CN2512113Y - 电子元件的测试装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型涉及一种电子元件的测试装置,它包括:座体,其可向测试物提供一适当的测试位置;后垣壁,其垂直设置在所述座体上;测试座,其设置在后垣壁上,该测试座上设有动作臂,该动作臂垂直于所述座体并由驱动机构驱动;测具,其设置在后垣壁上,并与所述动作臂的下方连接。在测具下前方设有与所述测试位置相对的测针座,该测针座上设有测试探针,测具上还设有与所述测针座相连的调整装置,该调整装置用来调整测具的可测范围。测试座的动作臂受压后可下压测具,使测具的测试探针与测试物接触,从而进行测试。该装置提高了测量的精确度、节省了测量时间、扩大了测量面积,极具实用性和经济价值。

Description

电子元件的测试装置

技术领域

本实用新型涉及一种测试装置，特别涉及一种电子元件的测试装置。

背景技术

大家都知道，半导体产业技术进步迅速，晶片的制造过程不断提高，已经由0.18微米进步到现在的0.13微米，晶粒是愈做愈小，所以使电子产品愈渐小型化，降低了生产成本，提高了经济效益。同样，电阻、电容和电压器甚至直流电阻阻抗(DCR)等元件也是朝此趋势发展。

但是，小型化的产品在制作、品保过程中，因体积小、脚距窄使操作人员在检验或测试时不易测量，还会因人为疏忽而产生误差，导致最终组装成品的不合格率提高。例如：以往使用电感电容电阻测试器(LCR-meter)测量参数数据时通常是利用手持探测棒的方法来测量，由此很可能会因手指颤动而造成误差值过大或误判断，并且在测量时还需考验操作人员的稳定度以及耐心，除了造成品质不稳定延误出货外，还会产生操作人员由于赶工加班而心情浮躁、情绪不佳的负面效果。

发明内容

为克服现有技术的缺点，本实用新型的目的是提供一种可精确、快速地对电子元件进行测试的装置。

为了实现上述目的，本实用新型提供一种电子元件的测试装置，它包括：座体，其可向测试物提供一适当的测试位置；后垣壁，其垂直设置在所述座体上；测试座，其设置在后垣壁上，该测试座上设有动作臂，该动作臂垂直于所述座体并由驱动机构驱动；测具，其设置在后垣壁上，并与所述动作臂的下方连接；在测具下前方设有与所述测试位置相对的测针座，该测针座上设有测试探针；测具上还设有与所述测针座相连的调整装置，该调整装置用来调整测具的可测范围；测试座的动作臂受压后可下压测具，使测具的测试探针与测试物接触，从而进行测试。

上述测具包括一滑轨，所述测针座由左、右两个测针座组成并套设在所述滑轨的中央，每个测针座上均包括一测试探针；在测针座的两侧各设有一调整装置，该调整装置设在所述滑轨内，每个调整装置都包括弹簧、穿过弹簧中心的螺杆、旋钮和设在弹簧和旋钮之间的顶块。

上述测试探针为子母式探针，允许大电流测试，且可利用中心的子探针做感应，以实现四端测试。

上述动作臂的下压动作可由压杆驱动，也可由气缸驱动。

本实用新型的电子元件的测试装置具有下列优点：

1)本实用新型的装置在测试时使用了机械装置，提高了测量的稳定性，减少了人为误差的发生概率，具有很高的精确率。

2)本实用新型的装置具有测距调整机构，测试物换线时仅需调整该调整机构的左右旋钮，以适应具有不同脚位距离的测试物，由此扩大了测试面积，极具实用性和经济价值。

3)本实用新型的装置大大缩短了测试时间，可迅速测量元件特性的优劣，生产效率高。

4)本实用新型的装置具有小型化的优点，可适合空间狭小的场地使用，不受空间的限制，在任何地方都可以方便地操作。

附图说明

图1为本实用新型电子元件的测试装置的立体图；

图2为本实用新型电子元件的测试装置的部分主视图；

图3为本实用新型电子元件的测试装置的动作示意图。

具体实施方式

如图1所示，本实用新型的电子元件的测试装置包括座体10、后垣壁41、测试座40和测具30。

其中，所述座体10可向测试物20提供一适当的测试位置11，所述后垣壁41垂直设置在所述座体10上。所述测试座40设置在后垣壁41上，该测试座上设有动作臂42，该动作臂垂直于所述座体10并可由设在其上方的压杆43驱动。所述测具30设置在后垣壁41上，并与所述动作臂42的下方连接。所述测具30包括一滑轨33，在测具下前方设有与所述测试位置11相对的测针座31，该测针座上设有测试探针311，测针座31套设在所述滑轨的中央。测具30上还设有与所述测针座相连的调整装置32，该调整装置用来调整测具30的可测范围。

