DE102006026825B4 - Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil - Google Patents

Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil Download PDF

Info

Publication number
DE102006026825B4
DE102006026825B4 DE200610026825 DE102006026825A DE102006026825B4 DE 102006026825 B4 DE102006026825 B4 DE 102006026825B4 DE 200610026825 DE200610026825 DE 200610026825 DE 102006026825 A DE102006026825 A DE 102006026825A DE 102006026825 B4 DE102006026825 B4 DE 102006026825B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
probe
profile
housing
probes
active
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE200610026825
Other languages
English (en)
Other versions
DE102006026825A1 (de
Inventor
Mark Heimann
Jens Heimann
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
PMK MESS und KOMMUNIKATIONSTEC
PMK MESS- und KOMMUNIKATIONSTECHNIK GmbH
Original Assignee
PMK MESS und KOMMUNIKATIONSTEC
PMK MESS- und KOMMUNIKATIONSTECHNIK GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by PMK MESS und KOMMUNIKATIONSTEC, PMK MESS- und KOMMUNIKATIONSTECHNIK GmbH filed Critical PMK MESS und KOMMUNIKATIONSTEC
Priority to DE200610026825 priority Critical patent/DE102006026825B4/de
Publication of DE102006026825A1 publication Critical patent/DE102006026825A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102006026825B4 publication Critical patent/DE102006026825B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

Die Erfindung (Erzeugniserfindung) besteht aus einem als T-Profil ausgeführten Gehäuse für aktive Tastköpfe zum Einsatz mit Breitbandmessgeräten (wie z.B. Oszilloskop). Die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil ermöglicht die endlose Aufreihung von Tastköpfen und das Kontaktieren der Tastspitzen der Tastköpfe auf benachbarten Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm (je nach Größe des verwendeten Tastkopfes). Dadurch können eine Vielzahl von Messungen gleichzeitig und parallel vorgenommen werden. Die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil eröffnet ferner die Möglichkeit, bei der Herstellung des Tastkopfes frei verfügbare diskrete Bauelemente zu verwenden, so dass auf die kostenintensive Entwicklung einer integrierten Schaltung verzichtet werden kann.

