DE10022175A1 - Anordnung zur Winkelmessung - Google Patents

Anordnung zur Winkelmessung

Info

Publication number
DE10022175A1
DE10022175A1 DE10022175A DE10022175A DE10022175A1 DE 10022175 A1 DE10022175 A1 DE 10022175A1 DE 10022175 A DE10022175 A DE 10022175A DE 10022175 A DE10022175 A DE 10022175A DE 10022175 A1 DE10022175 A1 DE 10022175A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
microprocessor
sensor
signals
angle
sensor signals
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
DE10022175A
Other languages
English (en)
Inventor
Klaus Dietmayer
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Philips Intellectual Property and Standards GmbH
Original Assignee
Philips Corporate Intellectual Property GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Corporate Intellectual Property GmbH filed Critical Philips Corporate Intellectual Property GmbH
Priority to DE10022175A priority Critical patent/DE10022175A1/de
Priority to EP01000135A priority patent/EP1152213A1/de
Priority to US09/847,219 priority patent/US6633827B2/en
Priority to JP2001134846A priority patent/JP2002005690A/ja
Publication of DE10022175A1 publication Critical patent/DE10022175A1/de
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/12Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means
    • G01D5/244Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable using electric or magnetic means influencing characteristics of pulses or pulse trains; generating pulses or pulse trains
    • G01D5/24457Failure detection
    • G01D5/24461Failure detection by redundancy or plausibility
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01DMEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01D3/00Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
    • G01D3/08Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups with provision for safeguarding the apparatus, e.g. against abnormal operation, against breakdown

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
  • Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)

Abstract

Bei einer Anordnung zur Winkelmessung mit einem Winkelsensor (1), der zwei relativ zueinander um 90 Grad phasenverschobene Sensorsignale liefert, deren Amplituden von der Temperatur abhängig sind, ist zur Generierung eines Fehlersignals vorgesehen, dass in der Anordnung ein Temperatursensor (7) und ein Mikroprozessor (6) vorgesehen sind und dass der Mikroprozessor (6) in Abhängigkeit eines von dem Temperatursensor (7) gelieferten Temperaturwerts erwartete Amplitudenwerte der Sensorsignale berechnet, diese mit den tatsächlichen Amplitudenwerten der Sensorsignale vergleicht und dann, wenn die Abweichung zwischen den erwarteten und den tatsächlichen Amplitudenwerten einen vorgegebenen Grenzwert überschreitet, ein Fehlersignal erzeugt.

