DE102005057508B4 - Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente - Google Patents

Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente Download PDF

Info

Publication number
DE102005057508B4
DE102005057508B4 DE200510057508 DE102005057508A DE102005057508B4 DE 102005057508 B4 DE102005057508 B4 DE 102005057508B4 DE 200510057508 DE200510057508 DE 200510057508 DE 102005057508 A DE102005057508 A DE 102005057508A DE 102005057508 B4 DE102005057508 B4 DE 102005057508B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
docking
dut board
test head
frame
locking elements
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE200510057508
Other languages
English (en)
Other versions
DE102005057508A1 (de
Inventor
Stefan Thurmaier
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Multitest Elektronische Systeme GmbH
Original Assignee
Multitest Elektronische Systeme GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Multitest Elektronische Systeme GmbH filed Critical Multitest Elektronische Systeme GmbH
Priority to DE200510057508 priority Critical patent/DE102005057508B4/de
Priority to PCT/EP2006/011527 priority patent/WO2007062850A2/de
Publication of DE102005057508A1 publication Critical patent/DE102005057508A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE102005057508B4 publication Critical patent/DE102005057508B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889Interfaces, e.g. between probe and tester

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer aus einem Handler (1) oder Prober bestehenden Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf (2) für elektronische Bauelemente, mit – einem DUT-Board (3), das am Testkopf (2) befestigbar ist und eine vordere Fläche aufweist, die der Handhabungsvorrichtung zugewandt ist, – einem Dockingrahmen (6), an dem testkopfseitige Verriegelungselemente gehaltert sind, – handhabungsvorrichtungsseitigen Verriegelungselementen, mit denen die testkopfseitigen Verriegelungselemente in Verriegelungseingriff bringbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass der Dockingrahmen (6) in einer an der vorderen Fläche des DUT-Boards (3) anliegenden Position auf dem DUT-Board (3) befestigt ist.

