DE102006005128B4 - Verfahren und Vorrichtung zur Lastanpassung - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zur Lastanpassung Download PDFInfo
- Publication number
- DE102006005128B4 DE102006005128B4 DE102006005128A DE102006005128A DE102006005128B4 DE 102006005128 B4 DE102006005128 B4 DE 102006005128B4 DE 102006005128 A DE102006005128 A DE 102006005128A DE 102006005128 A DE102006005128 A DE 102006005128A DE 102006005128 B4 DE102006005128 B4 DE 102006005128B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- impedance
- frequency
- load
- matching
- generator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05H—PLASMA TECHNIQUE; PRODUCTION OF ACCELERATED ELECTRICALLY-CHARGED PARTICLES OR OF NEUTRONS; PRODUCTION OR ACCELERATION OF NEUTRAL MOLECULAR OR ATOMIC BEAMS
- H05H1/00—Generating plasma; Handling plasma
- H05H1/24—Generating plasma
- H05H1/46—Generating plasma using applied electromagnetic fields, e.g. high frequency or microwave energy
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H7/00—Multiple-port networks comprising only passive electrical elements as network components
- H03H7/38—Impedance-matching networks
Abstract
Verfahren
zum Anpassen der Impedanz einer variablen Last (8) an den Ausgangswiderstand eines
HF-Generators (2), wobei eine erste Anpassung für eine erste Lastimpedanz (8a)
und eine zweite Anpassung für
eine zweite Lastimpedanz (8b) durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet,
dass die erste Anpassung bei einer ersten und die zweite Anpassung
bei einer zweiten Frequenz erfolgt, wobei die erste Lastimpedanz
(8a) im Bereich der Impedanz eines gezündeten Plasmas und die zweite
Lastimpedanz (8b) im Bereich der Impedanz einer ungezündeten Entladungsstrecke
gewählt
wird.
Description
- Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Anpassen der Impedanz einer variablen Last an den Ausgangswiderstand eines HF-Generators, wobei eine erste Anpassung für eine erste Lastimpedanz und eine zweite Anpassung für eine zweite Lastimpedanz durchgeführt wird.
- Bei der Anpassung einer HF-Quelle an eine Plasmalast besteht grundsätzlich das Problem einer Lastimpedanz, die von vielen Parametern beeinflusst wird. Bei der Plasma-Dünnschichttechnologie zur Oberflächenbehandlung werden häufig automatisch abgleichende Anpassungsschaltungen verwendet. Diese folgen im Prozess kontinuierlich allen Änderungen der Lastimpedanz. Sie bieten aber auch die Möglichkeit der gezielten Voreinstellung einer Zündposition, die erheblich von der Position bei brennendem Plasma abweicht, und die erforderliche hohe Zündspannung an die noch hochohmige, ungezündete Entladungsstrecke transformiert.
- Die Brennimpedanz von Laseranregungsplasmen schwankt weniger, so dass robuste und kostengünstige, so genannte Fixmatch-Schaltungen zum Einsatz kommen, die für eine akzeptable Lastanpassung bei Standardbrennbedingungen fest eingestellt werden. Es bleibt allerdings das Problem der drastisch höheren Impedanz der ungezündeten Entladungsstrecke, die eine grobe Fehlanpassung bewirkt.
- Wird die HF-Leistung gepulst eingespeist und die Leistung durch Beeinflussung des Tastverhältnisses geregelt, verschärft sich dieses Problem, da je nach Tastfrequenz und Tastverhältnis unterschiedlich ausgeprägt, auch im eingeschalteten Zustand ein periodischer Wechsel zwischen Brennimpedanz und Zündimpedanz besteht.
- Deshalb wird häufig als Anpassung ein Kompromiss zwischen der Optimierung der Lastanpassung und dem Zündverhalten eingestellt. Zusätzlich wird in der Regel eine Zündhilfsschaltung verwendet.
