DE102008010118A1

DE102008010118A1 - Einstellung der Detektorverstärkung in Massenspektrometern

Info

Publication number: DE102008010118A1
Application number: DE102008010118A
Authority: DE
Inventors: Armin Holle
Original assignee: Bruker Daltonik GmbH
Current assignee: Bruker Daltonics GmbH and Co KG
Priority date: 2008-02-20
Filing date: 2008-02-20
Publication date: 2009-09-24
Anticipated expiration: 2028-02-21
Also published as: GB0901767D0; GB2457559A; GB2457559B; US20090206247A1; US8536519B2; DE102008010118B4

Abstract

Die Erfindung bezieht sich auf die Einstellung der Verstärkung von Sekundärelektronenvervielfachern in Massenspektrometern. Die Erfindung besteht darin, zunächst Massenspektren mit Einzelionensignalen zu erzeugen, dann den Mittelwert der Peakhöhen dieser Einzelionensignale zu bestimmen und die Verstärkung so einzustellen, dass eine gewünschte mittlere Peakhöhe erreicht wird. Die Verstärkung wird über die Versorgungsspannung des Sekundärelektronenvervielfachers eingestellt und kann bei Kenntnis der Kennlinie des Sekundärelektronenvervielfachers leicht über eine Spannungsdifferenz in gewünschtem Maße erhöht oder erniedrigt werden.

Description

Die Erfindung bezieht sich auf die Einstellung der Verstärkung von Sekundärelektronenvervielfachern in Massenspektrometern.
Die Erfindung besteht darin, zunächst Massenspektren mit Einzelionensignalen zu erzeugen, dann den Mittelwert der Peakhöhen dieser Einzelionensignale zu bestimmen, und die Verstärkung so einzustellen, dass ein vorgegebener Mittelwert der Peakhöhen erreicht wird. Die Verstärkung wird über die Versorgungsspannung des Sekundärelektronenvervielfachers eingestellt und kann bei Kenntnis der Kennlinie des Sekundärelektronenvervielfachers leicht über eine Spannungsdifferenz um einen gewünschten Faktor erhöht oder erniedrigt werden.
Stand der Technik
Die Einstellung der Verstärkung eines Sekundärelektronenvervielfachers (SEV) in einem Massenspektrometer bietet im Allgemeinen große Schwierigkeiten. Man kann bei den meisten Massenspektrometern weder die Stärke der Ionenerzeugung in der Ionenquelle noch die Verstärkung des SEV für sich alleine messen, beide können sich jedoch in einem weiten Bereich gegenseitig kompensieren. Man kann daher bei einem zu hohen Signal kaum feststellen, ob man zu viele Ionen generiert oder ob man die Verstärkung des SEV zu hoch justiert hat. Eine hohe Verstärkung des SEV ist aber schädlich: zum einen wird die Lebensdauer des SEV herabgesetzt, zum anderen wird das Massenspektrum unnötig verrauscht, da man zu wenig Ionen misst. Das Problem ergibt sich, da die Verstärkung eines Sekundärelektronenvervielfachers nicht über seine Lebenszeit konstant bleibt, sondern sich während der Benutzung durch Alterungsvorgänge dauernd ändert, wobei die Änderungen stetig, aber auch in mehr oder weniger großen Sprüngen auftreten können.
Die Problemlage sei hier beispielhaft an zwei völlig verschiedenen Massenspektrometern erklärt: an Hochfrequenz-Ionenfallenmassenspektrometern nach Wolfgang Paul, die vielfach mit Channeltron-Detektoren, und an MALDI-Flugzeitmassenspektrometern, die überwiegend mit Vielkanalplatten (Multichannel Plates) arbeiten. Dabei kommt es auf die Art des SEV gar nicht an. Das Problem liegt allein darin, dass sich die Rate der Ionenerzeugung oder der Ionenbefüllung und die Verstärkung des SEV so kompensieren, dass man die SEV-Verstärkung nicht für sich allein bestimmen kann. Die Massenspektrometer besitzen in der Regel auch keine andersartigen Messvorrichtungen für Ionenströme, mit denen man die Verstärkung des Sekundärelektronenvervielfachers bestimmen kann.
