DE10158807C1

DE10158807C1 - Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit mittels einer konfigurierbaren Vorrichtung

Info

Publication number: DE10158807C1
Application number: DE10158807A
Authority: DE
Inventors: Renate Henftling; Andreas Zinn; Wolfgang Ecker; Matthias Bauer; Martin Zambaldi
Original assignee: Infineon Technologies AG
Current assignee: Infineon Technologies AG
Priority date: 2001-11-30
Filing date: 2001-11-30
Publication date: 2003-06-26
Anticipated expiration: 2021-12-01

Abstract

Die Erfindung schafft ein Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) durch eine Test- und/oder Simulationseinrichtung, wobei die zu verifizierende Schaltungseinheit (101) an das mindestens eine Testbenchelement (102a-102n) über die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) angeschlossen wird, ein Testbench-Controller (103) mit einem Datenstrom (114), der von einem Steuerelement (104) bereitgestellt wird, beaufschlagt wird, mindestens ein Steuerdatenstrom (111a-111n) von dem Testbench-Controller (103) zu den entsprechenden Testbenchelementen (102a-102n) geführt wird, welche dann entsprechende Operationen ausführen, und mindestens ein Testbenchelement-Konfigurationsdatenstrom (401, 402, 403) von mindestens einem Testbenchelement (102a-102n) zu der mindestens einen Konfigurationsschale (301, 302) geführt wird, um dieselbe vorgebbar zu konfigurieren.

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zum Durch führen von Simulationen zur Überprüfung einer funktionalen Korrektheit einer Schaltungseinheit, und betrifft insbesonde re ein Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu veri fizierenden Schaltungseinheit mittels einer konfigurierbaren Vorrichtung.

Es besteht für einen effizienten Hardware-Entwurf ein großer Bedarf an Tests, die mit sogenannten "Testbenches" durchge führt werden. Testbenches sind beispielsweise Modelle, welche die Umgebung eines Schaltungsentwurfs und entsprechende Ein gangssignale und von diesen Eingangssignalen abhängige Aus gangssignale, beispielsweise Signalantworten, nachbilden.

Derartige Modelle sind z. B., aber nicht ausschließlich, in Hardware-Beschreibungssprachen wie VERILOG und VHDL ausge führt. In vielen Fällen ist eine Co-Simulation von Hardware- und Software-Einheiten realisierbar, wie beispielsweise in "Matthias Bauer, Wolfgang Ecker: Hardware/Software Co- Simulation in a VHDL-based Test Bench Approach, DAC 97, Ana heim, California, U.S.A." beschrieben.

In einer Testbench wird beispielsweise ein Modell einer Schaltungseinheit bzw. eines Schaltungs-/Schaltkreis- Bausteins simuliert, wobei in vielen Fällen neben einer Funk tionalität des Schaltungsentwurfs auch ein Zeitverhalten zu berücksichtigen ist.

Testbenches nach dem Stand der Technik sind beispielsweise derart ausgebildet, dass mindestens ein Testbenchelement als logische Schnittstelle zwischen einem Testbench-Controller und einer zu verifizierenden Schaltungseinheit bereitgestellt wird. Ein Testbenchelement kann beispielsweise als ein Tran saktor oder als ein Protokollgenerator ausgeführt sein, wobei das jeweilige Testbenchelement die für eine logische Schnitt stelle benötigten Signalwertverläufe erzeugt. Eine Verknüp fung der Signale sowie eine Festlegung der entsprechenden Signalwertverläufe entspricht einem Protokoll, wobei spezifi sche Abfolgen von Signalwertverläufen zu Protokolloperatio nen, wie beispielsweise die Operationen:

- "Speicher lesen"
- "ATM (asynchroner Transfer Modus)-Zelle schicken"
- etc.

zusammengefasst werden, wobei derartige Protokolloperationen wiederum ineinander geschachtelt sein können, um beispiels weise folgende Operationen auszuführen:

- "DMA-Übertragung durchführen"
- "ATM-Zellensequenz schicken", um ATM-Schalter umzuprogram mieren,
- etc.

Eine derartige protokolloperations-bezogene Beschreibung erleichtert eine Auslegung von Testbenchelementen, welche wiederum mehrfach bei einer Durchführung von Simulationen wiederverwendet werden können. Es existieren unterschiedliche Schnittstellen, welche im Zusammenhang mit Testbenches ein setzbar sind.

Die zu verifizierende Schaltungseinheit kann durch eine be liebige Schaltungseinheit, wie beispielsweise einen Mikropro zessor, eine Mikrochip-Grafikkarte, etc. ausgebildet sein, wobei vorherrschend digitale Signale, gegebenenfalls aber auch gemischte analoge und digitale Signale verarbeitet wer den.

In sinnvoller Weise werden Testbenchelemente derart ausge legt, dass sie unter möglichst vielen Simulations- Randbedingungen bei möglichst vielen zu verifizierenden Schaltungseinheiten eingesetzt werden können. Herkömmlicher weise wird ein Testbench-Controller als ein zentrales Steuer element eingesetzt, durch welchen es ermöglicht wird, den Gesamtablauf einer Simulation zu steuern. Der Testbench- Controller wird in herkömmlicher Weise mit einem Simulations programm beaufschlagt, das zentral bereitgestellt wird.

Weiterhin kommuniziert der Testbench-Controller mit jedem einzelnen Testbenchelement über einen Steuerdatenstrom, wobei eine Verbindung zwischen dem Testbench-Controller und dem jeweiligen Testbenchelement bereitgestellt ist. Eine Abfolge von Protokolloperationen kann beispielsweise in einem Testbenchelement spezifiziert sein, wobei diese entweder fest in einem Modell codiert sind oder eine gewünschte Abfolge von Protokolloperationen aus einer Datei eingelesen wird.

In manchen Fällen können die Testbenchelemente untereinander synchronisiert werden. Hierbei müssen bei einer Simulation von übergreifenden Tests, bei welcher sämtliche Protokollope rationen sämtlicher Testbenchelemente auszuführen sind, zeit gleich ablaufende Protokolloperationen an unterschiedlichen Stellen, d. h. in einem jeweiligen Testbenchelement, spezifi ziert werden.

Herkömmliche Testverfahren verwenden somit überwiegend Testbench-Architekturen, welche von einem Testbench- Controller als zentrale Einheit gesteuert werden, wobei den einzelnen Testbenchelementen übermittelt wird, welche Proto kolloperationen auszuführen sind. Weiterhin muss sicherge stellt sein, dass die Testbenchelemente dem Testbench- Controller mitteilen können, mit welchem Erfolg und mit wel chen Daten ein Ablauf der spezifischen Protokolloperationen ausgeführt bzw. beendet wurde.

Die WO 01/37089 A2 zeigt ein bekanntes Verfahren und eine bekannte Vorrichtung zum Simulieren und Testen elektronischer Systeme durch eine Testumgebung. Um ein schnelles und zuver lässiges Testen der Systeme zu ermöglichen, ist die Testumge bung derart ausgelegt, dass diese in voneinander verschiedene Teile, mindestens aber in einen Testbench-Element-Controller, der die Kommunikation mit einem Haupt-Controller aufrecht erhält, und ein Stimulus-Element zur Erzeugung von Testvekto ren aufgeteilt ist.

Die WO 01/37089 A2 zeigt jedoch keine Möglichkeit, Datenströ me zu konfigurieren, insbesondere keine separate Schale zum Konfigurieren von Datenströmen, welche zwischen mindestens einem Testbenchelement und einer zu verifizierenden Schal tungseinheit ausgetauscht werden.

Fig. 2 zeigt ein Blockbild eines herkömmlichen Verfahrens zur Simulation bzw. zur Verifikation einer zu verifizierende Schaltungseinheit 101 mittels eines in einem Steuerelement 104 abgelegten Testprogramms. Wie in Fig. 2 gezeigt, ist das Steuerelement 104, welches ein spezifisches Testprogramm enthält, an den Testbench-Controller 103 angebunden, wobei ein Datenstrom 114 von dem Steuerelement 104 zu dem Testbench-Controller 103 übermittelt wird.

Ein herkömmlicher Anschluss von Testbenchelementen 102a-102n erfolgt in herkömmlicher Weise mittels Steuerdatenströmen 111a-111n.

Es sei darauf hingewiesen, dass ein oder mehrere Testbenche lemente 102a, . . . 102i, . . . 102n vorhanden sein können, wobei i einen Laufindex darstellt.

Beispielhaft sind in Fig. 2 fünf unterschiedliche Testben chelemente dargestellt, wobei das Testbenchelement 102a bei spielsweise einer seriellen Schnittstelle entspricht, die Daten mittels eines seriellen Testdatenstroms 112 mit der zu verifizierende Schaltungseinheit 101 austauscht. Als weiteres Beispiel ist das Testbenchelement 102n als parallele Schnitt stelle dargestellt, die Testdaten mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit 101 mittels eines parallelen Testdaten stroms 113 austauscht.

In gleicher Weise erfolgt ein Datenaustausch zwischen den übrigen Testbenchelementen und der zu verifizierende Schal tungseinheit 101, wobei spezifizierte Datenströme (nicht gezeigt) ausgetauscht werden. Beispielhaft sind in Fig. 2 fünf Testbenchelemente 102a, 102b, 102i, 102i+1 und 102n dargestellt, es können jedoch weniger oder mehr Testbenchele mente bereitgestellt werden. Es ist klar erkennbar, dass die Anzahl der Steuerdatenströme 111a, . . . . 111i, (i = Laufindex), . . . 111n der Anzahl von Testbenchelementen 102a-102n entspre chen muss.

Dieser herkömmliche Anschluss von Testbenchelementen 102a- 102n an einen zentralen Testbench-Controller 103 als zentra les Steuerelement weist eine Reihe von Nachteilen auf.