- Aus der
US 5,288,971 A ist es bekannt, eine Anpasseinrichtung mit einer Steuereinrichtung zu verbinden, wobei die Steuereinrichtung variable Kondensatoren der Anpasseinrichtung ansteuert, um so zwischen einem Brennbetrieb und einem Zündbetrieb hin- und herschalten zu können. - In der
US 6,815,899 B2 ist ebenfalls eine Anpasseinrichtung beschrieben, die durch eine Steuereinrichtung angesteuert ist. Die Steuereinrichtung steuert außerdem einen Schalter an, über den eine Zündhilfe zugeschaltet werden kann, um ein Zünden des Plasmas zu ermöglichen. - In der
US 2003/0041972 A1 - Aus der
DE 197 17 127 A1 ist es bekannt, mit einem HF Generator, zum einen eine erste Wechselspannung und zum anderen kurzzeitige Spannungspulse zu erzeugen. Zur Zündung einer Gasentladung können die beiden Spannungen überlagert werden. Die Kurzzeit-Spannungspulse können des Weiteren zur steileren Ausbildung des Nulldurchgangs der Wechselspannung und zur Veränderung der Leistungseinkopplung in die Gasentladung verwendet werden. - Aus der
US 6,385,573 B1 und derUS 6,136,388 A ist es bekannt, bei einem Plasmaprozesssystem zwei HF Generatoren zu verwenden, die bei unterschiedlichen Frequenzen betrieben werden. Für nur einen der Generatoren ist eine Impedanzanpassung vorgesehen. - Aus der
US 5,272,417 A ist es bekannt, ein ersten HF Generator über ein Anpassnetzwerk mit einer ersten Elektrode und einem zweiten HF Generator über ein Anpassnetzwerk mit einer zweiten Elektrode oder Plasmakammer zu verbinden. - In der
US 6,537,421 B2 und derUS 6,631,693 B2 sind Anpassungsnetzwerke beschrieben, mit denen eine Lastanpassung bei einer bestimmten Frequenz erfolgen kann. - Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, ein Verfahren und eine Vorrichtung zu schaffen, mit denen eine verbesserte Anpassung und ein erleichtertes Zünden einer Plasmalast ermöglicht wird.
- Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß auf ebenso überraschende wie einfache Art und Weise durch ein Verfahren mit den Merkmalen nach Anspruch 1 gelöst. Dadurch wird es möglich, je nach Lastimpedanz zwischen den beiden Anpassungen (automatisch) zu wählen. Insbesondere sind keine separaten, angesteuerten Elemente notwendig, um zwischen den beiden Anpassungen zu wechseln, wie dies im Stand der Technik notwendig ist. Leistung, die bei einer höheren Frequenz als der Grundfrequenz durch einen HF-Generator ausgegeben wird, kann auf diese Art und Weise verwendet werden, um ein Plasma zu zünden. Eine zusätzliche Zündhilfe kann dadurch entfallen.
- Vorzugsweise wird mit einer für zwei unterschiedliche Lastimpedanzen bei zwei Frequenzen ausgelegten, fest eingestellten, nicht variablen Anpasseinrichtung für beide Lastimpedanzen eine Impedanzanpassung durchgeführt. Während im Stand der Technik variable Elemente verwendet werden müssen, die je nach sich ändernder Lastimpedanz nachgeführt werden, so dass eine optimale Anpassung entsteht, wird erfindungsgemäß vorgeschlagen, zwei feste, nicht veränderbare Anpassungen zu verwenden. Dabei kann eine Anpassung für eine hochohmige Lastimpedanz und eine Anpassung für eine niederohmige Lastimpedanz vorgesehen sein.
- Besonders bevorzugt ist es, wenn die erste und zweite Frequenz aus dem Frequenzspektrum des HF-Generators gewählt werden. Beispielsweise kann als erste Frequenz die Grundfrequenz und als zweite Frequenz eine Harmonische gewählt werden. Die bei der Grundfrequenz gelieferte Leistung kann zum Plasmabetrieb verwendet werden und die bei einer Harmonischen gelieferte Leistung kann zum Zünden des Plasmas verwendet werden, wobei in beiden Fällen durch die feste Impedanzanpassung eine optimale Anpassung vorliegt. Hierbei kann die Tatsache ausgenutzt werden, dass die Zündfreudigkeit eines Plasmas mit steigender Frequenz steigt. Beispielsweise kann als Grundfrequenz die Industriefrequenz 13,56 MHz und als Harmonische die zweite Harmonische bei 40,68 MHz verwendet werden.
- Bei einer bevorzugten Verfahrensvariante kann vorgesehen sein, dass die Impedanzanpassung mittels einer Anpasseinrichtung erfolgt, deren Aufbau folgendermaßen ermittelt wird:
- a. Ermittlung eines ersten Anpassnetzes für eine erste Impedanzanpassung einer ersten Lastimpedanz bei einer ersten Frequenz;
- b. Ermittlung eines zweiten Anpassnetzes für eine zweite Impedanzanpassung einer zweiten Lastimpedanz bei einer zweiten Frequenz;
- c. Ermittlung einer Minimalstruktur, die beide Anpassnetze enthält;
- d. Ersetzen der Einzelkomponenten der Minimalstruktur durch Serien- oder Parallel-LC-Anordnungen, die für beide Frequenzen die jeweils gewünschten L- oder C-Werte darstellen.