Description

  • Die Erfindung betrifft eine Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer aus einem Handler oder Prober bestehenden Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente, an dem ein DUT-Board befestigt ist, wobei handhabungsvorrichtungsseitige Verriegelungselemente und testkopfseitige Verriegelungselemente vorgesehen sind, die miteinander in zentrierten Verriegelungseingriff bringbar sind.
  • Zum Testen elektronischer Bauelemente wie beispielsweise integrierter Schaltungen (IC) wird bekannterweise eine Testvorrichtung mit einem Testkopf verwendet, der mit einem Handhabungsgerät für die elektronischen Bauelemente, nämlich einem Handler oder Prober, verbunden werden muss. Um das Andocken des bis zu 1.000 kg schweren Testkopfs an das Handhabungsgerät auf möglichst einfache, leichte und präzise Weise zu ermöglichen, sind spezielle Dockingvorrichtungen, d. h. Kupplungsvorrichtungen, entwickelt worden, die einerseits am Handhabungsgerät und andererseits am Testkopf befestigt sind. Die Dockingvorrichtung muss dabei sicherstellen, dass das Handhabungsgerät und der Testkopf in einer genau definierten, zueinander zentrierten Lage gekoppelt werden, damit die Pins bzw. Anschlusskontakte der zu testenden elektronischen Bauelemente genau auf winzige Federkontakte aufgesetzt werden können, die sich auf einem testkopfseitig angeordneten DUT-Board (”Device Under Test-Board”), auch Loadboard genannt, befinden.
  • Eine bekannte Dockingvorrichtung weist eine Dockingplatte auf, welche die testkopfseitigen Verriegelungselemente trägt und direkt auf den Testkopf aufgesetzt wird, mit dem sie verschraubt ist. Nachteilig ist dort jedoch, dass diese bekannten Dockingplatten zusätzlich relativ zum DUT-Board genau zentriert werden müssen, um zu gewährleisten, dass die Pins bzw. Anschlusskontakte der zu testenden elektronischen Bauelemente genau auf die Federkontakte des DUT-Boards aufgesetzt werden können. Ein weiteres Problem besteht bei diesen bekannten Dockingplatten darin, dass unterschiedliche Dicken der DUT-Boards die Kontaktierung zwischen elektronischem Bauelement und Federkontakten ebenfalls negativ beeinflussen, da durch diese unterschiedlichen Dicken der Abstand zwischen den elektronischen Bauelementen und den Federkontakten verändert wird. Dieses Problem weist auch die aus der DE 197 52 229 A1 bekannte Dockingvorrichtung auf, welche die Merkmale des Oberbegriffs des Anspruchs 1 zeigt, wobei dort ein Dockingrahmen direkt auf dem Testkopf befestigt ist.
  • Aus der US 2004/0227532 A1 ist weiterhin eine Vorrichtung zum Testen von Wafer mit einer absenkbaren Testvorrichtung bekannt, an der zapfenartige Dockingeinheiten angeordnet sind. Wird der Tester abgesenkt, kommen die zapfenartigen Dockingeinheiten in Eingriff mit dazu passenden Aufnahmeeinheiten, die an einer darunter liegenden Vorrichtung befestigt sind, die zum Haltern einer ”probe card” dient.
  • Aus der DE 102 43 972 A1 ist eine Dockingvorrichtung mit einer mehrteiligen Befestigungsplatte bekannt, wobei zwei Einzelplatten, die beide am Handler befestigt werden, über eine Lochplatte und entsprechende Arretierungseinrichtungen in unterschiedlichen Positionen relativ zueinander befestigt werden können. Beim Andocken kommt das DUT-Board mit einer an der Befestigungsplatte gehalterten DUT-Board-Abstützung in Anlage.
  • In der DE 197 56 900 A1 ist eine Testvorrichtung für Halbleiterbauelemente beschrieben, bei der ein Stößel, der ein zu testendes Halbleiterbauelement trägt, beim Kontaktiervorgang mit Führungsstiften 25 in Eingriff gelangt, die an einem rahmenartigen Anschlagblock eines Testkopfs angeordnet sind. Der Anschlagblock ist dabei auf einer Testfassung befestigt, welche die testkopfseitigen Kontaktelemente trägt. Die Führungsstifte sind dort nur Teil einer Zentriervorrichtung für den Stößel. Eine Dockingvorrichtung, mit der ein Handler oder Prober und ein Testkopf zusammengehalten werden, wird dort nicht offenbart.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Dockingvorrichtung der eingangs genannten Art zu schaffen, bei der die testkopfseitigen Verriegelungselemente auf möglichst einfache und genaue Weise relativ zum DUT-Board zentriert werden können und bei der darüber hinaus unterschiedliche DUT-Board-Dicken keinen negativen Einfluss auf die Kontaktierung des zu testenden elektronischen Bauelements haben.
  • Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine Dockingvorrichtung mit den Merkmalen des Anspruches 1 gelöst. Vorteilhafte Ausführungsformen der Erfindung sind in den weiteren Ansprüchen beschrieben.
  • Bei der erfindungsgemäßen Dockingvorrichtung ist der Dockingrahmen in einer an der vorderen Fläche des DUT-Boards anliegenden Position auf dem DUT-Board befestigt.
