DE10053410C1 - Schleifanlage und Verfahren zum differenzierten Schleifen einer mit einem leitfähigem Material beschichteten Platte für Leiterplatinen - Google Patents
Schleifanlage und Verfahren zum differenzierten Schleifen einer mit einem leitfähigem Material beschichteten Platte für LeiterplatinenInfo
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Abstract
Schleifanlage 1 und Verfahren zum differenzierten Schleifen einer beschichteten Platte 2. Die Schleifanlage 1 weist auf: eine Messeinrichtung 1, von welcher die Dicke der auf der Platte 2 vorgesehenen Schicht 6 an unterschiedlichen Plattenpositionen messbar ist, eine Steuervorrichtung 50, an welche die Messeinrichtung 3 zur Übermittlung der erfassten Schichtdicken angeschlossen ist und von welcher gemäß der erfassten Schichtdicken und der zugehörigen Plattenpositionen Schleifparameter ermittelbar sind, die den jeweiligen Plattenpositionen zugeordnet sind, und eine an die Steuervorrichtung 50 angeschlossene Schleifeinrichtung 20 mit wenigstens einem Schleifgerät 21, das ein bewegbares Schleifmittel 22 mit einer Schleiffläche 24 zur schleifenden Bearbeitung der Platte 2 aufweist, und einer Führungseinrichtung 28, mittels welcher das jeweilige Schleifgerät 21 parallel zur Plattenfläche in einander kreuzende Richtungen sowie quer zur Plattenfläche geführt bewegbar ist. Die Abmessungen der Schleiffläche 24 des Schleifmittels 22 sind in ihren sämtlichen Durchmesserrichtungen kleiner als die Längs- und Breitenabmessung der Platte 2. Die Schleifeinrichtung 20 ist mittels der Steuervorrichtung 50 derart betreibbar, dass von dem Schleifgerät 21 im Bereich der jeweiligen Plattenpositionen gemäß der zugehörigen Schleifparameter mehr oder weniger Schichtmaterial abgeschliffen wird.
Description
Die Erfindung betrifft eine Schleifanlage sowie ein Verfahren
zum Schleifen einer mit einem leitfähigen Material
beschichteten Platte
für Leiterplatinen.
Bei der Herstellung von Leiterplatten und Paketen von
Leiterplatten, welche Pakete dann ihrerseits wiederum eine
Platte ausbilden, wird auf die Leiterplatte eine Schicht aus elektrisch
leitfähigem Material, insbesondere eine Kupferschicht,
aufgebracht, aus welcher die Leiterstruktur ausgebildet wird,
insbesondere mittels Ätzens.
Um beim Ätzen der Leiterbahnen ein zu starkes Unterwandern
derselben durch das Ätzmittel zu verhindern sowie um insgesamt
dünne Leiterplatten und damit auch dünne Leiterplatten-Pakete
zu erzielen, sind möglichst dünne Kupferschichten mit
gleichbleibender Schichtdicke auf einer Leiterbasisplatte
gewünscht. Für die Herstellung von Leiterplatten und
Leiterplatteninnenlagen mit besonders feinen Leiterzügen
(lines) und kleinen Freiflächen (spaces) zwischen den
Leiterzügen ist es erforderlich, dass die zuvor aufgebrachte
Kupferschicht eine möglichst gleichmäßige Schichtdicke
aufweist. Dies ist insbesondere wichtig, da andernfalls beim
Ätzen der Strukturen auf Grund unterschiedlicher Dicken eine
Unterwanderung der Leiterzüge auftreten kann, welche später zu
Leiterbahndeformierungen und sogar zu Brüchen (Unterbrechungen)
oder im anderen Fall auf Grund örtlich zu dicker Schichten die
Freiflächen nicht genügend ausgeätzt werden, was zur
Kurschlussbildung führen kann. Eine solch gleichmäßig dünne,
insbesondere im µm-Bereich liegende, Kupferschicht ist jedoch
durch Beschichten nur sehr aufwendig zu erreichen. Daher werden
die Platten nach dem Aufbringen der Kupferschicht in der Regel
geschliffen, um damit die gewünschten kleinen und
gleichmäßigeren Schichtdicken zu erzielen.
Aus der EP 0 336 059 B1 ist ein Schleifgerät zum Schleifen
einer Platte bekannt, bei der ein im wesentlichen rechteckiges
Schleifmittel mittels eines Exzenterantriebs bewegt wird,
während die Platte an dem Schleifmittel vorbeitransportiert
wird. Das Schleifmittel erstreckt sich hierbei mit seiner Länge
über die komplette Plattenbreite hinweg. Mit diesem
Schleifgerät werden auch globale Unebenheiten der Platte, wie
zum Beispiel Verwölbungen, plangeschliffen, so dass eine
insgesamt ebene Plattenoberfläche erreicht wird. Falls auf der
Oberseite der Platte eine Beschichtung vorgesehen ist, kann die
Platte nicht unter Ausbildung einer gleichmäßigen Schichtdicke
geschliffen werden. Um hierbei der Gefahr eines Durchschleifens
der Beschichtung zu begegnen, ist eine relativ hohe
Mindestschichtdicke zu wählen.
Durch die Erfindung werden eine Schleifanlage sowie ein
Verfahren zum Schleifen einer mit einem leitfähigem
Material beschichteten Platte für
Leiterplatinen geschaffen, womit die Platte derart geschliffen
werden kann, dass die darauf aufgebrachte Schicht eine
annähernd konstante Dicke erhält.
Die erfindungsgemäße Schleifanlage zum Schleifen einer mit
einem leitfähigen Material beschichteten Platte für
Leiterplatinen, weist auf: eine Messeinrichtung, von welcher
die Dicke der auf der Platte vorgesehenen Schicht an
unterschiedlichen Plattenpositionen messbar ist, eine
Steuervorrichtung, an welcher die Messeinrichtung zur
Übermittlung der erfassten Schichtdicken angeschlossen ist und
von welcher gemäß der erfassten Schichtdicken und der
zugehörigen Plattenpositionen Schleifparameter ermittelt
werden, die den jeweiligen Plattenpositionen zugeordnet sind,
und eine an die Steuervorrichtung angeschlossene
Schleifeinrichtung mit wenigstens einem Schleifgarät, dass ein
bewegbares Schleifmittel mit einer Schleiffläche zur
schleifenden Bearbeitung der Platte aufweist, und einer
Führungseinrichtung, mittels welcher das jeweilige Schleifgerät
parallel zur Plattenfläche in einander kreuzende Richtungen
sowie quer zur Plattenfläche geführt bewegbar ist. Die
Abmessungen der Schleiffläche des Schleifmittels sind in ihren
sämtlichen Durchmesserrichtungen kleiner als die Längs- und
Breitenabmessung der Platte, und die Schleifeinrichtung ist
mittels der Steuervorrichtung derart betrieben, dass von dem
Schleifgerät im Bereich der jeweiligen Plattenposition gemäß
der zugehörigen Schleifparameter unter Erzielung einer im
wesentlichen konstanten Schichtdicke mehr oder weniger
Schichtmaterial abgeschliffen wird.
Dadurch, dass die Schleiffläche in jeglicher
Durchmesserrichtung kleiner ist als die Längs- und
Breitenabmessung der Platte, ist es möglich, die Platte in
unterschiedliche Bereiche einzuordnen, in denen jeweils gemäß
der zugehörigen, gemessenen Schichtdicke mehr oder weniger
Schichtmaterial abgeschliffen wird. Hierdurch können
Dickenunterschiede in den einzelnen Plattenbereichen insgesamt
ausgeglichen werden. Die Bewegbarkeit des Schleifgeräts in eine
quer zur Plattenfläche verlaufende Richtung erlaubt hierbei,
dass das Schleifgerät globalen Unebenheiten der Platte
nachfolgen kann, um dadurch eine konstante Schichtdicke
erzielen zu können. Die erfindungsgemäße Schleifanlage stellt
dennoch eine unkomplizierte Anlage dar.
Als Schleifgerät kommt insbesondere ein einfacher Drehschleifer
mit einer in einer Drehrichtung drehbaren Ausgangswelle in
Frage. Als Schleifmittel ist eine einfache Schleifscheibe, z. B.
eine Sandscheibe, bevorzugt, die mittig am Stirnende der
Ausgangswelle des Drehschleifers befestigt ist. Prinzipiell
kommen auch Schleifgeräte mit Exzentertrieb in Frage, wobei
diese jedoch den Nachteil haben, dass das exzentergetriebene
Schleifmittel starke Vibrationen auf der Platte verursachen
kann, wodurch bei geringen Platten- und/oder Schichtstärken die
Gefahr einer Beschädigung der Platte und/oder der darauf
vorgesehenen Beschichtung besteht.
Bevorzugt ist dagegen eine kontinuierliche Drehbewegung des
Schleifmittels kombiniert mit einer langsamen kreisenden
Bewegung (parallel zur Platte) des kompletten Schleifgeräts.
Hierdurch wird insgesamt vibrationsarm ein sehr gleichmäßiges
Schleifergebnis erreicht. Die kreisende Bewegung des
Schleifgeräts wird mittels der von der Steuervorrichtung
gesteuerten Führungseinrichtung erzielt, von welcher das
Schleifgerät in kreisender Bewegung parallel zur Plattenfläche
über diese geführt wird, wobei die Führungseinrichtung hierzu
mit Antriebsvorrichtungen, wie zum Beispiel elektrischen
Stellmotoren, versehen ist.
Die Schleiffläche des Schleifmittels ist derart klein zu
wählen, dass die Platte in ausreichend vielen separaten
Plattenbereichen auf unterschiedliche Weise bearbeitbar ist,
das heißt mit unterschiedlichen Schleifparametern geschliffen
werden kann, um die ermittelten Dickenunterschiede über die
gesamte Plattenfläche hinweg ausreichend auszugleichen. Die
Schleiffläche ist aber auch derart groß zu wählen, dass eine
wirtschaftliche Bearbeitung der Platte gewährleistet bleibt.