- Bei einer Verfahrensvariante können die erste und zweite Lastimpedanz vorgegeben werden. Dann kann eine Schaltung, die das erfindungsgemäße Verfahren umsetzt, besonders einfach ausgelegt werden. Für den Anwendungsfall der Plasmaprozesse ist es besonders vorteilhaft, wenn die erste Lastimpedanz im Bereich der Impedanz eines gezündeten Plasmas und die zweite Lastimpedanz im Bereich der Impedanz einer ungezündeten Entladungsstrecke gewählt wird.
- In den Rahmen der Erfindung fällt außerdem eine Anpasseinrichtung zur Anpassung der Impedanz einer variablen Last an den Ausgangswiderstand eines HF-Generators, wobei die Anpasseinrichtung für die Impedanzanpassung der ersten Lastimpedanz bei einer ersten Frequenz und für die Impedanzanpassung der zweiten Lastimpedanz bei einer zweiten Frequenz ausgebildet ist. Die Wahl der ersten Anpassung oder der zweiten Anpassung erfolgt in Abhängigkeit von der Lastimpedanz automatisch. Separate Schalter oder ein Verstellen von Bauelementen ist daher nicht notwendig.
- Eine Weiterbildung zeichnet sich dadurch aus, dass die erste Frequenz die Grundfrequenz des Generators und die zweite Frequenz eine Harmonische der Grundfrequenz ist. Hierbei kann ausgenutzt werden, dass der Ausgangskreis von HF-Generatoren häufig eine niedrige Güte aufweist, so dass dieser eine geringe spektrale Reinheit aufweist. Die Grundfrequenz und eine oder mehrere Harmonische werden daher auch vom HF-Generator zur Verfügung gestellt. Im Plasmabetrieb wird die wesentliche Leistung des HF-Generators aus der Grundfrequenz gezogen. Die mit einer Harmonischen assoziierte Leistung ist jedoch häufig ausreichend, um ein Plasma zu zünden. Bei einer Impedanzanpassung auf eine hohe Impedanz (ungezündete Entladungsstrecke) bei einer Frequenz, die höher ist als die Grundfrequenz, kann daher die erforderliche Zündleistung bei guter Anpassung in eine Plasmakammer, beziehungsweise an die Elektroden der Plasmakammer, geliefert werden.
- Vorzugsweise kann vorgesehen sein, dass die Anpasseinrichtung zur Anpassung einer ersten und zweiten Lastimpedanz fest eingestellt ist. Mit einer derartigen Anpasseinrichtung erfolgt sowohl eine gute Anpassung einer Plasmalast als auch eine gute Anpassung beim Zünden eines Plasmas, ohne dass dafür eine variable Lastanpassung ermöglichende Schalter oder variable Kondensatoren, die möglicherweise durch eine Steuerung angesteuert und/oder über Motoren bewegt werden müssen, notwendig sind. Weiterhin kann auf Zündhilfen verzichtet werden. Die erfindungsgemäße Anpasseinrichtung kann daher im Vergleich zum Stand der Technik besonders kostengünstig realisiert werden.
- Bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform ist daher vorgesehen, dass die Anpasseinrichtung keine variablen und/oder schaltenden Elemente aufweist.
- Bei einer besonders bevorzugten Ausführungsform kann vorgesehen sein, dass die Anpasseinrichtung als Serien- und/oder Parallelschaltung mehrerer passiver Bauelemente, insbesondere Spulen und/oder Kondensatoren, ausgebildet ist, deren Anpassungsverhalten für zwei vorgegebene Frequenzen unterschiedlich ist. Im Vergleich zu einer herkömmlichen Fixmatch-Anpassung, die nur für eine Last bei einer Frequenz ausgelegt ist, werden daher erfindungsgemäß einzelne Reaktanzkomponenten durch Serien- oder Parallelkombinationen, die frequenzabhängig unterschiedliche L- oder C-Werte darstellen, ersetzt. Dadurch werden zusätzliche Freiheitsgrade geschaffen, die es ermöglichen, unter Berücksichtigung der Gesamtanpassung die Anpasseinrichtung so auszulegen, dass sie bei zwei unterschiedlichen Frequenzen für zwei unterschiedliche Impedanzen optimiert werden kann.
- Die Erfindung betrifft außerdem eine Plasmaprozessanregungsanordnung mit einem HF-Generator und einer Last sowie dazwischen angeordneter vorher beschriebener Anpasseinrichtung.