Description

Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Winkelmessung mit einem Winkelsensor, der zwei relativ zueinander um 90 Grad phasenverschobene Sensorsignale liefert, deren Ampli­ tuden von der Temperatur abhängig sind. Bei derartigen Anordnungen besteht im allge­ meinen das Problem, dass die Sensorsignale, die der Winkelsensor liefert, bezüglich ihrer Amplitude stark temperaturabhängig sind.
Aus der US-PS 4,739,560 ist eine Anordnung mit einem Azimuthsensor bekannt, bei welcher die Sensorsignale bezüglich ihrer Amplitude in Abhängigkeit der Temperatur korrigiert werden. Das heißt es wird die Temperatur festgestellt und die infolge dieser Temperatur erwartete Amplitudenänderung der Amplituden der Sensorsignale ausge­ glichen.
Es ist Aufgabe der Erfindung, die Anordnung der eingangs genannten Art dahingehend weiterzuentwickeln, dass eine Überwachung der einwandfreien Arbeitsweise der An­ ordnung möglich ist.
Diese Aufgabe ist dadurch gelöst, dass in der Anordnung ein Temperatursensor und ein Mikroprozessor vorgesehen sind und dass der Mikroprozessor in Abhängigkeit eines von dem Temperatursensor gelieferten Temperaturwerts erwartete Amplitudenwerte der Sensorsignale berechnet, diese mit den tatsächlichen Amplitudenwerten der Sensorsignale vergleicht und dann, wenn die Abweichung zwischen den erwarteten und den tatsächlichen Amplitudenwerten einen vorgegebenen Grenzwert überschreitet, ein Fehlersignal erzeugt.
Dem Mikroprozessor, der die Sensorsignale auswertet, ist ein Temperatursensor zuge­ ordnet. Der Temperatursensor liefert in Abhängigkeit der Temperatur ein Tempera­ tursignal. Wiederum in Abhängigkeit dieses Temperatursignals ist der Mikroprozessor in der Lage zu bestimmen, welche Amplituden die Sensorsignale bei der gegebenen Tempera­ tur haben sollten, da die Abhängigkeit der Amplitudenschwankungen der Sensorsignale von der Temperatur bekannt ist.
Der Mikroprozessor kann also vorherbestimmen, welche Amplituden die Sensorsignale, die von dem Winkelsensor geliefert werden, bei der gegebenen Temperatur haben sollten. Diese erwarteten Amplituden werden mit den tatsächlich festgestellten Amplituden der Sensorsignale verglichen. Wenn die Differenz dieser Signale einen vorgegebenen Grenzwert überschreitet, deutet dies darauf hin, dass eine Fehlersituation vorliegt. In diesem Falle er­ zeugt die Anordnung ein Fehlersignal, das beispielsweise in nachgeschalteten Schaltungs­ anordnungen dazu eingesetzt werden kann, die Auswertung der Sensorsignale zu unter­ drücken. Somit ist eine Überwachung der einwandfreien Arbeitsweise der Anordnung ein­ schließlich Winkelsensor möglich.
Der Vergleich der tatsächlichen und der erwarteten Amplitudenwerte der Sensorsignale kann am einfachsten, wie gemäß einer Ausgestaltung der Erfindung nach Anspruch 2 vorgesehen ist, durch Vergleich der maximalen Amplituden beider Signale vorgenommen werden.
Ist der Mikroprozessor, wie gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung nach An­ spruch 3 vorgesehen, ohnehin so ausgelegt, dass er zur Berechnung eines Winkels den sogenannten CORDIC-Algorithmus einsetzt, so kann die innerhalb des CORDIC- Algorithmus ohnehin vorgesehene Radius-Bestimmung auch gleichzeitig zur Bestimmung der Maximalwerte der tatsächlichen, aktuellen Amplitudenwerte eingesetzt werden. Der CORDIC-Algorithmus als solcher ist beispielsweise aus "Digitale Signalverarbeitung in der Nachrichtenübertragung" von Gerdsen und Kröger, Seiten 108 bis 115 bekannt. Die Be­ rechnung der erwarteten Amplitudenwerte in Abhängigkeit der Temperatur erfolgt mittels einer analytischen Funktion.
Die Signale, die der Winkelsensor liefert, können gegebenenfalls umgewandelt werden, so können sie beispielsweise, wie gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung nach An­ spruch 4 vorgesehen ist, von differentiellen Signalen in asymmetrische Signale umge­ wandelt werden. Ferner können sie von analogen Signalen in digitale Signale umgesetzt werden. Auch weitere Umwandlungen sind denkbar; in jedem Falle ergeben sich für die Eingangssignale des Mikroprozessors Amplitudenwerte der Sensorsignale, die von der Temperatur abhängig sind.
