CN2826384Y

CN2826384Y - 压力测试装置

Info

Publication number: CN2826384Y
Application number: CN 200520127904
Authority: CN
Inventors: 陈文华
Original assignee: Inventec Corp
Current assignee: Inventec Corp
Priority date: 2005-09-26
Filing date: 2005-09-26
Publication date: 2006-10-11
Anticipated expiration: 2015-09-26

Abstract

一种压力测试装置，通过一压力测试头测试一电子零件承受用于卡固散热组件的扣具施加的压力，将感测到的压力信息输出，该压力测试装置包括测试台面，用于设置该压力测试头，且该测试台面上设有至少一沟槽；以及一对相对向的滑动件，该对滑动件各设有可收容在该沟槽的定位块，使该对滑动件自由地滑动在该测试台面上，且该压力测试头是设在该对滑动件可滑动的范围之间，可根据该扣具尺寸调整两个相对向滑动件的距离夹固该扣具，并使该扣具上卡固的散热组件与该压力测试头接触；本实用新型能仿真所有CPU承受用于卡固散热组件的扣具施加的压力，且可满足测试人员需求对各种类别的CPU、散热组件及扣具进行压力测试。

Description

压力测试装置

技术领域

本实用新型是关于一种压力测试装置，特别是关于一种对电子零件承受安装散热组件的扣具(Retention Module；RM)给予压力进行测试的压力测试装置。

背景技术

由于电子产业持续地蓬勃发展，开发的电子产品便利了人们的生活。为达到电子产品的多功能及小型化需求，则需提高工作频率，相对的也提高该电子产品温度。基此，散热器或风扇等散热组件被广泛地开发及使用。举例而言，就计算机必备的电子零件CPU来说，就需要在CPU上方固接散热器或风扇等散热组件，其中扣具则是将该散热器或风扇稳固、牢靠地与该CPU接触的必备工具。

扣具压力的大小直接影响到安装的难易、散热的效果，一般来说，扣具对散热器或风扇等散热组件施加的扣合压力越大，则散热组件与CPU核心的接触面积就越大，且热阻越小，使散热效果越好。但如果扣具施加的扣合压力过大，很可能造成CPU管脚变形或使CPU损坏。相对的，如果压力过小，又不能将CPU与散热组件紧密结合，一旦CPU与散热组件两者之间出现了空隙，无论该散热组件是否具有极佳的散热特性，因空隙造成的热阻令散热组件无法发挥应有的散热效能，严重者甚至烧毁CPU。所以，CPU获得的散热效果与扣具对散热组件施加的压力大小息息相关。

因此，扣具及散热组件在实际与CPU接触前均须经过相关的测试，才能保证扣具及散热组件装设在不同类别的CPU时可达到良好的散热效果，并可确保电子产品正常的工作。

扣具压力测试仪就是用来测试散热组件受到扣具施加压力的专用设备。目前惯用的扣具压力测试仪的设计就是将散热组件固定在仿真CPU受压的测试平台上(比如Intel和AMD平台)，通过下部的压力计将压力数值实时反映到读数计上，单位为Kg。

然而，上述仿真CPU受压的测试平台的设计缺点在于由于不可能对所有CPU类别进行仿真，比如扣具压力测试仪只能对Intel公司的Pentium4/赛扬类别和AMD Athlon XP类别作扣具压力测试，并未有对AMD K8、LGA775等类别提供相应的测试平台，这使得扣具压力测试受到限制。

目前两大CPU主流厂商AMD和Intel开发的CPU所需的散热组件安装方式不同，例如对于AMD Athlon XP类别，只需将扣具一边轻扣在主板，另一边通过借用工具将扣具的扣合件下压到主板即可，对于Intel公司的Pentium4/赛扬类别，需要将扣具上的4个挂钩与主板上散热组件基座的4个环孔扣好，并用力将扣具垂直往下按，直到该扣具上的4个挂钩卡合在该散热组件基座的4个环孔。因此扣具压力测试仪要仿真Intel公司的Pentium4/赛扬类别，就需要仿真一安装在主板上的散热组件基座，目前通常的做法是做一散热组件基座仿真块，通过螺丝将其锁扣在扣具压力测试仪的测试平台，当需要进行其它CPU类别所需扣具的压力测试，须借助工具将螺丝一一取出，将此散热组件基座仿真块取下。由于环境限制而常会发生螺丝掉落或遗失现象，造成拆装过程的缓慢，给使用者的操作带来不便。