Für jede mögliche Ausprägung einer Schnittstelle, d. h. für jedes mögliche Protokoll, das über die Signale dieser Schnittstelle versendet werden kann, wird eine eigene Test- und/oder Simulationseinrichtung erzeugt und mit eigenen Test fällen/Simulationsabläufen beaufschlagt, wobei in jeder die ser Test- und/oder Simulationseinrichtungen genaue eine Aus prägung einer Schnittstelle funktional überprüft wird, indem ein entsprechendes Testbenchelement direkt an eine zu verifi zierende Schaltungseinheit angeschlossen wird.

In nachteiliger Weise muss somit für jede Konfiguration einer Schnittstelle eine eigene Umgebung erstellt werden und jede Konfiguration einer Schnittstelle muss durch eine eigenstän dige Simulation überprüft werden. In herkömmlicher Weise wird aus Protokolloperationen einzelner Testbenchelemente ein Testfall für einen spezifischen Entwurf zusammengesetzt, wobei eine Nebenläufigkeit und eine zeitliche Abfolge von Protokolloperationen spezifiziert wird.

Es sei darauf hingewiesen, dass Verzögerungszeiten als dieje nigen Zeiten bezeichnet werden, um die sich Signalverläufe von einem oder mehreren Taktsignalen zeitlich unterscheiden, wobei Verzögerungszeiten auch Zeitbedingungen widerspiegeln, die im Verhältnis zu Takten einzuhalten sind.

Ein weiterer Nachteil herkömmlicher Verfahren zum Durchführen von Simulationen/Tests zur Überprüfung einer funktionalen Korrektheit einer Schaltungseinheit besteht darin, dass pro tokollbezogene Testbenches bzw. deren Testbenchelemente keine Variabilität einer Steuerung von Schalen, einer Priorisierung von Datenströmen und einer Umschaltung bezüglich analysierter Datenstromprotokolle zulassen.

In nachteiliger Weise müssen herkömmliche Vorrichtungen über einen Testbench-Controller direkt angesteuert werden.

Es ist daher eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine Entkoppelung von Vorrichtungen, die zwischen Testbenchelemen ten und einer zu verifizierenden Schaltungseinheit angeordnet sind, von dem Testbench-Controller bereitzustellen.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch das im Patentan spruch 1 angegebene Verfahren sowie durch eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Patentanspruchs 14 gelöst.

Weitere Ausgestaltungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.

Ein wesentlicher Gedanke der Erfindung besteht darin, die Vorrichtungen direkt von entsprechenden Testbenchelementen über Testbenchelement-Konfigurationsdatenströme bzw. durch eine Parameterbestimmung und Untersuchung vorgebbarer Daten muster der über die Vorrichtung übertragenen Datenströme zu konfigurieren.

Ein Vorteil des erfindungsgemäßen Verfahrens besteht darin, dass Testbenchelemente mit sehr viel höherer Effizienz in unterschiedlichen Verifikationseinrichtungen für Simulations- bzw. Testanwendungen wiederverwendbar sind.

Weiterhin ist vorteilhaft, dass zur Aufhebung von Datenstrom konflikten bei mehr als einem Testbenchelement eine automati sche Steuerung der Datenströme erfolgen kann.

Überdies ist es zweckmäßig, dass das erfindungsgemäße Verfah ren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit eine konfigurierbare Vorrichtung bzw. eine oder mehrere Konfigurationsschalen vorsieht, mit welchem eine explizite Priorisierung von Testdatenströmen und/oder Befeh len der Testbenchelemente bereitgestellt wird.

Das erfindungsgemäße Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifizierenden Schaltungseinheit mittels einer konfigurierbaren Vorrichtung weist im Wesentlichen die fol genden Schritte auf:

a) Anschließen der zu verifizierenden Schaltungseinheit an das mindestens eine Testbenchelement über mindestens eine Konfigurationsschale zum Austauschen von Schnittstellendaten strömen mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit, und zum Austauschen von seriellen und/oder parallelen Testdatenströ men mit dem mindestens einen Testbenchelement;
b) Beaufschlagen eines Testbench-Controllers mit einem Daten strom, der von einem Steuerelement bereitgestellt ist, um in vorteilhafter Weise einen Test- und/oder Simulationsablauf in einer Test- und/oder Simulationseinrichtung zu steuern;
c) Zuführen mindestens eines Steuerdatenstroms von dem Testbench-Controller zu der zu verifizierenden Schaltungsein heit über die mindestens eine Konfigurationsschale;
d) Zuführen mindestens eines Testbenchelement- Konfigurationsdatenstroms von mindestens einem Testbenchele ment zu der mindestens einen Konfigurationsschale, um diesel be vorgebbar zu konfigurieren;
e) Austauschen von Schnittstellendatenströmen zwischen der mindestens einen konfigurierten Konfigurationsschale und der zu verifizierenden Schaltungseinheit; und
f) Austauschen von seriellen und/oder parallelen Testdaten strömen zwischen der mindestens einen konfigurierten Konfigu rationsschale und dem mindestens einen Testbenchelement.

In den Unteransprüchen finden sich vorteilhafte Weiterbildun gen und Verbesserungen des jeweiligen Gegenstandes der Erfin dung.

Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung der vorliegenden Erfin dung wird mindestens ein Controller-Konfigurationsdatenstrom von dem Testbench-Controller zu der mindestens einen Konfigu rationsschale geführt, um diese vorgebbar zu konfigurieren.

Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vorliegen den Erfindung wird eine Konfiguration der mindestens einen Konfigurationsschale hinsichtlich einer Verzögerung von über die Konfigurationsschale übertragenen Datenströmen mittels Verzögerungselementen bereitgestellt.

In vorteilhafter Weise umfassen die Verzögerungselemente ein minimales Verzögerungselement zur Einstellung einer minimalen Signalverzögerung, ein typisches Verzögerungselement zum Einstellen einer vorgebbaren Signalverzögerung und ein maxi males Verzögerungselement zum Einstellen einer maximalen Signalverzögerung bei einer Übertragung von seriellen und/oder parallelen Testdatenströmen.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird die mindestens eine Konfigurations schale von dem Testbench-Controller und den Testbenchelemen ten völlig entkoppelt, so dass eine Steuerung der Konfigura tionsschale direkt durch die übertragenen Datenströme bereit gestellt wird, welche von der mindestens einen Konfigurati onsschale in vorteilhafter Weise analysiert und interpretiert werden.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden die Testbenchelement- Konfigurationsdatenströme in die Testbenchelemente einge bracht und mindestens einem Testbenchelement-Befehl zugeord net.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung wird der mindestens einen Konfigurations schale ein Ein-/Ausschaltstatus von mindestens einem der Testbenchelemente übergeben.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung weist die mindestens eine Konfigurations schale den Testdatenströmen und/oder den Befehlen der Testbenchelemente vorgebbare Prioritäten durch eine explizite Priorisierung zu.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung werden unterschiedliche Formate der min destens einen Konfigurationsschale durch die Testbenchelemen te aktiviert, wobei ein Umschalten von unterschiedlichen Formaten in der Testbench-Konfigurationsschale durch ein Umschalten des jeweiligen Testbenchelementes selbst erfolgt.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung werden unterschiedliche Formate, und/oder Modelle und/oder Beschrei bungen in der mindestens einen Konfigurationsschale durch die Testbenchelemente selbst und/oder durch ein Analysieren und Interpretieren von Datenströmen aktiviert.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird eine Konfiguration der mindestens einen Konfigurationsschale durch eine Parameterbestimmung der über die Konfigurationsschale übertragenen Datenströme bereitgestellt, wobei in vorteilhaf ter Weise aufwändige Testbenchelemente vermieden werden, welche vorgebbare Testbenchelement-Konfigurationsdatenströme bereitstellen müssen.

Gemäß noch einer weiteren bevorzugten Weiterbildung der vor liegenden Erfindung reagiert die mindestens eine Konfigurati onsschale auf vorgebbare Datenmuster in Datenströmen und/oder Steuerungsströmen bzw. Steuerungsdatenströmen, und initiiert in vorteilhafter Weise einen Steuerungsbetrieb.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung zur Konfiguration von Daten strömen, die zwischen Testbenchelementen und einer zu verifi zierenden Schaltungseinheit ausgetauscht werden, weist wei terhin auf:

a) einen Testbench-Controller zur Steuerung eines Test- und/oder Simulationsablaufs in einer Test- und/oder Simulati onseinrichtung;
b) eine zu verifizierende Schaltungseinheit, die in die Test- und/oder Simulationseinrichtung eingebracht ist;
c) mindestens ein Testbenchelement; und
d) mindestens eine Konfigurationsschale zum Austauschen von Schnittstellendatenströmen mit der zu verifizierenden Schal tungseinheit und zum Austauschen von seriellen und/oder pa rallelen Testdatenströmen mit entsprechenden Testbenchelemen ten,

wobei die Konfigurationsschalen durch Testbenchelement- Konfigurationsdatenströme von entsprechenden Testbenchelemen ten konfigurierbar sind, und
die Konfigurationsschalen durch mindestens einen Controller- Konfigurationsdatenstrom von dem Testbench-Controller konfi gurierbar sind.

Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher er läutert.

In den Zeichnungen zeigen:

Fig. 1 ein Blockbild einer erfindungsgemäßen Vorrichtung zur Konfiguration von Datenströmen mittels zweier beispielhaft dargestellter Konfigurationsschalen;

Fig. 2 ein Blockdiagramm einer herkömmlichen Vorrichtung;

Fig. 3 ein Blockdiagramm einer Vorrichtung gemäß einem weiteren Ausführungsbeispiel der vorliegenden Er findung, bei dem eine der beiden Konfigurations schalen von dem Testbench-Controller gesteuert wird und eine weitere Konfigurationsschale selbständig auf Datenströme reagiert; und

Fig. 4 ein Beispiel eines Datenstroms zur Konfiguration einer Konfigurationsschale mittels vorgebbaren Da tenmustern bzw. Parametern in Datenströmen.

In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche Komponenten oder Schritte.

In dem in Fig. 1 gezeigten Blockbild ist eine Anordnung gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung veranschaulicht. Eine zu verifizierende Schaltungs einheit 101 ist über erste Schnittstellendatenströme P0(0)- P0(7) mit einer ersten Konfigurationsschale 301 verbunden, welche mit Testbenchelementen 102a, 102b serielle Testdaten ströme 112 austauscht, während die zu verifizierende Schal tungseinheit 101 mit einer zweiten Konfigurationsschale 302 über zweite Schnittstellendatenströme P1(0)-P1(7) verbunden ist, welche parallele Testdatenströme 113 mit einem Testben chelement 102c austauscht. Es sei darauf hingewiesen, dass grundsätzlich mehr als zwei Konfigurationsschalen 301, 302 vorhanden sein können.

Gemäß dem in Fig. 1 gezeigten Ausführungsbeispiel der vor liegenden Erfindung weisen die Konfigurationsschalen 301 bzw. 302 spezifische Merkmale auf, die es erlauben, Signale unidi rektional und bidirektional zu verändern, beispielsweise zu verzögern. Bei einer Verzögerung werden die erste Konfigura tionsschale 301 und die zweite Konfigurationsschale 302 mit Informationen aus Verzögerungselementen 303-305 bzw. 306-308 versorgt. In dem Ausführungsbeispiel wird der ersten Konfigu rationsschale 301 durch das minimale Seriellverzögerungsele ment 303 eine minimale Verzögerungszeit, durch das typische Seriellverzögerungselement 304 eine vorgebbare, typische Verzögerungszeit und durch das maximale Seriellverzögerungs element 305 eine maximale Verzögerungszeit für einen Daten austausch zwischen den Testbenchelementen 102a, 102b und der ersten Konfigurationsschale 301 über serielle Testdatenströme 112 bereitgestellt.

Entsprechend werden der zweiten Verzögerungsschale durch das minimale Parallelverzögerungselement 306 eine minimale Verzö gerungszeit, durch das typische Parallelverzögerungselement 307 eine vorgebbare, typische Verzögerungszeit und durch das maximale Parallelverzögerungselement 308 eine maximale Verzö gerungszeit für einen Datenaustausch eines parallelen Testda tenstroms 113 mit dem Testbenchelement 102c bereitgestellt.

Obwohl nur drei Testbenchelemente 102a, 102b und 102c in der Fig. 1 veranschaulicht sind, sei darauf hingewiesen, dass auch mehr als drei oder weniger als drei Testbenchelemente, allgemein eine Anzahl von n Testbenchelementen 102a, . . . 120i, 102n vorhanden sein kann, wobei i einen Laufindex be zeichnet.

Ein Steuerelement 104, das als eine Datei, eine Datenstruktur oder ein Software-Programm bereitgestellt wird, versorgt einen Testbench-Controller 103 mit einem Datenstrom 114. Der Testbench-Controller 103 steuert über einen Taktgenerator- Steuerdatenstrom 310 einen Taktgenerator 309 an, welcher wiederum ein Taktausgangssignal 311 zu entsprechenden Testbenchelementen, hier dem Testbenchelement 102a und dem Testbenchelement 102b, liefert.

Jedes einzelne Testbenchelement 102a-102n enthält einen je weils spezifischen Steuerdatenstrom 111a-111c von dem Testbench-Controller 103.

Erfindungsgemäß wird der Testbench-Controller 103 von den ersten und zweiten Konfigurationsschalen 301, 302 entkoppelt, so dass die Konfigurationsschalen 301, 302 von dem Testbench- Controller 103 nicht mehr direkt angesprochen bzw. gesteuert werden müssen. Zu diesem Zweck werden den ersten und zweiten Konfigurationsschalen 301, 302 Testbenchelement- Konfigurationsdatenströme 401, 402 und 403 von den jeweiligen Testbenchelementen 102a, 102b bzw. 102c zugeführt. Diese in Fig. 1 gezeigten Testbenchelement-Konfigurationsdatenströme stellen in vorteilhafter Weise eine Reihe von Steuerungsauf gaben bereit.

Die Steuerung der Konfigurationsschalen erfolgt nunmehr durch die Testbenchelemente 102a-102c selbst. Hierbei kann ein Ein- /Ausschaltstatus von dem jeweiligen Testbenchelement 102a- 102n zu der Konfigurationsschale 301, 302 übergeben werden. Ebenso können der Konfigurationsschale weitere Zustände von dem jeweiligen Testbenchelement übergeben werden.

