DE102006026825B4 - Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil - Google Patents
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Abstract
Die Erfindung (Erzeugniserfindung) besteht aus einem als T-Profil ausgeführten Gehäuse für aktive Tastköpfe zum Einsatz mit Breitbandmessgeräten (wie z.B. Oszilloskop). Die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil ermöglicht die endlose Aufreihung von Tastköpfen und das Kontaktieren der Tastspitzen der Tastköpfe auf benachbarten Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm (je nach Größe des verwendeten Tastkopfes). Dadurch können eine Vielzahl von Messungen gleichzeitig und parallel vorgenommen werden. Die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil eröffnet ferner die Möglichkeit, bei der Herstellung des Tastkopfes frei verfügbare diskrete Bauelemente zu verwenden, so dass auf die kostenintensive Entwicklung einer integrierten Schaltung verzichtet werden kann.
Description
- Die Erfindung (Erzeugniserfindung) besteht aus einem Gehäuse für aktive Tastköpfe zum Einsatz mit Breitbandmessgeräten (wie z.B. Oszilloskop), welches als T-Profil ausgeführt ist.
- Technischer Hintergrund/Stand der Technik
- Aktive Messsysteme und -verfahren werden heute vielfach bei der Erfassung von elektrischen Signalen und der darin enthaltenen Informationen angewendet. Beispielsanwendungsgebiete wie BUS-Systeme oder -Schnittstellen und/oder Kommunikationsprotokolle sowie Systeme wie P-ATA, S-ATA, I2C, CAN, PCI, IEEE, USB, W-Lan, Bluetooth und Zigbee finden sich reichlich in der Informations- und Kommunikationstechnik oder anderen industriellen oder kommerziellen Anwendungen.
- Um die Übertragung und/oder die Qualität eines elektrischen Signals in Geräten und deren Schaltungen oder in Verbindungen (Schnittstellen) zu überprüfen, muss man messen. Hierfür stehen eine Auswahl von gängigen breitbandigen Messgeräten wie z.B. Oszilloskop, Spectrumanalysator, Protokollanalysator, Netzwerkanalysator, Transientenrecorder und andere Breitbandmessgeräte oder auch PC-Messkarten zur Verfügung. Hersteller solcher Messgeräte sind beispielsweise Acquiris, Agilent, LeCroy, Rhode und Schwarz, Tektronix und Yokogawa.
- Von besonderer Bedeutung für das Messen ist neben den Applikationsfunktionen des jeweligen Messgerätes das Messzubehör. Unter Messzubehör sind Messwertaufnehmer zu verstehen, die die Signalquelle bzw. die Messstelle mit dem Messgeräteeingang verbinden. Zu diesem Messzubehör gehören insbesondere sog. Tastköpfe (sing. Tastkopf) (franz. Sonden, sing. Sonde) (engl. Probes, sing. Probe).
- Aktive Tastköpfe werden bevorzugt für die Erfassung von hochfrequenten (digitalen und analogen) Signalen eingesetzt. Die Ausgangsimpedanz dieser aktiven Tastköpfe (Messsysteme) ist in der Regel 50 Ohm. Auf dem Markt erhältlich sind z.B. die folgenden Systeme: die 115XA Serie von Agilent (z.B. 1156A), die HFP Serie von LeCroy (z.B. HFP1000) und die P624X Serie von Tektronix (z.B. P6243). Zum relevanten Stand der Technik ist druckschriftlich bekannt das
US Patent 6 967 473 B1 vom 22. November 2005, welches einen Adapter zum Aufstecken auf die Tastspitze eines aktiven Tastkopfes beschreibt. - Es ist allgemein bekannt, dass beim Messen und Prüfen, Debuggen oder Monitoren von hochfrequenten Signalen die Tastköpfe nach Möglichkeit auf benachbarte Pins von Schnittstellen im 1,27 mm oder 2,54 mm Raster kontaktiert werden müssen.
- Technisches Problem (Aufgabe)
- Auf Grund der Bauweise sämtlicher der bisher existierenden bzw. bekannten aktiven Tastkopfgehäuse ist es nicht möglich, mehrere benachbarte Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm gleichzeitig zu kontaktieren.
- Die Aufgabe besteht also darin, eine Bauweise für aktive Tastkopfgehäuse zu finden, die es ermöglicht, mehrere benachbarte Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm gleichzeitig zu kontaktieren.
