DE102004014185A1 - Probenstift-Reinigungsvorrichtung - Google Patents

Probenstift-Reinigungsvorrichtung Download PDF

Info

Publication number
DE102004014185A1
DE102004014185A1 DE102004014185A DE102004014185A DE102004014185A1 DE 102004014185 A1 DE102004014185 A1 DE 102004014185A1 DE 102004014185 A DE102004014185 A DE 102004014185A DE 102004014185 A DE102004014185 A DE 102004014185A DE 102004014185 A1 DE102004014185 A1 DE 102004014185A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
cleaning
sample
stylus
pen
sample pen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE102004014185A
Other languages
English (en)
Inventor
Fumikazu Saito
Katsuhide Kubo
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Electric Corp filed Critical Mitsubishi Electric Corp
Publication of DE102004014185A1 publication Critical patent/DE102004014185A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B3/00Cleaning by methods involving the use or presence of liquid or steam
    • B08B3/04Cleaning involving contact with liquid
    • B08B3/10Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration
    • B08B3/12Cleaning involving contact with liquid with additional treatment of the liquid or of the object being cleaned, e.g. by heat, by electricity or by vibration by sonic or ultrasonic vibrations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips

Landscapes

  • Cleaning By Liquid Or Steam (AREA)
  • Cleaning In General (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
  • Sampling And Sample Adjustment (AREA)

Abstract

Eine Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) besteht allgemein aus einem Reinigungsbehälter (3) mit einer nach unten geschlossenen Behälterform, enthaltend eine Reinigungslösung (2), eine Stütze (4), die an der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters (3) angeordnet ist und horizontal ein Stiftboard (201) in dem Zustand stützt, in dem ein Probenstift (101) nach unten zeigt, einen externen Behälter (6), mit einem oberen Öffnungsrand (6a) zum Stützen des Rands (3b) der oberen Öffnung (3a) des oben erwähnten Reinigungsbehälters (3) über einen Stoßabsorber (5), und einen Ultraschallschwingungsgenerator (7).

Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft eine Probenstift-Reinigungsvorrichtung. Insbesondere betrifft die vorliegende Erfindung eine Probenstift-Reinigungsvorrichtung vom Nichtkontakttyp, die einen in einem Stiftboard fixierten Probenstift reinigt, ohne dass eine Reinigungseinspannvorrichtung in Kontakt mit dem Probenstift gelangt.
  • Eine Leiterplatte mit hierauf montierten Stiftkomponenten wird dahingehend inspiziert, ob das Schaltungsboard einen Verdrahtungsfehler hat, sowie eine Fehlmontage von Komponenten oder defekte Komponenten, durch Messen eines Umfangs an Elektrizität zwischen den Anschlüssen, die auf der Leitungsplatte verwendet werden, durch einen In-Circuit-Tester. Der In-Circuit-Tester ist mit einer Testeinspannvorrichtung (hiernach als Pinboard bezeichnet) versehen, die eine Vielzahl von Probenstiften jeweils entsprechend den Anschlüssen fixiert, gebildet auf der zu inspizierenden gedruckten Leiterplatte. Dieses Pinboard hält die Probestifte gleitfähig in deren Längsrichtung unter Verwendung von Gleitabschnitten, die jeweils hierauf entsprechend den Stiften gebildet sind. Jeder der Gleitabschnitte besteht aus einer Hülle und einer Schraubenfeder, die jeweils in der Hülle bzw. der Buchse vorgesehen ist. Bei Ausführung des Leitungstests kann das Stiftboard die Probestifte in Kontakt jeweils mit den Anschlüssen bringen, gebildet auf der gedruckten Leiterplatte mit einer vorgegebenen Beaufschlagung bzw. einem vorgegebenen Schub. Jedoch kann die Spitze eines in dem Stiftboard gehaltenen Probestifts mittels einem fremden Partikel kontaminiert sein, beispielsweise einem Fluss von der gedruckten Leiterplatte nach dem Ausführen des Leitungstests.
  • Es wurde eine sogenannte Probenstift-Reinigungsvorrichtung vom Kontakttyp hauptsächlich zum Reinigen des Probenstifts angewandt, die in der Vergangenheit vorgeschlagen wurde. Diese Probenstift-Reinigungsvorrichtung nützt eine Bürste, die direkt den Stylusabschnitt des Probenstifts reinigt. Beispielsweise offenbart die japanische Patentveröffentlichung JP-A 5-281257 (Anspruch 1 und 1) eine Probenstift-Reinigungsvorrichtung vom Kontakttyp unter Vorrichtung der Bürste. Jedoch würde die Bürste dieser Probenstift-Reinigungseinrichtung eine große externe Kraft auf den Probenstift ausüben. Hierdurch kann der Probenstift aufgrund der Deformation beschädigt werden.
  • Zwischenzeitlich ist eine Probenstift-Reinigungseinrichtung vom Nichtkontakttyp bekannt. Beispielsweise offenbart die japanische Patentveröffentlichung JP-A 8-290090 (Anspruch 1 und 4) eine Probenstift-Reinigungseinrichtung vom Nichtkontakttyp. Die Einrichtung wirft eine Reinigungslösung zum Auflösen des fremden Partikels, das an dem Stylusabschnitt des Probenstifts haftet, und Reinigungluft auf den Stylusabschnitt des Probenstifts von oben, und sie reinigt hierdurch den Stift. Der Probenstift ist mit Ausrichtung nach oben an dem Stiftboard fixiert. Die Reinigungseinrichtung deformiert und beschädigt in geringem Umfang des Probenstift.
  • Ferner offenbart beispielsweise die japanische Patentveröffentlichung JP-A 5-264588 (Anspruch 1 und 1) ein Stiftboard, das eine statische Beaufschlagung und eine Ultraschallvibration auf den Stylusabschnitt des Probenstifts ausübt, und hierdurch erzielt der Stift einen Kontakt mit dem Anschluss und wird elektrisch leitend. Das technische Problem dieses Stiftboards ist das stabile Ausführen des Leitungstests auf der gedruckten Leiterplatte selbst dann, wenn das Schaltungsboard noch nicht flussgereinigt ist. Jedoch ist es dann, wenn der an diesem Stiftboard fixierte Probenstift durch ein fremdes Partikel verunreinigt wird, erforderlich, diesen Probenstift durch Anwenden der oben beschriebenen, in der Vergangenheit vorgeschlagenen Probenstift-Reinigungsvorrichtung zu reinigen.
  • Jedoch gibt es folgende Probleme, da die dem Erfinder geläufigen Probenstift-Reinigungsvorrichtungen so ausgebildet sind, wie oben erwähnt.
  • D.h., bei der existierenden Probenstift-Reinigungseinrichtung vom Nichtkontakttyp verläuft die Reinigungslösung, die zu dem nach oben gegenüberliegend montierten Probenstift ausgeworfen wird, nach unten entlang dem Probenstift, um in dem Gleitabschnitt des Stiftboards 1 zu treten, und sie kann die in dem Gleitabschnitt platzierte Schraubenfeder korrodieren. In diesem Fall kann sich der durch die Schraubenfeder gleitend fortzubewegende Probenstift nicht aufgrund der Schraubenfederkorrosion gleitend bewegen. Demnach gibt es ein Problem dahingehend, dass der Probenstift einen geringen Kontakt zu dem Anschluss auf der gedruckten Leiterplatte erzielt, und hierdurch lässt sich ein präziser Leitungstest nicht ausführen. Weiterhin gibt es ein Problem dahingehend, dass dann, wenn beispielsweise Isopropylalkohol (IPA) oder Glycolether (GE) als Reinigungslösung verwendet wird, die Lösungsmittelhandhabung schwierig ist, die Verfügbarkeit der Lösungsmittel begrenzt ist, und ferner der Schaden wie der Riss des Stiftboards (hiernach als Lösungsmittelriss bezeichnet) bewirkt wird, das die Lösungsmittel in das Board eindringen bzw. dieses durchdringen. Ferner gibt es ein Problem dahingehend, dass die Einrichtung sehr groß wird, da die Einrichtung einen Ausstoßmechanismus zum Ausstoßen der Reinigungslösung und einen Ausstoßmechanismus zum Ausstoßen der Reinigungsluft in individueller Weise erfordert. Zusätzlich prüft dann, wenn die existierende Probenstift-Reinigungseinrichtung verwendet wird, der Anwender, ob fremde Partikel von den Stiften entfernt werden oder nicht, durch direktes Inspizieren der kleinen Probenstifte mit visueller Vorgehensweise und durch Verwendung einer Einheit wie einer Vergrößerungslinse. Demnach gibt es ein Problem, dass zum Bestätigen des Reinigungsabschlusses viel Zeit erforderlich ist.
  • Die vorliegende Erfindung wurde zum Lösen der oben erwähnten Probleme geschaffen. Ein technisches Problem der vorliegenden Erfindung besteht in der Schaffung einer kleinen Probenstift-Reinigungseinrichtung, die zuverlässig lediglich den Stylusabschnitt des Probenstifts reinigt, ohne irgendwelche Schwierigkeiten zu bewirken, beispielsweise einen Lösungsmittelriss erzeugt in dem Stiftboard zum Fixieren des Probenstifts nach dem Reinigen des Probenstifts. Ferner lässt sich dann, wenn die Einrichtung verwendet wird, der Reinigungszustand des Probenstifts einfach prüfen.
  • Eine Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist so ausgebildet, dass sie ein Fixierelement zum aufrechten Fixieren eines Probenstifts enthält; ein Halteelement zum Halten des Fixierelements; einen Reinigungsbehälter zum Aufnehmen einer Reinigungslösung; und eine Ultraschall-Erzeugungsvorrichtung zum Erzeugen von Ultraschallschwingungen, gerichtet zu der Reinigungslösung, in die der Stylus- bzw. Spitzenabschnitt eines Probenstifts, mit Ausrichtung nach unten, eingetaucht bzw. immergiert ist.
  • Demnach lässt sich gemäß einem Aspekt der vorliegenden Erfindung lediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts sicher wirksam unter Verwendung der zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts durch das Medium der Reinigungslösung übertragenen Ultraschallschwingung reinigen. Zur selben Zeit lässt sich aufgrund der Tatsache, dass keine Reinigungslösung, die entlang dem Probenstift fließt und zu dem Pinboard zum Fixieren des Probenstifts gelangt, das Auftreten von Schwierigkeiten wie das Lösungsmittelreißen, das in dem Pinboard nach dem Ausführen des Reinigens unter Verwendung der existierenden Reinigungseinrichtung aufgetreten ist, sicher vermeiden. Weiterhin lässt sich aufgrund der Tatsache, dass gemäß der vorliegenden Erfindung der Ausstoßmechanismus zum Ausstoßen des Reinigungslösungsmittels und der Reinigungsluft, die bei der existierenden Reinigungseinrichtung eingesetzt werden, nicht erforderlich ist, die Reinigungseinrichtung kompakt ausbilden.
  • Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung weden nachfolgend unter Bezug auf die beiliegende Zeichnung erläutert; es zeigen:
  • 1 eine Fragment-Querschnittsansicht der Konfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 2 eine Aufsicht des Ultraschallstrahlmechanismus, der zum Bestrahlen der Probe verwendet wird, die durch die in 1 gezeigte Probenstift-Reinigungseinrichtung zu reinigen ist, mit ultravioletten Strahlen, und der einen Körper getrennt von der Reinigungseinrichtung hat;
  • 3 eine Fragment-Querschnittsansicht der Konfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung;
  • 4 eine Fragment-Querschnittsansicht der Konfiguration einer automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung; und
  • 5 ein Flussdiagramm zum Angeben der Beschreibung des Betriebs der in 4 gezeigten automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtung.
  • Die 1 zeigt eine Fragment-Querschnittsansicht der Konfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, und die 2 zeigt eine Aufsicht eines Ultraviolett-Bestrahlungsmechanismus, der für die Bestrahlung des Probenstifts verwendet wird, der durch die in 2 gezeigte Probenstift-Reinigungseinrichtung zu reinigen ist, mit ultravioletten Strahlen, und der einen Körper aufweist, der gegenüber der Reinigungseinrichtung getrennt ist.
  • Unter Bezug auf die 1 ist gezeigt, dass eine Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 eine Reinigungseinrichtung ist, die über Ultraschall-Stylusabschnitte reinigen kann, die jeweils an den Spitzen der Vielzahl der Probenstifte (PP) 101 vorgesehen sind, die aufrecht so fixiert sind, dass sie nach unten einem Pinboard (PB) 201 gegenüberliegen, als einem Fixierelement. Die Einrichtung 1 kann allgemein bestehen aus einem Reinigungscontainer bzw. Behälter 3 mit einer nach unten geschlossenen Kastenform (Engl.: bottomed-box shape), der die Reinigungslösung 2 enthält, einer Stütze (einem Halteelement) 4, die an der inneren Unterseite dieses Reinigungsbehälters 3 angeordnet ist, und horizontal das Pinboard 201 in dem Zustand hält, wo die Probenstifte 101 nach unten ausgerichtet sind, eine Außenbox bzw. einen Außenbehälter 6 mit einem oberen Öffnungsrand 6a, der den Rand (Engl.: fringe) 3b der oberen Öffnung 3a des oben erwähnten Reinigungsbehälters 3 über einen Stoßabsorber 5 hält, und einen Ultraschallschwingungsgenerator (eine Ultraschallschwingungs-Erzeugungsvorrrichtung) 7. Der Ultraschallschwingungsgenerator 7 kann allgemein bestehen aus einem Vibrator 9, der in einem Innenraum 8 vorgesehen ist, gebildet zwischen der Unterseite des Reinigungscontainers 3 und der Unterseite des externen Behälters 6, und sichert an der äußeren unteren Seite des Reinigungsbehälters 3; und einem Oszillator 10, der elektrisch mit diesem Vibrator 9 verbunden und an der Außenseite des externen Behälters 6 platziert ist. Der Oszillator 10 kann den Vibrator 9 oszillieren und hierdurch eine Ultraschallschwingung auf die Reinigungslösung 2 über den Reinigungsbehälter 3 anwenden. Weiterhin kann der Oszillator 10 die Ultraschallschwingung periodisch ausgeben, oder in dem Modus, in dem die Frequenz und die Amplitude geändert ist. Der Schwingungsmodus lässt sich geeignet abhängig von der Kontaminationsbedingung des Probenstifts 101 ändern.
  • Eine Lösung, die Ethylalkohol (hiernach als Ethanol bezeichnet) enthält, kann bevorzugt als Reinigungslösung 2 verwendet werden. Ethanol ist allgemein verfügbar und weniger schädlich für den menschlichen Körper und das Umfeld als IPA oder GE, die für die existierende Reinigungslösung verwendet wurden. Ethanol hat eine hohe Reinigungsfähigkeit und eine geeignete Volatilität. Die Reinigungslösung 2 kann Ethanol enthalten, sie ist jedoch nicht auf die Lösung mit Ethanol beschränkt. Jede Reinigungslösung mit Reinigungsfähigkeit, geringer Toxität und Volatilität, äquivalent zu denjenigen der Lösung enthaltend Ethanol, kann als die Reinigungslösung verwendet werden. Die Ethanolkonzentration kann geeignet abhängig von den Faktoren wie beispielsweise Kontaminationsbedingungen des zu reinigenden Probenstifts 101, Volatilität der Lösung und Wirtschaftlichkeit der Lösung, bestimmt werden. Der Reinigungsbehälter 3 kann aus irgendeinem Material hergestellt sein, das mit der Lösung kompatibel ist, die die in der Reinigungslösung 2 verwendete Ethanol-Konzentration aufweist, beispielsweise einem rostfreiem Stahl. Weiterhin kann die obere Öffnung 3a des Reinigungsbehälters 3 so ausgebildet sein, dass sie die Größe und Form so aufweist, dass der Behälter das Pinboard bzw. Stiftboard 201, so wie es ist, aufnehmen kann. Demnach lassen sich die Stylusabschnitt e der Vielzahl der Probenstifte 101, fixiert in diesem Stiftboard 201, gleichzeitig wirksam reinigen, ohne Ablösen der Probenstifte 101 von dem Stiftboard 201.
  • Die Stütze 4 kann die Höhe haben zum Balancieren des Spalts zwischen der Höhe des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 mit einer Länge, die von einem Stiftboard 201 zum Fixieren des Stifts 101 zu einem anderen variiert, sowie der Höhe der Lösungsoberfläche der Reinigungslösung 2, so dass lediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts 101, montiert an dem Stiftboard 201, das auf der Stütze 4 gehalten ist, in die Reinigungslösung 2 immergiert bzw. eingetaucht werden kann, die in dem Lösungsbehälter 3 enthalten ist. Eine Stütze 4 mit der spezifisch angepassten Länge für jedes individuelle zu reinigendes Stiftboard 201 kann vorbereitet werden.
  • Der Stoßabsorber 5 kann eine allgemeine ringförmige Komponente sein, die an oder entlang dem oberen Öffnungsrand 6a der äußeren Box bzw. des äußeren Behälters 6 platziert ist. Dieser Stoßabsorber 5 kann aus jedem Material mit ausreichender Elastizität zum wirksamen Vibrieren lediglich des Reinigungsbehälters 3 durch die Ultraschallschwingung und zum Abkoppeln bzw. Unterbrechen, der Übertragung der Ultraschallschwingung von dem Reinigungsbehälter 3 zu dem externen Behälter 6 ausgebildet sein, sowie mit ausreichender Beständigkeit zum Bestehen gegenüber der Ultraschallschwingung. Beispielsweise kann elastisches Material wie Gummi bevorzugt für den Absorber eingesetzt werden. Ist diese Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 installiert, so kann die Anordnung dieses Stoßabsorbers 5 den Einfluss der Ultraschallschwingung auf ihr Umfeld eliminieren.
  • Die Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 mit einer solchen Konfiguration kann mit einem Rücklichtgerät ausgestattet sein (Ultraviolette-Abstrahlungsvorrichtung) 11, und einem Luftblasmechanismus (oder einem Gebläse) (nicht gezeigt), beide getrennt gegenüber der Einrichtung. Das Rücklichtgerät (Engl.: backlight apparatus) bzw. das Gerät für ein von unten einfallendes Licht 11 kann als Gerät dienen, durch das das Vorliegen oder Nichtvorliegen von einem fremden Partikel haftend an dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 geprüft wird, durch Bestrahlen des Probenstifts 101 mit ultravioletten Strahlen vor und nach dem Reinigen des Probenstifts. Hierdurch kann der Anwender einfach visuell das Vorliegen oder Nichtvorliegen eines fremden Partikels bestätigen, der als die ultravioletten Strahlen reflektiert und hierdurch weiß erscheint. Hier bedeutet "visuell" nicht, dass der Anwender die fremden Partikel mit bloßen Augen beobachtet, sondern es bedeutet, dass der Anwender dies zwingend über die Anwendung eines Ultraviolett-Strahlungs-Entfernungsfilter ausführt. Zusätzlich kann die Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 mit einer Antriebsenergieversorgung (nicht gezeigt) ausgestattet sein, die den Umschallvibrationsgenerator 7, das Rücklichtgerät 11 und das (nicht gezeigte) Gebläse mit Energie versorgt. Es wird angenommen, dass jede Einheit aus dem Gerät, der Vorrichtung und dem Mechanismus in dem Zustand vorliegt, wo sie durch die Antriebsenergieversorgung (nicht gezeigt) angetrieben werden, für die folgende Beschreibung des Betriebs der Probenstift-Reinigungseinrichtung.