In einem MALDI-Flugzeitmassenspektrometer werden die Ionen aus festen Proben mit einer Ionisierung durch matrixunterstützte Laserdesorption erzeugt. Die Proben befinden sich eingetrocknet auf einem Probenträger und bestehen aus einem Gemisch aus Matrixmaterial, in der Regel eine leicht verdampfbare organischen Säure, mit sehr wenigen Analytmolekülen, die untersucht werden sollen. Der Beschuss mit Laserlichtpulsen geeigneter Wellenlänge und geeigneter Pulsdauer führt zur Erzeugung einer kleinen Plasmawolke, in der neben vielen Ionen der Matrixsubstanz auch zufriedenstellend viele Ionen der Analytsubstanz gebildet werden.
Die Anzahl der pro Laserschuss gebildeten Ionen kann durch eine Einstellung der Laserenergie in weiten Grenzen (über mehrere Zehnerpotenzen) variiert werden, wobei aber nur ein schmaler Bereich relativ stabile, also nicht rasch zerfallende, Analytionen liefert. Nur in diesem schmalen Be reich können gute Analysen ausgeführt werden. Die optimale Laserenergie ist andererseits von der Art des Matrixmaterials abhängig. Die Laserenergie wird im Allgemeinen anhand des gemessenen Ionenstroms eingestellt, der überwiegend aus Matrixionen besteht. Dieser gemessene Ionenstrom hängt aber von der Detektorverstärkung ab. Würde der Detektor immer konstant arbeiten und keine Alterung zeigen, könnte dessen Verstärkung ein einziges Mal im Herstellerwerk eingestellt werden und würde über seine Lebenszeit hinweg erlauben, immer die optimale Laserenergie einzustellen. Die Sekundärelektronenvervielfacher alter aber, und hier liegt das Problem.
Ähnlich ist es in Ionenfallenmassenspektrometern. Hier ist es nicht die Stärke der Ionenerzeugung, sondern der Vorgang der Befüllung der Ionenfalle mit Ionen, der über den Ionenstrom am Detektor geregelt wird. Diese Befüllung ist kritisch, da das Massenspektrum schon bei leichter Überfüllung in seiner Qualität, insbesondere in seinem Massenauflösungsvermögen, abnimmt. Die Überfüllung hängt dabei aber nicht einfach von der Anzahl der Ionen in der Ionenfalle ab, sondern sehr stark auch von der Verteilung der Ionen auf die verschiedenen Massen. Die Steuerung der Befüllung geschieht daher durch eine Analyse des vorhergehend aufgenommenen Massenspektrums. dessen Ionenanzahlen für die einzelnen Ionensorten möglichst genau bekannt sein sollen. Die Bestimmung der Anzahlen von Ionen geschieht aber wieder über den Ionenstrom am Detektor. Auch hier stört die Alterung des Sekundärelektronenvervielfachers, der bei schwacher werdender Verstärkung diese Anzahlen von Ionen ohne eine Neueinstellung seiner Verstärkung nicht mehr genau zu bestimmen gestattet.
Es gibt mehrere Arten von Sekundärelektronenvervielfachern (SEV, häufig kurz als „Multiplier” bezeichnet). Die ältesten, aber auch heute noch verwendeten Sekundärelektronenvervielfacher bestehen aus diskreten Dynoden, zwischen denen durch einen Spannungsteiler Spannungen in der Größenordnung von jeweils 100 bis 200 Volt aufgespannt sind. Es gibt Sekundärelektronenvervielfacher mit 8 bis 18 Dynoden. Die Ionen treffen auf die erste Dynode, generieren dort Sekundärelektronen, die beschleunigt werden und dann auf die zweite Dynode treffen. Jedes dieser Elektronen erzeugt dann wiederum im Mittel mehrere Sekundärelektronen, so dass sich längs der Dynoden eine Lawine aus Elektronen ausbildet. Die Verstärkung ist die Anzahl von Elektronen aus der letzten Dynode pro Ion, das auf die erste Dynode fallt. Die Verstärkungen handelsüblicher Multiplier können durch Veränderung der Gesamtspannung in weiten Bereichen, im Extrem zwischen 10⁴ und 10⁸, verändert werden, wobei in der Regel ein Betrieb bei höchsten Spannungen zu einer sehr schnellen Alterung führt.