Die Art der Temperaturabhängigkeit kann gegebenenfalls, wie gemäß Anspruch 5 vor­ gesehen ist, in einem EEPROM abgespeichert sein und von dem Mikroprozessor zur Bestimmung der erwarteten Amplitudenwerte eingesetzt werden.
Liefert der Temperatursensor beispielsweise ein analoges Signal, so wird dieses mittels eines Analog-Digital-Umsetzers in den digitalen Bereich umgesetzt und dem Mikroprozessor zugeführt, damit dieser das Signal auswerten kann. Wird in einer solchen Konstellation, wie gemäß einer weiteren Ausgestaltung der Erfindung nach Anspruch 7 vorgesehen, zusätzlich ein Multiplexer vorgesehen, so besteht die Möglichkeit das analoge Ausgangs­ signal der Schaltungsanordnung zeitweise mittels des Analog-Digital-Umsetzers wieder in ein digitales Signal rückzuwandeln und wiederum dem Mikroprozessor zuzuführen. Damit wird es möglich, das analoge Ausgangssignal der Schaltungsanordnung zu kontrollieren. Durch diese Rückkopplung kann der Mikroprozessor ständig überprüfen, ob das Aus­ gangssignal tatsächlich den von ihm gelieferten Werten entspricht. Damit ist eine zusätz­ liche Fehlerkontrolle möglich.
Nachfolgend wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigen
Fig. 1 ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Anordnung zur Winkelmessung,
Fig. 2 ein Darstellung der von dem Winkelsensor gemäß Fig. 1 gelieferten Sensorsignale und
Fig. 3 eine schematische Darstellung des Vergleichs der erwarteten und der tatsächlichen Amplitudenwerte des Winkelsensors.
Fig. 1 zeigt ein Blockschaltbild einer erfindungsgemäßen Anordnung zur Winkelmessung mit einem Winkelsensor 1, der zwei relativ zueinander um 90° phasenverschobene Sensor­ signale liefert. Diese Sensorsignale liegen in differentieller symmetrischer Form vor und werden jeweils einem Wandler 2 bzw. 3 zugeführt, in welchem die Signale in asymmet­ rische Signale umgewandelt werden. Nach Umwandlung in asymmetrische Signale liegen diese immer noch in analoger Form vor und werden jeweils mittels eines Analog-Digital- Umsetzers 4 bzw. 5 in digitale Signale umgesetzt, welche einem Mikroprozessor 6 zuge­ führt werden. Der Mikroprozessor 6 ist in an sich bekannter Weise in der Lage, aus den beiden um 90° zueinander verschobenen Phasensignalen eine Winkelberechnung vorzu­ nehmen, beispielsweise mittels des CORDIC-Algorithmus. Der Mikroprozessor 6 liefert ein entsprechendes Winkelsignal, das mittels eines Digital-Analog-Umsetzers 10 in ein analoges Signal umgewandelt wird. Es ist ein Ausgangsverstärker 11 vorgesehen, der das analoge Winkelsignal nachgeschalteten Schaltungsanordnungen zur Verfügung stellt.
Die Amplitude der Sensorsignale weist jedoch leider eine deutliche Temperatur­ abhängigkeit auf. In der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung wird diese Temperatur­ abhängigkeit der Sensorsignale dazu eingesetzt, die einwandfreie Arbeitsweise der Schaltungsanordnung zu überprüfen.
Dazu ist ein Temperatursensor 7 vorgesehen, dessen analoges Ausgangssignal über einen Multiplexer 8 einem Analog-Digital-Umsetzer 9 zugeführt wird, dessen Ausgangssignal wiederum auf den Mikroprozessor 6 gekoppelt ist. Der Mikroprozessor 6 erhält somit ein Signal, welches ihm eine Information über die vorliegende Temperatur gibt.
Es ist ferner ein EEPROM 12 vorgesehen, in welchem die Art der Abhängigkeit zwischen der Temperatur und der Amplitude der Sensorsignale abgespeichert ist.
Der Mikroprozessor 6 bestimmt aus der tatsächlich vorliegenden Temperatur nun die­ jenigen Amplitudenwerte der Sensorsignale, die bei der vorliegenden Temperatur zu erwarten sind. Dabei kann unter Berücksichtigung der Phasenlagen der Signale ein Ver­ gleich der momentanen Amplituden der Signale vorgenommen werden. Wesentlich ein­ facher und ohne Einschränkungen hinsichtlich der Funktion kann jedoch ein Vergleich der Maximalwerte der Signale vorgenommen werden.