  • Für die erfindungsgemäße Dockingvorrichtung ist es somit charakteristisch, dass die testkopfseitigen Verriegelungselemente nicht mehr, beispielsweise über eine Dockingplatte, am Testkopf selbst befestigt sind, sondern dass deren Befestigung über das DUT-Board erfolgt, indem ein die Verriegelungselemente tragender Dockingrahmen auf die freie Außenseite des DUT-Boards, die dem Handler oder Prober zugewandt ist, aufgesetzt wird. Auf diese Weise lassen sich der Dockingrahmen und damit die an diesem Rahmen befestigten Verriegelungselemente einfach und präzise relativ zum DUT-Board zentrieren. Ein weiterer Vorteil ist, dass unterschiedliche Dicken des DUT-Boards, die beispielsweise aufgrund von Fertigungstoleranzen vorliegen können oder einfach dadurch bedingt sind, dass unterschiedliche DUT-Board-Hersteller unterschiedliche Dicken verwenden, keinen Einfluss auf die Kontaktierung des zu testenden elektronischen Bauelements haben. Die maßgebliche Fläche, welche bestimmt, wie weit die testkopfseitigen Verriegelungselemente in Richtung des Handlers oder Probers vorstehen, ist nämlich nicht mehr die vordere Fläche des Testkopfs, sondern die vordere Fläche des DUT-Boards, deren Abstand zu den Kontaktfedern genau festgelegt ist.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform bestehen die testkopfseitigen Verriegelungselemente aus Zentrierzapfen und die handhabungsvorrichtungsseitigen Verriegelungselemente aus Zapfenaufnahmeeinheiten, in welche die Zentrierzapfen einführbar sind. Alternativ hierzu ist es jedoch auch ohne weiteres möglich, die Zentrierzapfen auf der Seite der Handhabungsvorrichtung und die Zapfenaufnahmeeinheiten auf der Seite des Testkopfs, d. h. am Dockingrahmen, vorzusehen.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform ist der Dockingrahmen viereckig ausgebildet und trägt in mindestens zwei gegenüberliegenden Eckenbereichen Verriegelungselemente. Vorteilhafterweise ist in jedem der vier Eckenbereichen ein Verriegelungselement angeordnet.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform weist das DUT-Board einen zur Schraubbefestigung ausgebildeten Randbereich auf, wobei ein DUT-Board-Verstärkungsrahmen auf der dem Testkopf zugewandten Seite des DUT-Boards und der Dockingrahmen auf der dem Testkopf abgewandten Seite des DUT-Boards angeordnet sind, so dass der Dockingrahmen mit dem DUT-Board-Verstärkungsrahmen verschraubbar ist. Besonders vorteilhaft ist es hierbei, wenn das DUT-Board im Randbereich Zentrierbohrungen zur Zentrierung relativ zum Verstärkungsrahmen aufweist und der Dockingrahmen Zentrierbohrungen aufweist, die mit den Zentrierbohrungen des DUT-Boards fluchten, so dass der Dockingrahmen über die Zentrierbohrungen des DUT-Boards zentrierbar ist.
  • Zweckmäßigerweise weist der Dockingrahmen schmale Rahmenelemente auf, die nur geringfügig über den verschraubten Randbereich des DUT-Boards nach innen überstehen. Auf diese Weise ist gewährleistet, dass ein großer Raum des DUT-Boards frei bleibt, der zum Anordnen der Kontaktfedern und zum Zuführen der zu testenden elektronischen Bauelemente zur Verfügung steht.
  • Gemäß einer vorteilhaften Ausführungsform sind die Verriegelungselemente des Testkopfs seitlich außerhalb des DUT-Board-Verstärkungsrahmens angeordnet. Hierdurch ist gewährleistet, dass übliche DUT-Boards und Verstärkungsrahmen verwendet werden können, und diese Komponenten nicht an die spezielle Ausgestaltung des Dockingrahmens angepasst werden müssen.
  • Besonders vorteilhaft ist es, wenn der Dockingrahmen in seinen äußeren Randbereichen abgewinkelte Halterungen zur gegenüber der Hauptebene des Dockingrahmens zurückversetzten Anordnung der Verriegelungselemente aufweist. Hierdurch kann auf einfache Weise der richtige Abstand zwischen den testkopfseitigen Verriegelungselementen und den zugeordneten handler- bzw. proberseitigen Verriegelungselementen festgelegt werden.
  • Die Erfindung wird nachfolgend anhand von Zeichnungen beispielhaft näher erläutert. Es zeigen:
  • 1: eine Einzeldarstellung eines Handlers oder Probers, eines Testkopfs sowie eines in Einzeldarstellung und separat dargestellten erfindungsgemäßen Dockingrahmens,
  • 2: eine getrennte, perspektivische Einzeldarstellung des Testkopfs von der Handler- bzw. Proberseite her und eines an einem Verstärkungsrahmen befestigten DUT-Boards, auf dem der Dockingrahmen angeordnet ist,
  • 3: die Teile von 2 in montiertem Zustand,
  • 4: eine Explosionsdarstellung des an einem Verstärkungsrahmen befestigten DUT-Boards und des Dockingrahmens, und
  • 5: eine Explosionsdarstellung des am Testkopf befestigten DUT-Boards und des Dockingrahmens.
  • In 1 ist schematisch ein Handhabungsgerät für elektronische Bauelemente in der Form eines Handlers 1 dargestellt, der an einem Testkopf 2 angedockt werden kann, um nicht dargestellte elektronische Bauelemente, die über den Handler 1 dem Testkopf 2 zugeführt werden, auf ihre einwandfreie Funktion hin zu überprüfen. Hierzu ist, wie auch aus den 2 bis 5 erkennbar, am Testkopf 2 ein DUT-Board 3 befestigt. Am DUT-Board 3 sind in bekannter Weise Federkontakte vorgesehen, auf welche die Pins bzw. Anschlusskontakte der zu testenden elektronischen Bauelemente aufgesetzt werden, um eine elektrische Kontaktierung zwischen Testkopf 2 und elektronischem Bauelement zu erreichen. Zur Erhöhung seiner Stabilität trägt das DUT-Board 3 auf seiner Rückseite einen umlaufenden Verstärkungsrahmen 4, mit dem das DUT-Board 3 in seinem Randbereich verschraubt ist, wie aus 5 erkennbar. Der Verstärkungsrahmen 4 sitzt auf der vorderen Fläche des Testkopfs 2 auf und ist mit diesem verschraubt.
