CS201148B1 - Sp6sob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu při epitaxii z kvapalnej fázy - Google Patents

Sp6sob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu při epitaxii z kvapalnej fázy Download PDF

Info

Publication number
CS201148B1
CS201148B1 CS574577A CS574577A CS201148B1 CS 201148 B1 CS201148 B1 CS 201148B1 CS 574577 A CS574577 A CS 574577A CS 574577 A CS574577 A CS 574577A CS 201148 B1 CS201148 B1 CS 201148B1
Authority
CS
Czechoslovakia
Prior art keywords
melt
semiconductor material
liquid phase
epitaxtal
growth
Prior art date
Application number
CS574577A
Other languages
Czech (cs)
English (en)
Inventor
Miloslav Kral
Original Assignee
Miloslav Kral
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Miloslav Kral filed Critical Miloslav Kral
Priority to CS574577A priority Critical patent/CS201148B1/sk
Publication of CS201148B1 publication Critical patent/CS201148B1/sk

Links

Landscapes

  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

Vynález sa týká spósobu odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu pri epitaxii z kvapalnej fázy.
Odstraňovanie taveniny z povrchu polovodičového materiálu sa doteraz robilo týmito postupmi: 1. Vlastnou váhou taveniny pri vysávaní polovodičového materiálu. V tomto případe sa odstraňuje tavenina nedoatatočne, lebo okrem vlastnej váhy nepósobí na ňu žiadna iné sila.
2. Mechanicky, keá tekutá tavenina sa odstraňuje grafitovou doátičkou, ktoré sa posúva po povrchu alebo tesne nad povrchom polovodičovej doštičky. Tento postup má nedostatok v tom, že při mechanickom odstraňovaní taveniny z povrchu polovodičového materiálu sa nedostává hrana doštičky odstraňujúcej taveninu do dostatočného styku s jej povrchom, lebo povrch polovodičového materiálu bývá niekedy nerovný, a preto na nej zanechává zbytky taveniny. Okrem toho dochádza pri ich tesnom styku k mechanickému poškodeniu polovodičového materiálu. 3. Odstředivou silou. Pri tomto postupe sa polovodičový materiál aj s taveninou uvedie do rotačného pohybu a vzniknutá odstředivá sila vytláča taveninu z povrchu polovodičového materiálu. Nedostatkom tohto postupu je, že zariadenie je konstrukčně komplikované, tavenina sa odstraňuje hlavně pri členitejšom povrchu polovodičového materiálu po čaatiach a malé kvapóčky taveniny sa odstraňujú ťažko.
Vyššie uvedené nedostatky sa odstraňujú spósobom podTa vynálezu.
Podstata vynálezu spočívá v tom, že na vyaúvajúci sa polovodičový materiál z taveniny sa
201 148
201 148 působí vibráciami o frekvenci! 10 až 150 000 Hz.
Spůsobom podlá vynálezu sa dosahuje dokonalejšie oddelovanie taveniny z povrchu polovodičového materiálu ako u doteraz používaných postupov a súčasne je jednoduchší ako odstředivý spůsob.
Na pripojenom výkrese je znázorněné epitaxné zariadenie využívajúce spůsob podle vynálezu.
Zariadenie na prevédzanie tohto spůsobu sa skládá z kremennej ampule 1, z výhřevného vinutia 2, z grafitovej nádobky 3, z taveniny 4, z nosnej tyčky 5, z vibrátore 6, z vibrujúcej nosnej tyčky 7, z držiaka polovodičového materiálu 8 a z polovodičového materiálu v tvare okrúhlej doštičky 9,
Příklad 1
V ampule z křemenného skla 1, okolo ktoréj je navinutá výhřevná Spirála 2, je umieatnená grafitová nádoba 3 o priemere 60 mm, v ktorej je tavenina o obsahu 90 % véh. india a 10 % váh indium-antimonidu. Doteraz popísané časti sú nepohyblivé. Pomocou nosnej tyčky na ktorej je upevněný vibrátov 6, sa do taveniny vaúvajú a z nej vysúvajú vibrujúce časti: vibrujúca nosná tyčka 7, držiak polovodičovej doštičky 8 a polovodičové doštička 9. Pracovný priestor je preplachlovaný čistým vodíkom. Po vyhriatí taveniny na teplotu 270 °C sa pohyblivý siel, skladajúoi sa z nosnej tyčky 5, z vibrujúcej nosnej tyčky 7, z vibrátore 6, z držiaka polovodičového materiálu 8 a z polovodičového materiálu 9, vsunie do taveniny tak, aby aa polovodičový materiál o priemere 20 mm úplné ponořil do taveniny 4. Počas chladnutia taveniny 4 z 270 °C na 260 °C nařasté na polovodičovom materiáli 9 indium-antimonidová epitaxná vrstva o hrúbke asi 30 um. Po dosiahnutí teploty 260 °C sa zapne vibrátor 6, ktorý cez vibrujúcu noanú tyčku 7 a držiak polovodičového materiálu 8 uvedie do kmitavého pohybu polovodičový materiál 9. Pri vysávaní polovodičového materiálu 9 z taveniny, uvedený kmitavý pohyb spůsobuje lepšie oddelovania taveniny 4 od polovodičovej doštičky 9. Použitá vibračná frekvencia bola 450 Hz. Příkon privádzaný na elektromagnetický^vibrátor 6 bol 30 W,
Příklad 2
Podobné ako v příklade 1 bolo použité to isté zariadenie na vytvorenie vrstiev gáliaarzénu pri použití taveniny o zložení 3,6 g gália a 0,13 g gélia-aržfcnu pri použitéj teplote 750 °C s ochladením na 740 °C a pri použití vibračných fřekvencií 8500 Hz a 90 000 Hz. ,
Spůsob podlá vynálezu je možno použiť vo všetkých prípadoch, v ktorých sa vyskytujú problémy s odstraňováním kvapalnej taveniny z povrchu polovodičového materiálu.