In der Anordnung dieses Ausführungsbeispiels berechnet der Mikroprozessor mittels des CORDIC-Algorithmus das Winkelsignal. Da in dem CORDIC-Algorithmus ohnehin eine Radius Berechnung der beiden Sensorsignale vorgenommen wird, liegt somit auch der Maximalwert der tatsächlichen Sensorsignale vor. Der Mikroprozessor 6 vergleicht diesen mit dem Maximalwert der erwarteten Amplitudenwerte der Sensorsignale, den er in Abhängigkeit des ihm zugeführten Temperatursignals berechnet. Bei diesem einfachen Vergleich kann sich eine Abweichung der Maximalwerte der tatsächlich vorliegenden Amplitudenwerte und der der erwarteten Amplitudenwerte ergeben. Überschreitet diese Abweichung einen vorgegebenen Grenzwert, so weichen die Maximalwerte der tatsäch­ lichen Amplitudenwerte der Sensorsignale relativ stark von den Maximalwerten der erwarteten Amplitudenwerten ab und es kann davon ausgegangen werden, dass eine Fehlersituation vorliegt, dass also wenigstens eines der Signale gestört unterbrochen ist oder Ähnliches. In diesem Falle liefert der Mikroprozessor 6 ein Fehlersignal, welches beispiels­ weise gegebenenfalls nachgeschalteten und in der Figur nicht dargestellten Schaltungsan­ ordnungen eine Fehlersituation signalisiert.
Das Ausführungsbeispiel der erfindungsgemäßen Schaltungsanordnung gemäß Fig. 1 enthält darüber hinaus eine weitere Fehlerüberprüfung, die mit geringem Aufwand möglich wird, da für die Analog-Digital-Umsetzung des analogen Ausgangssignals des Temperatursensors 7 ohnehin ein Analog-Digital-Umsetzer 9 vorgesehen ist. Es wird nämlich mittels des Multiplexers 8 zeitweise das analoge Ausgangssignal der Verstärker­ stufe 11 über den Multiplexer 8 und den Analog-Digital-Umsetzer 9 wieder auf den Mikroprozessor 6 rückgekoppelt. Dieses Signal sollte in etwa dem Signal entsprechen, das der Mikroprozessor 6 als Winkelsignal an den Digital-Analog-Umsetzer 10 liefert. Durch Vergleich dieser beiden Signale kann der Mikroprozessor 6 erkennen, ob in der Ausgangs­ stufe, die insbesondere durch den Digital-Analog-Umsetzer 10 und den Verstärker 11 gebildet wird, ein Fehler vorliegt. Auch in diesem Falle kann an nachgeschaltete, in der Figur nicht dargestellte Schaltungsanordnungen ein Fehlersignal gegeben werden.
Im Ergebnis ist die erfindungsgemäße Schaltungsanordnung dazu in der Lage, eine laufende Überprüfung der Amplituden der Sensorsignale vorzunehmen, wobei auch die Temperaturabhängigkeit berücksichtigt werden kann. Es kann somit eine Fehlersituation sofort erkannt werden.
In Fig. 2 sind die beiden Sensorsignale x und y dargestellt. Es handelt sich in etwa um sinus/kosinusförmige Signale, die relativ zueinander eine Phasenverschiebung von 90° aufweisen. Die Darstellung A der Fig. 2 zeigt diese beiden Signale über einem Winkel von 2π aufgetragen. Überträgt man diese Signale für jeden möglichen Winkel zwischen 0 und 2π in ein Koordinatensystem der Werte von x und y, so erhält man einen Kreis ent­ sprechend der Darstellung gemäß Fig. 2B) Bereits aus dieser einfachen Umwandlung erhält man die maximale Amplitude A der beiden Signale sowie den für das Winkelsignal rele­ vanten Winkel. Hierbei handelt es sich um eine Möglichkeit der Bestimmung der Ampli­ tudenwerte der Sensorsignale, wobei bei dieser Methode für beide Sensorsignale ein maxi­ maler Amplitudenwert bestimmt wird, der dauernd vorliegt.
In Fig. 3 ist in schematischer Weise dargestellt, wie dieser so gewonnene maximale Ampli­ tudenwert A der tatsächlichen Sensorsignale ebenfalls in einem x,y-Koordinatensystem mit den erwarteten Amplitudenwerten verglichen werden kann. Wird für die erwartenen Sensorsignale in entsprechende Weise ein maximaler Amplitudenwert Aexp berechnet, so sollte dieser in einem Bereich +ΔR, -ΔR um den Wert A liegen. Dabei handelt es sich um den oben erläuterten vorgegebenen Grenzwert, der durch die Differenz der Werte A und Aexp nicht überschritten werden darf. Wird dieser doch überschritten, so liegt mit großer Wahrscheinlichkeit eine Fehlersituation vor, in welcher wenigstens eines der Sensorsignale gestört oder unterbrochen ist. Dann liefert in der Anordnung gemäß Fig. 1 der Mikro­ prozessor ein Fehlersignal.