- Lösung des Problems
- Das Problem bzw. die Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 angegebenen Merkmale gelöst. Die im Folgenden beschriebene Ausführung des Gehäuses für aktive Tastköpfe im T-Profil (Erfindung) ermöglicht die endlose Aufreihung von Tastköpfen und das Kontaktieren der Tastspitzen der Tastköpfe auf benachbarten Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm (je nach Größe des verwendeten Tastkopfes). Hierdurch ist es insbesondere möglich, die Tastköpfe in einer unendlichen Kette (Reihe) nebeneinander auf benachbarte Pins von z.B. Stiftleisten aufzustecken.
- Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, dass durch die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil benachbarte Pins im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm kontaktiert werden können und somit eine Vielzahl von Messungen gleichzeitig und parallel erfolgen kann. Für die Raster 1,27 mm und 2,54 mm sind jeweils unterschiedliche Tastkopfgrößen zu verwenden.
- Die Erfindung (Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil) eröffnet ferner die Möglichkeit, bei der Herstellung des Tastkopfes frei verfügbare diskrete Bauelemente zu verwenden, so dass auf die kostenintensive Entwicklung einer integrierten Schaltung verzichtet werden kann. Das Leiterplattenlayout und die Lage der Bauelemente werden an das T-Profil des Gehäuses angepasst.
- Ausführungsbeispiel
- Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ergibt sich aus den nachfolgenden Ausführungen, welche auf die der Patentanmeldung ebenfalls in Anlage beigefügten Zeichnungen (Abbildungen) verweisen.
-
1 zeigt die Gesamtansicht des aktiven Tastkopfes. -
2 zeigt die Frontansicht des aktiven Tastkopfes. Das Gehäuse ist um den Signaleingang (untere Buchse) als ein T ausgeformt (T-Profil). -
3 (Ansicht von hinten) zeigt, wie durch die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil es ermöglicht wird, für die Herstellung des Tastkopfes frei verfügbare diskrete aktive und passive Bauelemente zu verwenden, so dass auf eine kostenintensive Entwicklung einer integrierten Schaltung verzichtet werden kann. Das Leiterplattenlayout und die Lage der Bauelemente sind an das T-Profil des Gehäuses angepasst. Hierbei sind die aktiven Bauelemente in dem Teil des Gehäuseinnenraums angeordnet, der auf Grund des T-Profiles den meisten Platz bietet. - Die
4 und5 erläutern die Wirkungsweise der Erfindung.4 zeigt mehrere aktive Tastköpfe aufgesteckt in Reihe auf einer Stiftleiste.5 zeigt mehrere aktive Tastköpfe in Reihe. Die hier beschriebene (neuartige) Ausführung des Gehäuses im T-Profil ermöglicht das Kontaktieren benachbarter Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm (je nach verwendeter Tastkopfgröße) und macht es dadurch möglich, die Tastköpfe in einer unendlichen Kette (Reihe) nebeneinander auf die Pins von z.B. Stiftleisten aufzustecken.
Claims (1)
- Gehäuse für aktiven Tastkopf zum Einsatz mit Breitbandmessgeräten, wobei die Ausführung des Gehäuses im T-Profil erfolgt, so dass die endlose Aufreihung von Tastköpfen und das Kontaktieren der Tastspitzen der Tastköpfe auf benachbarten Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm – je nach Größe des verwendeten Tastkopfes – möglich ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200610026825 DE102006026825B4 (de) | 2006-06-07 | 2006-06-07 | Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200610026825 DE102006026825B4 (de) | 2006-06-07 | 2006-06-07 | Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102006026825A1 DE102006026825A1 (de) | 2007-12-20 |
DE102006026825B4 true DE102006026825B4 (de) | 2008-04-24 |
Family
ID=38690145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200610026825 Active DE102006026825B4 (de) | 2006-06-07 | 2006-06-07 | Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE102006026825B4 (de) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6276956B1 (en) * | 1999-04-12 | 2001-08-21 | Sencore, Inc. | Dual point test probe for surface mount type circuit board connections |
US6400167B1 (en) * | 2000-08-21 | 2002-06-04 | Tektronix, Inc. | Probe tip adapter for a measurement probe |
US6967473B1 (en) * | 2004-05-27 | 2005-11-22 | Tektronix, Inc. | Attachable/detachable variable spacing probing tip system |
-
2006
- 2006-06-07 DE DE200610026825 patent/DE102006026825B4/de active Active
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6276956B1 (en) * | 1999-04-12 | 2001-08-21 | Sencore, Inc. | Dual point test probe for surface mount type circuit board connections |
US6400167B1 (en) * | 2000-08-21 | 2002-06-04 | Tektronix, Inc. | Probe tip adapter for a measurement probe |
US6967473B1 (en) * | 2004-05-27 | 2005-11-22 | Tektronix, Inc. | Attachable/detachable variable spacing probing tip system |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102006026825A1 (de) | 2007-12-20 |
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Legal Events
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