CN2779676Y - 用于芯片测试工具的转接座 - Google Patents

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Abstract

本实用新型涉及一种用于芯片测试工具的转接座，包括一绝缘本体，其上面设有复数个等间距排列的矩形贯穿孔及复数个导接端子，该导接端子分别安装于该等贯穿孔中，导接端子上端设有一连接部，以供与芯片测试工具连接，导接端子下端设有插脚，各插脚向外垂直弯折，插脚与该绝缘本体呈相互平行状。本实用新型应用于芯片测试电路板上，阻抗低、便于安装、连接密合。

Description

用于芯片测试工具的转接座
技术领域
本实用新型涉及一种用于芯片测试工具的转接座，尤指一种应用于芯片测试电路板上，提供低阻抗、便于安装、连接密合的转接座结构。
背景技术
芯片在封装制造及出厂前，均需经过多重的测试程序，以筛选、淘汰瑕疵品，维护其芯片产品的品质，避免增加后续产品维修的成本。
通常的芯片测试作业，请参阅附图1所示，是使用一芯片测试电路板11进行芯片的测试，该芯片测试电路板11上装设有复数个芯片测试工具12，使该芯片测试工具12与该芯片测试电路板11电性连接，将待测芯片13安装于芯片测试工具12上时，可使待测芯片13间接与该芯片测试电路板11电性连接，以进行芯片的测试，但该芯片测试工具12是直接焊接于该芯片测试电路板11上的，无法更换，若其中一芯片测试工具12发生故障时，将导致整个芯片测试电路板11将无法使用，非常不便。
因此，曾经有芯片制造企业为改善上述缺陷，设计出一种用于芯片测试工具的转接座，请参阅图2所示，该转接座21设有一绝缘本体22，该绝缘本体22上设有复数个贯穿孔23，各该贯穿孔23上分别设有一导接端子24，导接端子24上端设有一连接部25，以供芯片测试工具26连接，该导接端子24下端设有一向下凸出的的插脚27，以供焊接于芯片测试电路板28上，若将该转接座21焊接于芯片测试电路板28上时，可于该转接座21上连接该芯片测试工具26，使该芯片测试工具26与该芯片测试电路板28电性连接，而可对芯片29进行测试。
然而，该转接座21的贯穿孔23为圆形，与芯片测试工具26的矩形连接端子不符合，造成芯片测试工具26连接于该转接座21上时，无法密合，且该转接座21的插脚27为向下凸出，因此将该转接座21焊接于芯片测试电路板28上时，必须先于该芯片测试电路板28上钻设供该插脚27穿插的贯穿孔，非常不便，且该转接座21的插脚27的长度必须较长，才能穿过该芯片测试电路板28上钻设的贯穿孔进行焊接，造成插脚27过长而相对的阻抗加大，电性流失严重。
实用新型内容
本实用新型的目的是为克服先前技术的缺点，提供一种低阻抗、便于安装、连接密合的转接座结构。
为实现上述的目的，本实用新型设有一绝缘本体及复数个导接端子，其中，该绝缘本体上设有复数个等间距排列的矩形贯穿孔，导接端子分别安装于这些贯穿孔中，导接端子上端设有一连接部，以供芯片测试工具的连接，导接端子下端设有一插脚，各插脚向外垂直弯折，使插脚与该绝缘本体呈相互平行状，因此，透过矩形贯穿孔的设置，使芯片测试工具的连接端子可紧密地连接于该转接座上，且藉由各该插脚向外垂直弯折，使插脚长度可缩短，从而大幅减少插脚所产生的阻抗，同时，因各插脚向外垂直弯折，可利用表面黏着(SMT)方式，将该转接座安装于芯片测试电路板上，方便安装。
本实用新型的有益效果在于：可方便地应用于芯片测试电路板上，阻抗低，易于安装，连接密合。
附图说明
图1为一种目前常用测试工具的立体分解图。
图2为另一种目前常用测试工具的立体分解图。
图3为本实用新型的上视图。
图4为本实用新型的俯视图。
图5为本实用新型的结构图。
具体实施方式
本实用新型是一种芯片测试工具的转接座，请参阅图3至图5所示，该转接座3由一绝缘本体31及复数个导接端子32组成，在本实用新型的实施例中，该绝缘本体31可为矩形状，其上面设有复数个等间距排列的矩形贯穿孔33，而该导接端子32分别安装于贯穿孔33中，导接端子32上端设有一连接部321，以便与芯片测试工具34连接，导接端子32下端设有一插脚323，各插脚323向外垂直弯折，使该插脚323与该绝缘本体31呈相互平行状。
上述结构，可使该芯片测试工具34的连接端子341紧密地连接于该转接座3上，而且因为转接座3的各插脚323向外垂直弯折，使插脚323长度可缩短，从而大幅减少插脚323所产生的阻抗，同时，因各插脚323向外垂直弯折，可利用表面黏着(SMT)方式，将该转接座3安装于芯片测试电路板35上，方便安装。
如图5所示，当将转接座3焊接于芯片测试电路板35上时，可于该转接座3上连接该芯片测试工具34，使该芯片测试工具34与该芯片测试电路板35电性连接，于该芯片测试工具34上安装待测的芯片36，进行芯片36的测试。
以上所述，仅为本实用新型的最佳具体实施例，本实用新型的构造特征并不局限于此，在本实用新型基础上，任何不需付出创造性劳动即可考虑到及可实现的变化，均属于本实用新型的保护范围。

Claims (2)

1、一种用于芯片测试工具的转接座，其特征在于：该转接座包括一绝缘本体，其上面设有复数个等间距排列的矩形贯穿孔及复数个导接端子，该导接端子分别安装于该等贯穿孔中，导接端子上端设有一连接部，以供与芯片测试工具连接，导接端子下端设有插脚，各插脚向外垂直弯折，插脚与该绝缘本体呈相互平行状。
2、根据权利要求1所述的用于芯片测试工具的转接座，其特征在于：所述的绝缘本体可为矩形状。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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Effective date of registration: 20071012

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