  • Das Kontaktieren der zu testenden elektronischen Bauelemente erfolgt üblicher Weise dadurch, dass die von einer in 1 lediglich schematisch dargestellten Halteeinrichtung 5 des Handlers 1 gehaltenen Bauelemente im angedockten Zustand des Testkopfs 2 zum DUT-Board 3 bewegt werden, bis die Anschlusskontakte des Bauelementes an den Kontaktfedern des DUT-Boards 3 anliegen. Es ist daher erforderlich, dass sich der Handler 1 und damit die von der Halteeinrichtung 5 gehaltenen Bauelemente in angedocktem Zustand in einer genau zentrierten Position relativ zum DUT-Board 3 befinden und an diesem gehalten werden.
  • Das Zentrieren und Verriegeln des Handlers 1 am Testkopf 2 erfolgt über eine Zentrier- und Verriegelungseinrichtung, die testkopfseitig einen Dockingrahmen 6 mit aus Zentrierzapfen 7 bestehenden ersten Verriegelungselementen und handlerseitig aus entsprechenden, aus Zapfenaufnahmeeinheiten 8 bestehenden zweiten Verriegelungselementen besteht. Beim Andockvorgang werden der Testkopf 2 und der Handler 1 soweit zusammengeschoben, dass die Zentrierzapfen 7 in Eintrittsöffnungen 9 der Zapfenaufnahmeeinheiten 8 eintreten und in den Eintrittsöffnungen 9 in genau vorbestimmter Eintrittstiefe mechanisch oder pneumatisch verriegelt werden. Die Art und Weise, wie die Zentrierzapfen 7 in den Zapfenaufnahmeeinheiten 8 verriegelt werden, ist nicht Gegenstand der vorliegenden Erfindung und wird daher nicht näher erläutert.
  • Wie insbesondere aus den 4 und 5 ersichtlich, ist der Dockingrahmen 6 an die Kontur des DUT-Boards 3 angepasst und weist im Wesentlichen eine rechtwinklige, viereckige Form auf. Der Dockingrahmen 6 wird, wie aus 4 ersichtlich, durch vier schmale, ebene Rahmenelemente 10 gebildet, welche auf die vordere, d. h. die dem Handler 1 zugewandte Außenfläche des DUT-Boards 3 aufgesetzt werden.
  • Die Rahmenelemente 10 überdecken dabei denjenigen Randbereich des DUT-Boards 3, der zur Schraubbefestigung am Verstärkungsrahmen 4 dient und entsprechende Zentrierbohrungen 11 aufweist. Hierbei stehen die Randelemente 10 nach außen hin etwas über den Randbereich des DUT-Boards 3 vor, während sie nach innen nur geringfügig über den verschraubten Randbereich des DUT-Boards 3 vorstehen. In den Rahmenelementen 10 sind weiterhin über den gesamten Umfang verteilt Zentrierbohrungen 12 vorgesehen, die mit einigen der Zentrierbohrungen 11 des DUT-Boards 3 fluchten. Durch die fluchtenden Zentrierbohrungen 11, 12 können Schrauben 13 hindurchgeführt und mit dem Verstärkungsrahmen 4 verschraubt werden. Hierdurch wird der Dockingrahmen 6 relativ zum DUT-Board 3 zentriert. Es ist auch ohne weiteres möglich einige der Zentrierbohrungen 11 des DUT-Boards 3 als Gewindebohrungen auszuführen und den Dockingrahmen 6 lediglich am DUT-Board 3 und nicht am Verstärkungsrahmen 4 zu verschrauben. Wesentlich ist jedoch, dass der Dockingrahmen 6 auf die Außenseite des DUT-Boards 3 aufgesetzt und dort befestigt wird, so dass die Relativlage des Dockingrahmens 6 relativ zum DUT-Board 3 sowohl in der DUT-Board-Ebene als auch senkrecht zur DUT-Board-Ebene genau festgelegt ist.
  • Der Dockingrahmen 6 weist weiterhin an seinen vier Eckenbereichen seitlich nach außen vorstehende Laschen 14 auf, die zur Befestigung von L-förmig abgewinkelten Halterungen 15 für die Zentrierzapfen 7 dienen. Die Halterungen 15 erstrecken sich seitlich außerhalb des DUT-Boards 3 und des Verstärkungsrahmens 4 zurück in Richtung des Testkopfs, so dass die Zentrierzapfen 7, die auf dem seitlich nach außen vorstehenden Schenkel der Halterungen 15 befestigt sind, gegenüber dem DUT-Board 3 zurückversetzt sind. Hierdurch wird wieder der richtige Abstand der Zentrierzapfen 7 zum Testkopf 2 erreicht.
  • Im gezeigten Ausführungsbeispiel sind die beiden Schenkel der L-förmigen Halterungen 15, wie insbesondere aus 4 ersichtlich, zweiteilig ausgebildet. Hierdurch können diejenigen Schenkel, die sich senkrecht zur DUT-Board-Ebene zurückerstrecken, auf einfache Weise ausgetauscht und von ihrer Länge her an unterschiedliche Anforderungen angepasst werden. Weiterhin ist es auf diese Weise auch auf einfache Weise möglich, die Lage der die Zentrierzapfen 7 tragenden Schenkel relativ zum anderen Schenkel zu verändern, um die Zentrierzapfen 7 genau zu positionieren.
  • Alternativ zu dem gezeigten Ausführungsbeispiel ist es auch ohne weiteres möglich, die Zentrierzapfen 7 auf der Seite der Handhabungsvorrichtung, d. h. des Handlers 1, und die Zapfenaufnahmeeinheiten 8 testkopfseitig, d. h. am Dockingrahmen 6 anzuordnen.