Ein bevorzugtes Schleifmittel hat eine Schleiffläche,
insbesondere eine kreisförmige Schleiffläche, mit einem
Umkreisdurchmesser im Bereich von 130 bis 170 mm, bevorzugt von
150 mm.
Das Größenverhältnis von Schleiffläche zu Plattenfläche liegt
bevorzugt im Bereich von 1/10 bis 1/35, insbesondere von 1/20
bis 1/30. Eine bevorzugte Größe der Fläche des Schleifmittels
ergibt sich ferner als die Fläche der Arbeitsplatte dividiert
durch die Anzahl der Messpunkte, an denen die Schichtdicke der
Platte erfasst wird. Das heißt bei einer bevorzugten Anzahl von
25 Messpunkten, beträgt die Größe der Schleiffläche bevorzugt
1/25 der Plattenfläche. Da sich die Dicke der Beschichtung in
der Regel nicht sprungartig ändert, wird vorteilhafterweise ein
Schichtdickenprofil ermittelt, indem die Schichtdicken zwischen
den einzelnen Messpunkten via Approximation, zum Beispiel durch
lineare Interpolation, errechnet werden. Hierdurch können aus
einer relativ kleinen Anzahl an Messpunkten Schleifparameter
für eine weitaus größere Anzahl von Plattenpositionen ermittelt
werden.
Als Schleifparameter können die Bewegungsgeschwindigkeit des
Schleifmittels, d. h. zum Beispiel dessen Drehgeschwindigkeit,
und/oder jene Geschwindigkeit, mit welcher das jeweilige
Schleifgerät über die Platte bewegt wird (Vorschub), und/oder
der Anpressdruck des jeweiligen Schleifgeräts auf die Platte
und/oder die Schleifwirkung des Schleifmittels des jeweiligen
Schleifgeräts, d. h. zum Beispiel dessen Körnung, herangezogen
sein.
Das heißt beispielsweise, dass in jenen Plattenbereichen, in
denen eine von einer Referenzschichtdicke stark nach oben
abweichende Schichtdicke erfasst wurde (z. B. über einen
vorbestimmten oberen Differenzwert zwischen gemessener
Schichtdicke und Referenzschichtdicke hinausgehend), gemäß der
oben genannten Schleifparameter das Schleifmittel schneller
bewegt wird und/oder der Vorschub des Schleifgeräts, d. h. die
Geschwindigkeit, mit der das Schleifgerät über die Platte
bewegt wird, geringer eingestellt wird und/oder der
Anspressdruck des jeweiligen Schleifgeräts erhöht wird und/oder
das jeweilige Schleifgerät mit einem Schleifmittel stärkerer
Schleifwirkung, d. h. zum Beispiel gröberer Körnung, verwendet
wird.
Besonders bevorzugt wird der Anpressdruck des jeweiligen
Schleifgeräts, d. h. seines Schleifmittels, auf die Platte
annähernd konstant gehalten, wobei zur Veränderung der
Schleifwirkung des Schleifgeräts die anderen Schleifparameter
verwendet werden. Das Konstanthalten des Anpressdrucks kann in
einfacher Weise zum Beispiel dadurch erreicht werden, dass das
Schleifgerät quer zur Plattenfläche frei bewegbar, d. h. frei
beweglich, gelagert ist und mit seiner Gewichtskraft gegen die
Platte gedrückt ist. Hierbei kann das Schleifgerät mittels
einer Federaufhängung oder einer Hebelaufhängung mit
Gegengewicht gelagert sein, wobei der Schleifdruck manuell
voreinstellbar ist. Das Schleifgerät wird gemäß dieser
Ausführungsform beim Führen über die Platte automatisch von dem
sich ändernden Dickenprofil der Beschichtung (lokale
Unebenheiten) sowie ggf. von Plattenverwölbungen (globale
Unebenheiten) angehoben und abgesenkt, wobei der Anpressdruck
stets annährend gleich bleibt.
Die Messeinrichtung hat nach einer Ausführungsform der
Erfindung ein einfaches Wirbelstrom- oder ein Widerstands-
Messgerät, dessen Messsonde mittels einer Führungseinrichtung,
insbesondere eines Führungsgestells, an unterschiedliche
Positionen der Plattenfläche bewegbar ist und dort zum Messen
der Schichtdicke mit der leitfähigen Schicht auf der Platte in
Berührungskontakt bringbar ist. Diese Messeinrichtung ist nach
einer Ausführungsform der Schleifeinrichtung unmittelbar
vorgelagert, wobei die Platte zunächst der Messeinrichtung und
anschließend der Schleifeinrichtung zuführbar ist.
Die Messeinrichtung und die Schleifeinrichtung haben bevorzugt
jeweils eine Unterlage in Form von zum Beispiel einer
jeweiligen Platte mit einer horizontal angeordneten
Auflagefläche zum Auflegen der zu bearbeitenden Platte. Die
Schleifeinrichtung und auch die Messeinrichtung haben ferner
bevorzugt eine Vorrichtung zum Erzeugen eines Unterdrucks
zwischen der Auflagefläche und der darauf aufgelegten Platte.
Durch diese Vakuumvorrichtungen kann die Platte
verschiebesicher sowohl in der Messeinrichtung als auch in der
Schleifeinrichtung positioniert werden, so dass ein in der
Messeinrichtung verwendetes Koordinatensystem bezüglich der
Plattenfläche sicher auf ein entsprechendes Plattenflächen-
Koordinatensystem in der Schleifeinrichtung übertragbar ist.
Indem in der Messeinrichtung ein Verrutschen der Platte weniger
zu erwarten ist als in der Schleifeinrichtung, kann nach einer
Ausführungsform der Erfindung auch nur die Schleifeinrichtung
mit einer Unterdruckvorrichtung vorgesehen sein.
Der Transport zu der Messeinrichtung und von dieser zu der
Schleifeinrichtung erfolgt nach einer Ausführungsform mittels
eines umlaufenden Transportbandes, welches sich ausgehend von
der Messeinrichtung über dieselbe hinweg bis über die
Schleifeinrichtung hinaus erstreckt. Die Unterlagen sind hierzu
mit einer in Laufrichtung des Transportbandes durchgehenden
Ausnehmung versehen, welche eine der Breite des Transportbandes
entsprechende Weite hat und eine der Dicke des Transportbandes
entsprechende Tiefe hat, so dass das Transportband in der
jeweiligen Unterlage derart versenkbar ist, dass seine
Oberseite plan zur Unterlagenoberseite ist.
Um die zu bearbeitende Platte besser von der Messeinrichtung zu
der Schleifeinrichtung und/oder umgekehrt transportieren zu
können, ist das Transportband vorzugsweise anhebbar und
absenkbar vorgesehen. Die bei abgesenktem Transportband
ganzflächig auf dem Band und der Unterlage gleichmäßig
aufliegende Platte kann damit von der Unterlage abgehoben und
in einem Vertikalabstand von derselben weitertransportiert
werden. Damit liegt bei abgesenktem Transportband die Platte
sicher und biegungsfrei auf der Unterlage auf, und bei
angehobenem Transportband kann die Platte ohne Reibkontakt mit
der Unterlage transportiert werden.
Das Schleifen der Platte kann sowohl trocken als auch nass
erfolgen, wobei bei einer trockenen Schleifung die
Schleifeinrichtung bevorzugt mit einer Absaugvorrichtung zum
Absaugen des Schleifstaubs vorgesehen ist.
Nach einer bevorzugten Ausführungsform der Erfindung hat die
Führungseinrichtung wenigstens eine erste
Linearführungseinrichtung mit einer ersten Antriebsvorrichtung
und einem ersten Bewegungsteil, das mittels der ersten
Antriebsvorrichtung in eine parallel zur Plattenfläche
verlaufende erste Richtung (X-Richtung) bewegbar ist, und eine
zweite Linearführungseinrichtung mit wenigstens einer zweiten
Antriebsvorrichtung und wenigstens einem zweiten Bewegungsteil,
das mittels der zugehörigen zweiten Antriebsvorrichtung in eine
quer, insbesondere senkrecht, zur ersten Richtung sowie
parallel zur Plattenfläche verlaufenden zweiten Richtung (Y-
Richtung) bewegbar ist und an welchem die zugehörige erste
Linearführungseinrichtung befestigt ist. Damit ist also die
jeweilige erste Linearführungseinrichtung insgesamt mit dem
zugehörigen zweiten Bewegungsteil der zweiten
Linearführungseinrichtung mitbewegbar. Die Führungseinrichtung
hat ferner wenigstens eine dritte Linearführungseinrichtung mit
einem dritten Bewegungsteil, das in eine quer zur Platte
verlaufende dritte Richtung (Z-Richtung) bewegbar ist. Das
jeweilige Schleifgerät ist an dem zugehörigen dritten
Bewegungsteil befestigt, so dass es mit diesem mitbewegbar ist.
Die jeweilige dritte Positioniereinrichtung ist auf dem ersten
Bewegungsteil der zugehörigen ersten Linearführungseinrichtung
angebracht und damit insgesamt mit dem zugehörigen ersten
Bewegungsteil mitbewegbar. Die jeweilige dritte
Linearführungseinrichtung kann eine Antriebsvorrichtung zum
Antreiben seines dritten Bewegungsteils haben; das jeweilige
dritte Bewegungsteil kann aber auch frei bewegbar vorgesehen
sein.
Die Linearführungseinrichtungen haben bevorzugt jeweils
mindestens eine Führungsschiene, auf der das jeweilige
Bewegungsteil in Form eines Schlittens angeordnet ist. Als frei
bewegbares drittes Bewegungsteil wird hierbei ein nicht
motorgetriebenes Teil gesehen, d. h. z. B. auch ein
federvorgespanntes Bewegungsteil und/oder ein mit einem Hebel-
und Gegengewichtmechanismus versehenes Bewegungsteil ist. Die
Antriebsvorrichtungen sind mit der Steuervorrichtung verbunden,
so dass die zugehörigen Bewegungsteile gezielt verfahrbar sind.
