    Gaskonsole
    20
    erstes Steuerelement
    21
    zweites Steuerelement
    22
    zentrale Sichtlinie
    23
    erste Datenleitung
    24
    zweite Datenleitung
    25
    Versorgungsleitung
    D
    Durchmesser
    H
    Höhe
    S
    Sichthöhe
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 102008000052 A1 [0002]
    • - DE 1061593 [0002]
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • - W. Zulehner et al. im Fachartikel „Silicon” (VCH Publishers Inc. Vol. 23 Seiten 721–748) [0002]
    • - K. Hesse in „Silizium für die Photovoltaik” (Erneuerbare Energien 7/2206 Seiten 67–69) [0002]
    • - N. Bardahl in „Thyristor-Wechselstromsteller für moderne Silizium-Abscheiungsanlagen bei Wacker-Chemitonic” (Siemens-Zeitschrift 47 (1973) Heft 3 Seiten 160–163) [0002]

Claims (26)

  1. Flansch (4) für einen CVD-Reaktor (1), an dem eine Wärmebildkamera (10) mittels einer Befestigungsvorrichtung (5) angebracht ist, wobei die Wärmebildkamera (10) so ausrichtbar ist, dass sie mindestens eine der sich in dem CVD-Reaktor (1) befindenden Siliziumstangen (15) erfasst.
  2. Flansch (4) nach Patentanspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Befestigungsvorrichtung (5) einen fest mit dem Flansch (4) verbundenen ersten Teil (6) und einen fest mit der Wärmebildkamera (10) verbundenen zweiten Teil (7) aufweist, wobei erster Teil (6) und zweiter Teil (7) über eine Drehachse (8) unter verschiedenen Winkeln zueinander festlegbar sind.
  3. Flansch (4) nach einem der Patentansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass er zentral an einer Öffnung (3) im Deckel (2) des CVD-Reaktors (1) anbringbar ist.
  4. Flansch (4) nach einem der Patentansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die Wärmebildkamera (10) auf den oberen Bereich der Siliziumstangen (15) in einem Bereich zwischen 70% und 90%, insbesondere 79%, der Gesamthöhe der Siliziumstangen (15) ausgerichtet ist.
  5. Flansch (4) nach einem der Patentansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die Wärmebildkamera (10) eine einzige Siliziumstange (15) erfasst.
  6. Flansch (4) nach Patentanspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass die einzige Siliziumstange (15) zu einem Ring von Siliziumstangen gehört, der dem Zentrum des CVD-Reaktors (1) am nächsten liegt.
  7. Flansch (4) nach einem der Patentansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Abstand zwischen Optik der Wärmebildkamera (10) und Auftreffen der zentralen Sichtlinie (22) der Wärmebildkamera (10) auf die Siliziumstangen (15) zwischen 1,5 m und 1,8 m beträgt, bevorzugt 1,65 m.
  8. Flansch (4) nach einem der Patentansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die Wärmebildkamera (10) über eine erste Datenleitung (23) mit einem Rechner (18) samt Bildauswerteeinheit verbunden ist.
  9. Flansch (4) nach Patentanspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der Rechner (18) mit einer Datenbank verbunden ist, in der Referenzwerte von zuzuführender Flussmenge des Prozessgases in Abhängigkeit vom Durchmesser der Siliziumstangen (15) abgelegt sind.
  10. Flansch (4) nach Patentanspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass der Rechner (18) mit einer Gaskonsole (19) zur Steuerung der Flussmenge des zuzuführenden Prozessgases über mindestens eine zweite Datenleitung (24) verbunden ist.
  11. Verwendung einer Kamera, insbesondere einer Wärmebildkamera (10), zur Bestimmung des Durchmessers (D) von Siliziumstangen (15) während des Abscheideprozesses von Reinsilizium bei der Durchführung eines CVD-Verfahrens.
  12. Verwendung der Kamera nach Patentanspruch 11, wobei die Wärmebildkamera (10) außerhalb eines CVD-Reaktors (1) durch ein zentral im Deckel (2) des CVD-Reaktors (1) angebrachtes Schauglas erfasst.
  13. Verwendung der Kamera nach einem der Patentansprüche 11 oder 12, wobei der von der Wärmebildkamera (10) erfasste Durchmesser (D) der Siliziumstange (15) zur Steuerung der Flussmenge des Prozessgases des CVD-Verfahrens herangezogen wird.