Claims (8)

  1. Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer aus einem Handler (1) oder Prober bestehenden Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf (2) für elektronische Bauelemente, mit – einem DUT-Board (3), das am Testkopf (2) befestigbar ist und eine vordere Fläche aufweist, die der Handhabungsvorrichtung zugewandt ist, – einem Dockingrahmen (6), an dem testkopfseitige Verriegelungselemente gehaltert sind, – handhabungsvorrichtungsseitigen Verriegelungselementen, mit denen die testkopfseitigen Verriegelungselemente in Verriegelungseingriff bringbar sind, dadurch gekennzeichnet, dass der Dockingrahmen (6) in einer an der vorderen Fläche des DUT-Boards (3) anliegenden Position auf dem DUT-Board (3) befestigt ist.
  2. Dockingvorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die testkopfseitigen Verriegelungselemente aus Zentrierzapfen (7) und die handhabungsvorrichtungsseitigen Verriegelungselemente aus Zapfenaufnahmeeinheiten (8) bestehen, in welche die Zentrierzapfen (7) einführbar sind.
  3. Dockingvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Dockingrahmen (6) viereckig ausgebildet ist und in mindestens zwei gegenüberliegenden Eckenbereichen Verriegelungselemente trägt.
  4. Dockingvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass das DUT-Board (3) einen zur Schraubbefestigung ausgebildeten Randbereich aufweist, wobei ein DUT-Board-Verstärkungsrahmen (4) auf der dem Testkopf (2) zugewandten Seite des DUT-Boards (3) und der Dockingrahmen (6) auf der dem Testkopf (2) abgewandten Seite des DUT-Boards (3) angeordnet sind, so dass der Dockingrahmen (6) mit dem DUT-Board-Verstärkungsrahmen (4) verschraubbar ist.
  5. Dockingvorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass das DUT-Board (3) im Randbereich Zentrierbohrungen (11) aufweist, über welche das DUT-Board (3) relativ zum Verstärkungsrahmen (4) zentrierbar ist, und der Dockingrahmen (6) Zentrierbohrungen (12) aufweist, die mit den Zentrierbohrungen (11) des DUT-Boards (3) fluchten, so dass der Dockingrahmen (6) über die Zentrierbohrungen (11) des DUT-Boards (3) zentrierbar ist.
  6. Dockingvorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Dockingrahmen (6) schmale Rahmenelemente (10) aufweist, die nur geringfügig über den verschraubten Randbereich des DUT-Boards (3) nach innen überstehen.
  7. Dockingvorrichtung nach einem der Ansprüche 3 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die testkopfseitigen Verriegelungselemente seitlich außerhalb des DUT-Board-Verstärkungsrahmens (4) angeordnet sind.
  8. Dockingvorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass der Dockingrahmen (6) in seinen äußeren Randbereichen abgewinkelte Halterungen (15) zur gegenüber der Hauptebene des Dockingrahmens (6) zurückversetzten Anordnung der Verriegelungselemente aufweist.
DE200510057508 2005-12-01 2005-12-01 Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente Expired - Fee Related DE102005057508B4 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200510057508 DE102005057508B4 (de) 2005-12-01 2005-12-01 Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente
PCT/EP2006/011527 WO2007062850A2 (de) 2005-12-01 2006-11-30 Dockingvorrichtung zum kuppeln einer handhabungsvorrichtung mit einem testkopf für elektronische bauelemente