综上所述，常用扣具压力测试仪的设计，不具有良好的使用价值。因此，如何开发一种能够仿真所有CPU受压测试平台且便于测试的扣具压力测试仪，确为相关研发领域需要迫切面临的课题。

实用新型内容

为解决上述现有技术的缺点，本实用新型的主要目的在于提供一种压力测试装置，可用于仿真所有CPU承受扣具施压状况，增加压力测试的通用性。

本实用新型的再一目的在于提供一种压力测试装置，可方便组装与拆卸用于固定散热组件的扣具，进而提高CPU受压测试的便利性。

为达成上述的目的及其它目的，本实用新型提供一种压力测试装置。该压力测试装置是通过一压力测试头测试一电子零件承受用于卡固散热组件的扣具所施加的压力，并将感测到的压力信息输出，该压力测试装置包括：测试台面，用于设置该压力测试头，且该测试台面上设有至少一沟槽；以及一对相对向的滑动件，该对滑动件各设有可收容在该沟槽的定位块，使该对滑动件自由地滑动在该测试台面上，且该压力测试头是设在该对滑动件可滑动的范围之间，可根据该扣具尺寸调整两个相对向滑动件的距离夹固该扣具，并使该扣具上卡固的散热组件与该压力测试头接触，进而达到压力感测的目的。

与现有技术相比，本实用新型的压力测试装置能够仿真所有CPU承受用于卡固散热组件的扣具施加的压力，且可满足测试人员需求，对各种类别的CPU、散热组件及扣具进行压力测试，解决常用压力测试仪仅适用于特定厂家规格的CPU、散热组件及扣具进行压力测试带来的不便。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图；

图2是本实用新型的使用状态示意图；

图3A是本实用新型滑动件与沟槽接合结构示意图；以及

图3B是本实用新型滑动件与沟槽的另一接合结构示意图。

具体实施方式

实施例

请同时参阅图1及2图，其中图1是本实用新型的压力测试装置1的结构示意图，图2是应用本实用新型的压力测试装置1仿真电子零件(例如CPU)承受卡固散热组件的扣具所施加压力的实施态样。如图所示，一散热组件2(例如具有鳍片的散热器或具有扇叶的风扇)通过扣具3牢固安装后，该压力测试装置1用于测试位于该散热组件2下方电子零件所受压力，该压力测试装置1至少包括：测试台面11、一对相对向的沟槽(12、12)，一对相对向的滑动件(120、120)、测试头13以及输出单元14。此处须注意的一点是，这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本实用新型的基本结构，因此仅显示与本实用新型有关的构成，且显示的构成并非以实际实施时的数目、形状、及尺寸比例绘制，其实际实施时的数目、形状及尺寸比例为一种选择性的设计，且其构成布局形态可能更为复杂。

该对相对向的沟槽(12、12)是设在该测试台面11上，该对相对向的滑动件(120、120)的两端分别埋设在该对沟槽(12、12)中，其中各滑动件120埋设在该沟槽12的部分是形成定位块结构，使各滑动件120可动地在该测试台面11上滑动，其中该定位块结构是例如一T型块，如图3A所示，使该对滑动件(120、120)可平顺地在该测试台面11上滑动，它不会脱出沟槽12与该测试台面11脱离。再者，如图3B所示，本实施例的沟槽12′与滑动件120′另可具有一限位结构，限制该滑动件120在该测试台面11的滑动。如图所示，该沟槽12′内部以及在该滑动件120与沟槽12′对接表面所设孔洞122的内部均设有螺纹结构，且该T型块121′埋入该沟槽12′的结构体外侧也设有螺纹结构，使该T型块121′可顺着螺纹纹路转入该沟槽12′及该滑动件120的孔洞122内，进而达到限制该滑动件120在该测试台面11滑动的目的。