Description

  • Die Erfindung (Erzeugniserfindung) besteht aus einem Gehäuse für aktive Tastköpfe zum Einsatz mit Breitbandmessgeräten (wie z.B. Oszilloskop), welches als T-Profil ausgeführt ist.
  • Technischer Hintergrund/Stand der Technik
  • Aktive Messsysteme und -verfahren werden heute vielfach bei der Erfassung von elektrischen Signalen und der darin enthaltenen Informationen angewendet. Beispielsanwendungsgebiete wie BUS-Systeme oder -Schnittstellen und/oder Kommunikationsprotokolle sowie Systeme wie P-ATA, S-ATA, I2C, CAN, PCI, IEEE, USB, W-Lan, Bluetooth und Zigbee finden sich reichlich in der Informations- und Kommunikationstechnik oder anderen industriellen oder kommerziellen Anwendungen.
  • Um die Übertragung und/oder die Qualität eines elektrischen Signals in Geräten und deren Schaltungen oder in Verbindungen (Schnittstellen) zu überprüfen, muss man messen. Hierfür stehen eine Auswahl von gängigen breitbandigen Messgeräten wie z.B. Oszilloskop, Spectrumanalysator, Protokollanalysator, Netzwerkanalysator, Transientenrecorder und andere Breitbandmessgeräte oder auch PC-Messkarten zur Verfügung. Hersteller solcher Messgeräte sind beispielsweise Acquiris, Agilent, LeCroy, Rhode und Schwarz, Tektronix und Yokogawa.
  • Von besonderer Bedeutung für das Messen ist neben den Applikationsfunktionen des jeweligen Messgerätes das Messzubehör. Unter Messzubehör sind Messwertaufnehmer zu verstehen, die die Signalquelle bzw. die Messstelle mit dem Messgeräteeingang verbinden. Zu diesem Messzubehör gehören insbesondere sog. Tastköpfe (sing. Tastkopf) (franz. Sonden, sing. Sonde) (engl. Probes, sing. Probe).
  • Aktive Tastköpfe werden bevorzugt für die Erfassung von hochfrequenten (digitalen und analogen) Signalen eingesetzt. Die Ausgangsimpedanz dieser aktiven Tastköpfe (Messsysteme) ist in der Regel 50 Ohm. Auf dem Markt erhältlich sind z.B. die folgenden Systeme: die 115XA Serie von Agilent (z.B. 1156A), die HFP Serie von LeCroy (z.B. HFP1000) und die P624X Serie von Tektronix (z.B. P6243). Zum relevanten Stand der Technik ist druckschriftlich bekannt das US Patent 6 967 473 B1 vom 22. November 2005, welches einen Adapter zum Aufstecken auf die Tastspitze eines aktiven Tastkopfes beschreibt.
  • Es ist allgemein bekannt, dass beim Messen und Prüfen, Debuggen oder Monitoren von hochfrequenten Signalen die Tastköpfe nach Möglichkeit auf benachbarte Pins von Schnittstellen im 1,27 mm oder 2,54 mm Raster kontaktiert werden müssen.
  • Technisches Problem (Aufgabe)
  • Auf Grund der Bauweise sämtlicher der bisher existierenden bzw. bekannten aktiven Tastkopfgehäuse ist es nicht möglich, mehrere benachbarte Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm gleichzeitig zu kontaktieren.
  • Die Aufgabe besteht also darin, eine Bauweise für aktive Tastkopfgehäuse zu finden, die es ermöglicht, mehrere benachbarte Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm gleichzeitig zu kontaktieren.
  • Lösung des Problems
  • Das Problem bzw. die Aufgabe wird durch die im Anspruch 1 angegebenen Merkmale gelöst. Die im Folgenden beschriebene Ausführung des Gehäuses für aktive Tastköpfe im T-Profil (Erfindung) ermöglicht die endlose Aufreihung von Tastköpfen und das Kontaktieren der Tastspitzen der Tastköpfe auf benachbarten Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm (je nach Größe des verwendeten Tastkopfes). Hierdurch ist es insbesondere möglich, die Tastköpfe in einer unendlichen Kette (Reihe) nebeneinander auf benachbarte Pins von z.B. Stiftleisten aufzustecken.
  • Die mit der Erfindung erzielten Vorteile bestehen insbesondere darin, dass durch die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil benachbarte Pins im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm kontaktiert werden können und somit eine Vielzahl von Messungen gleichzeitig und parallel erfolgen kann. Für die Raster 1,27 mm und 2,54 mm sind jeweils unterschiedliche Tastkopfgrößen zu verwenden.
  • Die Erfindung (Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil) eröffnet ferner die Möglichkeit, bei der Herstellung des Tastkopfes frei verfügbare diskrete Bauelemente zu verwenden, so dass auf die kostenintensive Entwicklung einer integrierten Schaltung verzichtet werden kann. Das Leiterplattenlayout und die Lage der Bauelemente werden an das T-Profil des Gehäuses angepasst.
  • Ausführungsbeispiel
  • Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ergibt sich aus den nachfolgenden Ausführungen, welche auf die der Patentanmeldung ebenfalls in Anlage beigefügten Zeichnungen (Abbildungen) verweisen.
  • 1 zeigt die Gesamtansicht des aktiven Tastkopfes.
  • 2 zeigt die Frontansicht des aktiven Tastkopfes. Das Gehäuse ist um den Signaleingang (untere Buchse) als ein T ausgeformt (T-Profil).
  • 3 (Ansicht von hinten) zeigt, wie durch die Ausführung des Tastkopfgehäuses im T-Profil es ermöglicht wird, für die Herstellung des Tastkopfes frei verfügbare diskrete aktive und passive Bauelemente zu verwenden, so dass auf eine kostenintensive Entwicklung einer integrierten Schaltung verzichtet werden kann. Das Leiterplattenlayout und die Lage der Bauelemente sind an das T-Profil des Gehäuses angepasst. Hierbei sind die aktiven Bauelemente in dem Teil des Gehäuseinnenraums angeordnet, der auf Grund des T-Profiles den meisten Platz bietet.
  • Die 4 und 5 erläutern die Wirkungsweise der Erfindung. 4 zeigt mehrere aktive Tastköpfe aufgesteckt in Reihe auf einer Stiftleiste. 5 zeigt mehrere aktive Tastköpfe in Reihe. Die hier beschriebene (neuartige) Ausführung des Gehäuses im T-Profil ermöglicht das Kontaktieren benachbarter Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm (je nach verwendeter Tastkopfgröße) und macht es dadurch möglich, die Tastköpfe in einer unendlichen Kette (Reihe) nebeneinander auf die Pins von z.B. Stiftleisten aufzustecken.

