DE102004045808A1 - Optische Messvorrichtung zur Vermessung von mehreren Flächen eines Messobjektes - Google Patents
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Abstract
Es wird eine optische Messvorrichtung (1) zur Vermessung von mehreren Flächen (5, 10) eines Messobjektes (15) mittels einer Anordnung von optischen Elementen vorgeschlagen. Die erste zu vermessende Fläche (5) kann beispielsweise die Innenwandung einer engen Führungsbohrung sein, während die zweite zu vermessende Fläche (10) durch ein an einem Ende der Führungsbohrung positionierter, kegelförmiger Abschnitt eines Ventilsitzes gebildet wird. Als optische Elemente der Messvorrichtung (1) sind mindestens ein Strahlteiler (20; 20a) und ein Linsensystem (25) so angeordnet, dass ein erster Teil (30) der auf den Strahlteiler (20; 20a) einfallenden Lichtstrahlen (35) senkrecht auf die erste Fläche (5) des Messobjektes (10) gerichtet wird, und ein zweiter Teil (40) der auf den Strahlteiler (20; 20a) einfallenden Lichtstrahlen (35) auf das dem Strahlteiler (20; 20a) nachgelagertes Linsensystem (25) auftritt und über das Linsensystem (25) senkrecht auf die zweite Fläche (40) gerichtet wird.
Description
- Die Erfindung betrifft eine optische Messvorrichtung zur Vermessung von mehreren Flächen eines Messobjektes mittels einer Anordnung von optischen Elementen. Weiter betrifft die Erfindung eine Verwendung der optischen Messvorrichtung als ein Objektiv für das Messobjekt.
- Interferometrische Systeme eignen sich unter anderem für berührungslose Untersuchungen von Oberflächen verschiedener Messobjekte. Zur Erfassung der Oberflächenkontur eines zu untersuchenden Objektes trifft ein Objektstrahl aus einer Lichtquelle des Interferometers die Oberfläche an dem zu messenden Bereich. Der von der Oberfläche reflektierte Objektstrahl wird einem Detektor des Interferometers zugeführt und bildet zusammen mit einem Referenzstrahl ein Interferenzmuster, aus dem sich die Weglängendifferenz der beiden Strahlen ableiten lässt. Diese gemessene Weglängendifferenz der beiden Strahlen entspricht der Topographieänderung der Oberfläche.
- Insbesondere mit einem Weisslichtinterferometer, bei dem die Lichtquelle eine kurzkohärente Strahlung abgibt, ist es auch möglich, das Messobjekt mittels Tiefenabtastung abzuscannen. Wie beispielsweise in der nicht vorveröffentlichten Patentanmeldung DE-103 25 443.9 erläutert, wird dabei die kurzkohärente Strahlung über einen Strahlteiler in einen Objektstrahl und in einen Referenzstrahl aufgeteilt. Die zu vermessende Objektoberfläche wird über ein Objektiv auf einen Bildaufnehmer, beispielsweise auf eine CCD-Kamera („charge-coupled device"-Kamera), abgebildet und von der durch den Referenzstrahl gebildeten Referenzwelle überlagert. Die Tiefenabtastung kann durch Bewegen eines den Referenzstahl reflektierenden Referenzspiegels oder des Objektivs relativ zu der Messvorrichtung durchgeführt werden. Beim Bewegen des Objektes sind Bildebene des Objektes und Referenzebene in derselben Ebene. Während der Tiefenabtastung bleibt das Objekt starr im Gesichtsfeld der CCD-Kamera, und das Objekt wird nur in der Tiefenachse relativ zur Referenzebene bewegt. Auf diese Weise können Messungen technischer Oberflächen mit einer Tiefenauflösung im Bereich weniger Nanometer vermessen werden. Technische Grundlagen zu diesem Messverfahren findet man auch im Beitrag „Three-dimensional sensing of rough surfaces by coherence radar" (T. Dresel, G. Häusler, H. Venzke, Appl. Opt. 31 (7), p. 919-925, 1992).