  14. Verwendung der Kamera nach einem der Patentansprüche 11 bis 13, wobei das CVD-Verfahren ein Siemens-Verfahren ist.
  15. CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen (15), bei dem die Flussmenge des zugeführten Prozessgases vom Durchmesser der Siliziumstangen (15) abhängt.
  16. CVD-Verfahren nach Patentanspruch 15, dadurch gekennzeichnet, dass der Durchmesser (D) der Siliziumstangen (15) mittels einer Kamera, insbesondere einer Wärmebildkamera (10), mit anschließender Bildauswertung bestimmt wird.
  17. CVD-Verfahren nach Patentanspruch 16, dadurch gekennzeichnet, dass der Wert des Durchmessers (D) anhand einet vorher festgelegten Tabelle in einen Wert einer Flussmenge des Prozessgases umgewandelt wird und mittels des Werts der Flussmenge Steuerventile (20, 21) einer Gaskonsole (18) gesteuert werden, die die Menge des zugeführten Prozessgases kontrollieren.
  18. CVD-Verfahren nach Patentanspruch 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Tabelle während der Durchführung des CVD-Verfahrens in Abhängigkeit von der aktuellen Abscheiderate des Siliziums angepasst wird.
  19. CVD-Verfahren nach einem der Patentansprüche 16 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass die Flussmenge bei kleinen Durchmessern (D) der Siliziumstange (15) geringer ist als bei größeren Durchmessern.
  20. CVD-Verfahren nach einem der Patentansprüche 15 bis 18, dadurch gekennzeichnet, dass die Flussmenge während des CVD-Verfahrens in Abhängigkeit von der aktuellen Abscheiderate des Siliziums geändert wird.
  21. CVD-Verfahren nach Patentanspruch 19, dadurch gekennzeichnet, dass die Flussmenge bei einem Durchmesser (D) der Siliziumstange (15) von 8 mm 80 kg/h beträgt und bei einem Durchmesser (D) von 150 mm 2750 kg/h.
  22. CVD-Verfahren nach einem der Patentansprüche 16 bis 21, dadurch gekennzeichnet, dass als Prozessgas eine Mischung aus Trichlorsilan und Wasserstoffgas in einem vorbestimmten Molverhältnis verwendet wird.
  23. CVD-Verfahren nach Patentanspruch 22, dadurch gekennzeichnet, dass das Prozessgas bei kleinem Durchmesser (D) einen höheren Molanteil Wasserstoffgas enthält als bei größeren Durchmessern (D) der Siliziumstang (15).
  24. CVD-Verfahren nach einem der Patentansprüche 17 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass die Kamera, insbesondere die Wärmebildkamera (10), schräg von oben auf die Siliziumstangen (15) ausgerichtet ist.
  25. CVD-Verfahren nach einem der Patentansprüche 17 bis 24, dadurch gekennzeichnet, dass die Kamera, insbesondere die Wärmebildkamera (10), außerhalb eines CVD-Reaktors (1), in dem das CVD-Verfahren abläuft, angeordnet ist und die Siliziumstäbe (15) durch ein Schauglas erfasst werden.
  26. CVD-Verfahren nach einem der Patentansprüche 17 bis 25, dadurch gekennzeichnet, dass die Kamera, insbesondere die Wärmebildkamera (10), nur genau eine Siliziumstange (15) erfasst.
DE102009035952A 2009-08-03 2009-08-03 Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse, Verwendung einer Kamera bei einem CVD-Verfahren sowie CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen Ceased DE102009035952A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009035952A DE102009035952A1 (de) 2009-08-03 2009-08-03 Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse, Verwendung einer Kamera bei einem CVD-Verfahren sowie CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen
PCT/EP2010/004720 WO2011015330A2 (de) 2009-08-03 2010-08-02 Flansch für ein cvd-reaktorgehäuse, verwendung einer kamera bei einem cvd-verfahren sowie cvd-verfahren zur erzeugung von siliziumstangen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102009035952A DE102009035952A1 (de) 2009-08-03 2009-08-03 Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse, Verwendung einer Kamera bei einem CVD-Verfahren sowie CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102009035952A1 true DE102009035952A1 (de) 2011-02-10