Claims (7)

1. Anordnung zur Winkelmessung mit einem Winkelsensor (1), der zwei relativ zueinander um 90 Grad phasenverschobene Sensorsignale liefert, deren Amplituden von der Temperatur abhängig sind, dadurch gekennzeichnet, dass in der Anordnung ein Temperatursensor (7) und ein Mikroprozessor (6) vorgesehen sind und dass der Mikroprozessor (6) in Abhängigkeit eines von dem Temperatursensor (7) gelieferten Temperaturwerts erwartete Amplitudenwerte der Sensorsignale berechnet, diese mit den tatsächlichen Amplitudenwerten der Sensorsignale vergleicht und dann, wenn die Abweichung zwischen den erwarteten und den tatsächlichen Amplitudenwerten einen vorgegebenen Grenzwert überschreitet, ein Fehlersignal erzeugt.
2. Anordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Mikroprozessor (6) den Maximalwert der tatsächlichen Amplitudenwerten Sensorsignale berechnet und diesen mit dem Maximalwert der tatsächlichen Amplitudenwerte vergleicht.
3. Anordnung nach Anspruch 1 und 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Mikroprozessor (6) zur Berechnung eines Winkels aus den Sensorsignalen einen CORDIC-Algorithmus einsetzt und die in dem CORDIC-Algorithmus ohnehin vorgesehene Radius-Bestimmung auch für die Bestimmung des Maximalwerts der berechneten Amplitudenwerte einsetzt.
4. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Winkelsensor (1) zwei symmetrische, differentielle Signale liefert, die nach Umwandlung in asymmetrische Signale einem ersten und einem zweiten Analog-Digital- Umsetzer (4, 5) zugeführt werden, deren Ausgangssignale auf den Mikroprozessor (6) gekoppelt werden.
5. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Werte der Temperaturabhängigkeit der Sensorsignale in einem EEPROM (12) gespeichert sind, auf das der Mikroprozessor (6) zur Berechnung der erwarteten Amplituden der Sensorsignale zugreift.
6. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Temperatursensor (7) ein analoges Signal liefert, welches mittels eines dritten Analog-Digital-Umsetzers (9) in ein digitales Signal umgesetzt und auf den Mikroprozessor gekoppelt wird.
7. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass der Mikroprozessor (6) ein den berechneten Winkel angebendes Winkelsignal liefert, welches mittels eines Digital-Analog-Umsetzers (10) in ein analoges Winkelsignal umgesetzt wird, dass ein Multiplexer (8) vorgesehen ist, auf dessen ersten Eingang das analoge Winkelsignal und auf dessen zweiten Eingang das Ausgangssignal des Temperatursensors (7) gekoppelt sind und dem ein dritter Analog-Digital-Umsetzer (9) nachgeschaltet ist, dessen Ausgangssignal auf den Mikroprozessor gekoppelt ist, und dass der Mikroprozessor (6) den Multiplexer (8) zur Bestimmung der erwarteten Amplitudenwerte der Sensorsignale auf dessen zweiten Eingang und zur Überprüfung des den berechneten Winkel angebenden Ausgangssignals auf dessen ersten Eingang schaltet.
DE10022175A 2000-05-06 2000-05-06 Anordnung zur Winkelmessung Pending DE10022175A1 (de)

Priority Applications (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10022175A DE10022175A1 (de) 2000-05-06 2000-05-06 Anordnung zur Winkelmessung
EP01000135A EP1152213A1 (de) 2000-05-06 2001-05-02 Anordnung zur Winkelmessung
US09/847,219 US6633827B2 (en) 2000-05-06 2001-05-02 Arrangement for angle measurements
JP2001134846A JP2002005690A (ja) 2000-05-06 2001-05-02 角度測定装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE10022175A DE10022175A1 (de) 2000-05-06 2000-05-06 Anordnung zur Winkelmessung

