DE102009018025A1 - Herstellungsverfahren von Beschichtungsharzen zur Herstellung von Wabenmaterialien - Google Patents

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Abstract

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Beschichtung von Kernmaterial, welches bei Wabenmaterialien verwendet wird, um dort die Festigkeiten der Kernmaterialien zu erhöhen. Um dieses zu erreichen, wird eine Wabenstruktur mit einem Überzug versehen, welcher die einzelnen Wabenzellen bedeckt, und die Festigkeit der Wabenzellen erhöht. Der Überzug kann aus einem duroplastischen Harz, oder ein in Lösung gebrachter thermoplastischer Polymer bestehen, in welchem Multi Wall Nano Tubes (MWNT) oder Single Wall Nano Tubes (CNT) eingebracht sind. Die im Überzug eingebrachten MWNT oder auch CNT sind nanoskalige Partikel.

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Beschichtung von Kernmaterial welches bei Wabenmaterialien verwendet wird um dort die Festigkeiten der Kernmaterialien zu erhöhen.
  • Stand der Technik
  • Wabenkernmaterialien zur Herstellung von Schichtplatten nach 1 sind grundsätzlich aus dem Stand der Technik bekannt. Bei diesen bekannten Verfahren werden Kernmaterialien verwendet die aus papierartigen Faservlieslagen hergestellt sind. Beispiele hierzu sind Kraftpapier aus Cellulose gebildet, aber auch Faservlieslagen aus Glas-, Kohle-, Quarz- und Keramikfasern. Ein häufig verwendetes Faservliesmaterial zur Herstellung von Kernmaterial ist ein Poly (m-phenylenisophtalamid) der Fa. DuPont de Nemours (USA) oder eine Mischung mit Poly (p-phenylenterephtalamid) der Hersteller DuPont de Nemours (USA) oder AKZO Chemie Deutschland. Diese Wabenkernmaterialien können bereits an sich für eine Wabenherstellung eingesetzt werden, weisen aber nicht die gewünschten hohen Festigkeiten bezüglich ihrer Zug-Druck- und Schubfestigkeitsverhalten bei der Herstellung von Schichtplatten auf.
  • Um die Festigkeiten der Schichtplatten zu erhöhen ist es bekannt, das Wabenkernmaterial mit einem duroplastischen Harz zu beschichten. Beispiele hierfür werden in der DE-A-4003249 offenbart. Eine weitere Festigkeitserhöhung verbunden mit einer höheren Steifigkeit der Wabenstruktur wurde durch das Einmischen von unlöslichen polymeren Teilchen aus thermoplastischen und/oder duroplastischen Teilchen in den die wabenförmigen Zellen beschichteten duroplastischen Harz in der DE 696 10 830 T2 offenbart. Es wurde beschrieben, dass die Aufnahme unlöslicher Polymerteilchen aus einer großen Vielzahl von duroplastischen oder thermoplastischen Polymeren ausgewählt werden kann. Beispielhafte Polymere wie Polyolefin, Polyamid, Polyamid, Polyamidimid, Polyetherimid, Polyester, Polysulfon, Polyarylensulfid, Polyethersulfon, Polycarbonat, Polyketon und Polyetheretherketon und aus der Klasse der duroplastischen Polymerteilchen die Epoxy, Cyanatester und Bis-Maleinimide dann ausgewählt, und Einzeln oder in Kombination der Teilchen, in den duroplastischen Basis-Beschichtungsharz eingemischt werden.
  • Das zum Beschichten der Wabe verwendete Basisharz ist vorzugsweise ein Phenolformaldehyd, Epoxy, Cyanatester oder Bis-Maleinimid-Harz. Vorzugsweise wird ein Phenolformaldehydharz welches ein Resol- oder Novolakharz sein kann, eingesetzt.
  • Für diese Basisharze können als Lösungen oder Dispersionensmedien Wasser, Aceton, Butanol, Ethylacetat, Ethanol und Toluol verwendet werden. Lösungsmittel werden wie dem Fachmann bekannt in ausreichender Menge beigegeben um eine Basisharzlösung bereitzustellen die nach den bekannten Verfahren, leicht auf den Wabenkern aufgebracht werden.