Family

ID=43426298

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102009035952A Ceased DE102009035952A1 (de) 2009-08-03 2009-08-03 Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse, Verwendung einer Kamera bei einem CVD-Verfahren sowie CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102009035952A1 (de)
WO (1) WO2011015330A2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014166711A1 (de) * 2013-04-09 2014-10-16 Wacker Chemie Ag Gasverteiler für siemens-reaktor
WO2020234401A1 (de) * 2019-05-21 2020-11-26 Wacker Chemie Ag Verfahren zur herstellung von polykristallinem silicium

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR3032975B1 (fr) * 2015-02-23 2017-03-10 Sidel Participations Procede de traitement par plasma de recipients, comprenant une phase d'imagerie thermique

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1061593B (de) 1956-06-25 1959-07-16 Siemens Ag Vorrichtung zur Gewinnung reinsten Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke
DE2518853A1 (de) * 1975-04-28 1976-11-04 Siemens Ag Reaktionsgefaess zum abscheiden von elementarem silicium
DE2609564A1 (de) * 1976-03-08 1977-09-15 Siemens Ag Verfahren zum abscheiden von elementarem silicium aus der gasphase
DE102008000052A1 (de) 2008-01-14 2009-07-16 Wacker Chemie Ag Verfahren zur Abscheidung von polykristallinem Silicium

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1139813B (de) * 1960-08-25 1962-11-22 Siemens Ag Verfahren zum Herstellen von hochreinen Silicium- oder Germaniumstaeben
US4148931A (en) * 1976-03-08 1979-04-10 Siemens Aktiengesellschaft Process for depositing elemental silicon semiconductor material from a gas phase
DE4039007A1 (de) * 1989-12-06 1991-06-13 Hitachi Ltd Infrarottemperaturmessgeraet, eichverfahren fuer das geraet, infrarottemperaturbildmessmethode, geraet zur messung desselben, heizgeraet mit messgeraet, verfahren zur steuerung der erwaermungstemperatur, und vakuumbedampfungsgeraet mit infrarotem temperaturmessgeraet
JP4414122B2 (ja) * 2000-01-06 2010-02-10 サーマル・ウェーブ・イメージング、インク 非破壊検査による自動ウェルド評価方法および装置
JP5428303B2 (ja) * 2007-11-28 2014-02-26 三菱マテリアル株式会社 多結晶シリコン製造方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1061593B (de) 1956-06-25 1959-07-16 Siemens Ag Vorrichtung zur Gewinnung reinsten Halbleitermaterials fuer elektrotechnische Zwecke
DE2518853A1 (de) * 1975-04-28 1976-11-04 Siemens Ag Reaktionsgefaess zum abscheiden von elementarem silicium
DE2609564A1 (de) * 1976-03-08 1977-09-15 Siemens Ag Verfahren zum abscheiden von elementarem silicium aus der gasphase
DE102008000052A1 (de) 2008-01-14 2009-07-16 Wacker Chemie Ag Verfahren zur Abscheidung von polykristallinem Silicium