Andere Arten von Sekundärelektronenvervielfachern sind die so genannten „Channeltron Multiplier” und die Vielkanalplatten (Multichannel Plates). Letztere werden gewöhnlich in Ausführungen geliefert, die aus zwei Platten hintereinander mit leicht zueinander geneigten Kanalrichtungen (Chevron-Anordnung) bestehen. In diesen beiden Arten von Sekundärelektronenvervielfachern herrschen Spannungsabfälle auf der Oberfläche von inneren Kanälen, die bei geeigneter Formgebung und Oberflächenkonditionierung zu Elektronenlawinen in den Kanälen führen. Die Verstärkungsbereiche sind ähnlich zu denen von Dynoden-Sekundärelektronenvervielfachern. In 1 ist die Kennlinie für eine Doppel-Vielkanalplatte mit Kanälen von nur zwei Mikrometer Durchmesser dargestellt.
Die Sekundärelektronenvervielfacher haben Kennlinien, die den Logarithmus der Verstärkung in Abhängigkeit von der Versorgungsspannung zeigen. Die Kennlinien sind in etwa gerade; das heißt, eine Zunahme der Versorgungsspannung um einen Wert ΔV hebt die Verstärkung jeweils um einen Faktor F an. Durch die Alterung ändert sich die Lage der Kennlinie, ihre Steigung bleibt aber in etwa erhalten. Eine altersbedingte Verringerung der Verstärkung um einen Faktor F kann also in gewissen Umfang durch eine Erhöhung der Spannung um ΔV wieder ausgeglichen werden.
Leider ist es aber so, dass alle Sekundärelektronenvervielfacher im Laufe ihres Lebens in ihrer Verstärkung nachlassen. Diese Alterung hängt aber nicht einfach von der Zeit ab, sondern von der Zeitdauer ihrer Benutzung, von der Art und der Energie der Ionen, die die erste Generation von Elektronen erzeugen, und von weiteren Parameter wie Temperatur, Erholpausen, Art des Restgases im Vakuum, Belüftungsphasen und anderen mehr. Ihre Verstärkung, die von der angelegten Spannung abhängt, muss also gelegentlich durch Justierung dieser Spannung nachgestellt werden. Wünschenswert wäre eine automatische Justierung, die regelmäßig im Massenspektrometer ablaufen könnte oder die der Benutzer nur anstoßen müsste. Für diese Justierung gibt es aber kein Verfahren, das sich einfach automatisieren ließe.
Aufgabe der Erfindung
Es ist die Aufgabe der Erfindung, ein möglichst automatisierbares Verfahren zur reproduzierbaren Einstellung einer gewünschten Verstärkung von Sekundärelektronenvervielfachern in Massenspektrometern bereitzustellen, wobei das Verfahren keine Änderung der Massenspektrometer erfordern soll.
Kurze Beschreibung der Erfindung
Die Erfindung besteht darin, Massenspektren mit Einzelionensignalen zu erzeugen, den Mittelwert der Peakhöhen dieser Einzelionensignale zu bestimmen, und die Verstärkung des Sekundärelektronenvervielfachers so einzustellen, dass ein gewünschter Mittelwert der Peakhöhen erreicht wird.