  • Die dem Basisharz zugesetzten unlöslichen Polymerteilchen aus einer überaus großen Anzahl von duroplastischen und/oder thermoplastischen Polymeren ausgewählt, führen wie die DE 696 10 830 T2 lehrt, zwar zu einer Erhöhung der Schubfestigkeit und des Schubmodul an den jeweils geprüften Schichtplatten, die ermittelte Druckfestigkeit ist aber bei dem Wabenmaterial selbst, oder bei den geprüften Schichtplatten im wesentlichen unverändert.
  • Die beschriebenen Verfahren haben somit den wesentlichen Nachteil, dass bei vielen Anwendungen von Schichtplatten die in der Luftfahrt-Transportfahrzeug- und Schifffahrtindustrie gewünschte hohe Druckfestigkeit verbunden mit einer hohen Schubfestigkeit und Schubmodul, nur ungenügend erreicht wird.
  • Aufgabenstellung
  • Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, verbesserte und günstig herstellbare Beschichtungsharze zu entwickeln die zu Verstärkung der Wabenkernmaterialien benutzt werden können. Die neuen Harzformulierungen sollen die Festigkeiten des Wabenkerns erhöhen, um damit zumindest einen Teil der aus dem Stand der Technik bekannte Nachteile, ausschließt.
  • Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, dass die erfindungsgemäße Wabenstruktur mit einem Überzug versehen ist der die Oberflächen der einzelnen Wabenzellen bedeckt und die Festigkeiten der Wabenzellen erhöht. Der Überzug kann aus einem duroplastischen Harz, oder ein in Lösung gebrachter thermoplastischer Polymer bestehen, in welchem Multi Wall Nano Tubes (MWNT) oder Single Wall Nano Tubes (CNT) eingebracht sind. Die im Überzug eingebrachten MWNT oder auch CNT sind nanoskalige Partikel.
  • Ein besonderer Vorteil der vorliegenden Erfindung ist es neben der Erhöhung der mechanischen Eigenschaften eine sehr hohe Temperaturbeständigkeit, deutlich geringere Feuchtigkeitsaufnahme, bessere Medienbeständigkeit, hervorragende elektrische Leitfähigkeit, bessere Schlag- und Stoßfestigkeit, Frequenzabschirmung, Mikrowellen Absorption und Transmission im G; C; J; X; P; K und Ka-Band, sowie eine hohe Wärmeableitfähigkeit solcher, mit diesem Überzug versehenen Wabenzellen zu erreichen.
  • Eine Variante ist, dass die MWNT in einem zum Beschichten der Wabe eingebracht werden, bei welchem das Basisharz ein duroplastische Harz vorzugsweise ein Phenolformaldhydharz ist. Dabei kann dieses Harz ein Resol oder Novolakharz sein.
  • In einer weiteren bevorzugte Variante sind die MWNT in dem zum Beschichten der Wabe verwendeten thermoplastischen Harz eingebracht. Diese in Lösung gebrachten, thermoplastischen Basisharze aus Polymerwerkstoffe, können folgende, beispielhafte Polymere umfassen wie Polyolefin, Polyamid, Polyamid, Polyamidimid, Polyetherimid, Polyester, Polysulfon, Polyarylensulfid, Polyethersulfon, Polycarbonat, Polyketon und Polyetheretherketon. Verwendete Lösungsmittel hierzu sind beispielhaft Aceton, NMP Essigsäure und DMF. Die Lösungsmittel werden in ausreichender Menge zugegeben um eine Harzlösung bereitzustellen die nach Zugabe der MWNT aber auch anderer beispielhaft angeführte nanoskaligen Partikel wie Aluminium-Oxid, Antimon Zinn-Oxyd, Bismuth(III)-Oxid, Kupfer(III)-Oxid, Indium Zinn-Oxid, Eisen(III)-Oxid, Zink-Oxid, Silikon Carbide, Nanoclay(Montmorillonite Clay) und Bariumsulfat in das Harz-Lösungsmittelgemisch dispergiert werden. Diese nanoskaligen Partikel sind handelsüblich bei der Fa. Alfa Aesar, Deutschland in Partikelgrößen von 10 bis 150 nm zu beziehen. Um eine Dispergierung der anorganischen Nanopartikel mit den organischen Basisharzen zu erreichen kann aus einer großen Vielzahl von Silanen wie 3-Aminopropyltriethoxysilane, 3-(2-Aminoethylamino)-propyl)trimethoxysilane, 3-(trimethoxysilyl)propylarylate, 3-Glycidoxypropyltrimethoxysilane, 3-Mercaptopropyltrimethoxysilane und Methyltrimethoxysilane in Ethanol oder Wasser/Ethanol-Lösung für eine Oberflächenfunktionalisierung, ausgewählt werden. Gute Ergebnisse wurden ebenfalls mit Dispergier- und Titanatkupplungsreagenzien erzielt.
