CS240596B1 - Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek - Google Patents

Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek Download PDF

Info

Publication number
CS240596B1
CS240596B1 CS842366A CS236684A CS240596B1 CS 240596 B1 CS240596 B1 CS 240596B1 CS 842366 A CS842366 A CS 842366A CS 236684 A CS236684 A CS 236684A CS 240596 B1 CS240596 B1 CS 240596B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
evaluation
block
outputs
electrical components
circuit
Prior art date
Application number
CS842366A
Other languages
English (en)
Other versions
CS236684A1 (en
Inventor
Zdenek Caha
Lubomir Koucky
Jaroslav Zacek
Augustin Virva
Original Assignee
Zdenek Caha
Lubomir Koucky
Jaroslav Zacek
Augustin Virva
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Zdenek Caha, Lubomir Koucky, Jaroslav Zacek, Augustin Virva filed Critical Zdenek Caha
Priority to CS842366A priority Critical patent/CS240596B1/cs
Publication of CS236684A1 publication Critical patent/CS236684A1/cs
Publication of CS240596B1 publication Critical patent/CS240596B1/cs

Links

Landscapes

  • Power Conversion In General (AREA)

Abstract

Zapojení je určeno k vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek, například sloupce tyristorů, kde se optické signály pro indikaci správné činnosti součástek zavádě­ jí do vyhodnocovacích obvodů. Vstupy těchto vyhodnocovacích obvodů jsou spojeny s výstupem generátoru zapínacích impulsů a výstupy jsou spojeny s odpovídajícími vstupy vyhodnocovacího bloku elektrotechnických součástek. Diagnostický signál lze odebírat buď přímo z výstupů vyhodnocovacího bloku, nebo po projití přizpůsobovacím blokem. Nejvhodnější oblastí aplikace je oblast vý­ konových polovodičových měničů, zejména měničů vysokého napětí. Zapojení lze využít dále k vyhodnocování stavu většího počtu prvků libovolné soustavy.