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
K. Hesse in "Silizium für die Photovoltaik" (Erneuerbare Energien 7/2206 Seiten 67-69)
N. Bardahl in "Thyristor-Wechselstromsteller für moderne Silizium-Abscheiungsanlagen bei Wacker-Chemitonic" (Siemens-Zeitschrift 47 (1973) Heft 3 Seiten 160-163)
W. Zulehner et al. im Fachartikel "Silicon" (VCH Publishers Inc. Vol. 23 Seiten 721-748)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014166711A1 (de) * 2013-04-09 2014-10-16 Wacker Chemie Ag Gasverteiler für siemens-reaktor
US10525426B2 (en) 2013-04-09 2020-01-07 Wacker Chemie Ag Gas distributor for a Siemens reactor
WO2020234401A1 (de) * 2019-05-21 2020-11-26 Wacker Chemie Ag Verfahren zur herstellung von polykristallinem silicium

Also Published As

Publication number Publication date
WO2011015330A3 (de) 2011-10-13
WO2011015330A2 (de) 2011-02-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE112013005434B4 (de) Verfahren zum Herstellen von Silicium-Einkristallen
DE102013210687B4 (de) Verfahren zur Regelung des Durchmessers eines Einkristalls auf einen Solldurchmesser
DE102013208071A1 (de) Wirbelschichtreaktor und Verfahren zur Herstellung von granularem Polysilicium
WO2010083818A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur herstellung von siliziumdünnstäben
DE112011102417T5 (de) Herstellung von polykristallinem Silizium
DE102012108009A1 (de) Modellprädiktive Regelung des Zonenschmelz-Verfahrens
DE102014106339A1 (de) Kohlenstoffschichten für Hochtemperaturprozesse
DE102005006186A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Einkristalls aus Silizium mit kontrolliertem Kohlenstoffgehalt
DE102009035952A1 (de) Flansch für ein CVD-Reaktorgehäuse, Verwendung einer Kamera bei einem CVD-Verfahren sowie CVD-Verfahren zur Erzeugung von Siliziumstangen
DE102012207513A1 (de) Polykristalliner Siliciumstab und Verfahren zu dessen Herstellung
DE112009001431B4 (de) Einkristall-Herstellungsvorrichtung und Einkristall-Herstellungsverfahren
DE112018003649T5 (de) Wasserstoffreduktionskatalysator für kohlendioxid und verfahren zu seiner herstellung, wasserstoffreduktionsverfahren für kohlendioxid und wasserstoffreduktionsvorrichtung für kohlendioxid
DE102013214799A1 (de) Verfahren zur Herstellung von polykristallinem Silicium
DE112006002580B4 (de) Einkristallsiliciumziehgerät und Verfahren zum Verhindern der Kontamination von Siliciumschmelze
DE102010014110B4 (de) Verfahren zur Herstellung eines Halbleiter-Einkristalls
DE102017112937A1 (de) Verfahren zum Herstellen von Apatitkristallen und Apatitkristalle
DE102008012710A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines festen Produkts
DE112017003224T5 (de) Verfahren zur Herstellung von Silicium-Einkristall
EP3294672B1 (de) Verfahren und anlage zur zersetzung von monosilan
DE2316602A1 (de) Verfahren zum herstellen polykristallinen siliciums
DE102020127336A1 (de) Halbleiterkristallwachstumsvorrichtung
DE102019101991A1 (de) Verfahren zum Ziehen eines zylindrischen Kristalls aus einer Schmelze
EP3554999A1 (de) Verfahren zur herstellung von polykristallinem silicium
DE102012202028B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur hydrothermalen Herstellung von Quarzkristallen sowie Verfahren zur Herstellung von Quarzsand und Quarzglas
DE102017202420A1 (de) Verfahren und Anlage zum Ziehen eines Einkristalls nach dem FZ-Verfahren

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R003 Refusal decision now final

Effective date: 20140411