CS200355B1 - Vyhodnocovací obvod pro zkousení pamětí - Google Patents

Description

Vynález ae týká vyhodnocovacího obvodu pro zkouěení pamětí· Pro svou funkci využívá klopných obvodů b výstupy ošetřenými proti metastabilním stavům, které jsou zapojeny jako paměl· chyby pró daný atrobovací aignál.

Dosud užívané vyhodnocovací obvody nevyužívaly klopných obvodů a výstupy oěetřenými proti metastabilním stavům. Jejich výstupy zpracovávané dalšími logickými Sieny způsobovaly chybnou funkci systému v případě, kdy jejich výstupy byly mimo toleranění pole logických úrovní.

Tyto nevýhody odstraňuje vyhodnocovací obvod pro zkouěení pamětí podle vynálezu, jehož podstata spočívá v tom, že sestává z jednoho klopného obvodu s oěetřenými výstupy, to jest pozitivním výstupem a negativním výetupem, přičemž pozitivní výstup je připojen na nulovací vstup klopného obvodu a na aspoň jeden vstup hradla, na jehož výstupu je signál o chybě a dále výstup detektoru metastabilních stavů klopného obvodu je připojen na výstup aignálu metaatabilního stavu a klopný obvod má vstup ze srovnávacích obvodů*, vstup strobovacího signálu a nastavovací vstup.

Vyhodnocovací obvod pro zkoušení pamětí podle vynálezu umožňuje bezchybné vyhodnocování měřených signálů v testovacích zařízeních. Po dobu trvání metaatabilního stavu signa200 355

200 355 lizuje systému poruchový stav.

Jedno z možných provedení vyhodnocovacího obvodu pro zkoušení pamětí podle vynálezu je znázorněna na připojeném výkresu, který představuje obvod v nejjednodušším provedení a současně i v provedení a násobným počtem klopných obvodů·

Vyhodnocovací obvod pro zkoušeni paměti podle vynálezu je proveden tak, že sestává alespoň z jednoho klopného obvodu 1 a ošetřenými výstupy, to jest pozitivním výstupem £ a a negativním výstupem přičemž pozitivní výstup £ je připojen na nulovací vstup 6 klopného obvodu-1 a na aspoň jeden vstup 91 hradla £, na jehož výstupu 10 je signál o chybě s dále výstup 2 detektoru aetastabilních stavů klopného obvodu 1. je připojen na výstup 11 signálu metaatabilního stavu a klopný obvod 1 má vstup 2 ze srovnávacích obvodů, vatup J strobovacího signálu a nastavovací vstup 8 ·

Obsahuje-li vyhodnocovací obvod nsklopných obvodů, je propojení provedeno tak, že pozitivní výstupy dalších klopných obvodů jsou připojeny ns další vstupy hradla 2 » další výstupy detektoru metaatabilních stavů jsou připojeny ..... výstup 11 signálu metastabilni ho stavu.

Obvod podle vynálezu pracuje takto :

Signál zs vstupu 2 klopného obvodu 1 je vyhodnocen atrobovacím signálem přivedeným na vstup J klopného obvodu 1 a toto vyhodnocení je díky vazbě pozitivního výstupu £ klopného obvodu £ na nulovací vstup 6. klopného obvodu 1 pamatován. Vrácení do původního stavu klopného obvodu 1 je provedeno přivedením signálu nulování na nastavovací vstup 8 klopného obvodu 1. Z výstupu 2 detektoru metastabilních stavů klopného obvodu 1 je signál veden na výstup 11 signálu metaatabilního stavu. Negativního výstupu £ klopného obvodu 1 je využito pro indikaci chybového stavu.

Vynález lze použít v testovacích systémech a všude tam, kde je nutné přesné a bezchybné vyhodnocování měřených signálů.

Claims (1)

1. Vyhodnocovací obvod pro zkoušení pamětí, vyznačující se tím, že sestává alespoň ♦· z jednoho klopného obvodu ( 1 ) s ošetřenými výstupy, to je s pozitivním výstupem ( 4 ) a s negativním výstupem ( 5 ), přičemž pozitivní výetup ( 4 ) je připojen na nulovací vstup ( 6 ) klopného obvodu ( 1 ) a na alespoň jeden vstup (9D hradla (9) a dále výetup (7) detektoru metastabilníoh stavů klopného obvodu(l) je připojen na výstup (11) signálu metaatabilního stavu, přičemž ke klopnému obvodu (1) je přiŘejen vstup (2) ze srovnávacích obvodů, vatup (3) atrobovacO -úhi a nastavovací vetup (8).