Die zweite Linearführungseinrichtung hat bevorzugt zwei
langgestreckte Führungsteile, insbesondere Führungsschienen,
die sich mit ihrer Längsrichtung in die zweite Richtung (Y-
Richtung) erstrecken und die in einem Abstand parallel
zueinander angeordnet sind, welcher geringfügig größer ist als
die Plattenbreite oder als die Plattenlänge. Hierbei erstreckt
sich die jeweilige erste Linearführungseinrichtung senkrecht zu
den beiden Führungsteilen über den Abstand hinweg und ist
jeweils endseitig an zugehörigen zweiten Bewegungsteilen auf
dem jeweiligen Führungsteil mit diesen mitbewegbar befestigt.
Die Länge der zweiten Linearführungseinrichtung ist geringfügig
größer als die Plattenlänge, so dass das jeweilige am dritten
Bewegungsteil der jeweiligen dritten Linearführungseinrichtung
befestigte Schleifgerät mit seiner Schleiffläche jede
Plattenposition erreichen kann.
Die Antriebsvorrichtungen der Linearführungseinrichtungen sind
vorzugsweise einfache Elektromotoren, insbesondere
Stellmotoren.
Die Messeinrichtung hat bevorzugt eine der Führungseinrichtung
der Schleifeinrichtung entsprechend ausgebildete
Führungseinrichtung, wobei anstelle des Schleifgeräts an dem
jeweiligen dritten Bewegungsteil ein Messgerät mit einer
Messsonde zur Erfassung der Schichtdicke vorgesehen ist.
Um die Bearbeitungszeit weiter zu verkürzen, sind bevorzugt
einfach mehrere Schleifgeräte und/oder Messgeräte vorgesehen,
die an jeweiligen dritten Bewegungsteilen von dritten
Linearführungseinrichtungen befestigt sind, welche ihrerseits
jeweils an zugehörigen ersten Bewegungsteilen der ersten
Linearführungseinrichtung befestigt sind, die ihrerseits
wiederum an jeweils zugehörigen zweiten Bewegungsteilen der
zweiten Linearführungseinrichtung befestigt sind. Somit sind
gleichzeitig mehrere Schleifgeräte und/oder Messgeräte über die
jeweilige Platte bewegbar. Die Schleifgeräte können hierbei
auch mit unterschiedlichen Schleifmitteln unterschiedlicher
Schleifwirkung versehen sein, so dass zum Beispiel bei jeweils
gleicher Bewegungsgeschwindigkeit des Schleifmittels und bei
gleichbleibendem Vorschub des Schleifgeräts an
unterschiedlichen Plattenpositionen zur gleichen Zeit
unterschiedlich viel Schichtmaterial abgeschliffen wird.
Es ist auch möglich, alle Schleifparameter miteinander zu
kombinieren. Hierzu wird jeweils immer abhängig von dem
erstellten Dickenprofil auf Basis der gemessenen Schichtdicken
an den unterschiedlichen Plattenpositionen ein entsprechendes
Schleifprogramm von der Steuervorrichtung ermittelt und die
Schleifeinrichtung entsprechend betrieben.
Alternativ zu dem Bereitstellen mehrerer Schleifgeräte oder
zusätzlich hierzu kann die Schleifeinrichtung einen
Werkzeugwechsler aufweisen, mittels dessen das jeweilige
Schleifgerät selektiv mit Schleifmitteln unterschiedlicher
Schleifwirkung, insbesondere unterschiedlicher Körnung,
bestückbar ist.
Nach dem erfindungsgemäßen Verfahren zum Schleifen einer mit einem
leitfähigem Material beschichteten Platte für
Leiterplatinen, wird in einem ersten Verfahrensschritt die
Dicke der Schicht auf der Platte an unterschiedlichen
Plattenpositionen gemessen und die gemessenen Schichtdicken
zusammen mit den zugehörigen Plattenpositionen gespeichert. In
einem zweiten Verfahrensschritt wird gemäß der gespeicherten
Schichtdicken und der zugehörigen Plattenpositionen ein
Schleifprogramm ermittelt. In einem dritten Verfahrensschritt
wird gemäß dem ermittelten Schleifprogramm in Abhängigkeit von
der Differenz zwischen der an der jeweiligen Plattenposition
gemessenen Schichtdicke und einer Referenz-Schichtdicke unter
Erzielung einer im wesentlichen konstanten Schichtdicke im
Bereich der jeweiligen Plattenpositionen mehr oder weniger
Schichtmaterial abgeschliffen.
Bei dem erfindungsgemäßen Verfahren wird gemäß den oben
genannten Schleifparametern dadurch mehr oder weniger
Schichtmaterial an den jeweiligen Plattenpositionen
abgeschliffen, dass ein Schleifmittel eines Schleifgeräts mit
den jeweiligen Plattenpositionen zugeordneten,
unterschiedlichen Geschwindigkeiten bewegt wird und/oder dass
das Schleifgerät mit den jeweiligen Plattenpositionen
zugeordneten, unterschiedlichen Geschwindigkeiten über die
Platte bewegt wird, d. h. das Schleifgerät jeweils einen
unterschiedlichen Vorschub hat, und/oder dass das oder mehrere
Schleifgeräte mit den jeweiligen Plattenpositionen
zugeordneten, unterschiedlichen Schleifmitteln
unterschiedlicher Schleifwirkung über die Platte bewegt werden,
und/oder dass das Schleifmittel mit den jeweiligen
Plattenpositionen zugeordneten, unterschiedlichen
Anpressdrücken über die Platte bewegt wird.
Bevorzugt wird das Schleifmittel jedoch mit annähernd
konstantem Anpressdruck über die Platte bewegt. Um sicherer zu
sein, dass die Schicht nicht an einer Stelle durchgeschliffen
wird, werden die Schleifparameter derart gewählt, dass eine
vorbestimmte maximale abzuschleifende Dicke beim jeweiligen
Schleifdurchgang nicht überschritten wird. Hierzu kann zum
Beispiel eine zulässige Soll-Differenz zwischen der jeweiligen
gemessenen Schichtdicke und der Referenz-Schichtdicke
entsprechend groß gewählt werden. Um diese Soll-Differenz dann
bis auf die letztlich gewünschte maximale Dickenabweichung
bezüglich der Referenz-Schichtdicke einzustellen, werden die
Verfahrensschritte derart oft wiederholt, bis die Differenz
einen vorbestimmten Wert erreicht oder unterschreitet. Um
hierbei eine wirtschaftliche Bearbeitung zu gewährleisten, sind
bevorzugt maximal drei bis vier Iterationsschritte vorgesehen.
Die Erfindung wird im Folgenden anhand einer bevorzugten
Ausführungsform mit Bezugnahme auf die Zeichnung erläutert.
In der Zeichnung zeigen:
Fig. 1 schematisch eine erfindungsgemäße Schleifanlage in
perspektivischer Ansicht,
Fig. 2 eine Schnittansicht durch eine beschichtete Platte zur
Erläuterung des Dickenprofils der Schicht,
Fig. 3 schematisch eine erfindungsgemäße Schleifanlage nach
einer anderen Ausführungsform der Erfindung in perspektivischer
Ansicht, und
Fig. 4a-4e schematisch Seitenansichten einer
Transportvorrichtung für einen Schleifanlage gemäß der
Ausführungsform nach Fig. 3.
In den Zeichnungen sind für gleiche Teile gleiche Bezugszeichen
verwendet.
In Fig. 1 ist eine Schleifanlage 1 zum Schleifen einer
beschichteten Platte 2, insbesondere einer mit einer elektrisch
leitfähigen Schicht 6 (siehe Fig. 2a und 2b), insbesondere
einer Metallschicht wie einer Kupferschicht, versehenen Platte
wie einer Basisplatte für Leiterplatinen dargestellt. Die
Schleifanlage 1 weist eine Messeinrichtung 3 auf, welche eine
Messsonde 4 aufweist. Die Messsonde 4 ist an einer
Führungseinrichtung 5 angebracht, die in Form eines
Führungsgestells ausgebildet ist und mittels deren die
Messsonde 4 im Raum, d. h. dreidimensional, geführt bewegbar
ist.
Mittels der Messsonde 4, die bei leitfähigem
Beschichtungsmaterial z. B. in Form eines einfachen Wirbelstrom-
oder eines Widerstands-Messgeräts ausgebildet sein kann, wird,
wie später erläutert, die Dicke der auf der Platte 2
aufgebrachten leitfähigen Schicht 6 an unterschiedlichen
Plattenpositionen gemessen, indem die Messsonde 4 mit der auf
der Platte 2 aufgebrachten leitfähigen Schicht 6 an den
jeweiligen Plattenpositionen in Berührungskontakt gebracht
wird.
Das Führungsgestell 5 weist zum Bewegen des Messfühlers oder
der Messsonde 4 zwei zueinander parallel verlaufende, sich in
eine Y-Richtung erstreckende, langgestreckte Führungsteile in
Form von Längsstäben oder Längsschienen 7, 8 auf, auf denen
jeweils ein zugehöriger entlang derselben verfahrbarer
Schlitten 10, 12 angeordnet ist. Die beiden Schlitten 10, 12
sind mittels einer als Längsführungsteil dienenden
Führungsschiene 14 miteinander verbunden, welche sich quer zu
den beiden Führungsschienen 7, 8 in eine X-Richtung erstreckt
und endseitig fest mit dem jeweiligen Schlitten 10, 12 der in Y-
Richtung verlaufenden Führungsschienen 7, 8 verbunden ist. Auf
der in X-Richtung verlaufenden Führungsschiene 14 ist ein
entlang derselben bewegbarer Schlitten 16 angeordnet, an
welchem seinerseits ein Längsführungsteil 18 in Form eines
Führungsrohrs befestigt ist, welches sich in eine Z-Richtung
erstreckt, die senkrecht zu der von der X- und der Y-Richtung
aufgespannten Ebene, also quer zu dieser, verläuft. In diesem
Falle verlaufen die X- und Y-Richtungen in der Horizontalen;
die Z-Richtung verläuft vertikal. In dem Führungsrohr 18 ist
ein längs desselben bewegbarer Stab angeordnet ist, an dessen
unterem Ende die Messsonde 4 angebracht ist.