Description

Zapojení je určeno k vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek, například sloupce tyristorů, kde se optické signály pro indikaci správné činnosti součástek zavádějí do vyhodnocovacích obvodů. Vstupy těchto vyhodnocovacích obvodů jsou spojeny s výstupem generátoru zapínacích impulsů a výstupy jsou spojeny s odpovídajícími vstupy vyhodnocovacího bloku elektrotechnických součástek. Diagnostický signál lze odebírat buď přímo z výstupů vyhodnocovacího bloku, nebo po projití přizpůsobovacím blokem.
Nejvhodnější oblastí aplikace je oblast výkonových polovodičových měničů, zejména měničů vysokého napětí. Zapojení lze využít dále k vyhodnocování stavu většího počtu prvků libovolné soustavy.
Vynález se týká zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek, například sloupce sériově řazených tyristorů. Vynález se týká zejména oboru výkonových polovodičových měničů.
. Dosavadní známá zapojení řeší tento problém buď pomocí čítačů s postupnou kontrolou stavu jednotlivých součástek, nebo současnou kontrolou pomocí trojúhelníkové matice logických obvodů. V obou případech jsou zapojení pro větší počet součástek značně složitá. Další nevýhodou těchto zapojení je nemožnost změny vyhodnocovacího algoritmu a kódování výstupních signálů.
Výše uvedené nedostatky odstraňuje zapojení pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek podle vynálezu. Jeho podstatou je, že vstupy vyhodnocovacích obvodů jsou spojeny s výstupem generátoru zapínacích impulsů, zatímco výstupy vyhodnocovacích obvodů jsou spojeny s odpovídajícími vstupy vyhodnocovacího bloku elektrotechnických součástek, tvořeného například sloupcem tyristorů. Tento vyhodnocovací blok blok má výstupy pro odběr diagnostického signálu.. Tyto výstupy mohou být spojeny s odpovídajícími vstupy přizpůsobovacího bloku, který má výstupy pro odběr diagnostického signálu. Vyhodnocovací blok sloupce elektrotechnických součástek je tvořen s výhodou naprogramovaným paměťovým obvodem. Jeho adresové vstupy tvoří vstupy vyhodnocovacího bloku sloupce elektrotechnických součástek a datové výstupy tvoří výstupy tohoto vyhodnocovacího bloku. Nepoužité adresové vstupy jsou vhodně ošetřeny. Paměťový blok je opatřen vstupem výběru pro trvalou aktivaci paměťového bloku.
Základní výhoda zapojení podle vynálezu spočívá v tom, že způsob vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek je programovatelný a dovoluje přizpůsobit algoritmus vyhodnocení poruch požadavkům, kladeným na měnič. Další výhodou je, že zahojení je jednoduché i pro větší počet kontrolovatelných součástek. Kromě toho může být zapojení využito jak k diagnostice sloupce sériově řazených součástek, tak ke kontrole součástek v libovolném uspořádání.
Zapojení podle vynálezu je blíže vysvětleno na příkladu provedení podle připojených výkresů, na nichž značí obr. 1 blokové schéma zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek, v tomto případě tyristorového sloupce, a obr. 2 schéma vyhodnocovacího bloku sloupce tohoto zapojení.
Na obr. 1 je znázorněno blokové schéma zapojení obvodu pro vyhodnocování tyristorového sloupce, tvořeného vyhodnocovacím obvody tyristorů 11 až ln, vyhodnocovacím blokem 2 sloupce tyristorů a přizpůsobovacím blokem 3. Do vyhodnocovacích bloků tyristorů 11 až ln se zavádějí optické signály 01 až On a dále na vstupy 111 až lln výstupní signál z výstupu 1 generátoru zapínacích impulsů. Výstupy 121 až 12n vyhodnocovacích obvodů tyristorů 11 až ln jsou připojeny k odpovídajícím vstupům 211 až 21n vyhodnocovacího bloku 2 sloupce, jehož výstupy 221 až 22m jsou spojeny s odpovídajícími vstupními svorkami přizpůsobovacího bloku 3, na jehož výstupech 321 až 32m jsou k dispozici diagnostické signály pro nadřazenou řídicí soustavu, případně k indikaci.
Toto zapojení pracuje tak, že od jednotlivých elektrotechnických součástek, v tomto případě tyristorů, se vede optický signál, nesoucí informaci o stavu součástky, do vyhodnocovacích obvodů 11 až ln. Tyto signály se ve vyhodnocovacích obvodech 11 až ln srovnávají s řídicím impulsem z výstupu 1 generátoru zapínacích impulsů. Během trvání řídicího signálu dochází ke konicidenci s optickým signálem a k vyhodnocení stavu sledované součástky ve vyhodnocovacím bloku
1. Diagnostické signály o. stavu tyristorů pro nadřazený řídicí systém nebo pro Indikaci lze odebírat přímo z výstupů 221 až 22m vyhodnocovacího bloku 2 nebo z výstupů 321 až 32m přizpůsobovacího bloku 3.
Na obr. 2 je znázorněno schéma vyhodnocovacího bloku 2 elektrotechnických součástek, například sloupce tyristorů, tvořeného paměťovým obvodem 4. Vstupní svorky 211 až 21n vyhodnocovacího bloku 2 sloupce tyristorů jsou spojeny s adresovými vstupy Al až An paměťového obvodu 4. Nepoužité adresové vstupy jsou vhodným způsobem ošetřeny. Datové výstupy Dl až Dm paměťového obvodu 4. jsou spojenyy s výstupními svorkami 221 až 22m vyhodnocovacího bloku 2 elektrotechnických součástek. Vstup výběru CS paměťového obvodu 4 je zapojen tak, aby paměťový obvod 4 byl trvale aktivován. Algoritmus vyhodnocování stavu součástek je dán obsahem paměti.
Podle naprogramovaného algoritmu vyhodnotí vyhodnocovací blok 2 na výstupu příslušné signály o poruše. Tyto signály se vedou po «příslušné úpravě do počítače. Zároveň je stav hodnocených součástek indikován i opticky.

Claims (3)

1. Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek, vyznačené tím, že vstupy (111) až (lln) vyhodnocovacích obvodů (11) až (ln) jsou spojeny s výstupem (1) generátoru zapínacích impulsů;. zatímco výstupy (121) až (12n) vyhodnocovacích obvodů (11) až (ln) jsou spojeny s odpovídajícími vstupy (211) až (21n) vyhodnocovacího bloku (2) elektrotechnických součástek, tvořeného například sloupcem tyristorů, majícího výstupy (221) až (22m) pro odběr diagnostického signálu.
2. Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek podle bodu 1, vyznačené tím, že vyhodnocovací blok (2) sloupce elektrotechnických součástek je tvořen naprogramovaným paměťovým obvodem (4) s ošetřenými nepoužitými adresovynAlezu vými vstupy, jehož adresové vstupy (AI) až (An) tvoří vstupy (211) až (21n) vyhodnocovacího bloku (2) sloupce elektrotechnických součástek, datové výstupy (Dl) až (Dn) tvoří výstupy (221) až (22m) vyhodnocovacího bloku (2) sloupce elektrotechnických součástek, přičemž paměťový blok (4) íe opatřen vstupem výběru (CS) pro trvalou aktivaci paměťového bloku (4).
3. Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek podle bodu 1 a 2, vyznačené tím, že výstupy (221) až (22m) vyhodnocovacího bloku (2) sloupce elektrotechnických součástek jsou spojeny s odpovídajícími vstupy (311) až (31m) přizpůsobovacího bloku (3), který je opatřen výstup (321) až (32m) pro odběr diagnostického signálu.
CS842366A 1984-03-29 1984-03-29 Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek CS240596B1 (cs)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS842366A CS240596B1 (cs) 1984-03-29 1984-03-29 Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS842366A CS240596B1 (cs) 1984-03-29 1984-03-29 Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CS236684A1 CS236684A1 (en) 1985-07-16
CS240596B1 true CS240596B1 (cs) 1986-02-13

Family

ID=5360595

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS842366A CS240596B1 (cs) 1984-03-29 1984-03-29 Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS240596B1 (cs)

Also Published As

Publication number Publication date
CS236684A1 (en) 1985-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0582660B1 (en) Device and method for multiplexing pins for in-system programming
EP0598495B1 (en) Programmable logic devices with spare circuits for replacement of defects
US3681757A (en) System for utilizing data storage chips which contain operating and non-operating storage cells
EP0067301B1 (de) Einrichtung zur Erzeugung von Prüfbits zur Sicherung eines Datenwortes
EP0394575A1 (en) Programmable logic device
EP0530985A2 (en) Programmable logic array integrated circuits
EP0246905B1 (en) Multi-stage apparatus with redundancy and method of processing data using the same
JPS59221752A (ja) エラ−検査・診断装置
US4485472A (en) Testable interface circuit
US4461000A (en) ROM/PLA Structure and method of testing
DE3587103T2 (de) Elektrische schaltungseinrichtung und elektrisches schaltungsgeraet mit einem adressgenerator zur anwendung in einer solchen einrichtung.
DE69026809T2 (de) Verfahren zur Treibersteuerung integrierter Schaltungen während der Prüfung
CS240596B1 (cs) Zapojení obvodu pro vyhodnocování stavu elektrotechnických součástek
KR900003884A (ko) 대규모 반도체 집적회로 장치
US4894744A (en) Information handling and control systems, and methods of testing the condition of electrical loads in such systems
US5572198A (en) Method and apparatus for routing in reduced switch matrices to provide one hundred percent coverage
CN114448616B (zh) 一种大规模综合处理平台的分布式并发毁钥方法
HU188105B (en) Tester for groups of the input/output unit of a programable control
US4206507A (en) Field programmable read only memories
DE102005018790A1 (de) Integrierter Schaltkreis und Verfahren zum Betreiben und parallelen Testen von integrierten Schaltkreisen
DE4407954C2 (de) Halbleiterspeichereinrichtung
JPS5953377A (ja) エレベ−タの信号入力装置
GB2126013A (en) Microprocessor system
SU1654823A1 (ru) Устройство дл контрол цифровых блоков
SU873247A2 (ru) Система дл контрол электрических параметров цифровых узлов