DE102007025880A1 - Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit einer Dünnschichtkappe - Google Patents

Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit einer Dünnschichtkappe Download PDF

Info

Publication number
DE102007025880A1
DE102007025880A1 DE200710025880 DE102007025880A DE102007025880A1 DE 102007025880 A1 DE102007025880 A1 DE 102007025880A1 DE 200710025880 DE200710025880 DE 200710025880 DE 102007025880 A DE102007025880 A DE 102007025880A DE 102007025880 A1 DE102007025880 A1 DE 102007025880A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
trench
layer
capping layer
micromechanical component
method step
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE200710025880
Other languages
English (en)
Inventor
Volker Schmitz
Axel Grosse
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Robert Bosch GmbH
Original Assignee
Robert Bosch GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Robert Bosch GmbH filed Critical Robert Bosch GmbH
Priority to DE200710025880 priority Critical patent/DE102007025880A1/de
Priority to JP2010509785A priority patent/JP5145412B2/ja
Priority to PCT/EP2008/056117 priority patent/WO2008145553A2/de
Priority to US12/451,327 priority patent/US8809095B2/en
Priority to KR1020097024933A priority patent/KR101479363B1/ko
Priority to EP08759742.3A priority patent/EP2164800B1/de
Publication of DE102007025880A1 publication Critical patent/DE102007025880A1/de
Priority to US14/332,751 priority patent/US9114975B2/en
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C1/00Manufacture or treatment of devices or systems in or on a substrate
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0006Interconnects
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0032Packages or encapsulation
    • B81B7/007Interconnections between the MEMS and external electrical signals
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B7/00Microstructural systems; Auxiliary parts of microstructural devices or systems
    • B81B7/0032Packages or encapsulation
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2203/00Basic microelectromechanical structures
    • B81B2203/01Suspended structures, i.e. structures allowing a movement
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2203/00Basic microelectromechanical structures
    • B81B2203/03Static structures
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81BMICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS, e.g. MICROMECHANICAL DEVICES
    • B81B2207/00Microstructural systems or auxiliary parts thereof
    • B81B2207/07Interconnects
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B81MICROSTRUCTURAL TECHNOLOGY
    • B81CPROCESSES OR APPARATUS SPECIALLY ADAPTED FOR THE MANUFACTURE OR TREATMENT OF MICROSTRUCTURAL DEVICES OR SYSTEMS
    • B81C2203/00Forming microstructural systems
    • B81C2203/01Packaging MEMS
    • B81C2203/0136Growing or depositing of a covering layer

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Micromachines (AREA)

Abstract

Es wird ein mikromechanisches Bauelement mit einem Substrat, einer über dem Substrat liegenden mikromechanischen Funktionsschicht und einer über der Funktionsschicht liegenden Verkappungsschicht sowie ein Verfahren zur Herstellung des mikromechanischen Bauelements vorgeschlagen, wobei die Verkappungsschicht wenigstens einen Graben aufweist, wobei eine Überbrückung des Grabens durch wenigstens einen elektrisch isolierenden Verbindungssteg vorgesehen ist.