Wenigstens einer der Schlitten 10, 11 der beiden in Y-Richtung
verlaufenden Führungsschienen 7, 8 ist mittels einer
Antriebsvorrichtung, z. B. eines Schrittmotors, antreibbar. Der
Schlitten 16 der in X-Richtung verlaufenden Führungsschiene 14
ist ebenfalls mittels einer Antriebsvorrichtung (nicht
dargestellt) verfahrbar, und auch die Stange in dem
Führungsrohr 18 ist mittels eines Antriebs (nicht dargestellt)
in vertikaler Richtung, d. h. in Z-Richtung, bewegbar.
Bei dieser Ausführungsform bilden die in X-Richtung verlaufende
Führungsschiene 14 mit ihrem Schlitten 16 und der zugehörigen
Antriebsvorrichtung eine erste Linearführungseinrichtung. Die
beiden in Y-Richtung verlaufenden Führungsschienen 7, 8 bilden
zusammen mit ihren Schlitten 10, 12 und der zugehörigen
Antriebsvorrichtung eine zweite Linearführungseinrichtung. Das
vertikal verlaufende Führungsteil 18 bildet zusammen mit dem
darin verschiebbaren Stab und dem zugehörigen Motorantrieb eine
dritte Linearführungseinrichtung.
Die erfindungsgemäße Schleifanlage 1 nach dieser ersten
Ausführungsform der Erfindung weist ferner eine
Schleifeinrichtung 20 auf, die ein Schleifgerät 21 hat, welches
seinerseits ein bewegbares Schleifmittel 22 in Form einer
Schleifscheibe mit einer nach unten gewandten Schleiffläche 24
hat. Das Schleifgerät 21 weist einen nicht näher dargestellten
Motor auf, der in einem Motorgehäuse angeordnet ist und dessen
Ausgangswelle 26 vertikal nach unten aus dem Motorgehäuse
vorsteht. Die Schleifscheibe 22 ist in diesem Falle eine
kreisrunde Scheibe und ist mit ihrem Mittelpunkt am Ende der
Ausgangswelle 26 drehfest befestigt.
Die Schleifeinrichtung 20 weist eine Führungseinrichtung 28
auf, mittels welcher das Schleifgerät 21 parallel zu der von
den X-Y-Richtungen aufgespannten Ebene sowie in die quer zu
dieser Ebene verlaufende Z-Richtung führbar ist. Die
Führungseinrichtung 28 weist hierzu zwei zueinander parallele,
sich in Y-Richtung erstreckende Führungsschienen 30, 32 auf,
die in einem vorbestimmten Abstand voneinander angeordnet sind.
Auf den beiden Führungsschienen 30, 32 ist jeweils ein
zugehöriger Schlitten 34, 36 angeordnet, welcher entlang der
zugehörigen Führungsschiene 30, 32 bewegbar ist. Wenigstens
einer der beiden Schlitten 34, 36 ist mittels einer
Antriebsvorrichtung, z. B. eines elektrischen Schrittmotors,
antreibbar.
Die beiden Schlitten 34, 36 sind mittels einer in X-Richtung,
d. h. quer zu den beiden in Y-Richtung verlaufenden
Führungsschienen 30, 32 verlaufenden Führungsschiene 38 fest
miteinander verbunden, so dass sich auch bei nur einem
angetriebenen Schlitten 34, 36 beide Schlitten 34, 36 zusammen
mit der zwischengeordneten Führungsschiene 38 entlang der
beiden in Y-Richtung verlaufenden Schienen 30, 32 bewegt. Auf
der in X-Richtung verlaufenden Führungsschiene 38 ist ein
Schlitten 40 bewegbar angeordnet. Dieser Schlitten 40 ist
ebenfalls mittels einer Antriebsvorrichtung antreibbar. Die
quer verlaufende Führungsschiene 38 gehört zusammen mit ihrem
Schlitten 40 und der Antriebsvorrichtung ebenfalls zu der
Führungseinrichtung 28.
Die Führungseinrichtung 28 weist ferner eine vertikal, d. h. in
die Z-Richtung verlaufende Führungsschiene 42 auf, auf welcher
ein Schlitten 44 in ihrer Längsrichtung bewegbar angeordnet
ist. Dieser Schlitten 44 ist ebenfalls mittels einer
Antriebsvorrichtung antreibbar, und an diesem Schlitten 44 ist
das Schleifgerät 21 befestigt.
Somit kann das Schleifgerät 21 mittels der gestellartigen
Führungseinrichtung 28 im Raum, d. h. dreidimensional, bewegt
werden.
Der vertikal bewegbare Schlitten 44 kann auch nicht mit einer
Antriebsvorrichtung versehen sein, so dass das Schleifgerät 21
in diesem Falle einfach in Z-Richtung frei beweglich gelagert
ist.
Die in X-Richtung verlaufende Führungsschiene 38 bildet
zusammen mit ihrem Schlitten 40 und der zugehörigen
Antriebsvorrichtung eine erste Linearführungseinrichtung der
Schleifeinrichtung 20. Die beiden in Y-Richtung verlaufenden
Führungsschienen 30, 32 bilden zusammen mit ihren Schlitten 34,
36 und der zugehörigen Antriebsvorrichtung eine zweite
Linearführungseinrichtung der Schleifeinrichtung 20. Die
vertikal verlaufende Führungsschiene 42 bildet zusammen mit
ihrem Schlitten 44 und dem zugehörigen Motorantrieb eine dritte
Linearführungseinrichtung der Schleifeinrichtung 20.
Die erfindungsgemäße Schleifanlage 1 hat nach dieser
Ausführungsform ferner eine Steuervorrichtung 50, welche z. B.
ein Mikroprozessor (CPU) sein kann und welche über ein
Datenkabel 52 mit der Messeinrichtung 3 und der
Schleifeinrichtung 20, insbesondere mit deren
Antriebsvorrichtungen und der Messsonde 4 zur Übertragung von
Informationen, wie Schichtdickensignalen und Steuer- und/oder
Regelsignalen, verbunden ist.
Die Schleifanlage 1 hat nach dieser Ausführungsform eine ebene
Unterlage 60 in Form einer langgestreckten Platte. Sie weist
ferner eine Transportvorrichtung 62 auf, welche ein sich in
Längsrichtung der Unterlage 60 erstreckendes Transportband 64
aufweist, welches sich mit seinem oberen Trum 66 oberhalb der
Auflage 60 und mit seinem unteren Trum unterhalb der Auflage 60
erstreckt. Das Transportband 64 ist ferner mittig auf der
Unterlage 60 vorgesehen und hat eine Breite, die in etwa der
Hälfte der Breite der Unterlage 60 entspricht. Das
Transportband 64 ist ferner insgesamt in vertikaler Richtung,
d. h. in Z-Richtung, anhebbar und absenkbar. Hierbei ist in der
Unterlage 60 eine in deren Längsrichtung verlaufende, mittige
Aussparung vorgesehen, welche eine der Breite des
Transportbandes 64 entsprechende Weite hat, so dass das
Transportband 64 mit seiner Oberseite bündig zur seitlich
angrenzenden Oberseite der Auflage 60 in die Aussparung
absenkbar ist.
Die Transportvorrichtung 62 erstreckt sich mit ihrem
Transportband 64 zwischen den in Y-Richtung verlaufenden
Führungsschienen 7, 8 und 30, 32 der Messeinrichtung 3 und der
Schleifeinrichtung 20 hindurch, welche beide auf der Unterlage
60 befestigt sind.
Somit können Platten 2 von dem Transportband 64 sowohl zu der
Messeinrichtung als auch zu der Schleifeinrichtung 20
transportiert werden.
Die Länge der jeweiligen sich in X-Richtung erstreckenden
Führungsschiene 14, 38 und damit der Abstand zwischen den
jeweiligen beiden sich in Y-Richtung erstreckenden
Führungsschienen 7, 8 und 30, 32 ist größer als die Breite der
jeweiligen Platte 2, so dass letztere zwischen diesen
Führungsschienen 7, 8 und 30, 32 hindurch transportierbar ist.
Unter der plattenförmigen Unterlage 60 ist sowohl im Bereich
der Messeinrichtung 3 als auch im Bereich der
Schleifeinrichtung 20 jeweils eine Vakuumvorrichtung (nicht
dargestellt) vorgesehen, mittels welcher an der Oberseite der
Unterlage 60 ein Unterdruck erzeugbar ist, so dass die Platte 2
im Bereich der Messeinrichtung und im Bereich der
Schleifeinrichtung fest auf der Arbeitsunterlage 60 ansaugbar
ist. Hierzu sind in der Unterlage 60 und in dem Transportband
64 jeweils Perforationen ausgebildet, durch welche Luft von der
Oberseite nach unten absaugbar ist, wodurch sich ein Unterdruck
einstellt.
Indem die Messeinrichtung 3 in der Regel keine rotatorischen
Kräfte auf die Platte 2 aufbringt, kann dort auch eine
Vakuumvorrichtung entfallen.
Im Folgenden wird die Arbeitsweise der in Fig. 1 dargestellten
Schleifanlage 1 erläutert.
Die Platte 2 wird mittels der Transportvorrichtung 62 der
Messeinrichtung 3 zugeführt und dort zwischen den beiden in Y-
Richtung verlaufenden Führungsschienen 7, 8 positioniert. Dort
wird die Messsonde 4 mittels der Führungseinrichtung 5, d. h.
des Führungsgestells, horizontal an unterschiedliche
Plattenpositionen gefahren, wobei die Sonde 4 mittels des
Antriebs am Führungsrohr 18 in Z-Richtung nach unten bewegt
wird, um dadurch mit der Plattenoberseite in Berührungskontakt
gebracht zu werden.
