DE10117249C2 - Prüfsystem für Spulen - Google Patents

Prüfsystem für Spulen

Info

Publication number
DE10117249C2
DE10117249C2 DE10117249A DE10117249A DE10117249C2 DE 10117249 C2 DE10117249 C2 DE 10117249C2 DE 10117249 A DE10117249 A DE 10117249A DE 10117249 A DE10117249 A DE 10117249A DE 10117249 C2 DE10117249 C2 DE 10117249C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
coils
signal
coil
test system
antenna
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE10117249A
Other languages
English (en)
Other versions
DE10117249A1 (de
Inventor
Annemarie Schmidt
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to DE10117249A priority Critical patent/DE10117249C2/de
Publication of DE10117249A1 publication Critical patent/DE10117249A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE10117249C2 publication Critical patent/DE10117249C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K7/00Methods or arrangements for sensing record carriers, e.g. for reading patterns
    • G06K7/0095Testing the sensing arrangement, e.g. testing if a magnetic card reader, bar code reader, RFID interrogator or smart card reader functions properly
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/302Contactless testing
    • G01R31/304Contactless testing of printed or hybrid circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/72Testing of electric windings
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06KGRAPHICAL DATA READING; PRESENTATION OF DATA; RECORD CARRIERS; HANDLING RECORD CARRIERS
    • G06K19/00Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings
    • G06K19/06Record carriers for use with machines and with at least a part designed to carry digital markings characterised by the kind of the digital marking, e.g. shape, nature, code
    • G06K19/067Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components
    • G06K19/07Record carriers with conductive marks, printed circuits or semiconductor circuit elements, e.g. credit or identity cards also with resonating or responding marks without active components with integrated circuit chips
    • G06K19/077Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier
    • G06K19/07749Constructional details, e.g. mounting of circuits in the carrier the record carrier being capable of non-contact communication, e.g. constructional details of the antenna of a non-contact smart card