- In besonders bevorzugter Ausgestaltung der Erfindung kann vorgesehen sein, dass die Plasmaprozessanregungsanordnung zur gepulsten Leistungszufuhr mit einem durch eine Leistungsregelung einstellbaren Tastverhältnis ausgebildet ist. Bei einer solchen Leistungsregelung mittels Tastverhältnis muss der Ausgangskreis schnell ein- beziehungsweise ausschwingen, so dass steile Flanken des Leistungssignals entstehen. Dies wird durch eine geringe Güte Q des Ausgangskreises, insbesondere eine Güte Q < 3 erreicht. Ein Kreis geringer Güte kann besonders kostengünstig realisiert werden, und er besitzt eine geringe spektrale Reinheit, was für die erfindungsgemäße Anpasseinrichtung ausgenutzt werden kann.
- Weitere Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen der Erfindung, anhand der Figuren der Zeichnung, die erfindungswesentliche Einzelheiten zeigen, und aus den Ansprüchen. Die einzelnen Merkmale können je einzeln für sich oder zu mehreren in beliebiger Kombination bei einer Variante der Erfindung verwirklicht sein.
- Bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in der Zeichnung schematisch dargestellt und werden nachfolgend mit Bezug zu den Figuren der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt:
-
1 eine schematische Darstellung einer Plasmaprozessanregungsanordnung mit einer Anpasseinrichtung; -
2a –2c beispielhaft die Vorgehensweise zum Auffinden der Anpasseinrichtung. - In der
1 ist eine Plasmaprozessanregungsanordnung1 mit einem HF-Generator2 gezeigt. Der HF-Generator2 umfasst eine Treiberstufe3 , die über ein Kabel4 mit einer Röhrenendstufe5 verbunden ist. Die Röhrenendstufe5 ist mit einem Ausgangskreis6 verbunden, über den eine HF-Leistung an den Ausgang7 gegeben wird. Bei dem Ausgang7 handelt es sich üblicherweise um einen 50Ω-Ausgang. Der HF-Generator weist also einen Ausgangswiderstand von 50Ω auf. Die vom HF-Generator2 generierte HF-Leistung soll an eine Last8 mit variabler Lastimpedanz geliefert werden. Insbesondere kann es sich bei der Last8 um ein gezündetes niederohmiges Plasma oder um eine ungezündete hochohmige Entladungsstrecke handeln. Um für beide Zustände der Last8 eine optimale Anpassung an den Ausgang7 zu erhalten, ist eine Anpasseinrichtung9 zwischengeschaltet und über ein Kabel10 an den Ausgang7 angeschlossen. Die Anpasseinrichtung9 ist so ausgebildet, dass eine Anpassung der Last8 bei einem niedrigen Impedanzwert an den Ausgang7 und damit den Ausgangswiderstand des HF-Generators2 bei einer ersten Frequenz und bei einem hohen Impedanzwert ebenfalls an den Ausgangswiderstand des HF-Generators2 bei einer zweiten Frequenz erfolgt. - Der HF-Generator
2 ist zur gepulsten Leistungseinspeisung in die Last8 ausgebildet. Die gelieferte Leistung wird über eine Leistungsregelung15 durch Einstellung des Tastverhältnisses eingestellt. Um steile Flanken zu gewährleisten, weist der Ausgangskreis6 eine geringe Güte Q auf. Dadurch kann der Ausgangskreis6 kostengünstig und einfach aufgebaut werden. Aufgrund der geringen Güte weist er jedoch eine geringe spektrale Reinheit auf, so dass auch Leistung bei Harmonischen der Grundfrequenz, also insbesondere bei ganzzahligen Vielfachen der Grundfrequenz, ausgegeben wird. Die ausgegebene Leistung bei Frequenzen oberhalb der Grundfrequenz ist geringer als die Leistungsabgabe bei der Grundfrequenz. Wenn eine Entladungsstrecke nicht gezündet ist, reicht jedoch die Leistung, die bei einer höheren Frequenz ausgegeben wird, aus, um ein Plasma zu zünden. Die Anpasseinrichtung9 passt für diesen Fall die Last8 an den Ausgang7 an. Daher ist keine zusätzliche Zündhilfe notwendig. Sobald das Plasma gezündet ist, fällt der Wert der Lastimpedanz der Last8 auf einen niederohmigen Wert. Auch für diesen Fall leistet die Anpasseinrichtung9 eine Anpassung an den Ausgang7 , da nun eine Anpassung für die Leistungsabgabe bei der Grundfrequenz erfolgt. Die Anpassung für unterschiedliche Lastimpedanzen erfolgt somit ausschließlich frequenzabhängig und automatisch. Variable Elemente oder schaltende Elemente in der Anpasseinrichtung9 sind nicht notwendig. - Das Auffinden der Ausgestaltung der Anpasseinrichtung