Die Antriebsvorrichtungen der Führungseinrichtung 5 werden
mittels der Steuervorrichtung 50 gesteuert, welche gleichzeitig
auch die zu den jeweiligen Messstellen gehörigen
Plattenpositionen, d. h. die zugehörigen X-Y-Positionen,
speichert. An den jeweiligen Plattenpositionen wird mittels der
Messsonde 4 die Dicke der auf der Platte 2 aufgebrachten
leitfähigen Schicht 6 gemessen und in Verbindung mit der
zugehörigen Plattenposition in der Steuervorrichtung 50
gespeichert. Die Steuervorrichtung 50 ist hierbei derart
ausgebildet, dass sie aus den unterschiedlichen, gemessenen
Dicken an den unterschiedlichen X-Y-Positionen ein Dickenprofil
der auf der Platte 2 aufgebrachten Schicht 6 erstellt, z. B.
mittels linearer Interpolation zwischen den einzelnen
Messpunkten.
Anschließend wird die Platte 2 mittels des Transportbands 64 zu
der Schleifeinrichtung 20 weitertransportiert. Hierbei ist zu
bemerken, dass die Platte 2 während des Messvorgangs auch
kontinuierlich mittels der Transportvorrichtung 62
weitertransportiert werden kann; hierbei ist die
Steuervorrichtung 50 dann derart ausgebildet, dass sie den
Vorschub des Transportbandes 64 mitberücksichtigt und die
Messsonde 4 unter ständigem Mitfahren mit dem Transportband 64
entsprechend relativ zu diesem schneller bewegt, um die
unterschiedlichen Messpositionen zu erreichen. Hierdurch kann
ein kontinuierlicher Betrieb der Anlage ohne Stillstandzeiten
erreicht werden.
Aus den gemessenen, d. h. erfassten Dicken, und gegebenenfalls
aus dem ermittelten Dickenprofil berechnet die
Steuervorrichtung 50 ein Schleifprogramm für die
Schleifeinrichtung 20, gemäß welchem Schleifprogramm die
Schleifeinrichtung derart betrieben wird, dass die Platte in
Abhängigkeit von dem erfassten Dickenprofil und den zugehörigen
Plattenpositionen unterschiedlich stark geschliffen wird. Das
heißt, an jenen Stellen, an denen eine größere Schichtdicke
gemessen wurde, wird mehr Schichtmaterial abgeschliffen, und an
jenen Stellen, an denen eine kleinere Schichtdicke gemessen
wurde, wird weniger Schichtmaterial abgeschliffen. Hierdurch
werden die Schichtdickenunterschiede unter Ausbildung einer
gleichmäßig dicken Schicht 6 ausgeglichen.
Wie bereits oben erläutert stehen mehrere Schleifparameter zur
Verfügung, mittels denen ein angepasst unterschiedlicher
Abschliff erzielt wird. Ein Schleifparameter kann die Drehzahl
des Schleifgeräts 21 sein, d. h. letzteres wird dann mit
unterschiedlicher Drehzahl betrieben, wobei eine größere
Drehzahl einen höheren Abrieb und eine niedrigere Drehzahl
einen entsprechend geringeren Abrieb bewirkt. Alternativ oder
zusätzlich hierzu kann ein Schleifparameter die Schleifwirkung
des Schleifmittels 22 sein; hierzu kann z. B. mittels eines
nicht dargestellten Werkzeugwechslers das Schleifmittel 22 je
nach Plattenposition, an die das Schleifgerät 21 zu fahren ist,
ausgewechselt und angepasst an die dort ermittelte Schichtdicke
mit unterschiedlicher Schleifwirkung eingesetzt werden. Ein
weiterer Schleifparameter kann der Anpressdruck des
Schleifmittels 22 auf die Platte 2 sein; hierzu kann z. B.
mittels eines Stellantriebs an der Führungsschiene 42 deren
Schlitten 44 und damit das Schleifgerät 21 mehr oder weniger
stark auf die Plattenfläche gedrückt sein oder das Schleifgerät
21 ist mittels einer Feder gegen die Plattenfläche vorgespannt,
wobei die Feder mittels eines Motorstellantriebs gemäß den
Steuersignalen der Steuervorrichtung 50 mit unterschiedlicher
Vorspannung einstellbar ist, um so das Schleifgerät 21
unterschiedlich stark auf die Platte 2 zu drücken. Als
Schleifparameter kann auch der Vorschub des Schleifgeräts 21
vorgesehen sein, wobei das Schleifgerät an einer
Plattenposition auch eine gewisse Zeitspanne feststehend
gehalten werden kann, um dort besonders viel Schichtmaterial
abzuschleifen.
Das Schleifprogramm mit den ihm zugrundeliegenden
Schleifparametern wird derart berechnet, dass die
Schleifeinrichtung 20 so betrieben wird, dass die Schicht auf
der Platte eine Dicke erhält, die an eine Referenz-Schichtdicke
angenähert ist. Je nach Anzahl der vorgesehenen
Plattenposition, an denen Messwerte erfasst wurden, und nach
Größe der Schleiffläche 24 des Schleifmittels 22, kann die
Referenz-Schichtdicke schon nach dem ersten Schleifvorgang
erzielt werden.
Um mit weniger Messstellen auszukommen und/oder um
größerflächigere Schleifmittel zu verwenden, kann es von
Vorteil sein, nicht schon beim ersten Mal bis annähernd an die
Referenzschichtdicke heranzuschleifen, sondern iterativ mehrere
Mess- und Schleifvorgänge durchzuführen, bis die Differenz
zwischen der tatsächlich gemessenen Schichtdicke und der
Referenz-Schichtdicke an allen vorgesehenen Plattenpositionen
einen zuvor bestimmten Grenzwert unterschreitet. Eine
bevorzugte Anzahl von sich wiederholenden Verfahrensschritten
liegt zwischen drei und vier Messvorgängen und den damit
verbundenen zwei bis drei Schleifvorgängen.
Das Transportband 64 ist hierzu vorteilhafterweise auch
umgekehrt bewegbar, so dass die Platte 2 wiederholt zu der
Schleifeinrichtung 20 hin und von letzterer zurück zu der
Messeinrichtung 3 transportierbar ist.
Die Vakuumvorrichtung kann beispielsweise nur unterhalb des
Transportbands 64 vorgesehen sein, so dass die Platte 2
angesaugt an das Transportband 64 über die Unterlage 60
transportierbar ist. Hiermit ist es möglich, die Platte 2 auch
während des Schleifvorgangs kontinuierlich weiter zu bewegen,
wobei die Steuervorrichtung 50 die Transportgeschwindigkeit des
Bandes 64 berücksichtigt und das Schleifgerät 21 relativ zu der
Platte 2 entsprechend schneller bewegt, als wenn die Platte 2
still stehen würde.
Um schneller neue Platten 2 an die Anlage 1 heranführen zu
können, kann z. B. eine Schleifeinrichtung 20 zwischen zwei
Messeinrichtungen 3 oder umgekehrt eine Messeinrichtung 3
zwischen zwei Schleifeinrichtungen 20 vorgesehen sein, so dass
während des Vermessens des Schichtdickenprofils einer Platte 2
die andere geschliffen wird und umgekehrt. Eine fertig
geschliffene Platte 2 ist ferner sofort von der Messeinrichtung
3 entnehmbar, und eine neue Platte 2 kann dieser
Messeinrichtung zugeführt werden.
Fig. 2a und 2b zeigen die zu bearbeitende Platte 2
schematisch in einem Querschnitt, und zwar in einem Zustand, in
dem die auf der Platte 2 aufgebrachte Schicht 6 noch nicht
schleifend bearbeitet wurde (Fig. 2a) und in einem Zustand, in
dem die Platte 2 geschliffen ist (Fig. 2b). Nach den Fig.
2a und 2b ist die Platte 2 aus mehreren Platten 2', 2", 2'''
zusammengesetzt, die miteinander verpresst sind. Hierbei hat
die Platte 2 aufgrund des Verpressens eine global unebene
Oberseite erhalten (Verwölbung). Die auf der Platte 2
aufgebrachte leitfähige Schicht 6 ist ihrerseits unregelmäßig
dick (lokale Unebenheiten).
Nach der Schleifbehandlung mittels der erfindungsgemäßen
Schleifanlage 1 ergibt sich die in Fig. 2b dargestellte Platte
2, wobei die äußere Schicht 6 eine nunmehr konstante
Schichtdicke aufweist, wobei jedoch die Oberfläche der Platte 2
global gesehen nach wie vor uneben ist, um dadurch die
konstante Schichtdicke zu ermöglichen. Das heißt, die Schicht 6
ist dem global unebenen Verlauf der Plattenoberseite
nachfolgend ausgebildet.
Anstelle nur einer Messsonde 4 und/oder nur eines Schleifgeräts
21 können auch mehrere Messsonden und/oder Schleifgeräte 21
vorgesehen sein, die z. B. mittels zusätzlicher in X-Richtung
verlaufender Linearführungseinrichtungen, die auf zugehörigen
Bewegungsteilen der in Y-Richtung verlaufenden
Linearführungseinrichtung angebracht sind und auf deren
Bewegungsteilen in Z-Richtung verlaufende
Linearführungseinrichtungen angebracht sind, in entsprechender
Weise dreidimensional bewegbar sind. Hierdurch kann die
Bearbeitungsgeschwindigkeit der Schleifanlage 1 insgesamt
erhöht werden. Die Schleifgeräte 21 können hierbei auch jeweils
mit unterschiedlichen Schleifmitteln 22, insbesondere
unterschiedlicher Schleifwirkung, versehen sein.
Fig. 3 zeigt eine Schleifanlage 1 nach einer anderen
Ausführungsform der Erfindung.
Nach dieser Ausführungsform weist die Schleifanlage 1 wiederum
eine Messeinrichtung 3 und eine Schleifeinrichtung 20 auf,
welche jeweils mit einer nicht dargestellten Steuervorrichtung
zum Austausch von Steuersignalen und Messsignalen verbunden
sind.
Nach dieser Ausführungsform sind zwei sich in Y-Richtung
erstreckende Führungsschienen 90, 92 vorgesehen, welche sich
ausgehend von der Messeinrichtung 3 bis über die
Schleifeinrichtung 20 hinaus erstrecken und Bestandteil einer
Führungseinrichtung 5, 28 sowohl der Messeinrichtung 3 als auch
der Schleifeinrichtung 20 sind.
Auf jeder der beiden in Y-Richtung verlaufenden
Führungsschienen 90, 92 sind zwei Schlitten 94, 98 bzw. 96, 100
beweglich angeordnet, wobei jeweils zwei Schlitten 94, 96 bzw.
98, 100 auf unterschiedlichen Führungsschienen 90, 92 einander
gegenüber liegen und über eine sich quer zu den
Führungsschienen 90, 92 in X-Richtung erstreckende
Führungsschiene 102, 104 fest miteinander verbunden sind. Damit
sind die beiden in Fig. 3 oben angeordneten Schlitten 94, 96
mit der sie verbindenden Führungsschiene 102 zusammen entlang
der Führungsschienen 90, 92 in Y-Richtung verschiebbar; und die
beiden in Fig. 3 unteren Schlitten 98, 100 sind zusammen mit
der sie verbindenden Führungsschiene 104 ebenfalls in Y-
Richtung verschiebbar. Die in Y-Richtung verlaufenden
Führungsschienen 90, 92 und die in X-Richtung verlaufenden
Führungsschienen 102, 104 erstrecken sich jeweils horizontal.
Die in Fig. 3 rechte, in Y-Richtung verlaufende
Führungsschiene 90 ist an ihrem einen Axialende mit einer
Antriebsvorrichtung 106, z. B. in Form eines elektrischen
Stellmotors, versehen, welche mit dem auf der zugehörigen
Schiene 90 angeordneten oberen Schlitten 94 zusammenwirkt, um
letzteren entlang der Führungsschiene 90 zu bewegen. Durch die
Bewegung des Schlittens 94 wird mittels der festen Verbindung
durch die Führungsschiene 102 auch der auf der anderen in Y-
Richtung verlaufenden Führungsschiene 92 angeordnete Schlitten
96 mitbewegt.
Die in Fig. 3 linke, in Y-Richtung verlaufende Führungsschiene
92 ist an ihrem einen Axialende mit einer der oben genannten
Antriebsvorrichtung entsprechenden Antriebsvorrichtung 108
versehen, welche mit dem auf derselben Führungsschiene 92
angeordneten, unteren Schlitten 100 zusammenwirkt, um letzteren
entlang der Führungsschiene 92 zu bewegen. Mit der Bewegung
dieses Führungsschlittens 100 wird ebenfalls die zugehörige in
X-Richtung verlaufende Führungsschiene 104 und der dem
Schlitten 100 gegenüberliegende Schlitten 98 mitbewegt.
Die beiden in Fig. 3 unteren Schlitten 98, 100 sind zusammen
mit ihrer sie verbindenden Führungsschiene 104 sowie der beiden
in Y-Richtung verlaufenden Führungsschienen 90, 92 Teil einer
Führungseinrichtung 5 der Messeinrichtung 2. Die beiden in
Fig. 3 oberen Schlitten 94, 96 sind zusammen mit der sie
verbindenden Führungsschiene 102 und der in Y-Richtung
verlaufenden Führungsschienen 90, 92 Teil einer
Führungseinrichtung 28 der Schleifeinrichtung 20.
Die Führungseinrichtung 5 der Messeinrichtung 3 weist ferner
einen entlang der in X-Richtung verlaufenden Führungsschiene
104 bewegbaren Schlitten 110 auf, der mittels eines an einem
Axialende der Führungsschiene 104 angeordneten Antriebsmotors
112 gezielt entlang der Führungsschiene 104 bewegbar ist. An
dem in X-Richtung bewegbaren Schlitten 110 ist ein in Vertikal-
Richtung, d. h. Z-Richtung, verlaufendes Führungsrohr 114
angeordnet, in dem ein Stab 116 längsverschieblich gelagert
ist.
An dem Stab 116 ist eine Messsonde 4 vorgesehen, mittels
welcher durch Berührungskontakt mit der auf die Platte 2
aufgebrachten, leitfähigen Schicht 6 deren Dicke an der
jeweiligen Plattenposition erfassbar ist. In diesem Falle ist
der Stab 116 mit der Messsonde 4 nicht mittels eines Motors
bewegbar, sondern frei bewegbar in dem Führungsrohr 114
gelagert. Eine Sicherung verhindert, dass der Stab 116 unten
aus dem Rohr 114 herausfällt. Der Stab 116 ist mittels der
Führungseinrichtung 5 horizontal, d. h. in X- und Y-Richtung,
über die Platte 2 bewegbar und schleift entlang deren
Oberfläche. Der Stab 116 gleitet je nach Dickenprofil der
Platte 2 und deren Verwölbungen geführt auf und ab. Um den
Druck auf die Platte 2 zu vermindern, kann der Stab 116 mittels
einer der Gewichtskraft entgegenwirkenden Feder aufgehängt
sein. Somit können mittels der im Führungsstab 116 angeordneten
Messsonde 4 die Schichtdicken der auf der Platte 2
aufgebrachten Schicht 6 an unterschiedlichen Plattenpositionen,
d. h. X-Y-Positionen, erfasst und zusammen mit diesen an eine
nicht dargestellte Steuervorrichtung 50 übermittelt werden.
Entsprechend dem Beispiel nach Fig. 1, bildet die in X-
Richtung verlaufende, als Führungsteil dienende Führungsschiene
104 mit ihrem als Bewegungsteil vorgesehenen Schlitten 110 und
dem zugehörigen Antriebsmotor 112 eine erste
Linearführungseinrichtung der Messeinrichtung 2; die in Y-
Richtung verlaufenden, als Führungsteile dienenden
Führungsschienen 90, 92 bilden mit ihren als Bewegungsteile
vorgesehenen Schlitten 100, 98 und dem zugehörigen
Antriebsmotor 108 eine zweite Linearführungseinrichtung der
Messeinrichtung 2; und das in Z-Richtung verlaufende
Führungsrohr 114 bildet mit seinem darin angeordneten Stab 116
eine dritte Linearführungseinrichtung der Messeinrichtung 2.
Die Führungseinrichtung 28 der Schleifeinrichtung 20 weist
einen entlang der in X-Richtung verlaufenden Führungsschiene
102 bewegbaren Schlitten 118 auf, der mittels einer an einem
Längsende der Führungsschiene 102 angeordneten Antriebsmotor
120 entlang der Führungsschiene 102 bewegbar ist. An dem in X-
Richtung bewegbaren Schlitten 118 der Führungseinrichtung 28
der Schleifeinrichtung 20 ist ein Schleifgerät 21 befestigt,
welches in vertikaler Richtung, d. h. Z-Richtung, bewegbar
gelagert ist. Das Schleifgerät 21 ist hierbei in Z-Richtung
frei bewegbar vorgesehen, wobei das Schleifgerät 21 z. B.
mittels einer der Gewichtskraft entgegenwirkenden Feder oder
mittels eines Gegengewichts derart aufgehängt ist, dass es
nicht mit vollem Eigengewicht auf der darunter angeordneten
Platte 2 aufliegt. Mittels der Führungseinrichtung 28 kann das
Schleifgerät 21 horizontal, d. h. in X- und Y-Richtung und damit
parallel zur darunter liegenden Platte 2, bewegt werden, wobei
das Schleifgerät 21 aufgrund seiner in Z-Richtung beweglichen
Lagerung den lokalen (aufgrund von Schichtdickenänderungen) und
den globalen (aufgrund von Verwölbungen der Platte)
Unebenheiten der Platte 2 nachfolgen kann. Das Schleifgerät 21
weist eine Schleifscheibe (in Fig. 3 nicht dargestellt) auf,
welche in einer Richtung gedreht wird. Es weist ferner ein sich
um die Schleifscheibe erstreckendes Gehäuse 122 auf, welches
die Form eines sich vertikal nach unten ausweitenden Trichters
hat, an dessen freiem Ende ein kreiszylindrisches
Abschlussstück bündig angesetzt ist. Durch dieses Gehäuse 122
wird Schleifstaub zurückgehalten, der dann durch eine nicht
dargestellte Absaugvorrichtung aus dem Gehäuse 122 abgesaugt
werden kann.
Entsprechend der Messeinrichtung 2 bildet bei der
Schleifeinrichtung 20 die in X-Richtung verlaufende, als
Führungsteil dienende Führungsschiene 102 zusammen mit deren
als Bewegungsteil vorgesehenem Schlitten 118 und dem
zugehörigen Motorantrieb 120 eine erste
Linearführungseinrichtung der Schleifeinrichtung 20; die beiden
in Y-Richtung verlaufenden, als Führungsteile dienenden
Führungsschienen 90, 92 bilden zusammen mit ihren beiden in
Fig. 3 oberen, als Bewegungsteile vorgesehenen Schlitten 94,
96 und dem zugehörigen Motorantrieb 106 eine zweite
Linearführungseinrichtung der Schleifeinrichtung 20; und die
eine vertikale Bewegung zulassende Lagerung des Schleifgeräts
21 bildet eine dritte Linearführungseinrichtung der
Schleifeinrichtung 20.