  • Der Betrieb wird nun nachfolgend beschrieben.
  • Zunächst wird der Probenstift 101, fixiert an dem zu reinigenden Stiftboard 201, mit ultravioletten Strahlen von dem Rücklichtgerät 11 bestrahlt, wie in 2 gezeigt. Auf diese Weise kann das Vorliegen oder Nichtvorliegen fremder Partikel, anhaftend an dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101, visuell bestätigt werden. Dann wird, wie in 1 gezeigt, die Stütze 4 bei der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 platziert. Die Stütze 4 kann die Höhe haben, die spezifisch für die Dicke des oben erwähnten Stiftboards 201 angeglichen ist. Hiernach wird eine gewisse Menge von Reinigungslösung 2 in den Reinigungsbehälter 3 gegossen, damit es eine vorgegebene Tiefe annimmt. Die Lösung kann eine Lösung sein, die Ethanol gemäß einem vorgegebenen Umfang enthält, oder jedes andere geeignete Material in einer vorgegebenen Menge.
  • Dann wird das Stiftboard 201 rücklings bzw. auf dem Kopf stehend an der Stütze 4 so montiert, dass der Probenstift 101 des Boards 201 nach unten zeigt. Somit wird der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 mit einer vorgegebenen Tiefe eingetaucht. beispielsweise beträgt die vorgegebene Tiefe bevorzugt 1 mm. Hiernach wird der Reinigungsbehälter 3 an dem oberen Abschnitt des externen Behälters 3 über das Medium des Stoßabsorbers 5 platziert. Alternativ wird der Reinigungsbehälter 3 zunächst bei dem oberen Abschnitt des externen Behälters 6 über den Stoßabsorber 5 platziert. Dann wird die Stütze 4 an der inneren Unterseite dieses Reinigungsbehälters 3 platziert, und die Reinigungslösung 2 wird in den Reinigungsbehälter 3 gegossen. Hiernach kann das Stiftboard 201 rücklings an der Stütze 4 montiert werden, wodurch der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in der Reinigungslösung 2 eingetaucht ist.
  • Als nächstes wird der Oszillator 10 des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 getrieben, und die von dem Vibrator 9 erzeugte Ultraschallschwingung liegt an der Reinigungslösung 2 über den Reinigungsbehälter 3 an. Demnach wird das Reinigen des Probenstifts 101 gestartet. Dann wird, nach dem Verstreichen einer vorgegebenen Zeit, das Treiben des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 gestoppt. Das Stiftboard 201 zum Fixieren des Probenstifts 101 wird von dem Reinigungsbehälter 3 bewegt, und die Reinigungslösung 2, abgeschieden an dem Probenstift 101, wird verdampft. Zu dieser Zeit kann, wenn erforderlich (nicht gezeigt) die Lösung hiervon unter Verwendung des Winds von dem Gebläse verdampft bzw. verdunstet bzw. abgeführt werden. Das Stiftboard 201 zum Fixieren des Probenstifts 101 ist so platziert, dass der Probenstift 101 nach oben zeigt. Dann lässt sich die ......? bedingung für das Fremdpartikel, haftend an dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101, in jeder geeigneten Weise beobachten. Beispielsweise kann die Entfernungsbedingung visuell beobachtet werden, durch Bestrahlen des Stylusabschnitt mit ultravioletten Strahlen von dem Rücklichtgerät 11, wie in 2 gezeigt. Wir bestätigt, dass das Fremdpartikel vollständig entfernt wurde, so kann das Stiftboard 201 für den Leitungstest der Einrichtungen wie beispielsweise einer gedruckten Leiterplatte (nicht gezeigt) wiederverwendet werden.
  • Wie oben erwähnt, ist die Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß der ersten Ausführungsform so gebildet, dass sie den Ultraschall-Vibrationsgenerator 7, der die Ultraschallvibration erzeugen kann, die zu der Reinigungslösung 2 gerichtet ist, in die der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 nach unten ausgerichtet eintaucht. Auf diese Weise lässt sich lediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 sicher wirksam durch die Ultraschallvibration reinigen, die zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 über das Medium der Reinigungslösung 2 getragen wird. Zur selben Zeit lässt sich aufgrund der Tatsache, dass keine Reinigungslösung 2 vorliegt, die entlang dem Probenstift 101 fließt und in das Stiftboard 201 eindringt, das Auftreten von Schwierigkeiten wie beispielsweise das Bewirken des Lösungsmittelrisses in dem Stiftboard 201 nach der Anwendung der aus der Vergangenheit bekannten Reinigungsvorrichtung sicher vermeiden. Weiterhin sind gemäß der ersten Ausführungsform der Auswurfmechanismus zum Auswerfen der Reinigungslösung und der Reinigungsluft, die üblicherweise eingesetzt werden, nicht erforderlich. Demnach kann die Reinigungseinrichtung kompakt ausgebildet sein.
  • Gemäß der ersten Ausführungsform wird die Probenstift-Reinigungseinrichtung so gebildet, dass sie Ethanol als Reinigungslösung 2 umfasst. Demnach ist es möglich, einfacher die Reinigungslösung zu erhalten, den Einfluss des menschlichen Körpers und des Umfelds zu verringern, die Reinigungsfähigkeit zu verbessern und einfacher der Probenstift 101 zu trocknen, aufgrund von dessen exzellenter Volatilität im Vergleich zu IPA oder GE, die in der Vergangenheit als die Reinigungslösungen verwendet wurden.
  • Gemäß der ersten Ausführungsform ist die Reinigungseinrichtung so gebildet, dass sie das Rücklichtgerät 11 enthält, durch das der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 mit ultravioletten Strahlen bestrahlt wird, und hierdurch lässt sich das Vorliegen oder Nichtvorliegen des fremden Partikels anhaftend an dem Stylusabschnitt visuell bestätigen. Demnach kann der Anwender einfach visuell das Vorliegen oder Nichtvorliegen des fremden Partikels bestätigen, da es ultravioletten Strahlen reflektiert und hierdurch weiß scheint, mittels der Bestrahlung des Probenstifts 101 mit ultravioletten Strahlen vor und nach dem Reinigen des Probenstifts 101.
  • Die 3 zeigt eine Fragment-Querschnittsansicht für die Konfiguration einer Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung. Von den Aufbauelementen, die bei der zweiten Ausführungsform verwendet werden, sind die Aufbauelemente, die gemeinsam zu denjenigen sind, die in der ersten Ausführungsform verwendet sind, anhand ähnlicher Bezugszeichen bezeichnet. Die Erläuterung der Elemente ist weggelassen.
  • Es wurde festgestellt, dass insbesondere gute Ergebnisse dann erhalten werden, wenn ein Reflexionsspiegel 12 zum Reflektieren der ultravioletten Strahlen von dem Rücklichtgerät 11 und zum Anwenden der Strahlen auf dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 über der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 vorgesehen ist. Gemäß der zweiten Ausführungsform kann das Rücklichtgerät 11 schräg über dem Reinigungsbehälter 3 so angeordnet sein, dass sich Ultraviolettstrahlen zu dem Reflexionsspiegel 12 anwenden lassen, der in dem Reinigungsbehälter 3 vorgesehen ist, schräg ausgehend von oberhalb der oberen Öffnung 3a des Reinigungsbehälters 3. Zusätzlich kann dann, wenn das Innere des Reinigungsbehälters 3 aus Material hergestellt ist, das ultraviolette Strahlen überträgt, der Reflexionsspiegel 12 über der äußeren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 vorgesehen sein.
  • Der Betrieb wird nun wie nachfolgend beschrieben.