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE200510057508 DE102005057508B4 (de) 2005-12-01 2005-12-01 Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102005057508A1 DE102005057508A1 (de) 2007-06-14
DE102005057508B4 true DE102005057508B4 (de) 2011-11-17

Family

ID=38002928

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE200510057508 Expired - Fee Related DE102005057508B4 (de) 2005-12-01 2005-12-01 Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente

Country Status (2)

Country Link
DE (1) DE102005057508B4 (de)
WO (1) WO2007062850A2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019007618A1 (de) * 2019-10-31 2021-05-06 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Verbindungssystem, Verfahren und Verwendung eines Verbindungssystems

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE29620596U1 (de) * 1996-11-26 1998-01-22 Siemens AG, 80333 München Sockel für eine integrierte Schaltung
DE19756900A1 (de) * 1996-12-26 1998-07-02 Advantest Corp Testvorrichtung für Halbleiterbauelemente
DE19752229A1 (de) * 1997-02-04 1998-08-06 Hewlett Packard Co Nachgiebiger Waferprüferkopplungsadapter
DE10243972A1 (de) * 2002-09-20 2004-04-08 Esmo Ag Verschiebbare Befestigungsplatte
US20040227532A1 (en) * 2000-09-15 2004-11-18 Orsillo James F. Apparatus and method for use in testing a semiconductor wafer

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6057696A (en) * 1998-03-24 2000-05-02 Cypress Semiconductor Corp. Apparatus, method and kit for aligning an integrated circuit to a test socket
DE69900351T2 (de) * 1999-03-19 2002-10-17 Agilent Technologies, Inc. (N.D.Ges.D.Staates Delaware) Prüfkopfanordnung
MY127154A (en) * 2000-09-22 2006-11-30 Intest Corp Apparatus and method for balancing and for providing a compliant range to a test head
DE10216782B4 (de) * 2002-04-15 2005-03-10 Multitest Elektronische Syst Führungsvorrichtung zum Andocken eines Testkopfes für elektronische Bauelemente
US20040018048A1 (en) * 2002-07-26 2004-01-29 Sausen Earl W. Pneumatic docking system