- Ist dabei die zu vermessende Fläche des Messobjektes keine einheitliche, flache Ebene, so ist ein Spezial-Objektiv für das Vermessen des Messobjektes notwendig. Denn bei jedem Messvorgang muss dafür gesorgt werden, dass die Strahlen beim Abtasten möglichst senkrecht auf die zu vermessenden Flächen auftreffen. Aus der DE-101 31 778 A1 ist beispielsweise eine Anordnung von optischen Elementen bekannt, mit der auch gekrümmte Oberflächen vermessen werden können. So zeigt z. B. die
1c aus der genannten Schrift, wie mit der dort vorgestellten Rundsichtoptik auch schwer zugängliche Messflächen wie die Innenfläche eines Zylinders bzw. einer Bohrung vermessen werden können. Mittels eines Ablenkprismas in der Rundsichtoptik werden die Strahlen senkrecht auf die Innenfläche der Bohrung gelenkt. In einem weiteren Ausführungsbeispiel kann die Rundsichtoptik, wie in1d in der genannten Schrift dargestellt, für eine innere Kegelfläche bei einem Übergangsbereich der Bohrung ausgelegt sein. Mit Hilfe der speziellen Optik werden die auf die Optik auftreffenden, parallelen Strahlen auf der Objektseite in Strahlen umgewandelt, die senkrecht auf die Kegelfläche stehen, d. h. die Strahlen werden aufgefächert. In der Praxis ist es jedoch vorteilhaft, wenn beide Flächen, also die Innenfläche einer Bohrung und die durch eine weitere Verengung der Bohrung hervorgerufene, innere Kegelfläche gleichzeitig vermessen werden kann. Solche Anforderungen entstehen zum Beispiel, wenn die Lage einer Führungsbohrung zu einem kegelförmigen Ventilsitz vermessen wird. Nach dem Stand der Technik können zwei oder mehr Rundsichtoptiken derart angeordnet und ausgelegt sein, dass gleichzeitig außer von einem Oberflächenbereich von mindestens einem weiteren Oberflächenbereich ein geebnetes Bild erzeugbar ist. Im Referenzlichtweg kann dann ebenfalls entsprechend der Anzahl der weiteren Oberflächenbereiche zum Erzeugen unterschiedlicher optischer Weglängen mindestens eine weitere Referenzebene angeordnet sein. So kann die Lage der Führungsbohrung zu einem räumlich getrennten Ventilsitz gemessen werden. - Mit nur einem Objektiv ist also die Vermessung der beiden Flächen nicht möglich. Eine einfache Kombination der beiden Ausführungsbeispiele mit einem Ablenkspiegel (
1c ) und mit einer strahlen-auffächernden Optik (1d ) aus dem Stand der Technik führt nicht zu einem Erfolg, da die Strahlen entweder nur die Innenfläche der Bohrung oder nur die innere Kegelfläche erfassen würden, je nach Reihenfolge der Aufstellung der beiden optischen Elemente. - Vorteile der Erfindung
- Die erfindungsgemäße optische Messvorrichtung mit den in Anspruch 1 angegebenen Merkmalen hat gegenüber dem Stand der Technik den Vorteil, dass die Vermessung von mehreren, schwer zugänglichen Flächen eines Messobjektes ermöglicht wird. Besonders vorteilhaft können die unterschiedlichen Messflächen wie kegelförmige Flächen und Innenflächen einer Bohrung schnell und ohne Änderung der Messvorrichtung vermessen werden. Die optische Messvorrichtung kann auch als Spezial-Objektiv für das Messobjekt in einem Messaufbau eines an sich bekannten Interferometers oder in einem Autofokus-Sensor verwendet werden.
- Vorteilhafte Weiterbildungen der interferometrischen Messvorrichtung sind in den Unteransprüchen angegeben und in der Beschreibung beschrieben.