接着，同时参阅图1及2图，该测试头13是可凸设地设在该测试台面11上且位于两个相对向的沟槽(12、12)及两个相对向滑动件(120、120)所围区域间，该测试头13是用于仿真一例如CPU的电子零件(以下以CPU为例说明)承受卡固散热组件的扣具所施加压力。如图2所示，根据CPU、散热组件2的规格选择合宜的扣具3后，根据该扣具3尺寸调整两个相对向的滑动件120的距离，借由该滑动件120夹固该扣具3。接着，将该扣具3牢固地置于该测试台面11之后，即可将搭配的散热组件2置于该扣具3上，使该测试头13与该散热组件2接触，然后，作动设在该扣具3上的扣合件30，将散热组件2向下压抵，使该散热组件2牢固地设置在扣具3上，如同将散热组件2设在主板(在此未标出)的情况。此时，该测试头13即可感测到该散热组件2承受来自该扣具3的扣合件30向下压抵的力量以及散热组件2的重量，将感测到的总量信息输出到例如显示器或扬声器的输出单元14，令测试人员得知CPU所承受到的实际压力。在此须提出说明的是，由于该输出单元14、测试头13以及处理该测试头13感测到的压力信号用于输出是一般压力测试仪的必要构件及处理技术，因此在此将不对功能、内部结构以及信号处理作进一步详细的说明；再者，配合本实施例所示附图中的扣具3，仅作为范例说明，并非以此作为局限，也就是通过本实用新型的压力测试装置1，即可满足测试人员需求以对各种类别CPU、散热组件及扣具进行压力测试，进而解决常用压力测试仪仅适用于对特定厂家规格的CPU、散热组件及扣具进行压力测试的不便。

再者，该测试台面11还可设有多不同形状的定位孔110，以放置该扣具3的不对称的支脚(stand off)。另外，该压力测试装置1还包括多个脚柱15，是装设在该测试台面11下方，可将该压力测试装置1放置在不平整的表面上。

再者，本实用新型的压力测试装置1另一实施方式是在该测试台面上仅设一沟槽(在此未标出)，且该沟槽也用于收容一对相对向的滑动件的T型块，同理于上，调整该对滑动件的位置以配合不同规格尺寸的扣具。须进一步提出说明的是，本实施例的最佳施实方式是将该沟槽与该测试头邻近设置，令该对滑动件对扣具提供更佳的夹固力。

综前所述，本实用新型的压力测试装置1是能仿真各种不同厂家规格的CPU、散热组件及扣具，并使压力测试所需的组装与拆卸操作更为快速及简便。

Claims

1.一种压力测试装置，通过一压力测试头测试一电子零件承受用于卡固散热组件的扣具所施加的压力，并将感测到的压力信息输出，其特征在于，该压力测试装置包括：

测试台面，用于设置该压力测试头，且该测试台面上设有至少一沟槽；以及

一对相对向的滑动件，该对滑动件各设有可收容在该沟槽的定位块，使该对滑动件自由地滑动在该测试台面上，且该压力测试头是设在该对滑动件可滑动的范围之间，可根据该扣具尺寸调整两个相对向滑动件的距离夹固该扣具，并使该扣具上卡固的散热组件与该压力测试头接触。

2.如权利要求1所述的压力测试装置，其特征在于，该沟槽是与该压力测试头邻近设置。

3.如权利要求1所述的压力测试装置，其特征在于，该测试台面的沟槽数量为两个时，该对沟槽是对向设置，且该对滑动件的定位块数量各为两个并分别设在该滑动件的两端，且各滑动件两端的定位块分别地设在该对沟槽中。

4.如权利要求3所述的压力测试装置，其特征在于，该压力测试头是设在两个相对向的沟槽及两个相对向滑动件所围区域间的测试台面上。

5.如权利要求1、2或3所述的压力测试装置，其特征在于，该定位块是T型滑块。

6.如权利要求1、2或3所述的压力测试装置，其特征在于，该沟槽内部以及在该滑动件与沟槽对接表面所设孔洞的内部均设有螺纹结构，且该定位块埋入该沟槽的结构体外侧也设有螺纹结构，该定位块可顺着螺纹纹路转入该沟槽及该滑动件的孔洞内，限制该滑动件在测试台面上的滑动。

7.如权利要求1所述的压力测试装置，其特征在于，该测试台面还设有用于放置该扣具支脚的多个定位孔。

8.如权利要求1所述的压力测试装置，其特征在于，该压力测试装置还包括多个脚柱，是装设在该测试台面下方，可将该压力测试装置放置在不平整的表面。

9.如权利要求1所述的压力测试装置，其特征在于，该散热组件是指具有鳍片的散热器或具有扇叶的风扇。