Die Schleifanlage 1 nach Fig. 3 weist als Unterlage für die zu
bearbeitenden Platten 2 zwei voneinander separate
Unterlageplatten 130, 132 auf, welche jeweils mit einer mit der
Unterlageplatte 130, 132 mitbewegbaren Saugvorrichtung (nicht
dargestellt) versehen sind, mittels welcher die jeweilige
Platte 2 auf der zugehörigen Unterlageplatte 130, 32 ansaugbar
und dadurch darauf fixierbar ist. Die plattenförmigen
Unterlagen 130, 132 sind, wie anhand der Fig. 4a-4e
erläutert, zwischen der Messeinrichtung 3 und der
Schleifeinrichtung 20 hin und her bewegbar.
Die Schleifanlage 1 nach Fig. 3 weist als Transportvorrichtung
zum Transport der Unterlagen 130, 132 zwei sich parallel zu den
Führungsschienen 90, 92, d. h. in Y-Richtung, erstreckende
Führungsschienen 134 auf (in Fig. 4a-4e ist nur eine der
Führungsschienen 134 in einer Seitenansicht dargestellt). Die
beiden Führungsschienen 134 der Transportvorrichtung sind
hierbei zwischen den beiden Führungsschienen 90, 92 angeordnet,
und zwar in einem der Breite (X-Richtung) der Unterlageplatten
130, 132 in etwa entsprechendem Abstand. Die Führungsschienen
134 weisen einen der jeweils anderen Führungsschiene 134
zugewandten Längskanal 135 auf, in den sich Führungszapfen 136,
die seitlich an der jeweiligen plattenförmigen Unterlage 130,
132 vorgesehen sind, hineinerstrecken. Jede plattenförmige
Unterlage 130, 132 weist hierbei vier Führungszapfen 136 auf,
welche in Längsrichtung der jeweiligen Unterlage 130, 132 in
einem Abstand voneinander in den seitlichen Stirnrändern
angeordnet sind. Die jeweilige Führungsschiene 134 weist in
ihrer Längsrichtung gesehen zwischen der Schleifeinrichtung 20
und der Messeinrichtung 3 einen Verzweigungsabschnitt 138 auf,
wobei der eine Längskanal 135 in einen oberen Längskanal 140
und einen zu dem oberen Längskanal 140 parallel verlaufenden
unteren Längskanal 142 verzweigt wird, und wobei der obere und
der untere Längskanal 140, 142 unter Ausbildung des einen
Längskanals 135 wieder vereinigt werden. Die Länge des
Abzweigungsabschnitts 138 entspricht in etwa der Länge der
plattenförmigen Unterlagen 130, 132, insbesondere dem
Längsabstand der jeweiligen beiden seitlichen Zapfen 136, so
dass beiden Unterlageplatten 130, 132 entlang der
Führungsschienen 134 mittels des Abzweigungsabschnitts 138
übereinander hinweg in entgegengesetzte Richtungen aneinander
vorbei transportierbar sind. Hierdurch können die auf den
Unterlageplatten 130, 132 aufliegenden Platten 2 abwechselnd
zwischen der Messeinrichtung 3 und der Schleifeinrichtung 20
hin und her bewegt werden, wodurch die oben beschriebene
Vorgehensweise des mehrmaligen Messens der Schichtdicke und des
mehrmaligen Durchführens des Schleifvorgangs in besonders
einfacher Weise realisiert wird.
Mittels dieser Schleifanlage 1 kann immer eine Platte 2
vermessen werden, während die andere Platte 2 gerade
geschliffen wird. Anschließend werden die beiden Platten 2
zwischen der Messeinrichtung 3 und der Schleifeinrichtung 2
mittels der Transportvorrichtung wie oben beschrieben
gewechselt, wobei die eine Platte 2 zur Schleifeinrichtung 20
transportiert wird und die andere Platte 2 gleichzeitig zur
Messeinrichtung 3 transportiert wird. Danach wird die eine
Platte 2 geschliffen und die andere Platte 2 von der
Messeinrichtung 3 nachgemessen. Dieses Verfahren wird so lange
abwechselnd durchgeführt, bis die jeweilige Platte 2 an jeder
Plattenposition die gewünschte Schichtdicke mit vorbestimmter
Toleranz erreicht hat, wobei die fertig geschliffene Platte 2
dann ohne Rücksicht auf die andere Platte 2 gegen eine neu zu
bearbeitende Platte 2 ausgewechselt werden kann. Der
Schleifanlage 1 können hierbei nach Bedarf neu zu bearbeitende
Platten 2 zugeführt werden. Die Schleifanlage 1 kann aber auch
derart eingestellt, dass bei Zulassung größerer Toleranzen
bezüglich der Schichtdicke ein kontinuierlich fortschreitender
Arbeitsbetrieb eingestellt wird, wobei der Schleifanlage 1 in
regelmäßigen Abständen neue Platten 2 zugeführt werden. In
diesem Falle berechnet die Steuervorrichtung eine fest
vorgegebene Schleifzeit und eine fest vorgegebene Messzeit mit
in das Schleifprogramm ein.
Alternativ zu den vorangehenden Ausführungsformen kann die
Messeinrichtung auch in die Schleifeinrichtung integriert sein.
Hierzu kann zum Beispiel die Messsonde am gleichen
Bewegungsteil wie das Schleifgerät oder an einem dem
Bewegungsteil mit daran installiertem Schleifgerät
vorausfahrenden Bewegungsteil vorgesehen sein. Auf Basis der
von der Messsonde erfassten Schichtdicke können dann von der
Steuervorrichtung unmittelbar für die zugehörige
Plattenposition Schleifparameter berechnet und sofort an die
Antriebe der Führungseinrichtung des Schleifgeräts übermittelt
werden. Das unmittelbar anschließend über diese Plattenposition
geführte Schleifgerät schleift dann entsprechend der
vorausgehend ermittelten Schleifparameter mehr oder weniger
Schichtmaterial ab.
Claims (14)
1. Schleifanlage (1) zum Schleifen einer mit einem leitfähigen
Material beschichteten Platte (2) für Leiterplatinen, mit einer
Messeinrichtung (3), von welcher die Dicke der auf der Platte
(2) vorgesehenen Schicht (6) an unterschiedlichen
Plattenpositionen messbar ist, einer Steuervorrichtung (50), an
welche die Messeinrichtung (3) zur Übermittlung der erfassten
Schichtdicken angeschlossen ist und von welcher gemäß der
erfassten Schichtdicken und der zugehörigen Plattenpositionen
Schleifparameter ermittelbar sind, die den jeweiligen
Plattenpositionen zugeordnet sind, und einer an die
Steuervorrichtung (50) angeschlossenen Schleifeinrichtung (20)
mit wenigstens einem Schleifgerät (21), das ein bewegbares
Schleifmittel (22) mit einer Schleiffläche (22) zur
schleifenden Bearbeitung der Platte (2) aufweist, und einer
Führungseinrichtung (28), mittels welcher das jeweilige
Schleifgerät (21) parallel zur Plattenfläche in einander
kreuzende Richtungen (X, Y) sowie quer (Z) zur Plattenfläche
geführt bewegbar ist, wobei die Abmessungen der Schleiffläche
(24) des Schleifmittels (22) in ihren sämtlichen
Durchmesserrichtungen kleiner sind als die Längs- und
Breitenabmessung der Platte (2), und wobei die
Schleifeinrichtung (20) mittels der Steuervorrichtung (50)
derart betrieben ist, dass von dem Schleifgerät (21) im Bereich
der jeweiligen Plattenpositionen gemäß der zugehörigen
Schleifparameter unter Erzielung einer im wesentlichen
konstanten Schichtdicke mehr oder weniger Schichtmaterial
abgeschliffen wird.
2. Schleifanlage (1) nach Anspruch 1, wobei als
Schleifparameter die Bewegungsgeschwindigkeit des
Schleifmittels (22) und/oder die Geschwindigkeit, mit welcher
das jeweilige Schleifgerät (21) über die Platte bewegt wird,
und/oder der Anpressdruck des jeweiligen Schleifgeräts (21) auf
die Platte (2) und/oder die Schleifwirkung des Schleifmittels
(22) des jeweiligen Schleifgeräts (21), insbesondere dessen
Körnung, verwendet wird.
3. Schleifanlage (1) nach Anspruch 1 oder 2, wobei die
Schleifeinrichtung (20) eine Unterlage mit einer horizontal
angeordneten Auflagefläche zum Auflegen der Platte (2) sowie
eine Vorrichtung zum Erzeugen eines Unterdrucks zwischen der
Unterlage und der darauf aufgelegten Platte (2) aufweist.
4. Schleifanlage (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 3, wobei
die Führungseinrichtung (28) wenigstens eine erste
Linearführungseinrichtung (38, 40; 192, 118) mit einer ersten
Antriebsvorrichtung (120) und einem ersten Bewegungsteil (40;
118) aufweist, das mittels der Antriebsvorrichtung (120) in
eine parallel zur Plattenfläche verlaufende, erste Richtung (X)
bewegbar ist, wobei die Führungseinrichtung (28) eine zweite
Linearführungseinrichtung (30, 32, 34, 36; 90, 92, 94, 96) mit
wenigstens einer zweiten Antriebsvorrichtung (106) und
wenigstens einem zweiten Bewegungsteil (34, 36; 94, 96)
aufweist, das mittels der zugehörigen Antriebsvorrichtung (106)
in eine parallel zu Plattenfläche sowie senkrecht zur ersten
Richtung (X) verlaufende, zweite Richtung (Y) bewegbar ist und
an welchem die zugehörige erste Linearführungseinrichtung (38,
40; 102, 118) befestigt ist, so das letztere mit dem
jeweiligen zweiten Bewegungsteil (34, 36; 94, 96) mitbewegbar
ist, und wobei die Führungseinrichtung (28) eine dritte
Linearführungseinrichtung (42, 44) mit einem dritten
Bewegungsteil (44) aufweist, das in eine quer, insbesondere
senkrecht zur Plattenfläche verlaufende, dritte Richtung (Z)
bewegbar ist und an dem das Schleifgerät (21) befestigt ist.