Description

  • Stand der Technik
  • Die Erfindung geht von einem mikromechanische Bauelement nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 aus.
  • Solche mikromechanischen Bauelemente sind allgemein bekannt. Beispielsweise ist aus der Druckschrift EP 1274648 B1 ein mikromechanisches Bauelement und ein Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements bekannt, welches eine Funktionsebene mit beweglichen und angebundenen Strukturen aufweist, wobei die angebundenen Strukturen durch Gräben und Oxidpfropfen, welche die Gräben ausfüllen, voneinander getrennt sind. Das Verfahren sieht zunächst die Bildung einer Funktionsschicht, eine nachfolgende Ätzung von Opferschichten durch die Gräben hindurch und einen abschließenden Verschluss der Gräben mittels der Oxidpfropfen vor. Eine Leitungsbahnebene zur Kontaktierung von beweglichen und angebundenen Strukturen der Funktionsschicht wird unterhalb der Funktionsschicht gebildet, wodurch eine Vielzahl von aufwändigen und kostenintensiven Prozessschritten erforderlich ist.
  • Offenbarung der Erfindung
  • Das erfindungsgemäße mikromechanische Bauelement und das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung eines erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements gemäß den nebengeordneten Ansprüchen haben den Vorteil, dass eine gegenüber dem Stand der Technik deutlich geringere Anzahl von Prozessschritten zur Herstellung des mikromechanischen Bauelements, insbesondere bei der Herstellung von Sensoren und Aktoren, erreicht wird. Die Reduzierung der benötigten Prozessschritte erfolgt durch eine Verkappung des mikromechanische Bauelement wird mit einer Verkappungsschicht, insbesondere mit einer Dünnschichtkappe, wobei die Verkappungsschicht wenigstens den einen Graben aufweist, so dass elektrisch isolierte Verkappungsschichtelemente entstehen. Die Verkappungsschichtelemente werden gegebenenfalls in der Funktionsschicht und in einer oberen Metallschicht kontaktiert. So stehen die Verkappungsschichtelemente selbst als Leiterbahnen zur Verfügung und ermöglichen eine Leitungsbahnebene in der oberen Metallschicht. Aufwändige und kostenintensive Prozessschritte zur Erzeugung von Leiterbahnen und Leitungsbahnebenen unterhalb der Funktionsschicht entfallen. Vorzugsweise sind die Verkappungsschichtelemente von wenigstens einem Graben vollständig umgeben. Zur mechanischen Anbindung der Verkappungsschichtelemente ist wenigstens der eine elektrisch isolierende Verbindungssteg vorgesehen, wobei vorzugsweise der Verbindungssteg und die Verkappungsschicht zum Zeitpunkt des Aufbringens der Verkappungsschicht einstückig verbunden sind. Durch eine stabile mechanische Fixierung des Verkappungsschichtelements wird insbesondere eine Verbindung zwischen dem Verkappungsschichtelement und einer Struktur der Funktionsschicht, welche in der Funktionsschicht keine Fixierung aufweist, ermöglicht, da das Verkappungsschichtelement in diesem Fall als Halterung für die Struktur und gleichzeitig als Leiterbahn zur elektrischen Kontaktierung der Struktur fungiert.
  • Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung weist eine Flächennormale einer Grabenwand des Grabens bezüglich einer zur Haupterstreckungsebene des Substrats senkrechten Richtung wenigstens zwei verschiedene Winkel auf. Ein solches Profil ermöglicht einen Verbindungssteg, dessen Ausdehnung entlang einer zur Haupterstreckungsebene senkrechten Richtung variabel ist und entsprechend an die geforderte Anforderung an die Isolationsfähigkeit und die mechanische Belastbarkeit angepasst wird. Insbesondere ist ein Verbindungsstege mit einer geringeren Ausdehnung als die Verkappungsschichtdicke vorgesehen.
  • Ein weiterer Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist ein Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements, wobei in einem ersten Verfahrensschritt das Substrat mit der ersten Isolationsschicht und der Funktionsschicht versehen wird, bevorzugt ist ein SOI-Wafer vorgesehen, wobei in einem zweiten Verfahrensschritt die Funktionsschicht, bevorzugt durch ein bekannten Trench-Prozess, besonders bevorzugt durch einen Bosch- oder DRIE-Prozess, strukturiert wird, wobei in einem dritten Verfahrensschritt die zweite Isolationsschicht aufgebracht wird, wobei in einem vierten Verfahrensschritt die zweite Isolationsschicht strukturiert wird, wobei in einem fünften Verfahrensschritt die Verkappungsschicht, insbesondere eine Siliziumdünnschichtkappe, aufgebracht wird und wobei in einem sechsten Verfahrensschritt die Verkappungsschicht mit wenigstens dem einen Graben versehen wird, wobei wenigsten der eine Verbindungssteg der Verkappungsschicht zur Überbrückung des Grabens bei der Grabenbildung stehen gelassen wird. Dadurch entstehen Verkappungsschichtelemente, welche als Leiterbahnen fungieren und gleichzeitig mechanisch fixiert sind. Des weiteren entsteht durch den Graben ein Zugang zur Funktionsschicht des mikromechanischen Bauelements, so dass in späteren Verfahrensschritten Ätzvorgänge und/oder Oxidationsvorgänge in der Verkappungsschicht und/oder der Funktionsschicht ermöglicht werden. Insbesondere ist eine Dotierung und/oder eine Temperung der Verkappungsschicht vorgesehen. Die Isolationsschichten dienen bevorzugt der elektrischen und räumlichen Trennung der angrenzenden Schichten, sowie besonders bevorzugt als Schutz- und Opferschichten.
  • Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung wird im Anschluss an den sechsten Verfahrensschritt in einem siebten Verfahrensschritt die erste und/oder die zweite Isolationsschicht von einem Ätzmittel durch den Graben hindurch geätzt. Durch die Ätzung entstehen in der Funktionsebene insbesondere bewegliche Strukturen. Die mechanische Fixierung der Verkappungsschichtelemente durch die Verbindungsstege ermöglicht insbesondere eine Unterätzung von Elementen in der Funktionsschicht, welche nicht in der Funktionsschicht selbst fixiert sind, sondern lediglich eine Verbindung zu einem Verkappungsschichtelement aufweisen und durch dieses kontaktiert werden. Solche Strukturen fungieren insbesondere als Elektroden.
  • Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird im Anschluss an den siebten Verfahrensschritt in einem achten Verfahrensschritt ein Oxidationsverfahren, bevorzugt eine thermische Oxidation, durchgeführt, wobei insbesondere eine dritte Isolationsschicht zum Verschließen der Verkappungsschicht gebildet wird und/oder eine Oxidation des Verbindungsstegs zur Verringerung der elektrischen Leitfähigkeit erfolgt. Bevorzugt wird der Verschluss der Verkappungsschicht in zwei aufeinanderfolgende Verfahrensteilschritte unterteilt, wobei in einem ersten Verfahrensteilschritt die thermische Oxidation wenigstens der einen Verbindungsbrücke erfolgt, wobei insbesondere der Graben teilweise verschlossen wird, und in einem zweiten Verfahrensteilschritt eine Oxidation zum vollständigen Verschluss des Grabens und/oder von Grabenteilbereichen durchgeführt wird. Vorteilhaft ist, dass der Druckbereich des mikromechanischen Bauelements im Oxidationsvorgang einstellbar ist.
  • Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird in einem auf den achten Verfahrensschritt folgenden neunten Verfahrensschritt eine Strukturierung der dritten Isolationsschicht durchgeführt und in einem nachfolgenden zehnten Verfahrensschritt eine Leiterbahn, vorzugsweise aus Metall, auf die dritte Isolationsschicht aufgebracht, wobei insbesondere das Verkappungsschichtelement von der Leiterbahn kontaktiert wird. Durch die Kontaktierung des Verkappungsschichtelements fungiert dieses als Leiterbahn und ermöglicht eine Leiterbahnebene auf der Verkappungsschicht. Durch die mögliche Kontaktierung isolierter Verkappungsschichtelemente sind insbesondere Kreuzungen zweier elektrisch getrennter Metallleiterbahnen auf einer Metallebene möglich.
  • Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird im Anschluss an den zehnten Verfahrensschritt in einem elften Verfahrensschritt eine Schutzebene aufgebracht und strukturiert wird, wobei insbesondere die Schutzebene aus Polyimid gebildet wird. Die Schutzebene minimiert die Stressempfindlichkeit des mikromechanischen Bauelements, insbesondere in einem nachfolgenden Verpackungsprozess, Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird im sechsten Verfahrensschritt eine Flächennormale einer Grabenwand des Grabens bezüglich einer zur Haupterstreckungsebene des Substrats senkrechten Richtung mit wenigstens zwei unterschiedlichen Winkeln versehen. Bevorzugt wird der Graben durch einen Trench-Prozess gebildet, welcher zunächst mit einem hohen und später mit einem geringen Kantenverlust durchgeführt wird, so dass die Verbindungsstege unterhöhlt werden. Ein solches Profil ermöglicht einen Verbindungssteg, dessen Ausdehnung entlang einer zur Haupterstreckungsebene senkrechten Richtung variabel ist und entsprechend an die geforderte Anforderung an die Isolationsfähigkeit und die mechanische Belastbarkeit angepasst wird.
  • Kurze Beschreibung der Zeichnung
  • Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert.
  • Es zeigen:
  • 1a bis 1k zeigen eine schematische Darstellung der Herstellungsschritte zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 2 zeigt eine schematische Darstellung eines mikromechanischen Bauelements gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • 3a und 3c zeigen jeweils eine schematische Aufsicht eines Teilelements des erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements gemäß der ersten oder der zweiten Ausführungsform. In den 3b und 3d ist jeweils eine schematische Seitenansicht desselben Teilelements in einer Schnittebene, welche in der jeweiligen Aufsicht schematisch eingezeichnet ist, dargestellt.
  • Die 4a bis 4c zeigen unterschiedliche Varianten eines Teilbereichs des erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements gemäß der ersten oder der zweiten Ausführungsform.
  • 5 zeigt eine Aufsicht eines mikromechanischen Bauelements gemäß einer weiteren Ausführungsform der vorliegenden Erfindung.