  • Wie in 3 gezeigt, wird zunächst die Stütze 4, zugewiesen dem Stiftboard 201, an dem Reflexionspiegel 12 platziert, der über der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 vorgesehen ist. Hiernach wird die Reinigungslösung 2 mit vorgegebenem Umfang in den Reinigungsbehälter 3 so gegossen, dass sie eine vorgegebene Tiefe annimmt. Es ist zu erwähnen, dass die Lösung Ethanol oder irgendein anderes Material enthalten kann.
  • Dann ist das Stiftboard 201 rücklings so auf der Stütze 4 montiert, dass der an dem Board 201 fixierte Probenstift 101 nach unten ausgerichtet ist. Als nächste wird der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 mit einer vorgegebenen Tiefe eingetaucht. Beispielsweise kann die vorgegebene Tiefe 1 mm sein. Hiernach wird der Reinigungsbehälter 3 an dem oberen Abschnitt des externen Behälters 6 über den Stoßabsorber 5 platziert. Alternativ wird der Reinigungsbehälter 3 an dem oberen Abschnitt des externen Behälters 6 über den Stoßabsorber 5 platziert. Dann wird die Stütze 4 an der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 platziert. Anschließend wird Reinigungslösung 2 in den Reinigungsbehälter 3 gegossen. Hiernach kann das Stiftboard 201 rücklings auf der Stütze 4 platziert sein, so dass der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eintaucht.
  • Als nächstes wird das Rücklichtgerät 11 erleuchtet, und die ultravioletten Strahlen hiervon liegen an dem Reflexionsspiegel 12 an, der über der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 installiert ist. Während einem visuellen Beobachten des Fremdpartikels, das weiß aufgrund der Bestrahlung mit ultravioletten Strahlen scheint, und an dem Stylusabschnitt des Probenabschnitts 101 haftet, wird der Oszillator 10 des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 getrieben, und hierdurch liegt die von dem Vibrator 9 erzeugte Ultraschallvibration an der Reinigungslösung 9 über den Reinigungsbehälter 3 an. Hierdurch wird das Reinigen des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 gestartet. Dann kann, wenn das Entfernen der Fremdpartikel noch nicht vollständig abgeschlossen ist, obgleich eine vorgegebene Zeit verstrichen ist, die Reinigungszeit im Umfang des Erfordernis erweitert werden. Dann wird, wenn bestätigt wird, dass die Fremdpartikel vollständig entfernt sind, das Rücklichtgerät 11 abgeschaltet, und der Antrieb des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 wird gestoppt. Hiernach wird das Pinboard 201 zum Fixieren des Probenstifts 101 von dem Reinigungsbehälter 3 bewegt, und die an dem Probenstift 101 anhaftende Reinigungslösung 2 kann verdampft bzw. entfernt werden. Zu dieser Zeit kann die Lösung 2 hiervon unter Verwendung des Winds von dem Gebläse verdampft bzw. entfernt werden, sofern erforderlich (nicht gezeigt). Auf diese Weise lässt sich das Stiftboard 201 für einen Leitungstest für Einrichtungen wie einer gedruckten Leiterplatte (nicht gezeigt) wieder verwenden.
  • Wie oben erwähnt, erfolgt gemäß der zweiten Ausführungsform ein Aufbau, zusätzlich zu der Konfiguration der ersten Ausführungsform, dahingehend, dass der Reflexionsspiegel 12, der die Ultraviolettstrahlen von dem Rücklichtgerät 11 reflektiert und die Strahlen zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 weiterleitet bzw. an diesen anlegt, über der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 vorgesehen ist. Hierdurch kann, während ein Beobachten der Entfernungsbedingung für die Fremdpartikel haftend an dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 erfolgt, insbesondere des Reinigungspegels, der Anwender den Ultraschall-Vibrationsgenerator 7 treiben und bewirken, dass der Generator Ultraschallvibration erzeugt, wodurch lediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 durch Anwendung der Vibration gereinigt wird. In der ersten Ausführungsform konnte der Anwender das Stiftboard 201 des Probenstifts 101 von der Probenstift-Reinigungseinrichtung 1 abnehmen und er konnte dann das Reinigungsniveau des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 bestätigen. Jedoch kann bei der zweiten Ausführungsform der Anwender das Reinigen des Probenstifts in einer weiter verkürzten Zeit mit einem höheren Umfang an Wirkungsgrad ausführen.
  • Die 4 zeigt eine Fragment-Querschnittsansicht zum Darstellen der Konfiguration einer automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtung gemäß einer dritten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, und die 5 zeigt ein Flussdiagramm zum Angeben der Beschreibung des Betriebs der in 4 gezeigten automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtung. Von den Aufbauelementen, die bei der dritten Ausführungsform verwendet werden, sind die Aufbauelemente, die gemeinsam sind zu denjenigen, die bei der ersten Ausführungsform verwendet werden, anhand ähnlicher Bezugszeichen bezeichnet. Die Erläuterung der Elemente ist weggelassen.
  • Es wurde festgestellt, dass besonders gute Ergebnisse dann erhalten werden, wenn die Ultraschallreinigung des Stylusabschnitt des Probenstifts 101 automatisch ausgeführt wird. D.h., wie in 4 gezeigt, es wird ein Schwarzlicht-Übertragungsgebiet (Engl.: black light transmission region) 3c an der Unterseite des Reinigungsbehälters 3 einer automatischen Probenstift-Reinigungseinrichtung 20 gebildet. Ferner ist der Innenraum 8 mit einer Bilderkennungskamera 21 ausgestattet, mit einer Schwarzlicht-Beleuchtungsfunktion, unter dem Schwarzlicht-Übertragungsgebiet 3c.
  • Die Bilderkennungskamera 21 kann einen Mechanismus enthalten, der selektiv und sequentiell den Stylusabschnitt von zumindest einem Probenstift beobachtet, aus der Vielzahl der Probenstifte 101, die an dem Stiftboard 201 fixiert sind, das an dem Reinigungsbehälter 3 montiert ist, während einem Bestrahlen des Stylusabschnitt mit ultravioletter Strahlung. Weiterhin kann an der inneren Unterseite des Reinigungsbehälters 3 ein Styluspositions-Detektionssensor 22, ein Pegelmessgerät 23 und ein elektrischer Elevator bzw. eine elektrische Hebevorrichtung 24 vorgesehen sein. Der Styluspositions-Detektionssensor 22 kann die Positionen der Stylusabschnitte der Probenstifte 101 detektieren, anders als der Probenstift 101, der durch die oben erwähnte Bilderkennungskamera 21 zu beobachten ist. Das Pegelmessgerät 23 kann den Pegel der Reinigungslösung 2 detektieren, die in den Reinigungsbehälter 3 eingegossen ist. Der elektrische Elevator (Hebevorrichtung) 24 kann horizontal das Stiftboard 201 so anheben oder absenken, dass die Positionen (Höhen) der Stylusabschnitte der Probenstifte 101 im Hinblick auf den Pegel der Reinigungslösung 2 geändert werden können.
  • Es kann elektrisch mit einem Computer 25 jede Einheit von der Bilderkennungskamera 21, dem Styluspositions-Detektionssensor 22, dem Pegelmessgerät 23, dem elektrischen Elevator 24 und dem Oszillator 10 des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 verbunden sein. Demnach kann der Computer 25 den Antrieb des elektrischen Elevators 24 und des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 steuern, abhängig von der Information von der Bilderkennungskamera 21, dem Styluspositions-Detektionssensor 22 und dem Pegelmessgerät 23. Spezifischer kann der Computer 25 einen/eine Bilderkennungsmechanismus oder -Vorrichtung in Wechselwirkung mit der Bilderkennungskamera 21 bilden. Der Bilderkennungsmechanismus kann den Reinigungspegel des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 kennen, durch Analysieren der Bildinformation über den Stylusabschnitt des Probenstifts 101 von der Bilderkennungskamera 21.