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE29620596U1 (de) * 1996-11-26 1998-01-22 Siemens AG, 80333 München Sockel für eine integrierte Schaltung
DE19756900A1 (de) * 1996-12-26 1998-07-02 Advantest Corp Testvorrichtung für Halbleiterbauelemente
DE19752229A1 (de) * 1997-02-04 1998-08-06 Hewlett Packard Co Nachgiebiger Waferprüferkopplungsadapter
US20040227532A1 (en) * 2000-09-15 2004-11-18 Orsillo James F. Apparatus and method for use in testing a semiconductor wafer
DE10243972A1 (de) * 2002-09-20 2004-04-08 Esmo Ag Verschiebbare Befestigungsplatte

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102019007618A1 (de) * 2019-10-31 2021-05-06 Yamaichi Electronics Deutschland Gmbh Verbindungssystem, Verfahren und Verwendung eines Verbindungssystems

Also Published As

Publication number Publication date
WO2007062850A3 (de) 2007-07-26
DE102005057508A1 (de) 2007-06-14
WO2007062850A2 (de) 2007-06-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10044408A1 (de) Pinblockstruktur zur Halterung von Anschlußpins
DE29607535U1 (de) Kopplungssystem für eine Testvorrichtung für elektronische Schaltungen
DE102019119134A1 (de) Testvorrichtung
DE102004057776B4 (de) Lagekorrektureinrichtung zur Korrektur der Position eines Bauelementehalters für elektronische Bauelemente
DE19638402C2 (de) Prüfvorrichtung für einen Mehrkontakt-Chip
DE202009003648U1 (de) Montagehilfe für Leiterplattensteckverbinder
DE102005057508B4 (de) Dockingvorrichtung zum Kuppeln einer Handhabungsvorrichtung mit einem Testkopf für elektronische Bauelemente
DE102012209353B4 (de) Prüfvorrichtung zum Testen einer Flachbaugruppe
DE69900351T2 (de) Prüfkopfanordnung
WO2005078460A1 (de) Vorrichtung und verfarhen zum prüfen eines halbleiterbauteils mit kontaktflächen auf beiden seiten
DE3136896A1 (de) Vorrichtung zum pruefen einer elektronischen leiterplatte
DE3313449C2 (de) Vorrichtung zum Prüfen von Flachbaugruppen
DE69430036T2 (de) Testvorrichtung für integrierte Schaltungen
EP0772048B1 (de) Vorrichtung zum Prüfen von Leiterkarten und/oder Flachbaugruppen
EP0372666A1 (de) Multikompatible Halteeinrichtung für zu prüfende Leiterplatten bzw. Flachbaugruppen, und für Kontaktstift-Trägerplatten und Niederhalteplatten zur Verwendung in Prüfgeräten
DE4441347A1 (de) Adaptiergerät zur Prüfung von Leiterplatten
EP0167771B1 (de) Prüfsteckvorrichtung für eine Klemmenleiste
DE10037908B4 (de) Anordnung zum Verbinden eines Gehäuses mit einer Platte und Steckverbinder zur Montage auf einer Platte
DE4207002A1 (de) Positioniervorrichtung fuer eine traegerplatte fuer zu pruefende vorrichtungen
EP4010711B1 (de) Massenverbindungssystem für ein testsystem
EP3816643B1 (de) Verbindungssystem, verfahren und verwendung eines verbindungssystems
DE3405567A1 (de) Einrichtung zur lagegenauen positionierung von flachbaugruppen auf pruefadaptern (pendelnde fuehrungsnadeln)
DE4309336C1 (de) Elektronisches Gerät für den Schalttafel- oder Pulteinbau
DE4436354A1 (de) Vorrichtung zum gleichzeitigen Prüfen einer Mehrzahl von elektrischen oder elektronischen Teilen
DE19814312C2 (de) Vorrichtung zum automatischen Testen von Baugruppen oder Bauateilen

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final

Effective date: 20120218

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20130702