Claims (1)

  1. PREDMET VYNÁLEZU
    Spůsob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu pri epitaxil z kvapalnej fázy vyznačujúci sa tým, že na vysúvajúci sa polovodičový materiál z taveniny aa působí vibráciami o frekvenci! 10 až 150 000 Hz.
CS574577A 1977-09-05 1977-09-05 Sp6sob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu při epitaxii z kvapalnej fázy CS201148B1 (sk)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS574577A CS201148B1 (sk) 1977-09-05 1977-09-05 Sp6sob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu při epitaxii z kvapalnej fázy

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS574577A CS201148B1 (sk) 1977-09-05 1977-09-05 Sp6sob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu při epitaxii z kvapalnej fázy

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CS201148B1 true CS201148B1 (sk) 1980-10-31

Family

ID=5402925

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CS574577A CS201148B1 (sk) 1977-09-05 1977-09-05 Sp6sob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu při epitaxii z kvapalnej fázy

Country Status (1)

Country Link
CS (1) CS201148B1 (sk)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
GB829422A (en) Method and apparatus for producing semi-conductor materials of high purity
GB827466A (en) Improvements in or relating to methods of and apparatus for manufacturing single crystals
US4606037A (en) Apparatus for manufacturing semiconductor single crystal
CS201148B1 (sk) Sp6sob odstraňovania taveniny z polovodičového materiálu při epitaxii z kvapalnej fázy
JPS551114A (en) Method and device for washing wafer
US3533856A (en) Method for solution growth of gallium arsenide and gallium phosphide
US2950219A (en) Method of manufacturing semiconductor crystals
JP7782016B2 (ja) 単結晶シリコンロッドの製造デバイスおよび製造方法
US2835614A (en) Method of manufacturing crystalline material
Bhalla et al. Crystal growth of antimony sulphur iodide
JP4436363B2 (ja) 単結晶の育成方法及び繊維成形体
US4662982A (en) Method of producing crystals of materials for use in the electronic industry
JP2504550Y2 (ja) 単結晶引上げ装置
BE880839A (fr) Dispositif et procede pour faire croitre des cristaux de silicium sous vide, a partir de matiere fondue
CN110528078A (zh) 一种晶体取出装置
CS199892B1 (sk) Sposob rastu epitaxnej vrstvy ne polovodičovom materiáli při epitaxii z kvapalnej fázy
JPS56149399A (en) Liquid phase epitaxial growing method
US4465545A (en) Method of growing single crystal cadmium telluride
KR102680683B1 (ko) 실리콘카바이드 단결정의 제조 방법
SU130185A1 (ru) Устройство дл замера уровн расплава в тигле
JPS5538039A (en) Device for liquid-phase growth of semiconductor
JP2751333B2 (ja) 単結晶引き上げ装置
SU146049A1 (ru) Способ создани электронно-дырочных переходов в дендритах полупроводникового антимонида инди
JPS55104998A (en) Production of silicon carbide crystal layer
JP2599306B2 (ja) 結晶の製法および製造装置