5. Schleifanlage (1) nach Anspruch 4, wobei die zweite
Linearführungseinrichtung (30, 32, 34, 36; 90, 92, 94, 96) zwei
langgestreckte Führungsteile (30, 32; 90, 92) aufweist, die in
einem Abstand voneinander sowie parallel zueinander angeordnet
sind, und die jeweils mit einem zugehörigen zweiten
Bewegungsteil (34, 36; 94, 96) versehen sind.
6. Schleifanlage (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 5, wobei
die Schleifeinrichtung (20) einen Werkzeugwechsler aufweist,
mittels dessen das jeweilige Schleifgerät (21) selektiv mit
Schleifmitteln (22) unterschiedlicher Schleifwirkung,
insbesondere unterschiedlicher Körnung, bestückbar ist.
7. Schleifanlage (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 6, wobei
das Größenverhältnis von Schleiffläche (24) des Schleifmittels
(24) und zu Plattenfläche im Bereich von 1/10 bis 1/35,
insbesondere von 1/20 bis 1/30, liegt.
8. Schleifanlage (1) nach einem der Ansprüche 1 bis 7, wobei
die Größe der Schleiffläche (24) der Größe der Plattenfläche
dividiert durch die Anzahl der Plattenpositionen, an denen die
Schichtdicke gemessen wird, entspricht.
9. Verfahren zur Schleifen einer mit einem leitfähigem Material
beschichteten Platte für Leiterplatinen, wobei in einem ersten
Verfahrensschritt die Dicke der Schicht (6) auf der Platte (2)
an unterschiedlichen Plattenpositionen gemessen wird und die
gemessenen Schichtdicken zusammen mit den zugehörigen
Plattenpositionen gespeichert werden, wobei in einem zweiten
Verfahrensschritt gemäß der gespeicherten Schichtdicken und der
zugehörigen Plattenpositionen ein Schleifprogramm ermittelt
wird, und wobei in einem dritten Verfahrensschritt gemäß dem
ermittelten Schleifprogramm in Abhängigkeit von der Differenz
zwischen der an der jeweiligen Plattenposition gemessenen
Schichtdicke und einer Referenzschichtdicke im Bereich der
jeweiligen Plattenpositionen unter Erzielung einer im
wesentlichen konstanten Schichtdicke mehr oder weniger
Schichtmaterial abgeschliffen wird.
10. Verfahren nach Anspruch 9, wobei im Bereich der jeweiligen
Plattenpositionen dadurch mehr oder weniger Schichtmaterial
abgeschliffen wird, dass ein Schleifmittel (22) eines
Schleifgeräts (21) mit den jeweiligen Plattenpositionen
zugeordneten, unterschiedlichen Geschwindigkeiten bewegt wird,
und/oder dass das Schleifgerät (21) mit den jeweiligen
Plattenpositionen zugeordneten, unterschiedlichen
Geschwindigkeiten über die Platte (2) bewegt wird, und/oder
dass das oder mehrere Schleifgeräte (21) mit den jeweiligen
Plattenpositionen zugeordneten, unterschiedlichen
Schleifmitteln (22) unterschiedlicher Schleifwirkurg,
insbesondere unterschiedlicher Körnung, über die Platte (2)
bewegt werden, und/oder dass das Schleifmittel (22) mit den
jeweiligen Plattenpositionen zugeordneten, unterschiedlichen
Anpressdrücken über die Platte bewegt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 9 oder 10, wobei das Schleifmittel
(22) mit annähernd konstantem Anpressdruck über die Platte
bewegt.
12. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 11, wobei die
Verfahrensschritte solange wiederholt werden, bis die Differenz
zwischen der gemessenen Schichtdicke und der
Referenzschichtdicke an der jeweiligen Plattenposition einen
vorbestimmten Wert unterschreitet.
13. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 12, wobei ein
Schleifmittel (22) verwendet wird, dessen Schleiffläche (24)
eine Größe von 1/10 bis 1/35, insbesondere von 1/20 bis 1/30,
der Größe der Plattenfläche hat.
14. Verfahren nach einem der Ansprüche 9 bis 13, wobei ein
Schleifmittel (22) verwendet wird, dessen Größe der Größe der
Plattenfläche dividiert durch die Anzahl der Plattenpositionen,
an denen die Schichtdicke gemessen wird, entspricht.
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006061172A2 (de) * | 2004-12-06 | 2006-06-15 | Vetrox Ag | Vorrichtung zum schleifen von harten oberflächen, insbesondere von glasflächen |
EP2777876A3 (de) * | 2013-03-13 | 2014-10-01 | General Electric Company | Merkmalgeführte profilwiederherstellende Schleifvorrichtung |
EP2386822A3 (de) * | 2010-05-10 | 2015-09-02 | Helmut Fischer GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke dünner Schichten an großflächigen Messoberflächen |
CN107175553A (zh) * | 2017-07-12 | 2017-09-19 | 信丰迅捷兴电路科技有限公司 | 一种线路板磨板生产系统 |
WO2017191088A1 (fr) * | 2016-05-04 | 2017-11-09 | Coquelin Nicolas | Systeme pour meuler des surfaces dures, notamment des vitres, en vue de les restaurer, notamment d'enlever les rayures |
CN111266952A (zh) * | 2020-03-23 | 2020-06-12 | 钟嘉鑫 | 一种新能源汽车用电路板的外表面打磨装置及方法 |
CN113146387A (zh) * | 2021-05-20 | 2021-07-23 | 舒城县乐启儿童用品有限公司 | 一种用于童床床板的定位运输设备 |
CN113781896A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-12-10 | 信丰达诚科技有限公司 | 一种线路板样品固定支架 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2740696A1 (de) * | 1977-09-09 | 1979-03-15 | Steinbearbeitungs Maschinenfab | Verfahren und vorrichtung zum schleifen oder polieren von steinflaechen |
EP0336059B1 (de) * | 1988-03-25 | 1993-10-20 | Nippon CMK Corp. | Oberflächenschleifverfahren für ebene Bauteile |
DE19720623C1 (de) * | 1997-05-16 | 1998-11-05 | Siemens Ag | Poliervorrichtung und Poliertuch |
EP1072359A2 (de) * | 1999-07-26 | 2001-01-31 | Ebara Corporation | Halbleiterscheibe Poliervorrichtung |
-
2000
- 2000-10-27 DE DE2000153410 patent/DE10053410C1/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2740696A1 (de) * | 1977-09-09 | 1979-03-15 | Steinbearbeitungs Maschinenfab | Verfahren und vorrichtung zum schleifen oder polieren von steinflaechen |
EP0336059B1 (de) * | 1988-03-25 | 1993-10-20 | Nippon CMK Corp. | Oberflächenschleifverfahren für ebene Bauteile |
DE68909985T2 (de) * | 1988-03-25 | 1994-05-19 | Nippon Cmk Kk | Oberflächenschleifverfahren für ebene Bauteile. |
DE19720623C1 (de) * | 1997-05-16 | 1998-11-05 | Siemens Ag | Poliervorrichtung und Poliertuch |
EP1072359A2 (de) * | 1999-07-26 | 2001-01-31 | Ebara Corporation | Halbleiterscheibe Poliervorrichtung |
Cited By (15)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006061172A3 (de) * | 2004-12-06 | 2006-07-20 | Mobiltronic Ag | Vorrichtung zum schleifen von harten oberflächen, insbesondere von glasflächen |
CN101128284B (zh) * | 2004-12-06 | 2010-04-21 | 维特罗克斯股份公司 | 用于磨光硬表面、特别是玻璃表面的装置 |
AU2005313529B2 (en) * | 2004-12-06 | 2010-12-16 | Vetrox Ag | Device for polishing hard surfaces, especially glass surfaces |
US8147292B2 (en) | 2004-12-06 | 2012-04-03 | Vetrox Ag | Device for polishing hard surfaces, especially glass surfaces |
KR101281939B1 (ko) | 2004-12-06 | 2013-07-05 | 베트록스 아게 | 경표면, 특히 유리 표면을 폴리싱하기 위한 장치 |
WO2006061172A2 (de) * | 2004-12-06 | 2006-06-15 | Vetrox Ag | Vorrichtung zum schleifen von harten oberflächen, insbesondere von glasflächen |
EP2386822A3 (de) * | 2010-05-10 | 2015-09-02 | Helmut Fischer GmbH | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der Dicke dünner Schichten an großflächigen Messoberflächen |
EP2777876A3 (de) * | 2013-03-13 | 2014-10-01 | General Electric Company | Merkmalgeführte profilwiederherstellende Schleifvorrichtung |
WO2017191088A1 (fr) * | 2016-05-04 | 2017-11-09 | Coquelin Nicolas | Systeme pour meuler des surfaces dures, notamment des vitres, en vue de les restaurer, notamment d'enlever les rayures |
FR3050951A1 (fr) * | 2016-05-04 | 2017-11-10 | Nicolas Coquelin | Systeme pour meuler des surfaces dures, notamment des vitres, en vue de les restaurer, notamment d'enlever les rayures |
CN107175553A (zh) * | 2017-07-12 | 2017-09-19 | 信丰迅捷兴电路科技有限公司 | 一种线路板磨板生产系统 |
CN111266952A (zh) * | 2020-03-23 | 2020-06-12 | 钟嘉鑫 | 一种新能源汽车用电路板的外表面打磨装置及方法 |
CN113146387A (zh) * | 2021-05-20 | 2021-07-23 | 舒城县乐启儿童用品有限公司 | 一种用于童床床板的定位运输设备 |
CN113781896A (zh) * | 2021-09-08 | 2021-12-10 | 信丰达诚科技有限公司 | 一种线路板样品固定支架 |
CN113781896B (zh) * | 2021-09-08 | 2023-07-11 | 信丰达诚科技有限公司 | 一种线路板样品固定支架 |
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