DD200110A1 - Schaltungsanordnung zur auswertung des dateninhalts von fluechtigen halbleiterspeichern - Google Patents

Schaltungsanordnung zur auswertung des dateninhalts von fluechtigen halbleiterspeichern Download PDF

Info

Publication number
DD200110A1
DD200110A1 DD23236081A DD23236081A DD200110A1 DD 200110 A1 DD200110 A1 DD 200110A1 DD 23236081 A DD23236081 A DD 23236081A DD 23236081 A DD23236081 A DD 23236081A DD 200110 A1 DD200110 A1 DD 200110A1
Authority
DD
German Democratic Republic
Prior art keywords
data
memory
content
circuit arrangement
test cells
Prior art date
Application number
DD23236081A
Other languages
English (en)
Inventor
Frank Stiller
Guenter Schultz
Original Assignee
Frank Stiller
Guenter Schultz
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Frank Stiller, Guenter Schultz filed Critical Frank Stiller
Priority to DD23236081A priority Critical patent/DD200110A1/de
Publication of DD200110A1 publication Critical patent/DD200110A1/de

Links

Landscapes

  • Power Sources (AREA)

Abstract

Schaltungsanordnung zur Auswertung des Dateninhaltes von flüchtigen Halbleiterspeichern, die in Steuereinrichtungen von Ger"ten der Datenverarbeitung, Rechentechnik, Schreibtechnik und des Maschinenbaues eingesetzt sind und nach Abschaltung der Hauptstromversorgung mit einer Stützspannung aus Batterie versorgt werden. Aufgabe der Erfindung ist es, eine Schaltungsanordnung zu schaffen, bei der die Auswertung des Datenbestandes ausschließlich aus dem Speicherzustand abgeleitet wird und bei der durch die Umschaltung des Ger"tes kein Teilverlust von Daten eintreten kann. Gel"st wir diese Aufgabe dadurch, dass eine Anzahl von Speicherzellen, die Bestandteil des zu überwachenden Speichers oder diesem separat zugeordnet sein k"nnen und die mit einem bestimmten Bit-Muster gesetzt wurden, als Prüfzellen an die Betriebsspannung angeschlossen sind, deren Inhalt mittels einer fest verdrahteten Logik auswertbar ist und bei der dann, wenn der Inhalt einer der Prüfzellen von dem jeweils gesetzten Bit-Muster abweicht, das Signal des Datenverlustes ergeht sowie eine schnelle, vor nur teilweisem Datenverlust schützende Abschaltung erfolgt.