- Zeichnung
- Ausführungsbeispiele der Erfindung werden anhand der Zeichnung und der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert. Es zeigen:
-
1 eine erste Ausführung einer Anordnung der optischen Elemente in der Messvorrichtung, -
2 eine zweite Ausführung einer Anordnung der optischen Elemente in der Messvorrichtung, -
3 einen interferometrischen Messaufbau mit der erfindungsgemäßen Messvorrichtung als Spezial-Objektiv, und -
4 einen Bildaufnehmer mit einer Auswertesoftware für ein Doppelkorrelogramm. - Beschreibung der Ausführungsbeispiele
- Eine erste Ausführung der erfindungsgemäßen Messvorrichtung
1 mit einer Anordnung von optischen Elementen zeigt1 . Als das Messobjekt15 ist in diesem Beispiel eine Führungsbohrung dargestellt, deren Durchmesser sich über einen Übergangsbereich von einem konstant höheren Wert zu einem konstant niedrigeren Wert verändert. Der Übergangsbereich selbst weist eine stetige Verengung der Bohrung auf, wodurch sich die Flächenform eines Ausschnitts einer inneren Kegelfläche bildet. Eine solche Geometrie entspricht die einer Führungsbohrung mit einem kegelförmigen, d. h. konisch-geformten Ventilsitz. Die Innenwandung entspricht einer ersten Fläche5 und der kegelförmige Ventilsitz einer zweiten Fläche10 des zu vermessenden Messobjektes15 . Zur Vermessung der Innenwandung der Führungsbohrung und des kegelförmigen Ventilsitzes sind erfindungsgemäß als optische Elemente mindestens ein Strahlteiler20 und ein Linsensystem25 vorgesehen, wobei ein erster Teil30 der auf den Strahlteiler20 einfallenden Lichtstrahlen35 senkrecht auf die erste Fläche5 des Messobjektes15 gerichtet wird, und ein zweiter Teil40 der auf den Strahlteiler20 einfallenden Lichtstrahlen35 auf das dem Strahlteiler20 nachgelagertes Linsensystem25 auftritt und über das Linsensystem25 senkrecht auf die zweite Fläche10 gerichtet wird. Der Strahlteiler20 lenkt den ersten Teil30 der auf den Strahlteiler20 einfallenden Lichtstrahlen35 vorteilhaft rechtwinklig zur Einfallsrichtung ab. Der zweite Teil40 der auf den Strahlteiler20 einfallenden Lichtstrahlen35 wird ohne jede Ablenkung auf das Linsensystem25 gerichtet. - Damit die Lichtstrahlen
35 in den ersten30 und in den zweiten40 Teil aufgeteilt werden können, ist der Strahlteiler20 halblichtdurchlässig, d. h. der erste Teil30 der Lichtstrahlen35 wird am Strahlteiler20 reflektiert, während der zweite Teil40 den Strahlteiler20 durchdringt. In1 ist der Strahlteiler20 ein halblichtdurchlässiges Prisma. Entsprechend der achsensymmetrischen Form des Messobjektes15 weist der Strahlteiler20 , hier das Prisma, und/oder das Linsensystem25 auch eine achsensymmetrische Form auf. Das Linsensystem25 fächert den zweiten Teil40 der Strahlen35 kegelförmig auf, so dass er an jedem Ort auf dem kegelförmigen Ventilsitz senkrecht auftritt. Sowohl der erste Teil30 als auch der zweite Teil40 der durch den Strahlteiler20 aufgeteilten Lichtstrahlen35 wird an der ersten Fläche5 bzw. zweiten Fläche10 des Messobjektes15 zurückreflektiert zur lichtstrahleinfallenden, objektabgewandten Seite der Messvorrichtung1 . - Die optischen Elemente sind üblicherweise in einem Tubus
45 , insbesondere in einem Austrittsbereich des Tubus45 , angeordnet. An den Stellen, an denen der erste30 oder der zweite Teil40 der Lichtstrahlen35 aus dem Tubus aus- bzw. nach der jeweiligen Reflexion in den Tubus wieder eintreten, besteht der Tubus aus einem optisch transparenten Material oder entfällt ganz zur Ausbildung einer Aussparung. Aus Übersichtlichkeitsgründen ist das optisch transparente Material bzw. die Aussparung nicht in den Figuren dargestellt. - In der
2 ist eine zweite Ausführungsform der Messvorrichtung1 dargestellt. Sie unterscheidet sich von dem ersten Ausführungsbeispiel dadurch, dass der Strahlteiler20a durch einen Hohlkegel gebildet wird, d. h. der Strahlteiler20a ist eine halblichtdurchlässige Scheibe, die eine Aussparung in Form eines achsensymmetrischen Prismas aufweist. - Die Messvorrichtung
