DE10105190A1 - Verfahren zur Herstellung einer Feinstrukturierung eines Materials und Vorrichtung - Google Patents
Verfahren zur Herstellung einer Feinstrukturierung eines Materials und VorrichtungInfo
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Abstract
Es wird ein Verfahren zur Herstellung einer Feinstrukturierung eines Materials und eine Vorrichtung vorgeschlagen, wobei in einem ersten Schritt das Material (20) auf ein Substrat (10) aufgebracht wird, wobei in einem zweiten Schritt ein Hilfsmaterial (300) auf das Material (30) auf das Material (20) aufgebracht wird, wobei in einem dritten Schritt das Hilfsmaterial (30) durch Abladieren in Teilbereichen (40) der Oberfläche strukturiert wird und wobei in einem vierten Schritt das in den Teilbereichen (40) freigelegte Material (20) weggeätzt wird.
Description
Es sind Verfahren zur Strukturierung von Substraten,
insbesondere von Dickschichtsubstraten bekannt, wobei die
gewünschte Struktur durch additives Aufbringen,
beispielsweise mit Siebdruck, hergestellt wird. Weiterhin
ist bekannt, zunächst ein großflächiges unstrukturiertes
Aufbringen des gewünschten Materials durchzuführen und
anschließend die gewünschte Strukturierung subtraktiv durch
Maskieren, Belichten der Maske, Entwickeln der Maske, Ätzen,
Strippen und Reinigen zu erzeugen. Dieses weitere Verfahren
ist auch aus der Leiterplattenherstelltechnik bekannt.
Weiterhin ist bekannt, eine Strukturierung eines Materials
dadurch zu erzeugen, dass zunächst das Material großflächig
und unstrukturiert auf ein Substrat aufgebracht wird und
anschließend die gewünschte Struktur durch ein
Laserverfahren erzeugt wird, indem das Material bis auf das
Substrat abgetragen wird.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung einer
Feinstrukturierung eines Materials und die erfindungsgemäße
Vorrichtung mit den Merkmalen der nebengeordneten Ansprüche
haben demgegenüber den Vorteil, dass zum einen eine
Verringerung der Prozeßschritte gegenüber dem durch
Maskieren, Belichten und Ätzen durchgeführten Verfahren
erreichbar ist, wobei gleichzeitig gegenüber dem
Strukturierungsverfahren mittels Laser eine verkürzte
Bearbeitungszeit im Laser und eine Verringerung des Problems
des Niederschlags des Abbrands ermöglicht wird.
Weiterhin ist von Vorteil, dass das Verfahren partiell
angewendet wird. Es ist damit möglich, Bereiche mit
Standardstrukturen in den herkömmlichen Verfahren zu
strukturieren und gezielt Bereiche mit feinen Strukturen
nach dem erfindungsgemäßen Verfahren zu strukturieren.
Durch die in den Unteransprüchen aufgeführten Maßnahmen sind
vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des in den
nebengeordneten Ansprüchen angegebenen Verfahrens und der
Vorrichtung möglich.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung
dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher
erläutert. Es zeigen
Fig. 1 den Aufbau des Materials auf dem Substrat,
Fig. 2 das Substrat mit einer Laserstrukturierung,
Fig. 3 das Material nach einem Ätzvorgang und
Fig. 4 das Material nach einem Reinigungsschritt.
In Fig. 1 ist der Aufbau eines Materials 20 auf einem
Substrat dargestellt. Oberhalb des Materials 20, d. h. auf
dessen, dem Substrat 10 gegenüberliegender Seite, befindet
sich eine Schicht eines Hilfsmaterials 30. Die Dicke des
Substrats 10 ist dabei erfindungsgemäß größer als die
Schichtdicke des Materials 20 und diese wiederum dicker als
die Schichtdicke des Hilfsmaterials 30. Typische Dicken der
Schichten sind hierbei für die Schichtdicke des Materials 20
ca. 10 µm bis 30 µm und für die Schichtdicke des
Hilfsmaterials 30 ca. 1 µm.
In Fig. 2 ist das erfindungsgemäße Material 20 auf dem
Substrat 10 mit dem Hilfsmaterial 30 erneut dargestellt,
wobei jedoch in einem Teilbereich der Oberfläche des
Hilfsmaterials 30 dieses durch Abladieren entfernt ist. Der
abladierte Teilbereich des Hilfsmaterials 30 ist mit dem
Bezugszeichen 40 versehen. Die Abladierung ist
erfindungsgemäß insbesondere mittels eines nicht
dargestellten Lasers durchzuführen. Hierbei wird das
Hilfsmaterial 30 im Teilbereich 40 vollständig entfernt. Um
ein sicheres Abtragen des Hilfsmaterials 30 zu
gewährleisten, ist es erfindungsgemäß vorgesehen, das
Abladieren mittels des Lasers im Teilbereich 40 derart
vorzusehen, dass auch das Material 20 an seiner Grenzschicht
zum Hilfsmaterial 30 im Teilbereich 40 teilweise entfernt
ist, wobei jedoch das Material 20 nicht in seiner gesamten
Schichtdicke bis zum Substrat 10 entfernt ist.