Claims (1)

  1. Gehäuse für aktiven Tastkopf zum Einsatz mit Breitbandmessgeräten, wobei die Ausführung des Gehäuses im T-Profil erfolgt, so dass die endlose Aufreihung von Tastköpfen und das Kontaktieren der Tastspitzen der Tastköpfe auf benachbarten Pins an Schnittstellen im Raster 1,27 mm oder 2,54 mm – je nach Größe des verwendeten Tastkopfes – möglich ist.
DE200610026825 2006-06-07 2006-06-07 Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil Active DE102006026825B4 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200610026825 DE102006026825B4 (de) 2006-06-07 2006-06-07 Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200610026825 DE102006026825B4 (de) 2006-06-07 2006-06-07 Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102006026825A1 DE102006026825A1 (de) 2007-12-20
DE102006026825B4 true DE102006026825B4 (de) 2008-04-24

Family

ID=38690145

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200610026825 Active DE102006026825B4 (de) 2006-06-07 2006-06-07 Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102006026825B4 (de)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6276956B1 (en) * 1999-04-12 2001-08-21 Sencore, Inc. Dual point test probe for surface mount type circuit board connections
US6400167B1 (en) * 2000-08-21 2002-06-04 Tektronix, Inc. Probe tip adapter for a measurement probe
US6967473B1 (en) * 2004-05-27 2005-11-22 Tektronix, Inc. Attachable/detachable variable spacing probing tip system

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6276956B1 (en) * 1999-04-12 2001-08-21 Sencore, Inc. Dual point test probe for surface mount type circuit board connections
US6400167B1 (en) * 2000-08-21 2002-06-04 Tektronix, Inc. Probe tip adapter for a measurement probe
US6967473B1 (en) * 2004-05-27 2005-11-22 Tektronix, Inc. Attachable/detachable variable spacing probing tip system

Also Published As

Publication number Publication date
DE102006026825A1 (de) 2007-12-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE60200992T2 (de) "Timing"-Kalibrierung und -Verifikation von Testern für elektronische Schaltungen
DE60121064T2 (de) Anordnung und verfahren zur zeitkalibrierung eines halbleiterscheibenprüfgeräts für integrierte schaltungen
US6873167B2 (en) Connection box, system, and method for evaluating a DUT board
DE19537574C2 (de) Sockel zum Kontaktieren einer elektronischen Schaltung während eines Tests
DE112008000484T5 (de) Design-für-Test Mikrosonde bzw. -Messsonde
US4055806A (en) Integrated circuit substitution device
JPH0520701B2 (de)
Ruttan et al. Multiport VNA measurement
DE102006026825B4 (de) Gehäuse für aktiven Tastkopf im T-Profil
US10746784B2 (en) System level health monitoring in test systems
CN102650677A (zh) Pci-e信号测试装置
DE10155467A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Auffinden eines Fehlers in einem Signalpfad auf einer Leiterplatte
DE10043193B4 (de) Prüfgerät für Halbleitersubstrate
US9622336B2 (en) Releasable probe connection
DE102021128363A1 (de) Systeme, verfahren und vorrichtungen für hochgeschwindigkeits-einagngs-/ausgangs-margin-tests
DE102007026589A1 (de) Prüfgerät und Struktur der Prüfspitze desselben
US11493549B2 (en) System and method for performing loopback test on PCIe interface
JP4885613B2 (ja) 回路測定用終端プローブ
CN109840170B (zh) Pcie信号量测电路
CN113030526B (zh) 测试转接装置及测试系统
US20130257453A1 (en) RF ESD Device Level Differential Voltage Measurement
Helmreich Test path simulation and characterisation
CN103455400A (zh) 一种测试内存smi2信号的方法
US10908183B2 (en) Active probe powered through driven coax cable
DE10140757B4 (de) Verfahren zur Ermittlung der Laufzeit elektrischer Signale auf gedruckten Leiterplatten durch eine automatische Standardtestausrüstung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8364 No opposition during term of opposition