Description

232360
VEB Kombinat Robotron - 592 «
FV Stiller G. Schultz
Titel der Erfindung
"Schaltungsanordnung zur Auswertung des Dateninhalts von flüchtigen Halbleiterspeicher^"
Anwendungsgebiet der Erfindung
Die Erfindung betrifft eine Schaltungsanordnung zur Aus- -, wertung des Dateninhalts von flüchtigen Halbleiterspeichern, '' die in Steuereinrichtungen von Geräten der Datenverarbeitung, der Rechentechnik, der Schreibtechnik, des Maschinenbaues _ oder ähnlichem eingesetzt sind und die nach Abschaltung der Hauptstromversorgung mit einer Stützspannung aus Batterien
versorgt werden. .
Charakteristik der bekannten technischen Lösungen
Mit dem verschiedensten Steuereinrichtungen für die oben angeführten Geräte, zum Beispiel mit dem numerischen Steuersystem CIiC 600 für Werkzeugmaschinen, ist es bekannt geworden, Speichersteckeinheiten mit Batterien zu bestücken,
232360 6
die nach der Unterbrechung der Hauptstromversorgung die Speicherschaltkreise mit einer Stützspannung versorgen und so den Erhalt des Dateninhaltes der Speicher für lange Zeit sicherstellen. Dabei wird eine Schaltung angewendet, die nach der Umstellung von der Hauptstrom - auf·die Batterie« stromversorgung den Zustand der Batteriespannung automatisch überwacht, angezeigt und entsprechende Signale an die Steuerung liefert. Unterschreitet die überwachte Batteriespannung einen bestimmten Wert," dann erklärt die Schaltung den von dieser Spannung abhängigen Speicher oder Speicherblock für das Betriebssystem als wertlos und gibt das durch eine Fehlerkodeanzeige bekannt.
(Fachzeitschrift "radio, fernsehen, elektronik" des VEB Verlag Technik Berlin, Heft 11/1979, S. 694 - 700). Diese Überwachungsschaltungen haben den Nachteil, daß die Anzeige des Datenverlustes ausschließlich in Auswertung der Batteriespannung erfolgt, obwohl aus dieser während des Ladens, des Entladens oder des Leerlaufes keine zuverlässigen Schlußfolgerungen über den Datenerhalt abgeleitet werden können.
Darüber hinaus kann es beim Wiedereinschalten der Hauptstromversorgung zu Datenfehlern kommen, die Betriebsstörungen im Gerät nach sich ziehen, weil die Spannungen für den Datenerhalt der:einzelnen Speicher unterschiedlich und in der Regel nicht genau bekannt sind.
Ziel der Erfindung;
Die Erfindung hat das Ziel, die Gebrauchswerteigenschaften der Steuereinrichtungen für die oben angeführten Geräte durch ihre Ausstattung mit einer Schaltungsanordnung zur Auswertung des Dateninhalts von flüchtigen Halbleiterspeichern zu verbessern, die die unbedingte Betriebssicherheit der Geräte zuverlässig gewährleistet.
- 3 ~Wesen der Erfindung
232360 6
Der Erfindung wurde die Aufgabe zugrunde gelegt, den dargestellten Nachteilen der bekannten Lösungen entgenzuwirken und eine Schaltungsanordnung zu schaffen, bei der die Auswertung des Datenbestandes ausschließlich aus dem tatsächlichen Speicherzustand abgeleitet wird und bei der durch die Umschaltung des Gerätes von der Hauptstromversorgung auf die Stutζstromversorgung oder umgekehrt kein Teilverlust von Daten durch das Absinken der Batteriespannung eintritt«
Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe durch eine Schaltungsanordnung gelöst,
-> bei der an die Betriebsspannung eine angemessene Anzahl von Speicherzellen als Prüfzellen angeschlossen sind, die körperlicher Bestandteil des Speichers oder diesem separat zugeordnet seien können, und die im Betriebszustand des Gerätes mit einem bestimmten Bit-Muster gesetzt werden. - Bei der eine fest verdrahtete Logik den Inhalt der durch Abschaltung betriebsspannungslos gewordenen Prüfzellen entsprechend dem Bit-Muster ausgewertet, und « bei der dann, wenn der Inhalt einer der Prüfzellen von dem jeweils gesetzten Bit-Muster abweicht, das Signal des Datenverlustes ergeht und die Stützspannung des Speichers durch die an sich bekannten Tiefenladeschutζschaltung abgeschaltet wird, weil die Batteriespannung bis auf einen deffinierten Wert, z.B. 1,0 Y, abgesunken ist·
Mit dieser Abschaltung verlieren sowohl der Speicher als auch die Prüfzellen ihre Daten (Bit-Muster). Dieser abgeschaltete Zustand kann nur durch die Einschaltung der Netzstromversorgung - nicht der Batteriestromversorgung - aufgehoben werden.
Nach der Wiederzuschaltung der Betriebsspannung setzen sich die Prüfzellen willkürlich.
Ausfülirungsbeispiel
232360 6
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird an Hand der schaubildlich dargestellten Schaltungsanordnung näher erläutert.
Es "bedeutet darin
Pig. 1 "Eine erfindungsgemäße SchaltungsOrdnung"
Ist U2 Uo - UcE V4 so ist V5 gesperrt, Y6 geöffnet und die Versorgung des Speichers mit der Betriebsspannung U1 erfolgt durch die Netzspannung Up»
Beim Absinken der Netzspannung U2 in der ATdschaltphase des Gerätes wird durch den R8 gesichert, daß der rpn-TS V3 geöffnet /bleibt« Dadurch v/ird vermieden, daß Störungen in der Abschaltphase V3 sperren können. Im abgeschalteten Zustand kann U2 als !lasse betrachtet werden, da die Ströme, die durch R8 fließen sehr gering sind.
Wird die Hetzspannung U2 wieder zugeschaltet, so gewährleistet R8, daß V2 geöffnet und damit V1 gesperrt ist. Ist V3 geöffnet, so ist auch der prp-TS V 4 geöffnet - ist U2 U3 - UcE V4, so fließt der Strom über V4, V5 nach U.. Über Yl ...n und R4, R7 wird V3 geöffnet gehalten bis eine bestimmte Spannungsschwelle von U3 erreicht ist. Die Spannungsschwelle wird durch die Anzahl der Dioden V7».«Vn bestimmt. Ist die minimale Plußspannung der Dioden erreicht, so wird sowohl der Basisstrora als auch der Kollektorstrom von V3 geringer, der gleich dem Basisstrom von V4 ist. - .Damit steigt UcE von V4 und V1 sinkt. Damit sinkt der Basisstrom von V3 weiter bis V3 und auch V4 sperrt. .. _
Die Absehaltspannung ist etwa
U3 = 1,5 V + χ . 0,5 V.
χ = Anzahl der V7 ··· Vn
Si-Dioden UP = 0,5 V
Si-TS
R4:R8 = 1 ; R4, R8 R6, R7
232360 6
Bei kapazitiven Lasten, z« BV Stützkondensatoren, an U1 sind V1 und V2 notwendig, um ein schnelles Abschalten zu garantieren· V2 schaltet wie V3, d.: h· ist V3 gesperrt, so ist auch V2 gesperrt und V1 geöffnet, über den die Ladung der Kapazität gegen Masse abfließen kann· R2 dient zur Begrenzung der Icv1# Ist dessen Ic max. genügend groß, so kann R2 = ο sein«
R1 dient der Aufnahme der Restströme im gesperrten Zustand von V4y ·· Eine Variante wäre die Verwendung von n~Kanal« Sperrschicht - PET anstelle von VI und V2«~ Bei rein ohmschen Lasten an U1 können R2, R3, R6,; V1, V2
entfallen und R7 = O seinV
Durch dieses Abschalten wird ein teilweiser Datenverlust vermieden und die Batterien werden nicht tiefenladen. Diese Trennung bleibt unabhängig von der Batteriespannung bestehen "bis TJ2 wieder zugeschaltet wird»
Zur Anzeige bei Datenverlust sind an die Betriebsspannung U1 eine angemessene Anzahl, vorzugsweise 10, Prüfzellen«FF angeschlossenV Sie können körperlicher Bestandteil des Speichers oder diesem separat zugeordnet sein und werden im Betriebszustand des Gerätes mit einem bestimmten Bit-Muster gesetzt ·' - ' Die Prüfzellen PP, die mit dem Abschalten der Betriebs« spannung U1 ihre Daten verloren haben, setzen sich nach dem Wiederzuschalten der Netzspannung U2 willkürlich. Durch eine festverdrahtete Logik werden die durch die Abschaltung spannungslos gewordenen Prüfzellen PP entsprechend dem Bit-Muster ausgewertet. Weicht danach der Inhalt nur einer Prüfζeile PP von dem vor dem Abschalten des Gerätes gesetzten Bit-Musters ab, so wird das Signal Datenverlust angezeigt, d. h» U1 mußte abgeschaltet werden, da die Batteriespannung zu gering war·