1 eignet sich für eine Verwendung als ein Spezial-Objektiv für ein Messobjekt15 in einem Messaufbau eines an sich bekannten Interferometers, insbesondere eines weisslichtinterferometers. Ein Messaufbau nach Michelson ist in3 dargestellt und sein Messprinzip bekannt: Bei der weisslichtinterferometrie (Kurzkohärenzinterferometrie) sendet eine Lichtquelle50 eine kurzkohärente Strahlung aus. Das Licht wird über einen Strahlteiler55 des Interferometers in einen Referenzstrahl60 und in einen Objektstrahl65 geteilt. Der Strahlteiler55 des Interferometers ist von dem Strahlteiler20 ,20a der Messvorrichtung1 zu unterscheiden. Der Referenzstrahl60 wird weiter von einem im Referenzlichtweg angeordneten Referenzspiegel70 reflektiert und gelangt wieder über den Strahlteiler55 in einen Bildaufnehmer75 , vorteilhaft eine CCD- oder CMOS-Kamera („complementary metal oxide semiconductor"-Kamera). Dort werden die Lichtwellen der Referenzstrahlen60 überlagert mit den Lichtwellen der Objektstrahlen65 , die ihrerseits über das im Objektlichtweg angeordneten, erfindungsgemäßen Spezial-Objektiv auf die erste und zweite Fläche5 ,10 des Messobjektes15 gelenkt und reflektiert wurden. Wie bereits geschildert, werden die Objektstrahlen65 bzw. die auf den Strahlteiler20 ,20a der Messvorrichtung1 einfallenden Lichtstrahlen35 erfindungsgemäß in einen ersten30 und zweiten Teil40 aufgeteilt, um die Vermessung zweier Flächen zu ermöglichen. Natürlich ist eine Anwendung der Messvorrichtung1 als ein Spezial-Objektiv auch in einem Messaufbau eines Autofocus-Sensors oder eines Laser-, Heterodyn- oder sonstigen Interferometers möglich. - Während der Messung ist eine relative Bewegung der Messvorrichtung
1 zum Messobjekt15 oder umgekehrt vorzugsweise zu vermeiden. Daher ist die Messvorrichtung1 als ein Spezial-Objektiv eines Interferometers mit einem Zwischenbild besonders geeignet. Solche Interferometer mit der Möglichkeit zur Erzeugung des Zwischenbildes sind aus dem Stand der Technik bekannt. - Im übrigen ist es wichtig, dass bei der Messung der ersten
5 und der zweiten Fläche10 des Messobjektes15 die beiden Flächen5 ,10 nicht gleichzeitig im Fokus des Bildaufnehmers75 stehen. Die von den beiden Flächen5 ,10 reflektierten und in den Bildaufnehmer75 überführten Strahlen würden dann zu einem gemeinsamen Interferenzbild überlagert und so die Messwerte verfälschen. Deshalb wird zuerst die erste Fläche5 abgescannt, bis sie aus dem Interferenzbereich austritt, bevor die zweite Fläche10 in den Interferenzbereich eintritt und auch abgescannt wird. Die Flächen5 ,10 können natürlich auch in umgekehrter Reihenfolge abgescannt werden. Um eine Überlappung des ersten30 und des zweites Teils40 der Lichtstrahlen35 im Bildaufnehmer75 zu vermeiden, muss auf die Anordnung der optischen Elemente der Messvorrichtung1 bezüglich der Kohärenzlänge der Lichtstrahlen35 geachtet werden. Unter einer Kohärenzlänge eines Wellenzugs versteht man die zur Interferenz notwendige Anschlusslänge für eine Überlappung. Die optischen Elemente der Messvorrichtung1 sind daher unter Berücksichtigung der eben erläuterten Überlappungsbedingung so angeordnet, dass die optischen Wege des ersten30 und des zweites Teils40 der einfallenden Lichtstrahlen35 mindestens in der Größenordnung einer Kohärenzlänge der Lichtstrahlen35 unterschiedlich sind. Typischer Wertbereich einer Kohärenzlänge bei einem Weißlichtinterferometer beträgt etwa 2 bis 14 μm, während bei einem Heterodyn-Interferometer mit eingesetzten Wellenlängen von etwa 1570 μm eine Kohärenzlänge von etwa 80 μm ergibt. - Alternativ oder zusätzlich zu der Anordnung der Messvorrichtung
1 mit unterschiedlichen Weglängen für den ersten30 und zweiten Teil40 der Lichtstrahlen35 kann eine störende Überlappung der beiden Teilstrahlen30 ,40 im Bildaufnehmer75 dadurch verhindert werden, dass der Strahlteiler20 ,20a elektrisch oder magnetisch steuerbar ist, um seine Transmissions- und Reflexionseigenschaft gezielt zu variieren. So wird kurzfristig der Lichtweg des ersten30 oder des zweiten Teils40 der Lichtstrahlen35 ausgeblendet. - In diesem Zusammenhang ist es vorteilhaft, einen Bildaufnehmer
75 mit einer Auswertesoftware für ein Doppelkorrelogramm80 zu verwenden. Da erfindungsgemäß die optische Messvorrichtung1 die Vermessung von mehreren Flächen5 ,10 eines Messobjektes15 ermöglicht, muss der Bildaufnehmer75 die von verschiedenen Flächen reflektierten Teilstrahlen entsprechend getrennt auswerten. Wie in4 verdeutlicht, wird das im Bildaufnehmer75 erzeugte Interferenzmuster nach seiner Intensität85 und nach Position90 getrennt ausgewertet, so dass mit Hilfe der Auswertesoftware zwei aufeinanderfolgende Korrelogramme95 ,100 gebildet werden. - Zusammenfassend wird durch eine Aufteilung der Lichtstrahlen
35 in einen ersten30 und zweiten Teil40 in der Messvorrichtung1 die Vermessung von mehreren Flächen5 ,10 eines Messobjektes15 ermöglicht. Die Anordnung der optischen Elemente erlaubt insbesondere die Vermessung einer Innenfläche eines Zylinders und die einer konisch-geformten Fläche mit nur einer Messvorrichtung1 .