9 wird anhand der2a –2c erläutert. Zunächst wird für eine Impedanzanpassung einer hochohmigen Lastimpedanz8a an den Anschluss7 bei einer ersten Frequenz ein erstes Anpassnetz11 ermittelt. Im Ausführungsbeispiel umfasst das Anpassnetz11 die Komponenten L1 und C1. In einem zweiten Schritt wird für eine Impedanzanpassung einer niederohmigen Lastimpedanz8b an den Anschluss7 bei einer zweiten Frequenz ein zweites Anpassnetz12 ermittelt. Im Ausführungsbeispiel umfasst das Anpassnetz12 die Komponenten12 und C2. - Daraufhin wird eine Minimalstruktur
13 ermittelt, die beide Anpassnetze11 ,12 umfasst (2b ). Im Ausführungsbeispiel wurden die Spulen L1, L2 zur Spule13 zusammengefasst. - Anschließend werden die Einzelkomponenten C1, C2, L3 durch LC-Anordnungen, die für beide Frequenzen den jeweils gewünschten L- oder C-Wert darstellen, ersetzt. So ersetzt im Ausführungsbeispiel die Serien-LC-Anordnung
14 den Kondensator C1, die Serien-LC-Anordnung15 die Spule L3 und der Kondensator16 den Kondensator C2. Die Anordnungen14 ,15 ,16 stellen zusammen die Anpasseinrichtung9 dar, die zur Lastimpedanzanpassung zweier Lastimpedanzen8a ,8b bei zwei unterschiedlichen Frequenzen ausgelegt ist.
Claims (13)
- Verfahren zum Anpassen der Impedanz einer variablen Last (
8 ) an den Ausgangswiderstand eines HF-Generators (2 ), wobei eine erste Anpassung für eine erste Lastimpedanz (8a ) und eine zweite Anpassung für eine zweite Lastimpedanz (8b ) durchgeführt wird, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Anpassung bei einer ersten und die zweite Anpassung bei einer zweiten Frequenz erfolgt, wobei die erste Lastimpedanz (8a ) im Bereich der Impedanz eines gezündeten Plasmas und die zweite Lastimpedanz (8b ) im Bereich der Impedanz einer ungezündeten Entladungsstrecke gewählt wird. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mit einer für zwei unterschiedliche Lastimpedanzen (
8a ,8b ) bei zwei Frequenzen ausgelegten, fest eingestellten, nicht variablen Anpasseinrichtung (9 ) für beide Lastimpedanzen (8a ,8b ) eine Impedanzanpassung durchgeführt wird. - Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die erste und zweite Frequenz aus dem Frequenzspektrum des HF-Generators (
2 ) gewählt werden. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass als erste Frequenz die Grundfrequenz und als zweite Frequenz eine Harmonische gewählt wird.
- Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Impedanzanpassung mittels einer Anpasseinrichtung (
9 ) erfolgt, deren Aufbau folgendermaßen ermittelt wird: a. Ermittlung eines ersten Anpassnetzes (11 ) für eine erste Impedanzanpassung einer ersten Lastimpedanz (8a ) bei einer ersten Frequenz; b. Ermittlung eines zweiten Anpassnetzes (12 ) für eine zweite Impedanzanpassung einer zweiten Lastimpedanz (8b ) bei einer zweiten Frequenz; c. Ermittlung einer Minimalstruktur (13 ), die beide Anpassnetze (11 ,12 ) enthält; d. Ersetzen der Einzelkomponenten (C1, C2, L3) der Minimalstruktur (13 ) durch Serien- und/oder Parallel-LC-Anordnungen (14 ,15 ,16 ), die für beide Frequenzen die jeweils gewünschten L- oder C-Werte darstellen. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die erste und zweite Lastimpedanz (
8a ,8b ) vorgegeben werden. - Anpasseinrichtung (
9 ) zur Anpassung der Impedanz einer variablen Last (8 ) an den Ausgangswiderstand eines HF-Generators (2 ), dadurch gekennzeichnet, dass die Anpasseinrichtung (9 ) für die Impedanzanpassung der ersten Lastimpedanz (8a ) im Bereich der Impedanz eines gezündeten Plasmas bei einer ersten Frequenz und für die Impedanzanpassung der zweiten Lastimpedanz (8b ) im Bereich der Impedanz einer ungezündeten Entladungsstrecke bei einer zweiten Frequenz ausgebildet ist. - Anpasseinrichtung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Frequenz die Grundfrequenz des HF-Generators (