  • Weiterhin kann der Computer 25 einen Prüfmechanismus in Wechselwirkung mit dem Styluspositions-Detektionssensor 22 und dem Pegelmessgerät 23 bilden. Der Prüfmechanismus kann prüfen, ob der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eintaucht oder nicht, zum Signalisieren der Positionsinformation für den Stylusabschnitt des Probenstifts 101 von dem Styluspositions-Detektionssensor 22 und der Pegelinformation für die Reinigungslösung 2 von dem Pegelmessgerät 23. Ferner kann die Oberseite des elektrischen Elevators 24 mit einem Gewichtssensor (nicht gezeigt) versehen sein, der bestimmt, ob das Stiftboard 201 hierauf platziert ist oder nicht.
  • Das Rücklicht-Übertragungsgebiet 3c kann bevorzugt Glas als sein Material verwenden, jedoch ist das Material nicht auf Glas beschränkt. Das Rücklicht-Übertragungsgebiet 3c kann aus jedem anderen Material hergestellt sein, das einen Durchlassgrad und mechanische Stärke aufweist, die vergleichbar mit derjenigen von Glas ist.
  • Der elektrische Elevator bzw. das elektrische Hebewerk 24 kann jeden Anhebe- und Absenkmechanismus umfassen, der elektrisch das Starten und Stoppen des Anhebens und Absenkens des Stiftboards 201 durch den Befehl von dem Computer 25 timen kann, und präzise das Stiftboard 201 anheben oder absenken kann, beispielsweise in der Einheit eines Millimeters.
  • Zusätzlich kann dann, wenn der Pinboard 201 eine nicht kontaktierende Komponente 26 hat, die nicht in Kontakt zu der Reinigungslösung 2 wie Ethanol gelangen soll, das Stiftboard 201 eine vorstehende Abdeckung 27 zum Abdecken der nicht zu kontaktierenden Komponente 26 haben, wie beispielsweise in 4 gezeigt. Beispielsweise kann die vorstehende Abdeckung entfernbar hieran mit einer Schnapppressstruktur (Engl.: snapfit structure) oder irgendeiner anderen gewünschten Weise angebracht sein.
  • Der Betrieb wird nun wie folgt beschrieben.
  • Vor dem Start des Reinigens wird der elektrische Elevator 24 zunächst bei der Position gestoppt, wo der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 nicht in die Reinigungslösung 2 eintaucht (hiernach in Bezug genommen als die obere Position). Der Umfang der Reinigungslösung 2 wird so bestimmt, dass der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 nicht in die Reinigungslösung 2 dann eintaucht, wenn das Stiftboard 201 rücklings an dem elektrischen Elevator 24 montiert ist. In diesem Zustand kann das Pegelmessgerät 23 genau den Pegel der Reinigungslösung 2 in dem Reinigungsbehälter 3 messen (Schritt ST1). Ist der Pegel der Lösung detektiert, so wird die Pegelinformation zu dem Computer 25 gesendet und in diesem gespeichert.
  • Dann prüft ein (nicht gezeigter) Gewichtssensor, ob das Stiftboard 201 an dem elektrischen Elevator 24 montiert ist oder nicht (Schritt ST2). Ist das Stiftboard 201 an dem elektrischen Elevator 24 montiert, so wird die geprüfte Information zu dem Computer 25 übertragen. Diese Informationsübertragung wird ein Trigger, und der Styluspositions-Detektionssensor 22 detektiert die Position des Stylusabschnitts des Stiftboards 201, der an dem elektrischen Elevator 24 montiert ist (Schritt ST3). Wird. diese Styluspositions-Detektionsinformation zu dem Computer 25 gesendet, so bestimmt der Computer 25 die Position, bei der lediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eintaucht (hiernach als untere Position in Bezug genommen), auf der Grundlage der Styluspositions-Detektionsinformation und der oben erwähnten Pegelinformation, und er bewirkt das Absenken des elektrischen Elevators 24 zu der unteren Position (Schritt ST4).
  • Dann bewirkt in dem Zustand, in dem der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eingetaucht ist, die Rücklichtfunktion der Bilderkennungskamera 21 das Anlegen von ultravioletten Strahlen zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101 über das Rücklicht-Übertragungsgebiet 3c, und zu derselben Zeit überwacht die Bilderkennungskamera 21 den Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in dem Zustand, in dem die Reinigung noch nicht gestartet ist (Schritt ST5). Diese Bildinformation kann sukzessive zu dem Computer 25 gesendet werden, als Information zum Anzeigen der Kontaminationsbedingung des Stylusabschnitts des Probenstifts 101.
  • Dann wird der Oszillator 10 des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 getrieben, und der Vibrator 9 erzeugt eine Ultraschallvibration zu der Reinigungslösung 2 über den Reinigungsbehälter 3. Demnach wird das Reinigen des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 gestartet (Schritt ST6). Dann bestimmt auf der Grundlage der Bildinformation, überwacht durch die Bilderkennungskamera 21, der Computer 25, ob das Fremdpartikel des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 vollständig entfernt ist oder nicht (Schritt ST7). Wird bestimmt, dass das Fremdpartikel vollständig weggenommen ist, so wird der Betrieb in der Bilderkennungskamera 21 und der Antrieb des Ultraschall-Vibrationsgenerators 7 gestoppt, und die Reinigung wird beendet (Schritt ST8).
  • Dann wird das Stiftboard 201 in dem Zustand abgenommen, bei dem der elektrische Elevator 24 in der oberen Position gehalten ist. Dann belüftet das Gebläse (nicht gezeigt) den Probenstift 101, fixiert an dem Stiftboard 201, wenn erforderlich, wodurch die Reinigungslösung 2, die hierauf abgeschieden ist, verdampft bzw. entfernt wird. Auf diese Weise kann das Stiftboard 201 durch den Leitungstest von Einrichtungen wie einer gedruckten Leiterplatte (nicht gezeigt) wiederverwendet werden.
  • Wie oben erwähnt, ist gemäß der dritten Ausführungsform die Probenstift-Reinigungseinrichtung so gebildet, dass sie die Bilderkennungskamera 21 und den Computer 25 als Bilderkennungsvorrichtung enthält, die das Fremdpartikel an dem Probenstift 101 beobachten können, durch Erkennen des Bilds von dem Stylusabschnitt des Probenstifts 101, wenn er mit ultravioletter Strahlung bestrahl wird, und zusätzlich zu dem Ultraschall-Vibrationsgenerator 7. Hierdurch kann die Probenstift-Reinigungseinrichtung mittels Ultraschall den Stylusabschnitt des Probenstifts 101 reinigen, während das Reinigungsniveau des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 überwacht wird. Demnach lässt sich die Reinigungszeit steuern, und das Reinigen des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 kann automatisiert werden.
  • Gemäß der dritten Ausführungsform ist die Probenstift-Reinigungseinrichtung so gebildet, dass sie den Styluspositions-Detektionssensor 22, das Pegelmessgerät 23 und den Computer 25 enthält, als Detektionseinheit, die prüfen kann, ob der Stylusabschnitt des Probenstifts 101, fixiert an dem Stiftboard 201, in die Reinigungslösung 2 eingetaucht ist oder nicht, und den elektrischen Elevator (die Hebevorrichtung) 24, die die Position von der Position des Stylusabschnitts des Probenstifts 101 im Hinblick auf den Pegel der Reinigungslösung 2 auf der Grundlage der durch diese Detektionseinheit erhaltenen Detektionsinformation ändern kann. Aus diesem Grund kann dann, wenn der Anwender einfach das Stiftboard 201 an dem elektrischen Elevator 24 montiert, das Stiftboard 201 automatisch angehoben oder abgesenkt werden, so dass lediglich der Stylusabschnitt des Probenstifts 101 in die Reinigungslösung 2 eintauchen kann, wodurch der Vorbereitungsprozess vor dem Start des Reinigungsprozesses automatisiert ist.
  • 5
  • ST1
    Reinigungslösungspegel gemessen?
    ST2
    Stiftboard montiert?
    ST3
    Stylusposition detektiert?
    ST4
    Elektrischer Elevator abgesenkt?
    ST5
    Stylusüberwachung gestartet
    ST6
    Register gestartet
    ST7
    Fremdpartikel entfernt?
    ST8
    Überwachen/Reinigen beendet
    End = Ende
    Yes = Ja
    No = Nein

Claims (6)

  1. Probenstift-Reinigungseinrichtung (1), enthaltend: ein Fixierelement (201) zum aufrechten Fixieren eines Probenstifts (101); ein Halteelement (4) zum Halten des Fixierelements (201); einen Reinigungsbehälter (3) zum Aufnehmen einer Reinigungslösung; und eine Ultraschallvibrations-Erzeugungsvorrichtung (7) zum Erzeugen von Ultraschallschwingungen, gerichtet zu der Reinigungslösung, in die der Stylusabschnitt des Probenstifts (101) nach unten gerichtet eintaucht.
  2. Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch 1, wobei die Reinigungslösung Ethylalkohol enthält.
  3. Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch 2, enthaltend eine Ultraviolett-Bestrahlungsvorrichtung (11) zum Bestrahlen des Stylusabschnitts des Probenstifts (101) mit ultravioletten Strahlen zum Detektieren des Vorliegens oder Nichtvorliegens eines Fremdpartikels an dem Abschnitt.
  4. Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch 3, enthaltend einen Reflexionsspiegel, der an der Unterseite des Reinigungsbehälters (3) mit der Reinigungslösung vorgesehen ist, zum Reflektieren der ultravioletten Strahlen von der Ultraviolette-Bestrahlungsvorrichtung, und zum Anlegen der Strahlen zu dem Stylusabschnitt des Probenstifts (101).
  5. Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch 3, enthaltend eine Bilderkennungsvorrichtung (21) zum Erkennen des Bilds des Stylusabschnitts des Probenstifts (101), das mit den ultravioletten Strahlen bestrahlt wird, und hierdurch zum Detektieren des Vorliegens oder Nichtvorliegens eines Fremdpartikels an dem Probenstift (101).
  6. Probenstift-Reinigungseinrichtung (1) nach Anspruch 5, enthaltend: eine Prüfvorrichtung (22, 23, 25) zum Prüfen, ob der Stylusabschnitt des Probenstifts fixiert an dem Fixierelement (201) in die Reinigungslösung eintaucht oder nicht; und eine Hebevorrichtung (24) zum Ändern der Position des Stylusabschnitts des Probenstifts (101) im Hinblick auf den Pegel der Reinigungslösung abhängig von der Prüfinformation, die durch die Prüfvorrichtung (22, 23, 25) abgegeben ist.
DE102004014185A 2003-04-08 2004-03-23 Probenstift-Reinigungsvorrichtung Withdrawn DE102004014185A1 (de)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2003-104298 2003-04-08
JP2003104298A JP2004305936A (ja) 2003-04-08 2003-04-08 プローブピン洗浄装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE102004014185A1 true DE102004014185A1 (de) 2004-11-18