Claims (10)
- Optische Messvorrichtung (
1 ) zur Vermessung einer ersten (5 ) und einer zweiten Fläche (10 ) eines Messobjektes (15 ) mittels einer Anordnung von optischen Elementen, dadurch gekennzeichnet, dass als optische Elemente mindestens ein Strahlteiler (20 ;20a ) und ein Linsensystem (25 ) so angeordnet sind, dass ein erster Teil (30 ) der auf den Strahlteiler (20 ;20a ) einfallenden Lichtstrahlen (35 ) senkrecht auf die erste Fläche (5 ) des Messobjektes (10 ) gerichtet wird, und ein zweiter Teil (40 ) der auf den Strahlteiler (20 ;20a ) einfallenden Lichtstrahlen (35 ) auf das dem Strahlteiler (20 ;20a ) nachgelagertes Linsensystem (25 ) auftritt und über das Linsensystem (25 ) senkrecht auf die zweite Fläche (10 ) gerichtet wird. - Optische Messvorrichtung (
1 ) nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlteiler (20 ;20a ) den ersten Teil (30 ) der auf den Strahlteiler (20 ;20a ) einfallenden Lichtstrahlen (35 ) rechtwinklig zur Einfallsrichtung ablenkt und/oder den zweiten Teil (40 ) der auf den Strahlteiler (20 ;20a ) einfallenden Lichtstrahlen (35 ) ohne jede Ablenkung auf das Linsensystem (25 ) richtet. - Optische Messvorrichtung (
1 ) nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Transmission und Reflexion des Strahlteilers (20 ;20a ) durch elektrische oder magnetische Steuerung variierbar ist. - Optische Messvorrichtung (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlteiler (20 ;20a ) ein Prisma oder ein Hohlkegel ist. - Optische Messvorrichtung (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass der Strahlteiler (20 ;20a ) und/oder das Linsensystem (25 ) eine achsensymmetrische Form aufweist. - Optische Messvorrichtung (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Linsensystem (25 ) den zweiten Teil (40 ) der einfallenden Lichtstrahlen (35 ) kegelförmig auffächert. - Optische Messvorrichtung (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die optischen Elemente in einem Tubus (45 ), insbesondere in einem Austrittsbereich des Tubus (45 ), angeordnet sind. - Optische Messvorrichtung (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die optischen Elemente so angeordnet sind, dass die optischen Wege des ersten (30 ) und des zweites Teils (40 ) der einfallenden Lichtstrahlen (35 ) mindestens in der Größenordnung einer Kohärenzlänge der Lichtstrahlen (35 ) unterschiedlich sind. - Verwendung der optischen Messvorrichtung (
1 ) nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die Messvorrichtung (1 ) als ein Spezial-Objektiv für das Messobjekt (15 ) in einem Messaufbau eines Autofocus-Sensors oder eines an sich bekannten Interferometers, insbesondere eines Laser-, Heterodyn- oder Weisslichtinterferometers, verwendet wird. - Verwendung der optischen Messvorrichtung (
1 ) nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Messvorrichtung (1 ) zusammen mit einem Bildaufnehmer (75 ) mit einer Auswertesoftware für ein Doppelkorrelogramm (80 ) verwendet wird.
Priority Applications (9)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004045808A DE102004045808A1 (de) | 2004-09-22 | 2004-09-22 | Optische Messvorrichtung zur Vermessung von mehreren Flächen eines Messobjektes |
EP20050777826 EP1794540B1 (de) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | Optische messvorrichtung zur vermessung von mehreren flächen eines messobjektes |
CNA2005800317881A CN101023319A (zh) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | 用于对测量对象的多个面进行测定的光测量设备 |
JP2007531733A JP2008513751A (ja) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | 測定対象物の複数の面を測定するための光学式測定装置 |
RU2007115154/28A RU2007115154A (ru) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | Оптическое измерительное устройство для измерения характеристик нескольких поверхностей объекта измерения |
PCT/EP2005/053578 WO2006032561A1 (de) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | Optische messvorrichtung zur vermessung von mehreren flächen eines messobjektes |
KR1020077006584A KR20070062527A (ko) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | 측정 대상물의 다수의 면들을 측정하기 위한 광학 측정장치 |
BRPI0514373-0A BRPI0514373A (pt) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | equipamento de medição óptico para a medição de diversas superfìcies de um objeto a ser medido |
US11/662,963 US7643151B2 (en) | 2004-09-22 | 2005-07-22 | Optical measuring device for measuring a plurality of surfaces of an object to be measured |
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---|---|
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JP (1) | JP2008513751A (de) |
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DE (1) | DE102004045808A1 (de) |
RU (1) | RU2007115154A (de) |
WO (1) | WO2006032561A1 (de) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008012461A1 (de) * | 2008-03-04 | 2009-09-10 | Minebea Co., Ltd. | Vorrichtung zur optischen Abtastung der Innenfläche einer Bohrung |
DE102008001473B3 (de) * | 2008-04-30 | 2009-12-31 | Robert Bosch Gmbh | Optische Anordnung zur Beleuchtung eines Messobjektes, interferometrische Anordnung zur Vermessung von Flächen eines Messobjektes |
EP2411762A1 (de) | 2009-03-26 | 2012-02-01 | Robert Bosch GmbH | Selbstnivellierendes mehr-linien- 360°-lasergerät |
US8625103B2 (en) | 2008-04-30 | 2014-01-07 | Robert Bosch Gmbh | Interferometric system and method for adjusting a path difference |
DE102014118753A1 (de) * | 2014-10-01 | 2016-04-07 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Prüfvorrichtung |
DE102015010225A1 (de) | 2015-08-12 | 2017-02-16 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102016113400A1 (de) | 2015-08-19 | 2017-02-23 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102017111819A1 (de) | 2017-05-30 | 2018-12-06 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102009027456B4 (de) | 2009-07-03 | 2022-07-14 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zur Vermessung konischer Oberflächen |
EP4336140A1 (de) * | 2022-09-12 | 2024-03-13 | 3D.aero GmbH | Verfahren zur beurteilung des ergebnisses einer an einem werkstück durchgeführten bohrung |
Families Citing this family (23)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5560558B2 (ja) * | 2006-12-13 | 2014-07-30 | 株式会社ニコン | 測定装置および測定方法 |
GB0714974D0 (en) * | 2007-07-31 | 2007-09-12 | Third Dimension Software Ltd | Measurement apparatus |
DE102007059903A1 (de) * | 2007-12-12 | 2009-06-18 | Robert Bosch Gmbh | Sonde und Vorrichtung zum optischen Prüfen von Messobjekten |
CN101839697A (zh) * | 2010-04-20 | 2010-09-22 | 天津大学 | 一种应用于轴孔直径测量的光学系统 |
DE102012212785A1 (de) * | 2012-07-20 | 2014-01-23 | Robert Bosch Gmbh | Optische Messsonde und Verfahren zur optischen Messung von Innen- und Außendurchmessern |
EP2690395A1 (de) * | 2012-07-24 | 2014-01-29 | Hexagon Technology Center GmbH | Interferometrische Entfernungsmessanordnung und ebensolches Verfahren |
WO2014096406A1 (en) | 2012-12-20 | 2014-06-26 | Marposs Societa' Per Azioni | System and method for checking dimensions and/or position of an edge of a workpiece |
DE102013214997A1 (de) * | 2013-07-31 | 2015-02-05 | Siemens Aktiengesellschaft | Anordnung zur dreidimensionalen Erfassung eines länglichen Innenraumes |
US20150300811A1 (en) * | 2014-04-21 | 2015-10-22 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Apparatus for measuring inner diameter |
WO2015189177A1 (en) | 2014-06-13 | 2015-12-17 | Marposs Societa' Per Azioni | System and method for checking position and/or dimensions of an edge of a workpiece |
HUE040432T2 (hu) * | 2014-06-18 | 2019-03-28 | Sturm Maschinen & Anlagenbau Gmbh | Vizsgálóberendezés és eljárás egy üreges test belsõ falainak vizsgálatára |
CN105509639B (zh) | 2014-09-24 | 2019-01-01 | 通用电气公司 | 用来测量几何特征的测量系统和测量方法 |
JP2016075577A (ja) * | 2014-10-07 | 2016-05-12 | 株式会社東京精密 | 形状測定装置 |
WO2016084638A1 (ja) * | 2014-11-25 | 2016-06-02 | 並木精密宝石株式会社 | 光学式内面測定装置 |
JP6570938B2 (ja) * | 2015-09-17 | 2019-09-04 | ゼネラル・エレクトリック・カンパニイ | 物体の幾何学的特徴を測定するシステム及び方法 |
CN106885590B (zh) * | 2015-12-15 | 2019-02-05 | 陈艺征 | 一种内腔式光纤法布里珀罗测量滑移的传感器 |
RU2634328C1 (ru) * | 2016-05-16 | 2017-10-25 | Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Саратовский государственный технический университет имени Гагарина Ю.А." (СГТУ имени Гагарина Ю.А.) | Способ определения толщины пленки с помощью интерферометрии белого света |
US10598490B2 (en) | 2017-05-03 | 2020-03-24 | Stanley Black & Decker Inc. | Laser level |
CN107976155B (zh) * | 2017-11-23 | 2019-10-25 | 中国科学技术大学 | 一种基于数字全息干涉的发动机气缸内壁检测装置及方法 |
JP2019168339A (ja) * | 2018-03-23 | 2019-10-03 | 株式会社コベルコ科研 | 形状測定装置および該方法 |
CN108534712A (zh) * | 2018-06-16 | 2018-09-14 | 复旦大学 | 一种柱面面形干涉检测装置 |
WO2020019348A1 (zh) * | 2018-07-27 | 2020-01-30 | 合刃科技(深圳)有限公司 | 基于相干光的微细管内壁检测装置及方法 |
US20230175952A1 (en) * | 2021-12-02 | 2023-06-08 | Utah State University Space Dynamics Laboratory | Uniaxial Optical Multi-Measurement Sensor |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19819762A1 (de) * | 1998-05-04 | 1999-11-25 | Bosch Gmbh Robert | Interferometrische Meßeinrichtung |
DE10131778A1 (de) * | 2000-08-11 | 2003-01-23 | Bosch Gmbh Robert | Optische Messvorrichtung |
DE10204136A1 (de) * | 2002-02-01 | 2003-08-21 | Bosch Gmbh Robert | Interferometrische Messvorrichtung |
DE10301607A1 (de) * | 2003-01-17 | 2004-08-05 | Robert Bosch Gmbh | Interferenzmesssonde |
DE10325443A1 (de) * | 2003-06-05 | 2004-12-23 | Robert Bosch Gmbh | Interferometrische Messvorrichtung |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4180322A (en) * | 1978-05-01 | 1979-12-25 | Alcyon Equipment S.A. | Interior measurement of enclosed spaces |
US4997281A (en) * | 1989-08-24 | 1991-03-05 | Stark Edward W | Grating spectrometer |
DE19714202A1 (de) | 1997-04-07 | 1998-10-15 | Bosch Gmbh Robert | Vorrichtung zum optischen Prüfen von Oberflächen |
US6781699B2 (en) | 2002-10-22 | 2004-08-24 | Corning-Tropel | Two-wavelength confocal interferometer for measuring multiple surfaces |
-
2004
- 2004-09-22 DE DE102004045808A patent/DE102004045808A1/de not_active Withdrawn
-
2005
- 2005-07-22 RU RU2007115154/28A patent/RU2007115154A/ru not_active Application Discontinuation
- 2005-07-22 BR BRPI0514373-0A patent/BRPI0514373A/pt not_active IP Right Cessation
- 2005-07-22 US US11/662,963 patent/US7643151B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2005-07-22 KR KR1020077006584A patent/KR20070062527A/ko not_active Application Discontinuation