2 ) und die zweite Frequenz eine Harmonische der Grundfrequenz ist. - Anpasseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Anpasseinrichtung (
9 ) zur Anpassung einer ersten und zweiten Lastimpedanz (8a ,8b ) fest eingestellt ist. - Anpasseinrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Anpasseinrichtung (
9 ) keine variablen und/oder schaltenden Elemente aufweist. - Anpasseinrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche 7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass die Anpasseinrichtung (
9 ) als Serien- und/oder Parallelschaltung mehrerer passiver Bauelemente, insbesondere Spulen und/oder Kondensatoren, ausgebildet ist, deren Anpassungsverhalten für zwei vorgegebene Frequenzen unterschiedlich ist. - Plasmaprozessanregungsanordnung (
1 ) mit einem HF-Generator (2 ) und einer Last (8 ) sowie dazwischen angeordneter Anpasseinrichtung (9 ) nach einem der vorhergehenden Ansprüche 7 bis 11. - Plasmaprozessanregungsanordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Plasmaprozessanregungsanordnung (
1 ) zur gepulsten Leistungszufuhr mit einem durch eine Leistungsregelung (15 ) einstellbaren Tastverhältnis ausgebildet ist, wobei der Ausgangskreis (6 ) des HF-Generators (2 ) eine geringe Güte Q aufweist, insbesondere eine Güte Q < 3.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102006005128A DE102006005128B4 (de) | 2006-02-04 | 2006-02-04 | Verfahren und Vorrichtung zur Lastanpassung |
JP2007024521A JP4681568B2 (ja) | 2006-02-04 | 2007-02-02 | 負荷を整合するための方法および装置 |
US11/670,637 US7692389B2 (en) | 2006-02-04 | 2007-02-02 | Method and device for load matching |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102006005128A DE102006005128B4 (de) | 2006-02-04 | 2006-02-04 | Verfahren und Vorrichtung zur Lastanpassung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102006005128A1 DE102006005128A1 (de) | 2007-08-30 |
DE102006005128B4 true DE102006005128B4 (de) | 2008-09-25 |
Family
ID=38319592
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102006005128A Expired - Fee Related DE102006005128B4 (de) | 2006-02-04 | 2006-02-04 | Verfahren und Vorrichtung zur Lastanpassung |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7692389B2 (de) |
JP (1) | JP4681568B2 (de) |
DE (1) | DE102006005128B4 (de) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN100362619C (zh) * | 2005-08-05 | 2008-01-16 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 真空反应室的射频匹配耦合网络及其配置方法 |
CN105137643A (zh) * | 2008-03-11 | 2015-12-09 | 希毕克斯影像有限公司 | 用于反射型显示器的辉度增强结构 |
JP2011521735A (ja) * | 2008-05-30 | 2011-07-28 | コロラド ステート ユニバーシティ リサーチ ファンデーション | プラズマを発生させるためのシステム、方法、および装置 |
CN102438389B (zh) * | 2010-09-29 | 2013-06-05 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 单一匹配网络、其构建方法和该匹配网络射频功率源系统 |
DE102011076404B4 (de) | 2011-05-24 | 2014-06-26 | TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG | Verfahren zur Impedanzanpassung der Ausgangsimpedanz einer Hochfrequenzleistungsversorgungsanordnung an die Impedanz einer Plasmalast und Hochfrequenzleistungsversorgungsanordnung |
KR101140602B1 (ko) | 2011-06-07 | 2012-05-02 | 엘아이지넥스원 주식회사 | 고전압 펄스 전원장치를 위한 동축 정합 부하기 |
EP2675064B1 (de) * | 2012-06-15 | 2020-02-12 | Ecole Polytechnique | Elektrische Schaltung zur Impedanzanpassung einer Quelle an eine Last bei mehreren Frequenzen, Verfahren zum Entwurf solch einer Schaltung |
KR102432150B1 (ko) * | 2014-08-15 | 2022-08-11 | 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 | 플라즈마 프로세싱 시스템들을 위한 소형의 구성 가능한 모듈형 무선 주파수 매칭 네트워크 조립체 |
CN105789836B (zh) * | 2014-12-24 | 2019-06-25 | 联想(北京)有限公司 | 天线系统和移动终端 |
DE102018204587B4 (de) | 2018-03-26 | 2019-10-24 | TRUMPF Hüttinger GmbH + Co. KG | Verfahren zur Zündung eines Plasmas in einer Plasmakammer und Zündschaltung |
JP2021168231A (ja) * | 2020-04-09 | 2021-10-21 | 東京計器株式会社 | 高周波生成装置 |
Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5272417A (en) * | 1989-05-12 | 1993-12-21 | Tadahiro Ohmi | Device for plasma process |
US5288971A (en) * | 1991-08-09 | 1994-02-22 | Advanced Energy Industries, Inc. | System for igniting a plasma for thin film processing |
DE19717127A1 (de) * | 1996-04-23 | 1998-10-29 | Fraunhofer Ges Forschung | Anregen elektrischer Entladungen mit Kurzzeit-Spannungspulsen |
US6136388A (en) * | 1997-12-01 | 2000-10-24 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing chamber with tunable impedance |
US6358573B1 (en) * | 1997-12-01 | 2002-03-19 | Applied Materials, Inc. | Mixed frequency CVD process |
US20030041972A1 (en) * | 2000-07-19 | 2003-03-06 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing apparatus |
US6537421B2 (en) * | 2001-07-24 | 2003-03-25 | Tokyo Electron Limited | RF bias control in plasma deposition and etch systems with multiple RF power sources |
US6631693B2 (en) * | 2001-01-30 | 2003-10-14 | Novellus Systems, Inc. | Absorptive filter for semiconductor processing systems |
US6815899B2 (en) * | 2002-10-10 | 2004-11-09 | Dae-Kyu Choi | Remote plasma generator |
Family Cites Families (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3805921A1 (de) * | 1988-02-25 | 1989-09-07 | Flachenecker Gerhard | Hochfrequenz-leistungsgenerator |
US5135628A (en) * | 1989-05-05 | 1992-08-04 | Isco, Inc. | Pulsed field gel electrophoresis of large DNA |
JP2826433B2 (ja) * | 1993-02-26 | 1998-11-18 | 日本電気株式会社 | アンテナ用二周波整合回路 |
JPH07191764A (ja) * | 1993-12-27 | 1995-07-28 | Fujitsu Ltd | 高周波電源装置及びプラズマ発生装置 |
US5556549A (en) * | 1994-05-02 | 1996-09-17 | Lsi Logic Corporation | Power control and delivery in plasma processing equipment |
US5793162A (en) * | 1995-12-29 | 1998-08-11 | Lam Research Corporation | Apparatus for controlling matching network of a vacuum plasma processor and memory for same |
US5982099A (en) | 1996-03-29 | 1999-11-09 | Lam Research Corporation | Method of and apparatus for igniting a plasma in an r.f. plasma processor |
JP3883707B2 (ja) * | 1998-08-28 | 2007-02-21 | 三菱電機株式会社 | 2周波整合回路 |
JP4578651B2 (ja) * | 1999-09-13 | 2010-11-10 | 東京エレクトロン株式会社 | プラズマ処理方法およびプラズマ処理装置、プラズマエッチング方法 |
JP4286404B2 (ja) * | 1999-10-15 | 2009-07-01 | 東京エレクトロン株式会社 | 整合器およびプラズマ処理装置 |
TW529085B (en) | 2000-09-22 | 2003-04-21 | Alps Electric Co Ltd | Method for evaluating performance of plasma treatment apparatus or performance confirming system of plasma treatment system |
US6706138B2 (en) | 2001-08-16 | 2004-03-16 | Applied Materials Inc. | Adjustable dual frequency voltage dividing plasma reactor |
JP2003179045A (ja) * | 2001-12-13 | 2003-06-27 | Tokyo Electron Ltd | プラズマ処理装置及びその制御方法 |
JP4024053B2 (ja) * | 2002-02-08 | 2007-12-19 | キヤノンアネルバ株式会社 | 高周波プラズマ処理方法及び高周波プラズマ処理装置 |
US7480571B2 (en) * | 2002-03-08 | 2009-01-20 | Lam Research Corporation | Apparatus and methods for improving the stability of RF power delivery to a plasma load |
US6822396B2 (en) | 2003-01-31 | 2004-11-23 | Advanced Energy Industries, Inc. | Transformer ignition circuit for a transformer coupled plasma source |
US7326872B2 (en) * | 2004-04-28 | 2008-02-05 | Applied Materials, Inc. | Multi-frequency dynamic dummy load and method for testing plasma reactor multi-frequency impedance match networks |
US7169256B2 (en) * | 2004-05-28 | 2007-01-30 | Lam Research Corporation | Plasma processor with electrode responsive to multiple RF frequencies |
-
2006
- 2006-02-04 DE DE102006005128A patent/DE102006005128B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2007
- 2007-02-02 JP JP2007024521A patent/JP4681568B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-02-02 US US11/670,637 patent/US7692389B2/en not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5272417A (en) * | 1989-05-12 | 1993-12-21 | Tadahiro Ohmi | Device for plasma process |
