DE102005047218B4 - Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop - Google Patents

Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop Download PDF

Info

Publication number
DE102005047218B4
DE102005047218B4 DE102005047218.4A DE102005047218A DE102005047218B4 DE 102005047218 B4 DE102005047218 B4 DE 102005047218B4 DE 102005047218 A DE102005047218 A DE 102005047218A DE 102005047218 B4 DE102005047218 B4 DE 102005047218B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
transfer function
drive unit
optical
correction
movement
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
DE102005047218.4A
Other languages
English (en)
Other versions
DE102005047218A1 (de
Inventor
Dipl.-Phys. Steinert Jörg
Dipl.-Ing. Engel Jörg
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Original Assignee
Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Carl Zeiss Microscopy GmbH filed Critical Carl Zeiss Microscopy GmbH
Priority to DE102005047218.4A priority Critical patent/DE102005047218B4/de
Priority to US11/525,209 priority patent/US20070086048A1/en
Publication of DE102005047218A1 publication Critical patent/DE102005047218A1/de
Priority to US12/823,242 priority patent/US8013288B2/en
Application granted granted Critical
Publication of DE102005047218B4 publication Critical patent/DE102005047218B4/de
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0036Scanning details, e.g. scanning stages

Abstract

Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners (14), der ein strahlablenkendes Element (31) zur Ablenkung eines Strahls optischer Strahlung und eine Antriebseinheit (30, 30', 35) zur Bewegung des strahlablenkenden Elements (31) aufweist, wobei
- die Antriebseinheit (30, 30', 35) gemäß Ansteuersignalen, angesteuert wird und - in einem Ermittlungsschritt für wenigstens eine vorgegebene Frequenz ein aktueller Wert einer Antriebseinheitsübertragungsfunktion, die die Antwort der Antriebseinheit (30, 30', 35) auf Ansteuersignale für eine vorgegebene Soll-Bewegung oder Änderung einer Soll-Bewegung wiedergibt, ermittelt wird, dadurch gekennzeichnet, dass
- die Steuerung auf Basis einer optischen Übertragungsfunktion erfolgt und
- in einem Korrekturschritt in Abhängigkeit vom aktuellen Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion die optische Übertragungsfunktion korrigiert wird.

Description

  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, einen optischen Scanner und ein Laser-Scanning-Mikroskop.
  • Optische Scanner, worunter im Folgenden insbesondere durch Vorgabe einer Soll-Bewegung oder von Ansteuersignalen steuerbare Ablenkeinrichtungen zur gesteuerten Ablenkung eines Strahls optischer Strahlung verstanden werden, werden in verschiedenen Bereichen der Technik eingesetzt. Ein wichtiges Einsatzgebiet für optische Scanner sind Laser-Scanning-Mikroskope. Bei diesen wird eine Probe mit einem auf eine Schicht der Probe in der Regel punktförmig fokussierten Laserstrahl abgetastet bzw. abgescannt, wobei der Fokus konfokal auf eine Erfassungseinrichtung abgebildet wird. Zur Ablenkung des Laserstrahls auf eine vorgegebene Position der Probe und zur Ablenkung der von dem Fokus ausgehenden Detektionsstrahlung auf die Erfassungseinrichtung wird eine Ablenkeinrichtung bzw. ein optischer Scanner verwendet, die bzw. der eine gesteuerte Ablenkung des Laserstrahls bzw. der Detektionsstrahlung ermöglicht. Zur Erfassung eines Bildes einer Schicht der Probe wird der Laserstrahl bzw. dessen Fokus zeilenweise über die Probe von einer ersten Endlage in eine zweite Endlage und zurück geführt, wobei in jeder der Endlagen eine Ablenkung in einer zu der Bewegungsrichtung in der Zeile orthogonalen Richtung erfolgt, so daß der Fokus in die nächste Zeile springt. Der Fokus wird dabei in der Zeile möglichst geradlinig-gleichförmig bewegt, so daß durch Erfassung der Detektionsstrahlung in konstanten Zeitabständen von äquidistanten, matrixartig angeordneten Orten in der Schicht der Probe eine Pixeldarstellung des Bildes erhalten wird, in der die dann ebenfalls matrixartig angeordneten Pixel den Orten zugeordnet sind. Ein unverzerrtes Bild ergibt sich daher nur dann, wenn die Bewegung des Fokus genau einer geradlinig-gleichförmigen Bewegung entspricht. Die Anforderung an eine genaue Steuerung eines in einem Laser-Scanning-Mikroskop verwendeten optischen Scanners sind daher sehr hoch.
  • Um eine hohe Genauigkeit zu erzielen, kann, wie beispielsweise in der DE 197 02 752 A1 schrieben, mittels eines Stellungssensors die Stellung des Antriebs bzw. Spiegels des Scanners in Form eines Rückmelde- bzw. Stellungssignals erfaßt werden, auf Basis derer Abweichungen von einer Soll-Stellung korrigiert werden. Dieses Vorgehen ist jedoch für hohe Scangeschwindigkeiten nicht genau genug. Die elektronische Verarbeitung von Rückmeldesignal und Detektionssignal führt zu Verzerrungen der Signale und zu Phasendifferenzen zwischen den Signalen. Darüber hinaus stimmt aufgrund von Verformungen der Scannerwelle, über die die Antriebsbewegung auf den Spiegel übertragen wird, und des Scannerspiegels selbst die rückgemeldete Stellung nicht mit der tatsächlichen Stellung des Spiegels überein. Damit stimmt auch die Ist-Lage des abgelenkten Strahls nicht mit der gewünschten Soll-Lage überein.
  • Es ist daher denkbar, eine optische Kalibrierung des Scanners durchzuführen, bei der die Steuerung des Scanners so eingestellt wird, daß die Ist-Bewegung des Fokus der Soll-Bewegung möglichst genau entspricht.
  • Aber selbst bei einer sehr guten optischen Kalibrierung kann es nach längerer Zeit durch Verschleiß des Scanners, insbesondere einer Antriebseinheit des Scanners, zu Fehlern im Bild, beispielsweise bei bidirektionalem Scan ein „Ausfransen“ vertikaler Linien oder Verzerrungen der Bildgeometrie, kommen, da der Scanner auf die Ansteuerung nicht so reagiert wie bei der optischen Kalibrierung. Eine optische Kalibrierung ist jedoch zu aufwendig, um sie häufig durchzuführen.
  • Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, das einfach und schnell durchführbar ist, sowie einen optischen Scanner, dessen Steuerung einfach und schnell korrigierbar ist, bereitzustellen.
  • Die Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, der ein strahlablenkendes Element zur Ablenkung eines Strahls optischer Strahlung und eine Antriebseinheit zur Bewegung des strahlablenkenden Elements aufweist, die gemäß Ansteuersignalen, die unter Verwendung wenigstens eines zur Steuerung oder Regelung verwendeten Parameters und/oder einer, vorzugsweise optischen, Übertragungsfunktion aus einer vorgegebenen Soll-Bewegung erzeugt sind, das strahlablenkende Element bewegt, bei dem in einem Ermittlungsschritt wenigstens ein aktueller Wert einer Antriebseinheitsübertragungsfunktion, die die Antwort der Antriebseinheit auf Ansteuersignale, die aus einer vorgegebenen Soll-Bewegung oder einer Änderung einer Soll-Bewegung ermittelt sind, wiedergibt, für wenigstens eine Frequenz ermittelt wird, und in einem Korrekturschritt in Abhängigkeit von dem aktuellen Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion der wenigstens eine Parameter und/oder die Übertragungsfunktion korrigiert wird.
  • Die Aufgabe wird weiterhin gelöst durch einen optischen Scanner mit einem strahlablenkenden Element zur Ablenkung eines Strahls optischer Strahlung, einer Antriebseinheit zur Bewegung des strahlablenkenden Elements, die gemäß Ansteuersignalen das strahlablenkende Element bewegt, und einer mit der Antriebseinheit zur Übermittlung von Ansteuersignalen verbundenen Scansteuereinheit zur Steuerung der Antriebseinheit durch Erzeugung von Ansteuersignalen, die so ausgebildet ist, daß unter Verwendung wenigstens eines zur Steuerung oder Regelung verwendeten Parameters und/oder einer, vorzugsweise optischen, Übertragungsfunktion einer vorgegebenen Soll-Bewegung entsprechende Ansteuersignale erzeugbar sind und zur Korrektur der Steuerung des Scanners in einem Ermittlungsschritt wenigstens ein aktueller Wert einer Antriebseinheitsübertragungsfunktion, die die Antwort der Antriebseinheit auf Ansteuersignale, die aus einer vorgegebenen Soll-Bewegung oder einer Änderung einer Soll-Bewegung erzeugt sind, wiedergibt, für wenigstens eine Frequenz ermittelbar ist, und in einem Korrekturschritt in Abhängigkeit von dem aktuellen Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion der wenigstens eine Parameter und/oder die Übertragungsfunktion korrigierbar ist.
  • Der optische Scanner verfügt über eine Antriebseinheit, ein von der Antriebseinheit bewegbares strahlumlenkendes Element, beispielsweise einen Spiegel oder ein Prisma, sowie eine Scansteuereinheit zur Erzeugung von Ansteuersignalen für den Antrieb entsprechend einer Soll-Bewegung, die vorzugsweise zur Ausführung des erfindungsgemäßen Verfahrens ausgebildet ist. Die Antriebseinheit selbst besitzt einen Antrieb, beispielsweise einen Elektromotor, einen Piezoantrieb oder einen galvanischen Antrieb, Die Scansteuereinheit kann eine elektrische bzw. elektronische Schaltung zur Abgabe von Steuersignalen gemäß einer vorgegebenen Soll-Bewegung an den Antrieb sein. Die Scansteuereinheit oder Steuerung bzw. die elektronischen Schaltung kann insbesondere einen Prozessor, beispielsweise einen digitalen Signalprozessor, aufweisen, der aus einer vorgegebenen Soll-Bewegung, die beispielsweise als Weg-ZeitFunktion für einen Fokus des durch den Scanner abzulenkenden bzw. abgelenkten Strahls in einer Ebene durch Parameter gegeben sein kann, Ansteuersignale für den Antrieb oder eine diesem vorgeordnete weitere Steuer- oder Regeleinrichtung erzeugt. Grundsätzlich kann sich, je nach Art und Einsatzzweck des Scanners die Soll-Bewegung auf die Bewegung des durch den Scanner abgelenkten Strahls entweder in Form von Winkeln oder als Punkt in einer Bezugsebene oder auf die Bewegung des strahlablenkenden Elements beziehen.
  • Zur Erzeugung der Ansteuersignale verwendet die Scansteuereinheit, d.h. die Schaltung bzw. der Prozessor, wenigstens einen zur Steuerung oder Regelung verwendeten Parameter. Solche Parameter können insbesondere Parameter sein, die die Soll-Bewegung wiedergeben. Darüber hinaus kann sie eine Übertragungsfunktion bzw. einen Frequenzgang verwenden, die bzw. der einen Zusammenhang zwischen der Soll-Bewegung und der Ist-Bewegung wiedergibt.
  • Im einfachsten Fall kann als Übertragungsfunktion die Antriebseinheitsübertragungsfunktion verwendet werden, die den Zusammenhang zwischen der Soll-Bewegung bzw. den der Soll-Bewegung entsprechenden Ansteuersignalen und der Stellung des Antriebs oder eines von dem Antrieb angetriebenen mechanischen Koppelelements, beispielsweise einer Welle, die das strahlablenkende Element bewegt, wiedergibt. Vorzugsweise umfaßt die Antriebseinheitsübertragungsfunktion auch diejenigen Anteile, die durch die Messung der Stellung des Antriebs oder des Koppelelements, insbesondere in dem Fall, daß diese Stellungsregelung verwendet werden, umfassen. So kann sie die Wirkung eines Stellungs- bzw. Rückmeldesensor zur Erfassung der Stellung des Antriebs bzw. des Koppelelements und Abgabe entsprechender Ansteuersignale und die folgende Rückmeldesignalverarbeitung, einschließlich einer Analog-DigitalWandlung, falls vorgesehen, beinhalten.
  • Vorzugsweise wird jedoch die optische Übertragungsfunktion verwendet, die den Zusammenhang zwischen der Soll-Bewegung des abzulenkenden Strahls bzw. den entsprechenden Ansteuersignalen und der von dem Scanner bewirkten Bewegung und damit auch die Eigenschaften des Koppelelements und des strahlablenkenden Elements wiedergibt.
  • Die Übertragungsfunktion kann insbesondere von der Scansteuereinheit dazu verwendet werden, der Soll-Bewegung entsprechende, vorverzerrte Ansteuersignale zu erzeugen, die so vorverzerrt sind, daß die Übertragung bzw. Umsetzung durch den Antrieb bei genauer Ermittlung der Übertragungsfunktion zu der gewünschten Soll-Bewegung führt.
  • Die Erfindung beruht unter anderem auf der Erkenntnis, daß zum einen zur exakten Steuerung eines Scanners die möglichst genaue Kenntnis der Übertragungsfunktion des Scanners notwendig ist und zum anderen sich die Übertragungsfunktion im Laufe der Zeit ändern kann. Darüber hinaus wurde erkannt, daß sich die optische Übertragungsfunktion in zwei miteinander verknüpfte Anteile aufteilen läßt, nämlich die Antriebseinheitsübertragungsfunktion und eines weiteren Anteils. Der weitere Anteil kann unter anderem die Übertragung der Bewegung des Antriebs über die Bewegung des strahlablenkenden Elements, das sich gegebenenfalls noch durch die Bewegung verformt, auf die Bewegung des abzulenkenden Strahls beschreiben. Die Antriebseinheitsübertragungsfunktion ist vorzugsweise für die Durchführung des Verfahrens so definiert, daß sie einfach gemessen werden kann. Wird zur Erfassung der Stellung des Antriebs ein Stellungssensor verwendet, beschreibt die Antriebseinheitsübertragungsfunktion vorteilhafterweise auch die Eigenschaften aller Einheiten, die Rohsignale eines Sensorelements des Stellungssensors in zur Korrektur verwendbare Werte wandeln. Beispielsweise können hierzu elektronische Schaltungen zur Verarbeitung, insbesondere Konditionierung der Rohsignale, und gegebenenfalls ein Analog-Digital-Wandler gehören. Diese Komponenten können dabei physisch von dem eigentlichen Sensor abgesetzt angeordnet sein.
  • Die Messung des weiteren Anteils ist in der Regel aufwendig und kann insbesondere die Verwendung optischer Hilfsmittel, wie beispielsweise Referenzproben erfordern. Es wurde jedoch erkannt, daß sich dieser Anteil im Laufe der Zeit verglichen mit der Antriebseinheitsübertragungsfunktion nur wenig ändert.
  • Da die Antriebseinheitsübertragungsfunktion aber relativ einfach, genau und schnell elektrisch bzw. elektronisch ermitteln läßt, genügt es für eine Verbesserung der Kalibrierung bzw. Steuerung des Scanners, nur diese Funktion bzw. wenigstens einen Anteil derselben zu ermitteln und die Steuerung unter Verwendung des wenigstens einen ermittelten Anteils zu korrigieren. Durch Verknüpfung der ermittelten Funktion bzw. wenigstens eines Anteils derselben mit der bekannten, aktuellen Übertragungsfunktion kann diese einfach und schnell korrigiert werden. Dazu kann es genügen , die Korrektur für nur eine vorgegebene Frequenz vorzunehmen, die in Abhängigkeit von der Soll-Bewegung und den Eigenschaften der Übertragungsfunktion gewählt werden kann. Insbesondere kann bei einer periodischen Soll-Bewegung die vorgegebene Frequenz die Grundfrequenz der Soll-Bewegung oder eine der Oberfrequenzen, d.h. eines der Vielfachen der Grundfrequenz, sein.
  • Die Erfindung bietet daher den großen Vorteil, daß auf einfache und schnelle Weise die Steuerung des Scanners korrigiert werden kann, so daß bei wiederholter Korrektur auch über lange Zeiträume eine Ansteuerung gemäß einer vorgegebenen Soll-Bewegung zu einer Ist-Bewegung führt, die sehr genau der Soll-Bewegung entspricht. Da die Korrektur sehr schnell durchführbar ist, kann sie insbesondere automatisch und für den Benutzer kaum wahrnehmbar erfolgen.
  • Die Antriebseinheitsübertragungsfunktion kann in dem Ermittlungsschritt grundsätzlich beliebig ermittelt werden. Bei dem Verfahren wird jedoch vorzugsweise in dem Ermittlungsschritt der aktuelle Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion für die vorgegebenen Frequenz ermittelt, indem eine Ist-Stellung eines Antriebs oder eines mechanischen Koppelelements der Antriebseinheit in Abhängigkeit von der Soll-Bewegung bzw. der Änderung der Soll-Bewegung oder den aus dieser ermittelten Ansteuersignalen ermittelt wird. Bei dem optischen Scanner weist die Antriebseinheit daher vorzugsweise einen Schrittmotor zur Bewegung des strahlablenkenden Elements und/oder einen Stellungssensor zur Erfassung der Stellung des Antriebs oder eines mechanischen Koppelelements der Antriebseinheit auf und die Scansteuereinheit ist weiter so ausgebildet, daß im Ermittlungsschritt die Stellung des Schrittmotors oder ein Stellungssignal des Stellungssensors dazu verwendet wird, um den aktueller Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion zu ermitteln. Diese Ausführungsform hat, insbesondere bei Verwendung eines Stellungssensors, den Vorteil, daß das Stellungssignal bei gewöhnlichem Betrieb zur Stellungsregelung des Motors verwendet werden kann, wozu die Antriebseinheit dann vorzugsweise eine Stellungsregelung aufweist, die den Motor ansteuert. Die Verwendung eines Schrittmotors erlaubt eine einfache Erfassung der Stellung des Antriebs bzw. des Koppelelements. Als Koppelelement kann insbesondere eine Welle eingesetzt werden. In jedem Fall ergibt sich eine besonders einfache Konstruktion des Scanners.
  • Grundsätzlich kann es genügen, daß das Verfahren nur je nach Bedarf angewendet wird. Das Korrekturverfahren kann dann von dem Benutzer manuell gestartet werden. Vorzugsweise wird das Verfahren jedoch automatisch durchgeführt, wozu der optische Scanner bzw. dessen Scansteuereinheit entsprechend ausgebildet ist.
  • Bei einer ersten bevorzugten Variante des Verfahrens werden der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt in vorgegebenen zeitlichen Abständen wiederholt. Der optische Scanner weist dazu vorzugsweise eine Zeitschalteinrichtung auf, die die Scansteuereinheit wiederholt in vorgegebenen zeitlichen Abständen so ansteuert, daß diese den Ermittlungs- und den Korrekturschritt ausführt. Die Zeitabstände können dabei insbesondere in Abhängigkeit von der erwarteten Änderung der Eigenschaften des Scanners und der erforderlichen Stellgenauigkeit bzw. Genauigkeit der Bewegung gewählt werden. Beispielsweise kann das Verfahren wöchentlich oder monatlich durchgeführt werden.
  • Es ist jedoch auch möglich den Ermittlungs- und den Korrekturschritt zu wiederholen, wenn eine vorgegebene Gesamtbetriebsdauer des Scanners seit der letzten Korrektur erreicht wurde. Dies hat den Vorteil, daß die Korrektur abhängig von der benutzungsbedingten Abnutzung erfolgt, so daß auch bei unregelmäßiger Benutzung eine Korrektur früh genug durchgeführt wird.
  • Gemäß einer anderen bevorzugten Variante können bei dem Verfahren der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt bei jedem Einschalten des Scanners oder in einem vorgegebenen Zeitabstand nach jedem Einschalten durchgeführt werden. Bei dem optischen Scanner ist dazu vorzugsweise die Scansteuereinheit weiter so ausgebildet, daß der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt bei jedem Einschalten des Scanners oder in einem vorgegebenen Zeitabstand nach jedem Einschalten durchgeführt werden. Der Zeitabstand kann insbesondere so gewählt sein, daß der Scanner oder eine den Scanner enthaltende Vorrichtung nach Ablauf der Zeit aufgewärmt sind und stabile Betriebsbedingungen aufweisen. Diese Ausführungsform hat den Vorteil, daß bei geeigneter Wahl des vorgegebenen Zeitabstands die Korrektur nach einer Aufwärmphase des Scanners bzw. einer den Scanner enthaltenden Vorrichtung und damit bei stabilen Bedingungen durchgeführt wird. Dies erhöht die Zuverlässigkeit der Korrektur.
  • Grundsätzlich kann es genügen, die Korrektur nur für eine vorgegebene Frequenz durchzuführen. Bei dem Verfahren ist es jedoch bevorzugt, daß der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt wiederholt werden, und die in diesen Schritten verwendete Frequenz bei jeder Wiederholung geändert wird. Dazu ist vorzugsweise bei dem optischen Scanner die Scansteuereinheit weiter so ausgebildet, daß diese den Ermittlungsschritt und den Korrekturschritt wiederholt ausführt, und die in diesen Schritten verwendete Frequenz bei jeder Wiederholung ändert. Insbesondere können bei einer typischerweise periodischen Soll-Bewegung mit einer festen Grundfrequenz nacheinander die Grundfrequenz und die verwendeten Oberfrequenzen, d.h. Vielfache der Grundfrequenz, als Frequenz verwendet werden. Dies hat den Vorteil, daß sich nach einer hinreichenden Anzahl von Wiederholungen eine Aktualisierung der gesamten Übertragungsfunktion bzw. der zur Steuerung und/oder Regelung verwendeten Parameter ergibt.
  • Weiterhin können bei dem Verfahren vorzugsweise der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt für mehrere vorgegebene Frequenzen durchgeführt werden. Bei dem optischen Scanner ist die Scansteuereinheit dazu vorzugsweise weiter so ausgebildet, daß der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt für mehrere vorgegebene Frequenzen durchgeführt werden. Dies bedeutet, daß bei einer Korrektur im wesentlichen gleichzeitig bzw. unmittelbar aufeinanderfolgend Korrekturen für mehrere Frequenzen durchgeführt werden können, so daß in vorteilhafter Weise eine umfassendere bzw. genauere Korrektur erreicht werden kann.
  • Die Korrektur im Korrekturschritt kann auf verschiedene Art und Weise erfolgen. Bei dem Verfahren ist es bevorzugt, daß in dem Korrekturschritt eine Abweichung des aktuellen Wertes der Antriebseinheitsübertragungsfunktion von einem entsprechenden früher gespeicherten Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion, der innerhalb eines vorgegebenen Zeitintervalls vor oder nach der Ermittlung des Wertes der aktuell verwendeten optischen Übertragungsfunktion bei der Frequenz ermittelt wurde, bestimmt wird und die Abweichung zur Korrektur verwendet wird. Bei dem optischen Scanner ist es dazu bevorzugt, daß die Scansteuereinheit weiter so ausgebildet ist, daß in dem Korrekturschritt eine Abweichung des aktuellen Wertes der Antriebseinheitsübertragungsfunktion von einem entsprechenden früher gespeicherten Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion, der innerhalb eines vorgegebenen Zeitintervalls vor oder nach der Ermittlung des Wertes der aktuell verwendeten optischen Übertragungsfunktion bei der Frequenz ermittelt wurde, bestimmt wird und die Abweichung zur Korrektur verwendet wird. Das vorgegebene Zeitintervall ist dabei vorzugsweise so gewählt, daß eine wesentlichen Änderung der Antriebseinheitsübertragungsfunktion in diesem Zeitintervall nicht zu erwarten ist bzw. erfolgt. Vorzugsweise wird die Antriebseinheitsübertragungsfunktion unmittelbar vor oder nach der Ermittlung der Übertragungsfunktion, insbesondere die optische Übertragungsfunktion, durch geführt. Dabei kann, je nach Art der Darstellung der Übertragungsfunktion, die Abweichung als Quotient aus den beiden Werten oder als Differenz gegeben sein. Wird die Übertragungsfunktion in einer Fourier-Darstellung beispielsweise als komplexe Funktion oder durch zwei Amplitudenanteile für einen Sinus- und einen Cosinus-Anteil dargestellt, kann die Abweichung durch Quotienten der entsprechenden Werte gegeben sein. Bei einer Fourier-Darstellung in Form von Amplituden und Phasen für Sinus- oder Cosinus-Funktionen einer Fourier-Summe kann die Abweichung für die Amplituden in Form eines Quotienten und die Abweichung der Phasen in Form einer Differenz gegeben sein. Diese Ausführungsform hat den Vorteil, daß nach Ermittlung der Abweichungen die Korrektur selbst einfach durchzuführen ist.
  • Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform wird bei dem Verfahren wenigstens im Korrekturschritt die Korrektur für die wenigstens eine Frequenz durchgeführt und zur Korrektur für andere Frequenzen ein Modell für die Frequenzabhängigkeit des wenigstens einen zu korrigierenden Parameters bzw. der zu korrigierenden Übertragungsfunktion bestimmt. Bei dem optischen Scanner ist dazu vorzugsweise die Scansteuereinheit weiter so ausgebildet, daß im Korrekturschritt die Korrektur für die wenigstens eine Frequenz durchgeführt wird und zur Korrektur für andere Frequenzen ein Modell für die Frequenzabhängigkeit des zu korrigierenden Parameter bzw. der zu korrigierenden Übertragungsfunktion bestimmt wird. Diese Ausführungsform hat den großen Vorteil, daß trotz einer Ermittlung eines Wertes der Antriebseinheitsübertragungsfunktion für nur eine oder nur wenige Frequenzen, die daher schnell erfolgen kann, eine Korrektur über den gesamten benötigten Frequenzbereich durchgeführt werden kann. Das Modell kann bei Verwendung von Werten für mehrere Frequenzen beispielsweise ein Polynommodell sein. Es ist jedoch auch möglich als Modell den bei Ermittlung der Übertragungsfunktion ermittelten Verlauf der Antriebseinheitsübertragungsfunktion als Funktion der Frequenz oder ein theoretisch ermitteltes Modell zu nutzen.
  • Die Erfindung wird besonders vorteilhaft in Laser-Scanning-Mikroskopen eingesetzt, da diese Scanner mit sehr hoher Genauigkeit erfordern, um möglichst unverzerrte Bilder bei hoher Scangeschwindigkeit zu erhalten. Gegenstand der Erfindung ist daher auch ein Laser-Scanning-Mikroskop mit einem erfindungsgemäßen optischen Scanner.
  • Die Erfindung wird im folgenden beispielhaft anhand der Zeichnungen noch weiter erläutert. Es zeigen:
    • 1 eine schematische Darstellung eines Laser-Scanning-Mikroskops,
    • 2 eine schematische Blockdarstellung von Komponenten des Laser-Scanning-Mikroskops in 1, die für einen optischen Scanner des Laser-Scanning-Mikroskops relevant sind,
    • 3 ein vereinfachtes Weg-Zeit-Diagramm für eine Soll-Bewegung und eine angenäherte Soll-Bewegung,
    • 4 eine Blockdarstellung für die Erzeugung von Ansteuersignalen für einen Antrieb des Scanners in 2,
    • 5 ein vereinfachtes Ablaufdiagramm für ein Verfahren zur Ermittlung einer optischen Übertragungsfunktion,
    • 6 ein vereinfachtes Ablaufdiagramm für Teilschritte des in 5 dargestellten Verfahrens,
    • 7 eine schematische Darstellung eines Pixelaufbaus eines mit dem Laser-Scanning-Mikroskop in 1 erfaßten Bildes,
    • 8 eine schematische Darstellung einer Prüfprobe mit Soll-Lagen von strichförmigen Strukturen und bei einer Hin- und Rückbewegung erfaßten Ist-Lagen der strichförmigen Strukturen,
    • 9a, b Diagramme, in denen Abweichungen zwischen Soll- und Ist-Lagen von strichförmigen Strukturen für die Hin- und die Rückbewegung als Funktion der Pixelnummer aufgetragen sind, und
    • 10 ein Diagramm, in dem die Abweichungen in den 9a und 9b als Funktion der Zeit aufgetragen sind.
  • In 1 verfügt ein nur vereinfacht dargestelltes Laser-Scanning-Mikroskop nach einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung, das zur Untersuchung eines Objekts bzw. einer Probe 2 dient, über einen Beleuchtungsabschnitt 3 zur Abgabe eines kollimierten Beleuchtungsstrahls 4, einen Ablenkabschnitt 5 zur gesteuerten Ablenkung des Beleuchtungsstrahls 4, eine Abbildungsoptik 6 und eine Erfassungseinrichtung 7 zur Erfassung von Aufnahmebilddaten für wenigstens Teilbilder des Objekts 2, die von der Abbildungsoptik 6 auf die Erfassungseinrichtung 7 abgebildet werden. Eine Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 ist mit der Erfassungseinrichtung 7 und einer Anzeigeeinrichtung 9 in Form eines Farbmonitors verbunden.
  • Bei diesem Laser-Scanning-Mikroskop 1 erfolgt die Abbildung der Probe 2 dadurch, daß diese mit dem Beleuchtungsstrahl 4 mit in einer abzubildenden Schicht der Probe 2 abgetastet wird, der in der Schicht fokussiert ist und dort näherungsweise punktförmigem Querschnitt aufweist.
  • Der Beleuchtungsabschnitt 3 dient zur Abgabe des kollimierten Beleuchtungsstrahls 4 mit einem vorgegebenen Strahlprofil und -querschnitt und verfügt dazu entlang eines Beleuchtungsstrahlengangs über eine Quelle 10 für optische Strahlung, im Beispiel einen Laser, und eine feine Blende 12 (pinhole-Blende) in einer zu der Lage des Fokus des Beleuchtungsstrahls 4 auf der Probe 2 konjugierten Ebene.
  • Die aus dem Beleuchtungsabschnitt 3 austretende Beleuchtungsstrahlung 4 tritt durch einen Strahlteiler 13 in den Ablenkabschnitt 5 zur gesteuerten Ablenkung des durch den Strahlteiler 13 getretenen Beleuchtungsstrahls 4. Der Ablenkabschnitt 5 besitzt dazu eine mit der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 zur Ansteuerung verbundene Ablenkeinrichtung bzw. einen optischen Scanner 14 nach einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung und eine Scanoptik 15.
  • Der optische Scanner 14 ist dazu ausgelegt, den Beleuchtungsstrahl 4 in einer Ebene orthogonal zu der Richtung des Beleuchtungsstrahls 4 vor der Ablenkeinrichtung, in 1 also orthogonal zu der Zeichnungsebene, zu schwenken. Er besitzt dazu zwei von der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 ansteuerbare Antriebseinheiten, die zwei unabhängig voneinander von der Scansteuereinheit 35 ansteuerbare Antriebe, von denen in 2 nur der Antrieb 30 für Bewegungen in x-Richtung gezeigt ist, und zwei mittels der Antriebe um jeweils eine Achse schwenkbare strahlablenkende Elemente, im Beispiel Spiegel, von denen in 2 nur der von dem Antrieb 30 über ein Koppelelement 30', einer Welle, angetriebene Spiegel 31 gezeigt ist, umfassen. Die Antriebseinheiten sind mit einer gemeinsame Scansteuereinheit 35 zur Abgabe von Ansteuersignalen entsprechend einer Soll-Bewegung in x-Richtung und einer Soll-Bewegung in y-Richtung an diese verbunden.
  • Im Beispiel werden galvanische Antriebe verwendet. Die Drehachsen, um die die Spiegel drehbar sind, verlaufen orthogonal zueinander, wobei der Spiegel 31 entsprechend der Ansteuerung des Antriebs 30 den Beleuchtungsstrahl 4 gesteuert in x-Richtung auslenkt. Der andere Spiegel bewirkt eine Ablenkung in y-Richtung. Weiterhin ist für jeden der Antriebe jeweils ein kapazitiver Stellungssensor zur Erfassung der Stellung des jeweiligen Antriebs 30 oder des Koppelelements 30' bzw. Spiegels und Abgabe von entsprechenden Rückmeldesignalen und eine mit der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 zur Übermittlung von Ansteuersignalen und dem Stellungssensor verbundene Stellungsregelung vorgesehen, von denen in 2 wiederum nur der Stellungssensor 32 und die Stellungsregelung 33 gezeigt sind. Auf ein Ansteuersignal hin regelt die Stellungsregelung 33 unter Verwendung von Stellungs- bzw. Rückmeldesignalen des Stellungssensors 32 die Stellung des Antriebs 30 auf eine durch das Ansteuersignal definierte Stellung ein, so daß diese, jedenfalls bei langsamer Bewegung, mit großer Genauigkeit, aber abhängig von den Eigenschaften des Stellungssensors 32, eingestellt werden kann.
  • Die Scansteuereinheit 35 kann zur Erzeugung von Ansteuersignalen für den optischen Scanner 14 und insbesondere für die Antriebe über wenigstens einen digitalen Signalprozessor verfügen, der Zugriff auf einen nicht gezeigten Speicher oder einen Bereich eines Speichers 28 der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 hat.
  • Der aus dem Ablenkabschnitt 5 austretende, abgelenkte Beleuchtungsstrahl 4 wird durch die Mikroskopoptik 16 in einen Fokus 17 auf oder in der Probe 2 fokussiert. Zur Auswahl der Lage des Fokus 17 in z-Richtung, also in der Tiefe der Probe, kann ein Probentisch 34 mittels eines integrierten mit der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 verbundenen Antriebs durch entsprechende Signale der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 entlang der z-Richtung in an sich bekannter Weise in seiner Lage in z-Richtung eingestellt werden.
  • Der Fokus 17, d.h. genauer von dem Fokus 17 ausgehende Detektionsstrahlung 18, beispielsweise durch die Beleuchtungsstrahlung in der Probe 2 angeregte Fluoreszenzstrahlung, wird durch die Abbildungsoptik 6 abgebildet. Diese umfaßt entlang eines Detektionsstrahlengangs die vergrößernde Mikroskopoptik 16, den Strahlteiler 13 und eine Detektionsoptik 19, die den Fokus 17 konfokal auf die Erfassungseinrichtung 7 abbildet.
  • Die Mikroskopoptik 16 umfaßt eine Tubuslinse 20 sowie ein Mikroskop-Objektiv 21.
  • Der Strahlteiler 13 ist dazu ausgebildet, den Beleuchtungsstrahl 4 wenigstens teilweise durchzulassen und die Detektionsstrahlung 18 auf die Detektionsoptik 19 abzulenken.
  • Zwischen der Mikroskopoptik 16 und dem Strahlteiler 13 ist der Ablenkabschnitt 5 angeordnet, der die Detektionsstrahlung 18 descannt. Unter Descannen wird verstanden, daß der Ablenkabschnitt von dem auf bzw. in der Probe entsprechend der Ablenkung des Beleuchtungsstrahls 4 wandernden Fokus 17 ausgehende Strahlung in eine festen Abschnitt des Detektionsstrahlengangs, insbesondere auf den Strahlteilers 13, ablenkt, so daß der Abschnitt des Detektionsstrahlengangs zwischen Probe 2 und Ablenkabschnitt 5 entsprechend der Bewegung des Abschnitts des Beleuchtungsstrahlengangs zwischen Ablenkabschnitt 5 und Probe 2 geschwenkt wird, der restliche Teil des Detektionsstrahlengangs jedoch unverändert bleibt.
  • Die Detektionsstrahlung 18 aus dem Fokus 17, von der Beleuchtungsstrahlung angeregte Fluoreszenzstrahlung oder von der Probe 2 aus dem Fokus 17 zurückgeworfene Beleuchtungsstrahlung, tritt durch die Mikroskopoptik 16 und den Ablenkabschnitt 5, wird von dem Strahlteiler 13 umgelenkt und gelangt dann in die konfokale Detektionsoptik 19, die eine Detektionslinse oder -linsengruppe 22 und eine feine Lochblende bzw. pinhole-Blende 23 umfaßt. Die Detektionslinse bzw. -linsengruppe 22 ist so ausgebildet und angeordnet, daß aus dem Fokus 17 kommende Detektionsstrahlung in die Öffnung der Lochblende 23 fokussiert wird und durch diese hindurchtritt, Strahlung aus anderen Bereichen der Probe 2 die Lochblende 23 aber im wesentlichen nicht passieren kann. Auf diese Weise findet eine konfokale Abbildung nur einer im wesentlichen parallel zu der x-y-Ebene verlaufenden Schicht der Probe 2 mit dem Fokus 17 statt. Die Größe der Öffnung der Lochblende 23 bestimmt dabei unter anderem in bekannter Weise die Tiefenauflösung des Laser-Scanning-Mikroskops 1.
  • Hinter der Lochblende 23 ist optional ein in 1 nicht gezeigter Filter der Detektionsoptik 19 angeordnet, der unerwünschte Strahlungsanteile, bei Fluoreszenzuntersuchungen beispielsweise aus dem Fokus 17 zurückgeworfene Beleuchtungsstrahlung, nicht bzw. nur stark geschwächt passieren läßt.
  • Die Detektionsstrahlung 18 gelangt dann auf die Erfassungseinrichtung 7. Die Erfassungseinrichtung 7 besitzt ein Detektionselement 24, im Beispiel einen Photomultiplier, auf den der Fokus 17 abgebildet wird und das die Detektionsstrahlung, die die Lochblende 23 passiert hat, unter Erzeugung und Abgabe von Detektionssignalen detektiert.
  • Die Erfassungseinrichtung 7 und darin insbesondere das Detektionselement 24 ist über eine Signalverbindung mit der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 verbunden, die zum einen der Ansteuerung des Ablenkabschnitts 5 und des Antriebs des Probentischs 34 und zum anderen zur Auswertung der Signale des Erfassungseinrichtung 7, genauer der Bilddatenerfassungs- bzw. Detektionssignale des Photomultipliers 24, und Bildung von entsprechenden Bildern dient. Diese Bilder können mit der mit der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 über eine Signalverbindung verbundenen Anzeigeeinrichtung 9, im Beispiel ein Farbmonitor, angezeigt werden.
  • Die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 ist als Datenverarbeitungseinrichtung ausgebildet und verfügt über eine Erfassungsschnittstelle 26 zu der Erfassungseinrichtung 7 bzw. deren Photomultiplier 24, eine mit der Anzeigeeinrichtung 9 verbundenen Graphikschnittstelle 27, einen Speicher 28, in dem Daten und Instruktionen eines Computerprogramms gespeichert sind, und einen mit den Schnittstellen 26 und 27 und dem Speicher 28 verbundenen Mikroprozessor 29, der bei Ausführung der Instruktionen das im Folgenden beschriebene Verfahren wenigstens teilweise ausführt. In dem Speicher 28, genauer einem nichtflüchtigen Teil des Speichers 28, sind weiter Instruktionen eines Computerprogramms gespeichert, das die Bedienung und Steuerung des Laser-Scanning-Mikroskops, beispielsweise durch Eingabe einer Scangeschwindigkeit und einer Scanamplitude über eine graphische Benutzerschnittstelle erlaubt.
  • Alternativ könnte das Programm auch auf einem Datenträger wie einer CD gespeichert sein, die über ein nicht gezeigtes mit dem Mikroprozessor 19 verbundenes CD-Laufwerk gelesen werden kann.
  • Der Mikroprozessor 29 steuert unter anderem die Scansteuereinheit 35, im Beispiel den Signalprozessor der Scansteuereinheit 35 an. In anderen Ausführungsbeispielen ist es möglich, daß der Mikroprozessor 29 einen Teil der Scansteuereinheit 35 bildet, wozu er dann entsprechend programmiert ist. Scansteuereinheit und Steuer- und Auswerteeinrichtung sind dann teilweise integriert.
  • Weiterhin sind in der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 Einrichtungen zur Synchronisierung der Erfassung von Intensitäten durch den Photomultiplier 24 mit der Stellung des Scanners 14 vorgesehen, die teilweise durch den Mikroprozessor 29 realisiert sein können und daneben noch weitere, dem Fachmann bekannte, in 1 nicht gezeigte Komponenten umfassen können.
  • Aufnahmebilder einer Schicht in der Probe 2, deren Schichtdicke durch die Größe der Öffnung der Blende 23 und die Eigenschaften der Abbildungsoptik 6 gegeben ist, werden durch eine rechteckige Anordnung von Bildelementen bzw. Pixeln 25 wiedergegeben, wie schematisch in 7 gezeigt, in der jedoch die Anzahl der Pixel der besseren Darstellung halber gegenüber der tatsächlichen Anordnung reduziert dargestellt ist.
  • Die Erfassung eines Aufnahmebildes einer Schicht erfolgt folgendermaßen: Die Strahlungsquelle 10 gibt den Beleuchtungsstrahl 4 ab, der mittels des Scanners 14 zeilenweise in x-Richtung über die Probe 2 geführt wird. Von dort ausgehende Detektionsstrahlung wird über die Mikroskopoptik 16 dem Ablenkabschnitt 5 zugeführt, wo diese descannt wird. Nach Umlenkung durch den Strahlteiler werden die konfokalen Anteile durch die Erfassungseinrichtung 7 erfaßt und entsprechende Signale an die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 übermittelt. Dabei erfolgt nach Beendigung der Erfassung einer Zeile von Pixeln eine der x-Bewegung überlagerte Bewegung des Fokus in y-Richtung, wonach die nächste Zeile in x- Richtung, zum Beispiel mit umgekehrter Bewegungsrichtung, erfaßt werden kann.
  • Die Bewegung in x-Richtung erfolgt dabei periodisch. Die Soll-Bewegung ist beispielhaft in 3 dargestellt, in der s die Lage des Fokus in x-Richtung und t die Zeit bezeichnen. Idealerweise bewegt sich der Fokus in x-Richtung auf seinem Weg von einer ersten Endlage zu einer zweiten Endlage und zurück in die erste Endlage, d.h. periodisch, wobei die Bewegung von einer Endlage in die andere jeweils zumindest in dem Nutzbereich, der zur Erfassung eines Bildes verwendet wird und in 3 die Breite 2A hat, geradlinig gleichförmig. Diese Bewegung ist in 3 durch die beiden Geraden 39 gekennzeichnet.
  • Tatsächlich kann der Fokus jedoch nicht mit unendlicher Beschleunigung aus einer der Endlagen beschleunigt bzw. bei Annäherung an die Endlage mit unendlicher Verzögerung gebremst werden. Daher erfolgt zunächst zu Beginn einer Periode, d.h. ausgehend von einem ersten Endpunkt, in 3 der Zeitpunkt 0, eine Beschleunigung auf eine im folgenden gewünschte Geschwindigkeit, die zur Zeit t1 erreicht wird. In dem folgenden Zeitraum bis zur Zeit t2 erfolgt die geradlinig-gleichförmige Hinbewegung, während derer Bilddaten erfaßt werden. Danach wird in der Zeit zwischen t2 und t3 der Antrieb 30 und der Spiegel 31 und damit Fokus 17 auf die Geschwindigkeit Null abgebremst, die im zweiten Endpunkt erreicht wird. Von dort werden der Antrieb 30 und der Spiegel 31 in umgekehrter Richtung bis zur Zeit t4 beschleunigt, zu der wieder die gleiche Geschwindigkeit erreicht wird wie bei der Hinbewegung. Gleichzeitig wird in dem Zeitraum zwischen t2 und t4 durch Ansteuerung des Antriebs für die Bewegung in y-Richtung der Fokus für eine vorgegebene Zeit bzw. um eine vorgegebene Strecke in y-Richtung bewegt, so daß bei der Rückbewegung die nächste Zeile eines Bildes erfaßt werden kann. In dem folgenden Zeitraum bis zur Zeit t5 erfolgt die geradlinig-gleichförmige Rückbewegung, während derer wieder Bilddaten erfaßt werden können. Zwischen den Zeiten t5 und t6 werden der Antrieb 30 und der Spiegel 31 wieder abgebremst, wobei wieder eine Bewegung des Fokus 17 in y-Richtung in die nächste Zeile erfolgt. Die zwischen den Zeiten t1 und t2 bzw. t4 und t5 überstrichenen Bereiche stellen somit Nutzbereiche für die Bilderfassung dar, die Breite 2A ist die doppelte Amplitude A der Scanbewegung.
  • Während der geradlinig-gleichförmigen Hin- und Rückbewegung werden in konstanten Zeitabständen von dem Photomultiplier 24 Intensitäten bzw. Energien der Detektionsstrahlung erfaßt und entsprechende von dem Photomultiplier 24 abgegebene Signale über die Schnittstelle 26 eingelesen, den Pixeln zugeordnet und in dem Speicher 28 der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 gespeichert. Das bedeutet, daß die Anzahl der Pixel einer Zeile durch die Anzahl der Zeitpunkte gegeben ist, zu denen die Intensität der Detektionsstrahlung erfaßt wird. Die den Pixeln zugeordneten erfaßten Intensitätswerte werden als Matrix mit Elementen I(i,p) abgespeichert, wobei der Index p die Position der Zeile i bezeichnet. Der Abstand der durch die Pixel dargestellten Bereiche in dem Bild voneinander ergibt sich als Produkt aus der Geschwindigkeit des Fokus 17 und dem zeitlichen Abstand Δt zwischen der Erfassung aufeinanderfolgender Intensitäten. Da die Zeit bei der periodischen Bewegung weiterläuft, bei der Bewegung in x-Richtung jedoch jeder Ort in einer Periode zweimal überstrichen wird, werden in der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 die Intensitäten direkt entsprechend ihren Pixeln und damit Orten zugeordnet abgespeichert. Dies ist in 7 veranschaulicht: So werden beispielsweise Intensitäten für das der ersten Endlage nächste Pixel mit Index j=1 zu den Zeitpunkten t1 und t2 und für das der zweiten Endlage nächste Pixel mit Index j=pmax, im Beispiel 512, zu den Zeitpunkten t3 und t4 erfaßt und direkt entsprechend abgespeichert.
  • Die der Soll-Bewegung entsprechenden Ansteuersignale werden durch eine Synthese von Frequenzkomponenten erzeugt. Dazu wird zunächst die Soll-Bewegung als Fourier-Reihe mit einer der Periode der x-Bewegung entsprechenden Grundfrequenz f dargestellt. Für die in 3 gezeigte Dreiecksbewegung ergibt sich folgende näherungsweise Darstellung für die Auslenkung Ssoll(t) des Fokus 17 durch entsprechende Auslenkung des Spiegels 31 als Funktion der Zeit t: s s o l l ( t ) k = 1 N s k s o l l cos ( 2 π k f t + φ k s o l l ) = 8 π 2 k = 1 N a k s o l l k 2 cos ( 2 π k f t + φ k s o l l ) ,
    Figure DE102005047218B4_0001
    wobei Sksoll bzw. aksoll Amplitudenkoeffizienten und φksoll Phasenkoeffizienten für die Frequenzkomponente mit der Frequenz k.f bezeichnen. Je größer die positive natürliche Zahl N>1 gewählt wird, desto genauer stellt die Fourier-Summe die Soll-Bewegung dar. In der Praxis wird N so gewählt, daß eine vorgegebene Genauigkeit der Darstellung erzielt wird. In 3 stellt die geschwungene Kurve die Fourier-Summe für N=1 dar.
  • Die Scansteuereinheit 35 erzeugt die Ansteuersignale, die der Stellungsregelung 33 zugeführt werden. Die Ansteuersignale werden dabei vorzugsweise so erzeugt, daß der bewegliche Strahlengangabschnitt bzw. der Fokus 17 in möglichst guter Näherung die Soll-Bewegung ausführt. Dazu wird eine Vorverzerrung (vgl. 4) durchgeführt, die den Einfluß aller zwischengeschalteten Komponenten, beispielsweise der Ansteuerelektronik einschließlich des Antriebs und der mechanischen und optischen Komponenten wie Spiegel usw., in Form einer optischen Übertragungsfunktion U berücksichtigt. Die optische Übertragungsfunktion ist bei Verwendung der oben dargestellten Fourier-Darstellung der Soll-Bewegung durch zwei Anteile, einen Amplitudenanteil UA und einen Phasenanteil UP gegeben, die von der Frequenz abhängen. So gelten bei einer Darstellung von einer Soll-Bewegung entsprechenden Ansteuersignalen als Fourier-Reihe bzw. -Summe s ( t ) k = 1 N s k  cos ( 2 π k f t + φ k )
    Figure DE102005047218B4_0002
    mit Fourier-Amplituden sk und Fourier-Phasen φk, die sich aus den entsprechenden Fourier-Komponenten der Soll-Bewegung ergeben, und einer entsprechenden Darstellung der Bewegung des Fokus s F o k u s ( t ) k = 1 N s F o k u s , k  cos ( 2 π k f t + φ F o k u s , k )
    Figure DE102005047218B4_0003
    die Beziehungen s F o k u s , k = s k U A ( k f )
    Figure DE102005047218B4_0004
    und φ F o k u s , k = φ k U P ( k f ) ,
    Figure DE102005047218B4_0005
    wobei UA(k f) der Amplitudenanteil der Übertragungsfunktion und UP(k f) der Phasenanteil für die Frequenz kf ist.
  • Damit tatsächlich SFokus der Soll-Bahn folgt, wird die Vorverzerrung s V , k = s k / U A ( k f )
    Figure DE102005047218B4_0006
    und φ V , k = φ k U P ( k f ) ,
    Figure DE102005047218B4_0007
    berechnet und die Stellungsregelung mit Ansteuersignalen entsprechend der Fourier-Reihe bzw. -summe mit den vorverzerrten Amplituden sV,k und vorverzerrten Phasen (φV,k der Frequenzanteile angesteuert. Die Stellungsregelung 33 und der Stellungssensor 32, deren Funktion in der Übertragungsfunktion berücksichtigt ist, sorgt dann für eine exakte Ansteuerung des. Antriebs so, daß die notwendige Stellung auch tatsächlich erreicht wird (vgl. 4). Bei vollständiger und exakter Kenntnis der Übertragungsfunktion wird dann bei exakt linearen Systemen der Fokus 17 exakt die Soll-Bewegung ausführen.
  • Die optische Übertragungsfunktion ist jedoch bei einem Laser-Scanning-Mikroskop basierend auf dessen Konstruktion allenfalls theoretisch bekannt. Tatsächlich weicht die tatsächliche Übertragungsfunktion von der theoretischen in aller Regel, beispielsweise aufgrund von Umgebungseinflüssen und Drift in Eigenschaften der verwendeten Bauteile, ab, so daß durch Ansteuerung entsprechend einer Soll-Bewegung eine Ist-Bewegung erreicht wird, die von der Soll-Bewegung abweichen kann. Zur Beseitigung der Abweichungen muß die optische Übertragungsfunktion bestimmt werden. Dies kann beispielsweise mit dem folgenden Ermittlungs- bzw. Kalibrierverfahren geschehen.
  • Bei diesem schematisch in den 5 und 6 dargestellten Kalibrierverfahren wird als Probe eine Referenzprobe 2 verwendet, die Strukturen aufweist, die mit dem Laser-Scanning-Mikroskop 1 erfaßbar sind. Dabei wird vorausgesetzt, daß wenigstens die Formen der Strukturen und deren Lage zueinander bekannt sind. Es wird ein Bild der Referenzprobe unter Verwendung einer Soll-Prüfbewegung erzeugt, aus dem die Ist-Lagen der Strukturen ermittelt und nach Ermittlung der Soll-Lagen in dem Bild mit den Soll-Lagen der Strukturen verglichen werden. Auf der Basis der Abweichungen zwischen Soll- und Ist-Lagen können dann Korrekturen für die optische Übertragungsfunktion bzw. deren Frequenzkomponenten ermittelt werden, so daß bei deren Anwendung eine verbesserte, vorzugsweise exakte Übertragungsfunktion erhalten wird.
  • Im vorliegenden Ausführungsbeispiel wird eine Probe mit einem periodischen Strichgitter verwendet (vgl. 8), dessen Striche 36 einen Abstand voneinander einnehmen, der größer ist als der doppelte Abstand der Fokuslagen auf der Referenzprobe 2 bei zwei aufeinanderfolgenden Erfassungen der Intensität bzw. Energie während einer Bewegung in x-Richtung.
  • Nach Positionierung der Referenzprobe 2 auf dem Probentisch 34 führt die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 zusammen mit der Scansteuereinheit 35 folgendes Verfahren durch, wozu der Mikroprozessor 29 und die Scansteuereinheit 35 bzw. ein digitaler Signalprozessor darin in dem Speicher 28 der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 gespeicherte Instruktionen eines oder mehrerer Computerprogramme abarbeiten.
  • Es wird davon ausgegangen, daß Werte einer Übertragungsfunktion bereits vorhanden und gespeichert sind. Sind keine für den Scanner spezifischen Werte bekannt, kann beispielsweise zunächst davon ausgegangen werden, daß die Amplitudenanteile UA für alle betrachteten Frequenzen den Wert 1 annehmen und die Phasenanteile Up den Wert Null.
  • Zunächst wird in Block S10 eine Referenzabweichungsfunktion ermittelt, die die Abweichungen zwischen Soll- und Ist-Lagen und damit Ist-Bewegungen wiedergibt und unter Verwendung der gespeicherten aktuellen Übertragungsfunktion ermittelt wird.
  • Die Schritte des Blocks S10 sind genauer in 6 dargestellt.
  • Zunächst liest die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 in Schritt S12 den Abstand der Striche 36 der Referenzprobe über eine graphische Benutzerschnittstelle ein. In anderen Ausführungsbeispielen kann der Abstand der Striche auch in einem nichtflüchtigen Teil des Speichers 28 gespeichert sein, der Wert wird dann aus dem Speicher 28 eingelesen.
  • Im folgenden Schritt S14 erfaßt die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 ebenfalls über die graphische Benutzerschnittstelle die Frequenz f und die Amplitude A der Soll-Scanbewegung. Die Frequenz f ist dabei die Grundfrequenz der im folgenden zu bildenden Fourier-Summe. Für den Fall, daß Scan-Programme, d.h. Kombinationen von Scangeschwindigkeiten und -amplituden, bereits vorgegebenen sind, genügt es, daß der Benutzer das entsprechende Scan-Programm auswählt und die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 die entsprechenden Werte aus einem nichtflüchtigen Teil des Speichers 28 ausliest.
  • In dem folgenden Schritt S16 erfaßt die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 weiterhin die Zahl N der zu verwendenden Frequenzkomponenten, die wie die Parameter des Scan-Programms erfaßt werden können. Die Anzahl N soll vorteilhaft so gewählt werden, daß die Frequenz N f kleiner als eine vorgegebene Grenzfrequenz ist, die in Abhängigkeit von den Eigenschaften beispielsweise der Stellungsregelung 33 und des Antriebs 30 gewählt sein kann. Darüber hinaus soll die Anzahl N nicht größer als eine vorgegebene Maximalzahl sein, die in Abhängigkeit von der gewünschten Genauigkeit der Scanbewegung gewählt ist. Vorzugsweise liegt die Zahl N zwischen 10 und 50, um die für Laser-Scanning-Mikroskope notwendige Genauigkeit zu erzielen.
  • In Schritt S 18 setzt die Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 Anfangswerte für die zu korrigierenden, zur Steuerung oder Regelung verwendeten Parameter, d.h. die Amplituden sk und die Phasen φk für die Frequenzkomponenten für Frequenzen k f, für k=1, ...., N. Wie bereits erwähnt, stellt die Scanfrequenz f dabei die Grundfrequenz dar, während die Frequenzen k f für k>2 die Oberschwingungen bzw. Oberfrequenzen sind. Aus den verwendeten, zu korrigierenden Parametern ermittelt sie dann unter Verwendung der optischen Übertragungsfunktion, wie oben beschrieben, unter Vornahme der Vorverzerrung, die Ansteuersignale, die im folgenden Schritt S20 an die Stellungsregelung 33 abgegeben werden, um ein Bild der Referenzprobe 2 zu erfassen. Die optische Übertragungsfunktion ist an vorgegebenen Stützstellen als Tabelle in dem nichtflüchtigen Teil des Speichers gespeichert, wobei entweder die zuletzt benutzten Werte oder geschätzte Werte verwendet werden können. Sollten Werte der Übertragungsfunktion bei benötigten Frequenzen nicht gespeichert sein, können diese durch Interpolation gewonnen werden.
  • In Schritt S20 wird durch periodisches Abscannen der Referenzprobe 2 gemäß der berechneten Ansteuersignale wenigstens in x-Richtung, ein Bild der Referenzprobe 2, d.h. ein Bild wenigstens eines Abschnitts der Referenzprobe 2 erfaßt. Die Referenzprobe 2 ist so orientiert, daß die Gitterstriche in guter Näherung orthogonal zur x-Richtung sind. Die Scanamplitude ist dabei in Abhängigkeit von dem Abstand der Striche und der Anzahl N der Frequenzkomponenten so gewählt, daß wenigstens so viele Gitterstriche erfaßt werden wie Frequenzkomponenten verwendet werden. Das Bild wird dann in Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 in dem Speicher 28, wie oben beschrieben, gespeichert. Es ist in einem anderen Ausführungsbeispiel auch möglich, das Bild mit y-Ablenkung zwischen der Bewegung in x-Richtung zu erfassen.
  • Ein Ausschnitt aus der Referenzprobe 2 und aus dem erfaßten Bild sind in 8 gezeigt. Die Striche 36 der Referenzprobe 2 werden nicht an den Stellen erfaßt an denen sie liegen sollten. Vielmehr werden die Striche während der Hinbewegung an den grob gepunkteten Linien 37 und während der Rückbewegung an den fein gepunkteten Linien 38 erfaßt, so daß sich in den Lagen Abweichungen Δs ergeben.
  • Um diese Abweichungen quantitativ erfassen zu können, werden zunächst die Soll-Lagen der Strukturen bzw. Gitterstriche in den erfaßten Bild ermittelt. Dadurch ist nicht notwendig die Probe mit sehr hoher Präzision auf dem Objekttisch zu positionieren.
  • Dazu wird in Schritt S22 aus dem Bild die Ist-Lage wenigstens einer ersten Struktur der Referenzprobe, im Beispiel des Strichs, die bzw. der während der Hinbewegung im Bild als der Scanzeilenmitte, d.h. der Mitte des Nutzbereichs, am nächsten liegend erfaßt wurde, ermittelt. Dann wird die Ist-Lage eines Strichs im Bild während der Rückbewegung ermittelt, der dem bei der Hinbewegung ermittelten Strich am nächsten liegt. Als berechnete Soll-Lage des Strichs wird nun der Mittelwert der ermittelten Ist-Lagen bei der Hin- und der Rückbewegung berechnet und gespeichert.
  • In Schritt S24 werden dann ausgehend von der Ist-Lage des mittleren Strichs unter Verwendung des bekannten Abstands der Strukturen bzw. Striche voneinander die Soll-Lagen der verbleibenden Striche der Referenzprobe 2 im Bild ermittelt und gespeichert.
  • In Schritt S26 werden dann die Ist-Lagen der verbleibenden Striche und deren Abweichungen von den Soll-Lagen getrennt für die Hin- und Rückbewegung ermittelt. Dazu werden zunächst mit bekannten Verfahren die Ist-Lagen der Strukturen bzw. Striche in dem Bild ermittelt. Dabei erfolgt eine Zuordnung der Ist-Lagen zu Pixeln, d.h. deren Nummern und der Hin- bzw. Rückbewegung. Dann wird für die Striche die Abweichung Δs zwischen Soll- und Ist-Lage berechnet und abgespeichert. Abweichungen sind beispielhaft in 9a für die Hinbewegung und 9b für die Rückbewegung als Funktion der Pixelnummer p dargestellt. Zum besseren Verständnis auch der folgenden Schritte sind unter den Pixeln jeweils die Zeiten angegeben, zu denen die Werte erfaßt wurden. Die Ist-Lagen der Striche können dabei durch Interpolation des Intensitätsverlaufs sub-pixel-genau ermittelt werden.
  • In Schritt S28 wird dann eine Abweichungsfunktion ermittelt, die die Abweichungen Δs als Funktion der Zeit t während der Bewegung und nicht als Funktion der Pixelnummer p darstellt. Eine solche Funktion, die nur durch die Werte an den Erfassungszeitpunkten gegeben ist, ist teilweise und beispielhaft in 10 dargestellt. Die erfaßten und den Pixeln zugeordneten Abweichungswerte werden dazu so umgeordnet, daß sie nach ihrer Erfassungszeit geordnet sind. Die Werte in den fünf verschiedenen Perioden der Prüfbewegung werden dazu unterschiedlich behandelt:
    • In der Zeit zwischen 0 und t1, in der der Antrieb 32 und der Spiegel 33 vom Stillstand im Umkehrpunkt bzw. der ersten Endlage der Bewegung auf die gewünschte Scangeschwindigkeit beschleunigt wird, werden keine Abweichungen ermittelt. Daher brauchen für diesen Zeitraum auch keine Bildpunkte erfaßt zu werden.
  • Bei der Hinbewegung zwischen den Zeiten t1 und t2 bewegt der Scanner 14 den Fokus 17 mit entsprechend der Güte der aktuellen Kalibrierung wenigstens näherungsweise konstanter Geschwindigkeit, wobei die in konstanten Zeitabständen die Intensitäts- bzw. Energiewerte erfaßt werden. Diese werden nacheinander Pixeln mit aufsteigender Ordinalzahl für die y-Richtung zugeordnet. Den Pixeln bzw. den Abweichungen werden daher als Zeiten die Erfassungszeiten tp zugeordnet. Diese ergeben sich aus der Ordinalzahl p des Pixels multipliziert mit dem konstanten Zeitabstand Δt zwischen der Erfassung unmittelbar aufeinanderfolgender Intensitätswerte zuzüglich der Zeit t1: t p = p Δ t + t 1
    Figure DE102005047218B4_0008
  • Ein Umordnen ist daher nicht notwendig.
  • Zwischen den Zeiten t2 und t3, d.h. der Umkehrzeit für das Abbremsen bis in die zweite Endlage und das Beschleunigen aus der zweiten Endlage in Richtung der ersten Endlage, werden keine Abweichungen bestimmt, so daß auch hier keine Intensitäten erfaßt zu werden brauchen.
  • Bei der Rückbewegung zwischen den Zeiten t3 und t4 bewegt der Scanner den Fokus 17 mit entsprechend der Güte der aktuellen Kalibrierung wenigstens näherungsweise konstanter Geschwindigkeit, wobei die in konstanten Zeitabständen die Intensitäts- bzw. Energiewerte erfaßt werden. Diese werden jedoch wegen der Rückbewegung zeitlich nacheinander Pixeln mit absteigender Ordinalzahl für die y-Richtung zugeordnet. Jedem der Pixel wird daher für die Rückbewegung die Erfassungszeit tp zugeordnet, die sich beispielsweise aus der Maximalzahl pmax der erfaßten Pixel, der Ordinalzahl p des jeweiligen Pixels und dem Zeitabstand zwischen der Erfassung der Intensität für zwei unmittelbar aufeinanderfolgende Pixel sowie der Zeit t3 ergibt: t p = ( p m a x p ) Δ t + t 3
    Figure DE102005047218B4_0009
  • Diese Zeiten werden den Abweichungen für die Pixel bei der Rückbewegung zugeordnet, wobei diese entsprechend den Zeiten tp umgeordnet werden, indem deren Reihenfolge umgekehrt wird.
  • In dem Zeitraum zwischen den Zeiten t4 und t5, in dem in der ersten Hälfte der Umkehrbewegung der Antrieb 32 und der Spiegel 33 abgebremst werden, um dann in der ersten Endlage die Geschwindigkeit Null zu erreichen, werden wiederum keine Abweichungswerte ermittelt.
  • Das Ergebnis dieses Schritts ist eine Referenzfunktion bzw. Kurve für die Abweichungen der Ist-Prüfbewegung von der Soll-Prüfbewegung ermittelt anhand eines bidirektional aufgenommenen Bildes der Referenzprobe mit in ihren Relativlagen zueinander bekannten Strukturen. Die Stützstellen, an denen die Abweichungen, d.h. die Werte der Abweichungsfunktion gegeben sind, sind dabei nicht äquidistant, vielmehr treten durch die Umkehrperioden verursachte Lücken auf.
  • In Schritt S30 werden nun eine Testfrequenz auf die Grundfrequenz und ein Parameter ktest auf den Wert 1 gesetzt.
  • In Schritt S32 wird zu dem Ansteuersignal eine Frequenzkomponente Z(t) mit der Testfrequenz ktestf addiert, deren Amplitude δs vorzugsweise so gewählt ist, daß sie einerseits deutlich kleiner ist als der Wert der Amplitude sktest, andererseits aber eine durch die Änderung hervorgerufene Änderung der Abweichung Δs noch mit nur geringem Fehler detektierbar ist. Die Phase φZ der hinzugefügten harmonischen Funktion wird vorteilhafterweise so gewählt, daß die resultierende Abweichungskurve näherungsweise symmetrisch zum Mittelpunkt der Hin- und Rückbewegung liegt. Dies erleichtert die Auswertung der Antwort auf die Änderung.
  • Dann werden wiederum die Schritte S18 bis S28 mit den veränderten Frequenzanteilen als Ausgangswerte für die Ermittlung der Anfangswerte durchgeführt, wobei eine geänderte Abweichungsfunktion erhalten wird. Diese Schritte sind in 5 durch einen Block S34 dargestellt.
  • In Schritt S36 wird dann die Differenzfunktion der in Block S34 ermittelten Abweichungsfunktion und der in Block S10 erhaltenen Referenzabweichungsfunktion ermittelt. Die Differenz ist die Antwort des Scanners auf die zusätzlich angebrachte Anregung, die durch die Frequenzkomponente Z(t) beschrieben wird. Die Antwort ist, wenn ein lineares System vorausgesetzt wird, wiederum eine harmonische Funktion mit der Testfrequenz, aber gegenüber der Frequenzkomponente der Soll-Prüfbewegung geänderter Amplitude und Phase.
  • In Schritt S38 werden daher Amplitude Am und Phase Pm der Differenz- bzw. Antwortfunktion durch Anpassung mit einer harmonischen Funktion ermittelt.
  • In Schritt S40 wird dann die Übertragungsfunktion des Scanners korrigiert, indem die Frequenzkomponente der Übertragungsfunktion für die Testfrequenz geändert wird. Dazu werden der Amplituden- und der Phasenanteil UA bzw. UP anhand der Amplitude Am und Phase Pm der Antwortkurve und der Amplitude δs und Phase φz ermittelt und statt der bisher gespeicherten Werte gespeichert. In einem anderen Ausführungsbeispiel kann der Amplituden- und der Phasenanteil UA bzw. UP anhand der Amplitude und Phase der Antwortkurve und der Amplitude und Phase jeweils als gleitender Mittelwert über mehrere, beispielsweise 4 oder 5 Messungen ermittelt werden.
  • In Schritt S42 wird dann der Wert ktest um 1 erhöht. Ist der resultierende Wert kleiner als N, so wird die Testfrequenz auf den Wert ktest·f gesetzt und das Verfahren mit Schritt S32 fortgesetzt. Andernfalls wird das Korrekturverfahren beendet.
  • Auf diese Weise wird die Übertragungsfunktion des Scanners über den ganzen verwendeten Frequenzbereich so korrigiert, daß die Abweichungen zwischen Soll-Bewegung und Ist-Bewegung des Fokus 17 reduziert, im Idealfall minimiert, werden. Diese Korrektur ist gleichzeitig als Ermittlung der optischen Übertragungsfunktion anzusehen.
  • Unmittelbar nach der Ermittlung der optischen Übertragungsfunktion wird eine Antriebseinheitsübertragungsfunktion ermittelt, die bei Verwendung der oben verwendeten Fourier-Darstellung ebenfalls einen Amplitudenanteil UA, el und einen Phasenanteil UP, el aufweist.
  • Diese Antriebseinheitsübertragungsfunktion wird von der Scansteuereinheit 35 bzw. dem Signalprozessor darin folgendermaßen ermittelt.
  • Für die Grundfrequenz und jede der verwendeten Oberfrequenzen wird über die Scansteuereinheit 35 jeweils eine harmonische Ansteuerspannung bekannter Amplitude erzeugt und dem Antrieb 30 zugeführt. Dabei wird das Rückmeldesignal des Stellungssensors 31 erfaßt, das ebenfalls eine harmonische Funktion gleicher Frequenz, aber im allgemeinen mit anderer Amplitude und anderer Phase ist. Als Frequenzkomponente des Amplitudenanteils UA,el wird das Verhältnis der Amplitude des Rückmeldesignals zu der Amplitude der Ansteuerspannung verwendet und als Frequenzkomponente des Phasenanteils UP,el die Differenz zwischen der Phase des Ansteuersignals und der Phase des Rückmeldesignals. Die für die jeweiligen Frequenzen ermittelten Werte werden wie die der optischen Übertragungsfunktion in einer Tabelle als Funktion der Frequenz gespeichert.
  • Bei dem Korrekturverfahren nach einer ersten bevorzugten Ausführungsform der Erfindung wird nun ausgehend von der gespeicherten optischen Übertragungsfunktion und der gespeicherten Antriebseinheitsübertragungsfunktion eine Korrektur durchgeführt.
  • Dazu ist die Scansteuereinheit 35 so programmiert, daß diese nach dem Einschalten und einer vorgegebenen Aufwärmzeit von im Beispiel etwa 5 Minuten seit Einschalten des Scanners 14 wie zuvor geschildert für eine gespeicherte Frequenz ktest·f aktuelle Werte UA,el akt(ktest·f) und UP, el akt(ktest·f) für die Antriebseinheitsübertragungsfunktion ermittelt. Dazu verfügt sie über eine über Software implementierte Zeitschalteinrichtung, die den Ablauf der vorgegebenen Aufwärmzeit überwacht.
  • In dem folgenden Schritt wird dann die optische Übertragungsfunktion gemäß folgender Formeln korrigiert, in der zur besseren Unterscheidung die optische Übertragungsfunktion nun statt mit U mit Uoptisch bezeichnet ist: U A , o p t i s c h , k o r r ( k t e s t f ) = U A , o p t i s c h ( k t e s t f ) U A , e l ( k t e s t f ) U A , e l , a k t ( k t e s t f )
    Figure DE102005047218B4_0010
    und U A , o p t i s c h , k o r r ( k t e s t f ) = U P , o p t i s c h ( k t e s t f ) U P , e l ( k t e s t f ) + U P , e l , a k t ( k t e s t f ) .
    Figure DE102005047218B4_0011
  • Die zuletzt gespeicherten Werte UA, optisch(ktest·f)und UP, optisch(ktest·f) werden dann im Speicher 28 durch die ermittelten Werte ersetzt.
  • Daraufhin wird der Index ktest um 1 erhöht. Wenn er den Höchstwert N überschreitet, wird ktest zurück auf 1 gesetzt, so daß bei der nächsten Korrektur eine Korrektur für die Grundfrequenz durchgeführt wird.
  • Im Laufe der Zeit ergibt sich so eine Korrektur für alle Frequenzen.
  • Bei einer anderen bevorzugten Ausführungsform ist die Programmierung der Scansteuereinheit 35 und gegebenenfalls der Steuer- und Auswerteeinrichtung 8 in der Art geändert, daß der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt für mehrere vorgegebene Frequenzen durchgeführt werden. Dabei sind die Frequenzen, beispielsweise 5 Frequenzen bei etwa 30 verwendeten Oberfrequenzen, gleichmäßig über den gesamten verwendeten Frequenzbereich gestreut. Mittels eines Interpolationsmodells, beispielsweise Ausgleichssplines in einer doppeltlogarithmischen Darstellung, können dann Werte für die dazwischen liegenden Frequenzen interpoliert werden. Bei einer Wiederholung der Korrektur werden jeweils andere 5 Frequenzen, die beispielsweise um die Grundfrequenz erhöht sind, verwendet. Auf diese Weise kann bei jeder Durchführung eine bessere Korrektur erzielt werden.
  • Es können bei anderen bevorzugten Ausführungsformen auch andere Modelle verwendet werden, bei denen eine funktionale Form der Frequenzabhängigkeit durch eine parametrisierte Funktion vorgegeben ist. Die Parameter können dann durch Anpassung bestimmt werden.
  • Bei einer weiteren bevorzugten Ausführungsform kann durch entsprechende Programmierung der Scansteuereinheit 35 und der Steuer- und Auswerteeinheit 8 eine Auslösung des Korrekturverfahrens altemativ oder zusätzlich manuell bei Bedarf gestartet werden.
  • Bei noch einer weiteren bevorzugten Ausführungsform des Verfahrens wird im Unterschied zum ersten Ausführungsbeispiel nicht die Übertragungsfunktion korrigiert, sondem es werden die die Soll-Bewegung bzw. die entsprechenden Ansteuersignale darstellenden Parameter sk und (φk korrigiert. Dazu ist die Programmierung der Scansteuereinheit 35 entsprechend geändert, die anderen Komponenten des Scanners und des Laser-Scanning-Mikroskops bleiben unverändert, so daß die Ausführungen zu den vorhergehenden Ausführungsbeispielen auch hier gelten. Die Formeln für die korrigierten Fourier-Amplituden und -Phasen sktest, korr und φktest. korr lauten dann s k t e s t , k o r r = U A , e l ( k t e s t f ) U A , e l , a k t ( k t e s t f ) s k t e s t
    Figure DE102005047218B4_0012
    und φ k t e s t , k o r r = φ k t e s t + U P , e l ( k t e s t f ) U P , e l , a k t ( k t e s t f ) ,
    Figure DE102005047218B4_0013
    wobei sktest und φktest die vor der Korrektur gespeicherten Parameterwerte bezeichnen, die zur gleichen Zeit ermittelt und gespeichert wurden wie UA.el und UP,el.
  • Die Ansteuerung der Scanner erfolgt dann ab diesem Zeitpunkt mit den Parametern sktest,korr und φktest,korr. Die Originalparameter sktest und φktest der Ansteuersignale und die zugehörigen Parameter UA,el und UP,el der Übertragungsfunktion werden für die Korrektur weiterer Frequenzkomponenten bzw. für die erneute spätere Korrektur derselben Frequenzkomponente im Speicher 28 gehalten.

Claims (12)

  1. Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners (14), der ein strahlablenkendes Element (31) zur Ablenkung eines Strahls optischer Strahlung und eine Antriebseinheit (30, 30', 35) zur Bewegung des strahlablenkenden Elements (31) aufweist, wobei - die Antriebseinheit (30, 30', 35) gemäß Ansteuersignalen, angesteuert wird und - in einem Ermittlungsschritt für wenigstens eine vorgegebene Frequenz ein aktueller Wert einer Antriebseinheitsübertragungsfunktion, die die Antwort der Antriebseinheit (30, 30', 35) auf Ansteuersignale für eine vorgegebene Soll-Bewegung oder Änderung einer Soll-Bewegung wiedergibt, ermittelt wird, dadurch gekennzeichnet, dass - die Steuerung auf Basis einer optischen Übertragungsfunktion erfolgt und - in einem Korrekturschritt in Abhängigkeit vom aktuellen Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion die optische Übertragungsfunktion korrigiert wird.
  2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die optische Übertragungsfunktion aus der Abtastung einer Referenzprobe (2) mit in ihren Relativlagen zueinander bekannten Strukturen ermittelt wird.
  3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt in vorgegebenen zeitlichen Abständen wiederholt werden.
  4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt bei jedem Einschalten des Scanners (14) oder in einem vorgegebenen Zeitabstand nach jedem Einschalten durchgeführt werden.
  5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt wiederholt wird, und die in diesen Schritten verwendete Frequenz bei jeder Wiederholung geändert wird.
  6. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem der Ermittlungsschritt und der Korrekturschritt für mehrere vorgegebene Frequenzen durchgeführt werden.
  7. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem in dem Korrekturschritt eine Abweichung des aktuellen Wertes der Antriebseinheitsübertragungsfunktion von einem entsprechenden früher gespeicherten Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion, der innerhalb eines vorgegebenen Zeitintervalls vor oder nach der Ermittlung des Wertes der aktuell verwendeten optischen Übertragungsfunktion bei der Frequenz ermittelt wurde, bestimmt wird und die Abweichung zur Korrektur verwendet wird.
  8. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei der im Korrekturschritt die Korrektur für die wenigstens eine Frequenz durchgeführt wird und zur Korrektur für andere Frequenzen ein Modell für die Frequenzabhängigkeit der zu korrigierenden Übertragungsfunktion bestimmt wird.
  9. Optischer Scanner mit einem strahlablenkenden Element (31) zur Ablenkung eines Strahls optischer Strahlung und einer Antriebseinheit (30, 30', 35) zur Bewegung des strahlablenkenden Elements (31) und einer mit der Antriebseinheit (30, 30') zur Übermittlung von Ansteuersignalen verbundenen Scansteuereinheit (35), die zur Ausführung eines Verfahrens gemäß einem der Ansprüche 1 bis 8 ausgebildet ist.
  10. Optischer Scanner nach Anspruch 9, bei dem die Antriebseinheit (30, 30') einen Schrittmotor zur Bewegung des strahlablenkenden Elements (31) und/oder einen Stellungssensor (32) zur Erfassung der Stellung eines Motors oder eines mechanischen Koppelelements der Antriebseinheit (30, 30') aufweist und die Scansteuereinheit (35) weiter so ausgebildet ist, daß im Ermittlungsschritt die Stellung des Schrittmotors oder ein Stellungssignal des Stellungssensors (32) dazu verwendet wird, um den aktueller Wert der Antriebseinheitsübertragungsfunktion zu ermitteln.
  11. Optischer Scanner nach Anspruch 9 oder 10, der eine Zeitschalteinrichtung aufweist, die die Scansteuereinheit (35) wiederholt in vorgegebenen zeitlichen Abständen so ansteuert, daß diese den Ermittlungs- und den Korrekturschritt ausführt.
  12. Laser-Scanning-Mikroskop mit einem optischen Scanner nach einem der Ansprüche 9 bis 11.
DE102005047218.4A 2005-10-01 2005-10-01 Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop Active DE102005047218B4 (de)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005047218.4A DE102005047218B4 (de) 2005-10-01 2005-10-01 Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop
US11/525,209 US20070086048A1 (en) 2005-10-01 2006-09-22 Method for correcting a control of an optical scanner and the optical scanner
US12/823,242 US8013288B2 (en) 2005-10-01 2010-06-25 Method for correcting a control of an optical scanner and the optical scanner

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102005047218.4A DE102005047218B4 (de) 2005-10-01 2005-10-01 Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE102005047218A1 DE102005047218A1 (de) 2007-04-05
DE102005047218B4 true DE102005047218B4 (de) 2021-10-07

Family

ID=37852740

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102005047218.4A Active DE102005047218B4 (de) 2005-10-01 2005-10-01 Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop

Country Status (2)

Country Link
US (2) US20070086048A1 (de)
DE (1) DE102005047218B4 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005047200B4 (de) * 2005-10-01 2021-05-06 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes einer Probe durch Abscannen der Probe
DE102008010435B4 (de) * 2008-02-21 2010-07-29 Tecan Trading Ag Datenerfassungsverfahren mit einem Laser Scanner-Gerät
JP5897563B2 (ja) * 2010-06-30 2016-03-30 ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・コーポレイション ライン走査式顕微鏡における同期用システム
DE102010040611A1 (de) * 2010-09-13 2012-03-15 Sulfurcell Solartechnik Gmbh Spektrometer zur Erfassung opto-elektronischer Materialeigenschaften einer Halbleiterprobe
US8274724B2 (en) * 2011-01-28 2012-09-25 Prysm, Inc. Optical beam control based on flexure actuation with positioning sensing and servo control
US8582191B2 (en) 2011-01-28 2013-11-12 Prysm, Inc. Positioning sensing and position servo control
US9520813B2 (en) * 2011-10-27 2016-12-13 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Actuator drive device
US9485383B2 (en) 2013-12-04 2016-11-01 Canon Kabushiki Kaisha Image based correction of distortion from a scanner
CN105403313A (zh) * 2015-12-05 2016-03-16 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所 红外面阵扫描成像系统及其控制方法
DE102018109055A1 (de) * 2018-04-17 2019-10-17 Carl Zeiss Microscopy Gmbh Geregelte Steuerung eines Scanners mit Frequenzraumanalyse einer Regelabweichung

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1026286B (de) 1955-06-11 1958-03-20 Nippon Soda Co Verfahren zur Herstellung von Titantetrachlorid
DE3125449C2 (de) 1981-06-27 1990-04-19 Klaus Dipl.-Phys. Dr. 6104 Seeheim-Jugenheim De Blasche
US5478997A (en) 1988-10-21 1995-12-26 Symbol Technologies, Inc. Symbol scanning system and method having adaptive pattern generation
US5504316A (en) 1990-05-08 1996-04-02 Symbol Technologies, Inc. Laser scanning system and scanning method for reading 1-D and 2-D barcode symbols
DE19702752A1 (de) 1997-01-27 1998-07-30 Zeiss Carl Jena Gmbh Ansteuersystem für einen Scannerantrieb
DE19710714C1 (de) 1997-03-14 1998-09-24 Max Planck Gesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Steuerung schneller periodischer Bewegungen
US6107770A (en) 1998-01-27 2000-08-22 Lockheed Martin Corporation Control system for counter-oscillating masses
DE10038622A1 (de) 2000-08-03 2002-02-21 Leica Microsystems Scan-Mikroskop,optische Anordnung und Verfahren zur Bildaufnahme in der Scan-Mikroskopie
EP1238745A2 (de) 2001-03-07 2002-09-11 Nec Corporation Vorrichtung zum Steuern eines Galvanometers und Laserschweissmachine
US20030010888A1 (en) 2001-07-11 2003-01-16 Yasuhiro Shimada Image projector and image correction method
DE10237384A1 (de) 2002-08-12 2004-03-04 Zeiss Optronik Gmbh Scanner und Verfahren zum Betreiben eines Scanners
US20040212862A1 (en) 2003-01-20 2004-10-28 Hitachi Via Mechanics, Ltd. Optical scanner and laser machining apparatus
US20050128553A1 (en) 2003-12-12 2005-06-16 Hitachi Via Mechanics Ltd. Scanner system
DE102004042031A1 (de) 2004-02-19 2005-09-08 Hitachi Via Mechanics, Ltd., Ebina Steuerverfahren für optischen Scanner, optischer Scanner und Laserbearbeitungsvorrichtung

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10037783A1 (de) * 2000-08-03 2002-02-14 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zur Phasenkorrektur von Positions- und Detektionssignalen in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
DE10126286A1 (de) 2001-05-30 2002-12-19 Leica Microsystems Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1026286B (de) 1955-06-11 1958-03-20 Nippon Soda Co Verfahren zur Herstellung von Titantetrachlorid
DE3125449C2 (de) 1981-06-27 1990-04-19 Klaus Dipl.-Phys. Dr. 6104 Seeheim-Jugenheim De Blasche
US5478997A (en) 1988-10-21 1995-12-26 Symbol Technologies, Inc. Symbol scanning system and method having adaptive pattern generation
US5504316A (en) 1990-05-08 1996-04-02 Symbol Technologies, Inc. Laser scanning system and scanning method for reading 1-D and 2-D barcode symbols
DE19702752A1 (de) 1997-01-27 1998-07-30 Zeiss Carl Jena Gmbh Ansteuersystem für einen Scannerantrieb
DE19710714C1 (de) 1997-03-14 1998-09-24 Max Planck Gesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Steuerung schneller periodischer Bewegungen
US6107770A (en) 1998-01-27 2000-08-22 Lockheed Martin Corporation Control system for counter-oscillating masses
DE10038622A1 (de) 2000-08-03 2002-02-21 Leica Microsystems Scan-Mikroskop,optische Anordnung und Verfahren zur Bildaufnahme in der Scan-Mikroskopie
EP1238745A2 (de) 2001-03-07 2002-09-11 Nec Corporation Vorrichtung zum Steuern eines Galvanometers und Laserschweissmachine
US20030010888A1 (en) 2001-07-11 2003-01-16 Yasuhiro Shimada Image projector and image correction method
DE10237384A1 (de) 2002-08-12 2004-03-04 Zeiss Optronik Gmbh Scanner und Verfahren zum Betreiben eines Scanners
US20040212862A1 (en) 2003-01-20 2004-10-28 Hitachi Via Mechanics, Ltd. Optical scanner and laser machining apparatus
US20050128553A1 (en) 2003-12-12 2005-06-16 Hitachi Via Mechanics Ltd. Scanner system
DE102004042031A1 (de) 2004-02-19 2005-09-08 Hitachi Via Mechanics, Ltd., Ebina Steuerverfahren für optischen Scanner, optischer Scanner und Laserbearbeitungsvorrichtung

Also Published As

Publication number Publication date
US20100321752A1 (en) 2010-12-23
US20070086048A1 (en) 2007-04-19
US8013288B2 (en) 2011-09-06
DE102005047218A1 (de) 2007-04-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102005047218B4 (de) Verfahren zur Steuerung eines optischen Scanners, optischer Scanner und Laser-Scanning-Mikroskop
DE102005047200B4 (de) Verfahren zur Korrektur einer Steuerung eines optischen Scanners in einer Vorrichtung zur scannenden Abbildung einer Probe und Vorrichtung zur Erzeugung eines Bildes einer Probe durch Abscannen der Probe
EP1825217B1 (de) Vermessungseinrichtung und verfahren nach dem grundprinzip der konfokalen mikroskopie
EP0168643B1 (de) Gerät zur Wafer-Inspektion
EP2766765B1 (de) Mikroskop und verfahren zur spim mikroskopie
DE10038622A1 (de) Scan-Mikroskop,optische Anordnung und Verfahren zur Bildaufnahme in der Scan-Mikroskopie
EP1617267A2 (de) Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung
EP1728115A1 (de) Hochgeschwindigkeits-vermessungseinrichtung und verfahren nach dem grundprinzip der konfokalen mikroskopie
DE102007018048A1 (de) Verfahren und Anordnung zur optischen Abbildung mit Tiefendiskriminierung
EP1610088A1 (de) Vorrichtung zum optischen Vermessen eines Objektes
EP1617250A1 (de) Verfahren zur Erfassung mindestens eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Beleuchtung
DE10050529B4 (de) Verfahren zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop, Anordnung zur Strahlsteuerung in einem Scanmikroskop und Scanmikroskop
DE10139920B4 (de) Scanmikroskop und Verfahren zum Scannen eines Objekts
DE10126286A1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Punktweisen scannen einer Probe
DE102005045163B4 (de) Vorrichtung und Verfahren zur Detektion mit einem Scanmikroskop
EP1178344B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Bildentzerrung in der Scanmikroskopie und Scanmikroskop
EP0466979A1 (de) Anordnung zur simultanen konfokalen Bilderzeugung
EP1617262A1 (de) Verfahren zur Erfassung eines Probenbereiches mit einem Lichtrastermikroskop mit punktförmiger Lichtquellenverteilung
DE10160172B4 (de) Laserscanningmikroskop und Laserscanningmikroskopieverfahren
WO2018054944A1 (de) Mikroskopbeleuchtungsanordnung zur strukturierten beleuchtung
DE102019102330C5 (de) Optisches System für ein Mikroskop, Mikroskop mit einem optischen System und Verfahren zur Abbildung eines Objekts unter Verwendung eines Mikroskops
DE102009012248A1 (de) Autofokusverfahren und Abbildungsvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP1617263A1 (de) Lichtrastermikroskop und Verwendung
EP0961930B1 (de) Lichtabtastvorrichtung
DE102007008009B3 (de) Verfahren zur Ansteuerung eines Scanmikroskops

Legal Events

Date Code Title Description
OM8 Search report available as to paragraph 43 lit. 1 sentence 1 patent law
R012 Request for examination validly filed

Effective date: 20120913

R082 Change of representative

Representative=s name: GEYER, FEHNERS & PARTNER (G.B.R.), DE

R081 Change of applicant/patentee

Owner name: CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH, DE

Free format text: FORMER OWNER: CARL ZEISS JENA GMBH, 07745 JENA, DE

Effective date: 20130206

R082 Change of representative

Representative=s name: PATENTANWAELTE GEYER, FEHNERS & PARTNER MBB, DE

Effective date: 20130206

Representative=s name: GEYER, FEHNERS & PARTNER (G.B.R.), DE

Effective date: 20130206

R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final