In Fig. 3 ist das Material 20 auf dem Substrat 10 mit dem
Hilfsmaterial 30 nach einem Ätzschritt dargestellt. Die
Ätzung wird erfindungsgemäß derart durchgeführt, dass das
Material 20 ausgehend vom ersten Teilbereich 40 weggeätzt
wird und so eine Ausnehmung im Material 20 entsteht, die in
Fig. 3 mit dem Bezugszeichen 50 bezeichnet ist.
Erfindungsgemäß ist das Hilfsmaterial 30 gegenüber dem
Ätzangriff resistent, das Material 20 jedoch nicht.
Hierdurch wird das Material 20 im ersten Teilbereich 40 in
seiner gesamten Schichtdicke, d. h. bis zum Substrat 10
weggeätzt. Hierbei ist es erfindungsgemäß möglich, dass vom
Hilfsmaterial 30 Überstände verbleiben, die nicht weggeätzt
werden, weil das Hilfsmaterial 30 gegenüber dem Ätzangriff
resistent ist.
In Fig. 4 ist das Material 20 auf dem Substrat 10 mit dem
Hilfsmaterial 30 nach einem Reinigungsschritt dargestellt.
Während des Reinigungsschrittes werden Überstände vom
Hilfsmaterial 30 im Bereich der Ausnehmung 50 entfernt.
Das erfindungsgemäße Verfahren zur Feinstrukturierung kann
somit in vier bzw. fünf Schritte zusammengefasst werden,
wobei in einem ersten Schritt das Material 20 auf das
Substrat 10 aufgebracht wird, wobei in einem zweiten Schritt
das Hilfsmaterial 30 auf das Material 20 aufgebracht wird,
so dass der in Fig. 1 dargestellte Schichtenaufbau
entsteht. In einem dritten Schritt wird das Hilfsmaterial 30
durch Abladieren im Teilbereich 40 der Oberfläche
strukturiert. Das Ergebnis des dritten Schrittes ist in
Fig. 2 dargestellt. In einem vierten Schritt wird das
freigelegte Material im Teilbereich 40 weggeätzt. Das
Ergebnis des vierten Schrittes ist in Fig. 3 dargestellt.
Schließlich ist optional ein fünfter Schritt erfindungsgemäß
vorgesehen, bei dem überstehendes Hilfsmaterial 30 im
Teilbereich 40 entfernt und die entstandene Anordnung
gereinigt wird. Das Ergebnis des fünften Schrittes ist in
Fig. 4 dargestellt. Das Substrat 10 ist erfindungsgemäß
insbesondere als Dickschichtsubstrat bzw. als
Keramiksubstrat vorgesehen, beispielsweise als Al2O3 bzw.
LTCC-Material (Keramikkörner in Glasmatrix) vorgesehen.
Das Material 20 ist erfindungsgemäß insbesondere in Form
einer Silberschicht vorgesehen. Das Hilfsmaterial 30, das
auch als Maskierungsschicht bezeichnet wird, ist
erfindungsgemäß insbesondere als Goldschicht vorgesehen.
Claims (6)
1. Verfahren zur Herstellung einer Feinstrukturierung eines
Materials (20), wobei in einem ersten Schritt das Material
(20) auf ein Substrat (10) aufgebracht wird, wobei in einem
zweiten Schritt ein Hilfsmaterial (30) auf das Material (20)
aufgebracht wird, wobei in einem dritten Schritt das
Hilfsmaterial (30) durch Abladieren in Teilbereichen (40)
der Oberfläche strukturiert wird und wobei in einem vierten
Schritt das in den Teilbereichen (40) freigelegte Material
(20) weggeätzt wird
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass
das Abladieren mittels eines Laser vorgesehen ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
dass als Substrat (10) ein Keramiksubstrat verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass in einem fünften Schritt über
das Material (20) überstehendes Hilfsmaterial (30) entfernt
wird.
5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
dadurch gekennzeichnet, dass als Material (20) Silber
verwendet wird und dass als Hilfsmaterial (30) Gold
verwendet wird.
6. Vorrichtung mit einem strukturierten Material auf einem
Substrat (10), welches mit einem Verfahren nach einem der
vorhergehenden Ansprüche strukturiert ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2001105190 DE10105190A1 (de) | 2001-02-06 | 2001-02-06 | Verfahren zur Herstellung einer Feinstrukturierung eines Materials und Vorrichtung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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DE2001105190 DE10105190A1 (de) | 2001-02-06 | 2001-02-06 | Verfahren zur Herstellung einer Feinstrukturierung eines Materials und Vorrichtung |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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DE10105190A1 true DE10105190A1 (de) | 2002-08-29 |
Family
ID=7672938
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE2001105190 Ceased DE10105190A1 (de) | 2001-02-06 | 2001-02-06 | Verfahren zur Herstellung einer Feinstrukturierung eines Materials und Vorrichtung |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE10105190A1 (de) |
Cited By (3)
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DE10311510A1 (de) * | 2003-03-15 | 2004-09-23 | Deere & Company, Moline | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer Leiterplatte |
WO2012148332A1 (en) * | 2011-04-29 | 2012-11-01 | Telefonaktiebolaget L M Ericsson (Publ) | Manufacturing method for printed circuit boards |
CN103687319A (zh) * | 2012-09-25 | 2014-03-26 | 昆山联滔电子有限公司 | 非导电基板上形成导体线路的制造方法 |
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2001
- 2001-02-06 DE DE2001105190 patent/DE10105190A1/de not_active Ceased
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