US5288971A (en) * | 1991-08-09 | 1994-02-22 | Advanced Energy Industries, Inc. | System for igniting a plasma for thin film processing |
DE19717127A1 (de) * | 1996-04-23 | 1998-10-29 | Fraunhofer Ges Forschung | Anregen elektrischer Entladungen mit Kurzzeit-Spannungspulsen |
US6136388A (en) * | 1997-12-01 | 2000-10-24 | Applied Materials, Inc. | Substrate processing chamber with tunable impedance |
US6358573B1 (en) * | 1997-12-01 | 2002-03-19 | Applied Materials, Inc. | Mixed frequency CVD process |
US20030041972A1 (en) * | 2000-07-19 | 2003-03-06 | Tokyo Electron Limited | Plasma processing apparatus |
US6631693B2 (en) * | 2001-01-30 | 2003-10-14 | Novellus Systems, Inc. | Absorptive filter for semiconductor processing systems |
US6537421B2 (en) * | 2001-07-24 | 2003-03-25 | Tokyo Electron Limited | RF bias control in plasma deposition and etch systems with multiple RF power sources |
US6815899B2 (en) * | 2002-10-10 | 2004-11-09 | Dae-Kyu Choi | Remote plasma generator |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP4681568B2 (ja) | 2011-05-11 |
US7692389B2 (en) | 2010-04-06 |
DE102006005128A1 (de) | 2007-08-30 |
US20070194628A1 (en) | 2007-08-23 |
JP2007208990A (ja) | 2007-08-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102006005128B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Lastanpassung | |
DE102018204587B4 (de) | Verfahren zur Zündung eines Plasmas in einer Plasmakammer und Zündschaltung | |
DE3715162C2 (de) | ||
EP1593143B1 (de) | Leistungszufuhrregeleinheit | |
DE3407067C2 (de) | Steuerschaltung für Gasentladungslampen | |
DE102009001355B4 (de) | Impedanzanpassungsschaltung und Verfahren zur Impedanzanpassung | |
EP2323577B1 (de) | Softgenerator | |
EP1418670B1 (de) | Leistungsregelung für Hochfrequenzverstärker | |
DE102016114220A1 (de) | Vorrichtung zum Zuführen von Hochfrequenzleistung und Substratverarbeitungsvorrichtung, die diese aufweist | |
EP0676121B1 (de) | Vorschaltgerät für mindestens ein parallel betriebenes gasentladungslampen-paar | |
DE10051139A1 (de) | Elektronisches Vorschaltgerät mit Vollbrückenschaltung | |
EP0614052A2 (de) | Feuerungsautomat | |
DE4101911A1 (de) | Stromversorgungseinrichtung fuer gasgefuellte lampen | |
DE102005056229B4 (de) | Steuerschaltung sowie Verfahren zur Ansteuerung einer Gasentladungslampe | |
EP0744118A1 (de) | Geregelte stromversorgungseinheit mit einem elektronischen transformator | |
DE102004052299A1 (de) | Zündvorrichtung für eine Hochdruckentlandungslampe und Hochdruckentladungslampe mit Zündvorrichtung sowie Betriebsverfahren für eine Hochdruckentladungslampe | |
DE102008055820B3 (de) | Softgenerator | |
WO2017005665A1 (de) | Hochfrequenzgenerator zum anschluss elektrochirurgischer instrumente | |
DE19616921C1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Beeinflussung des Lichtbogens eines Lichtbogenschweißgeräts | |
DE102022108642A1 (de) | Plasmazünderkennungsvorrichtung zum Anschluss an eine Impedanzanpassungsschaltung für ein Plasmaerzeugungssystem | |
DE102010042776A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Zündung von HID-Lampen mit CWA | |
WO1997033456A1 (de) | Schaltungsanordnung zum zünden einer hochdruckgasentladungslampe | |
DE3609582A1 (de) | Vorschaltgeraet fuer entladungslampen | |
DE2523536B2 (de) | ||
DE102010029981A1 (de) | Elektronisches Betriebsgerät für Gasentladungslampen mit verringerter Verlustleistung und Verfahren zum Betreiben des Betriebsgerätes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R081 | Change of applicant/patentee |
Owner name: TRUMPF HUETTINGER GMBH + CO. KG, DE Free format text: FORMER OWNER: HUETTINGER ELEKTRONIK GMBH + CO. KG, 79111 FREIBURG, DE Effective date: 20130801 |
|
R082 | Change of representative |
Representative=s name: KOHLER SCHMID MOEBUS PATENTANWAELTE PARTNERSCH, DE Effective date: 20130801 Representative=s name: KOHLER SCHMID MOEBUS PATENTANWAELTE, DE Effective date: 20130801 |
|
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |