CS225362B1 - Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov - Google Patents

Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov Download PDF

Info

Publication number
CS225362B1
CS225362B1 CS51882A CS51882A CS225362B1 CS 225362 B1 CS225362 B1 CS 225362B1 CS 51882 A CS51882 A CS 51882A CS 51882 A CS51882 A CS 51882A CS 225362 B1 CS225362 B1 CS 225362B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
mask
exposed
pattern
axes
rectangles
Prior art date
Application number
CS51882A
Other languages
Czech (cs)
English (en)
Inventor
Katarina Rndr Kostolanska
Igor Ing Pleskov
Original Assignee
Katarina Rndr Kostolanska
Igor Ing Pleskov
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Katarina Rndr Kostolanska, Igor Ing Pleskov filed Critical Katarina Rndr Kostolanska
Priority to CS51882A priority Critical patent/CS225362B1/sk
Publication of CS225362B1 publication Critical patent/CS225362B1/sk

Links

Landscapes

  • Electron Beam Exposure (AREA)

Description

Vynález sa týká spósobu exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov, pričom rieši optimalizáciu riadenia generátore obrazcov a elektronového litografu.
Morfológia integrovaných obvodov navrhnutých grafickou metodou je vyjádřená v obrysovej reprezentácii, t. j. každý obrazec na maske integrovaného obvodu je definovaný svojim obrysom. Pri exponovaní pozitívnych masiek na generátore obrazcov alebo elektrónovom litografe je celá plocha ohraničená obrysom postupné exponovaná cez štrbinU obdížnikového tvaru a pri exponovaní negativných masiek je postupné exponovaná plocha medzi obrazcami. Poloha, rozměry a natočenie osi štrbiny sú ovládané prostredníctvom riadiaceho počítača generátora obrazcov alebo elektronového litografu. Doteraz používané sposoby sú zamerané predovšetkým na minimalizáciu počtu expozícií, pričom vo všeobecnosti je vždy jedna strana exponovaného obdížnika stotožnená s častou obrysu obrazca. Výška exponovaného obdížnika je přitom vypočítaná tak, aby celý obdížnik ležal vo vnútornej ploché obrysu. Nevýhodou u doteraz používaných sposobov je predovšetkým rozměrová roznorodosť exponovaných obdížníkov, negativné ovplyvňujúca celkovú dobu exponovania masiek na generátore obrazcov. Obrazce obsahujúce ostré vnútorné uhly nie sú týmto spósobom exponovatelné. Niektoré typy neortogonálnych obrazcov nie je možné úplné pokryt exponovanými obdížníkmi. Exponované plochy sa viacnásobne pokrývajú, čo vylučuje aplikáciu týchto postupov v elektrónovej litografii. Doteraz používané sposoby majú vel'ké nároky na operačnú pamať a strojový čas počítača, a preto sú implementované len na velkých počítačoch.
Uvedené nevýhody v podstatnej miere odstraňuje sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov podlá vynálezu, ktorého podstata spočívá v tom, že jeden rozměr štrbiny je konštantný pri natočení z jej základnej polohy.
Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov podlá vynálezu umožňuje spolahlivo exponovat všetky druhy obrysovo zadaných obrazcov, pričom má univerzálně použitie ako v elektrónovej litografii, tak i pri exponovaní masiek generátormi obrazcov. Skrátenie doby exponovania masiek o 20 až 40 % zvýši produktivitu generátora obrazcov a umožní generovat masky VLSI obvodov. Ďalšou přednostou je zjednodušenie konštrukcie obdížníkov a predtriedenie vygenerovaných obdížníkov do dvocb skupin, čím sa urýchli a zjednoduší celý postup natolko, že je realizovatelný na minipočítači.
Na priloženom výkrese je na obr. 1 obrysová reprezentácia dvoch obrazcov na maske integrovaného obvodu. Na obr. 2 je plnou čiarou vyznačená poloha obdížnika s osami roznobežnými s osami súradnicového systému masky v obrazci pri exponovaní na pozitívnej maske. Na obr. 3 je plnou čiarou vyznačená poloha obdížnika s osami róznobežnými s osami súradnicového systému masky v obrazci pri exponovaní negatívnej masky. Na obr. 4 je náhradný ortogonálny obrys obrazca pri exponovaní generátorom obrazcov na pozitívnej maske. Na obr. 5 je náhradný ortogonálny obrys obrazca pri exponovaní na negatívnej maske. Na obr. 6 je náhradný ortogonálny obrys obrazca pri exponovaní elektrónovým litografom na pozitívnej maske. Na obr. 7 je náhradný ortogonálny obrys obrazca pri exponovaní elektrónovým litografom na negatívnej maske. Na obr. 8 sú znázorněné plochy exponované elektrónovým litografom na pozitívnej maske. Na obr. 9 sú znázorněné plochy exponované elektrónovým litografom na negatívnej maske. Na obr. 10 sú znázorněné plochy exponované generátorom obrazcov na pozitívnej maske.
Pri spósobe podlá vynálezu sú z obrysovej reprezentácie 1 obrazcov na maskách integrovaných obvodov generované obdížniky v dvoch etapách. V prvej etape sú generované obdížniky s osiami štrbiny 15 natočenými voči osiam masky 12. Na všetkých hranách obrysu obrazcov róznobežných s osiami 12 sú zostrojené obdížniky tak, že hrana obrysu 16 róznobežná s osiami masky tvoří jednu stranu obdížnika a výška obdížnika 13, 14 je konštantná. Pri exponovaní pozitívnej masky je obdížnik 2, 8 vygenerovaný na vnútornú stranu od hrany obrazca a pri exponovaní negatívnej masky je obdížnik 3, 9 vygenerovaný na vonkajšiu stranu. Pre riadenie generátore obrazcov je konštantná výška obdlžnikov 13 daná minimálnou vnútornou vzdialenosťou obrazcov masky vyplývajúcou z návrhářských pravidiel. Vygenerované obdížniky 2 sú exponované generátorom obrazcov ako obdížniky 19. Pri ostrom vnútornom uhle vznikne porušenie obrysu 20, ktoré je možné eliminovat nastavením konštantnej výšky obdížnika podlá minimálneho rozměru štrbiny, Pre riadenie elektronového litografu je konštantná výška obdlžnikov 14 daná celočíselným násobkom minimálneho rozměru štrbiny alebo priemeru elektronového lúča, pričom je vlastně exponovanie vygenerovaných obdlžnikov 10, 11 s osiami natočenými voči osiam masky 12 potlačené. V druhej etape sú generované obdížniky s osiami v základnej polohe. Vytvořený je náhradný ortogonálny obrys, pri exponovaní pozitívnej masky vpísaný 4 do póvodného obrysu obrazca 1 a pri exponovaní negatívnej masky opísaný 5 okolo póvodného obrysu 1. V náhradnom ortogonálnom obryse sú hrany róznobežné s osiami masky interpolované ortogonálnou lomenou čiarou 6, 8 pri exponovaní pozitívnej masky a 7, 9 pri exponovaní negatívnej masky tak, aby celá lomená čiara ležala vo vnútri zodpovedajúcich obdlžnikov 2, 3, 10, 11 vygenerovaných v prvej etape. Z náhradného ortogonálneho obrysu 4, 5 sú vygenerované a exponované obdížniky 17 elektrónovým litografom, resp. 18 generátorom obrazcov podlá běžných postupov.

Claims (1)

  1. Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov generátorom obrazcov a elektrónovým litografom s nastavitelnou polohou, rozmermi a sklonom osi štrbiny obdlžnikového tvaru postupným exponovaVYNÁLEZU ním plochy masky s osiami štrbiny v základnej polohe rovnoběžnými s osiami masky vyznačujúci sa tým, že jeden rozměr štrbiny je konštantný pri natočení osi z jej základnej polohy.
CS51882A 1982-01-26 1982-01-26 Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov CS225362B1 (sk)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS51882A CS225362B1 (sk) 1982-01-26 1982-01-26 Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS51882A CS225362B1 (sk) 1982-01-26 1982-01-26 Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS225362B1 true CS225362B1 (sk) 1984-02-13

Family

ID=5337394

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS51882A CS225362B1 (sk) 1982-01-26 1982-01-26 Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS225362B1 (sk)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3119217B2 (ja) フォトマスクおよびフォトマスクを使用した露光方法
US6249597B1 (en) Method of correcting mask pattern and mask, method of exposure, apparatus thereof, and photomask and semiconductor device using the same
US5208124A (en) Method of making a mask for proximity effect correction in projection lithography
EP1438633B1 (en) Method for forming elliptical and rounded features using beam shaping
US7910266B2 (en) Pattern forming method and mask
US20060200790A1 (en) Model-based SRAF insertion
KR19990066869A (ko) 패턴 결정 방법 및 노광 장치에 이용되는 개구
JPH031522A (ja) レジストパターン形成法
JP2008191364A (ja) マスクパターンの設計方法
JP2004128108A (ja) 投影露光装置のアパーチャ形状の最適化方法
CS225362B1 (sk) Sposob exponovania obrazcov na maskách integrovaných obvodov
JPH0547626A (ja) 像投影方法及びそれを用いた半導体デバイスの製造方法
US8927198B2 (en) Method to print contact holes at high resolution
JP2998661B2 (ja) フォトマスク及び半導体装置のパターン形成方法
KR100273855B1 (ko) 셀 투영 방식 및 가변 성형 빔 방식을 병용하는 전자 빔 제도방법
KR100273234B1 (ko) 포토리소그래피장치
KR100960450B1 (ko) 노광장치용 광원의 형상화 방법
JP3227842B2 (ja) Lsiの製造方法
JP3102386B2 (ja) フォトマスクの製造方法
JPS5928982B2 (ja) 焼付装置
JP2805622B2 (ja) パターン形成方法
JPH04267537A (ja) 露光方法及び半導体素子の製造方法
JP2000267256A (ja) マスク描画装置とその描画方法
KR19980072887A (ko) 반도체 제조용 노광장치
JP2000310843A (ja) 像投影方法、および該方法を用いたコンタクトホールの露光方法