Weiterhin werden mittels der Testbenchelement- Konfigurationsdatenströme 401-403 Steuerungsbefehle, die in die Testbenchelemente 102a-102n eingebracht sind, bzw. eine Assoziierung mit einem Testbenchelement-Befehl der Konfigura tionsschale 301, 302 bereitgestellt. In vorteilhafter Weise kann eine Priorisierung von unterschiedlichen Befehlen in der mindestens einen Konfigurationsschale vorgenommen werden.

Fig. 3 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel gemäß der vorliegenden Erfindung, welches sich von dem in Fig. 1 ge zeigten Ausführungsbeispiel dadurch unterscheidet, dass eine der beiden Schalen, in diesem Beispiel die zweite Konfigura tionsschale 302 von dem Testbench-Controller 103 über einen Controller-Konfigurationsdatenstrom 404 direkt angesteuert bzw. konfiguriert wird. Die erste Konfigurationsschale 301 wird in diesem Ausführungsbeispiel gemäß der vorliegenden Erfindung direkt durch die ausgetauschten Datenströme konfi guriert, wobei durch eine Parameterbestimmung der über die Konfigurationsschale übertragenen Datenströme eine Konfigura tion der Konfigurationsschale 301 bereitgestellt wird.

Weiterhin werden die Datenströme auf vorgebbare Datenmuster untersucht, so dass nach einer Reaktion auf die vorgebbaren Datenmuster ein Steuerungsbetrieb initiiert werden kann. Das als Blockbild in Fig. 3 dargestellte erfindungsgemäße Ver fahren weist den Vorteil auf, dass die Testbenchelemente 102a, 102b selbst nicht mehr Testbenchelement- Konfigurationsdatenströme 401, 402 bereitstellen müssen und somit einfacher als in dem in Fig. 1 gezeigten Ausführungs beispiel aufgebaut sein können.

Fig. 4 zeigt ein Beispiel eines Datenstroms, in welchem ein spezifisches Datenmuster bzw. spezifische Parameter erkennbar sind, um eine Konfiguration mindestens einer Konfigurations schale 301 vornehmen zu können.

In dem Zeitverlauf der Fig. 4(a) ist ein Taktsignal 408, welches in der Test- und/oder Simulationseinrichtung erzeugt wird, gezeigt, wobei das Taktsignal eine Taktsignalperiode 409 aufweist, welche regelmäßig vorgegeben ist.

In Fig. 4(b) sind dem Taktsignal 408 zeitlich korrelierte Datenworte 405, 406 und 407 dargestellt. Näher betrachtet sei im Folgenden ein aktuelles Datenwort 406, welches aus unter schiedlichen Datenworteinheiten D0, D1, D2, D3, D4 und D5 besteht. In diesem Beispiel sind vor dem aktuellen Datenwort 406 logische Einheiten angeordnet, welche eine logische "0" aufweisen, während nach dem Datenwort eine logische "1" folgt. Die grau eingefärbten Bereiche in Fig. 4(b) bezeich nen zum Einen ein vorheriges Datenwort 405 und zum Anderen ein nachfolgendes Datenwort 407.

Eine Aktivierung bzw. Konfiguration einer Konfigurationsscha le durch einen Datenstrom, der zwischen einem spezifischen Testbenchelement 102a-102n und der mindestens einen Konfigu rationsschale 301 ausgetauscht wird, kann nun bezüglich spe zifischer Merkmale oder Muster untersucht werden, beispiels weise eine Erkennung zweier aufeinanderfolgender logischer "0", so dass ein spezifisches, aktuelles Datenwort 406 mit seinen Datenworteinheiten D0-D5 für eine Steuerung bzw. Kon figuration der Konfigurationsschale 301 bereitgestellt werden kann.

Im Weiteren wird auf Beispiele detaillierter eingegangen, welche mittels der erfindungsgemäßen Konfigurationsvorgänge durch Testbenchelement-Konfigurationsdatenströme 401, 402 und 403 und/oder Datenstrom-Mustererkennungsvorgänge, wie sie unter Bezugnahme auf Fig. 4 obenstehend beschrieben wurden, vorgenommen werden können.

Ein erstes Beispiel ist die unter Bezugnahme auf Fig. 1 erwähnte Einstellung von Verzögerungszeiten mittels Seriell verzögerungselementen und Parallelverzögerungselementen. Hierbei ermöglichen es die Testbenchelemente 102a-102n selbst, ein Umschalten zwischen dem jeweiligen minimalen, typischen und maximalen Verzögerungselement 303-305 bzw. 306- 308 vorzunehmen. Die Erfindung ist jedoch nicht auf die Ein stellung von Verzögerungszeiten beschränkt, weiterhin können Dateinamen oder auch Definitionen weiterer Befehle umgeschal tet werden.

Ein weiteres Beispiel ist der Fall, bei welchem simultan gewünschte Zugriffe auf eine Schnittstelle vorhanden sind. Hierbei wird eine Priorisierung gefordert, die durch die treibenden Testbenchelemente 102a-102n selbst vorgenommen werden kann.

Eine derartige Prozedur ist beispielhaft im Folgenden darge stellt:

Dieses Beispiel zeigt in der Schnittstelle zunächst die Sig nale, die gelesen ("clk") bzw. geschrieben ("serial_part") werden müssen. Danach folgen zwei Parameter, welche zum Einen das zu übertragende Datum ("data"), zum Anderen einen Faktor für die Priorität ("priorization") der aktuellen "wri te_data"-Aufforderung beschreiben.

Die Prozedur "write_data" wird nun im jeweiligen Testbenche lement 102a-102n aufgerufen, wenn das Testbenchelement 102a- 102n die Protokolloperation "ein Datum über die Leitung schi cken" ausführen soll, was schematisch in folgendem Quelltext- Fragment dargestellt ist:

Ein weiteres Beispiel ist das Umschalten von umschaltbaren Testbenchelementen 102a-102n, wobei ein Umschalten der Testbenchelemente 102a-102n ein Umschalten der Konfigurati onsschale 301, 302 zur Folge hat.

Weiterhin ist in den in Fig. 1 und 3 gezeigten Schaltungsan ordnungen ein Taktgenerator 309 bereitgestellt, um das min destens eine Testbenchelement 102a-102n mit einem Taktaus gangssignal 311 zu versorgen.

Überdies ist in dem erfindungsgemäßen Ausführungsbeispiel mindestens eine erste Konfigurationsschale 301 für einen seriellen Testdatenstrom 112 und mindestens eine zweite Kon figurationsschale 302 für einen parallelen Testdatenstrom 113 ausgelegt.

Bezüglich der in Fig. 2 dargestellten, herkömmlichen Test- und/oder Simulationseinrichtung zur Verifikation von zu veri fizierenden Schaltungseinheiten wird auf die Beschreibungs einleitung verwiesen.

Bezugszeichenliste

101

Zu verifizierende Einheit

102

a, . . .

102

i, . . .

102

n Testbenchelemente (i = Laufindex)

103

Testbench-Controller

104

Steuerelement

111

a, . . .

111

i, . . .

111

n Steuerdatenstrom (i = Laufindex)

112

Serieller Testdatenstrom

113

Paralleler Testdatenstrom

114

Datenstrom

301

Erste Konfigurationsschale

302

Zweite Konfigurationsschale

303

Minimales Seriellverzögerungselement

304

Typisches Seriellverzögerungselement

305

Maximales Seriellverzögerungselement

306

Minimales Parallelverzögerungselement

307

Typisches Parallelverzögerungselement

308

Maximales Parallelverzögerungselement

309

Taktgenerator

310

Taktgenerator-Steuerdatenstrom

311

Taktgeneratorausgangssignal

401

,

402

,

403

Testbenchelement-Konfigurationsdatenstrom

404

Controller-Konfigurationsdatenstrom

405

Vorheriges Datenwort

406

Aktuelles Datenwort

407

Nachfolgendes Datenwort

408

Taktsignal

409

Taktsignalperiode
P0(0), . . ., P0(7) Erste Schnittstellendatenströme
P1(0), . . ., P1(7) Zweite Schnittstellendatenströme

Claims

1. Verfahren zum Simulieren und zum Testen einer zu verifi zierenden Schaltungseinheit (101) durch eine Test- und/oder Simulationseinrichtung, bei dem zum Konfigurieren von Daten strömen, die zwischen mindestens einem Testbenchelement (102a-102n) und einer zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) ausgetauscht werden, mindestens eine Konfigurations schale (301, 302) bereitgestellt wird, mit den Schritten:

a) Anschließen der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) an das mindestens eine Testbenchelement (102a-102n) über die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) zum Austau schen von Schnittstellendatenströmen (P0(0)-P0(7), P1(0)- P1(7)) mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) und zum Austauschen von seriellen (112) und/oder parallelen Test datenströmen (113) mit dem mindestens einen Testbenchelement (102a-102n);
b) Beaufschlagen eines Testbench-Controllers (103) mit einem Datenstrom (114), der von einem Steuerelement (104) bereitge stellt wird;
c) Zuführen mindestens eines Steuerdatenstromes (111a-111n) von dem Testbench-Controller (103) zu dem mindestens einen Testbenchelement (102a-102n);
d) Zuführen mindestens eines Testbenchelement- Konfigurationsdatenstroms (401, 402, 403) von mindestens einem Testbenchelement (102a-102n) zu der mindestens einen Konfigurationsschale (301, 302), um dieselbe vorgebbar zu konfigurieren;
e) Austauschen von Schnittstellendatenströmen (P0(0)-P0(7), P1(0)-P1(7)) zwischen der mindestens einen konfigurierten Konfigurationsschale (301, 302) und der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101); und
f) Austauschen von Testdatenströmen (112, 113) zwischen der mindestens einen konfigurierten Konfigurationsschale (301, 302) und dem mindestens einen Testbenchelement (102a-102n).