Für die Aufnahme eines Massenspektrums mit Einzelionensignalen ist es günstig, die Ionenerzeugung in der Ionenquelle oder die Befüllung der Ionenfalle herabzusetzen und das Massenspektrum so zu dejustieren, dass im Massenspektrum viele Peaks erscheinen, die jeweils nur von einem einzigen Ion stammen. Deren Signale sollten sich möglichst nicht stark überlappen. Es ist nicht notwendig, dass das Massenspektrum nur aus solchen Einzelionensignalen besteht, diese müssen aber gut erkennbar sein. Einzelionensignale können in der Regel gut an ihrer charakteristischen Peakbreite in halber Maximalhöhe erkannt werden.
Die Peakhöhen der Einzelionenpeaks streuen sehr stark, da die Ionen beim Auftreffen auf den SEV in Form einer Poissonverteilung zwischen null bis zu sechs oder mehr Sekundärelektronen erzeugen können, und ihre Peakhöhen daher auch um entsprechende Faktoren von eins bis sechs schwanken. Für eine gute Bestimmung der Mittelwerte der Peakhöhen sind daher aus statistischen Gründen mindestens dreißig Einzelionenpeaks auszuwerten; besser sind hundert oder sogar weit mehr. Damit der Mittelwert der Peakhöhen genügend gut bestimmt werden kann und damit nicht versehentlich kleine Peaks übersehen werden, kann es notwendig sein, die Verstär kung vor der Bestimmung der Peakhöhen der Einzelionensignale genügend weit heraufzusetzen. Sind in einem solchen Massenspektrum mit Einzelionenpeaks nicht genügend Einzelionenpeaks enthalten, so können mehrere solche Massenspektren aufgenommen und für die Bestimmung des Mittelswerts herangezogen werden.
Die Einstellung der vorgegebenen Verstärkung des SEV kann so vorgenommen werden, dass in mehreren Einstellversuchen mit Messungen neuer Massenspektren der vorgegebene Mittelwert der Peakhöhen erreicht wird; einfacher ist allerdings die Einstellung über die bekannte Kennlinie des SEV, die den Zusammenhang zwischen einer Spannungsänderung und dem zugehörigen Änderungsfaktor für die Verstärkung wiedergibt. Soll ein sehr kleiner Mittelwert der Peakhöhen als Sollwert eingestellt werden, so ist die Verwendung der Kennlinie unumgänglich, da hier ihre Peakhöhen nicht mehr direkt, sondern nur unter Erhöhung der Verstärkung gemessen werden können.
Kurze Beschreibung der Abbildungen
1 zeigt die Kennlinie einer üblichen Doppel-Vielkanalplatte in Chevron-Anordnung, die aus sehr feinen Kanälen mit nur zwei Mikrometer Durchmesser besteht. Wegen der sehr feinen Kanäle ist der Verstärkungsbereich etwas eingeschränkt, reicht aber selbst hier von 4 × 10⁴ bis 1 × 10⁷.
Die 2 und 3 geben Ausschnitte aus einem Massenspektrum wieder, das mit einem einzelnen Laserschuss in einem MALDI-Flugzeitmassenspektrometer gewonnen wurde und im Wesentlichen aus Einzelionenpeaks besteht. Die Streuung der Peakhöhen ist bemerkenswert groß und geht auf die Ausbeute an Sekundärelektronen beim Aufschlag der Ionen zurück, die zwischen null und sechs Sekundärelektronen beträgt. Die Masse der Ionen entspricht ungefähr der angezeigten Masse der Massenskala unter dem Spektrum, daher kann man hier die Einstellung der Verstärkung mit Ionen ausgewählter Massenbereiche vornehmen.
Beste Ausführungsformen
Das Verfahren der Erfindung zur reproduzierbaren Einstellung der Verstärkung eines Sekundärelektronenvervielfachers in einem Massenspektrometer besteht im Wesentlichen aus folgenden drei Schritten:

(a) Aufnahme eines Massenspektrums mit Einzelionensignalen,
(b) Bestimmung des Mittelwerts der Peakhöhen der Einzelionensignale, und
(c) Einstellung der Versorgungsspannung des Sekundärelektronenvervielfachers so, dass für Einzelionensignale ein vorgegebener Sollwert für den Mittelwert der Peakhöhen erreicht wird.

Um zu Massenspektren mit einer genügenden Anzahl an Einzelionensignalen zu gelangen, ist es zweckmäßig, das Massenspektrometer durch Dejustierung der zeitlichen und/oder räumlichen Fokussierung so zu betreiben, dass sein Auflösungsvermögen extrem schlecht wird und sich die normalerweise gut aufgelösten Ionensignale für Ionen jeweils einer Masse zu einem breiten Überlappungsgemisch verändern. In jedem Massenspektrometer lässt sich außerdem die Anzahl der Ionen, die zum Detektor gelangen, sehr stark vermindern, bis vorwiegend nur noch Einzelionensignale ohne Überlappung im Massenspektrum erscheinen. Dazu kann man beispielsweise die Erzeugungsrate für die Ionen in der Ionenquelle herabsetzen oder die Ionentransmission durch das Massenspektrometer drosseln. In solchen Massenspektrometern, die mit Ionenfallen oder Zwischenspeichern arbeiten, kann man die Füllmengen stark verkleinern. Alle diese Maßnahmen dienen dazu, das Massenspektrum auf Signale zu reduzieren, die deutlich über dem elektronischen Untergrundrauschen stehen und einzelnen Ionen zugeordnet werden können. Dabei ist es einerlei, ob diese Einzelionensignale von Ionen aus dem üblichen chemischen Rauschuntergrund oder von Analytionen stammen.
Es ist dazu nicht unbedingt erforderlich, dass das Massenspektrum überhaupt keine Signale von Ionenansammlungen mehr enthält. Die Einzelionensignale lassen sich recht gut durch ihre Signalbreite erkennen und auslesen.
Das Massenspektrum wird in gewöhnlicher Weise aufgenommen, durch SEV und elektronischem Verstärker verstärkt, digitalisiert und in digitalisiertem Zustand abgespeichert. In diesem digitalisierten Massenspektrum lassen sich die Einzelionensignale mit Hilfe eines geeigneten Computerprogramms gut durch ihre Peakbreiten erkennen und auf ihre Peakhöhen untersuchen.
Es kann günstig sein, das Massenspektrometer so zu betreiben, dass Einzelionensignale so klein sind, dass zumindest die statistisch kleinen Signale nach der Digitalisierung gar nicht mehr sichtbar sind. Sind in dieser Weise die Peakhöhen für eine Bestimmung der mittleren Peakhöhen zu klein, zählen sie beispielsweise nur einige wenige Counts des Digitalwandlers, so lassen sie sich durch eine Spannungserhöhung am SEV mit bekanntem Erhöhungsfaktor für die Verstärkung für eine erneute Spektrenaufnahme in eine gut auswertbare Höhe bringen. Es wird also hier die bekannte Kennlinie der Verstärkung in Abhängigkeit von der SEV-Spannung ein erstes Mal verwendet.
Wird beispielsweise ein Digitalwandler mit einer Breite von acht bit benutzt, so ist es günstig, wenn sich die Einzelionenpeakhöhen von etwa 10 bis 50 Counts oder besser sogar von 20 bis 100 Counts erstrecken, wobei jedoch darauf zu achten ist, dass Signale von Ionenansammlungen den SEV und seine Verstärkungselektronik nicht hoffnungslos in die Sättigung treiben, da eine solche Übersättigung die Verstärkung des SEV kurzfristig, wenn auch meist vorübergehend zu ändern vermag.
Es wird sodann durch eine Auswertung einer genügenden Anzahl von Einzelionenpeaks in diesem Einzelionenspektrums der Mittelwert der Höhen der Einzelionenpeaks bestimmt und mit ihrem Sollwert verglichen. Sodann wird, gegebenenfalls unter nochmaliger Benutzung der Kennlinie, die SEV-Verstärkung auf einen gewünschten Wert für den Mittelwert der Höhen der Einzelionenpeaks eingestellt. Dieser Mittelwert der Höhen kann beispielsweise bei fünf Counts des Analog-zu-Digitalwandlers (ADC) liegen, oder auch bei nur einem halben Count, so dass schwache Einzelionenpeaks mit dieser Einstellung nach ihrer Digitalisierung gar nicht erkannt werden könnten, trotzdem aber ein gutes Massenspektrum gemessen werden kann, da häufig nur Ionenpeaks interessieren, bei denen mindestens zehn Ionen gemeinsam auftreten. Die gewünschte Einstellung für den Mittelwert der Peakhöhen der Einzelionenpeaks muss sich also nach der gewünschten Messdynamik und der Bitbreite des ADC richten.
Der Mittelwert kann dabei ein linearer, ein logarithmischer oder ein anders definierter Mittelwert sein. Die Definition des Mittelwerts soll hier für die Erfindung keine Rolle spielen, sie kann nach Bedarf gewählt werden.
Erst wenn die Verstärkung des Sekundärelektronenvervielfachers präzise auf ihren Sollwert eingeregelt ist, können andere Einstellverfahren des Massenspektrometers, wie beispielsweise die Einstellung der Laserenergie für MALDI oder die Befüllung einer Ionenfalle, richtig ausgeführt werden.
Das Verfahren wird begünstigt durch die Kenntnis der Kennlinie der SEV, das ist die Funktion des Logarithmus der Verstärkung in Abhängigkeit von der Betriebsspannung des SEV. Diese Kennlinie wird im Allgemeinen im Herstellerwerk gemessen. Sie unterliegt natürlich ebenfalls der Alterung, wobei sich aber die Steigung der so definierten Kennlinie nur wenig ändert. Die Steigung der Kennlinie kann aber ebenfalls durch Verwendung der mittleren Höhen der Einzelionenpeaks nachgeprüft und korrigiert werden.
Um in einem HF-Ionenfallenmassenspektrometer ein Massenspektrum zu erzeugen, das überwiegend aus Einzelionensignalen besteht, kann man mehrere Verfahren wählen, die im Prinzip dem Fachmann bekannt sind. Am einfachsten ist es, die Hochfrequenzspannung der Ionenfalle völlig oder weitgehend abzuschalten, so dass die eingeschossenen Ionen die Ionenfalle durchfliegen können, und die Ionenerzeugung der Ionenquelle so weit zu erniedrigen, dass nur ein schwacher Strom von Ionen durch die Ionenfalle fliegt. Es wird dann einfach für eine gewisse Zeit die Aufnahme für ein Massenspektrum durchgeführt, was allerdings nicht ein nach Massen aufgelösten Spektrum, sondern eben ein Einzelionenspektrum mit Ionen statistisch verteilter Massen ergibt. Die Massen der Ionen hängen vom Gemisch von Substanzen ab, die in der Ionenquelle ionisiert werden.
Es kann die Ionenfalle aber auch normal mit Ionen befüllt werden, und eine gewählte Ionensorte durch vorsichtige resonante Anregung ihrer Ionen zu Sekularschwingungen über eine längere Zeitdauer von einigen Hundert Mikrosekunden verschmiert ausgeworfen werden. Dabei wird bevorzugt ein niedrige Speicherhochfrequenzspannung gewählt, um Fragmentierungen der Ionen zu vermeiden. Diese zweite Art der Aufnahme von Massenspektren mit Einzelionenpeaks erlaubt es, die Verstärkung des Sekundärelektronenvervielfachers auf eine ausgewählte Ionensorte abzustimmen. Die Verstärkung eines jeden Sekundärelektronenvervielfachers hängt in geringen Maße von der Art und von der Energie der Ionen ab, die nachgewiesen werden. Die kinetische Energie der Ionen ist in Ionenfallenmassenspektrometern durch die Konstruktion der Ionenfalle und die Spannungsversorgung im Detektorbereich festgelegt. Es ist anzumerken, dass in vielen Typen von Ionenfallenmassenspektrometern die Ionen nicht direkt auf den Sekundärelektronenvervielfacher aufgeschossen werden, sondern zunächst eine Konversionsdynode treffen, die die aufschlagenden Ionen in Sekundärelektronen konvertiert. Diese Sekundärelektronen werden dann zum Sekundärelektronenvervielfacher beschleunigt. Letzterer ist meist als Channeltron-Multiplier ausgelegt. Dieser zweistufige Betrieb ist günstig für einen Nachweis von sowohl positiven wie auch negativen Ionen, ändert aber nichts an der Notwendigkeit zur gelegentlichen Einjustierung der Verstärkung.