  • Die nanoskaligen Partikel liegen in einem Größenbereich von 10 bis 150 nm. Die in einer bevorzugten Ausführungsform verwendeten Partikel liegen im Bereich von 12 bis 100 nm.
  • Der Anteil der anorganischen nanoskaligen Partikel kann im Bereich von 0.1 bis 40 Gewicht-% liegen. Vorzugsweise werden sie im Bereich von 0.1 bis 5 Gewicht-% in das Basisharz eingerührt. Dispergier- und Kupplungsreagenzien werden im Bereich von 1 bis 5%, Vorzugsweise im Bereich von 4% eingerührt.
  • Der nach dieser Erfindung hergestellte Wabenkern wird in aller Regel zur Herstellung von Schichtplatten benutzt. Das Verkleben der vorzugsweise hexagonalen Wabenzellen mit den gegenüberliegenden Deckschichten ist hinreichend bekannt.
  • Ausführungsbeispiele
  • Die erfindungsgemäß hergestellten Wabenkerne werden analog mit den nach Werkstoff-Leistungsblatt WL 5.3650 geprüften Werte verglichen. An den bei unterschiedlicher Dichte, aber mit gleicher Zellweite der Wabe hergestellten Schichtplatten wurde jeweils Druckfestigkeit sowie Schubfestigkeit und Schubmodul in (L) und (W) Richtung ermittelt.
  • Eine Polymerlösung aus Amid Imid und NMP wird im Verhältnis 20 Gew.-% AI-10 der Fa. Solvay Belgien in einem handelsüblichen NMP von 80 Gew.-% durch Rühren gelöst. Die so hergestellte thermoplastische Basisharzlösung dient als Referenzwert für die geprüften mechanischen Eigenschaften der Schichtplatte. Auf die unbeschichteten Wabenzellen wurde durch Tauchen die Basisharzlösung aufgetragen und überschüssiges Harz durch Druckluftbeaufschlagung entfernt. Die NMP-Lösung wurde entfernt, indem die Wabenzellen nach einmaligem Tauchen 30 Minuten bei jeweils 170°; 210°; 240° und 60 Minuten bei 270° Celsius in einen Aushärteofen gelegt wurden. Die Schichtplattenproben wurden analog der LN 29 967 hergestellt und mit dem WL 5.3650 verglichen.
    Dichte kg/m*3 29 48 64
    Zellweite mm 3.2 3.2 3.2
    Druckfestigkeit N/mm*2 0.9 2.6 4.9
    Schubfestigkeit (L) N/mm*2 0.9 1.7 2.6
    Schubmodul (L) N/mm*2 22.0 43.0 66.0
    Schubfestigkeit (W) N/mm*2 0.4 0.9 1.4
    Schubmodul (W) N/mm*2 12.0 26.0 37.0
  • In einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung wurden 200 Gramm Amid-Imid mit 700 Gramm DMF in Lösung gebracht und durch Rühren eine Polymerlösung hergestellt, MWNT von insgesamt 8 Gramm (MWNT Durchmesser 80 bis 110 nm, Länge der MWNT 2 bis 25 μm der Fa. CN 21, Korea) wurde nachträglich mit 2 Gew.-% 1-Methoxy-2-propanol Polyaminamidsalz in Lösungsmittelnaphta und 0.4 Gew.-% von einem weiteren Netz- und Dispergieradditive mit Titanatkupplungsreagenzien in Isopropanol bei RT 2 Stunden eingerührt, diese Reagenzien sind handelsüblich bei der Fa. Sura-Instruments Deutschland, als Substanz zu beziehen. Mit dieser thermoplastischen Basisharzlösung wurden auf die nach (0017) hergestellten Schichtplattenproben, folgende Festigkeitswerte ermittelt
    Dichte kg/m*3 29 48 64
    Zellweite mm 3.2 3.2 3.2
    Druckfestigkeit N/mm*2 1.3 4.7 7.7
    Schubfestigkeit (L) N/mm*2 1.6 3.1 4.7
    Schubmodul (L) N/mm*2 39.6 77.4 118.8
    Schubfestigkeit (W) N/mm*2 0.7 1.6 2.5
    Schubmodul (W) N/mm*2 17.0 46.8 66.9
  • Überraschenderweise zeigte der nach (0018) hergestellte thermoplastische Basisharz auch nach sechs Monaten Lagerung kein Absetzen der MWNT. Die MWNT-Partikel zeigen somit ein kontrolliert flokkulierendes Verhalten, d. h. MWNT-Partikel sind zwar separiert aber auch durch die beigefügten Netz- und Dispergieradditive in dem thermoplastischen Amid-Imid Basisharz, assoziiert.