Claims (2)

-6- 232360 6 Erfindungsanspruch .
1. Schaltungsanordnung zur Auswertung des Dateninhalts von flüchtigen Halbleiterspeichern, die den Dateninhalt von unter Batteriestromversorung stehenden Speichern automatisch überwacht und bei eingetretenem Datenverlust entsprechende Signale an die Steuereinrichtung des Gerätes liefert, gekennzeichnet dadurch, daß eine angemessene Anzahl von Speicherzellen als Prüfzellen, die im Betriebszustand des Gerätes mit einem bestimmten Bit-Muster gesetzt wurden, an die Betriebsspannung angeschlossen sind, deren Inhalt mittels einer fest verdrahteten Logik auswertbar ist und bei der dann, wenn der Inhalt einer der Prüfzellen von dem jeweils gesetzten Bit«Muster abweicht, das Signal des Datenverlustes ergeht sowie eine schnelle, vor nur teilweisen Datenverlust schützende Abschaltung des Speichers von der Batterie erfolgt« -
2, Schaltungsanordnung nach Punkt 1 des Erfindungsanspruches, gekennzeichnet dadurch,
daß die an die Betriebsspannung angeschlossenen Prüfzellen Speicherzellen sind, die körperlicher Bestandteil des zu überwachenden Speichers oder diesem separat zugeordnet sein können«
DD23236081A 1981-08-04 1981-08-04 Schaltungsanordnung zur auswertung des dateninhalts von fluechtigen halbleiterspeichern DD200110A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD23236081A DD200110A1 (de) 1981-08-04 1981-08-04 Schaltungsanordnung zur auswertung des dateninhalts von fluechtigen halbleiterspeichern

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DD23236081A DD200110A1 (de) 1981-08-04 1981-08-04 Schaltungsanordnung zur auswertung des dateninhalts von fluechtigen halbleiterspeichern

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DD200110A1 true DD200110A1 (de) 1983-03-16

Family

ID=5532796

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DD23236081A DD200110A1 (de) 1981-08-04 1981-08-04 Schaltungsanordnung zur auswertung des dateninhalts von fluechtigen halbleiterspeichern

Country Status (1)

Country Link
DD (1) DD200110A1 (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2656127A1 (fr) * 1989-12-20 1991-06-21 Seiko Epson Corp Circuit de protection contre une operation d'ecriture incorrecte pour un dispositif de memoire.

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2656127A1 (fr) * 1989-12-20 1991-06-21 Seiko Epson Corp Circuit de protection contre une operation d'ecriture incorrecte pour un dispositif de memoire.

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE69628265T2 (de) Magnetplattensteuerung zur Sicherung eines Cache-Speichers
DE3815001A1 (de) Einrichtung zum laden von akkumulatoren
DE69722100T2 (de) Modulares batteriesicherungssystem für cachespeicher
DE3625179A1 (de) Elektronisches geraet mit austauschbarer stromversorgungsquelle
DD200110A1 (de) Schaltungsanordnung zur auswertung des dateninhalts von fluechtigen halbleiterspeichern
EP0299323B1 (de) Stromversorgungseinrichtung
DE2946377A1 (de) Elektronische zeitgeberschaltung
WO1997023878A2 (de) Verfahren zum betrieb einer sram mos-transistor speicherzelle
DE2657561B1 (de) Nachlade-Referenzschaltungsanordnung fuer einen Halbleiterspeicher
EP0058202A1 (de) Stromversorgungsschaltung für elektronische sicherheits-shibindungen.
DE1221817B (de) Elektrische Stromversorgungs- und UEberwachungsvorrichtung fuer eine elektrische Digital-Rechenanlage
EP0175099B1 (de) Einrichtung zur unterbrechungsfreien Spannungsumschaltung
DE3541026A1 (de) Elektronisches geraet, insbesondere tragbarer computer, mit loesbarem speichermodul
DE3942288C1 (de)
EP0225466B1 (de) Batteriebetriebenes elektronisches Gerät
DE3047802A1 (de) System zum festhalten von daten in digitalen schaltungen waehrend kurzzeitiger speisespannungsausfaelle
DE3209704A1 (de) Schaltungsanordnung zur aufrechterhaltung von speicherinformationen von fluechtigen schreiblesespeichereinrichtungen bei betriebsspannungsausfall
DE2313958A1 (de) Notstromversorgungsgeraet, insbesondere fuer eine leuchte
EP0703654B1 (de) Elektronischer Verbrauchszähler mit Versorgungsschaltung
DE3332201A1 (de) Schaltungsanordnung und verfahren zur bedarfsmaessigen steuerung der aufladung eines akkumulators
DE19600851A1 (de) Elektrisches Gerät mit einer Gangreserve
DE2422285B1 (de) Schaltungsanordnung zur unterbrechungsfreien Notstromversorgung von Halbleiterspeichern
DE3430452A1 (de) Kassettenladeeinrichtung fuer einen kassettenrecorder mit einer betriebsruheschaltung
AT201184B (de) Ladeeinrichtung für Akkumulatorenbatterien, insbesondere für Zugbeleuchtung
EP0118583A1 (de) Speicher-Korrektureinheit