所述调整装置32通常需视测试探针311的数量而定，如图2所示，所述测针座31可以由左、右两个测针座组成并套设在所述滑轨33的中央，每个测针座上都包括一个测试探针。在测针座31的两侧各设有一调整装置32，该调整装置设在所述滑轨内，每个调整装置都包括弹簧324、穿过弹簧中心的螺杆323、旋钮321和设在弹簧和旋钮之间的顶块325。

如图1和图3所示，本实用新型的电子元件的测试装置在测试时，首先下压压杆43以驱动动作臂42，由此使动作臂下压测具30，使测具的测针座31上的测试探针与测试物20接触，以对测试物的特性进行测量，并将测得的数据通过电缆引线50输出到外部显示装置(图中未示)，供测试人员读取。另外，测试探针的间距可通过调整装置32来改变，如图2所示，通过调整旋钮321，在弹簧324和螺杆323的作用下，使测针座31产生位移，从而调整测试探针之间的距离。弹簧324主要用于限制测针座31的最大间距，并利用伸展力提醒操作者调整距离已达最大极限。

如图3所示，本实用新型的电子元件的测试装置可针对具有不同外形的产品以及不同的脚位做适当调整，测试探针311采用子母式设计，其包括一个子探针和一个母探针，子探针受压时可相对缩入母探针轴孔内，由两子探针的尖端和两母探针的底端接触面构成四端测试。因测试探针31为子母式探针，可利用其中心的子探针做感应(sense)，即可同时以四个测试点对小型元件，如微型变压器等的端点做四端测试，以获得精确值或做重叠电流测试，该子母式探针可允许大电流测试。

另，测具30上下定位利用滑动轴承60可达到测试脚位精确的效果，而产品换线时仅需调整螺杆323外侧的旋钮321，即可调整测针座31的间距。

在操作本实用新型的电子元件的测试装置时，除可采用前述方式操作外，还可以采用气缸方式操作，仅需操作电气开关，就可用气缸驱动动作臂，使动作臂上下运动，以达到测量测试物的目的。

前述仅为本实用新型的一较佳实施例，并不局限本实用新型的实施范围，在不偏离本实用新型所做的任何等效变化或修饰仍属本实用新型的涵盖范围。

Claims (5)

1.一种电子元件的测试装置，其特征在于，它包括：

座体(10)，其可向测试物(20)提供一适当的测试位置(11)；

后垣壁(41)，其垂直设置在所述座体(10)上；

测试座(40)，其设置在后垣壁(41)上，该测试座上设有动作臂(42)，该动作臂垂直于所述座体(10)并由驱动机构驱动；

测具(30)，其设置在后垣壁(41)上，并与所述动作臂(42)的下方连接；在测具下前方设有与所述测试位置(11)相对的测针座(31)，该测针座上设有测试探针(311)；测具上还设有与所述测针座相连的调整装置(32)，该调整装置用来调整测具(30)的可测范围；

测试座的动作臂(42)受压后可下压测具(30)，使测具的测试探针与测试物接触，从而进行测试。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测具(30)包括一滑轨(33)，所述测针座(31)由左、右两个测针座组成并套设在所述滑轨的中央，每个测针座上均包括一测试探针；

在测针座的两侧各设有一调整装置(32)，该调整装置设在所述滑轨(33)内，每个调整装置都包括弹簧(324)、穿过弹簧中心的螺杆(323)、旋钮(321)和设在弹簧和旋钮之间的顶块(325)。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述测试探针(311)为子母式探针，允许大电流测试，且可利用中心的子探针做感应，以实现四端测试。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述动作臂(42)的下压动作可由压杆(43)驱动。

5.如权利要求1所述的四端测试装置，其特征在于，所述动作臂(42)的下压动作可由气缸驱动。

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