  • Bei einem weiteren, erfindungsgemäßen Beispiel wird in eine Phenolformaldehydresol-Harz Aceton Mischung wie aus dem Stand der Technik bekannt ist, siehe dazu Phenolic Resins von A. Knop, Springerverlag Berlin 1985, nachträglich eine nach (0018) hergestellte MWNT in einem Netz- und Dispergiermittel 2 Stunden bei RT eingerührt. In dieses Basisharz aus Phenolformaldehydresol wurden Wabenzellen 30 Minuten bei 90° Celsius, 20 Minuten bei 130° Celsius und 40 Minuten bei 180° Celsius ausgehärtet. Folgende Festigkeitswerte wurden ermittelt
    Dichte Kg/m*3 29 48 64
    Zellweite mm 3.2 3.2 3.2
    Druckfestigkeit N/m*2 1.2 3.8 7.0
    Schubfestigkeit (L) N/m*2 0.9 2.3 2.8
    Schubmodul (L) N/m*2 39 75 96
    Schubfestigkeit (W) N/m*2 0.6 1.2 1.6
    Schubmodul (W) N/m*2 24 45 52
  • Bei den angeführten Beispielen kann der Fachmann unschwer erkennen, dass durch die Verwendung der in (0012) aufgeführten nanoskaligen Partikel und der in Lösung gebrachten thermoplastischen und duroplastischen Harze Änderungen, Anpassungen sowie Modifikationen innerhalb der erläuterten Erfindung möglich sind.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
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  • Zitierte Patentliteratur
    • - DE 4003249 A [0003]
    • - DE 69610830 T2 [0003, 0006]
  • Zitierte Nicht-Patentliteratur
    • - Phenolic Resins von A. Knop, Springerverlag Berlin 1985 [0020]

Claims (7)

  1. Wabenstruktur aus einer Vielzahl von wabenförmigen Zellen gebildet und dadurch gekennzeichnet, dass diese Wabenstruktur mit einem thermoplastischen Harz überzogen ist und dieser nanoskalige Partikel enthält.
  2. Wabenstruktur nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, dass die nanoskaligen Partikel CNT, MWNT, Aluminium-Oxid, Antimon Zinn-Oxid, Bismuth(III)-Oxid, Kupfer(III)-Oxid, Indium Zinn-Oxid, Eisen(III)-Oxid, Zink-Oxid, Zink-Oxid Organo-Silane Polar, Zink-Oxid Organo-Silane Non-Polar, Silikon Carbide, Nanoclay(Montmorillomite Clay) und Bariumsulfat sind.
  3. Wabenstruktur nach einem der Ansprüche 1 bis 2, dadurch gekennzeichnet, dass der thermoplastische Harz aus der aus Polyolefinen, Polyamid, Polyimid, Polyamidimid, Polyetherimid, Polyester, Polyarylensulfid, Polysulfon, Polyethersulfon, Polycarbonat, Polyketon und Polyetheretherketon bestehenden Gruppe von polymeren Materialien ausgewählt ist.
  4. Wabenstruktur nach Anspruch 2, bei der die nanoskaligen Partikel hauptsächlich aus MWNT bestehen.
  5. Wabenstruktur nach einem der vorhergehenden Ansprüche bei dem der thermoplastische Harz aus Amid-Imid besteht.
  6. Wabenstruktur nach einem der vorhergehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, dass die nanoskaligen Partikel eine Partikelgröße von 10 bis 150 nm aufweisen.
  7. Wabenstruktur nach einem der vorhergehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, dass der Anteil der nanoskaligen Partikel im thermoplastischen Harz 0.1 bis 40 Gewicht-% beträgt.
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