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE10022175A1 true DE10022175A1 (de) 2001-11-08

Family

ID=7641067

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE10022175A Pending DE10022175A1 (de) 2000-05-06 2000-05-06 Anordnung zur Winkelmessung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US6633827B2 (de)
EP (1) EP1152213A1 (de)
JP (1) JP2002005690A (de)
DE (1) DE10022175A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017211623A1 (de) * 2017-07-07 2019-01-10 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zur Detektion und Korrektur eines Messfehlers sowie Messeinrichtung und Koordinatenmessgerät

Families Citing this family (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10112352A1 (de) * 2001-03-13 2002-09-19 Philips Corp Intellectual Pty Anordnung zur Winkelmessung
US7382295B2 (en) 2003-11-04 2008-06-03 Nsk Ltd. Control unit for electric power steering apparatus
JP2005168242A (ja) * 2003-12-04 2005-06-23 Nsk Ltd 電動パワーステアリング装置の制御装置
US7443161B2 (en) * 2004-01-07 2008-10-28 Stefan Butzmann Method of determining angles
US7263453B1 (en) * 2004-01-21 2007-08-28 Deka Products Limited Partnership Shaft feedback sensor error detection
ATE373813T1 (de) * 2004-07-12 2007-10-15 Feig Electronic Gmbh Positionsgeber sowie verfahren zur bestimmung einer position einer drehbaren welle
US7466125B2 (en) * 2004-07-12 2008-12-16 Feig Electronic Gmbh Position transmitter and method for determining a position of a rotating shaft
JP4737598B2 (ja) * 2005-04-01 2011-08-03 株式会社ニコン エンコーダ
JP4979352B2 (ja) * 2006-02-28 2012-07-18 日立オートモティブシステムズ株式会社 レゾルバ/デジタル変換器及び該レゾルバ/デジタル変換器を用いた制御システム
JP5011824B2 (ja) * 2006-05-31 2012-08-29 株式会社ジェイテクト 異常判定装置
JP2008128961A (ja) * 2006-11-24 2008-06-05 Alps Electric Co Ltd 絶対角検出装置
JP2008128962A (ja) * 2006-11-24 2008-06-05 Alps Electric Co Ltd 絶対角検出装置
DE102009028170A1 (de) * 2009-07-31 2011-02-10 Robert Bosch Gmbh Kommutierter elektrischer Antrieb und Verfahren zur Ansteuerung eines kommutierten Elektromotors
EP2609400B1 (de) 2010-08-24 2015-02-25 Aktiebolaget SKF Verfahren und system zur bestimmung der winkelposition eines drehelements und lager mit einem derartigen system
US8742777B2 (en) * 2010-12-29 2014-06-03 The Board Of Trustees Of The University Of Alabama For And On Behalf Of The University Of Alabama Method and system for testing an electric circuit
CN102506228B (zh) * 2011-11-01 2014-01-22 陈瑞骞 用于水龙头的监测装置、具有监测装置的水龙头及监测方法
JP6056482B2 (ja) * 2013-01-08 2017-01-11 株式会社ジェイテクト 回転角センサの異常検出装置
DE102014219004A1 (de) 2014-09-22 2016-03-24 Continental Teves Ag & Co. Ohg Signalverarbeitungsvorrichtung zur Verarbeitung eines Messsignals in einem Kraftfahrzeug
JP6563864B2 (ja) * 2016-06-16 2019-08-21 日立オートモティブシステムズ株式会社 回転角度センサの診断装置及び診断方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0781864B2 (ja) 1985-10-09 1995-09-06 日本電装株式会社 方位演算装置
US5297063A (en) * 1991-12-27 1994-03-22 Chrysler Corporation Method for selecting calibration data for an auto-calibrating compass
DE4402319A1 (de) * 1993-01-30 1994-08-04 Bosch Gmbh Robert Bewegungsmeßsystem für eine Einrichtung mit zwei gegenseitig verschiebbaren Körpern
DE19548385C2 (de) * 1995-12-22 1998-11-12 Siemens Ag Verfahren zur Ermittlung der Winkelposition einer Drehachse eines Gegenstandes durch einen Rechner
DE19757196A1 (de) 1997-12-22 1999-06-24 Philips Patentverwaltung Sensoranordnung mit Meßfehlererkennung
DE19849910A1 (de) 1998-10-29 2000-05-04 Philips Corp Intellectual Pty Offsetkompensiertes Winkelmeßsystem
DE19852502A1 (de) * 1998-11-13 2000-05-18 Philips Corp Intellectual Pty Verfahren zur Offset-Kalibrierung eines magnetoresistiven Winkelsensors
DE19915968A1 (de) * 1999-04-09 2000-10-12 Philips Corp Intellectual Pty Anordnung zum Offsetabgleich zweier orthogonaler Sensorsignale