  • In den verschiedenen Figuren sind gleiche Teile stets mit den gleichen Bezugszeichnen versehen und werden daher in der Regel auch jeweils nur einmal beschriftet.
  • Ausführungsform(en) der Erfindung
  • Zur Veranschaulichung des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements gemäß einer ersten Ausführungsform sind in den 1a bis 1k die Herstellungsschritte des mikromechanischen Bauelements anhand einer Mehrzahl von Vorläuferstrukturen des mikromechanischen Bauelements schematisch dargestellt. In 1a ist eine erste Vorläuferstruktur dargestellt, welche ein Substrat 3 darstellt, wobei das Substrat 3, insbesondere ein Siliziumsubstrat, mit einer ersten Isolationsschicht 2 und einer über der ersten Isolationsschicht 2 liegenden Funktionsschicht 1, vorzugsweise eine Epi-Si-Poly- oder Si-Poly-Schicht, versehen wird, wobei insbesondere ein Vorgang zur Planarisierung der Funktionsschicht 1 vorgesehen ist. In der 1b ist eine zweite Vorläuferstruktur zur Veranschaulichung des zweiten Verfahrensschritts dargestellt, wobei die Funktionsschicht 1, insbesondere zur Erzeugung von beweglichen Teilen 32 und Hohlräumen 30 in der Funktionsschicht 1, strukturiert wird. Ein dritter Verfahrensschritt ist anhand einer dritten Vorläuferstruktur in 1c illustriert, wobei eine zweite Isolationsschicht 40, insbesondere eine Oxidschicht, aufgebracht wird und wobei vorzugsweise eine Planarisierung der Isolationsschicht 40 durchgeführt wird. In 1d wird eine vierte Vorläuferstruktur zur Veranschaulichung eines vierten Verfahrensschritts dargestellt, wobei die zweite Isolationsschicht 40 strukturiert wird, vorzugsweise zur Resistenzbildung von Teilen der zweiten Isolationsschicht 40 gegen einen zeitlich späteren Ätzvorgang. Zur Veranschaulichung eines fünften Verfahrensschrittes wird in 1e eine Vorläuferstruktur dargestellt, wobei eine Verkappungsschicht 50, insbesondere eine Silizium-Dünnschichtkappe, aufgebracht wird, wobei bevorzugt ein Epitaxieverfahren verwendet wird. Ein nachfolgender sechster Verfahrensschritt wird mit Hilfe einer sechsten Vorläuferstruktur in 1f dargestellt, wobei die Verkappungsschicht, vorzugsweise mit einem Trench-Prozess, strukturiert wird, so dass wenigstens ein Graben 52 entsteht, wobei wenigstens ein Verbindungssteg 54 der Verkappungsschicht 50 zur Überbrückung des Grabens 52 im Strukturierungsprozess stehen bleibt. Die Ausbildung des Verbindungsstegs 54 wird insbesondere durch einen Trench-Prozess des Grabens 52 durchgeführt, wobei zu Beginn ein geringer Kantenverlust und anschließend einer höherer Kantenverlust vorgesehen ist, so dass der Verbindungssteg unterhöhlt wird und somit nur über einen Teil der Verkappungsschichtdicke ausgebildet ist. Insbesondere ist eine vollständige Umschließung eines Verkappungsschichtelements 50' durch wenigstens einen Graben 52 vorgesehen. In 1g wird anhand einer siebten Vorläuferstruktur ein siebter Verfahrensschritt dargestellt, wobei eine Opferschichtätzung der ersten und/oder zweiten Isolationsschicht 2, 40 durchgeführt wird, wobei bevorzugt ein Ätzmittel durch den Graben 52 hindurch den Isolationsschichten 2, 40 zugeführt wird und wobei besonders bevorzugt in der Funktionsebene 1 bewegliche Strukturen 32 gebildet werden. Anhand einer in 1h illustrierten achten Vorläuferstruktur wird ein achter Verfahrensschritt dargestellt, wobei ein Oxidationsverfahren, bevorzugt ein thermisches Oxidationsverfahren, durchgeführt wird, welches die elektrische Leitfähigkeit des Verbindungsstegs 54 reduziert und insbesondere einen Verschluss der Verkappungsschicht 50 durch eine dritte Isolationsschicht 60 bildet. Dabei wird eine höhere Oxidationsrate an der Oberfläche der Verkappungsschicht 50 als im Innern der Verkappungsschicht 50 und/oder im Innern der Funktionsschicht 1 erreicht, da dort der Gasfluss beim Oxidationsvorgang geringer ist. In 1i ist anhand einer neunten Vorläuferstruktur ein neunter Verfahrensschritt dargestellt, wobei die dritte Isolationsschicht 60 strukturiert wird. Eine zehnte Vorläuferstruktur illustriert in 1j stellt einen zehnten Verfahrensschritt zum Aufbringen einer Leiterbahn 76, insbesondere einer Leiterbahn 76 aus Metall, auf die dritte Isolationsschicht 60 dar, wobei insbesondere das Verkappungsschichtelement 50' von der Leiterbahn 76 kontaktiert wird und zusammen mit der Leiterbahn 76 eine elektrisch leitende Verbindung bildet. In 1k wird anhand einer beispielhaften Struktur eines erfindungsgemäßen Bauelements gemäß einer ersten Ausführungsform ein elfter Verfahrensschritt dargestellt, wobei eine Schutzebene 80 auf die Oberfläche des mikromechanischen Bauelements, vorzugsweise aus Polyimid, aufgebracht wird, um die Stressempfindlichkeit des mikromechanischen Bauelements herabzusetzen.