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Artificial Intelligence (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Near-Field Transmission Systems (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft ein Prüfsystem für Spulen zur schnellen, kontaktfreien Prüfung der funktionellen Parameter der Spulen, insbesondere solcher in flacher, gedruckter Technik, wie sie für Transponderantennen eingesetzt werden.
Spulen aller Bauformen werden in der Fertigung durch die Messung der Induktivität an den Anschlüssen geprüft. Hierzu werden spezielle Kontaktiersysteme eingesetzt. Beispielsweise werden durch die Fa. Siemens Bestückungsautomaten für Leiterplatten angeboten, bei denen in den Bauelementegreifern Kontaktfedern integriert sind, die eine Strom-Spannungsmessung erlauben. Bei fertig bestückten Leiterplatten oder in gedruckter Technik gefertigten Spulen werden Kontaktiernadeln beispielsweise der Fa. Ingun in speziell gefertigte Nadelträger und Kontaktieradaptern eingesetzt.
Die Messung an den Kontakten erfordert bei zunehmender Miniaturisierung der Bauteile einen hohen mechanischen Aufwand, um die Kontaktpads zu treffen. Werden die Spulen wie beim Einsatz als Transponderantenne auf sehr dünnen und flexiblen Trägern aufgebracht, ist eine mechanische Kontaktierung der Anschlüsse nicht mehr möglich, da die Beschädigung der Anschlüsse die Spule unbrauchbar macht.
In der Patentschrift DE 196 27 391 C1 (Diagnoseverfahren und Diagnosesystem für Kfz- Antennenscheiben) wird ein Verfahren vorgeschlagen, bei dem die verschiedenen Kfz- Antennen auf der Scheibe mit einer angeschlossenen Umschalteinheit (Diversity- Prozessor) und einem Empfänger verbunden sind. Die erforderliche Verbindung der Antennen mit den Empfangsgeräten erfordert gleichermaßen eine Kontaktierung der Spulen bzw. der Antennen, so daß der Hauptmangel einer Beschädigung der Anschlüsse und einer sehr komplizierten Kontaktierung bei hoher Miniaturisierung nicht behoben wird.
Ein anderer Vorschlag folgte aus dem Stand der Technik, die Prüfung von elektrischen Schaltungsstrukturen mit bildgebenden Verfahren (optische Inspektion, Röntgentechnik) zu ergänzen. Hierbei zeigt sich jedoch, daß der apparative Aufwand und die erforderliche Bildauflösung sehr hoch ist und die Automatisierung der Bildverarbeitung sehr zeitintensiv ist. Der technische Aufwand behindert zusätzlich eine hohe Parallelisierung der Meßtechnik, wodurch der Geschwindigkeitsaspekt bei hohen Fertigungsstückzahlen nachteilig wirkt. Hinzu kommt, daß Funktionsstörungen in Spulen nicht immer optisch erkennbar sind.
Es ist daher Aufgabe der Erfindung, ein Prüfsystem für Spulen anzugeben, bei dem ohne eine mechanische Schädigung der Spulen oder Spulenanschlüsse auch bei sehr feinen Trägern eine schnelle und zuverlässige Funktionsprüfung möglich ist und der technische Aufwand eine schnelle und gegebenenfalls vielfach parallele Anwendung wirtschaftlich erlaubt.
Die Lösung der Aufgabe der Erfindung erfolgt mit einem Prüfsystem gemäß den Merkmalen des Patentanspruches 1, wobei die Unteransprüche mindestens zweckmäßige Ausgestaltungen und Weiterbildungen umfassen.
Demnach besteht der Grundgedanke darin, mittels eines in einem zweckmäßig gewählten Frequenzbereich durchstimmbaren Signalgenerators und einer Antenne ein elektromagnetisches Feld zu erzeugen, in dessen Einflußbereich die zu prüfende Spule gebracht wird, und mit einer zweiten Antenne und einem angeschlossenen Signaldetektor die von der Spule bewirkte Veränderung des Hochfrequenzfeldes bei einer oder mehreren Frequenzen gegenüber dem Zustand ohne Spule zu messen.
In einer Ausführungsform der Erfindung werden mit einer zusätzlichen Steuereinheit automatisch verschiedene Frequenzen und bedarfsweise auch Sendepegel des Signalgenerators eingestellt und die jeweils vom Signaldetektor angezeigten Signalpegel gemessen und die Abweichung zu vorgegebenen Referenzwerten bestimmt. Die Gesamtheit der Abweichungen bei den einzelnen Einstellungen kennzeichnet die Funktion der Spule in bezug auf die Referenzwerte.
In einer Ausführungsform der Erfindung werden durch die Steuereinheit in einer ersten Arbeitsphase die bei verschiedenen Frequenzen und bedarfsweise auch Sendepegeln gemessenen Signalpegel für verschiedene Exemplare der zu messenden Spulen als Referenzwerte eingetragen und in einer zweiten Arbeitsphase werden die zu prüfenden Spulen in das Hochfrequenzfeld eingebracht.
In einer Ausführungsform der Erfindung werden mehrere Spulen in das Hochfrequenzfeld der Sendeantenne eingebracht und jeder Spule wird eine eigene Empfangsantenne mit einem eigenen Signaldetektor nahe zugeordnet.
In einer Ausführungsform der Erfindung wird die Sendeantenne durch ein Signalgenerator mit einem breitbandig einstellbaren Signal gespeist und die Auflösung der Signalpegel für verschiedene Signalfrequenzen nach dem Signaldetektor der Empfangsantennen mittels an sich bekannter Verfahren durchgeführt.
Alles in allem gelingt es mit dem beschriebenen Prüfsystem schnell, gegebenenfalls parallel und ohne eine mechanische Kontaktierung Spulen zu prüfen.
Die Erfindung soll nachstehend anhand eines Ausführungsbeispieles und unter Zuhilfenahme von Figuren näher erläutert werden.
Hierbei zeigen:
Fig. 1 das Blockschaltbild eines Prüfsystems zur automatischen Prüfung von Spulen und
Fig. 2 eine Ausführungsform der Anordnung einer Sendeantenne und der Empfangsantennen für ein Prüfsystem zur parallelen Prüfung mehrerer Transponderspulen.
Gemäß Ausführungsform nach Fig. 1 wird von einem Generator (01) mit einstellbarer Frequenz und einer Sendeantenne (02) ein elektromagnetisches Wechselfeld erzeugt, in dessen Wirkungsbereich die zu prüfende Spule (06) eingebracht wird. Die Empfangsantenne (03) wird vorzugsweise in der Nähe der zu untersuchenden Spule plaziert und erfaßt das durch die Spule veränderte elektromagnetische Feld. Die Empfangsspannung der Antenne wird einem Signaldetektor (04), der im einfachsten Fall eine Diode ist, zugeführt.
Zur Steuerung der Frequenz durch die Steuerung (05) besitzt diese eine Tabelle (05.5) in der die einzustellenden Frequenzwerte gespeichert sind. Die zugehörigen Signalpegel des Signaldetektors werden durch die Steuerung mit einer Signalwandlereinheit (05.6) erfaßt und in einer zweiten Tabelle (05.3) abgespeichert. In einer dritten Tabelle (05.1) sind für jeden Frequenzwert, der gemessen werden soll, Referenzwerte abgelegt, die für eine Spule mit vorgegebener Eigenschaft charakteristisch sind. Eine Differenz-Summiereinheit (05.2) ermittelt für jeden Meßwert die Differenz zum Referenzwert und summiert die Differenzen betragsmäßig auf. In einem Trigger (05.4) wird bei der Überschreitung der vorgegebenen Summe ein Signal angezeigt.
In der Fig. 2 wird die Sendeantenne durch einen Streifenleiter (2) gebildet, der über eine lange Strecke ein gleichmäßiges Feld erzeugt. Oberhalb der Streifenleiterantenne (2) sind die zu prüfenden Spulen (6.1) . . . (6.3), hier angedeutet Antennenspulen für Transponder, gezeigt. Die als dünne Spulen ausgebildeten Empfangsantennen (3.1) . . . (3.3) sind dicht oberhalb der zu prüfenden Spulen angeordnet.