Family

ID=33127783

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE102004014185A Withdrawn DE102004014185A1 (de) 2003-04-08 2004-03-23 Probenstift-Reinigungsvorrichtung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US20040200515A1 (de)
JP (1) JP2004305936A (de)
CN (1) CN1290628C (de)
DE (1) DE102004014185A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014019493A1 (de) * 2014-12-23 2016-06-23 Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Bundesministerium der Verteidigung, vertreten durch das Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr Reinigungsverfahren

Families Citing this family (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9833818B2 (en) 2004-09-28 2017-12-05 International Test Solutions, Inc. Working surface cleaning system and method
CN1978073B (zh) * 2005-11-30 2010-05-26 中国科学院电工研究所 原子力显微镜针尖清洗方法及装置
CN100548514C (zh) * 2007-08-28 2009-10-14 王永幸 一种自动清洗装置
US8371316B2 (en) 2009-12-03 2013-02-12 International Test Solutions, Inc. Apparatuses, device, and methods for cleaning tester interface contact elements and support hardware
KR101488718B1 (ko) 2013-04-19 2015-02-04 (주)새한이엔씨 탁도측정장치의 부유물 부착 방지구조
CN103230897B (zh) * 2013-04-23 2016-01-20 上海裕隆生物科技有限公司 一种清洗装置及清洗方法
CN103240237A (zh) * 2013-04-23 2013-08-14 上海裕隆生物科技有限公司 一种超声波振动清洗槽及使用该清洗槽的清洗方法
CN103316865B (zh) * 2013-06-07 2015-05-20 深圳市矽电半导体设备有限公司 一种半导体测试探针清洗装置及方法
CN105170558A (zh) * 2015-09-25 2015-12-23 无锡市博阳超声电器有限公司 一种新型超声波清洗机
CN106914451A (zh) * 2017-03-24 2017-07-04 苏州林信源自动化科技有限公司 一种多控制器的超声波清洗装置
CN106914452A (zh) * 2017-03-24 2017-07-04 苏州林信源自动化科技有限公司 一种超声波发生装置
US9825000B1 (en) 2017-04-24 2017-11-21 International Test Solutions, Inc. Semiconductor wire bonding machine cleaning device and method
CN107741513A (zh) * 2017-10-10 2018-02-27 德淮半导体有限公司 用于测试晶圆的探针卡
CN108325931A (zh) * 2017-12-22 2018-07-27 合肥国轩高科动力能源有限公司 一种化成柜探针超声波清洗机
CN108043815A (zh) * 2017-12-22 2018-05-18 珠海市海辉电子有限公司 一种钻针超声波清洗治具
WO2019165305A1 (en) 2018-02-23 2019-08-29 International Test Solutions, Inc. Novel material and hardware to automatically clean flexible electronic web rolls
CN108246710A (zh) * 2018-04-16 2018-07-06 珠海格力新元电子有限公司 一种键合焊头的清洗方法、清洗支架及清洗装置
CN110153088A (zh) * 2019-05-24 2019-08-23 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 Ph探针标定清洗和干燥装置
US11756811B2 (en) 2019-07-02 2023-09-12 International Test Solutions, Llc Pick and place machine cleaning system and method
US10792713B1 (en) 2019-07-02 2020-10-06 International Test Solutions, Inc. Pick and place machine cleaning system and method
US11318550B2 (en) 2019-11-14 2022-05-03 International Test Solutions, Llc System and method for cleaning wire bonding machines using functionalized surface microfeatures
US11211242B2 (en) 2019-11-14 2021-12-28 International Test Solutions, Llc System and method for cleaning contact elements and support hardware using functionalized surface microfeatures
US11035898B1 (en) 2020-05-11 2021-06-15 International Test Solutions, Inc. Device and method for thermal stabilization of probe elements using a heat conducting wafer
CN114414862B (zh) * 2020-11-28 2023-03-14 法特迪精密科技(苏州)有限公司 测试探针清洁方法的粘性吸附方法
CN112916504B (zh) * 2021-03-30 2022-11-18 苏州宏达威电子科技有限公司 一种cpu性能测试探针清洁方法
CN113477648A (zh) * 2021-07-15 2021-10-08 深圳市爱康生物科技有限公司 一种多功能洗针槽
CN113649338B (zh) * 2021-08-19 2022-09-02 万安裕高电子科技有限公司 一种smt自清洁系统
CN118275741A (zh) * 2024-04-08 2024-07-02 保定市力兴电子设备有限公司 一种直阻加有载测试装置
CN118289472B (zh) * 2024-06-06 2024-10-01 天津伍嘉联创科技发展股份有限公司 一种晶振电清洗装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3900339A (en) * 1972-07-07 1975-08-19 Nikolai Andreevich Filipin Method for washing a vessel in a hermetically closed chamber
US4028135A (en) * 1976-04-22 1977-06-07 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method of cleaning surfaces by irradiation with ultraviolet light
US4442852A (en) * 1982-07-30 1984-04-17 Lord C Dennis Ultrasonic cleaner apparatus
US4624690A (en) * 1985-06-28 1986-11-25 Markel Industries, Inc. Apparatus for removing particulates
US5505785A (en) * 1994-07-18 1996-04-09 Ferrell; Gary W. Method and apparatus for cleaning integrated circuit wafers
JPH11230989A (ja) * 1997-12-10 1999-08-27 Mitsubishi Electric Corp プローブカード用プローブ針のクリーニング方法およびクリーニング装置とそれに用いる洗浄液
JP2001313317A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Ando Electric Co Ltd プローブの清掃方法及び清掃装置

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102014019493A1 (de) * 2014-12-23 2016-06-23 Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Bundesministerium der Verteidigung, vertreten durch das Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr Reinigungsverfahren
DE102014019493B4 (de) 2014-12-23 2021-08-26 Bundesrepublik Deutschland, vertreten durch das Bundesministerium der Verteidigung, vertreten durch das Bundesamt für Ausrüstung, Informationstechnik und Nutzung der Bundeswehr Reinigungsverfahren

Also Published As

Publication number Publication date
CN1535765A (zh) 2004-10-13
CN1290628C (zh) 2006-12-20
US20040200515A1 (en) 2004-10-14
JP2004305936A (ja) 2004-11-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE102004014185A1 (de) Probenstift-Reinigungsvorrichtung
DE3111852C2 (de)
DE19515154A1 (de) Tastkopf-Meßhantiergerät, Verfahren zum Prüfen integrierter Schaltungen und integrierter Schaltungsbaustein
DE2344239B2 (de) Kontaktvorrichtung zum anschliessen einer gedruckten schaltung an ein pruefgeraet
DE2706834C2 (de) Verfahren zum Messen der Verunreinigung einer elektronischen Baueinheit durch Ionen und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens
EP1186898B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten
DE3019206A1 (de) Verfahren zur kontaktierung von galvanischen kontakten einer ausweiskarte mit eingebettetem ic-baustein
DE102007002251A1 (de) Verfahren zum Durchführen eines Prüfsondentests sowie Verfahren und Vorrichtung zum Detektieren von Abnormalitäten in einer Prüfsondenkarte
EP0133879A1 (de) Einrichtung zur Oberflächenprüfung plattenförmiger Werkstücke
DE69707624T2 (de) Apparat zur Inspektion von Leiterplatten
DE102014102918A1 (de) Selbstöffnungs- und Auswerfsystem mit systemintegrierter Testhalterung Erfinder
CN112304975A (zh) 印刷电路板的检修方法及其系统
EP0072558A2 (de) Pipettierverfahren und -automat
DE4435579C2 (de) Vorrichtung zur Prüfung der Klebehaftung eines Trägerelements mit IC-Bausteinen in einer Chipkarte
DE102005007593B4 (de) Sockel-Vorrichtung zum Testen von Halbleiter-Bauelementen und Verfahren zum Aufnehmen eines Halbleiter-Bauelements in einer Sockel-Vorrichtung
DE10144941A1 (de) Einrichtung und Verfahren zur Durchgangsprüfung von Pogo-Stiften in einer Sonde
DE3900040C2 (de) Verfahren zur elektrischen Prüfung von Leiterbahnen auf Kurzschlüsse
EP1272274B1 (de) Verfahren zur herstellung von biopolymer-feldern mit echtzeitkontrolle
EP0232265B1 (de) Verfahren und vorrichtung zum prüfen von flüssigen arzneimitteln
DE3602395C2 (de) Verfahren zur Selbstkontrolle einer optoelektronischen Rißerkennungsvorrichtung
DE2535019C3 (de) Ultraschallpriifverfahren zum Erkennen von Material- und Bearbeitungsfehlern in Rotationskörpern
DE2033877C3 (de) Sondenhalter für die Ultraschallprüfung von Turbomaschinenschaufeln
DE102019000167A1 (de) Prüfkarte zum Messen von integrierten Schaltungen auf einer Halbleiterscheibe und Prüfverfahren
EP0592878A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Nadelkarten für die Prüfung von integrierten Schaltkreisen
DE102021003014B4 (de) Verfahren zum Bestimmen der Qualität einer elektrischen Verbindung

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee