DE102005055229A1 - Festverdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis - Google Patents

Festverdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis Download PDF

Info

Publication number
DE102005055229A1
DE102005055229A1 DE102005055229A DE102005055229A DE102005055229A1 DE 102005055229 A1 DE102005055229 A1 DE 102005055229A1 DE 102005055229 A DE102005055229 A DE 102005055229A DE 102005055229 A DE102005055229 A DE 102005055229A DE 102005055229 A1 DE102005055229 A1 DE 102005055229A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
data
digital circuit
embedded system
register
circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102005055229A
Other languages
English (en)
Inventor
Marc Dr. Menzel
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Continental Teves AG and Co OHG
Original Assignee
Continental Teves AG and Co OHG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Continental Teves AG and Co OHG filed Critical Continental Teves AG and Co OHG
Priority to DE102005055229A priority Critical patent/DE102005055229A1/de
Publication of DE102005055229A1 publication Critical patent/DE102005055229A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/31712Input or output aspects
    • G01R31/31713Input or output interfaces for test, e.g. test pins, buffers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3187Built-in tests

Abstract

Fest verdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis (1), bestehend aus einem eingebetteten System (4), welches auf einem Halbleitermaterial (1) integriert ist, wobei das eingebettete System (4) Datenregister (6) sowie Ein-/Ausgabeports (5, 5') besitzt. Der Digitalschaltkreis umfasst integriert auf dem Halbleitermaterial (1) oder innerhalb eines gemeinsamen Bauelementgehäuses zusätzlich einen Testschnittstellenschaltkreis (2). Mit diesem können Daten aus den Registern des eingebetteten Systems (4) und/oder I/O-Zugriffe des eingebetteten Systems von Messschaltkreisen über einen mit dem Testschnittstellenschaltkreis verbundenen Testbus (7) außerhalb des Digitalschaltkreises (1) überwacht und/oder protokolliert werden.

Description

  • Die Erfindung betrifft einen festverdrahteten digitalen Schaltkreis gemäß Oberbegriff von Anspruch 1.
  • Aus der WO 2004/049159 A2 (P 10578) ist eine Testschnittstelle für ein eingebettetes System ("Embedded System") bekannt. Mit einer Testschnittstelle ist es möglich, eine Fehlererkennung zur Laufzeit (Debugging) durchzuführen und Daten, die im Mikrorechensystem verarbeitet werden, zu Laufzeit mitzuverfolgen.
  • Heute übliche eingebettete Systeme, welche mit Systemfrequenzen von mehreren hundert MHz arbeiten, sind zumindest gekennzeichnet durch die Komponenten: a) digitales Rechenwerk (CPU), b) Prozessorbus, c) Programmspeicher (z.B. ROM) und d) Datenspeicher (RAM).
  • Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, eine elektronische Digitalschaltung zur Verfügung zu stellen, welche eine Mitverfolgung der fest verdrahteten Funktionsvorgänge erlaubt.
  • Diese Aufgabe wird durch den fest verdrahteten elektronischen Digitalschaltkreis gemäß Anspruch 1 gelöst.
  • Der fest verdrahtete elektronischer Digitalschaltkreis nach der Erfindung besteht aus einer fest verdrahteten digitalen Schaltungsanordnung, die auf einem Halbleitermaterial integ riert ist. Es handelt sich ganz im Gegensatz zu einem Mikrocontroller bei dem Reglerschaltkreis gemäß der Erfindung um einen zumindest teilweise, insbesondere auch im wesentlichen vollständig, fest verdrahten ("hardwired") Schaltkreis, welcher beispielsweise ein FPGA (Field Programmable Gate Array), welcher in der Regel aus einer Vielzahl von logischen UND und ODER-Gattern aufgebaut ist, einem PLD oder einem ASIC (Application Specific Integrated Circuit) ist. Fest verdrahtete Schaltkreise erlauben fest verdrahtete Rechenfunktionen bzw. Algorithmen, wie z.B. Steuer- oder auch Regelungsvorgänge, welche üblicherweise erheblich schneller ablaufen als Funktionen, welche durch programmgesteuerte Mikroprozessorsysteme nachgebildet werden. Dies hängt damit zusammen, dass in fest verdrahteten Reglern mehrere Prozesse parallel ablaufen, wogegen in einem Mikrocontroller die Prozesse zumindest zum überwiegenden Teil sequentiell ablaufen. In der Praxis können moderne FGPA-Schaltkreise über geeignete Programmiergeräte prinzipiell in ähnlicher Weise programmiert werden, wie herkömmliche Mikroprozessorsysteme.
  • Innerhalb des Digitalschaltkreises befindet sich zumindest ein eingebettetes System, mit dem Steuer- oder Regelaufgaben wahrgenommen werden können. Bei dem eingebetteten System handelt es sich bevorzugt um einen digitalen Regler, welcher beispielsweise elektrische Steuersignale für einen bürstenlosen Elektromotor berechnet.
  • Gemäß der Erfindung ist auf dem gleichen Chip oder in einem gemeinsamen Bauelementgehäuse zusätzlich eine Testschnittstellenschaltkreis integriert, mit dem Daten aus den Datenregistern des eingebetteten Systems und/oder Zugriffe auf die Ein-Ausgabeports des Digitalschaltkreises von Messschaltkreisen außerhalb des Digitalschaltkreises überwacht und/oder protokolliert werden können.
  • Der erfindungsgemäße Digitalschaltkreis umfasst zum Ablegen von Zustandsinformationen an sich bekannte Datenregister sowie die üblichen Ein-/Ausgabeports, welche zur Kommunikation mit der Außenwelt dienen. An den Ein-Ausgabeports können beispielsweise Messschaltkreise zur Überwachung des Digitalschaltkreises angeschlossen sein. Je nach Anwendungsfall können die Datenregister und Ports entweder im eingebetteten System und/oder innerhalb des Digitalschaltkreises angeordnet sein.
  • Die Erfindung basiert auf folgenden Überlegungen: Zum einen lässt sich der interne Systemzustand eines eingebetteten Systems durch seinen aktuellen Datenspeicherinhalt (RAM) beschreiben bzw. analysieren. Daraus folgt, dass für den Fall, dass dieser Speicherinhalt in Echtzeit in einen externen Datenspeicher kopiert werden kann, eine Möglichkeit besteht, den Systemzustand von dort durch eine nachgeschaltete Auswerteeinheit weiterzuverarbeiten und auszuwerten.
  • Ein weiterer Vorteil besteht darin, dass zum Beispiel bei der Entwicklung von Regelalgorithmen für Kraftfahrzeugbremssysteme das dynamische Systemverhalten der Regelvariablen zur Laufzeit von außen praktisch in Echtzeit verfolgt werden kann.
  • Außerdem besteht die Möglichkeit, gegenüber an sich bekannten Testschnittstellenschaltkreisen auch fest verdrahtete Funktionen auf Fehler hin zu überprüfen (sogenanntes "Debugging").
  • Weitere bevorzugte Ausführungsformen ergeben sich aus den Unteransprüchen.
  • Nachfolgend wird der erfindungsgemäße fest verdrahtete elektronische Digitalschaltkreis an Hand eines Ausführungsbeispiels näher erläutert.
  • 1 zeigt in schematischer Darstellung einen fest verdrahteten elektronischen Digitalregler 4 für eine 3-Phasenansteuerung eines bürstenlosen Motors für das Anwendungsbeispiel einer Betätigung eines Aktuators für eine elektromechanische Kraftfahrzeugbremse (EMB). Regler 4 umfasst unter anderem nach außen führende Ausgänge 5 zur Ansteuerung des Motors und weitere Ein-/Ausgänge 5' die mit Testschnittstellenschaltkreis 2 verbunden sind. Über Testschnittstellenschaltkreis 2 können die Speicherzustände der Register 6 gelesen werden. Testschnittstellenschaltkreis 2 umfasst weiterhin einen Controller 3, welcher den Registerinhalt an einen FIFO-Speicher 8 (First-In-First-Out) übergibt. Speicher 8 ist mit Datenaufbereitungsmodul 6 verbunden. Datenaufbereitungsmodul 6 erlaubt die selektierte Ausgabe von Daten über serielles Interface 7 an einen externen Bus 9. Hierzu muss Controller 3 zumindest die gleiche Bandbreite besitzen wie der verwendete Datenspeicher 8.
  • Zur Reduzierung der Datenrate kann zweckmäßigerweise vorgesehen sein, dass Testschnittstellenschaltkreis 2 die Daten von Regler 4 nicht in jedem Reglerloop (Haupt-Programmschleife des Reglers) entgegennimmt, sondern, dass die Datenübernahme nur alle n Reglerloops mit n > 1 erfolgt. Mittels Controller 3 können dann insbesondere aus den so erfassten Daten aufbereitete Datenblöcke der Breite m gebildet werden, um die Anzahl der über den seriellen Bus ausgegebenen Daten weiter zu verringern. Hierzu ist Controller 3 zum Beispiel durch zwei Zustandsautomaten realisiert, welche eine Bildung der Blöcke und die Aufbereitung der Daten durchführen.
  • Zur Verbindung mit einem externen Gerät 11 ist Interface 7 mit Lichtwellenleiter 9 verbunden, welcher zu einem Datenkonverter 10 führt. Mittels Datenkonverter 10 können die ankommenden Daten in ein geeignetes Datenformat umgewandelt werden. Hierdurch ist eine besonders einfache Anpassung auf verschiedene Testdaten-Standards möglich. Im vorliegenden Beispiel werden die Daten in das sogenannte DAS-Format der Fa. Continental Teves AG & Co. oHG umgewandelt. Die entsprechend nach dem Standard aufbereiteten Daten können dann besonders einfach mittels einer sogenannten "DAS-Box" 11 und einem damit verbundenen Personalcomputer 12 ausgewertet werden. Dabei ist es zweckmäßig, dass die weiter oben erwähnten ganzen Zahlen n und m so gewählt werden, dass ein bestimmter Datenabstand nicht unterschritten wird. Auf diese Weise ist eine ordnungsgemäße Funktion der angeschlossenen Das-Box 11 gewährleistet. Ein Vorteil der Verwendung einer DAS-Box besteht unter anderem darin, dass zeitsynchron zu den über Lichtwellenleiter 9 übertragenen Daten zusätzlich weitere analoge Signale und CAN-Bus Daten (durch Leitung 13 symbolisiert) aufgezeichnet werden können.

Claims (9)

  1. Fest verdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis (1), bestehend aus einem eingebetteten System (4), welches auf einem Halbleitermaterial (1) integriert ist, wobei das eingebettete System (4) Datenregister (6) sowie Ein/-Ausgabeports (5, 5') besitzt, dadurch gekennzeichnet, dass auf dem Halbleitermaterial (1) oder innerhalb eines gemeinsamen Bauelementgehäuses zusätzlich ein Testschnittstellenschaltkreis (2) integriert ist, mit dem Daten aus den Registern des eingebetteten Systems (4) und/oder I/O-Zugriffe des eingebetteten Systems von Messschaltkreisen über einen mit dem Testschnittstellenschaltkreis verbunden Testbus (7) außerhalb des Digitalschaltkreises (1) überwacht und/oder protokolliert werden können.
  2. Digitalschaltkreis (1) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Testschnittstellenschaltkreis einen Controller (3) umfasst, welcher selbstständig auf das oder die Register und/oder Ein-/Ausgabeports (5, 5') ohne Beeinflussung des eingebetteten Systems in Echtzeit zugreift, um die Regelungsfunktion des Reglers mitzuverfolgen.
  3. Digitalschaltkreis (1) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Testschnittstellenschaltkreis mit einem Pufferspeicher (8) verbunden ist oder diesen insbesondere umfasst, wobei in dem Pufferspeicher die zu übertragenen Daten des eingebetteten Systems zwischengespeichert werden können.
  4. Digitalschaltkreis (1) nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass aus dem Pufferspeicher Daten über Testbus (7) gepuffert ausgegeben bzw. Daten in den Pufferspeicher eingeschrieben werden können.
  5. Digitalschaltkreis (1) nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass innerhalb des Testschnittstellenschaltkreises zwischen Pufferspeicher und Testbus ein weiterer Speicher und/oder ein Datenaufbereitungsmodul (6) vorgesehen ist.
  6. Digitalschaltkreis (1) nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass der Testbus (7) mit einem außerhalb des Reglers angeordneten Datenkonverter (10) mittelbar oder unmittelbar verbunden ist.
  7. Digitalschaltkreis (1) nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, dass in Datenaufbereitungsmodul (6) eine Datenreduktion durchgeführt wird, wobei dabei insbesondere aus einem Datenblock von m Datensätzen ein zusammengefasster Datenblock erstellt wird
  8. Digitalschaltkreis (1) nach mindestens einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass – nur alle n Reglerloops Daten von eingebettetem System (4) an Testschnittstellenschaltkreis (2) übertragen werden oder – in jedem Reglerloop Daten an Testschnittstellenschaltkreis (2) übertragen werden und durch Controller (3) nur alle n Reglerloops Daten an Speicher (8) über tragen werden.
  9. Digitalschaltkreis (1) gemäß mindestens einem der vorhergehenden Ansprüche für Anwendungen in Kraftfahrzeugen, insbesondere in einer Motorregelung für bürstenlose Motoren, für die Ansteuerung von elektromagnetischen Ventilen, ABS-Regelungsvorgänge, Fahrdynamikregelungsvorgänge bzw. sonstige Bremsensregelungsvorgänge oder zur Ansteuerung eines Aktuators einer elektromagnetischen Bremse (EMB).
DE102005055229A 2004-11-26 2005-11-19 Festverdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis Withdrawn DE102005055229A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005055229A DE102005055229A1 (de) 2004-11-26 2005-11-19 Festverdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004057133.3 2004-11-26
DE102004057133 2004-11-26
DE102005055229A DE102005055229A1 (de) 2004-11-26 2005-11-19 Festverdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102005055229A1 true DE102005055229A1 (de) 2006-06-08

Family

ID=36441872

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102005055229A Withdrawn DE102005055229A1 (de) 2004-11-26 2005-11-19 Festverdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE102005055229A1 (de)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6182247B1 (en) * 1996-10-28 2001-01-30 Altera Corporation Embedded logic analyzer for a programmable logic device
DE19945900A1 (de) * 1999-09-24 2001-04-19 Siemens Ag Konfigurierung einer Trace-Schnittstelle über eine JTAG-Schnittstelle
WO2004049159A2 (de) * 2002-11-22 2004-06-10 Continental Teves Ag & Co. Ohg Einrichtung und verfahren zur analyse von eingebetteten systemen

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6182247B1 (en) * 1996-10-28 2001-01-30 Altera Corporation Embedded logic analyzer for a programmable logic device
DE19945900A1 (de) * 1999-09-24 2001-04-19 Siemens Ag Konfigurierung einer Trace-Schnittstelle über eine JTAG-Schnittstelle
WO2004049159A2 (de) * 2002-11-22 2004-06-10 Continental Teves Ag & Co. Ohg Einrichtung und verfahren zur analyse von eingebetteten systemen

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE19529434B4 (de) Microprozessorsystem für sicherheitskritische Regelungen
DE19742577C1 (de) Schaltungsanordnung zur In-Circuit-Emulation eines Mikrocontrollers
EP1392546B1 (de) Vorrichtung zum steuern elektrischer systeme mit einem testmodul
EP0687363A1 (de) Verfahren zur prüfung von elektronischen steuergeräten
DE102006000943A1 (de) HiL-System und -Verfahren zum Testen von Steuergeräten eines Steuersystems
DE102010010198A1 (de) System und Verfahren zum Testen eines Moduls
EP1565825A2 (de) Einrichtung und verfahren zur analyse von eingebetteten systemen
EP0799143A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zur überwachung der funktion einer programmgesteuerten schaltung
EP1716490B1 (de) Einrichtung und verfahren zur analyse von eingebetteten systemen für sicherheitskritische rechnersysteme in kraftfahrzeugen
EP1785884B1 (de) Bussystem für integrierten Schaltkreis
DE102005055229A1 (de) Festverdrahteter elektronischer Digitalschaltkreis
DE10200242B4 (de) Verfahren zur Funktionsüberwachung eines Steuergeräts
EP1153339B1 (de) Verfahren und vorrichtung zur funktionsauswahl einer steuereinheit
DE102011120954A1 (de) Multifunktionales Eingangs/Ausgangs-Modul
EP2338111B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum testen eines rechnerkerns in einer mindestens zwei rechnerkerne aufweisenden recheneinheit
DE102007038543B4 (de) Begleit-Chip zur Anwendung in einer Motorsteuerung
DE4117815A1 (de) Regelungsanordnung, insbesondere fuer kraftfahrzeuge
DE10393178B4 (de) Anordnung aus einem Sensormodul und einem Steuergerät
DE19544723C2 (de) Prozessor-Analysesystem
EP2248021A1 (de) Anordnung zur überprüfung eines programmspeichers einer recheneinheit
DE102007062915A1 (de) Verfahren zum Betreiben einer speicherprogrammierbaren Steuerung
DE10137671A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung einer insbesondere speicherprogrammierbaren Steuerung
DE102005047555A1 (de) Verfahren zur Programmierung einer Ansteuereinheit eines Kraftfahrzeuges und Vorrichtung zur Ausführung des Verfahrens
DE102008008709A1 (de) Microcontroller, Verfahren zum Testen eines Mikrocontollers und Verwendung eines parallelen Adressausgangs und eines Multiplexers
EP4185931A1 (de) Verfahren zum überwachen eines ersten prozessors eines sensormoduls durch einen zweiten prozessor

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
R012 Request for examination validly filed

Effective date: 20120828

R120 Application withdrawn or ip right abandoned