Claims (5)

1. Prüfsystem für Spulen zur schnellen, kontaktfreien Prüfung der funktionellen Parameter der Spule, dadurch gekennzeichnet, daß mittels eines in einem zweckmäßig gewählten Frequenzbereich durchstimmbaren Signalgenerators und einer Antenne ein elektromagnetisches Feld erzeugt wird, in dessen Einflußbereich die zu prüfende Spule gebracht wird, und mit einer zweiten Antenne und einem angeschlossenen Signaldetektor die von der Spule bewirkte Veränderung des hochfrequenten elektromagnetischen Feldes bei einer oder mehreren Frequenzen gegenüber dem Zustand ohne Spule gemessen wird.
2. Prüfsystem für Spulen nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß mit einer zusätzlichen Steuereinheit automatisch verschiedene Frequenzen und bedarfsweise auch Sendepegel des Signalgenerators eingestellt und die jeweils vom Signaldetektor angezeigten Signalpegel gemessen und die Abweichung zu vorgegebenen Referenzwerten bestimmt werden und daß die Summe aller Abweichungen ein Gütemaß für die Übereinstimmung der geprüften Spule mit einer vorgegebenen Eigenschaft ist.
3. Prüfsystem für Spulen nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß durch die Steuereinheit in einer ersten Arbeitsphase die bei verschiedenen Frequenzen und bedarfsweise auch Sendepegeln gemessenen Signalpegel für verschiedene gute Exemplare der zu messenden Spulen als Referenzwerte gespeichert werden und in einer zweiten Arbeitsphase die unbekannten, zu prüfenden Spulen in das hochfrequente elektromagnetische Feld eingebracht werden.
4. Prüfsystem für Spulen nach Anspruch 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, daß mehrere Spulen gleichzeitig in das hochfrequente elektromagnetische Feld der Sendeantenne eingebracht werden und jeder Spule eine eigene Empfangsantenne mit einem eigenen Signaldetektor nahe zugeordnet wird.
5. Prüfsystem für Spulen nach Anspruch 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Sendeantenne durch ein Signalgenerator mit einem breitbandig einstellbaren Signal gespeist und die Auflösung der Signalpegel für verschiedene Signalfrequenzen nach dem Signaldetektor der Empfangsantennen mittels an sich bekannter Verfahren (z. B. Spektralanalyse) durchgeführt wird.
DE10117249A 2001-04-06 2001-04-06 Prüfsystem für Spulen Expired - Fee Related DE10117249C2 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10117249A DE10117249C2 (de) 2001-04-06 2001-04-06 Prüfsystem für Spulen

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10117249A DE10117249C2 (de) 2001-04-06 2001-04-06 Prüfsystem für Spulen

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE10117249A1 DE10117249A1 (de) 2002-11-07
DE10117249C2 true DE10117249C2 (de) 2003-08-21

Family

ID=7680672

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10117249A Expired - Fee Related DE10117249C2 (de) 2001-04-06 2001-04-06 Prüfsystem für Spulen

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE10117249C2 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008056187A1 (de) 2008-09-09 2010-05-06 Altran Gmbh & Co. Kg Verfahren zum kontaktfreien Prüfen mechanischer oder mechatronischer Baugruppen

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1728296A1 (de) 2004-03-05 2006-12-06 Koninklijke Philips Electronics N.V. Verfahren und einrichtung zur bestimmung mindestens eines charakteristischen parameters einer resonanten struktur
DE102006040180A1 (de) * 2006-08-26 2008-03-13 Nordenia Deutschland Gronau Gmbh Verfahren zum kontaktlosen Testen von auf einer Materialbahn aufgebrachten Antennen
DE102011112873A1 (de) 2011-09-08 2013-03-14 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren zum Prüfen einer Antennenspule
WO2014121928A1 (de) * 2013-02-07 2014-08-14 Giesecke & Devrient Gmbh Verfahren und vorrichtung zum prüfen eines schaltkreises

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19627391C1 (de) * 1996-07-06 1997-12-11 Flachglas Automotive Gmbh Diagnoseverfahren und Diagnosesystem für Kfz-Antennenscheiben

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19627391C1 (de) * 1996-07-06 1997-12-11 Flachglas Automotive Gmbh Diagnoseverfahren und Diagnosesystem für Kfz-Antennenscheiben

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008056187A1 (de) 2008-09-09 2010-05-06 Altran Gmbh & Co. Kg Verfahren zum kontaktfreien Prüfen mechanischer oder mechatronischer Baugruppen

Also Published As

Publication number Publication date
DE10117249A1 (de) 2002-11-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP1502123B1 (de) Vorrichtung und verfahren zum prüfen von leiterplatten, und prüfsonde für diese vorrichtung und dieses verfahren
EP2035843B1 (de) Verfahren zur kalibrierung sowie verfahren zum bestimmen von streuparametern mit einer hf-messvorrichtung
DE202008013982U1 (de) Messsystem zum Bestimmen von Streuparametern
WO2010076002A1 (de) Vorrichtung und verfahren zum bestimmen von teilentladungen an einer elektrischen komponente
DE19926454A1 (de) Vektorieller Netzwerkanalysator
DE10039928B4 (de) Vorrichtung zum automatisierten Testen, Kalibrieren und Charakterisieren von Testadaptern
DE10117249C2 (de) Prüfsystem für Spulen
EP0772054B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen einer elektrischen Leiteranordnung
DE19632364C1 (de) Verfahren zur Prüfung einer Vielzahl von Produkten
DE4122189C2 (de) Verfahren und Anordnung zum Bestimmen der Rauschzahl von elektronischen Meßobjekten
DE4125724C2 (de) Geschwindigkeitsanzeigevorrichtung für ein Kraftfahrzeug
EP0383139A2 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung von Spulen auf Windungs- und/oder Lagenschluss
EP3254094B1 (de) Inhomogene übertragungsleitung zur positionsaufgelösten permittivitätsbestimmung eines messobjektes
DE3013611A1 (de) Verfahren und vorrichtung zum identifizieren von muenzen o.dgl.
DE102010046903B4 (de) Messsystem und Messverfahren zur EMV-Messung
AT519893B1 (de) Verfahren zum Kalibrieren eines heterodynen elektrostatischen Kraftmikroskops
DE3439578A1 (de) Vorrichtung zur messung der muef
EP3891467B1 (de) Verfahren zum überprüfen einer qualität eines werkstücks sowie recheneinrichtung
DE2108929C3 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines Koordinatenwertes
DE19913722C1 (de) Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen eines Jittergenerators
DE10326086B4 (de) Verfahren und Justiermarken zur Positionierung eines Messkopfes auf einer Leiterplatte
EP0610331B1 (de) Schaltungsanordnung und verfahren zur elektrischen wirbelstromprüfung
DE19834790A1 (de) Verfahren zum Prüfen von Fertigungs-Toleranzen
DE19924315C2 (de) Verfahren zum Überwachen der Kontaktierungssicherheit eines Netzwerkanalysators
DE102014117300B4 (de) Anordnung und Verfahren zur Vermessung einer elektronischen Struktur

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
8304 Grant after examination procedure
8364 No opposition during term of opposition
8339 Ceased/non-payment of the annual fee