- 2005-07-22 CN CNA2005800317881A patent/CN101023319A/zh active Pending
- 2005-07-22 JP JP2007531733A patent/JP2008513751A/ja not_active Withdrawn
- 2005-07-22 EP EP20050777826 patent/EP1794540B1/de not_active Expired - Fee Related
- 2005-07-22 WO PCT/EP2005/053578 patent/WO2006032561A1/de active Application Filing
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19819762A1 (de) * | 1998-05-04 | 1999-11-25 | Bosch Gmbh Robert | Interferometrische Meßeinrichtung |
DE10131778A1 (de) * | 2000-08-11 | 2003-01-23 | Bosch Gmbh Robert | Optische Messvorrichtung |
DE10204136A1 (de) * | 2002-02-01 | 2003-08-21 | Bosch Gmbh Robert | Interferometrische Messvorrichtung |
DE10301607A1 (de) * | 2003-01-17 | 2004-08-05 | Robert Bosch Gmbh | Interferenzmesssonde |
DE10325443A1 (de) * | 2003-06-05 | 2004-12-23 | Robert Bosch Gmbh | Interferometrische Messvorrichtung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DRESEL, Th. et al: Three-dimensional sensing of rough surfaces by coherence radar, in: Applied Optics, Vol. 7, 1992, Seiten 919-925. * |
Cited By (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102008012461B4 (de) * | 2008-03-04 | 2013-08-01 | Minebea Co., Ltd. | Vorrichtung zur optischen Abtastung der Innenfläche einer Bohrung |
DE102008012461A1 (de) * | 2008-03-04 | 2009-09-10 | Minebea Co., Ltd. | Vorrichtung zur optischen Abtastung der Innenfläche einer Bohrung |
DE102008001473B3 (de) * | 2008-04-30 | 2009-12-31 | Robert Bosch Gmbh | Optische Anordnung zur Beleuchtung eines Messobjektes, interferometrische Anordnung zur Vermessung von Flächen eines Messobjektes |
US8625103B2 (en) | 2008-04-30 | 2014-01-07 | Robert Bosch Gmbh | Interferometric system and method for adjusting a path difference |
US8913249B2 (en) | 2008-04-30 | 2014-12-16 | Robert Bosch Gmbh | Optical system for illuminating a measured object and interferometric system for measuring surfaces of a measured object |
EP2411762A1 (de) | 2009-03-26 | 2012-02-01 | Robert Bosch GmbH | Selbstnivellierendes mehr-linien- 360°-lasergerät |
EP2411762B1 (de) * | 2009-03-26 | 2016-11-30 | Robert Bosch GmbH | Selbstnivellierendes mehr-linien- 360°-lasergerät |
DE102009027456B4 (de) | 2009-07-03 | 2022-07-14 | Robert Bosch Gmbh | Vorrichtung zur Vermessung konischer Oberflächen |
DE102014118753A1 (de) * | 2014-10-01 | 2016-04-07 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Prüfvorrichtung |
DE102015010225A1 (de) | 2015-08-12 | 2017-02-16 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102015010225B4 (de) * | 2015-08-12 | 2017-09-21 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE202015009460U1 (de) | 2015-08-12 | 2017-10-12 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102016113503A1 (de) | 2015-08-19 | 2017-02-23 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102016113400A1 (de) | 2015-08-19 | 2017-02-23 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102016113400B4 (de) | 2015-08-19 | 2023-11-30 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung und Bohrungsinspektionsverfahren |
DE102017111819A1 (de) | 2017-05-30 | 2018-12-06 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
DE102017111819B4 (de) | 2017-05-30 | 2021-07-22 | Jenoptik Industrial Metrology Germany Gmbh | Bohrungsinspektionsvorrichtung |
EP4336140A1 (de) * | 2022-09-12 | 2024-03-13 | 3D.aero GmbH | Verfahren zur beurteilung des ergebnisses einer an einem werkstück durchgeführten bohrung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
RU2007115154A (ru) | 2008-10-27 |
EP1794540A1 (de) | 2007-06-13 |
CN101023319A (zh) | 2007-08-22 |
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JP2008513751A (ja) | 2008-05-01 |
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