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102017211623A1 (de) * 2017-07-07 2019-01-10 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zur Detektion und Korrektur eines Messfehlers sowie Messeinrichtung und Koordinatenmessgerät

Also Published As

Publication number Publication date
EP1152213A1 (de) 2001-11-07
US20010056333A1 (en) 2001-12-27
US6633827B2 (en) 2003-10-14
JP2002005690A (ja) 2002-01-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE10022175A1 (de) Anordnung zur Winkelmessung
DE69230638T2 (de) System zur Eichung eines Analog/Digitalwandlers und Betriebsverfahren
DE10112352A1 (de) Anordnung zur Winkelmessung
DE69122404T2 (de) A/d oder d/a wandler, a/d und d/a wandlersystem und verfahren zur eichung dieses systems
EP2458342B1 (de) Überwachungseinheit und Verfahren zur Überwachung von Positionssignalen inkrementaler Positionsmesseinrichtungen
DE102006054763A1 (de) Differenzverstärker, Phasen- und Verzögerungsregelkreisvorrichtung und Differenzverstärkungsverfahren
DE102012022175A1 (de) Phasendetektion mit zwei Betriebsarten
DE10314189B4 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Kalibrierung eines gewichteten Netzwerks
DE102010029497A1 (de) Verfahren zum Erkennen von Fehlern eines AD-Wandlers
DE2129383B2 (de) Pulscodemodulator mit knickkennlinien-amplitudenwandler
EP2622418B1 (de) Schaltungsanordnung und verfahren zur überwachung eines dsps im rahmen einer sicherheitskritischen anwendung
DE102010027166B4 (de) Positionsmessvorrichtung und Verfahren zur Positionsmessung mittels Hall-Sensoren
EP1018802B1 (de) Integrierter Operationsverstärker für einen Analog-Digital-Wandler
DE102018203465A1 (de) Radarsensorsystem und Verfahren zum Betreiben eines Radarsensorsystems
EP0818877B1 (de) Schaltungsanordnung zur Offset-Kompensation
DE102018128334B3 (de) Vorrichtung und verfahren zum einstellen eines untedrückungssignals zum unterdrücken eines hf-störsignals
EP0325173A2 (de) Messschaltung zur Phasenmessung gepulster Hochfrequenzsignale
DE102018004645B3 (de) Verfahren zum Reduzieren von Oberwellen und Vorrichtung zur Positionserfassung
EP2583070B1 (de) Messumformer mit zwei übertragungskanälen
EP3340471A1 (de) Messvorrichtung mit einem sicheren messkanal
DE3414736A1 (de) Frequenzdiskriminator
EP1257058B1 (de) Anordnung und Verfahren zur Ermittlung des jeweils aktuellen Pegels eines digitalen Signals
DE102019117193A1 (de) Sensorvorrichtung zur Bestimmung einer Wegstrecke, einer Fläche oder eines Volumens
DE3875754T2 (de) Differenzverstaerkerschaltung.
DE102005029114A1 (de) Verfahren zur Reduzierung von Messfehlern bei Kombinations-Druck-Sensoren und Anordnung von Kombinations-Druck-Sensoren