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Controller-Konfigurationsdatenstrom (404) von dem Testbench-Controller (103) zu der mindestens einen Konfigurationsschale (301, 302) geführt wird, um dieselbe vorgebbar zu konfigurieren.

3. Verfahren nach einem oder beiden der Ansprüche 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine Konfiguration der mindestens einen Konfigurations schale (301, 302) hinsichtlich einer Verzögerung von über die Konfigurationsschale (301, 302) übertragenen Datenströmen mittels Seriellverzögerungselementen (303, 304, 305) und/oder mittels Parallelverzögerungselementen (306, 307, 308) bereit gestellt wird.

4. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) durch mindestens ein Testbenchelement (102a-102n) in mindes tens einen vorgebbaren Zustand und/oder Modus gesetzt wird.

5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) von dem Testbench-Controller (103) entkoppelt wird.

6. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Testbenchelement-Konfigurationsdatenströme (401, 402, 403) von den Testbenchelementen (102a-102n) bereitge stellt werden und mindestens einem Testbenchelement-Befehl zugeordnet werden.

7. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass der mindestens einen Konfigurationsschale (301, 302) ein Ein-/Ausschaltstatus von mindestens einem der Testbenchele mente (102a-102n) übergeben wird.

8. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) den Testdatenströmen und/oder Befehlen der Testbenchelemente (102a-102n) vorgebbare Prioritäten durch eine explizite Prio risierung zuweist.

9. Verfahren nach einem oder mehreren der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) durch die Testbenchelement-Konfigurationsdatenströme (401, 402, 403) mittels einer Analyse und einer Interpretation der Testdatenströme (112, 113) konfiguriert wird.

10. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) nach einer Analyse und einer Interpretation der Testdatenströme (112, 113) eine vorgebbare Modifikation der Schnittstellenda tenströme (P0(0)-P0(7), P0(0)-P0(7)) bereitstellt.

11. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass unterschiedliche Formate, Modelle und Beschreibungen in der mindestens einen Konfigurationsschale durch die Testben chelemente (102a-102n) aktiviert werden.

12. Verfahren nach den Ansprüchen 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass eine Konfiguration der mindestens einen Konfigurations schale (301, 302) durch eine Parameterbestimmung der über die Konfigurationsschale übertragenen Datenströme bereitgestellt wird.

13. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Konfigurationsschale (301, 302) auf vorgebbare Datenmuster in Datenströmen und/oder Steuerungs strömen reagiert und einen Steuerungsbetrieb initiiert.

14. Vorrichtung zur Konfiguration von Datenströmen, die zwi schen Testbenchelementen (102a-102n) und einer zu verifizie renden Schaltungseinheit (101) ausgetauscht werden, mit:

a) einem Testbench-Controller (103) zur Steuerung eines Test- und/oder Simulationsablaufs in einer Test- und/oder Simulati onseinrichtung;
b) einer zu verifizierenden Schaltungseinheit (101), die in die Test- und/oder Simulationseinrichtung eingebracht ist;
c) mindestens einem Testbenchelement (102a-102n); und
d) mindestens einer Konfigurationsschale (301, 302) zum Aus tauschen von Schnittstellendatenströmen (P0(0)-P0(7), P1(0) -P1(7)) mit der zu verifizierenden Schaltungseinheit (101) und zum Austauschen von seriellen (112) und/oder parallelen Testdatenströmen (113) mit entsprechenden Testbenchelementen (102a-102n),

wobei die Konfigurationsschalen (301, 302) durch Testbenche lement-Konfigurationsdatenströme (401, 402, 403) von entspre chenden Testbenchelementen (102a-102n) konfigurierbar sind, und
die Konfigurationsschalen (301, 302) durch mindestens einen Controller-Konfigurationsdatenstrom (404) von dem Testbench- Controller (103) konfigurierbar sind, und/oder
die Konfigurationsschalen (301, 302) mittels einer Analyse und einer Interpretation der Testdatenströme (112, 113) kon figurierbar sind.

15. Vorrichtung zur Konfiguration von Datenströmen nach An spruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens ein Taktgenerator (309) bereitgestellt ist, um das mindestens eine Testbenchelement (102a-102n) mit einem Taktausgangssignal (311) zu versorgen.

16. Vorrichtung zur Konfiguration von Datenströmen nach einem oder beiden der Ansprüche 14 und 15, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine erste Konfigurationsschale (301) für einen seriellen Testdatenstrom (112) ausgelegt ist.

17. Vorrichtung zur Konfiguration von Datenströmen nach einem oder mehreren der Ansprüche 14 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass mindestens eine zweite Konfigurationsschale (302) für einen parallelen Testdatenstrom (11) ausgelegt ist.