  • In 2 ist beispielhaft die Struktur eines mikromechanischen Bauelements gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung gezeigt, welche jedoch im wesentlichen auf der Struktur des mikromechanischen Bauelements gemäß der ersten Ausführungsform (1k) basiert. Daher wird im Folgenden lediglich auf die Besonderheiten der zweiten Ausführungsform gegenüber der ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung näher eingegangen. Das erfindungsgemäße mikromechanische Bauelement gemäß einer zweiten Ausführungsform weist ein Verkappungsschichtelement 50' in einer Verkappungsschicht 50 gemäß des in 1k dargestellten erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements einer ersten Ausführungsform auf, welches mit einer Struktur 90 in der Funktionsschicht mechanisch stabil verbunden ist, wobei die Struktur 90 im Unterschied zum erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements gemäß einer ersten Ausführungsform (1k) in der Funktionsschicht keine mechanische Fixierung aufweist. Das Verkappungsschichtelement weist einen elektrisch leitenden Kontakt mit einer Leiterbahn 76 auf, wobei das Verkappungsschichtelement 50' über Verbindungsstege 54 mechanisch fixiert wird. Eine derartige Struktur wird durch einen erfindungsgemäßen Graben 52 mit Verbindungsstegen 54 ermöglicht, wobei die Verbindungsstege 54 einerseits eine mechanische Fixierung des Verkappungsschichtelements 50' und andererseits eine Grabenöffnung als Ätzzugang ermöglichen. Des weiteren wird durch eine zumindest teilweise Oxidation der Verbindungsstege 54 eine elektrische Isolierung des Verkappungsschichtelements 50' von der Verkappungsschicht 50 erzielt.
  • In den 3a und 3c ist beispielhaft jeweils eine schematische Aufsicht eines erfindungsgemäßen Teilelements des mikromechanischen Bauelements gemäß der ersten Ausführungsform (1k) oder der zweiten Ausführungsform (2) der vorliegenden Erfindung beispielhaft dargestellt, während die 3b und 3d jeweils eine beispielhafte schematische Seitenansicht desselben Teilelements in einer Schnittebene, welche in der jeweiligen Aufsicht schematisch eingezeichnet ist 120, 120', darstellen. In 3a ist eine Aufsicht einer Verkappungsschicht 50 dargestellt, wobei die Verkappungsschicht 50 ein Verkappungsschichtelement 50' aufweist, welches von der Verkappungsschicht 50 durch einen Graben 52 beabstandet und über Verbindungsstege 54 mechanisch fixiert ist. Eine Querschnittslinie 120 illustriert einen Querschnitt der Struktur, welcher in 3b abgebildet ist und ebenfalls die Verkappungsschicht 50 mit dem durch den Graben 52 zur Verkappungsschicht 50 beabstandeten Verkappungsschichtelement 50' darstellt. Da in der Aufsichtsdarstellung der 3a die Querschnittslinie 120 die Verbindungsstege 54 schneidet, sind die Verbindungsstege 54 ebenfalls in der Querschnittsdarstellung der 3c abgebildet. In 3b ist gleichermaßen eine Aufsicht desselben Teilbereich des mikromechanischen Bauelements abgebildet, wobei die Darstellung eine Querschnittslinie 120' derart aufweist, dass die Querschnittslinie 120' die Verbindungsstege 54 nicht schneidet. In 3d, welche die Querschnittsabbildung derselben Struktur der 3b entlang der Querschnittslinie 120' darstellt, sind folglich die Verbindungsstege 54 nicht abgebildet, sondern der Graben 52 erstreckt sich über die gesamte Verkappungsschichtdicke.
  • Die 4a bis 4c zeigen unterschiedliche Varianten eines Teilbereichs des erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements gemäß der ersten oder der zweiten Ausführungsform (1k, 2). In den 4a bis 4c sind Grabenwände 160 bis 168 eines beispielhaften Grabens 52 in der Verkappungsschicht 50 des erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements gemäß der ersten oder der zweiten Ausführungsformen dargestellt, wobei die Grabenwände unterätzt sind und Flächennormale der Grabenwände je nach Trench-Prozess gegenüber einer zur Haupterstreckungsebene 3' senkrechten Richtung in der schematischen Darstellung in der 4a genau einen Winkel, in der schematischen Darstellung in der 4b mehrere Winkel oder in der schematischen Darstellung in der 4c zwei Winkel aufweisen. Dadurch können Verbindungsstege 54 mit verschiedenen Profilen, je nach Anforderung an die elektrische Isolierfähigkeit und/oder an die mechanische Verbindungsfestigkeit, versehen werden.
  • In der 5 ist eine Aufsicht des erfindungsgemäßen mikromechanischen Bauelements gemäß einer weiteren Ausführungsform schematisch dargestellt, wobei eine Verkappungsschicht 50 und elektrisch isolierte Verkappungsschichtelemente 50', welche durch Verbindungsstege 54 mechanisch fixiert sind, dargestellt sind. Die Verkappungsschichtelemente 50 bilden Leiterbahnen zur Kontaktierung und/oder zur mechanischen Fixierung von in der Funktionsebene 1 angeordneten Strukturen, welche bevorzugt als Elektroden fungieren.
  • ZITATE ENTHALTEN IN DER BESCHREIBUNG
  • Diese Liste der vom Anmelder aufgeführten Dokumente wurde automatisiert erzeugt und ist ausschließlich zur besseren Information des Lesers aufgenommen. Die Liste ist nicht Bestandteil der deutschen Patent- bzw. Gebrauchsmusteranmeldung. Das DPMA übernimmt keinerlei Haftung für etwaige Fehler oder Auslassungen.
  • Zitierte Patentliteratur
    • - EP 1274648 B1 [0002]

Claims (11)

  1. Mikromechanisches Bauelement mit einem Substrat (3), einer über dem Substrat (3) liegenden mikromechanische Funktionsschicht (1) und einer über der Funktionsschicht (1) liegenden Verkappungsschicht (50), wobei die Verkappungsschicht (50) wenigstens einen Graben (52) aufweist, dadurch gekennzeichnet, dass eine Überbrückung des Grabens (52) durch wenigstens einen elektrisch isolierenden Verbindungssteg (54) vorgesehen ist.
  2. Mikromechanisches Bauelement gemäß Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass an den Graben (52) angrenzende Verkappungsschichtelemente (50') eine feste mechanische Verbindung über den Verbindungssteg (54) aufweisen.
  3. Mikromechanisches Bauelement gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das Verkappungsschichtelemeht (50) vollständig von wenigstens dem einen Graben (52) umgeben ist.
  4. Mikromechanisches Bauelement gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass eine Flächennormale einer Grabenwand (166, 168) des Grabens (52) bezüglich einer zur Haupterstreckungsebene (3') des Substrats (3) senkrechten Richtung wenigstens zwei verschiedene Winkel aufweist.
  5. Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements gemäß einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass in einem ersten Verfahrensschritt das Substrat (3) mit einer ersten Isolationsschicht (2) und der Funktionsschicht (1) versehen wird, wobei in einem zweiten Verfahrensschritt die Funktionsschicht (1) strukturiert wird, wobei in einem dritten Verfahrensschritt eine zweite Isolationsschicht (40) aufgebracht wird, wobei in einem vierten Verfahrensschritt die zweite Isolationsschicht (40) strukturiert wird, wobei in einem fünften Verfahrensschritt die Verkappungsschicht (50) aufgebracht wird und wobei in einem sechsten Verfahrensschritt die Verkappungsschicht (50) mit wenigstens dem einen Graben (52) versehen wird, wobei wenigsten der eine Verbindungssteg (54) der Verkappungsschicht (50) zur Überbrückung des Grabens (52) stehen gelassen wird.
  6. Verfahren gemäß Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, dass in einem nachfolgenden siebten Verfahrensschritt die erste und/oder die zweite Isolationsschicht (2, 40) von einem Ätzmittel durch den Graben (52) hindurch geätzt wird.
  7. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 5 und 6, dadurch gekennzeichnet, dass in einem nachfolgenden achten Verfahrensschritt ein Oxidationsverfahren durchgeführt wird, wobei insbesondere eine dritte Isolationsschicht (60) gebildet und/oder die Verbindungsstege (54) oxidiert werden.
  8. Verfahren gemäß dem Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass in einem nachfolgenden neunten Verfahrensschritt eine Strukturierung der dritten Isolationsschicht (60) durchgeführt wird.
  9. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 5 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass in einem nachfolgenden zehnten Verfahrensschritt eine Leiterbahn (76) auf die dritte Isolationsschicht (60) aufgebracht wird, wobei insbesondere ein Verkappungsschichtelement (50') von der Leiterbahn (76) kontaktiert (62) wird.
  10. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 5 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass in einem elften Verfahrensschritt eine Schutzebene (80) aufgebracht und strukturiert wird, wobei insbesondere die Schutzebene aus Polyimid gebildet wird.
  11. Verfahren gemäß einem der Ansprüche 5 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass im sechsten Verfahrensschritt eine Flächennormale einer Grabenwand (166, 168) des Grabens (52) bezüglich einer zur Haupterstreckungsebene (3') des Substrats (3) senkrechten Richtung mit wenigstens zwei unterschiedlichen Winkeln versehen wird.
DE200710025880 2007-06-01 2007-06-01 Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit einer Dünnschichtkappe Ceased DE102007025880A1 (de)

Priority Applications (7)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200710025880 DE102007025880A1 (de) 2007-06-01 2007-06-01 Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit einer Dünnschichtkappe
JP2010509785A JP5145412B2 (ja) 2007-06-01 2008-05-19 マイクロメカニカル素子、ならびに、薄膜キャップを備えたマイクロメカニカル素子の製造方法
PCT/EP2008/056117 WO2008145553A2 (de) 2007-06-01 2008-05-19 Mikromechanisches bauelement mit einer dünnschichtkappe
US12/451,327 US8809095B2 (en) 2007-06-01 2008-05-19 Micromechanical component and method for producing a micromechanical component having a thin-layer cap
KR1020097024933A KR101479363B1 (ko) 2007-06-01 2008-05-19 박층 캡을 구비한 마이크로메카닉 부품의 제조방법
EP08759742.3A EP2164800B1 (de) 2007-06-01 2008-05-19 Mikromechanisches bauelement und verfahren zur herstellung eines mikromechanischen bauelements mit einer dünnschichtkappe
US14/332,751 US9114975B2 (en) 2007-06-01 2014-07-16 Micromechanical component and method for producing a micromechanical component having a thin-layer cap

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200710025880 DE102007025880A1 (de) 2007-06-01 2007-06-01 Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit einer Dünnschichtkappe

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102007025880A1 true DE102007025880A1 (de) 2008-12-04

Family

ID=39917453

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200710025880 Ceased DE102007025880A1 (de) 2007-06-01 2007-06-01 Mikromechanisches Bauelement und Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements mit einer Dünnschichtkappe

Country Status (6)

Country Link
US (2) US8809095B2 (de)
EP (1) EP2164800B1 (de)
JP (1) JP5145412B2 (de)
KR (1) KR101479363B1 (de)
DE (1) DE102007025880A1 (de)
WO (1) WO2008145553A2 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2017121744A1 (de) * 2016-01-15 2017-07-20 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches bauelement
DE102009027898B4 (de) 2009-07-21 2019-09-05 Robert Bosch Gmbh Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauelement

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2524098C2 (ru) * 2011-04-07 2014-07-27 Открытое акционерное общество "Полипласт" (ОАО "Полипласт") Водорастворимый бесщелочной ускоритель схватывания и способ его получения

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1274648B1 (de) 2000-04-07 2004-08-18 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches bauelement und entsprechendes herstellungsverfahren

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4665610A (en) * 1985-04-22 1987-05-19 Stanford University Method of making a semiconductor transducer having multiple level diaphragm structure
US5919364A (en) 1996-06-24 1999-07-06 Regents Of The University Of California Microfabricated filter and shell constructed with a permeable membrane
JPH10153617A (ja) * 1996-11-22 1998-06-09 Murata Mfg Co Ltd 小型電子部品およびその製造方法
DE10006035A1 (de) 2000-02-10 2001-08-16 Bosch Gmbh Robert Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements sowie ein nach dem Verfahren hergestelltes Bauelement
DE10056716B4 (de) 2000-11-15 2007-10-18 Robert Bosch Gmbh Mikrostrukturbauelement
US6780786B2 (en) 2001-11-26 2004-08-24 The Regents Of The University Of California Method for producing a porous silicon film
US7075160B2 (en) * 2003-06-04 2006-07-11 Robert Bosch Gmbh Microelectromechanical systems and devices having thin film encapsulated mechanical structures
JP4283063B2 (ja) 2003-08-19 2009-06-24 三菱電機株式会社 横形スクロール空気圧縮装置
FR2864340B1 (fr) * 2003-12-19 2006-03-24 Commissariat Energie Atomique Microcomposant comportant une microcavite hermetique et procede de fabrication d'un tel microcomposant
DE102005062554A1 (de) * 2005-12-27 2007-07-05 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches Bauelement mit Kappe mit Verschluss
JP2007210083A (ja) 2006-02-13 2007-08-23 Hitachi Ltd Mems素子及びその製造方法
JP2007216309A (ja) * 2006-02-14 2007-08-30 Seiko Epson Corp 電子装置及びその製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1274648B1 (de) 2000-04-07 2004-08-18 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches bauelement und entsprechendes herstellungsverfahren

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102009027898B4 (de) 2009-07-21 2019-09-05 Robert Bosch Gmbh Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauelement
WO2017121744A1 (de) * 2016-01-15 2017-07-20 Robert Bosch Gmbh Mikromechanisches bauelement
US10781097B2 (en) 2016-01-15 2020-09-22 Robert Bosch Gmbh Micromechanical component

Also Published As

Publication number Publication date
JP5145412B2 (ja) 2013-02-20
US8809095B2 (en) 2014-08-19
US9114975B2 (en) 2015-08-25
US20140327154A1 (en) 2014-11-06
EP2164800B1 (de) 2017-05-03
EP2164800A2 (de) 2010-03-24
WO2008145553A3 (de) 2009-02-12
KR101479363B1 (ko) 2015-01-12
KR20100028541A (ko) 2010-03-12
WO2008145553A2 (de) 2008-12-04
US20110006444A1 (en) 2011-01-13
JP2010529594A (ja) 2010-08-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102009045385B4 (de) Verfahren zum Herstellen eines Durchkontaktes und entsprechendes mikromechanisches Bauelement
EP1274648B1 (de) Mikromechanisches bauelement und entsprechendes herstellungsverfahren
EP1963227B1 (de) Mikromechanisches bauelement und herstellungsverfahren
DE19537814A1 (de) Sensor und Verfahren zur Herstellung eines Sensors
DE10006035A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements sowie ein nach dem Verfahren hergestelltes Bauelement
DE102007030121A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines Bauteils und Bauteil
DE102010039330B4 (de) Verfahren zum Herstellen einer elektrischen Durchkontaktierung in einem Substrat
DE102011080978B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur
DE102011081033B4 (de) Verfahren zur Herstellung einer mikromechanischen Struktur und mikromechanische Struktur
DE102010061782B4 (de) Verfahren zum Herstellen eines mikromechanischen Bauelements
DE102010000892B4 (de) Verfahren zum Bereitstellen und Verbinden von zwei Kontaktbereichen eines Halbleiterbauelements bzw. einem Substrat, sowie ein Substrat mit zwei solchen verbundenen Kontaktbereichen
DE102011081002A1 (de) Mikromechanisches Bauteil, durch ein Herstellungsverfahren hergestelltes Zwischenprodukt und Herstellungsverfahren für ein mikromechanisches Bauteil
DE19732250A1 (de) Verfahren zur Herstellung metallischer Mikrostrukturen
EP2164800B1 (de) Mikromechanisches bauelement und verfahren zur herstellung eines mikromechanischen bauelements mit einer dünnschichtkappe
DE19819456A1 (de) Verfahren zur Herstellung eines mikromechanischen Bauelements
DE10024697B4 (de) Mikromechanisches Bauelement und entsprechendes Herstellungsverfahren
DE10231729A1 (de) Bauelement und Verfahren zu dessen Herstellung
DE102005062553A1 (de) Mikromechanisches Bauelement mit Kappe
DE102009028037A1 (de) Bauelement mit einer elektrischen Durchkontaktierung, Verfahren zur Herstellung eines Bauelementes und Bauelementsystem
EP2150488B1 (de) Verfahren zur herstellung eines mikromechanischen bauelements mit auffüllschicht und maskenschicht
DE102009027321A1 (de) Verfahren zum Herstellen einer elektrischen Durchkontaktierung in einem Substrat sowie Substrat mit einer elektrischen Durchkontaktierung
DE102007052663A1 (de) Mikromechanisches Bauelement, Kurzprozess zur Herstellung von MEMS-Bauelementen
DE102012219616B4 (de) Mikromechanisches Bauelement mit Bondverbindung
DE102010000895A1 (de) Verfahren zum Herstellen und Verschließen eines Grabens eines Halbleiterbauelements
DE102010041900A1 (de) Verfahren zum Herstellen eines mikromechanischen Bauelements und entsprechendes mikromechanisches Bauelement

Legal Events

Date Code Title Description
R012 Request for examination validly filed

Effective date: 20130808

R002 Refusal decision in examination/registration proceedings
R003 Refusal decision now final