Das Aufnahmeverfahren für Massenspektrum mit Einzelionenpeaks in einem MALDI-Flugzeitmassenspektrometer ist noch einfacher. Hie kann man die Spannung über die erste Bescheunigungstrecke in der Ionenquelle sehr klein machen, wodurch die Massenauflösung im Spektrometer drastisch abnimmt. Mit einzelnen Laserschüssen kann man dann jeweils Einzelionenspektren erhalten, wobei die Dichte der Ionenpeaks im Spektrum durch die Energie im Laserschuss nach Wunsch verändert werden kann. Durch die Erhöhung der Versorgungsspannung am Sekundärelektronenvervielfacher kann man die Peakhöhen so einstellen, dass man einerseits keine niedrigen Peaks übersieht, und andererseits keine Peaks in die Sättigung des Analog-zu-Digital-Wandlers treibt. In diesem Fall haben die einzelnen Ionen Massen, die in etwa ihrer Position im Massenspektrum entsprechen. Daher kann man auch hier, gegebenenfalls durch die Aufnahme vieler einzelner Massenspektren, eine Justierung der Verstärkung mit Ionen einer bestimmten Masse erreichen.

Claims

Verfahren zur Einstellung der Verstärkung eines Sekundärelektronenvervielfachers in einem Massenspektrometer mit folgenden Schritten: (a) Aufnahme eines Massenspektrums mit Einzelionensignalen, (b) Bestimmung des Mittelwerts der Peakhöhen der Einzelionensignale, und (c) Einstellung der Versorgungsspannung des Sekundärelektronenvervielfachers so, dass für Einzelionensignale ein vorgegebener Sollwert für den Mittelwert der Peakhöhen erreicht wird.
Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass für die Einstellung der Versorgungsspannung in Schritt (c) zur Einstellung eines vorgegebenen Sollwerts für den Mittelwert der Peakhöhen die Kennlinie des Sekundärelektronenvervielfachers verwendet wird.
Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass vor Schritt (a) die Versorgungsspannung des Sekundärelektronenvervielfachers heraufgesetzt wird, um für den Schritt (b) gut auswertbare Peakhöhen der Einzelionensignale zu erhalten.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass zur Bestimmung des Mittelwerts der Peakhöhen in Schritt (b) mindestens dreißig Einzelionensignale verwendet werden.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass für die Aufnahme eines Massenspektrums mit Einzelionensignalen in Schritt (a) die Erzeugungsrate für Ionen in der Ionenquelle der Massenspektrometers herabgesetzt wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass für die Aufnahme eines Massenspektrums mit Einzelionensignalen in Schritt (a) die räumliche und/oder zeitliche Fokussierung der Ionen im Massenspektrometer dejustiert wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass für die Aufnahme eines Massenspektrums mit Einzelionensignalen in Schritt (a) die Transmission von Ionen im Massenspektrometer herabgesetzt wird.
Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass für die Einstellung der Verstärkung des Sekundärelektronenvervielfachers von der Einstellung der Versorgungsspannung ausgegangen wird, mit der die Massenspektren mit Einzelionenpeaks aufgenommen wurden, und dass die Kennlinie benutzt wird, um die Änderung der Versorgungsspannung zu bestimmen, die eine Verstärkungsänderung bewirkt, um zum einzustellenden Sollwert für den Mittelwert der Peakhöhen zu gelangen.